KR102185019B1 - Multi laser dazzling effectiveness measuring apparatus - Google Patents

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KR102185019B1
KR102185019B1 KR1020200062036A KR20200062036A KR102185019B1 KR 102185019 B1 KR102185019 B1 KR 102185019B1 KR 1020200062036 A KR1020200062036 A KR 1020200062036A KR 20200062036 A KR20200062036 A KR 20200062036A KR 102185019 B1 KR102185019 B1 KR 102185019B1
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light
light source
image sensor
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light beam
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KR1020200062036A
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강응철
정환성
강윤식
김정태
김영철
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국방과학연구소
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    • H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/005—Optical devices external to the laser cavity, specially adapted for lasers, e.g. for homogenisation of the beam or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping

Abstract

The present invention relates to a multi-laser dazzling effectiveness measuring device. According to one embodiment of the present invention, the device comprises: a first light source radiating a first light beam for measuring a dazzling effect; a video sensor receiving the light beam radiated from the first light source; a second light source radiating a second light beam on a path of the light beam outputted from the first light source; an optical coupling unit installed in a portion where the first light beam and the second light beam cross each other so as to combine the first light beam and the second light beam; and a shielding element capable of shielding at least a part of the light beam radiated from at least one light source between the first light beam and the second light beam.

Description

다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치{MULTI LASER DAZZLING EFFECTIVENESS MEASURING APPARATUS}Multi-laser dazzling effect measurement device {MULTI LASER DAZZLING EFFECTIVENESS MEASURING APPARATUS}

이하의 설명은 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치에 관한 것이다.The following description relates to an apparatus for measuring multiple laser dazzling effects.

레이저 대즐링 효과는 레이저를 영상 센서에 조사하여 의도적으로 영상 센서의 획득 영상을 왜곡시키는 효과이다. 레이저 대즐러는 영상 센서의 영상을 왜곡시킴으로써 대상 물체의 위치 정보, 이동 정보, 형상 왜곡 등 영상을 교란시키는 목적으로 사용된다. 레이저 대즐링 효과는 빛을 이용한 효과로서 주변 조도에 따른 영상 센서의 반응이 중요한 요소이다. 일반적으로 영상 센서는 획득 가능한 빛의 최소 값과 최대 값의 비율인 다이나믹 레인지(Dynamic range) 값을 가지고 있다. 영상 센서를 통해 획득되는 영상은 일광, 무광, 월광 조건에 따라 다르다. 레이저 대즐링 효과 측면에서도 주변 조도에 따라 영상 센서 수광부의 포화를 유도하기 위하여 요구되는 빛의 세기가 달라진다.The laser dazzling effect is an effect of intentionally distorting the acquired image of the image sensor by irradiating a laser onto the image sensor. The laser dazzler is used for the purpose of disturbing the image such as position information, movement information, and shape distortion of the target object by distorting the image of the image sensor. The laser dazzling effect uses light, and the response of the image sensor according to the ambient illuminance is an important factor. In general, an image sensor has a dynamic range value, which is a ratio between a minimum value and a maximum value of light that can be obtained. The image acquired through the image sensor differs according to daylight, matte, and moonlight conditions. In terms of the laser dazzling effect, the intensity of light required to induce saturation of the image sensor light-receiving unit varies according to the ambient illuminance.

영상 센서는 영상 정보를 획득하기 위하여 광학계 구조가 수반되며 이러한 광학계는 영상 센서의 성능 및 규격, 활용 목적에 따라 다양하게 설계된다. 따라서 광원의 입사각이 동일하다 하더라도 빛에 노출되는 영상 센서의 수광부 면적은 상이하다. 이는 레이저 대즐링 효과와 직접적으로 관계되어 있다. 또한, 영상 센서의 물리적 구조뿐만 아니라 소프트웨어 상 영상 센서의 영상 획득 조건도 레이저 대즐링 효과에 영향을 준다. 영상 획득 조건 중 영상 획득에 있어서 상대적으로 비중 있는 요소로는 이득 계수, 노출 시간, 해상도이다. 대즐링 효과도 분석에 있어서 영상 센서와 관련된 광학적 및 물리적 구조, 영상 획득 조건들만 고려하더라도 상당한 조건이 도출되며 변위를 통제하더라도 수많은 조건이 레이저 대즐링 효과와 관계되어 있다.The image sensor is accompanied by an optical system structure in order to obtain image information, and such an optical system is designed in various ways according to the performance and standard of the image sensor and the purpose of use. Therefore, even if the incident angle of the light source is the same, the area of the light receiving part of the image sensor exposed to the light is different. This is directly related to the laser dazzling effect. In addition, not only the physical structure of the image sensor but also the image acquisition conditions of the image sensor in software affect the laser dazzling effect. Among the image acquisition conditions, relatively significant factors in image acquisition are gain factor, exposure time, and resolution. In analyzing the dazzling effect, even if only the optical and physical structures and image acquisition conditions related to the image sensor are considered, considerable conditions are derived, and even if displacement is controlled, numerous conditions are related to the laser dazzling effect.

일반적으로 기존 보고된 레이저 대즐링 효과 자료와 해외에서 상용으로 판매되고 있는 레이저 대즐러는 가시광 레이저가 주로 활용되고 있다. 실제적으로 레이저 대즐링 효과를 극대화하기 위해서는 다양한 광원에 대한 연구가 수반되어야 한다. 그러한 이유는 앞서 언급된 바와 같이 영상 센서의 특성이 다양하기 때문이다. 반도체 기반인 영상 센서는 활용 용도에 따라 다양한 흡수 대역을 가지고 있으며 이러한 특성은 최대 흡수 파장대역이 항상 가시광 영역에 국한된다고는 할 수 없다.In general, the previously reported data on the laser dazzling effect and the laser dazzler that are commercially sold overseas use visible lasers. In practice, in order to maximize the laser dazzling effect, research on various light sources must be accompanied. This is because, as mentioned above, the characteristics of image sensors are various. The semiconductor-based image sensor has various absorption bands depending on the application, and this characteristic cannot be said that the maximum absorption wavelength band is always limited to the visible light region.

따라서, 레이저 대즐링 효과를 분석하기 위해서는 광원에 의한 영상 센서의 수광 조건 및 수광부 포화에 요구되는 광원의 특성을 분석하는 것이 요구되며, 더불어 다양한 파장 대역에 대한 대즐링 효과도의 분석도 이루어져야 할 필요성이 증대되고 있는 실정이다.Therefore, in order to analyze the laser dazzling effect, it is required to analyze the light-receiving conditions of the image sensor by the light source and the characteristics of the light source required for saturation of the light-receiving part, and also analysis of the dazzling effect for various wavelength bands. This is an increasing situation.

전술한 배경기술은 발명자가 본 발명의 도출과정에서 보유하거나 습득한 것으로서, 반드시 본 발명의 출원 전에 일반 공중에 공개된 공지기술이라고 할 수는 없다.The above-described background technology is possessed or acquired by the inventor in the process of deriving the present invention, and is not necessarily a known technology disclosed to the general public prior to filing the present invention.

일 실시 예의 목적은 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치를 제공하는 것이다.An object of an embodiment is to provide an apparatus for measuring multiple laser dazzling effects.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 대즐링 효과를 측정하기 위해 제 1 광선을 조사하는 제 1 광원; 상기 제 1 광원으로부터 조사되는 광선을 수광하는 영상 센서; 상기 제 1 광원에서 출력되는 광선의 경로상에 제 2 광선을 조사하는 제 2 광원; 상기 제 1 광선 및 제 2 광선이 교차하는 부분에 설치되어 상기 제 1 광선 및 제 2 광선을 결합하는 광 결합부; 및 상기 제 1 광원 및 상기 제 2 광원 중 적어도 하나 이상의 광원으로부터 조사되는 광선의 적어도 일부를 차단 가능한 차단 요소를 포함할 수 있다.An apparatus for measuring a multi-laser dazzling effect according to an embodiment includes: a first light source for irradiating a first light beam to measure a dazzling effect; An image sensor for receiving light rays irradiated from the first light source; A second light source for irradiating a second light beam on a path of the light beam output from the first light source; A light coupling unit installed at a portion where the first and second light rays intersect to couple the first and second light rays; And a blocking element capable of blocking at least a portion of light rays emitted from at least one or more of the first light source and the second light source.

상기 차단 요소는, 상기 제 1 광원으로부터 조사되는 광선의 경로에 설치되어 제 1 광선의 편광 상태를 변형시키는 제 1 파장판; 상기 제 2 광원으로부터 조사되는 광선의 경로에 설치되어 제 2 광선의 편광 상태를 변형시키는 제 2 파장판; 및 상기 제 1 파장판 또는 제 2 파장판을 회전시켜 상기 제 1 파장판 또는 제 2 파장판을 통과하는 광선의 편광 상태를 조절하는 파장판 회전 장치를 포함할 수 있다.The blocking element includes: a first wave plate installed in a path of a light beam radiated from the first light source to change a polarization state of the first light beam; A second wave plate installed in the path of the light beam irradiated from the second light source to change the polarization state of the second light beam; And a wave plate rotating device that rotates the first wave plate or the second wave plate to adjust a polarization state of light rays passing through the first wave plate or the second wave plate.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 광 결합부 및 상기 영상 센서 사이의 광 경로에 설치되는 편광 빔 스플리터; 상기 편광 빔 스플리터에서 반사되는 광선을 수광하는 빔 특성 측정부; 및 상기 제 1 광원 및 제 2 광원과 상기 파장판 회전 장치를 제어하여 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 파장 특성을 조절하고, 상기 빔 특성 측정부에서 계측되는 정보에 기초하여 광선의 특성을 측정하는 제어부를 더 포함할 수 있다.An apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an embodiment includes: a polarization beam splitter installed in an optical path between the optical coupling unit and the image sensor; A beam characteristic measuring unit for receiving light rays reflected from the polarization beam splitter; And controlling the first light source, the second light source, and the wave plate rotating device to adjust the wavelength characteristics of the light rays irradiated to the image sensor, and measuring the characteristics of the light rays based on information measured by the beam characteristics measuring unit. It may further include a control unit.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 제 1 광원을 포함하는 복수 개의 제 1 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 제 1 광원 중 어느 하나의 광원이 선택적으로 상기 영상 센서를 지향 가능하도록 회전 가능하게 설치되는 회전판을 더 포함할 수 있다.A multi-laser dazzling effect measurement apparatus according to an embodiment supports a plurality of first light sources including the first light source, and any one of the plurality of first light sources selectively directs the image sensor. It may further include a rotating plate that is rotatably installed so as to be possible.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 제 2 광원을 포함하는 복수 개의 제 2 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 제 2 광원 중 의 광원이 선택적으로 상기 광 결합부를 지향하도록 이동시키는 광원 이동부를 더 포함할 수 있다.The multi-laser dazzling effect measurement apparatus according to an embodiment supports a plurality of second light sources including the second light source, and a light source of the plurality of second light sources selectively moves to direct the light coupling unit. It may further include a light source moving unit to allow.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 광원 이동부의 구동을 제어하여, 상기 복수 개의 제 2 광원 중 적어도 2 개 이상의 제 2 광원으로부터 조사되는 광선이 상기 제 1 광원으로부터 조사되는 광선의 광축에 교차하도록 정렬하는 제어부를 더 포함할 수 있다.The multi-laser dazzling effect measurement apparatus according to an embodiment controls the driving of the light source moving unit, so that light rays emitted from at least two or more second light sources among the plurality of second light sources are irradiated from the first light source. It may further include a control unit arranged to cross the optical axis of the light beam.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 광 결합부 및 상기 영상 센서 사이에 위치하며, 상기 제 1 광선 또는 제 2 광선의 발산 각도를 조절함으로써, 상기 제 1 광원 또는 제 2 광원으로부터 상기 영상 센서까지의 거리가 변화된 효과를 모사하기 위한 광 조절 광학계를 더 포함할 수 있다.The multi-laser dazzling effect measurement apparatus according to an embodiment is positioned between the light coupling unit and the image sensor, and adjusts a divergence angle of the first light beam or the second light beam, thereby controlling the first light source or the second light source. It may further include a light control optical system for simulating the effect of a change in the distance from the light source to the image sensor.

상기 광 결합부는 다이크로익 미러를 포함하고, 상기 제 1 광선 및 제 2 광선은 상기 다이크로익 미러를 통과하면서 인코히런스 결합될 수 있다.The light coupling unit may include a dichroic mirror, and the first light beam and the second light beam may be incoherently coupled while passing through the dichroic mirror.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 제 1 광원 및 제 2 광원의 구동을 제어하는 제어부를 더 포함하고, 상기 제어부는, 상기 제 1 광원 및 제 2 광원을 제어하여 상기 광 결합부에서 결합하는 상기 제 1 광선 및 제 2 광선의 모드를 불일치시킬 수 있다.The apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an embodiment further comprises a control unit for controlling driving of the first light source and the second light source, and the control unit controls the first light source and the second light source to control the Modes of the first light rays and the second light rays combined by the light coupling unit may be mismatched.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 영상 센서를 회전 가능하게 지지하는 회전 스테이지; 및 상기 제 1 광원, 제 2 광원 및 회전 스테이지의 구동을 제어하는 제어부를 더 포함하고, 상기 제어부는 상기 회전 스테이지를 회전시켜 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 각도를 조절할 수 있다.An apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an embodiment includes: a rotating stage rotatably supporting the image sensor; And a control unit for controlling driving of the first light source, the second light source, and the rotation stage, wherein the control unit rotates the rotation stage to adjust an angle of the light beam irradiated to the image sensor.

일 실시 예의 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치 및 방법에 의하면, 다중 광원의 종류, 각각의 광원별 출력 크기와, 광선의 편광 상태, 발산 각도, 영상 센서에 수광되는 광선의 면적, 영상 센서의 수광 특성, 광원의 조사 각도 또는 주변 조도의 영향 등을 포함하는 다양한 측정 조건의 변화에 따라 영상 센서에서 발생하는 대즐링 효과의 정도를 측정할 수 있다.According to an apparatus and method for measuring multiple laser dazzling effects according to an embodiment, the type of multiple light sources, the output size of each light source, the polarization state of the light beam, the divergence angle, the area of the light beam received by the image sensor, and the light received by the image sensor. The degree of the dazzling effect generated by the image sensor can be measured according to changes in various measurement conditions including characteristics, an irradiation angle of a light source, or an influence of ambient illuminance.

도 1은 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이다.
도 2는 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다
도 3은 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이다.
도 4는 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 5는 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이다.
도 6은 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 7은 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 8은 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 9는 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 방법의 순서도이다.
도 10은 일 실시 예에 따른 측정 인자를 변경하는 단계의 순서도이다.1 is a block diagram of an apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an exemplary embodiment.
2 is a diagram schematically illustrating a configuration of an apparatus for measuring multiple laser dazzling effects according to an exemplary embodiment.
3 is a block diagram of an apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an exemplary embodiment.
4 is a diagram schematically illustrating a configuration of a multi-laser dazzling effect measurement apparatus according to an exemplary embodiment.
5 is a block diagram of an apparatus for measuring multiple laser dazzling effects according to an exemplary embodiment.
6 is a diagram schematically illustrating a configuration of an apparatus for measuring multiple laser dazzling effects according to an exemplary embodiment.
7 is a diagram schematically illustrating a configuration of an apparatus for measuring multiple laser dazzling effects according to an exemplary embodiment.
8 is a diagram schematically illustrating a configuration of a multi-laser dazzling effect measurement apparatus according to an exemplary embodiment.
9 is a flowchart illustrating a method of measuring a multi-laser dazzling effect according to an exemplary embodiment.
10 is a flowchart of a step of changing a measurement factor according to an exemplary embodiment.

이하, 실시 예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 실시 예를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 실시 예에 대한 이해를 방해한다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, embodiments will be described in detail through exemplary drawings. In adding reference numerals to elements of each drawing, it should be noted that the same elements are assigned the same numerals as possible even if they are indicated on different drawings. In addition, in describing the embodiment, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function interferes with the understanding of the embodiment, a detailed description thereof will be omitted.

또한, 실시 예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the constituent elements of the embodiment, terms such as first, second, A, B, (a) and (b) may be used. These terms are only used to distinguish the component from other components, and the nature, order, or order of the component is not limited by the term. When a component is described as being "connected", "coupled" or "connected" to another component, that component may be directly connected or connected to that other component, but another component between each component It should be understood that may be “connected”, “coupled” or “connected”.

어느 하나의 실시 예에 포함된 구성요소와, 공통적인 기능을 포함하는 구성요소는, 다른 실시 예에서 동일한 명칭을 사용하여 설명하기로 한다. 반대되는 기재가 없는 이상, 어느 하나의 실시 예에 기재한 설명은 다른 실시 예에도 적용될 수 있으며, 중복되는 범위에서 구체적인 설명은 생략하기로 한다.Components included in one embodiment and components including common functions will be described using the same name in other embodiments. Unless otherwise stated, descriptions in one embodiment may be applied to other embodiments, and detailed descriptions in the overlapping range will be omitted.

도 1은 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이고, 도 2는 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.1 is a block diagram of an apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an exemplary embodiment, and FIG. 2 is a diagram schematically illustrating a configuration of an apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an exemplary embodiment.

도 1 및 도 2를 참조하면, 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(1)는, 광원(11)으로부터 영상 센서(15)까지의 거리 변화에 따른 대즐링 효과를 측정할 수 있다.1 and 2, the apparatus 1 for measuring a multi-laser dazzling effect according to an embodiment may measure a dazzling effect according to a change in the distance from the light source 11 to the image sensor 15. have.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(1)는 광원(11), 영상 센서(15), 광 조절 광학계(12), ND 필터(ND), 제 1 빔 샘플러(BS1), 제 1 빔 프로파일러(13), 제 2 빔 샘플러(BS2), 제 2 빔 프로파일러(14), 제 3 빔 샘플러(BS3), 출력 측정부(16) 및 제어부(C)를 포함할 수 있다.The multi-laser dazzling effect measuring apparatus 1 according to an embodiment includes a light source 11, an image sensor 15, a light control optical system 12, an ND filter, a first beam sampler BS1, and A first beam profiler 13, a second beam sampler BS2, a second beam profiler 14, a third beam sampler BS3, an output measurement unit 16, and a control unit C may be included.

광원(11)은, 영상 센서(15)를 향해 광선(L)을 조사할 수 있다. 예를 들어, 광원(11)은 레이저 빔을 출력할 수 있는 레이저 발진기를 포함할 수 있다. 예를 들어, 광원(11)은 자외선, 가시 광선 또는 적외선 파장 대역 등 다양한 파장 대역의 광선(L)을 출력할 수 있다.The light source 11 can irradiate the light beam L toward the image sensor 15. For example, the light source 11 may include a laser oscillator capable of outputting a laser beam. For example, the light source 11 may output light rays L of various wavelength bands such as ultraviolet, visible, or infrared wavelength bands.

영상 센서(15)는, 광원(11)으로부터 조사된 광선을 수광할 수 있다. 예를 들어, 영상 센서(15)는 복수 개의 영상 센서를 포함하는 카메라일 수 있다.The image sensor 15 can receive light rays irradiated from the light source 11. For example, the image sensor 15 may be a camera including a plurality of image sensors.

ND 필터(ND, neutral density filter)는, 광선(L)의 경로에 설치되어 투과되는 광선(L)의 광량을 감소시킬 수 있다.A neutral density filter (ND) may be installed in the path of the light beam L to reduce the amount of light transmitted by the light beam L.

광 조절 광학계(12)는, 광원(11)에서 발생된 광선(L)을 입력받아 광선의 광속 또는 발산 각도를 조절할 수 있다. 광 조절 광학계(12)는, 광원(11)으로부터 입사되는 광선(L)의 세기 및 발산 각도를 조절함으로써 광원(11)으로부터 영상 센서(15)까지의 거리가 변화된 효과를 모사할 수 있다.The light control optical system 12 may receive the light beam L generated from the light source 11 and adjust the light flux or divergence angle of the light beam. The light control optical system 12 may simulate an effect of varying the distance from the light source 11 to the image sensor 15 by adjusting the intensity and divergence angle of the light ray L incident from the light source 11.

예를 들어, 광 조절 광학계(12)는, 광원(11) 및 영상 센서(15) 사이의 광선(L)의 광축에 설치될 수 있다.For example, the light control optical system 12 may be installed on the optical axis of the light beam L between the light source 11 and the image sensor 15.

제 1 빔 샘플러(BS1)는, 광원(11) 및 광 조절 광학계(12) 사이에 위치하고 광선(L)의 적어도 일부분은 광 조절 광학계(12)로 통과시키고 나머지 일부분은 제 1 빔 프로파일러(13)를 향해 반사시킬 수 있다.The first beam sampler BS1 is located between the light source 11 and the light control optical system 12, and at least a part of the light beam L passes through the light control optical system 12 and the remaining part is the first beam profiler 13 Can be reflected toward ).

제 1 빔 프로파일러(13)는, 제 1 빔 샘플러(BS1)에서 반사된 광선(L)을 수광하여, 입력된 광선(L)의 특성(프로파일)을 측정할 수 있다.The first beam profiler 13 may receive the light beam L reflected from the first beam sampler BS1 and measure a characteristic (profile) of the input light beam L.

예를 들어, 제 1 빔 샘플러(BS1)는 광원(11)으로부터 조사되는 광선(L)의 진행 방향을 기준으로, 광 조절 광학계(12)의 직전에 설치될 수 있다. 이와 달리, 제 1 빔 샘플러(BS1)가 광 조절 광학계(32)에 일체로 통합된 구조로 가질수도 있다는 점을 밝혀둔다.For example, the first beam sampler BS1 may be installed immediately before the light control optical system 12 based on the traveling direction of the light beam L irradiated from the light source 11. Alternatively, it should be noted that the first beam sampler BS1 may have a structure integrally integrated with the light control optical system 32.

제 2 빔 샘플러(BS2)는, 광 조절 광학계(12) 및 영상 센서(15) 사이에 위치하고 광선(L)의 적어도 일부분은 영상 센서(15)로 통과시키고 나머지 일부분은 제 2 빔 프로파일러(14)를 향해 반사시킬 수 있다.The second beam sampler BS2 is located between the light control optical system 12 and the image sensor 15, and at least a part of the light beam L passes through the image sensor 15 and the other part is the second beam profiler 14. Can be reflected toward ).

제 2 빔 프로파일러(14)는, 제 2 빔 샘플러(BS2)에서 반사된 광선(L)을 수광하여, 입력된 광선(L)의 특성(프로파일)을 측정할 수 있다.The second beam profiler 14 may receive the light beam L reflected from the second beam sampler BS2 and measure a characteristic (profile) of the input light beam L.

예를 들어, 빔 프로파일러(13, 14)는 입사되는 광선(L)의 파장 대역별로 형성되는 광도(luminous intensity)를 측정할 수 있다.For example, the beam profilers 13 and 14 may measure luminous intensity formed for each wavelength band of the incident ray L.

제 3 빔 샘플러(BS3)는, 광 조절 광학계(12) 및 영상 센서(15) 사이에 위치하고 광선(L)의 적어도 일부분은 영상 센서(15)로 통과시키고 나머지 일부분은 출력 측정부(16)를 향해 반사시킬 수 있다.The third beam sampler BS3 is located between the light control optical system 12 and the image sensor 15, and at least a part of the light beam L passes through the image sensor 15 and the other part passes through the output measuring unit 16. Can be reflected towards.

출력 측정부(16)는, 제 2 빔 샘플러(BS2)에서 반사된 광선(L)을 수광하여, 수광된 광선(L)의 세기를 측정할 수 있다.The output measuring unit 16 may receive the light beam L reflected from the second beam sampler BS2 and measure the intensity of the received light beam L.

제어부(C)는, 광원(11) 및 광 조절 광학계(12)를 제어하여 광선(L)의 출력 및 광선(L)의 발산 각도를 조절할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 제 1 빔 프로파일러(13) 및 제 2 빔 프로파일러(14)에서 계측되는 광선(L)의 프로파일에 기초하여 영상 센서(15)에 입력되는 광선(L)의 특성을 측정할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 출력 측정부(16)에서 계측되는 정보에 기초하여 광선(L)의 세기, 즉 광선(L)의 출력의 크기를 측정할 수 있다.The controller C may control the light source 11 and the light adjustment optical system 12 to adjust the output of the light ray L and the divergence angle of the light ray L. For example, the control unit C is based on the profile of the light beam L measured by the first beam profiler 13 and the second beam profiler 14, the light beam L input to the image sensor 15 The properties of can be measured. For example, the controller C may measure the intensity of the light ray L, that is, the magnitude of the output of the light ray L, based on information measured by the output measurement unit 16.

예를 들어, 제어부(C)는 영상 센서(15)에서 촬영되는 영상에 기초하여, 광원(11)으로부터 수광된 광선(L)을 통해 발생된 대즐링 효과를 측정할 수 있고, 상기 대즐링 효과의 정도를 측정할 수 있다.For example, the controller C may measure the dazzling effect generated through the light ray L received from the light source 11, based on the image captured by the image sensor 15, and the dazzling effect You can measure the degree of.

예를 들어, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L)이 제 1 빔 프로파일러(13)까지 이동하는 광 경로의 길이는 광원(11)으로부터 제 2 빔 프로파일러(14)까지 이동하는 광 경로의 길이와 동일할 수 있다.For example, the length of the optical path through which the light ray L output from the light source 11 travels to the first beam profiler 13 is the optical path that travels from the light source 11 to the second beam profiler 14 Can be the same as the length of

이상의 구조에 의하면, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L) 중 광 조절 광학계(12)를 통과한 광선(L)과 통과하지 않은 광선(L)이 각각 제 1 빔 프로파일러(13) 및 제 2 빔 프로파일러(14)에 수광되는 면적의 크기의 비교를 통해서, 광 조절 광학계(12)에 의한 광선(L)의 발산 각도를 측정할 수 있다.According to the above structure, among the light rays L output from the light source 11, the light rays L passing through the light control optical system 12 and the light rays L not passing through the first beam profiler 13 and the first 2 Through the comparison of the size of the area received by the beam profiler 14, the divergence angle of the light beam L by the light control optical system 12 can be measured.

예를 들어, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L)이 제 2 빔 프로파일러(14)까지 이동하는 광 경로의 길이는, 광원(11)으로부터 광선(L)이 출력 측정부(16)까지 이동하는 광 경로의 길이와 동일할 수 있다.For example, the length of the light path through which the light ray L output from the light source 11 travels to the second beam profiler 14 is from the light source 11 to the output measurement unit 16 It may be the same as the length of the moving light path.

이상의 구조에 의하면, 제어부(C)는 출력 측정부(16)에서 계측되는 광선(L)의 세기를 측정함으로써, 제 2 빔 프로파일러(14)에 수광되는 광선(L)의 면적 및 크기를 정확하게 측정하는 것이 가능해진다.According to the above structure, the control unit C accurately measures the area and size of the light ray L received by the second beam profiler 14 by measuring the intensity of the light ray L measured by the output measurement unit 16. It becomes possible to measure.

더불어, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L)이 영상 센서(15)까지 이동하는 광 경로의 길이는, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L)이 각각 제 1 빔 프로파일러(13), 제 2 빔 프로파일러(14) 및 출력 측정부(16) 각각으로 이동하는 광 경로의 길이와 모두 동일할 수 있다.In addition, the length of the optical path through which the light beam L output from the light source 11 moves to the image sensor 15 is determined by the first beam profiler 13, Both the lengths of the optical paths moving to the second beam profiler 14 and the output measurement unit 16 may be the same.

예를 들어, 제어부(C)는 광원(11)을 제어하여, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L)의 파장 대역, 레이저 모드 또는 출력 크기 등을 조절할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 광 조절 광학계(12)를 제어하여, 이를 통과하는 광선(L)의 광속 또는 발산 각도를 조절할 수 있어서 광원(11)으로부터 영상 센서(15)까지의 거리가 변화된 효과를 모사할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 영상 센서(15)의 이득 계수, 노출 시간 또는 해상도 등과 같은 특성을 조절할 수 있다.For example, the control unit C may control the light source 11 to adjust a wavelength band, a laser mode, or an output size of the light beam L output from the light source 11. For example, the control unit C can control the light control optical system 12 to adjust the light flux or divergence angle of the light beam L passing through it, so that the distance from the light source 11 to the image sensor 15 is changed. Effects can be simulated. For example, the controller C may adjust characteristics such as a gain factor, exposure time, or resolution of the image sensor 15.

예를 들어, 제어부(C)는 광원(11)의 종류, 광원(11)의 출력 크기, 발산 각도, 영상 센서(15)에 수광되는 광선(L)의 면적 또는 영상 센서(15)의 특성 등을 포함하는 측정 조건 들 중 적어도 하나 이상의 측정 인자를 변경할 수 있고, 그에 따라 영상 센서(15)에서 촬영되는 영상 또는 영상에 기초하여, 측정 인자의 변화에 따라 형성되는 대즐링 효과의 정도를 측정할 수 있다.For example, the control unit C includes the type of the light source 11, the output size of the light source 11, the divergence angle, the area of the light ray L received by the image sensor 15, or the characteristics of the image sensor 15, etc. It is possible to change at least one measurement factor among the measurement conditions including, and accordingly, based on the image or image captured by the image sensor 15, the degree of the dazzling effect formed according to the change of the measurement factor may be measured. I can.

도 3은 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이고, 도 4는 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.3 is a block diagram of an apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an exemplary embodiment, and FIG. 4 is a diagram schematically showing a configuration of an apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an exemplary embodiment.

도 3 및 도 4를 참조하면, 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(2)는, 광원(21), 회전판(27), 영상 센서(25), 회전 스테이지(28), 광 조절 광학계(22), ND 필터(ND), 제 1 빔 샘플러(BS1), 제 1 빔 프로파일러(23), 제 2 빔 샘플러(BS2), 제 2 빔 프로파일러(24), 제 3 빔 샘플러(BS3), 출력 측정부(26) 및 제어부(C)를 포함할 수 있다.3 and 4, the multi-laser dazzling effect measurement apparatus 2 according to an embodiment includes a light source 21, a rotating plate 27, an image sensor 25, a rotating stage 28, and a light source. Adjustment optical system 22, ND filter (ND), first beam sampler (BS1), first beam profiler (23), second beam sampler (BS2), second beam profiler (24), third beam sampler (BS3), an output measurement unit 26 and a control unit (C) may be included.

도 1 및 도 2에 도시된 실시 예와 달리, 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(2)는 복수 개의 광원(21)을 포함할 수 있고, 복수 개의 광원(21)은 회전판(27)을 따라서 방사상으로 이격되어 설치될 수 있다.Unlike the embodiments shown in FIGS. 1 and 2, the multi-laser dazzling effect measurement apparatus 2 according to an embodiment may include a plurality of light sources 21, and the plurality of light sources 21 is a rotating plate It can be installed radially spaced along (27).

회전판(27)은 도 4와 같이 복수 개의 광원(21)을 지지하는 상태로, 복수 개의 광원(21) 중 어느 하나의 광원(21)이 선택적으로 상기 영상 센서(25)를 지향 가능하도록 회전할 수 있다.As shown in FIG. 4, the rotating plate 27 supports a plurality of light sources 21 and rotates so that any one light source 21 of the plurality of light sources 21 can selectively direct the image sensor 25. I can.

예를 들어, 회전판(27)은 영상 센서(25)를 중심으로 원둘레 방향으로 회전할 수 있어서, 회전판(27)에 설치된 복수 개의 광원(21)은 모두 영상 센서(25)를 지향하는 상태를 유지할 수 있다. 예를 들어, 회전판(27)은, 영상 센서(25)를 중심으로 하는 도넛 형상을 가질 수 있다. 한편, 도시한 바와 달리, 회전판(27)은 원의 일부인 호(arc) 형상을 가질 수도 있으며, 이와 같은 구조를 통하여 전체 시스템의 부피를 감소시킬 수 있다. For example, the rotating plate 27 can be rotated in a circumferential direction around the image sensor 25, so that the plurality of light sources 21 installed on the rotating plate 27 all maintain a state oriented toward the image sensor 25. I can. For example, the rotating plate 27 may have a donut shape centered on the image sensor 25. On the other hand, unlike shown, the rotating plate 27 may have an arc shape that is a part of a circle, and the volume of the entire system may be reduced through such a structure.

예를 들어, 회전판(27)에 설치되는 복수 개의 광원(21)의 적어도 일부는 파장 대역, 출력 크기 또는 출력 모드 등이 다른 광원(21)들과 상이하게 형성될 수 있어서, 다양한 광원(21)의 종류에 따른 대즐링 효과도를 측정할 수 있다. 예를 들어, 복수 개의 광원(21)은, 회전판(27)의 중심을 향하여 광선(L)을 조사할 수 있다. For example, at least some of the plurality of light sources 21 installed on the rotating plate 27 may be formed differently from other light sources 21 in wavelength band, output size, or output mode, so that various light sources 21 The degree of dazzling effect according to the type of can be measured. For example, the plurality of light sources 21 may irradiate light rays L toward the center of the rotating plate 27.

예를 들어, 회전판(27)에 설치되는 복수 개의 광원(21) 중 광 조절 광학계(22)에 정렬된 광원(21)을 제외한 나머지 광원(21)들 중 일부는 가시 광선 대역의 광선을 조사하는 광원일 수 있다. 이상의 구조에 의하면, 가시광으로 인한 주변 조도의 영향을 모사할 수 있다.For example, among the plurality of light sources 21 installed on the rotating plate 27, some of the other light sources 21 except for the light sources 21 aligned with the light control optical system 22 are used to irradiate light in the visible light band. It can be a light source. According to the above structure, it is possible to simulate the effect of ambient illumination caused by visible light.

회전 스테이지(28)는, 영상 센서(25)를 회전 가능하게 지지할 수 있다. 예를 들어, 회전 스테이지(28)는, 영상 센서(25)에 광선이 조사되는 광축에 수직한 2 개의 회전 축을 중심으로 회전 구동될 수 있다. 예를 들어, 회전 스테이지(28)는, 도 4 상에서 상하 방향으로 길게 배치되는 회전 축을 기준으로 영상 센서(25)를 회전시킬 수 있다. 다시 말하면, 회전 스테이지(28)는, 회전판(27)의 회전 축에 수직하고, 지면에 평행하게 배치되는 회전 축을 중심으로 영상 센서(25)를 회전시킬 수 있다.The rotation stage 28 can support the image sensor 25 so as to be rotatable. For example, the rotation stage 28 may be driven to rotate around two rotation axes perpendicular to an optical axis to which light rays are irradiated to the image sensor 25. For example, the rotation stage 28 may rotate the image sensor 25 based on a rotation axis that is elongated in the vertical direction in FIG. 4. In other words, the rotation stage 28 may rotate the image sensor 25 about a rotation axis perpendicular to the rotation axis of the rotation plate 27 and parallel to the ground.

이상의 구조에 의하면, 광원(21)에서 출력되는 광선(L)이 영상 센서(25)의 표면에 경사를 이루면서 조사되는 조건을 모사할 수 있다. 다시 말하면, 영상 센서(25)의 고도와 다른 고도에 위치하는 광원(21)으로부터 출력되는 광선(L)이 영상 센서(25)에 조사되는 조건을 모사할 수 있다. According to the above structure, it is possible to simulate the condition in which the light beam L output from the light source 21 is irradiated while being inclined to the surface of the image sensor 25. In other words, a condition in which the light beam L output from the light source 21 located at an altitude different from the altitude of the image sensor 25 is irradiated to the image sensor 25 may be simulated.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(2)에 의하면, 제어부(C)는 회전판(27)의 회전을 통해 측정하고자 하는 광원(21)을 선택하여 영상 센서(25)를 향해 조사할 수 있다. 제어부(C)는, 회전 스테이지(28)의 조절을 통해 영상 센서(25)에 조사되는 광선(L)의 각도를 조절할 수 있다.According to the multi-laser dazzling effect measurement apparatus 2 according to an embodiment, the controller C selects the light source 21 to be measured through rotation of the rotating plate 27 and irradiates it toward the image sensor 25 can do. The controller C may adjust the angle of the light beam L irradiated to the image sensor 25 through the adjustment of the rotation stage 28.

예를 들어, 제어부(C)는 광원(21)의 종류, 광원(21)의 출력 크기, 영상 센서(25)에 수광되는 광선(L)의 면적, 영상 센서(25)의 특성, 광원(21)의 조사 각도 또는 주변 조도의 영향 등을 포함하는 측정 조건 들 중 적어도 하나 이상의 측정 인자를 변경할 수 있고, 그에 따라 영상 센서(25)에서 촬영되는 영상 또는 영상에 기초하여, 측정 인자의 변화에 따라 형성되는 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.For example, the control unit C includes the type of the light source 21, the output size of the light source 21, the area of the light ray L received by the image sensor 25, the characteristics of the image sensor 25, and the light source 21 ) At least one of the measurement conditions including the irradiation angle or the influence of the ambient illuminance can be changed, and accordingly, based on the image or image captured by the image sensor 25, according to the change of the measurement factor The degree of dazzling effect formed can be measured.

도 5는 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이고, 도 6은 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.5 is a block diagram of an apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an exemplary embodiment, and FIG. 6 is a diagram schematically illustrating a configuration of an apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an exemplary embodiment.

도 5 및 도 6을 참조하면, 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(3)는, 제 1 광원(31a), 제 2 광원(32b), 차단 요소(391, 392), 영상 센서(35), 회전 스테이지(38), 광 결합부(37), 광 조절 광학계(32), ND 필터(ND), 제 1 빔 샘플러(BS1), 제 1 빔 프로파일러(33), 제 2 빔 샘플러(PBS), 제 2 빔 프로파일러(34), 제 3 빔 샘플러(BS3), 출력 측정부(36) 및 제어부(C)를 포함할 수 있다.5 and 6, the multi-laser dazzling effect measurement apparatus 3 according to an embodiment includes a first light source 31a, a second light source 32b, blocking elements 391 and 392, and an image. Sensor 35, rotating stage 38, light coupling unit 37, light control optical system 32, ND filter (ND), first beam sampler (BS1), first beam profiler (33), second A beam sampler (PBS), a second beam profiler (34), a third beam sampler (BS3), an output measurement unit 36, and a control unit C may be included.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(3)는, 도 1 내지 도4에 도시된 실시 예의 구성과 달리 2 개의 광원(31a, 31b)을 동시에 사용하여 2 중의 광원(31a, 31b)으로부터 출력되는 광선에 의해 발생하는 대즐링 효과도를 측정할 수 있는 구조를 갖는다.The multi-laser dazzling effect measurement apparatus 3 according to an embodiment uses two light sources 31a and 31b at the same time, unlike the configuration of the embodiment shown in FIGS. 1 to 4 It has a structure that can measure the dazzling effect caused by the rays output from ).

예를 들어, 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(32b) 중 제 1 광원(31a)은 영상 센서(35)를 지향하는 상태로 제 1 광선(L1)을 조사할 수 있고, 제 2 광원(32b)은 제 1 광선(L1)의 경로 상에 교차되는 방향을 제 2 광선(L2)을 조사할 수 있다.For example, of the first light source 31a and the second light source 32b, the first light source 31a may irradiate the first light ray L1 while being directed to the image sensor 35, and the second light source 32b may irradiate the second light ray L2 in a direction crossing the path of the first light ray L1.

예를 들어, 도 6과 같이 제 1 광선(L1) 및 제 2 광선(L2)은 서로 수직하게 교차되는 구성을 가질 수 있지만, 광학계의 구성에 따라 서로 다른 각도 및 배치를 가질 수 있다는 점을 통상의 기술자라면 쉽게 이해할 수 있을 것이다. For example, as shown in FIG. 6, the first ray L1 and the second ray L2 may have a configuration that intersects perpendicularly to each other, but it is generally understood that they may have different angles and arrangements depending on the configuration of the optical system. If you're a technician of, you can easily understand.

예를 들어, 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(32b)은, 서로 다른 파장 대역, 출력 크기 또는 출력 모드를 갖는 광선(L1, L2)을 출력할 수 있다.For example, the first light source 31a and the second light source 32b may output light rays L1 and L2 having different wavelength bands, output sizes, or output modes.

차단 요소(391, 392)는, 제 1 광원(31a)으로부터 조사되는 제 1 광선(L1)의 경로에 설치되어 제 1 광선(L1)의 편광 상태 또는 투과 정도를 변형시키는 제 1 파장판(391a)과, 제 2 광원(32b)으로부터 조사되는 제 2 광선(L2)의 경로에 설치되어 제 2 광선(L2)의 편광 상태 또는 투과 정도를 변형시키는 제 2 파장판(391b)과, 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)을 회전시켜 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)을 통과하는 광선의 편광 상태 또는 투과 정도를 조절하는 파장판 회전 장치(392)를 포함할 수 있다.The blocking elements 391 and 392 are installed in the path of the first light beam L1 irradiated from the first light source 31a to change the polarization state or transmission degree of the first light beam L1. ), a second wave plate 391b installed in the path of the second light beam L2 irradiated from the second light source 32b to change the polarization state or transmission degree of the second light beam L2, and the first wavelength Wave plate rotation device 392 that rotates the plate 391a or the second wave plate 391b to adjust the polarization state or transmission degree of the light rays passing through the first wave plate 391a or the second wave plate 391b It may include.

예를 들어, 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)은 편광 방향을 바꾸는데 사용하는 반파장판일 수 있다. 따라서, 제어부(C)가 파장판 회전 장치(392)를 통해 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)을 회전시킬 경우, 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)을 통과하는 제 1 광선(L1) 또는 제 2 광선(L2)의 편광 방향이 조절될 수 있다.For example, the first wave plate 391a or the second wave plate 391b may be a half wave plate used to change the polarization direction. Therefore, when the control unit C rotates the first wave plate 391a or the second wave plate 391b through the wave plate rotating device 392, the first wave plate 391a or the second wave plate 391b The polarization direction of the first light ray L1 or the second light ray L2 passing through) may be adjusted.

예를 들어, 제어부(C)는 파장판 회전 장치(392)를 제어하여, 제 1 광선(L1) 및 제 2 광선(L2)이 서로 다른 편광 상태 또는 차단 정도를 가지도록 할 수 있다.For example, the controller C may control the wave plate rotating device 392 so that the first light ray L1 and the second light ray L2 have different polarization states or blocking degrees.

한편, 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(32b)은 동일한 종류의 광선(L1, L2)을 출력할 수 있고, 이 경우, 2개의 파장판(391)의 편광 특성 또는 투과 정도는 서로 상이하게 설정될 수 있다.Meanwhile, the first light source 31a and the second light source 32b may output the same type of light rays L1 and L2, and in this case, the polarization characteristics or transmission degrees of the two wavelength plates 391 are different from each other. Can be set.

광 결합부(37)는, 제 1 광선(L1) 및 제 2 광선(L2)이 교차하는 부분에 설치되어 제 1 광선(L1) 및 제 2 광선(L2)을 결합하여, 결합된 광선(L)을 광 조절 광학계(32)로 전달할 수 있다.The light coupling portion 37 is provided at a portion where the first light ray L1 and the second light ray L2 intersect, combines the first light ray L1 and the second light ray L2, and the combined light ray L ) Can be transmitted to the light control optical system 32.

예를 들어, 광 결합부(37)는 광의 일부는 투과시키고, 나머지 일부는 반사할 수 있는 빔 스플리터일 수 있다.For example, the light coupling unit 37 may be a beam splitter capable of transmitting some of the light and reflecting the other.

예를 들어, 광 결합부(37)는, 통과하는 광선(L)의 파장 대역에 따라 선택적으로 반사 또는 투과시킬 수 있는 다이크로익 미러(dichroic　mirror)일 수 있다.For example, the light coupling unit 37 may be a dichroic mirror that can be selectively reflected or transmitted according to the wavelength band of the passing light L.

따라서, 서로 다른 파장 대역을 갖는 제 1 광선(L1) 및 제 2 광선(L2)이 서로 결합될 경우, 다이크로익 미러에 의해 파장 대역별로 간섭되지 않는 비간섭성(incoherence) 광선 결합이 이루어질 수 있다.Therefore, when the first light rays L1 and the second light rays L2 having different wavelength bands are combined with each other, incoherence light rays that are not interfered by each wavelength band by a dichroic mirror can be achieved. have.

예를 들어, 제 2 빔 샘플러(PBS)는 통과하는 광선(L)의 편광 상태에 따라서 광선(L)을 선택적으로 투과 또는 통과시키는 편광 빔 스플리터(Polarization beam splitter)일 수 있다. For example, the second beam sampler PBS may be a polarization beam splitter that selectively transmits or passes the light L according to the polarization state of the passing light L.

이상의 구조에 의하면, 영상 센서(35)에 입사되는 광선(L)의 편광 상태를 선택적으로 조절하는 것이 가능해지므로, 광선(L)의 다양한 편광 특성에 따른 대즐링 효과도를 측정하는 것이 가능하다. 또한, 2 개의 광선(L1, L2) 중 대즐링 효과도를 분석하고자 하는 광선을 선택하기 위해 나머지 광선을 차단하는 용도로 사용할 수 있다.According to the above structure, since it becomes possible to selectively adjust the polarization state of the light ray L incident on the image sensor 35, it is possible to measure the degree of dazzling effect according to various polarization characteristics of the light ray L. In addition, it can be used for blocking the remaining rays in order to select a ray to analyze the dazzling effect among the two rays L1 and L2.

더불어, 광선(L)이 파장판(391)과, 편광 빔 스플리터(PBS)를 통과한 이후, 제 2 빔 프로파일러(34), 출력 측정부(36) 및 영상 센서(35) 각각에 조사되는 구조적 특징에 기인하여, 복수 개의 광원(31a, 31b)이 각각의 요소(34, 36, 35)에 조사되는 정도를 독립적으로 조절할 수 있다. 예를 들면, 편광 상태에 따라서, 복수 개의 광원(31a, 31b)이 모두 제 2 빔 프로파일러(34) 및 출력 측정부(36)로만 조사되고, 영상 센서(35)로는 조사되지 않도록 할 수 있다. 또한 반대로, 복수 개의 광원(31a, 31b)이 모두 영상 센서(35)로만 조사되고, 제 2 빔 프로파일러(34) 및 출력 측정부(36)로는 조사되지 않도록 할 수도 있다. 물론, 이상의 조사 대상을 복수 개의 광원(31a, 31b) 각각에 대하여 조절하는 것도 가능하다. 이와 같은 특징에 의하면, 측정하고자 하는 대상에 따라서, 각각의 요소(34, 35, 36)에 조사되는 광량을 조절하는 것이 가능하므로, 효율적인 측정에 도움이 된다.In addition, after the light beam L passes through the wave plate 391 and the polarizing beam splitter PBS, the second beam profiler 34, the output measurement unit 36, and the image sensor 35 are irradiated. Due to the structural characteristics, the degree to which the plurality of light sources 31a and 31b is irradiated to each of the elements 34, 36 and 35 can be independently controlled. For example, depending on the polarization state, all of the plurality of light sources 31a and 31b are irradiated only by the second beam profiler 34 and the output measuring unit 36, and not by the image sensor 35. . Conversely, it is also possible to prevent the plurality of light sources 31a and 31b from being irradiated only by the image sensor 35 and irradiated by the second beam profiler 34 and the output measuring unit 36. Of course, it is also possible to adjust the above irradiation target for each of the plurality of light sources 31a and 31b. According to such a feature, it is possible to adjust the amount of light irradiated to each of the elements 34, 35, 36 according to the object to be measured, which is helpful for efficient measurement.

예를 들어, 제 3 빔 샘플러(BS3)는 광선(L)이 제 2 빔 샘플러(PBS)에서 반사되어 제 2 빔 프로파일러(34)로 조사되는 경로 사이에 설치되어, 통과하는 광선(L)의 일부를 출력 측정부(36)로 반사시킬 수 있다.For example, the third beam sampler BS3 is installed between the paths where the light beam L is reflected from the second beam sampler PBS and irradiated to the second beam profiler 34, and passes the light beam L A part of can be reflected to the output measuring unit 36.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(3)에 의하면, 제어부(C)는, 파장판 회전 장치(392)를 통해 2 개의 광원(31a, 31b)별로 편광 상태 또는 투과 정도를 개별적으로 조절할 수 있게되고, 이에 따라 광원(31a, 31b)에서 출력되는 광선(L)의 성분 중, 특정 종류 또는 특정 편광 방향의 성분만을 선택적으로 분석하는 것이 가능할 수 있다.According to the multi-laser dazzling effect measurement apparatus 3 according to an embodiment, the control unit C individually determines the polarization state or transmission degree for each of the two light sources 31a and 31b through the wave plate rotating device 392. As a result, it may be possible to selectively analyze only a specific type or a component of a specific polarization direction among the components of the light ray L output from the light sources 31a and 31b.

예를 들어, 제어부(C)는 2 개의 광원(31a, 31b) 각각의 종류, 출력 크기와, 광선(L)의 편광 상태, 발산 각도, 영상 센서(35)에 수광되는 광선(L)의 면적, 영상 센서(35)의 수광 특성, 광원(31)의 조사 각도 또는 주변 조도의 영향 등을 포함하는 측정 조건 들 중 적어도 하나 이상의 측정 인자를 변경할 수 있고, 그에 따라 영상 센서(35)에서 촬영되는 영상 또는 영상에 기초하여, 측정 인자의 변화에 따라 형성되는 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.For example, the control unit C includes the type and output size of each of the two light sources 31a and 31b, the polarization state of the light ray L, the divergence angle, and the area of the light ray L received by the image sensor 35 , At least one of the measurement conditions including the light-receiving characteristic of the image sensor 35, the irradiation angle of the light source 31, or the influence of the ambient illuminance, etc. can be changed, and accordingly, the image sensor 35 Based on the image or the image, the degree of dazzling effect formed according to the change of the measurement factor may be measured.

도 7은 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.7 is a diagram schematically illustrating a configuration of an apparatus for measuring multiple laser dazzling effects according to an exemplary embodiment.

도 7을 참조하면, 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(4)는 제 1 광원(31a), 회전판(41), 제 2 광원(32b), 광원 이동부(42), 차단 요소(391, 392), 영상 센서(35), 회전 스테이지(38), 광 결합부(37), 광 조절 광학계(32), ND 필터(ND), 제 1 빔 샘플러(BS1), 제 1 빔 프로파일러(33), 제 2 빔 샘플러(PBS), 제 2 빔 프로파일러(34), 제 3 빔 샘플러(BS3), 출력 측정부(36) 및 제어부(C)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 7, a multi-laser dazzling effect measurement apparatus 4 according to an embodiment includes a first light source 31a, a rotating plate 41, a second light source 32b, a light source moving part 42, and a blocking device. Element 391, 392, image sensor 35, rotating stage 38, light coupling part 37, light control optics 32, ND filter (ND), first beam sampler (BS1), first beam A profiler 33, a second beam sampler (PBS), a second beam profiler 34, a third beam sampler (BS3), an output measurement unit 36, and a control unit C may be included.

예를 들어, 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(31b)은 복수 개로 형성될 수 있다. 예를 들어, 복수 개의 제 1 광원(31a)은 회전판(41)을 따라서 방사상으로 이격되어 설치될 수 있다. For example, the first light source 31a and the second light source 31b may be formed in plurality. For example, the plurality of first light sources 31a may be installed to be radially spaced apart along the rotating plate 41.

복수 개의 제 2 광원(31b)은 광원 이동부(42)상에 서로 이격되어 설치될 수 있다.The plurality of second light sources 31b may be installed on the light source moving part 42 to be spaced apart from each other.

도 7과 같이 회전판(41) 및 광원 이동부(42) 각각은, 복수 개의 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(31b)을 회전 가능하게 지지할 수 있다.As shown in FIG. 7, each of the rotating plate 41 and the light source moving unit 42 may rotatably support a plurality of first light sources 31a and second light sources 31b.

이상의 구조에 의하면, 복수 개의 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(31b) 중 영상 센서(35)에 조사할 광원(31a, 31b)을 선택적으로 정렬시킬 수 있다. 예를 들어, 회전판(41) 및 광원 이동부(42)에 각각 설치되는 광원(31a, 31b)은 회전판(41), 광원 이동부(42)의 중심으로부터 멀어지는 외측 방향을 향하여 광선(L)을 조사할 수 있다.According to the above structure, the light sources 31a and 31b to be irradiated to the image sensor 35 among the plurality of first and second light sources 31a and 31b can be selectively aligned. For example, the light sources 31a and 31b installed on the rotating plate 41 and the light source moving unit 42 respectively transmit light rays L toward the outer direction away from the center of the rotating plate 41 and the light source moving unit 42. You can investigate.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(4)에 의하면, 제어부(C)는 회전판(41) 또는 광원 이동부(42)의 회전을 통해 측정하고자 하는 개별 광원의 종류와 그 조합을 자유롭게 설정할 수 있기 때문에, 보다 다양한 광원의 조합별로 형성되는 대즐링 효과도를 보다 쉽게 측정할 수 있다.According to the multi-laser dazzling effect measurement apparatus 4 according to an embodiment, the control unit C determines the type and combination of individual light sources to be measured through rotation of the rotating plate 41 or the light source moving unit 42. Since it can be set freely, it is possible to more easily measure the degree of dazzling effect formed for each combination of various light sources.

도 8은 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.8 is a diagram schematically illustrating a configuration of an apparatus for measuring multi-laser dazzling effect according to an exemplary embodiment.

도 8을 참조하면, 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(7)는 복수 개의 제 1 광원(71), 회전판(76), 복수 개의 제 2 광원(72), 광원 이동부(77), 제 1 차단 요소(73), 제 2 차단 요소(74a, 74b), 광 결합부(75a, 75b), 영상 센서(35), 회전 스테이지(38), 광 조절 광학계(32), ND 필터(ND), 제 1 빔 샘플러(BS1), 제 1 빔 프로파일러(33), 제 2 빔 샘플러(PBS), 제 2 빔 프로파일러(34), 제 3 빔 샘플러(BS3), 출력 측정부(36) 및 제어부(C)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 8, a multi-laser dazzling effect measurement apparatus 7 according to an embodiment includes a plurality of first light sources 71, a rotating plate 76, a plurality of second light sources 72, and a light source moving unit ( 77), a first blocking element 73, a second blocking element 74a, 74b, a light coupling portion 75a, 75b, an image sensor 35, a rotating stage 38, a light adjustment optical system 32, ND Filter (ND), first beam sampler (BS1), first beam profiler (33), second beam sampler (PBS), second beam profiler (34), third beam sampler (BS3), output measurement unit (36) and may include a control unit (C).

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(7)는, 도 4에 도시된 실시 예에 따른 대즐링 효과도 측정 장치(2)의 구성과 유사하게, 복수 개의 제 1 광원(71)들이 영상 센서(35)를 중심으로 원주 방향으로 이격된 상태로 회전판(76)에 설치될 수 있다.The multi-laser dazzling effect measurement apparatus 7 according to an embodiment is similar to the configuration of the dazzling effect degree measurement apparatus 2 according to the embodiment shown in FIG. 4, a plurality of first light sources 71 They may be installed on the rotating plate 76 in a state spaced apart in the circumferential direction around the image sensor 35.

회전판(76)은 영상 센서(35)를 중심으로 원주 방향으로 회전할 수 있다. 따라서, 회전판(76)이 회전함에 따라 복수 개의 제 1 광원(71) 중 어느 하나의 제 1 광원(71)이 광 조절 광학계(32) 및 영상 센서(35)를 일직선 상으로 마주보도록 정렬될 수 있다.The rotating plate 76 may rotate in a circumferential direction around the image sensor 35. Therefore, as the rotating plate 76 rotates, any one of the plurality of first light sources 71 may be aligned to face the light control optical system 32 and the image sensor 35 in a straight line. have.

제 1 차단 요소(73)는 제 1 광원(71)으로부터 조사되는 광선의 경로에 설치되어 광선의 편광 상태 또는 투과 정도를 변형시킬 수 있다.The first blocking element 73 may be installed in the path of the light beam radiated from the first light source 71 to change the polarization state or transmission degree of the light beam.

복수 개의 제 2 광원(72)은 제 1 광원(71)으로부터 조사되는 광선에 결합되는 적어도 하나 이상의 광선을 조사하는 광원일 수 있다.The plurality of second light sources 72 may be light sources that irradiate at least one or more light rays coupled to light rays emitted from the first light source 71.

예를 들어, 복수 개의 제 2 광원(72)은 제 1 광원(71)으로부터 광선이 조사되는 방향을 따라서 이격된 상태로 광원 이동부(77)에 설치될 수 있다.For example, the plurality of second light sources 72 may be installed in the light source moving unit 77 in a state spaced apart from the first light source 71 along a direction in which light is irradiated.

예를 들어, 광원 이동부(77)는 복수 개의 제 2 광원(72)들을 이동시켜, 복수 개의 제 2 광원(72)들 중 적어도 하나 이상의 제 2 광원(72a, 72b)으로부터 조사되는 광선이 제 1 광원(71)으로부터 조사되는 광선에 결합되도록 정렬시킬 수 있다.For example, the light source moving unit 77 moves the plurality of second light sources 72 so that light rays irradiated from at least one or more second light sources 72a and 72b among the plurality of second light sources 72 are controlled. 1 It can be aligned to be coupled to the light beam radiated from the light source 71.

예를 들어, 광원 이동부(77)는 제 1 광원(71)으로부터 조사되는 광선의 방향과 상이한 방향을 따라서 복수 개의 제 2 광원(72)을 이동시킬 수 있다. 예를 들어, 광원 이동부(77)는 제 1 광원(71)으로부터 조사되는 광선의 방향을 따라서 복수 개의 제 2 광원(72)을 슬라이딩 이동시킬 수 있다.For example, the light source moving unit 77 may move the plurality of second light sources 72 along a direction different from a direction of a light beam emitted from the first light source 71. For example, the light source moving unit 77 may slide the plurality of second light sources 72 along the direction of the light beam emitted from the first light source 71.

예를 들어, 도 8과 같이 광원 이동부(77)의 구동을 통해 복수 개의 제 2 광원(72) 중 2 개의 제 2 광원(72a, 72b)이 선택적으로 정렬되어 제 1 광원(71)의 광 경로를 향해 광선을 조사할 수 있다.For example, as shown in FIG. 8, two second light sources 72a and 72b among a plurality of second light sources 72 are selectively aligned through the driving of the light source moving unit 77 to generate light from the first light source 71. A ray can be irradiated toward the path.

다만, 광선을 조사하는 제 2 광원(72)의 개수는 이에 제한되지 않으며, 단일 또는 3 개 이상의 제 2 광원(72)을 사용하여 다양한 종류 또는 수량의 제 2 광원(72)의 조합을 사용할 수 있다는 점을 밝혀둔다.However, the number of the second light sources 72 to irradiate the light is not limited thereto, and a combination of various types or quantities of the second light sources 72 may be used by using a single or three or more second light sources 72. Make sure there is.

예를 들어, 도 8과 같이 복수 개의 제 2 광원(72) 중 2 개의 제 2 광원(72a, 72b)에서 조사되는 광선이 제 1 광원(71)의 광선과 결합되도록, 즉 광 결합부(75a, 75b)를 지향하도록 위치가 정렬될 수 있다. 예를 들어, 광선을 조사하는 제 2 광원(72a, 72b)이 복수 개로 설정됨에 따라, 각각의 제 2 광원(72a, 72b)으로부터 제 1 광원(71)의 광 경로 사이의 구간별로 제 2 차단 요소(74a, 74b) 및 광 결합부(75a, 75b)가 각각 배치될 수 있다.For example, as shown in FIG. 8, the light rays irradiated from the two second light sources 72a and 72b among the plurality of second light sources 72 are combined with the light rays of the first light source 71, that is, the light coupling portion 75a. , 75b). For example, as a plurality of second light sources 72a and 72b for irradiating light rays are set, the second light source 72a and 72b is blocked for each section between the light paths of the first light source 71 Elements 74a, 74b and light couplings 75a, 75b can be arranged respectively.

일 실시 예에 따른 대즐링 효과도 측정 장치(7)에 의하면, 제어부(C)는 회전판(76) 또는 광원 이동부(77)의 구동을 통해 측정하고자 하는 개별 광원들의 종류 및 수량에 따른 조합을 자유롭게 설정할 수 있고, 나아가 제 1 차단 요소(73) 또는 제 2 차단 요소(74a, 74b)를 통해 각각의 광원들의 편광 상태 또는 투과 정도를 개별적으로 조절할 수 있으므로, 결과적으로 다양한 광원의 조합별로 형성되는 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.According to the dazzling effect measurement device 7 according to an embodiment, the control unit C determines a combination according to the type and quantity of individual light sources to be measured by driving the rotating plate 76 or the light source moving unit 77. It can be set freely, and furthermore, the polarization state or the transmission degree of each light source can be individually adjusted through the first blocking element 73 or the second blocking element 74a, 74b. Dazzling effect can be measured.

도 9는 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 방법의 순서도이고, 도 10은 일 실시 예에 따른 측정 인자를 변경하는 단계의 순서도이다.9 is a flowchart of a method of measuring a multi-laser dazzling effect according to an embodiment, and FIG. 10 is a flowchart of a step of changing a measurement factor according to an embodiment.

도 9 및 도 10을 참조하면, 일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 방법은, 도 1 내지 도 8에 도시된 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치를 이용하여 광원의 특성, 광선의 조사 환경 또는 영상 센서의 수광 조건 등의 변화에 따라 영상 센서에서 측정되는 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.Referring to FIGS. 9 and 10, a method of measuring a multi-laser dazzling effect according to an embodiment includes characteristics of a light source and irradiation of a light beam using the multi-laser dazzling effect measurement apparatus shown in FIGS. 1 to 8. The degree of dazzling effect measured by the image sensor may be measured according to changes in the environment or the light receiving condition of the image sensor.

이해 및 설명 상의 편의를 위해, 도 4 내지 도 8에 도시된 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(2, 3, 4, 7)를 참조하여, 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 방법을 후술할 것이지만, 본원에 청구 범위 또는 발명의 설명의 기재로부터 다양한 수정, 변형 또는 조합을 통한 측정 장치의 구성으로도 적절한 결과가 달성될 수 있다는 점을 통상의 기술자라면 쉽게 이해할 수 있을 것이다.For convenience of understanding and description, a method of measuring a multi-laser dazzling effect will be described later with reference to the multi-laser dazzling effect degree measuring apparatuses 2, 3, 4, and 7 shown in FIGS. 4 to 8, It will be readily understood by those of ordinary skill in the art that suitable results can be achieved even with the configuration of a measuring device through various modifications, modifications or combinations from the description of the claims or the description of the invention herein.

일 실시 예에 따른 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 방법은, 광원의 특성 또는 광원의 조사 조건을 포함하는 측정 조건 중 적어도 하나 이상의 측정 인자를 변경하는 단계(61)와, 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 빔 프로파일러에서 감지된 광원 특성 정보를 저장하는 단계(62)와, 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 영상 센서에서 나타난 대즐링 효과도를 저장하는 단계(63)와, 광원 특성 정보 및 대즐링 효과도를 통해 적어도 하나 이상의 측정 인자에 대한 대즐링 특성을 저장하는 단계(64)를 포함할 수 있다.A method of measuring a multi-laser dazzling effect according to an embodiment includes the step of changing (61) at least one measurement factor among measurement conditions including a characteristic of a light source or an irradiation condition of the light source, and at least one measurement factor is changed. In the state, storing the light source characteristic information detected by the beam profiler (62), and in a state in which at least one measurement factor is changed, storing the dazzling effect diagram displayed by the image sensor (63), and the light source characteristic It may include storing (64) a dazzling characteristic for at least one or more measurement factors through the information and the dazzling effect.

측정 인자를 변경하는 단계(61)는, 제어부(C)가 광원(31a, 31b)의 종류, 2 중 광원(31a, 31b)의 사용 여부, 광원(31)의 출력 크기와, 광선(L)의 편광 상태, 발산 각도, 영상 센서(35)에 수광되는 광선(L)의 면적, 영상 센서(35)의 수광 특성, 광원(31)의 조사 각도 또는 주변 조도의 영향 등을 포함하는 측정 조건을 변경하는 단계일 수 있다.In the step 61 of changing the measurement factor, the control unit C determines the type of the light sources 31a and 31b, whether or not the double light sources 31a and 31b are used, the output size of the light source 31, and the light ray L Of the polarization state, the divergence angle, the area of the light beam L received by the image sensor 35, the light-receiving characteristic of the image sensor 35, the irradiation angle of the light source 31, or the influence of the ambient illuminance. It may be a step to change.

예를 들어, 측정 인자를 변경하는 단계(61)는, 광원의 특성을 변경하는 단계(611), 광원의 종류를 변경하는 단계(612)와, 광선의 조사 각도를 변경하는 단계(613)와, 광선의 편광 상태를 변경하는 단계(614)와, 주변 조도 조건을 변경하는 단계(615)와, 촬영 조건을 변경하는 단계(616)를 포함할 수 있다.For example, the step of changing the measurement factor 61 may include changing the characteristics of the light source 611, changing the type of light source 612, changing the irradiation angle of the light beam 613, and , A step 614 of changing a polarization state of a light ray, a step 615 of changing an ambient illuminance condition, and a step 616 of changing a photographing condition may be included.

광원의 특성을 변경하는 단계(611)에서, 제어부(C)는 광원(31)을 제어하여 출력 크기 또는 출력 모드를 조절할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 광 조절 광학계(32)를 조절하여 영상 센서(35)로 조사되는 광선(L)의 발산 각도를 조절할 수 있다.In step 611 of changing the characteristics of the light source, the controller C may control the light source 31 to adjust the output size or output mode. For example, the control unit C may adjust the divergence angle of the light beam L irradiated to the image sensor 35 by adjusting the light control optical system 32.

광원의 종류를 변경하는 단계(612)에서, 도 4와 같이 제어부(C)는 회전판(27)을 회전시켜 복수 개의 광원(21) 중 측정하고자 하는 광원(21)을 선택적으로 영상 센서(25)에 조사할 수 있다.In the step 612 of changing the type of light source, as shown in FIG. 4, the controller C rotates the rotating plate 27 to selectively select the light source 21 to be measured among the plurality of light sources 21, and the image sensor 25 You can check on.

예를 들어, 도 7에 도시된 실시 예와 같이 2 개의 광원(31)을 동시에 사용하는 경우 제어부(C)는 회전판(41) 또는 광원 이동부(42)을 개별적으로 조절하여 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(31b)의 종류를 개별적으로 선택할 수 있다.For example, when two light sources 31 are used at the same time as in the embodiment shown in FIG. 7, the control unit C individually adjusts the rotating plate 41 or the light source moving unit 42 to provide the first light source 31a. ) And the type of the second light source 31b can be individually selected.

광선의 조사 각도를 변경하는 단계(613)에서, 제어부(C)는 영상 센서(35)를 지지하는 회전 스테이지(38)를 회전시켜 영상 센서(35)의 수광면에 조사되는 광선(L)의 조사 각도를 조절할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 영상 센서(35)로 조사되는 광선(L)의 광축을 기준으로 틸팅 되도록 회전시킬 수 있어서, 실제의 광원과 영상 센서 사이의 고저 각도 또는 수평 각도가 형성되는 조건을 모사할 수 있다.In the step 613 of changing the irradiation angle of the light beam, the control unit C rotates the rotating stage 38 supporting the image sensor 35 so that the light beam L irradiated to the light receiving surface of the image sensor 35 The irradiation angle can be adjusted. For example, the control unit C can be rotated to be tilted based on the optical axis of the light beam L irradiated by the image sensor 35, so that a high/low angle or a horizontal angle between the actual light source and the image sensor is formed. Can be copied.

광선의 편광 상태를 변경하는 단계(614)에서, 제어부(C)는 파장판 회전 장치(392)를 제어하여 파장판(391)을 통과하는 광선(L)의 편광 상태를 조절할 수 있다.In step 614 of changing the polarization state of the light beam, the controller C may control the wave plate rotating device 392 to adjust the polarization state of the light ray L passing through the wave plate 391.

예를 들어, 도 7에 도시된 실시 예와 같이 2 개의 광원(31)을 동시에 사용하는 경우, 제어부(C)는 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)을 개별적으로 회전시킴으로써, 서로 상이한 편광 상태를 갖는 2 개의 광선(L1, L2)의 조합에 따른 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.For example, when two light sources 31 are used at the same time as in the embodiment shown in FIG. 7, the control unit C rotates the first wave plate 391a or the second wave plate 391b individually. , It is possible to measure the degree of dazzling effect according to the combination of two light rays L1 and L2 having different polarization states.

주변 조도 조건을 변경하는 단계(615)는에서, 제어부(C)는 도 4에 도시된 실시 예의 구성과 같이 영상 센서(35)를 중심으로 회전판(41, 42)에 방사상으로 배열된 복수 개의 광원(31)들 중 일부를 구동하여, 가시광으로 인한 주변 조도의 영향을 모사할 수 있다.In the step 615 of changing the ambient illumination condition, the control unit C includes a plurality of light sources arranged radially on the rotating plates 41 and 42 around the image sensor 35 as in the configuration of the embodiment shown in FIG. 4. By driving some of the (31), it is possible to simulate the effect of ambient illumination caused by visible light.

다른 예로, 도 6 및 도 7에 도시된 측정 장치(3, 4)의 구성과 같이 2 개의 광원(31a, 31b) 중 하나의 광원이 가시 광선을 조사하도록 설정함으로써, 가시광으로 인한 주변 조도의 영향을 모사할 수 있다. 나아가, 도 7에 도시된 실시 예의 장치(4)와 같이 제 2 광원(31b)을 통해 가시 광선을 조사할 수 있도록 하고, 광원 이동부(42)의 회전을 조절함으로써 영상 센서(35)에 가시 광선이 경사를 가지며 조사되는 조건을 모사할 수도 있다.As another example, by setting one of the two light sources 31a and 31b to irradiate visible light as in the configuration of the measuring devices 3 and 4 shown in FIGS. 6 and 7, the influence of ambient illumination due to visible light Can be copied. Further, like the device 4 of the embodiment shown in FIG. 7, visible light can be irradiated through the second light source 31b, and the image sensor 35 is visible by adjusting the rotation of the light source moving unit 42. It is also possible to simulate the conditions under which the light beam has an inclination and is irradiated.

촬영 조건을 변경하는 단계(616)에서, 제어부(C)는 영상 센서(35)의 노출도, 내장 필터, 해상도 또는 이득 계수(gain factor) 등의 조건을 변경할 수 있다.In step 616 of changing the photographing condition, the controller C may change conditions such as an exposure degree, a built-in filter, a resolution, or a gain factor of the image sensor 35.

광원 특성 정보를 저장하는 단계(62)는, 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 제어부(C)가 빔 프로파일러(33, 34) 또는 출력 측정부(36)에서 감지된 광원 특성 정보를 저장하는 단계일 수 있다.In the step 62 of storing the light source characteristic information, the controller C stores the light source characteristic information detected by the beam profilers 33 and 34 or the output measuring unit 36 in a state in which at least one measurement factor is changed. It may be a step to do.

광원 특성 정보를 저장하는 단계(62)에서, 제어부(C)는 빔 프로파일러(33, 34) 또는 출력 측정부(36)에서 계측되는 정보에 기초하여, 측정하고자 했던 광선(L)의 특성을 정량적으로 측정할 수 있다.In the step 62 of storing the light source characteristic information, the control unit C determines the characteristics of the light ray L to be measured based on the information measured by the beam profilers 33 and 34 or the output measurement unit 36. It can be measured quantitatively.

예를 들어, 제어부(C)는, 제 1 빔 프로파일러(33) 및 제 2 빔 프로파일러(34)에서 계측되는 데이터의 차이에 기초하여 광 조절 광학계(32)를 통해 영상 센서(35)에 조사되는 광선(L)의 발산 각도를 측정할 수 있고, 출력 측정부(36)에서 계측되는 데이터에 기초하여 광선(L)의 출력의 크기를 측정할 수 있다.For example, the control unit C, based on the difference in data measured by the first beam profiler 33 and the second beam profiler 34, to the image sensor 35 through the light adjustment optical system 32 The divergence angle of the irradiated light ray L can be measured, and the magnitude of the output of the light ray L can be measured based on the data measured by the output measuring unit 36.

예를 들어, 제어부(C)는 빔 프로파일러(33, 34)에서 계측된 데이터에 기초하여, 광선(L)의 파장 대역 또는 편광 상태를 측정할 수 있다.For example, the controller C may measure a wavelength band or a polarization state of the light ray L based on the data measured by the beam profilers 33 and 34.

따라서, 제어부(C)는 광원(31), 광 조절 광학계(32) 또는 파장판 회전 장치(392)를 제어하여, 영상 센서(35)에 조사되는 광선(L)이 측정하고자 의도한 특성을 만족하는지 여부를 판단할 수 있고, 해당 특성을 만족시키도록, 전술한 광원의 종류를 변경하는 단계(612)를 수행할 수 있다.Therefore, the control unit C controls the light source 31, the optical control system 32, or the wave plate rotating device 392 to satisfy the characteristics intended to be measured by the light beam L irradiated to the image sensor 35. It may be determined whether or not, and step 612 of changing the type of light source described above may be performed to satisfy the corresponding characteristic.

대즐링 효과도를 저장하는 단계(63)에서, 제어부(C)는 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 영상 센서(35)에서 촬영된 영상을 분석하여 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.In the step 63 of storing the dazzling effect, the controller C may measure the dazzling effect by analyzing the image captured by the image sensor 35 while at least one measurement factor is changed.

예를 들어, 제어부(C)는 영상 센서(35)에서 촬영된 영상의 이미지 분석을 통해 대즐링 효과도를 측정할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 제 2 빔 프로파일러(34) 또는 출력 측정부(36)에서 계측되는 정보에 기초하여 광선(L)의 파장 대역 또는 편광 상태의 변화에 따른 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.For example, the controller C may measure a dazzling effect through image analysis of an image captured by the image sensor 35. For example, the control unit C calculates a dazzling effect according to a change in the wavelength band or polarization state of the light ray L based on the information measured by the second beam profiler 34 or the output measurement unit 36. Can be measured.

대즐링 특성을 저장하는 단계(64)에서, 제어부(C)는 전술한 단계에서 얻은 광원 특성 정보 및 대즐링 효과도를 통해 적어도 하나 이상의 측정 인자에 대한 대즐링 특성의 영향도를 측정할 수 있다.In the step 64 of storing the dazzling characteristic, the control unit C may measure the influence of the dazzling characteristic on at least one or more measurement factors through the light source characteristic information and the dazzling effect obtained in the above-described step. .

예를 들어, 제어부(C)는 적어도 하나 이상의 측정 인자의 변화에 따라 측정되는 광원 특성 정보 및 대즐링 효과도를 상호 매칭하여 저장할 수 있고, 해당 데이터들의 연관 관계를 계산함으로써, 측정 인자에 따른 대즐링 특성의 영향도를 측정할 수 있다.For example, the control unit C may match and store the light source characteristic information and the dazzling effect measured according to the change of at least one measurement factor, and calculate the correlation between the corresponding data, The degree of influence of the sling property can be measured.

이상과 같이 비록 한정된 도면에 의해 실시 예들이 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 구조, 장치 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.As described above, although the embodiments have been described by the limited drawings, various modifications and variations are possible from the above description to those of ordinary skill in the art. For example, the described techniques are performed in a different order from the described method, and/or components such as the described structure, device, etc. are combined or combined in a form different from the described method, or in other components or equivalents. Even if substituted or substituted by, appropriate results can be achieved.

Claims (10)

대즐링 효과를 측정하기 위해 제 1 광선을 조사하는 제 1 광원;
상기 제 1 광원으로부터 조사되는 광선을 수광하는 영상 센서;
상기 제 1 광원에서 출력되는 광선의 경로상에 제 2 광선을 조사하는 제 2 광원;
상기 제 1 광선 및 제 2 광선이 교차하는 부분에 설치되어 상기 제 1 광선 및 제 2 광선을 결합하는 광 결합부;
상기 제 1 광원으로부터 조사되는 광선의 경로에 설치되어 제 1 광선의 편광 상태를 변형시키는 제 1 파장판과, 상기 제 2 광원으로부터 조사되는 광선의 경로에 설치되어 제 2 광선의 편광 상태를 변형시키는 제 2 파장판과, 상기 제 1 파장판 또는 제 2 파장판을 회전시켜 상기 제 1 파장판 또는 제 2 파장판을 통과하는 광선의 편광 상태를 조절하는 파장판 회전 장치를 구비하는 차단 요소;
상기 제 1 광원을 포함하는 복수 개의 제 1 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 제 1 광원 중 어느 하나의 광원이 선택적으로 상기 영상 센서를 지향 가능하도록, 상기 복수개의 제 1 광원을 상기 영상 센서를 중심으로 원둘레 방향으로 회전 가능하게 설치되는 회전판;
상기 제 2 광원을 포함하는 복수 개의 제 2 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 제 2 광원 중 적어도 하나 이상의 제 2 광원이 선택적으로 상기 광 결합부를 지향하도록 이동시키는 광원 이동부; 및
상기 제 1 광원, 제 2 광원, 회전판, 광원 이동부 및 파장판 회전 장치의 구동을 제어하는 제어부를 포함하고,
상기 제어부는, i)상기 회전판 또는 상기 광원 이동부의 구동을 제어하여 상기 제 1 광원 또는 상기 제 2 광원의 종류를 개별적으로 선택하고, ii)상기 파장판 회전 장치의 구동을 통해 상기 제 1 파장판 또는 제 2 파장판을 개별적으로 회전시켜 상기 제 1 광선 또는 제 2 광선의 편광 상태를 개별적으로 조절하는 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치.
A first light source for irradiating a first ray to measure a dazzling effect;
An image sensor for receiving light rays irradiated from the first light source;
A second light source for irradiating a second light beam on a path of the light beam output from the first light source;
A light coupling unit installed at a portion where the first and second light rays intersect to combine the first and second light rays;
A first wave plate installed in the path of the light beam radiated from the first light source to modify the polarization state of the first light beam, and the first wave plate installed in the path of the light beam radiated from the second light source to modify the polarization state of the second light beam A blocking element including a second wave plate and a wave plate rotating device configured to rotate the first wave plate or the second wave plate to adjust a polarization state of light rays passing through the first wave plate or the second wave plate;
The plurality of first light sources are centered on the image sensor so that a plurality of first light sources including the first light source is supported, and any one of the plurality of first light sources can be selectively directed to the image sensor. Rotating plate installed to be rotatable in the circumferential direction;
A light source moving unit that supports a plurality of second light sources including the second light source, and moves at least one second light source from among the plurality of second light sources to selectively move toward the light coupling unit; And
And a control unit for controlling driving of the first light source, the second light source, the rotating plate, the light source moving unit, and the wave plate rotating device,
The control unit includes i) controlling the driving of the rotating plate or the light source moving unit to individually select the type of the first light source or the second light source, and ii) the first wave plate by driving the wave plate rotating device. Alternatively, a multi-laser dazzling effect also measuring apparatus for individually adjusting the polarization state of the first light beam or the second light beam by individually rotating the second wave plate.
 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 광 결합부 및 상기 영상 센서 사이의 광 경로에 설치되는 편광 빔 스플리터; 및
상기 편광 빔 스플리터에서 반사되는 광선을 수광하는 빔 특성 측정부를 더 포함하고,
상기 제어부는, 상기 제 1 광원 및 제 2 광원과 상기 파장판 회전 장치를 제어하여 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 파장 특성을 조절하고, 상기 빔 특성 측정부에서 계측되는 정보에 기초하여 광선의 특성을 측정하는 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치.
The method of claim 1,
A polarization beam splitter installed in an optical path between the optical coupling unit and the image sensor; And
Further comprising a beam characteristic measuring unit for receiving the light reflected from the polarization beam splitter,
The control unit controls the first and second light sources and the wave plate rotation device to adjust the wavelength characteristics of the light rays irradiated to the image sensor, and characteristics of the light rays based on information measured by the beam characteristics measurement unit. Multi-laser dazzling effect also measuring device to measure.
 삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 제어부는, 상기 광원 이동부의 구동을 제어하여, 상기 복수 개의 제 2 광원 중 적어도 2 개 이상의 제 2 광원으로부터 조사되는 광선이 상기 제 1 광원으로부터 조사되는 광선의 광축에 교차하도록 정렬하고, 상기 영상 센서를 중심으로 상기 회전판에 방사상으로 설치된 복수 개의 제 1 광원을 선택적으로 구동하여 주변 조도 환경을 모사하는 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치.
The method of claim 1,
The control unit controls the driving of the light source moving unit to align the light rays emitted from at least two or more second light sources among the plurality of second light sources so as to intersect the optical axis of the light rays emitted from the first light source, and the image A multi-laser dazzling effect measuring device for simulating a surrounding illuminance environment by selectively driving a plurality of first light sources radially installed on the rotating plate around a sensor.
 제 1 항에 있어서,
상기 광 결합부 및 상기 영상 센서 사이에 위치하며, 상기 제 1 광선 또는 제 2 광선의 발산 각도를 조절함으로써, 상기 제 1 광원 또는 제 2 광원으로부터 상기 영상 센서까지의 거리가 변화된 효과를 모사하기 위한 광 조절 광학계를 더 포함하는 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치.
The method of claim 1,
It is located between the light coupling part and the image sensor, by adjusting the divergence angle of the first light beam or the second light beam, to simulate the effect that the distance from the first light source or the second light source to the image sensor is changed. A multi-laser dazzling effect measurement device further comprising a light control optical system.
 제 7 항에 있어서,
상기 광 결합부는 다이크로익 미러를 포함하고,
상기 제 1 광선 및 제 2 광선은 상기 다이크로익 미러를 통과하면서 인코히런스 결합되는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치.
The method of claim 7,
The light coupling portion includes a dichroic mirror,
The multi-laser dazzling effect also measuring apparatus, characterized in that the first light beam and the second light beam are incoherence-coupled while passing through the dichroic mirror.
 제 7 항에 있어서,
상기 제어부는, 상기 제 1 광원 및 제 2 광원을 제어하여 상기 광 결합부에서 결합하는 상기 제 1 광선 및 제 2 광선의 모드를 불일치시키는 것을 특징으로 하는 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치.
The method of claim 7,
The control unit controls the first light source and the second light source to mismatch modes of the first light beam and the second light beam coupled by the light coupling unit.
 제 1 항에 있어서,
상기 영상 센서를 회전 가능하게 지지하는 회전 스테이지를 더 포함하고,
상기 제어부는 상기 회전 스테이지를 회전시켜 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 각도를 조절하는 다중 레이저 대즐링 효과도 측정 장치.The method of claim 1,
Further comprising a rotating stage rotatably supporting the image sensor,
The control unit rotates the rotation stage to adjust the angle of the light beam irradiated to the image sensor multi-laser dazzling effect also measuring device.
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