KR102135172B1 - Ultraviolet curing apparatus - Google Patents

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KR102135172B1
KR102135172B1 KR1020200000339A KR20200000339A KR102135172B1 KR 102135172 B1 KR102135172 B1 KR 102135172B1 KR 1020200000339 A KR1020200000339 A KR 1020200000339A KR 20200000339 A KR20200000339 A KR 20200000339A KR 102135172 B1 KR102135172 B1 KR 102135172B1
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light emitting
semiconductor light
ultraviolet
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ultraviolet rays
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KR1020200000339A
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오정근
이덕주
임동식
김창태
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주식회사 씨티랩
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Abstract

In an ultraviolet curing device, the present disclosure relates to the ultraviolet curing device including: a substrate; a case provided on the substrate and having an internal space; a light emitting unit provided on the substrate and provided in the inner space of the case and a first semiconductor light emitting device emitting ultraviolet rays, and including a second semiconductor light emitting device emitting the ultraviolet rays; and a measurement unit including a sensor which measures the ultraviolet rays and an optical fiber which transmits the ultraviolet rays from the second semiconductor light emitting device to the sensor.

Description

자외선 경화 장치{ULTRAVIOLET CURING APPARATUS}Ultraviolet curing device {ULTRAVIOLET CURING APPARATUS}

본 개시(Disclosure)는 전체적으로 자외선 경화 장치에 관한 것으로, 특히 신뢰성 있는 자외선 경화 장치에 관한 것이다.The present disclosure (Disclosure) relates to an ultraviolet curing device as a whole, and particularly to a reliable ultraviolet curing device.

여기서는, 본 개시에 관한 배경기술이 제공되며, 이들이 반드시 공지기술을 의미하는 것은 아니다(This section provides background information related to the present disclosure which is not necessarily prior art).Here, background technology is provided in connection with the present disclosure, and this does not necessarily mean prior art.

도 1은 한국 등록특허공보 제10-1649931호에 제시된 자외선 경화 장치 및 이의 조도 조절방법의 일 예를 나타내는 도면으로서, 설명의 편의를 위해 도면 부호 및 용어를 변경하였다.1 is a view showing an example of an ultraviolet curing device and a method of adjusting the illuminance thereof, which are set forth in Korean Patent Publication No. 10-1649931, and reference numerals and terms have been changed for convenience of explanation.

자외선 경화 장치(10)는 UV(ultraviolet rays) 경화성 수지 등의 피조사물에 자외선을 조사하는 장치로, 하우징(11), 투광부(12), 발광부(13) 및 측정부(14)를 포함한다. 하우징(11)는 자외선 경화 장치(10)의 외관을 이루고, 내부에는 발광부(13) 등의 각종 전장부품이 수용될 수 있는 내부공간이 형성된다. 하우징(11)의 일측에는 개구부(11a)가 형성되며, 내부공간 내부에 구비된 발광부(13)에서 방출된 자외선은 개구부(11a)를 통해 하우징(11)의 외부에 배치된 피조사물에 조사된다. 투광부(12)는 개구부(11a)에 설치된다. 발광부(13)에서 방출되는 자외선의 일부는 투광부(12)를 투과하고, 다른 일부는 투광부(12)에서 반사된다. 측정부(14)는 발광부(13)에서 방출된 자외선 중 투광부(12)에서 반사된 자외선, 즉, 반사 자외선(15)을 감지한다.The ultraviolet curing device 10 is a device that irradiates ultraviolet light to an irradiated object such as UV (ultraviolet rays) curable resin, and includes a housing 11, a light transmitting unit 12, a light emitting unit 13, and a measuring unit 14 do. The housing 11 forms an external appearance of the ultraviolet curing device 10, and an interior space in which various electric components such as the light emitting unit 13 can be accommodated is formed inside. An opening 11a is formed at one side of the housing 11, and the ultraviolet light emitted from the light emitting unit 13 provided inside the interior space is irradiated to the irradiated object disposed outside the housing 11 through the opening 11a. do. The light transmitting part 12 is provided in the opening 11a. A part of the ultraviolet light emitted from the light emitting part 13 passes through the light transmitting part 12, and the other part is reflected by the light transmitting part 12. The measurement unit 14 detects ultraviolet rays reflected from the light-transmitting unit 12 among the ultraviolet rays emitted from the light-emitting unit 13, that is, the reflected ultraviolet light 15.

도 2는 한국 등록특허공보 제10-0986133호에 제시된 종래의 자외선 조도 측정장치의 일 예를 나타내는 도면으로서, 설명의 편의를 위해 도면 부호를 변경하였다.2 is a view showing an example of a conventional ultraviolet illuminance measurement device presented in Korean Patent Publication No. 10-0986133, the reference numerals have been changed for convenience of explanation.

자외선 경화장치는 챔버(1), 발광부(25), 마스크 글라스 고정유닛(20), 기판 지지부(30)를 포함한다.The ultraviolet curing device includes a chamber 1, a light emitting portion 25, a mask glass fixing unit 20, and a substrate support portion 30.

챔버(1)에는, 발광부(25), 마스크 글라스 고정유닛(20), 기판 지지부(30)가 위치한다. 발광부(25)는 자외선을 조사하는 자외선 램프(26)를 포함하고, 마스크 글라스 고정유닛(20)은 마스크 글라스(40)를 고정한다. 마스크 글라스 고정유닛(20)은 마스크 글라스(40)를 진공 흡착시켜 고정시키게 된다. 기판 지지부(30)는 LCD 패널인 유리 기판(41)을 로딩하여 지지한다. 한편 유리 기판(41)의 액정(46)을 밀봉시키는 실란트(45) 경화작업은 기판 지지부(30)를 이용하여 지지대(36) 상부의 스테이지(35)에 놓여진 유리 기판(41)을 적절한 위치에 로딩시킨 후, 발광부(25)의 자외선 램프(26)를 작동시켜 자외선이 마스크 지지 글라스(21)와 마스크 글라스(40)를 통해 유리 기판(41)의 실란트(45)에 조사되게 함으로써 이루어진다. 이때 자외선 조도측정은 유리 기판(41)에 적절한 자외선이 조사되는지 여부를 확인하기 위한 것으로서, 조도센서를 이용하여 유리 기판(41) 상부의 특정 부위에서의 자외선 조도를 측정하게 되는 것이다.In the chamber 1, a light emitting portion 25, a mask glass fixing unit 20, and a substrate support portion 30 are located. The light emitting unit 25 includes an ultraviolet lamp 26 for irradiating ultraviolet rays, and the mask glass fixing unit 20 fixes the mask glass 40. The mask glass fixing unit 20 is fixed by vacuum suctioning the mask glass 40. The substrate support 30 loads and supports the glass substrate 41 which is an LCD panel. On the other hand, the sealant 45 curing operation of sealing the liquid crystal 46 of the glass substrate 41 uses the substrate support 30 to place the glass substrate 41 placed on the stage 35 above the support 36 at an appropriate position. After loading, the UV lamp 26 of the light emitting unit 25 is operated to cause ultraviolet rays to be irradiated to the sealant 45 of the glass substrate 41 through the mask support glass 21 and the mask glass 40. At this time, the ultraviolet illuminance measurement is for confirming whether an appropriate ultraviolet ray is irradiated to the glass substrate 41, and is to measure the ultraviolet illuminance at a specific area on the top of the glass substrate 41 using an illuminance sensor.

도 1과 같이 자외선 경화 장치(10)는 반사 자외선(15)을 감지하며, 발광부(13)에서 나오는 자외선 중 반사되는 많은 양의 자외선에 의해 측정부(14)가 노출되어 측정부(14)의 수명이 짧아지는 문제점이 있다. As shown in FIG. 1, the ultraviolet curing device 10 detects the reflected ultraviolet light 15, and the measurement unit 14 is exposed by a large amount of ultraviolet light reflected among the ultraviolet rays emitted from the light emitting unit 13 to measure the measurement unit 14 There is a problem that the life of the shorter.

도 2와 같이 자외선 조도 측정 장치의 유리 기판(41) 상부에서 측정되는 자외선 조도는 마스크 지지 글라스(21)를 통과하므로, 측정된 자외선 조도는 마스크 지지 글라스(21)의 오염도에 따라서 변화되며, 자외선 조도 센서는 발광부(25)에서 나오는 자외선 및 열에 직접 노출되어 수명이 짧아지는 문제점이 있다.As shown in FIG. 2, since the ultraviolet illuminance measured on the glass substrate 41 of the ultraviolet illuminance measurement device passes through the mask support glass 21, the measured ultraviolet illuminance changes according to the degree of contamination of the mask support glass 21. The illuminance sensor has a problem in that life is shortened by being directly exposed to ultraviolet rays and heat emitted from the light emitting unit 25.

이에 대하여 '발명의 실시를 위한 구체적인 내용'의 후단에 기술한다.This will be described at the end of'Details for the Invention'.

여기서는, 본 개시의 전체적인 요약(Summary)이 제공되며, 이것이 본 개시의 외연을 제한하는 것으로 이해되어서는 아니된다(This section provides a general summary of the disclosure and is not a comprehensive disclosure of its full scope or all of its features).Here, an overall summary of the present disclosure is provided, and this should not be understood as limiting the appearance of the present disclosure (This section provides a general summary of the disclosure and is not a comprehensive disclosure of its full scope or all of its features).

본 개시에 따른 일 측면에 의하면(According to one aspect of the present disclosure), 자외선 경화 장치에 있어서, 기판; 기판에 구비되며, 내부공간을 가지는 케이스; 기판에 구비되고, 자외선을 발광하는 제1 반도체 발광소자 및 케이스의 내부공간에 구비되며, 자외선을 발광하는 제2 반도체 발광소자를 포함하는 발광부; 그리고, 자외선을 측정하는 센서, 제2 반도체 발광소자에서 나온 자외선을 센서에 전달하는 광섬유를 포함하는 측정부;를 포함하는 자외선 경화 장치가 제공된다.According to one aspect of the present disclosure (According to one aspect of the present disclosure), in the ultraviolet curing device, the substrate; A case provided on the substrate and having an internal space; A light emitting unit provided on a substrate, provided in a first semiconductor light emitting device that emits ultraviolet light, and a second semiconductor light emitting device that emits ultraviolet light in an inner space of the case; Then, a sensor for measuring ultraviolet rays, a measuring unit including an optical fiber that transmits ultraviolet rays emitted from the second semiconductor light emitting element to the sensor, is provided.

이에 대하여 '발명의 실시를 위한 구체적인 내용'의 후단에 기술한다.This will be described at the end of'Details for the Invention'.

도 1은 한국 등록특허공보 제10-1649931호에 제시된 자외선 경화 장치 및 이의 조도 조절방법의 일 예를 나타내는 도면,
도 2는 한국 등록특허공보 제10-0986133호에 제시된 종래의 자외선 조도 측정장치의 일 예를 나타내는 도면,
도 3은 본 개시에 따른 자외선 경화 장치의 일 예를 나타내는 도면,
도 4는 도 3의 자외선 경화 장치의 AA'단면을 나타내는 도면,
도 5는 본 개시에 따른 측정부의 단면의 일 예를 나타내는 도면,
도 6은 본 개시에 따른 자외선 경화 장치의 다른 예를 나타내는 도면,
도 7은 도 6의 자외선 경화 장치의 BB'단면을 나타내는 도면,
도 8은 본 개시에 따른 자외선 경화 장치의 또 다른 예를 나타내는 도면,
도 9는 본 개시에 따른 자외선 경화 장치의 또 다른 예를 나타내는 도면.1 is a view showing an example of an ultraviolet curing device and a method of adjusting the illuminance thereof, which are presented in Korean Patent Registration No. 10-1649931,
2 is a view showing an example of a conventional ultraviolet illuminance measurement device presented in Korean Patent Publication No. 10-0986133,
3 is a view showing an example of an ultraviolet curing device according to the present disclosure,
Figure 4 is a view showing the AA' section of the ultraviolet curing device of Figure 3,
5 is a view showing an example of a cross section of a measuring unit according to the present disclosure,
6 is a view showing another example of the ultraviolet curing device according to the present disclosure,
7 is a view showing a BB' section of the ultraviolet curing device of FIG. 6,
8 is a view showing another example of an ultraviolet curing device according to the present disclosure,
9 is a view showing another example of the ultraviolet curing device according to the present disclosure.

이하, 본 개시를 첨부된 도면을 참고로 하여 자세하게 설명한다(The present disclosure will now be described in detail with reference to the accompanying drawing(s)). Hereinafter, the present disclosure will be described in detail with reference to the accompanying drawings (The present disclosure will now be described in detail with reference to the accompanying drawing(s)).

도 3은 본 개시에 따른 자외선 경화 장치의 일 예를 나타내는 도면이고, 도 4는 도 3의 자외선 경화 장치의 AA'단면을 나타내는 도면이다.3 is a view showing an example of an ultraviolet curing device according to the present disclosure, and FIG. 4 is a view showing an AA' cross section of the ultraviolet curing device of FIG. 3.

자외선 경화 장치(100)는 기판(110), 케이스(130), 발광부(150) 및 측정부(170)를 포함하며, 기판(110)은 인쇄회로 기판 등일 수 있다. 케이스(130)는 내부공간을 가진다. 발광부(150)는 피조사물(예;접착제)를 경화시키는 자외선을 발광하는 제1 반도체 발광소자(151)와 측정하기 위한 자외선을 발광하는 제2 반도체 발광소자(152)를 포함한다. 기판(110) 위에 발광부(150)가 구비되고, 제1 반도체 발광소자(151)와 제2 반도체 발광소자(152)는 동일한 것이 바람직하다. 제1 반도체 발광소자(151)에서 나오는 자외선을 측정하지 않고 대표로 제2 반도체 발광소자(152)에서 나오는 자외선을 측정하기 때문이다. 제1 반도체 발광소자(151)와 제2 반도체 발광소자(152)는 동일한 제품일 수 있다. 제1 반도체 발광소자(151)와 제2 반도체 발광소자(152)는 동일한 전류로 작동할 수 있으며, 동일한 빛을 발광하고, 동일한 빛의 세기로 발광할 수 있다.The ultraviolet curing device 100 includes a substrate 110, a case 130, a light emitting unit 150, and a measuring unit 170, and the substrate 110 may be a printed circuit board or the like. The case 130 has an internal space. The light emitting unit 150 includes a first semiconductor light emitting device 151 that emits ultraviolet rays for curing an irradiated object (eg, an adhesive), and a second semiconductor light emitting device 152 that emits ultraviolet rays for measurement. It is preferable that the light emitting unit 150 is provided on the substrate 110, and that the first semiconductor light emitting device 151 and the second semiconductor light emitting device 152 are the same. This is because ultraviolet rays emitted from the first semiconductor light emitting element 151 are not measured, and ultraviolet rays emitted from the second semiconductor light emitting element 152 are typically measured. The first semiconductor light emitting device 151 and the second semiconductor light emitting device 152 may be the same product. The first semiconductor light emitting device 151 and the second semiconductor light emitting device 152 may operate with the same current, emit the same light, and emit light with the same intensity of light.

제1 반도체 발광소자(151)와 제2 반도체 발광소자(152)는 같은 방향으로 자외선을 발광할 수 있다. 제1 반도체 발광소자(151)의 자외선은 피조사물을 경화하는데 사용되고, 제2 반도체 발광소자(152)의 자외선은 자외선의 세기를 측정하는데 사용될 수 있다. 제1 반도체 발광소자(151)는 피조사물을 경화하기 위해 적정한 자외선을 발광할 수 있도록 복수개 구비될 수 있다. 제2 반도체 발광소자(152)도 복수개 구비될 수 있다. The first semiconductor light emitting device 151 and the second semiconductor light emitting device 152 may emit ultraviolet light in the same direction. The ultraviolet light of the first semiconductor light emitting device 151 is used to cure the irradiated object, and the ultraviolet light of the second semiconductor light emitting device 152 can be used to measure the intensity of ultraviolet light. A plurality of first semiconductor light emitting devices 151 may be provided to emit appropriate ultraviolet light to cure the irradiated object. A plurality of second semiconductor light emitting devices 152 may also be provided.

측정부(170)는 센서(171) 및 광섬유 모듈(173)을 포함하고, 센서(171)는 제2 반도체 발광소자(152)에서 나온 자외선을 측정한다. 광섬유 모듈(173)은 제2 반도체 발광소자(152)에서 나온 자외선을 센서(171)까지 전달한다. 광섬유 모듈(173)은 기판(110)을 관통할 수 있다. 센서(171)는 제2 반도체 발광소자(152)에서 나오는 빛이 직접 닿지 않는 부분에 구비된다. 예를 들어, 센서(171)는 제2 반도체 발광소자(152)에서 나오는 자외선이 향하는 방향의 반대쪽에 위치할 수 있다.The measurement unit 170 includes a sensor 171 and an optical fiber module 173, and the sensor 171 measures ultraviolet light emitted from the second semiconductor light emitting device 152. The optical fiber module 173 transmits ultraviolet light emitted from the second semiconductor light emitting device 152 to the sensor 171. The optical fiber module 173 may penetrate the substrate 110. The sensor 171 is provided at a portion where the light emitted from the second semiconductor light emitting element 152 does not directly contact. For example, the sensor 171 may be located on the opposite side of the direction in which the ultraviolet light emitted from the second semiconductor light emitting element 152 is directed.

케이스(130)의 내부공간(131)에는 제2 반도체 발광소자(152)가 구비된다. 즉, 케이스(130)는 기판(110)에 구비된 제2 반도체 발광소자(152)를 덮을 수 있으며, 제2 반도체 발광소자(152)에서 나오는 자외선이 케이스(130)의 외부로 빠져나가지 못하게 둘러싼다. 케이스(130)의 내면(133)에는 자외선이 흡수되는 재료가 도포될 수 있다. 제2 반도체 발광소자(152)에서 나오는 자외선만 측정부(170)에 들어가도록 할 수 있다. 제2 반도체 발광소자(152)는 기판(110)의 가장자리에 구비될 수 있다. 제2 반도체 발광소자(152)에서 나오는 자외선이 반사될 수 없도록 케이스(130)의 내면(133)에는, 자외선이 흡수되는 재료가 구비될 수 있다.The second semiconductor light emitting device 152 is provided in the inner space 131 of the case 130. That is, the case 130 may cover the second semiconductor light emitting device 152 provided on the substrate 110, and surround ultraviolet light emitted from the second semiconductor light emitting device 152 so as not to escape to the outside of the case 130. All. A material absorbing ultraviolet rays may be applied to the inner surface 133 of the case 130. Only the ultraviolet light emitted from the second semiconductor light emitting device 152 may be allowed to enter the measurement unit 170. The second semiconductor light emitting device 152 may be provided at the edge of the substrate 110. A material that absorbs ultraviolet light may be provided on the inner surface 133 of the case 130 so that ultraviolet light emitted from the second semiconductor light emitting device 152 cannot be reflected.

자외선 경화 장치(100)는 투광부(190)를 더 포함한다. 투광부(190)는 평평한 판일 수 있다. 투광부(190)는 제1 반도체 발광소자(151)의 자외선을 투광시킬 수 있다.The ultraviolet curing device 100 further includes a light transmitting unit 190. The light transmitting unit 190 may be a flat plate. The light transmitting unit 190 may transmit ultraviolet rays of the first semiconductor light emitting device 151.

기판(110)에 인쇄된 회로에 제1 반도체 발광소자(151) 및 제2 반도체 발광소자(152)가 동시에 전기적으로 연결된다. 따라서, 제1 반도체 발광소자(151) 및 인쇄된 회로에 문제가 생겨 단락이나 합선이 생기면 제2 반도체 발광소자(152)에도 문제가 생기거나 제2 반도체 발광소자(152)에서 발광하는 자외선의 세기 등이 달라진다. 측정부(170)는 제2 반도체 발광소자(152)의 자외선의 세기, 자외선의 양을 감지하여 제1 반도체 발광소자(151)의 자외선의 세기, 자외선의 양을 알 수 있다.The first semiconductor light emitting device 151 and the second semiconductor light emitting device 152 are electrically connected to the circuit printed on the substrate 110 at the same time. Accordingly, when a short circuit or a short circuit occurs due to a problem in the first semiconductor light emitting device 151 and the printed circuit, the second semiconductor light emitting device 152 also has a problem or the intensity of ultraviolet light emitted from the second semiconductor light emitting device 152 The back changes. The measurement unit 170 may detect the intensity of ultraviolet light and the amount of ultraviolet light of the first semiconductor light emitting device 151 by detecting the intensity of ultraviolet light and the amount of ultraviolet light of the second semiconductor light emitting device 152.

도 5는 본 개시에 따른 측정부의 단면의 일 예를 나타내는 도면이다.5 is a view showing an example of a cross section of a measuring unit according to the present disclosure.

광섬유 모듈(173)은 커버(173-1) 및 광섬유(173-2)를 포함한다. 커버(173-1)는 중공형으로 형성되어, 자외선을 받는 입구(173-11) 및 자외선을 내보내는 출구(173-12)를 포함한다. 커버(173-1)는 광섬유(173-2)를 둘러싸고, 광섬유(173-2)는 입구(173-11)와 출구(173-12) 사이에 구비되어, 입구(173-11)에서 출구(173-12)로 자외선을 전달한다.The optical fiber module 173 includes a cover 173-1 and an optical fiber 173-2. The cover 173-1 is formed in a hollow shape, and includes an inlet 173-11 receiving ultraviolet rays and an outlet 173-12 emitting ultraviolet rays. The cover 173-1 surrounds the optical fiber 173-2, and the optical fiber 173-2 is provided between the inlet 173-11 and the outlet 173-12, and exits from the inlet 173-11 ( 173-12).

커버(173-1)의 입구(173-11)는 커버(173-1)의 측면에 구비되며, 출구(173-12)는 커버(173-1)의 일 단에 구비될 수 있다. 입구(173-11)는 제2 반도체 발광소자(152)를 향하도록 형성되는 것이 바람직하다. 입구(173-11)가 측면에 구비된 경우, 출구(173-12) 측으로 자외선이 더 전달되도록 커버(173-1)의 내부에는 자외선이 출구(173-12) 측으로 자외선이 반사되도록 반사체(177)가 구비될 수 있다. 출구(173-12)는 제1 반도체 발광소자(151)의 자외선이 나가는 방향(도 4의 화살표)의 반대편에 구비된다. The inlet 173-11 of the cover 173-1 is provided on the side of the cover 173-1, and the outlet 173-12 may be provided at one end of the cover 173-1. The inlet 173-11 is preferably formed to face the second semiconductor light emitting device 152. If the inlet (173-11) is provided on the side, the inside of the cover (173-1) so that the ultraviolet rays are further transmitted to the outlet (173-12) side reflector (177) so that the ultraviolet rays are reflected to the outlet (173-12) side ) May be provided. The outlet 173-12 is provided on the opposite side of the direction in which the ultraviolet rays of the first semiconductor light emitting element 151 are emitted (the arrow in FIG. 4).

커버(173-1)는 광섬유(173-2)가 끊어지거나 상처나지 않도록 보호할 수 있다. 또한, 커버(173-1)는 고온(예;300℃~500℃)에서 광섬유(173-2)를 보호할 수 있다.The cover 173-1 may protect the optical fiber 173-2 from being cut or damaged. In addition, the cover 173-1 may protect the optical fiber 173-2 at a high temperature (eg, 300°C to 500°C).

도 6은 본 개시에 따른 자외선 경화 장치의 다른 예를 나타내는 도면이며, 도 7은 도 6의 자외선 경화 장치의 BB'단면을 나타내는 도면이다.FIG. 6 is a view showing another example of the ultraviolet curing device according to the present disclosure, and FIG. 7 is a view showing a BB' section of the ultraviolet curing device of FIG. 6.

자외선 경화 장치(100)는 투광부(190)를 더 포함할 수 있다. 투광부(190)는 렌즈일 수 있다. 렌즈는 원통형으로 형성되어 자외선을 모을 수 있다.The ultraviolet curing device 100 may further include a light transmitting unit 190. The light transmitting unit 190 may be a lens. The lens is formed in a cylindrical shape to collect ultraviolet rays.

기판(110)은 자외선 경화 장치(100)의 길이방향으로 길게 형성될 수 있으며, 기판(110)의 길이방향을 따라서 기판(110)에 제1 반도체 발광소자(151)가 복수개 구비될 수 있다. The substrate 110 may be formed to be elongated in the longitudinal direction of the ultraviolet curing device 100, and a plurality of first semiconductor light emitting devices 151 may be provided on the substrate 110 along the longitudinal direction of the substrate 110.

제2 반도체 발광소자(152)는 기판(110)의 양단에 구비될 수 있다. 따라서 케이스(130)는 제2 반도체 발광소자(152)를 둘러싸므로 기판(110)의 양단에 구비된다. 기판(110)의 양단에 각각 구비된 케이스(130)에는 측정부(170)가 구비된다. 측정부(170)의 광섬유 모듈(173)과 센서(171)는 케이스(130)의 측면에 구비된다. 광섬유 모듈(173)의 커버(173-1)의 입구(173-11)에 자외선이 들어가도록 입구(173-11)는 제2 반도체 발광소자(152)를 향해서 형성될 수 있다. 도 7의 광섬유 모듈(173)의 입구(173-11)는 광섬유 모듈(173)의 일단에 형성된다. 입구(173-11)는 제2 반도체 발광소자(152)의 측면을 향하도록 형성되는 것이 바람직하다. 입구(173-11)가 측면을 향해야 제2 반도체 발광소자(152)에서 나오는 자외선이 입구(173-11)로 바로 들어갈 수 있기 때문이다.The second semiconductor light emitting device 152 may be provided at both ends of the substrate 110. Therefore, the case 130 surrounds the second semiconductor light emitting device 152 and is provided at both ends of the substrate 110. Measurement units 170 are provided on the cases 130 provided at both ends of the substrate 110. The optical fiber module 173 and the sensor 171 of the measurement unit 170 are provided on the side of the case 130. The entrance 173-11 may be formed toward the second semiconductor light emitting device 152 so that ultraviolet rays enter the entrance 173-11 of the cover 173-1 of the optical fiber module 173. The entrance 173-11 of the optical fiber module 173 of FIG. 7 is formed at one end of the optical fiber module 173. The inlet 173-11 is preferably formed to face the side surface of the second semiconductor light emitting device 152. This is because the ultraviolet light emitted from the second semiconductor light emitting device 152 can enter the entrance 173-11 directly when the entrance 173-11 is directed to the side.

도 8은 본 개시에 따른 자외선 경화 장치의 또 다른 예를 나타내는 도면이다.8 is a view showing another example of an ultraviolet curing device according to the present disclosure.

자외선 경화 장치(100)는 제어부(120)를 더 포함할 수 있으며, 제어부(120)는 측정부(170) 및 발부(150)와 전기적으로 연결되며, 측정부(170)는 제2 반도체 발광소자(152)의 자외선의 세기를 측정한다. 제어부(120)는 측정부(170)에서 측정한 제2 반도체 발광소자(152)의 자외선 세기의 데이터를 통해 피조사물에 조사되는 제1 반도체 발광소자(151)의 자외선의 세기를 조절할 수 있다. 제1 반도체 발광소자(151)가 고장나거나 회로가 단락, 합선이 되는 경우에 제2 반도체 발광소자(152)는 제1 반도체 발광소자(151)와 동일하게 작동한다. 예를 들어, 제1 반도체 발광소자(151)와 같은 회로에 전기적으로 연결된 제2 반도체 발광소자(152)의 자외선 세기 등이 제1 반도체 발광소자(151)의 자외선 세기와 함께 변하며, 이에 따라서 제어부(120)는 제1 반도체 발광소자(151) 또는 회로의 이상을 감지할 수 있다.The ultraviolet curing device 100 may further include a control unit 120, the control unit 120 is electrically connected to the measurement unit 170 and the foot unit 150, and the measurement unit 170 is a second semiconductor light emitting device The intensity of ultraviolet light at 152 is measured. The control unit 120 may control the intensity of ultraviolet light of the first semiconductor light emitting device 151 irradiated to the irradiated object through the data of the ultraviolet light intensity of the second semiconductor light emitting device 152 measured by the measurement unit 170. When the first semiconductor light emitting device 151 fails or the circuit is short-circuited or short-circuited, the second semiconductor light emitting device 152 operates in the same manner as the first semiconductor light emitting device 151. For example, the ultraviolet intensity of the second semiconductor light emitting device 152 electrically connected to the same circuit as the first semiconductor light emitting device 151 changes with the ultraviolet intensity of the first semiconductor light emitting device 151, and accordingly the control unit The first semiconductor light emitting element 151 or the circuit 120 may be detected.

도 9는 본 개시에 따른 자외선 경화 장치의 또 다른 예를 나타내는 도면이다.9 is a view showing another example of the ultraviolet curing device according to the present disclosure.

자외선 경화 장치(100)는 기판(110), 제1 케이스(130-1), 제2 케이스(130-2), UVA를 발광하는 제1 발광부(150-1), UVB를 발광하는 제2 발광부(150-2), UVC를 발광하는 제3 발광부(150-3), UVA를 측정하는 제1 측정부(170-1), UVB 및 UVC를 측정하는 제2 측정부(170-2)를 포함할 수 있다. The ultraviolet curing device 100 includes a substrate 110, a first case 130-1, a second case 130-2, a first light emitting unit 150-1 emitting UVA, and a second light emitting UVB Light emitting unit 150-2, a third light emitting unit 150-3 emitting UVC, a first measuring unit 170-1 measuring UVA, and a second measuring unit 170-2 measuring UVB and UVC ).

제1 발광부(150-1)는 제1 반도체 발광소자(151)와 제2 반도체 발광소자(152)를 포함하며, 제1 발광부(150-1)의 제1 반도체 발광소자(151)는 UVA를 발광할 수 있으며, 제1 발광부(150-1)의 제2 반도체 발광소자(152)도 UVA를 발광할 수 있다.The first light emitting part 150-1 includes a first semiconductor light emitting device 151 and a second semiconductor light emitting device 152, and the first semiconductor light emitting device 151 of the first light emitting part 150-1 is UVA may emit light, and the second semiconductor light emitting device 152 of the first light emitting unit 150-1 may emit UVA.

제2 발광부(150-2)는 제1 반도체 발광소자(151)와 제2 반도체 발광소자(152)를 포함하며, 제2 발광부(150-2)의 제1 반도체 발광소자(151)는 UVB를 발광할 수 있으며, 제2 발광부(150-2)의 제2 반도체 발광소자(152)도 UVB를 발광할 수 있다.The second light emitting part 150-2 includes a first semiconductor light emitting device 151 and a second semiconductor light emitting device 152, and the first semiconductor light emitting device 151 of the second light emitting part 150-2 is UVB may emit light, and the second semiconductor light emitting device 152 of the second light emitting unit 150-2 may emit UVB.

제3 발광부(150-3)는 제1 반도체 발광소자(151)와 제2 반도체 발광소자(152)를 포함하며, 제3 발광부(150-3)의 제1 반도체 발광소자(151)는 UVC를 발광할 수 있으며, 제3 발광부(150-3)의 제2 반도체 발광소자(152)도 UVC를 발광할 수 있다.The third light emitting unit 150-3 includes a first semiconductor light emitting device 151 and a second semiconductor light emitting device 152, and the first semiconductor light emitting device 151 of the third light emitting unit 150-3 is UVC may emit light, and the second semiconductor light emitting device 152 of the third light emitting unit 150-3 may emit UVC.

제1 측정부(170-1)는 제1 발광부(150-1)의 제2 반도체 발광소자(152)의 UVA 를 측정할 수 있다. 제1 측정부(170-1)의 센서는 UVA를 측정할 수 있다.The first measurement unit 170-1 may measure UVA of the second semiconductor light emitting device 152 of the first light emission unit 150-1. The sensor of the first measurement unit 170-1 may measure UVA.

제2 측정부(170-2)는 제2 발광부(150-2)의 제2 반도체 발광소자(152)의 UVB 및 제3 발광부(150-3)의 제2 반도체 발광소자(152)의 UVC를 측정할 수 있다. 제2 측정부(170-2)의 센서는 UVB, UVC를 측정할 수 있다.The second measurement unit 170-2 includes the UVB of the second semiconductor light emitting device 152 of the second light emitting unit 150-2 and the second semiconductor light emitting device 152 of the third light emitting unit 150-3. UVC can be measured. The sensor of the second measurement unit 170-2 may measure UVB and UVC.

제1 발광부(150-1)의 제2 반도체 발광소자(152)를 둘러싸는 제1 케이스(130-1) 및 제2 발광부(150-2)의 제2 반도체 발광소자(152) 및 제3 발광부(150-3)의 제2 반도체 발광소자(152)를 둘러싸는 제2 케이스(130-2)가 기판(110)에 구비된다.The first case 130-1 surrounding the second semiconductor light emitting element 152 of the first light emitting portion 150-1 and the second semiconductor light emitting element 152 and the second light emitting portion 150-2 3 A second case 130-2 surrounding the second semiconductor light emitting device 152 of the light emitting unit 150-3 is provided on the substrate 110.

이하 본 개시의 다양한 실시 형태에 대하여 설명한다.Hereinafter, various embodiments of the present disclosure will be described.

(1) 자외선 경화 장치에 있어서, 기판; 기판에 구비되며, 내부공간을 가지는 케이스; 기판에 구비되고, 자외선을 발광하는 제1 반도체 발광소자 및 케이스의 내부공간에 구비되며, 자외선을 발광하는 제2 반도체 발광소자를 포함하는 발광부; 그리고, 자외선을 측정하는 센서, 제2 반도체 발광소자에서 나온 자외선을 센서에 전달하는 광섬유를 포함하는 측정부;를 포함하는 자외선 경화 장치.(1) An ultraviolet curing device comprising: a substrate; A case provided on the substrate and having an internal space; A light emitting unit provided on a substrate, provided in a first semiconductor light emitting device that emits ultraviolet light, and a second semiconductor light emitting device that emits ultraviolet light in an inner space of the case; And, a sensor for measuring ultraviolet rays, a measuring unit including an optical fiber that transmits the ultraviolet light emitted from the second semiconductor light emitting device to the sensor; UV curing device comprising a.

(2) 측정부는 중공형으로 형성되어, 자외선을 받는 입구 및 자외선을 내보내는 출구를 포함하는 커버;로서, 입구에서 자외선을 받아 출구로 전달하는 광섬유를 둘러싸는 커버;를 더 포함하는 자외선 경화 장치.(2) The measuring unit is formed in a hollow shape, and a cover including an inlet receiving ultraviolet rays and an outlet for emitting ultraviolet rays; A cover surrounding an optical fiber that receives ultraviolet rays from the inlet and transmits them to the outlet; further comprising an ultraviolet curing device.

(3) 입구는 측면에 형성되는 자외선 경화 장치.(3) The UV curing device is formed on the side of the entrance.

(4) 입구는 제2 반도체 발광소자를 향해 형성되는 자외선 경화 장치.(4) The inlet is an ultraviolet curing device formed toward the second semiconductor light emitting element.

(5) 제1 반도체 발광소자와 제2 반도체 발광소자는 동일한 자외선 경화 장치.(5) The first semiconductor light emitting element and the second semiconductor light emitting element are the same ultraviolet curing device.

(6) 제2 반도체 발광소자는 기판의 가장자리에 구비되는 자외선 경화 장치.(6) The second semiconductor light emitting device is an ultraviolet curing device provided on the edge of the substrate.

(7) 측정부에서 측정한 제2 반도체 발광소자의 세기를 기준으로 제1 반도체 발광소자의 세기를 조절하는 제어부;를 더 포함하는 자외선 경화 장치.(7) A UV curing device further comprising a control unit for adjusting the intensity of the first semiconductor light emitting device based on the intensity of the second semiconductor light emitting device measured by the measuring unit.

(8) 제1 반도체 발광소자와 제2 반도체 발광소자는 서로 연동되는 자외선 경화 장치.(8) The first semiconductor light emitting device and the second semiconductor light emitting device are ultraviolet curing devices interlocked with each other.

(9) 케이스는 자외선을 투과하지 않는 자외선 경화 장치.(9) The case is an ultraviolet curing device that does not transmit ultraviolet light.

(10) 케이스의 내면은 자외선을 흡수하는 흡수재가 구비되는 자외선 경화 장치.(10) The inner surface of the case is an ultraviolet curing device provided with an absorbing material that absorbs ultraviolet rays.

본 개시에 따른 하나의 자외선 경화 장치에 의하면, 제1 반도체 발광소자의 자외선이 센서에 닿지 않아서 센서의 수명이 길다.According to one ultraviolet curing device according to the present disclosure, since the ultraviolet light of the first semiconductor light emitting element does not contact the sensor, the sensor has a long life.

본 개시에 따른 또 하나의 자외선 경화 장치에 의하면, 제2 반도체 발광소자와 제1 반도체 발광소자는 하나의 기판에 구비되어 같은 세기의 자외선을 발광한다.According to another ultraviolet curing device according to the present disclosure, the second semiconductor light emitting device and the first semiconductor light emitting device are provided on one substrate to emit ultraviolet light of the same intensity.

본 개시에 따른 하나의 자외선 경화 장치에 의하면, 제2 반도체 발광소자 외의 자외선을 받지 않으므로 센서의 수명이 향상되어 신뢰도가 높아진다.According to one ultraviolet curing device according to the present disclosure, since it receives no ultraviolet rays other than the second semiconductor light emitting element, the life of the sensor is improved and reliability is increased.

본 개시에 따른 또 하나의 자외선 경화 장치에 의하면, 반사되는 자외선이 아닌 제2 반도체 발광소자의 자외선을 직접적으로 측정하여, 민감하게 자외선의 세기를 측정하여 조절할 수 있다.According to another ultraviolet curing device according to the present disclosure, ultraviolet rays of the second semiconductor light emitting device, not reflected ultraviolet rays, can be measured directly and sensitively measured and adjusted by the intensity of ultraviolet rays.

100:자외선 경화 장치 110:기판 130:케이스 150:발광부 170:측정부100: ultraviolet curing device 110: substrate 130: case 150: light emitting unit 170: measuring unit

Claims (10)

자외선 경화 장치에 있어서,
기판;
기판에 구비되며, 내부공간을 가지며, 자외선을 투과하지 않는 케이스;
기판에 구비되고, 자외선을 발광하는 제1 반도체 발광소자 및 케이스의 내부공간에 구비되며, 자외선을 발광하는 제2 반도체 발광소자를 포함하는 발광부; 그리고,
자외선을 측정하는 센서, 제2 반도체 발광소자에서 나온 자외선을 센서에 전달하는 광섬유를 포함하는 측정부;를 포함하는 자외선 경화 장치.In the ultraviolet curing device,
Board;
A case provided on the substrate, having an internal space, and not transmitting ultraviolet rays;
A light emitting unit provided on a substrate, provided in a first semiconductor light emitting device that emits ultraviolet light, and a second semiconductor light emitting device that emits ultraviolet light in an inner space of the case; And,
An ultraviolet curing device comprising; a sensor for measuring ultraviolet rays, a measuring unit including an optical fiber that transmits ultraviolet rays from the second semiconductor light emitting element to the sensor. 청구항 1에 있어서,
측정부는 중공형으로 형성되어, 자외선을 받는 입구 및 자외선을 내보내는 출구를 포함하는 커버;로서, 입구에서 자외선을 받아 출구로 전달하는 광섬유를 둘러싸는 커버;를 더 포함하는 자외선 경화 장치.The method according to claim 1,
The measurement unit is formed in a hollow shape, a cover including an entrance for receiving ultraviolet rays and an outlet for emitting ultraviolet rays; A cover surrounding an optical fiber that receives ultraviolet rays from the entrance and transmits them to the outlet; further comprising an ultraviolet curing device. 청구항 2에 있어서,
입구는 측면에 형성되는 자외선 경화 장치.The method according to claim 2,
The UV curing device is formed on the side of the entrance. 청구항 2에 있어서,
입구는 제2 반도체 발광소자를 향해 형성되는 자외선 경화 장치.The method according to claim 2,
The inlet is a UV curing device formed toward the second semiconductor light emitting element. 청구항 1에 있어서,
제1 반도체 발광소자와 제2 반도체 발광소자는 동일한 자외선 경화 장치.The method according to claim 1,
The first semiconductor light emitting device and the second semiconductor light emitting device are the same ultraviolet curing device. 청구항 1에 있어서,
제2 반도체 발광소자는 기판의 가장자리에 구비되는 자외선 경화 장치.The method according to claim 1,
The second semiconductor light emitting device is an ultraviolet curing device provided on the edge of the substrate. 청구항 1에 있어서,
측정부에서 측정한 제2 반도체 발광소자의 세기를 기준으로 제1 반도체 발광소자의 세기를 조절하는 제어부;를 더 포함하는 자외선 경화 장치.The method according to claim 1,
And a control unit for adjusting the intensity of the first semiconductor light emitting device based on the intensity of the second semiconductor light emitting device measured by the measuring unit. 청구항 1에 있어서,
제1 반도체 발광소자와 제2 반도체 발광소자는 서로 연동되는 자외선 경화 장치.The method according to claim 1,
The first semiconductor light emitting device and the second semiconductor light emitting device is an ultraviolet curing device interlocked with each other. 삭제delete 청구항 1에 있어서,
케이스의 내면은 자외선을 흡수하는 흡수재가 구비되는 자외선 경화 장치.The method according to claim 1,
The inner surface of the case is an ultraviolet curing device equipped with an absorbing material that absorbs ultraviolet rays.
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