KR102124291B1 - 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법 - Google Patents

광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법 Download PDF

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Abstract

본 발명의 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법은, 광학식 비접촉 정밀측정기로 대상물을 측정하는 데 에 있어 대상물이 카메라 렌즈의 중심부에 있는 경우와 외곽에 위치하는 경우에 상이한 크기의 치수로 인식되는 렌즈 측정오차를 높은 정밀도로 교정하여 측정오차가 발생하지 않도록 하는 방법을 제공하는데 목적이 있다.
이에 따라, 본 발명의 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법은, 광학식 비접촉 정밀측정기의 카메라 렌즈를 통해 보이는 측정시야를 모니터에 교정화면으로 구현하고 측정 스테이지 위에 표준게이지를 위치시키는 교정준비단계; 교정화면에 렌즈 측정오차를 교정할 기준점이 될 교정기준 원을 다수 생성하고, 교정기준 원을 정밀측정기로 촬영 시 왜곡되어 나타나는 왜곡형상 원을 각각의 교정기준 원에 매핑한 후, 교정기준 원 대비 왜곡형상 원의 왜곡비율을 산출하여 왜곡보상값을 설정하는 교정세팅단계; 표준게이지에 위치한 측정 대상물을 촬영한 후 대상물과 동일한 기준점을 갖는 교정기준 원을 대상물의 기준점에 매핑한 후 왜곡보상값을 적용하여 왜곡된 형상을 보정하여 측정오차를 교정하는 오차교정단계;를 포함하되, 교정세팅단계는 세팅1차 포커스단계, 세팅2차 가이드생성단계, 세팅3차 위치설정단계, 세팅4차 기준원배열단계, 세팅5차 왜곡형상매핑단계, 세팅6차 왜곡비산출단계 등 6개의 하위단계를 포함하고, 세팅1차 포커스단계는 기준교정단계를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.

Description

광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법{Correction Method for Lens Measurement Error of Optical Precision Meter}
본 발명은 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법에 관한 것으로서, 광학식 비접촉 정밀측정기로 대상물을 측정하는 데 에 있어 대상물이 카메라 렌즈의 중심부에 있는 경우와 외곽에 위치하는 경우에 상이한 크기의 치수로 인식되는 렌즈 측정오차를 교정하는 방법에 관한 것이다.
보다 상세하게는 본 발명의 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법은, 렌즈의 측정시야를 모니터에 교정화면으로 구현한 후 측정 스테이지에 표준게이지를 위치시키고 교정화면에서 표준게이지의 원 형상에 대한 초점을 맞춰 교정화면에서 사용될 교정기준 원을 설정하고 교정화면의 좌측상단과 우측하단에 시작점과 종료점이 될 기준좌표인 가이드 원을 생성한 후 교정기준 원을 시작점 가이드 원에서부터 종료점 가이드 원까지 행과 열로써 다수 배열하여 교정화면의 각 지점에서 기준점이 될 다수의 교정기준 원을 설정한 후 각각의 교정기준 원에서 동일한 크기의 원을 측정했을 때 변형되어 측정되는 왜곡형상 원을 각각 매핑 시킨 후 각각의 왜곡현상 원을 매핑된 교정기준 원과 동일 기준점과 동일 각도를 기준으로 비교 했을 때 교정기준 원에서 변형되는 비율을 모든 방위에 대하여 측정하여 왜곡비율을 설정한 후 대상물을 측정하여 해당 대상물의 위치와 동일한 기준점을 가지는 교정기준 원의 왜곡비율을 역산 적용하여 본래 형상의 대상물 크기를 산출함으로써 렌즈 오차에 의한 왜곡을 교정하는 방법을 제공하는 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법에 관한 것이다.
카메라를 사용하는 비접촉식 정밀측정기는 측정 대상물에 대해 카메라 렌즈가 X축, Y축, Z축 각각의 방향으로 이동하며 대상물을 3차원 형상으로 정밀하게 측정하는 장치로써, 대상물을 측정하는 데 있어 카메라로 촬영한 후 측정이 이뤄지고 정밀측정기의 사용목적 상 오차가 거의 없는 매우 정밀한 측정이 이뤄져야 한다.
그런데 정밀측정을 위한 촬영에 사용되는 카메라 렌즈는 표면이 곡면으로 이뤄져있기 때문에 측정 스테이지 상에서 대상물이 어느 위치에 놓이는가에 따라 렌즈의 곡면에 따른 왜곡된 형상의 촬영이 이뤄질 수밖에 없다.
즉 렌즈의 중심부와 수직한 방향에 있는 대상물은 촬영 형상이 본래의 형상과 거의 유사하겠지만, 렌즈의 중심부에서 외곽방향으로 위치한 대상물은 렌즈가 곡면을 통해 대상물을 촬영하기 때문에 본래의 형상과 달리 크기가 변형되어 왜곡된 형상으로 촬영이 이뤄진다.
그래서 선행기술로서 차량 어라운드 뷰와 같이 볼록하게 촬영된 차량의 형상을 중앙부의 기준점을 중심으로 하여 외곽의 곡면 처리된 영상들을 위치이동하여 보정하는 방법으로 원래의 모습으로 교정하는 방식이 사용되고 있다.
그러나 차량 어라운드 뷰의 경우 화면의 정 중앙을 기준점으로 하여 외곽의 모든 좌표들을 이동시키는 방식으로써 기준점이 하나이기 때문에 기준점과 멀어지는 외곽으로 갈수록 보정되는 정밀도가 현저히 저하되는 문제점이 있으나, 차량 어라운드 뷰의 사용 목적 상 근사치에 의한 보정만으로 사용에 문제가 없으므로 대략적인 보정 방식으로 활용되고 있다.
반면 정밀측정기의 경우 마이크로 단위의 오차도 허용되지 않는 정밀한 측정이 관건이 되므로 상기 차량 어라운드 뷰와 같은 방식의 보정으로 렌즈 오차를 교정하는 데 큰 오류가 발생할 수밖에 없어 적용할 수 없으며, 정밀측정기의 사용 목적 상 렌즈 오차를 없애고 촬영 형상이 실제 형상과 동일하게 보정될 수 있는 렌즈 오차 교정방법이 매우 중요하고 절실한 실정이다.
대한민국 등록특허공보 10-1249791
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본 발명은 상기 종래 기술상의 제반 문제점을 감안하여 이를 해결하고자 창출된 것으로, 렌즈의 측정시야를 모니터에 교정화면으로 구현한 후 측정 스테이지에 표준게이지를 위치시키고 교정화면에서 표준게이지의 원 형상에 대해 초점을 맞춰 교정화면에서 사용될 교정기준 원을 설정하고 교정화면의 좌측상단과 우측하단에 시작점과 종료점이 될 기준좌표인 가이드 원을 생성한 후 교정기준 원을 시작점 가이드 원에서부터 종료점 가이드 원까지 행과 열로써 다수 배열하여 교정화면의 각 지점에서 기준점이 될 다수의 교정기준 원을 설정한 후 각각의 교정기준 원에서 동일한 크기의 원을 측정했을 때 변형되어 측정되는 왜곡형상 원을 각각 매핑 시킨 후 각각의 왜곡현상 원을 매핑된 교정기준 원과 동일 기준점과 동일 각도를 기준으로 비교 했을 때 교정기준 원에서 변형되는 비율을 모든 방위에 대하여 측정하여 왜곡비율을 설정한 후 대상물을 측정하여 해당 대상물의 위치와 동일한 기준점을 가지는 교정기준 원의 왜곡비율을 역산 적용하여 본래 형상의 대상물 크기를 산출함으로써 대상물이 어느 위치에서 촬영되든 본래의 정확한 형상으로 보정될 수 있도록 하는 렌즈 오차에 의한 왜곡을 교정하는 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
본 발명의 상기 목적과 여러 가지 장점은 이 기술분야에 숙련된 사람들에 의해 본 발명의 바람직한 실시예로부터 더욱 명확하게 될 것이다.
본 발명은 상기 목적을 달성하기 위한 것으로,
본 발명의 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법은, 광학식 비접촉 정밀측정기의 카메라 렌즈를 통해 보이는 측정시야를 모니터에 교정화면으로 구현하고 측정 스테이지 위에 표준게이지를 위치시키는 교정준비단계; 교정화면에 렌즈 측정오차를 교정할 기준점이 될 교정기준 원을 다수 생성하고, 교정기준 원을 정밀측정기로 촬영 시 왜곡되어 나타나는 왜곡형상 원을 각각의 교정기준 원에 매핑한 후, 교정기준 원 대비 왜곡형상 원의 왜곡비율을 산출하여 왜곡보상값을 설정하는 교정세팅단계; 표준게이지에 위치한 측정 대상물을 촬영한 후 대상물과 동일한 기준점을 갖는 교정기준 원을 대상물의 기준점에 매핑한 후 왜곡보상값을 적용하여 왜곡된 형상을 보정하여 측정오차를 교정하는 오차교정단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
일 실시예에 따르면, 교정세팅단계는, 표준게이지의 원 형상을 교정화면 중앙부에 위치시킨 후 초점을 맞추어 교정화면 중앙부에 교정기준 원을 설정하는 세팅1차 포커스단계; 교정화면의 좌측 상단 모서리에 시작점 가이드 원이 생성되고 우측 하단 모서리에 종료점 가이드 원이 각각 생성되는 세팅2차 가이드생성단계; 초점이 맞춰진 원 형상을 시작점 가이드 원 내측과 종료점 가이드 원 내측에 각각 위치시켜 가이드 원에 인식시키면 교정기준 원의 배열이 시작하고 종료될 기준 위치를 설정하는 세팅3차 위치설정단계; 교정화면 상에 교정기준 원이 다수 생성되며 시작점 가이드 원과 종료점 가이드 원 사이에 복수의 행과 열을 형성하는 세팅4차 기준원배열단계; 다수의 교정기준 원이 배열된 표준게이지를 촬영했을 때 각 교정기준 원의 형상이 왜곡되어 촬영되는 왜곡형상 원이 각 교정기준 원 별로 매핑되어 표시되는 세팅5차 왜곡형상매핑단계; 교정기준 원의 중심점을 기준으로 상호 매핑된 교정기준 원과 왜곡형상 원에 있어 동일 각도 시 각각의 반지름 비율을 구하여 왜곡보상값을 산출하는 세팅6차 왜곡비산출단계;를 더 포함한다.
일 실시예에 따르면, 세팅1차 포커스단계는, 초점이 맞춰진 원 형상을 교정화면 상에서 인식한 화면치수를 표준게이지의 원 형상의 실제치수와 비교하여 상호 차이값을 보정하는 기준교정단계;를 더 포함한다.
일 실시예에 따르면, 세팅3차 위치설정단계는, 교정기준 원은 가이드 원 대비 작은 것을 사용하며, 교정기준 원을 가이드 원 안에 적어도 80% 이상 포함되도록 위치시키면 가이드 원이 교정기준 원을 인식하여 기준 위치를 설정할 수 있는 것을 더 포함한다.
일 실시예에 따르면, 대상물이 교정기준 원과 교정기준 원 사이에 걸쳐 크게 형성되는 경우 교정화면의 중앙부에 위치한 교정기준 원을 기준으로 하여 왜곡보상값을 적용함으로써 측정오차를 교정하는 것을 더 포함한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법에 의하면 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다.
첫째, 교정화면에서 오토포커스를 통해 인식한 표준게이지 원 형상의 화면치수와 실제치수를 비교하여 차이값을 보정하는 1차 교정과 교정화면을 복수의 행열로써 구성하는 다수의 교정기준 원에서 각각의 위치에 따른 왜곡비율을 적용하는 2차 교정이 중복 적용되어 렌즈 오차의 교정 정확도를 높임으로써 실제와 동일한 수준으로 보정할 수 있다.
둘째, 모니터 상의 교정화면을 행열로써 가득 채우는 다수의 교정기준 원에 각각의 기준점을 중심으로 한 왜곡비율이 각각 설정되어 있어 다수의 중심점을 가지는 효과로 인하여 모든 지점에서 측정 정밀도가 매우 높아지므로 측정 대상물이 표준게이지의 어느 위치에서 측정되든 간에 정확한 본래의 형상에 맞게 보정될 수 있다.
셋째, 대상물에 대한 렌즈 측정의 보정 이후 오차 한계가 매우 낮아지고 오차가 거의 발생하지 않으므로 정밀기계, 의료, 나노기술 등 고부가가치 산업에 활용도가 매우 높고 경쟁력 확보를 위한 인프라로 구성될 수 있다.
넷째, 기존의 정밀측정기를 그대로 사용하면서 렌즈 측정오차 교정 프로그램을 적용할 수 있으므로 추가 비용이 적고 기존 인프라의 활용도가 높아 매우 경제적이고 효율적이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 순서도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅1차 포커스단계의 교정화면을 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅2차 가이드생성단계의 교정화면을 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅3차 위치설정단계의 교정화면을 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅4차 기준원배열단계의 교정화면을 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅4차 기준원배열단계에서 교정기준 원이 배열되는 다른 예시를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅5차 왜곡현상 매핑단계를 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅6차 왜곡비산출단계를 나타내는 도면이다.
본 발명을 충분히 이해하기 위해서 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명하기로 한다.
본 발명 설명에 앞서, 이하의 특정한 구조 내지 기능적 설명들은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시예를 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로, 본 발명의 개념에 따른 실시예들은 여러 가지 형태로 변형되어 실시될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상세히 설명하는 실시예로 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다.
또한 본 발명의 개념에 따른 실시예는 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있으므로, 특정 실시예들은 도면에 예시하고 본 명세서에 상세하게 설명하고자 한다.
그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시예들을 특정한 개시 형태에 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 변경물, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
본 실시예는 당 업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공 되어지는 것이다. 따라서 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어 표현될 수 있다.
각 도면에서 동일한 부재는 동일한 참조부호로 도시한 경우가 있음을 유의하여야 한다. 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 기술은 생략된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 순서도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅1차 포커스단계의 교정화면을 나타내는 도면이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅2차 가이드생성단계의 교정화면을 나타내는 도면이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅3차 위치설정단계의 교정화면을 나타내는 도면이며, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅4차 기준원배열단계의 교정화면을 나타내는 도면이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅4차 기준원배열단계에서 교정기준 원이 배열되는 다른 예시를 나타내는 도면이며, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅5차 왜곡현상 매핑단계를 나타내는 도면이고, 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 교정세팅단계 중 세팅6차 왜곡비산출단계를 나타내는 도면이다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법은 교정준비단계, 교정세팅단계, 오차교정단계를 포함하여 구성될 수 있다.
교정준비단계는 렌즈 오차 교정을 위한 장치 구성과 프로그램 준비를 하는 단계로 요약될 수 있다.
교정준비단계에서는 광학식 비접촉 정밀측정기의 카메라 렌즈를 통해 보이는 측정시야(FOV, Field Of View)를 모니터에 교정화면(100)으로 구현한다.
모니터는 정밀측정기와 연결된 컴퓨터에 연결되어 있으며 정밀측정기의 렌즈 측정오차를 교정하는 방법과 과정이 컴퓨터 프로그램과 연동되어 실시되며 시현될 수 있다.
교정준비단계에서 사용자는 측정 스테이지 위에 표준게이지를 위치시킨다.
이때 표준게이지의 치수는 기 인지된 상태로 제공될 수 있으며 중심부에는 원 형상(140)이 구비될 수 있다.
표준게이지는 일반적으로 글래스(glass) 게이지를 사용할 수 있다.
교정세팅단계는 교정화면(100)에 렌즈 측정오차를 교정할 기준점이 될 교정기준 원(120)을 다수 생성하고, 교정기준 원(120)을 정밀측정기로 촬영 시 왜곡되어 나타나는 왜곡형상 원(130)을 각각의 교정기준 원(120)에 매핑한 후, 교정기준 원(120) 대비 왜곡형상 원(130)의 왜곡비율을 산출하여 왜곡보상값을 설정하는 단계로 정의될 수 있다.
즉 실제 대상물을 측정해서 교정작업을 진행하기 위한 모든 세팅 작업이 완료되어 교정을 위한 세팅 값이 설정되고 저장되는 것을 의미한다.
이를 위해 교정세팅단계는 세팅1차 포커스단계, 세팅2차 가이드생성단계, 세팅3차 위치설정단계, 세팅4차 기준원배열단계, 세팅5차 왜곡형상매핑단계, 세팅6차 왜곡비산출단계 등 6개의 하위단계를 포함하여 구성될 수 있다.
세팅1차 포커스단계에서는 표준게이지의 원 형상(140)을 교정화면(100) 중앙부에 위치시킨 후 초점을 맞추어 교정화면(100) 중앙부에 교정기준 원(120)을 설정할 수 있다.
사용자는 정밀측정기를 이동시켜 렌즈와 마주하는 표준게이지에 그려진 원 형상(140)을 교정화면(100)의 중앙부에 위치할 수 있도록 조정할 수 있다.
사용자는 표준게이지의 원 형상(140)이 교정화면(100) 중앙부에 위치하면 초점을 맞춰 선명하게 할 수 있으며 이때 오토포커스의 기능이 적용될 수 있다.
표준게이지의 원 형상(140)의 초점이 맞춰지면 렌즈가 표준게이지의 중심에 영점 조정이 되었음을 의미하며 이때 교정화면(100)에 표시되는 원은 본 발명의 렌즈 측정오차에 있어 기준으로 사용될 교정기준 원(120)이 된다.
이때 세팅1차 포커스단계는 기준교정단계가 추가로 실시될 수 있다.
기준교정단계는, 교정화면(100)에서 초점이 맞춰진 표준게이지의 원 형상(140)을 교정화면(100) 상에서 인식한 수치와 실제 표준게이지의 원 형상(140)의 수치를 맞추는 절차이다.
교정화면(100)에서 인식한 원 형상(140)의 화면치수는 초점을 맞추면서 실제 표준게이지의 원 형상(140)의 수치를 측정하고 있으나 미세한 오차가 발생할 수도 있기 때문에 측정 정밀도를 높이기 위해 1차로 우선 교정을 실시할 수 있다.
표준게이지의 원 형상(140)은 그 수치가 이미 알려져 있는 상태로 제공되어 본 발명의 정밀측정기의 컴퓨터에 입력될 수 있으며 이를 실제치수라고 할 수 있다.
사용자는 교정화면(100)에서 초점을 맞춘 원 형상(140)에서 측정된 화면치수를 상기 실제치수와 비교하여 차이값을 보정할 수 있다.
상기 화면치수와 실제치수의 비교는 마이크로미터 단위로 비교할 수 있는데 가장 미세한 단위로 비교하는 것이 바람직하며 차이가 발생할 경우 화면치수를 실제치수에 맞춰 보정할 수 있다.
본 발명의 교정방법은 교정기준 원(120)을 다수 생성한 후 배열하고 다수의 중심점(121)을 형성한 뒤 모든 촬영영역에서 기준 중심점(121)을 갖도록 한 후 왜곡비율을 산출하는 과정으로 정의될 수 있기 때문에 애초에 교정기준 원(120)의 정확도가 매우 중요하며 따라서 기준교정단계의 정확한 시행이 중요하다고 할 수 있다.
세팅2차 가이드생성단계에서는 교정화면(100)의 좌측 상단 모서리에 시작점 가이드 원(111)이 생성되고 우측 하단 모서리에 종료점 가이드 원(112)이 각각 생성될 수 있다.
본 발명의 일 실시예로써 교정화면(100)의 기능설정 메뉴에 설정된 렌즈교정 기능을 실행시키면 교정화면(100)에 가이드 원(110)을 두 개 발생시키는데, 교정화면(100)의 좌측 상단 모서리와 우측 하단 모서리에 각각 생성될 수 있다.
가이드 원(110)은 교정화면(100)이라는 일정한 영역 내에서 교정기준원이 다수 배열되는 데 있어 소정의 일정 간격에 따라 균일하게 배치될 수 있도록 하는 가이드 하는 기능을 할 수 있다.
이때 시작점과 종료점에 대한 가이드 원(110)이 생성되면 이후 교정기준 원(120)은 시작점 가이드 원(111)과 종료점 가이드 원(112)을 기준 위치로 할 수 있다.
세팅3차 위치설정단계는 교정기준 원(120)의 배열이 시작하고 종료 될 기준 위치를 설정하는 단계이다.
우선 교정화면(100) 상에서 초점이 맞춰진 표준게이지의 원 형상(140)을 정밀측정기를 이동시키면서 좌측 상단의 시작점 가이드 원(111) 내측에 위치시킨다.
이때 원 형상(140)을 시작점 가이드 안에 최소 80% 이상 들어가도록 위치시킨 후 본 발명의 일 실시예로써 마우스 커서를 원 형상(140) 위에서 클릭하여 원 형상(140)의 위치를 인식시킬 수 있다.
상기 원 형상(140)의 배치와 조작으로 인해 시작점 가이드 내에서 교정기준 원(120)이 시작될 위치를 저장시킬 수 있다.
다음으로 교정기준 원(120)이 종료될 위치를 저장시키는 작업을 진행할 수 있다.
즉 정밀측정기를 이동시켜 표준게이지의 원 형상(140)을 우측 하단에 있는 종료점 가이드 원(112) 내에 위치시킨다.
종료점 가이드 원(112) 또한 시작점 가이드 원(111)과 마찬가지로 표준게이지의 원 형상(140)을 종료점 가이드 내에 80% 이상 들어가도록 위치시킨 후 원 형상(140) 위에서 마우스 커서를 클릭하는 등의 인식동작을 실행시키면 종료점 가이드 원(112) 내에 교정기준 원(120)이 종료될 기준위치가 설정이 될 수 있다.
이와 같이 초점 조절이 완료된 표준게이지의 원 형상(140)을 시작점 가이드 원(111)과 종료점 가이드 원(112) 안에 각각 위치시켜 그 위치를 인식시켜주면, 교정화면(100)에 배열될 교정기준 원(120)은 시작점 가이드 원(111) 안에 원 형상(140)이 인식된 위치를 시작 지점으로 하고 또한 종료점 가이드 원(112) 안에 원 형상(140)이 인식된 위치를 종료 지점으로 하여 일정 간격을 형성하며 다수의 교정기준 원이 배열될 수 있게 된다.
세팅4차 기준원배열단계는 교정화면(100) 상에 교정기준 원(120)이 다수 생성되어 복수의 행과 열로써 배열을 형성하는 단계이다.
각각의 교정기준 원(120)은 각 원의 중심점(121)을 기준점으로 하며 렌즈의 왜곡형상 보정 시 측정오차를 판단하는 기준 위치로써 사용될 수 있다.
따라서 다수의 교정기준 원(120)이 형성하는 시작점 가이드 원(111)과 종료점 가이드 원(112) 사이에 복수의 행과 열로 구성되는 교정기준 원(120)의 배열은 교정화면(100) 전체에 걸쳐 다수의 기준점을 지정하는 것을 의미한다.
이는 렌즈의 중심부에서 가깝든 멀든 상관없이 어느 위치에 측정 대상물이 위치하더라도 측정 대상물과 동일한 위치에 있는 중심점(121)을 기준점으로 하여 보정을 할 수 있는 것을 나타내는 것으로써, 따라서 기존 선행기술에서와 같이 렌즈의 중심부에만 기준점이 존재하는 경우에 렌즈의 중심부에서 멀어질수록 렌즈 오차 교정의 정확도가 떨어지는 것과 확연히 다르며, 렌즈 오차 교정의 한계를 매우 낮게 유지하여 정밀도를 매우 높일 수 있는 핵심 원리가 될 수 있다.
한편 교정기준 원(120)은 시작점과 종료점이 될 위치가 설정되면 본 발명의 프로그램에 의해 자동으로 다수의 교정기준 원(120)이 생성되며 배열을 형성하게 된다.
이는 교정기준 원(120)의 크기를 가이드 원(110)이 인식하면 본 발명의 개발 프로그램에서 교정화면(100) 상에 교정기준 원(120)을 시작점과 종료점 사이에 몇 개를 형성할지 계산을 한 후에 교정기준 원(120)을 교정화면(100)에 차례대로 형성해 나가게 된다.
이때 각각의 교정기준 원(120)의 중심점(121)인 기준점은 교정기준 원(120)이 배열된 이후에 상, 하, 좌, 우의 위치가 정확하게 정렬되도록 배열될 수 있는데 이는 다수의 교정기준 원(120)이 상호 동일한 간격에 의해 일정하게 배치되는 것을 의미한다.
이때 교정기준 원(120)은 가이드 원(110) 대비 반드시 작은 크기의 원이 사용되어야 한다.
세팅5차 왜곡형상매핑단계에서는 다수의 교정기준 원(120) 각각에 대해서 렌즈로 촬영했을 때 왜곡되어 나타날 수 있는 왜곡형상 원(130)을 매핑시키게 된다.
교정기준 원(120)은 표준게이지를 모니터에 구현한 교정화면(100)을 배열의 형태로 가득 채우며 각각의 기준점을 갖는 원으로써 구비되어 있는데, 상기 교정기준 원(120)의 배열이 표준게이지에 그대로 구현된 것으로 해서 정밀측정기 렌즈로 촬영했을 때 렌즈의 왜곡 오차로 인하여 교정기준 원(120)들은 각각 왜곡된 형상의 촬영 이미지인 왜곡형상 원(130)을 갖게 된다.
왜곡형상 원(130)은 각 교정기준 원(120)이 렌즈의 중심부로부터 얼마나 이격되었느냐에 따라 변형되는 정도가 다르게 나타나게 된다.
예를 들면 교정화면(100)의 정 중앙에 있는 교정기준 원(120)은 교정기준 원(120)과 실제 촬영영상이 거의 동일하게 되어 왜곡형상 원(130)은 교정기준과 동일한 형상으로 생성될 수 있다.
반면 교정화면(100)의 상부 중앙에 있는 교정기준 원(120)에 매핑되는 왜곡형상 원(130)은 교정기준 원(120)을 중심으로 하여 상부 방향, 즉 렌즈와 먼 방향으로는 더 늘어난 형태를 가지게 되고 하부 쪽, 즉 렌즈와 가까운 쪽으로는 늘어나는 비율이 현저히 낮아지는 형상이 되어 전체적으로는 상부 방향으로 늘어나며 찌그러진 형태의 왜곡형상 원(130)을 가질 수 있다.
마찬가지 원리로써 교정화면(100)의 하부 중앙에 위치한 교정기준 원(120)은 왜곡형상 원(130)이 하부 방향으로 늘어나며 찌그러진 형태로 매핑이 될 수 있고, 우측 상단에 있는 교정기준 원(120)은 우측 상부를 향해 찌그러진 형태의 왜곡형상 원(130)이 매핑되어 나타날 수 있다.
이때 왜곡형상 원(130)은 본래 형상인 교정기준 원(120)의 원호에서 줄어들지는 않으며, 교정기준 원(120)의 위치에 따라 교정기준 원(120)의 원호를 따라 같거나 늘어나는 방향으로 왜곡이 발생될 수 있다.
이렇게 각각의 교정기준 원(120)을 기준으로 측정했을 때 렌즈의 측정오차로 발생될 수 있는 각각의 왜곡형상 원(130)을 상호 매핑시켜 표시할 수 있다.
세팅6차 왜곡비산출단계에서는 교정기준 원(120)의 중심을 기준으로 상호 매핑된 교정기준 원(120)과 왜곡형상 원(130)에 있어 왜곡형상 원(130)을 교정기준 원(120)에 맞출 수 있는 비율을 산출하여 렌즈 측정오차를 교정할 수 있는 값을 구할 수 있다.
결국 본 발명은 상기 매핑된 왜곡형상 원(130)과 교정기준 원(120)에 있어 왜곡형상 원(130)이 교정기준 원(120) 대비 늘어난 비율을 모든 방위에 대하여 산출하여 해당 비율만큼 왜곡형상 원(130)을 모든 방위에 역산으로 적용하면 교정기준 원(120)에 맞출 수 있는 방법을 구현하는 것이라 할 수 있다.
이때 교정기준 원(120) 대비 왜곡형상 원(130)이 변형되어 늘어난 비율을 왜곡비율이라 정의할 수 있고, 왜곡비율의 역수를 적용하여 본래 형상의 교정기준 원(120)에 맞출 수 있는 즉, 렌즈의 측정오차를 교정할 수 있는 교정값을 왜곡보상값이라 정의할 수 있다.
교정기준 원(120) 대비 왜곡형상 원(130)은 각각의 교정기준 원(120)이 위치한 지점에 따라 다르게 형성되기 때문에 다수의 교정기준 원(120)은 왜곡비율과 왜곡보상값이 각기 다르게 설정될 수 있으며, 특정 위치의 교정기준 원(120)은 전 방위 모든 각도에 대해 각 각도별로 왜곡비율과 왜곡보상값이 계산되어 저장될 수 있다.
상기 세팅1차 포커스단계부터 세팅5차 왜곡형상매핑단계까지 완료되면 본 발명에 구현된 컴퓨터 프로그램에서는 각 교정기준 원(120)의 모든 방위에 대한 왜곡비율과 왜곡보상값을 산출하는 연산을 시행하며 이 값을 각 교정기준 원(120)의 모든 방위에 있어서 각각의 고유한 특성값으로 저장하여 사용할 수 있게 한다.
왜곡비율은 동일 각도에서 교정기준 원(120)의 원호와 왜곡형상 원(130)의 원호에 이르는 각각의 선분의 비율을 의미한다.
우선 특정한 교정기준 원(120)과 그에 매핑된 왜곡형상 원(130)을 하나 지정했다고 하자.
예시로써 교정화면(100) 우측 상단에 위치한 교정기준 원(120)과 왜곡형상 원(130)을 설정한다고 가정한다.
그러면 해당 원들의 중심점(121)으로부터 우측 수평 방향으로 선분을 그어 이를 0°라고 정의할 수 있으며, 0°의 기준은 사용자의 편의에 따라 변경될 수 있다.
0°에서 중심점(121)으로부터 교정기준 원(120)에 이르는 선분을 X0이라고 하고, 0°에서 중심점(121)으로부터 왜곡형상 원(130)에 이르는 선분을 Y0라고 정의했을 때, X0을 1로 설정하면 Y0은 1.10으로 측정되어 X0 : Y0의 비율은 1:1.10이 될 수 있다.
그러면 해당 교정기준 원(120)과 왜곡형상의 원은 0°에서 왜곡비율 1.10을 가지게 된다.
마찬가지 방법으로 10°에서 측정한 X10: Y10의 비율이 1: 1.25가 되면 X10의 왜곡비율은 1.25가 되며, 45°에서 측정한 X45의 왜곡비율은 1.73, X90의 왜곡비율은 1.58,... 이런 식으로 왜곡비율이 산출될 수 있다.
이러한 작업을 360°전 방위에 걸쳐 진행을 하면 우측 상단 모서리에 위치한 교정기준 원(120)의 왜곡비율을 산출할 수 있게 된다.
왜곡비율이 산출되면 왜곡비율의 역수인 왜곡보상값이 구해지고, 실제 대상물을 측정 시 해당 교정기준 원(120)의 중심점(121)을 기준으로 측정된 대상물의 왜곡형상에 왜곡보상값을 적용하면 본래 형태의 대상물을 정밀하게 산정할 수 있게 되어 렌즈 측정오차를 교정할 수 있다.
결국 세팅6차 왜곡비산출단계는 새롭게 교정화면(100)이 구축되고 표준게이지가 장착된 상태에서 렌즈를 통해 촬영했을 때 발생하는 형상 왜곡에 대한 왜곡비율을 구하고 이를 교정하는 왜곡보상값을 산출하여 측정하고자 하는 대상물을 원형 그대로의 측정값으로 구할 수 있도록 하는 교정값을 산출하여 저장하는 단계로 정의될 수 있다.
이로써 교정세팅단계는 총 6개의 단계를 거치며 렌즈 측정오차를 보정할 수 있는 준비가 완료될 수 있다.
교정세팅단계가 완료된 상태에서 사용자는 표준게이지 위에 측정하고자 하는 대상물을 올려놓고 렌즈를 통한 비접촉 정밀 측정을 할 수 있는 준비상태를 마칠 수 있다.
오차교정단계는 실제로 측정 대상물을 렌즈로 촬영한 후 교정세팅단계에서 산출된 왜곡보상값을 적용하여 렌즈 측정오차를 보정하는 절차를 통해 대상물의 실제 측정수치를 정확하게 산출해내는 과정이다.
교정준비단계와 교정세팅단계가 정확한 측정을 위한 준비를 하는 과정이었다면, 오차교정단계는 실제 대상물을 실제 측정하고 교정하는 실무 작업과정으로 정의될 수 있다.
오차교정단계에서는 표준게이지에 위치한 측정 대상물을 촬영한 후 대상물과 동일한 기준점을 갖는 교정기준 원(120)을 대상물의 기준점에 매핑한 후 해당 교정기준 원(120)으로부터 산출한 왜곡보상값을 대상물에 적용할 수 있다.
이에 따라 대상물의 촬영 이미지는 촬영을 통해 왜곡된 형상을 보정하여 렌즈의 곡면에 의한 측정오차를 교정할 수 있다.
상기 과정을 부연 설명하자면 측정 대상물을 촬영한 후 획득된 대상물의 측정 형상은 대상물이 측정 스테이지 위에 놓인 위치에 따라 왜곡의 정도가 다르게 적용된다.
이에 대상물의 위치와 동일한 위치에 구현된 교정기준 원(120)을 해당 대상물의 측정 형상에 매핑시킨 후 해당 교정기준 원(120)에 대해 교정세팅단계에서 산출한 왜곡보상값을 불러들인다.
이후 대상물의 측정 형상에 대해 360°전 방위에 걸쳐 왜곡보상값을 적용하여 측정오차로 인해 왜곡되어 늘어난 형상을 본래의 실제형상에 맞게 축소시키는 보정 작업이 실시되며, 렌즈로 촬영되어 측정된 대상물의 치수 측정값이 매우 정밀한 측정값으로써 사용자에게 제공될 수 있다.
이상의 단계 및 각 절차가 완료되면 사용자가 측정하고자 하는 대상물은 렌즈 촬영에 의한 비접촉 촬영, 측정 및 보정작업에 의해 정밀도가 매우 높은 원형 그대로의 측정값을 획득할 수 있어 다양한 산업에 고부가가치 높은 사업을 진행할 수 있는 장점이 될 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법의 사용예는 다음과 같다.
우선 교정준비단계로써 광학식 비접촉 정밀측정기의 카메라 렌즈를 통해 보이는 측정시야를 모니터에 교정화면(100)으로 구현하고 측정 스테이지 위에 치수를 알고 있는 표준게이지를 위치시킨다.(S100)
이후 교정세팅단계가 교정화면(100)에 렌즈 측정오차를 교정할 기준점이 될 교정기준 원(120)을 다수 생성하고, 교정기준 원(120)을 정밀측정기로 촬영 시 왜곡되어 나타나는 왜곡형상 원(130)을 각각의 교정기준 원(120)에 매핑한 후, 교정기준 원(120) 대비 왜곡형상 원(130)의 왜곡비율을 산출하여 왜곡보상값을 설정하는 절차로써 진행된다.(S200)
이를 위해 교정세팅단계는 다음의 8가지 세부 절차를 포함하여 진행될 수 있다.
세팅1차 포커스단계에서는 표준게이지의 원 형상(140)을 교정화면(100) 중앙부에 위치시킨 후 초점을 맞추어 교정화면(100) 중앙부에 교정기준 원(120)을 설정한다.(S210)
이때 기준교정단계가 초점이 맞춰진 원 형상(140)을 교정화면(100) 상에서 인식한 화면치수를 표준게이지의 원 형상(140)의 실제치수와 비교하여 상호 차이값을 보정하는 절차로써 추가로 실시될 수 있다.(S211)
세팅2차 가이드생성단계에서는 교정화면(100)의 좌측 상단 모서리에 시작점 가이드 원(111)이 생성되고 우측 하단 모서리에 종료점 가이드 원(112)이 각각 생성되며,(S220)
세팅3차 위치설정단계에서는 초점이 맞춰진 원 형상(140)을 시작점 가이드 원(111) 내측과 종료점 가이드 원(112) 내측에 최소 80% 이상 포함되도록 각각 위치시켜 가이드 원(110)에 인식시키면 교정기준 원(120)의 배열이 시작되고 종료될 기준 위치가 설정된다.(S230)
세팅4차 기준원배열단계에서는 교정화면(100) 상에 교정기준 원(120)이 다수 생성되며 시작점 가이드 원(111)과 종료점 가이드 원(112) 사이에 동일한 간격과 위치로써 복수의 행과 열이 형성되는데, 각각의 교정기준 원(120)은 각기 중심점(121)을 포함하고 있으므로 교정화면(100) 전체에 걸쳐 다수의 중심점(121)이 생성되는 효과가 생겨 정밀도가 향상될 수 있는 기본 과정이 될 수 있다.(S240)
세팅5차 왜곡형상매핑단계에서는, 다수의 교정기준 원(120)이 배열된 표준게이지를 촬영했을 때 각 교정기준 원(120)의 형상이 왜곡되어 촬영되는 왜곡형상 원(130)이 각 교정기준 원(120) 별로 매핑되어 표시될 수 있다.(S250)
마지막 6단계로써 세팅6차 왜곡비산출단계에서는, 교정기준 원(120)의 중심을 기준으로 해당 교정기준 원(120)에 매핑된 왜곡형상 원(130)에 있어 동일 각도 시 각각의 반지름 비율을 구하여 왜곡보상값이 산출된다.(S260)
즉 상기 매핑된 왜곡형상 원(130)과 교정기준 원(120)에 있어 왜곡형상 원(130)이 교정기준 원(120) 대비 늘어난 비율을 모든 방위에 대하여 산출하여 해당 비율만큼 왜곡형상 원(130)을 모든 방위에 역산으로 적용하면 교정기준 원(120)에 맞출 수 있는 왜곡보상값을 산출하는 과정으로써 진행된다.
이후 오차교정단계에서 실제 대상물을 측정하고 측정오차를 보정하는 절차가 진행될 수 있다.(S300)
오차교정단계에서는 표준게이지에 위치한 측정 대상물을 촬영한 후 대상물과 동일한 기준점을 갖는 교정기준 원(120)을 대상물의 기준점에 매핑한 후 왜곡보상값을 적용하여 왜곡된 형상을 보정하여 측정오차를 교정하는 작업이 진행된다.
오차교정단계가 완료되면 광학식 비접촉 정밀측정기에 의해 정밀도가 매우 높은 측정값을 구할 수 있게 된다.
한편 측정 대상물이 교정기준 원(120)보다 상대적으로 큰 규모이거나 교정기준 원(120)과 원 사이에 위치하는 경우가 있을 수 있다.
이에 따라 본 발명의 추가 실시예로써 측정 대상물에 대한 왜곡비율 교정 시 기준점이 되는 교정기준 원(120)을 교정화면(100)의 정 중앙에 있는 교정기준 원(120)을 이용하는 방법이 사용될 수 있다.
본 발명의 추가 실시예는 측정 대상물의 중심점(121)이 복수의 교정기준 원(120) 사이에 위치되거나, 복수의 교정기준 원(120)을 걸치는 형상으로 위치되었을 때, 교정화면(100)을 메우는 다수의 교정기준 원(120) 중에서도 상호 매핑되는 중심점(121)을 찾을 수 없는 상황에서 적용될 수 있는 방법으로 사용될 수 있다.
상기와 같이 측정 대상물이 크거나 교정기준 원(120) 사이에 위치한 경우 해당 대상물의 위치를 그대로 교정화면(100)의 정 중앙에 이동시킨 후 교정화면(100) 중심부의 교정기준 원(120)의 중심점(121)과 일치시켜 매핑을 시킨다.
교정기준 원(120)의 중심점(121)에 있는 교정기준 원(120)에 대해서는 왜곡비율과 왜곡보상값이 교정세팅단계를 통해 기 설정되어 있으므로 중심점(121)이 이동 조치된 측정 대상물은 중앙부 교정기준 원(120)에 설정된 왜곡비율과 왜곡보상값이 적용되어 정밀하게 보정될 수 있다.
따라서 측정 대상물의 크기와 위치의 변수에 따라서도 정밀도가 높은 오차 교정이 이뤄질 수 있으므로 어떠한 대상물이 어느 위치에 놓이더라도 정밀한 측정이 가능한 광학식 비접촉 정밀측정 방법을 구현할 수 있다.
이상에서 설명된 본 발명의 실시예는 예시적인 것에 불과하며, 본 발명이 속한 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 잘 알 수 있을 것이다.
그러므로 본 발명은 상기의 상세한 설명에서 언급되는 형태로만 한정되는 것은 아님을 잘 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
또한, 본 발명은 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 그 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
100 : 교정화면
110 : 가이드 원
111 : 시작점 가이드 원
112 : 종료점 가이드 원
120 : 교정기준 원
121 : 중심점
130 : 왜곡형상 원
140 : 원 형상

Claims (5)

  1. 사용자가 광학식 비접촉 정밀측정기의 카메라 렌즈를 통해 보이는 측정시야를 모니터에 교정화면으로 구현하고, 상기 정밀측정기의 측정 스테이지 위에 치수를 알고 있는 표준게이지를 위치시키는 교정준비단계;
    사용자가 상기 교정준비단계에서 교정화면에 올려진 표준게이지를 이용하여 렌즈 측정오차를 교정할 기준점이 될 교정기준 원을 형성하면, 정밀측정기가 교정화면에 교정기준 원을 다수 생성하고, 교정기준 원이 매핑된 표준게이지를 정밀측정기로 촬영 시 왜곡되어 나타나는 표준게이지 상의 왜곡형상 원을 각각의 교정기준 원에 매핑한 후, 교정기준 원 대비 왜곡형상 원의 왜곡비율을 산출하여 왜곡보상값을 설정하는 교정세팅단계;
    사용자가 표준게이지에 위치한 측정 대상물을 촬영한 후 정밀측정기가 상기 교정세팅단계에서 생성된 다수의 교정기준 원 중 대상물과 동일한 기준점을 갖는 하나의 교정기준 원을 대상물의 기준점에 매핑한 후 상기 교정세팅단계에서 생성된 다수의 교정기준 원 각각의 왜곡보상값 중 상기 대상물의 기준점에 매핑된 교정기준 원에 해당되는 왜곡보상값을 적용하여 왜곡된 형상을 보정하여 측정오차를 교정하는 오차교정단계;를 포함하는 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법.
  2. 제1항에 있어서,
    교정세팅단계는,
    사용자가 표준게이지의 원 형상을 교정준비단계에서 구현한 교정화면 중앙부에 위치시킨 후 초점을 맞추면, 표준게이지의 초점이 맞춰진 원 형상이 교정화면 중앙부에 교정기준 원으로 설정되는 세팅1차 포커스단계;
    정밀측정기가 교정화면의 좌측 상단 모서리에 시작점 가이드 원을 생성하고 우측 하단 모서리에 종료점 가이드 원을 각각 생성하는 세팅2차 가이드생성단계;
    사용자가 상기 세팅2차 가이드생성단계에서 생성된 시작점 가이드 원의 내측과 종료점 가이드 원의 내측에 상기 세팅1차 포커스단계에서 초점이 맞춰진 원 형상을 각각 위치시켜 인식시키면 정밀측정기가 교정기준 원의 배열이 시작되고 종료될 기준 위치를 설정하는 세팅3차 위치설정단계;
    정밀측정기가 상기 세팅3차 위치설정단계에서 설정한 교정기준 원 배열 시작 위치에서부터 교정기준 원 배열 종료 위치까지 교정기준 원을 다수 생성하며 복수의 행과 열을 형성토록 하는 세팅4차 기준원배열단계;
    상기 세팅4차 기준원배열단계에서 교정화면에 다수의 교정기준 원으로 형성된 배열을 사용자가 표준게이지에 매핑하여 구현한 후 카메라 렌즈로 표준게이지를 촬영을 하면, 정밀측정기가 표준게이지 상에서 교정기준 원이 왜곡되어 나타나는 왜곡형상 원을 교정화면 상의 교정기준 원과 각각 매핑하여 표시하는 세팅5차 왜곡형상매핑단계;
    교정기준 원의 중심점을 기준으로 상호 매핑된 교정기준 원과 왜곡형상 원에 있어 동일 각도에서 정밀측정기가 교정기준 원의 반경 대비 왜곡형상 원의 반경이 변형된 반경 비율을 구하여 왜곡비율을 산출하고, 전 방위에 걸쳐 왜곡비율을 산출한 후 왜곡비율의 역수로서 왜곡보상값을 산출하는 세팅6차 왜곡비산출단계;를 더 포함하는 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법.
  3. 제2항에 있어서,
    세팅1차 포커스단계는, 교정화면에서 초점이 맞춰진 원 형상을 정밀측정기가 교정화면 상에서 인식한 화면치수와 표준게이지에 형성되어 있는 원 형상의 실제치수를 비교하여 상호 차이값을 보정하는 기준교정단계;를 더 포함하는 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법.
  4. 제2항에 있어서,
    세팅3차 위치설정단계는,
    시작점 가이드 원 및 종료점 가이드 원 내에 위치시키는 원 형상은 시작점 가이드 원 및 종료점 가이드 원 대비 작은 것을 사용하며, 사용자가 상기 원 형상을 시작점 가이드 원 및 종료점 가이드 원 안에 적어도 80% 이상 포함되도록 위치시키면 정밀측정기에서 시작점 가이드 원 및 종료점 가이드 원에서 교정기준 원의 시작점과 종료점이 될 기준 위치를 설정할 수 있는 것을 더 포함하는 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법.
  5. 제1항에 있어서,
    대상물이 상기 교정화면에 형성된 다수의 교정기준 원 사이에 걸쳐 있는 경우에는 상기 교정화면의 중앙부에 위치한 하나의 교정기준 원을 기준으로 왜곡보상값을 적용함으로써 측정오차를 교정하는 것을 더 포함하는 광학식 정밀측정기의 렌즈 측정오차 교정방법.
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