KR102124042B1 - 기상 증착 장치, 이를 이용한 증착 방법 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법 - Google Patents

기상 증착 장치, 이를 이용한 증착 방법 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 증착 공간의 오염을 효율적으로 방지하고 증착막 특성을 용이하게 향상하도록 기판에 증착막을 형성하기 위한 기상 증착 장치에 관한 것으로서, 제1 원료 기체의 적어도 일부를 라디칼 형태로 변화시키도록 형성된 플라즈마 발생부, 상기 플라즈마 발생부에 대응되는 대응면, 상기 플라즈마 발생부와 상기 대응면 사이에 형성된 반응 공간 및 상기 플라즈마 발생부와 이격되고 상기 플라즈마 발생부를 감싸도록 형성된 절연 부재를 포함하는 기상 증착 장치, 이를 이용한 증착 방법 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법을 제공한다.

Description

기상 증착 장치, 이를 이용한 증착 방법 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법{Vapor deposition apparatus and method for manufacturing organic light emitting display apparatus}
본 발명은 기상 증착 장치 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법에 관한 것으로 더 상세하게는 증착 공간의 오염을 효율적으로 방지하고 증착막 특성을 용이하게 향상할 수 있는 기상 증착 장치 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법에 관한 것이다.
반도체 소자, 표시 장치 및 기타 전자 소자 등은 복수의 박막을 구비한다. 이러한 복수의 박막을 형성하는 방법은 다양한데 그 중 기상 증착 방법이 하나의 방법이다.
기상 증착 방법은 박막을 형성할 원료로서 하나 이상의 기체를 사용한다. 이러한 기상 증착 방법은 화학적 기상 증착(CVD:chemical vapor deposition), 원자층 증착(ALD:atomic layer deposition) 기타 다양한 방법이 있다.
이중, 원자층 증착 방법은 하나의 원료 물질을 주입후, 퍼지/펌핑 후 단일 분자층 또는 그 이상의 층을 기판에 흡착한 후, 또 다른 원료 물질을 주입후 퍼지/펌핑하여 최종적으로 원하는 단일의 원자층 또는 다층의 원자층을 형성하게 된다.
한편, 표시 장치들 중, 유기 발광 표시 장치는 시야각이 넓고 컨트라스트가 우수할 뿐만 아니라 응답속도가 빠르다는 장점을 가지고 있어 차세대 디스플레이 장치로서 주목을 받고 있다.
유기 발광 표시 장치는 서로 대향된 제1 전극 및 제2 전극 사이에 유기 발광층을 구비하는 중간층을 포함하고, 그 외에 하나 이상의 다양한 박막을 구비한다. 이때 유기 발광 표시 장치의 박막을 형성하기 위하여 증착 공정을 이용하기도 한다.
그러나, 유기 발광 표시 장치가 대형화되고 고해상도를 요구함에 따라 대면적의 박막을 원하는 특성으로 증착하기가 용이하지 않다. 또한 이러한 박막을 형성하는 공정의 효율성을 향상하는데 한계가 있다.
본 발명은 증착 공간의 오염을 효율적으로 방지하고 증착막 특성을 용이하게 향상할 수 있는 기상 증착 장치, 증착 방법 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법을 제공할 수 있다.
본 발명은 기판에 증착막을 형성하기 위한 기상 증착 장치에 관한 것으로서, 제1 원료 기체의 적어도 일부를 라디칼 형태로 변화시키도록 형성된 플라즈마 발생부, 상기 플라즈마 발생부에 대응되는 대응면, 상기 플라즈마 발생부와 상기 대응면 사이에 형성된 반응 공간 및 상기 플라즈마 발생부와 이격되고 상기 플라즈마 발생부를 감싸도록 형성된 절연 부재를 포함하는 기상 증착 장치를 개시한다.
본 발명에 있어서 상기 플라즈마 발생부와 상기 절연 부재 사이에는 삽입 부재가 배치될 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 삽입 부재를 통하여 상기 플라즈마 발생부와 상기 절연 부재 사이의 공간이 밀폐되는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 삽입 부재는 상기 플라즈마 발생부의 일단에 인접하도록 배치된 제1 삽입 부재 및 상기 플라즈마 발생부의 타단에 인접하도록 배치된 제2 삽입 부재를 포함하고, 상기 플라즈마 발생부와 상기 절연 부재 사이의 영역 중 상기 제1 삽입 부재와 상기 제2 삽입 부재 사이의 공간이 상기 제1 삽입 부재 및 제2 삽입 부재에 의하여 밀폐되는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 삽입 부재는 탄성을 가질 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 삽입 부재는 오링(O-ring)형태를 가질 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 플라즈마 발생부는 전극 형태를 가질 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 플라즈마 발생부는 기둥 형태를 가질 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 절연 부재는 속이 빈 기둥 형태를 가질 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 절연 부재는 쿼츠(quartz) 또는 세라믹 재질을 함유할 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 절연 부재는 상기 플라즈마 발생부의 표면 전체에 대응하도록 형성될 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 반응 공간과 연결되고 상기 제1 원료 기체를 함유하는 증착 원료 물질을 상기 기판에 주입하는 제1 주입부를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 반응 공간과 상기 제1 주입부 사이에 배치되고 상기 반응 공간 및 상기 제1 주입부보다 작은 폭을 갖는 연결부가 형성될 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 기판과 상기 기상 증착 장치는 상대적으로 이동하도록 형성될 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 제1 주입부와 인접하면서 상기 제1 주입부와 이격되도록 형성된 제2 주입부를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 제2 주입부는 상기 기판 방향으로 증착막을 형성하는 제2 원료 물질 또는 퍼지 기체를 주입할 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 제1 주입부와 인접하면서 상기 제1 주입부와 이격되도록 형성되고, 상기 제1 주입부의 양쪽에 각각 배치된 제2 주입부 및 제3 주입부를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 제2 주입부 및 상기 제3 주입부 각각은 퍼지 기체, 제2 원료 물질 및 제3 원료 물질로 이루어지는 군으로부터 선택된 어느 하나를 기판 방향으로 주입할 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 제1 주입부, 제2 주입부 및 상기 제3 주입부 각각에 인접하도록 배치된 복수의 배기부를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 복수의 배기부는 적어도 상기 제1 주입부와 상기 제2 주입부 사이에 배치된 배기부 및 상기 제1 주입부와 상기 제3 주입부 사이에 배치된 배기부를 구비할 수 있다.
본 발명의 다른 측면에 따르면 기판에 증착막을 형성하기 위한 기상 증착 장치에 관한 것으로서, 복수의 제1 영역, 복수의 제2 영역 및 복수의 퍼지부를 포함하고, 상기 복수의 제1 영역 각각은, 제1 원료 기체의 적어도 일부를 라디칼 형태로 변화시키도록 형성된 플라즈마 발생부, 상기 플라즈마 발생부에 대응되는 대응면, 상기 플라즈마 발생부와 상기 대응면 사이에 형성된 반응 공간 및 상기 플라즈마 발생부와 이격되고 상기 플라즈마 발생부를 감싸도록 형성된 절연 부재를 포함하고, 상기 복수의 제2 영역 각각은 제2 원료 물질을 상기 기판 방향으로 주입하고, 상기 퍼지부는 상기 기판 방향으로 퍼지 기체를 주입하는 기상 증착 장치를 개시한다.
본 발명에 있어서 상기 복수의 퍼지부들 중 각각의 퍼지부는 상기 제1 영역과 상기 제2 영역 사이에 배치될 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 제1 영역, 제2 영역 및 퍼지부에 인접하도록 배치된 복수의 배기부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 측면에 따르면 기판에 증착막을 형성하기 위한 증착 방법에 관한 것으로서, 공급부로부터 반응 공간으로 제1 원료 기체를 공급하는 단계, 상기 반응 공간내에 배치된 플라즈마 발생부를 이용하여 플라즈마를 발생하여 상기 제1 원료 기체 중 적어도 일부를 라디칼 형태로 변환하는 단계 및 상기 라디칼 형태를 함유하는 제1 원료 증착 물질을 상기 기판에 주입하는 단계를 포함하고, 상기 플라즈마 발생부를 이용하여 플라즈마를 발생하여 상기 제1 원료 기체 중 적어도 일부를 라디칼 형태로 변환하는 단계는 상기 플라즈마 발생부와 이격되고 상기 플라즈마 발생부를 감싸도록 형성된 절연 부재를 이용하여 상기 플라즈마 발생시 생성된 전자 또는 이온이 가속되어 상기 플라즈마 발생부에 충돌되는 것이 차단되는 것을 특징으로 하는 증착 방법을 개시한다.
본 발명에 있어서 상기 기판 및 상기 기상 증착 장치는 상대적으로 이동하면서 증착 공정을 수행할 수 있다.
본발명의 또 다른 측면에 따르면 기상 증착 장치를 이용하여 유기 발광 표시 장치를 제조하는 방법에 관한 것으로서, 상기 유기 발광 표시 장치는 제1 전극, 유기 발광층을 구비하는 중간층, 제2 전극 및 봉지층을 구비하고, 상기 유기 발광 표시 장치의 적어도 하나의 박막을 형성하는 단계는, 상기 기상 증착 장치에 대응하도록 기판을 배치하는 단계, 상기 기상 증착 장치의 공급부로부터 반응 공간으로 제1 원료 기체를 공급하는 단계, 상기 반응 공간내에 배치된 플라즈마 발생부를 이용하여 플라즈마를 발생하여 상기 제1 원료 기체 중 적어도 일부를 라디칼 형태로 변환하는 단계 및 상기 라디칼 형태를 함유하는 제1 원료 증착 물질을 상기 기판에 주입하는 단계를 포함하고, 상기 플라즈마 발생부를 이용하여 플라즈마를 발생하여 상기 제1 원료 기체 중 적어도 일부를 라디칼 형태로 변환하는 단계는 상기 플라즈마 발생부와 이격되고 상기 플라즈마 발생부를 감싸도록 형성된 절연 부재를 이용하여 상기 플라즈마 발생시 생성된 전자 또는 이온이 가속되어 상기 플라즈마 발생부에 충돌되는 것이 차단되는 것을 특징으로 하는 유기 발광 표시 장치 제조 방법을 개시한다.
본 발명에 있어서 상기 유기 발광 표시 장치의 박막을 형성하는 단계는 상기 제2 전극 상에 배치되는 상기 봉지층을 형성하는 단계일 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 유기 발광 표시 장치의 박막을 형성하는 단계는 절연막을 형성하는 단계일 수 있다.
본 발명에 있어서 상기 유기 발광 표시 장치의 박막을 형성하는 단계는 도전막을 형성하는 단계일 수 있다.
본 발명에 관한 기상 증착 장치, 증착 방법 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법은 증착 공간의 오염을 효율적으로 방지하고 증착막 특성을 용이하게 향상할수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 관한 기상 증착 장치를 개략적으로 도시한 단면도이다.
도 2는 도 1의 플라즈마 발생부와 절연 부재를 도시한 분해 사시도이다.
도 3은 도 1의 Ⅲ-Ⅲ선을 따라 절취한 단면도이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 관한 기상 증착 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 5는 본 발명의 또 다른 실시예에 관한 기상 증착 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 관한 기상 증착 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 관한 유기 발광 표시 장치 제조 방법에 의하여 제조된 유기 발광 표시 장치를 개략적으로 도시한 단면도이다.
도 8은 도 7의 F의 확대도이다.
이하 첨부된 도면들에 도시된 본 발명에 관한 실시예를 참조하여 본 발명의 구성 및 작용을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 관한 기상 증착 장치를 개략적으로 도시한 단면도이고, 도 2는 도 1의 플라즈마 발생부와 절연 부재를 도시한 분해 사시도이고, 도 3은 도 1의 Ⅲ-Ⅲ선을 따라 절취한 단면도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면 기상 증착 장치(100)는 하우징(101), 공급부(미도시), 플라즈마 발생부(111), 대응면(115), 반응 공간(103), 절연 부재(120) 및 주입부(142)를 포함한다.
하우징(101)은 기상 증착 장치(100)의 전체적 형태 및 외관을 유지하도록 내구성이 있는 재질로 형성된다. 하우징(101)은 직육면체와 유사한 형태로 형성될 수 있으나, 이는 하나의 예로서 다양한 형태로 형성될 수 있다.
공급부(미도시)는 하우징(101)과 연결되도록 배치되는데, 예를들면 하우징(101)의 상면에 배치될 수 있고, 하나 이상의 원료 기체를 공급할 수 있도록 관통공 형태를 가질 수 있다. 공급부(미도시)의 개수는 증착 공정을 진행할 피증착재의 크기에 따라 다양하게 결정된다.
플라즈마 발생부(111)는 하우징(101)내에 배치되는데, 플라즈마 발생부(111)는 전압을 인가받는 전극의 형태를 가질 수 있다. 또한, 플라즈마 발생부(111)에 전압을 용이하게 인가하도록 도 2 및 도 3에 도시한 것과 같이 플라즈마 발생부(111)의 양단에 돌출된 형태의 단자부가 형성될 수 있다. 그러나 본 발명은 이에 한정되지 않고 단자부가 생략될 수도 있다.
플라즈마 발생부(111)는 기둥 형태를 가질 수 있고, 특히 원기둥과 같은 형태를 가지는 것이 바람직하다.
대응면(115)은 플라즈마 발생부(111)에 대응되는 면이다. 또한 선택적으로 대응면(115)은 플라즈마 발생부(111)에 대응하는 전극의 형태를 가질 수 있고, 예를들면 그라운드 전극일 수 있다.
이를 통하여 플라즈마 발생부(111)와 대응면(115)사이의 공간(즉, 후술할 반응 공간(103))에서 플라즈마가 발생한다. 공급부(미도시)를 통하여 유입된 원료 기체는 플라즈마 발생부(111)와 대응면(115)사이의 공간에서 라디칼 형태로 변환되어 증착 특성을 향상한다.
반응 공간(103)은 하우징(101)내에 소정의 공간으로 정의된다. 구체적으로 반응 공간(103)은 대응면(115)과 플라즈마 발생부(111)사이의 공간이다. 반응 공간(103)은 전술한 공급부(미도시)와도 연결되는 것이 바람직하다. 이를 통하여 반응 공간(103)에서 원료 기체가 라디칼 형태로 변환될 수 있다.
절연 부재(120)는 플라즈마 발생부(111)를 감싸도록 배치된다. 즉 절연 부재(120)는 대응면(115)과 이격되도록 반응 공간(103)에 배치된다. 또한 절연 부재(120)는 플라즈마 발생부(111)를 둘러싸도록 속이 빈 기둥, 특히 플라즈마 발생부(111)에 대응되도록 속이 빈 원기둥 형태를 갖는 것이 바람직하다. 절연 부재(120)는 쿼츠(quartz) 또는 세라믹 재질로 형성된다. 예를들면 절연 부재(120)는 알루미나(Al2O3)와 같은 알루미늄 산화물을 함유할 수 있다.
또한 절연 부재(120)는 플라즈마 발생부(111)의 전체 표면에 대응되는 것이 바람직하다. 즉, 절연 부재(120)의 길이는 플라즈마 발생부(111)의 길이에 대응되거나 이보다 큰 것이 바람직하다.
절연 부재(120)는 플라즈마 발생부(111)를 감싸도록 플라즈마 발생부(111)와 접하지 않도록 배치된다. 이를 위하여 절연 부재(120)와 플라즈마 발생부(111)사이에는 삽입 부재(130)가 배치된다.
삽입 부재(130)는 탄성이 있는 재질로서 오링(O-ring)일 수 있다. 삽입 부재(130)는 제1 삽입 부재(131) 및 제2 삽입 부재(132)를 구비한다. 제1 삽입 부재(131)는 플라즈마 발생부(111)의 일단에 인접하도록 배치되고 제2 삽입 부재(132)는 플라즈마 발생부(111)의 타단에 인접하도록 배치된다. 이를 통하여 플라즈마 발생부(111)와 절연 부재(120)사이에는 밀폐된 공간이 형성된다.
주입부(142)는 반응 공간(103)과 연결되도록 형성된다. 공급부(미도시)를 통하여 유입된 원료 기체는 반응 공간(103)에서 라디칼로 변환된 후 주입부(142)로 전달되고 주입부(142)에서 피증착재와 반응하며 피증착재의 표면에 증착 공정이 진행된다. 주입부(142)는 연결부(141)에 의하여 반응 공간(103)과 연결되는데, 연결부(141)는 주입부(142) 및 반응 공간(103)보다 좁은 폭을 갖는 것이 바람직하다.
이를 통하여 반응 공간(103)에서 원료 기체가 충분히 머무르도록 유도하여 원료 기체의 라디칼 형태로 변화량을 증가시켜 증착 원료가 효과적으로 주입부(142)에 전달되도록 한다.
본 실시예의 기상 증착 장치(100)를 이용한 증착 방법에 대하여 간략하게 설명하기로 한다.
피증착재인 기판(S)이 기상 증착 장치(100)의 주입부(142)에 대응되도록 배치되면 기판(S)에 대하여 증착 공정이 진행된다. 이 때 기판(S)과 기상 증착 장치(100)는 상대적인 이동을 하면서 증착 공정을 수행할 수 있다. 즉 도 1의 X축 방향으로 이동하면서 기판(S)이 연속적으로 증착 공정이 수행될 수 있고, 이와 반대로 기상 증착 장치(100)가 이동할 수도 있다. 또한 본 발명은 이에 한정되지 않고 기판(S)이 기상 증착 장치(100)에 대하여 고정된 채 증착 공정이 수행될 수도 있다.
먼저, 공급부(미도시)를 통하여 하나 이상의 원료 기체가 반응 공간(103)으로 유입된다. 이 때 플라즈마 발생부(111)와 대응면(115)사이의 반응 공간(103)에서 플라즈마가 발생하고 반응 공간(103)에 유입된 원료 기체의 적어도 일부는 라디칼 형태로 변한다. 이러한 라디칼 형태의 원료 물질이 기판(S)에 도달하여 원료 물질을 포함하는 증착막을 형성한다.
이 때 플라즈마 발생 시 발생한 이온 및 전자는 가속되어 플라즈마 발생부(111)와 충돌할 수 있다. 이러한 경우 플라즈마 발생부(111)의 표면에서 파티클이 발생하고 플라즈마 발생부(111)가 손상될 수 있다. 또한 이러한 파티클은 증착막을 오염시킬 수 있다. 그러나, 본 실시예에서는 플라즈마 발생부(111)를 감싸도록 절연 부재(120)를 배치하여 가속된 이온 및 전자가 플라즈마 발생부(111)의 표면과 충돌하는 것을 방지하여 파티클 발생을 억제한다. 특히, 절연 부재(120)와 플라즈마 발생부(111)사이에 오링과 같은 삽입 부재(130)를 배치하여 절연 부재(120)와 플라즈마 발생부(111)사이의 공간을 밀폐하여 가속된 이온 및 전자가 플라즈마 발생부(111)와 충돌하는 것을 원천적을 차단할 수 있다.
또한, 플라즈마 발생부(111)와 절연 부재(120)를 이격시켜 절연 부재(120)를 통한 추가적인 파티클 발생도 억제한다. 즉 플라즈마 발생부(111)와 절연 부재(120)가 접해있을 경우 플라즈마 발생부(111)에서 발생하는 열로 인하여 이와 접한 절연 부재(120)의 포논(phonon)이 증가하여 절연 부재(120)에 높은 열이 발생할 뿐만 아니라 이러한 열로 인하여 절연 부재(120)의 표면에서도 파티클이 발생한다. 그러나 본 실시예에서는 플라즈마 발생부(111)와 절연 부재(120)를 이격시켜 플라즈마 발생부(111)에서 발생한 열이 절연 부재(120)에 전달되는 것을 효과적으로 억제하여 추가적인 파티클 발생을 효과적으로 억제한다.
본 실시예의 기상 증착 장치(100)는 결과적으로 반응 공간(103)내를 오염되지 않은 상태로 유지하여 순도높은 증착막을 용이하게 형성할 수 있다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 관한 기상 증착 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 4를 참조하면 기상 증착 장치(200)는 하우징(201), 공급부(미도시), 플라즈마 발생부(211), 대응면(215), 반응 공간(203), 절연 부재(220), 제1 주입부(242)및 제2 주입부(250)를 포함한다.
하우징(201)은 기상 증착 장치(200)의 전체적 형태 및 외관을 유지하도록 내구성이 있는 재질로 형성된다. 하우징(201)은 직육면체와 유사한 형태로 형성될 수 있으나, 이는 하나의 예로서 다양한 형태로 형성될 수 있다.
공급부(미도시)는 하우징(201)의 상부에 배치되는데, 반응 공간(203)으로 제1 원료 기체를 공급하고 제2 주입부(250)로 제2 원료 기체를 주입할 수 있도록 관통공 형태를 가질 수 있고, 공급부(미도시)의 개수는 증착 공정을 진행할 피증착재의 크기에 따라 다양하게 결정된다.
플라즈마 발생부(211)는 하우징(201)내에 배치되는데, 플라즈마 발생부(211)는 전압을 인가받는 전극의 형태를 가질 수 있다. 대응면(215)은 플라즈마 발생부(211)에 대응되는 면이다. 반응 공간(203)은 하우징(201)내에 소정의 공간으로 정의된다. 구체적으로 반응 공간(203)은 대응면(215)과 플라즈마 발생부(211)사이의 공간이다. 절연 부재(220)는 플라즈마 발생부(211)를 감싸도록 배치된다. 절연 부재(220)는 플라즈마 발생부(211)를 감싸도록 플라즈마 발생부(211)와 접하지 않도록 배치된다. 이를 위하여 절연 부재(220)와 플라즈마 발생부(211)사이에는 삽입 부재(230)가 배치된다. 삽입 부재(230)는 탄성이 있는 재질로서 오링(O-ring)일 수 있다. 삽입 부재(230)는 도시하지 않았으나 제1 삽입 부재(미도시) 및 제2 삽입 부재(미도시)를 구비한다. 플라즈마 발생부(211), 절연 부재(220) 및 삽입 부재(230)의 구성은 전술한 실시예와 동일하므로 구체적인 설명은 생략한다.
제1 주입부(242)는 반응 공간(203)과 연결되도록 형성된다. 공급부(미도시)를 통하여 유입된 제1 원료 기체는 반응 공간(203)에서 라디칼로 변환된 후 제1 주입부(242)로 전달되고 제1 주입부(242)에서 피증착재와 반응하며 피증착재의 표면에 증착 공정이 진행된다. 제1 주입부(242)는 연결부(241)에 의하여 반응 공간(203)과 연결되는데, 연결부(241)는 제1 주입부(242) 및 반응 공간(203)보다 좁은 폭을 갖는 것이 바람직하다.
제2 주입부(250)는 제1 주입부(242)와 인접하도록 형성된다. 또한 제2 주입부(250)는 제1 주입부(242)와는 이격되는 것이 바람직하다. 제2 주입부(250)는 기판(S)에 증착하기 위한 제2 원료 물질을 기판(S)방향으로 주입한다. 도시하지 않았으나 제2 주입부(250)는 제2 원료 물질을 공급받기 위하여 공급부(미도시)와 연결되는데 반응 공간(203)으로 유입되는 제1 원료 물질을 공급하는 공급부(미도시)와는 이격되도록 형성되는 것이 바람직하다.
본 실시예의 기상 증착 장치(200)를 이용한 증착 방법에 대하여 간략하게 설명하기로 한다.
피증착재인 기판(S)이 기상 증착 장치(200)의 제2 주입부(250)에 대응되도록 배치되면 제2 주입부(250)는 기판(S)방향으로 제2 원료 물질, 예를들면 기체 상태의 제2 원료 물질을 주입한다.
그리고 나서, 피증착재인 기판(S)이 도 4의 X 축방향, 즉 화살표 방향으로 이동하여 기상 증착 장치(200)의 제1 주입부(242)에 대응되도록 배치되면 제1 원료 기체가 반응 공간(203)으로 유입된다. 이 때 기판(S)과 기상 증착 장치(200)는 상대적인 이동을 하면서 증착 공정을 수행할 수 있다. 즉 도 4의 X축 방향으로 이동하면서 기판(S)이 연속적으로 증착 공정이 수행될 수 있고, 이와 반대로 기상 증착 장치(200)가 이동할 수도 있다. 또한 본 발명은 이에 한정되지 않고 기판(S)이 기상 증착 장치(200)에 대하여 고정된 채 증착 공정이 수행될 수도 있다.
구체적으로, 공급부(미도시)를 통하여 제2 원료 기체가 반응 공간(203)으로 유입된다. 이 때 플라즈마 발생부(211)와 대응면(215)사이의 반응 공간(203)에서 플라즈마가 발생하고 반응 공간(203)에 유입된 원료 기체의 적어도 일부는 라디칼 형태로 변한다. 이러한 변화된 라디칼 형태의 물질은 제1 주입부(242)를 통하여 기판(S)에 도달되고, 결과적으로 기판(S)상에는 제1 원료 물질 및 제2 원료 물질을 함유하는 증착막이 형성된다. 예를들면 제1 원료 물질 및 제2 원료 물질을 함유하는 1층의 증착막이 기판(S)상에 형성될 수 있다.
이 때 플라즈마 발생부(211)를 감싸도록 절연 부재(220)를 배치하여 플라즈마 발생부(211)의 표면에서 발생할 수 있는 파티클을 억제한다. 특히, 절연 부재(220)와 플라즈마 발생부(211)사이에 오링과 같은 삽입 부재(230)를 배치하여 절연 부재(220)와 플라즈마 발생부(211)사이의 공간을 밀폐하여 플라즈마 발생 시 발생한 이온 및 전자가 플라즈마 발생부(211)와 충돌하는 것을 원천적을 차단할 수 있다.
또한, 플라즈마 발생부(211)와 절연 부재(220)를 이격시켜 추가적인 파티클 발생도 억제한다. 즉 플라즈마 발생부(211)와 절연 부재(220)가 접해있을 경우 플라즈마 발생부(211)에서 발생하는 열로 인하여 이와 접한 절연 부재(220)의 포논(phonon)도 증가하여 절연 부재(220)에 높은 열이 발생할 뿐만 아니라 이러한 열로 인하여 절연 부재(220)의 표면에서도 파티클이 발생한다. 그러나 본 실시예에서는 플라즈마 발생부(211)와 절연 부재(220)를 이격시켜 플라즈마 발생부(211)에서 발생한 열이 절연 부재(220)에 전달되는 것을 효과적으로 억제한다.
본 실시예의 기상 증착 장치(200)는 결과적으로 반응 공간(203)내를 오염되지 않은 상태로 유지하여 순도높은 증착막을 용이하게 형성할 수 있다.
도 5는 본 발명의 또 다른 실시예에 관한 기상 증착 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 5를 참조하면 기상 증착 장치(300)는 하우징(301), 공급부(미도시), 플라즈마 발생부(311), 반응 공간(303), 대응면(315), 절연 부재(320), 제1 주입부(342), 제2 주입부(350-1) 및 제3 주입부(350-2)를 포함한다. 또한 기상 증착 장치(300)는 배기부(370-1,370-2,370-3,370-4)를 포함한다.
하우징(301)은 기상 증착 장치(300)의 전체적 형태 및 외관을 유지하도록 내구성이 있는 재질로 형성된다.
공급부(미도시)는 하우징(301)에 배치되는데 예를들면 하우징(301)의 상부에 배치될 수 있고, 반응 공간(303)으로 제1 원료 기체를 공급하고 제2 주입부(350-1) 및 제3 주입부(350-2)로 복수의 기체를 공급하도록 복수의 관통공 형태를 구비할 수 있다.
플라즈마 발생부(311)는 하우징(301)내에 배치되는데, 플라즈마 발생부(311)는 전압을 인가받는 전극의 형태를 가질 수 있다. 대응면(315)은 플라즈마 발생부(311)에 대응되는 면이다. 반응 공간(303)은 하우징(301)내에 소정의 공간으로 정의된다. 구체적으로 반응 공간(303)은 대응면(315)과 플라즈마 발생부(311)사이의 공간이다. 절연 부재(320)는 플라즈마 발생부(311)를 감싸도록 배치된다. 절연 부재(320)는 플라즈마 발생부(311)를 감싸고 플라즈마 발생부(311)와 접하지 않도록 배치된다. 이를 위하여 절연 부재(320)와 플라즈마 발생부(311)사이에는 삽입 부재(330)가 배치된다. 삽입 부재(330)는 탄성이 있는 재질로서 오링(O-ring)일 수 있다. 삽입 부재(330)는 도시하지 않았으나 제1 삽입 부재(미도시) 및 제2 삽입 부재(미도시)를 구비한다. 플라즈마 발생부(311), 절연 부재(320) 및 삽입 부재(330)의 구성은 전술한 실시예와 동일하므로 구체적인 설명은 생략한다.
제1 주입부(342)는 반응 공간(303)과 연결되도록 형성된다. 즉, 반응 공간(303)은 공급부(미도시)와 제1 주입부(342)사이에 놓인다. 제1 주입부(342)는 공급부(미도시)를 통하여 유입된 제1 원료 기체가 반응 공간(303)에서 원하는 상태로 변환된 후 제1 주입부(342)로 전달되고 제1 주입부(342)에서 피증착재와 반응하며 피증착재의 표면에 증착 공정이 진행된다. 제1 주입부(342)는 연결부(341)에 의하여 반응 공간(303)과 연결되는데, 연결부(341)는 제1 주입부(342) 및 반응 공간(303)보다 좁은 폭을 갖는 것이 바람직하다.
제2 주입부(350-1)는 제1 주입부(342)와 인접하도록 형성된다. 또한 제2 주입부(350-1)는 제1 주입부(342)와는 이격되는 것이 바람직하다. 제2 주입부(350-1)는 기판(S)에 퍼지 기체를 기판(S)방향으로 주입한다. 퍼지 기체는 불활성 기체를 포함한다. 또한, 본 발명은 이에 한정되지 아니하고 제2 주입부(350-1)는 기판(S)에 증착하기 위한 제2 원료 물질을 기판(S)방향으로 주입할 수도 있다. 도시하지 않았으나 제2 주입부(350-1)는 퍼지 기체 또는 제2 원료 물질을 공급받기 위하여 공급부(미도시)와 연결되는데 반응 공간(303)으로 유입되는 제1 원료 물질을 공급하는 공급부(미도시)와는 별개로 형성되는 것이 바람직하다.
제3 주입부(350-2)는 제1 주입부(342)와 인접하도록 형성된다. 또한 제3 주입부(350-2)는 제1 주입부(342)와는 이격되는 것이 바람직하다. 구체적으로 제1 주입부(342)는 제2 주입부(350-1)와 제3 주입부(350-2)의 사이에 배치된다.
제3 주입부(350-2)는 기판(S)에 퍼지 기체를 기판(S)방향으로 주입한다. 퍼지 기체는 불활성 기체를 포함한다. 또한, 본 발명은 이에 한정되지 아니하고 제3 주입부(350-2)는 기판(S)에 증착하기 위한 상기 제2 원료 물질을 기판(S)방향으로 주입할 수도 있다. 또한, 제3 주입부(350-2)는 기판(S)에 증착하기 위한 제3 원료 물질을 기판(S)방향으로 주입할 수도 있다.
또한, 제1 주입부(342)와 제2 주입부(350-1)사이에는 배기부(370-2)가 배치되고, 제1 주입부(342)와 제3 주입부(350-2)사이에는 배기부(370-3)가 배치된다. 또한, 제2 주입부(350-1) 및 제3 주입부(350-2)의 가장자리에 인접하도록 각각 배기부(370-1) 및 배기부(370-4)가 배치된다.
이러한 배기부(370-1, 370-2, 370-3, 370-4)들은 제1 주입부(342), 제2 주입부(350-1) 및 제3 주입부(350-2)들에 인접하도록 배치되어 제1 주입부(342), 제2 주입부(350-1) 및 제3 주입부(350-2)를 통한 증착 공정 수행 시 잔여 물질을 용이하게 배기하여 증착막 특성을 향상한다.
기판(S)과 기상 증착 장치(300)는 상대적인 이동을 하면서 증착 공정을 수행할 수 있다. 즉 도 5에 도시한 것과 같이 기판(S)이 도 5의 X축 방향으로 이동하면서 연속적으로 증착 공정이 수행될 수 있고, 이와 반대로 기상 증착 장치(300)가 이동할 수도 있다. 또한 본 발명은 이에 한정되지 않고 기판(S)이 기상 증착 장치(300)에 대하여 고정된 채 증착 공정이 수행될 수도 있다.
또한, 본 실시예에서는 퍼지 기체를 주입하는 제2, 3 주입부(350-1, 350-2)를 구비하여 제1 주입부(342)를 통한 증착 공정 시 이물 또는 불순 기체가 증착 공정 영역에 유입되는 것을 용이하게 방지한다.
또한, 플라즈마 발생부(311)를 감싸도록 절연 부재(320)를 배치하여 전자등의 가속으로 플라즈마 발생부(311)의 표면에서 발생할 수 있는 파티클을 억제한다. 특히, 절연 부재(320)와 플라즈마 발생부(311)사이에 오링과 같은 삽입 부재(330)를 배치하여 절연 부재(320)와 플라즈마 발생부(311)사이의 공간을 밀폐하여 플라즈마 발생 시 발생한 이온 및 전자가 플라즈마 발생부(311)와 충돌하는 것을 원천적을 차단할 수 있다.
또한, 플라즈마 발생부(311)와 절연 부재(320)를 이격시켜 추가적인 파티클 발생도 억제한다. 즉 플라즈마 발생부(311)와 절연 부재(320)가 접해있을 경우 플라즈마 발생부(311)에서 발생하는 열로 인하여 이와 접한 절연 부재(320)의 포논(phonon)도 증가하여 절연 부재(320)에 높은 열이 발생할 뿐만 아니라 이러한 열로 인하여 절연 부재(320)의 표면에서도 파티클이 발생한다. 그러나 본 실시예에서는 플라즈마 발생부(311)와 절연 부재(320)를 이격시켜 플라즈마 발생부(311)에서 발생한 열이 절연 부재(320)에 전달되는 것을 효과적으로 억제한다.
본 실시예의 기상 증착 장치(300)는 결과적으로 반응 공간(303)내를 오염되지 않은 상태로 유지하여 순도높은 증착막을 용이하게 형성할 수 있다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 관한 기상 증착 장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.
도 6을 참조하면 기상 증착 장치(400)는 복수의 제1 영역(410-1, 410-2), 복수의 제2 영역(450-1, 450-2), 복수의 퍼지부(460-1, 460-2, 460-3, 460-4) 및 복수의 배기부(470-1, 470-2, 470-3 … 470-8, 470-9, 470-10)를 포함한다.
제1 영역(410-1) 및 제1 영역(410-2)은 각각 하우징(401), 공급부(미도시), 플라즈마 발생부(411), 반응 공간(403), 절연 부재(420) 및 제1 주입부(442)를 포함한다.
하우징(401)은 제1 영역(410-1)의 전체적 형태 및 외관을 유지할 뿐만 아니라 기상 증착 장치(400)의 전체적 형태 및 외관을 유지하도록 내구성이 있는 재질로 형성되는 것이 바람직하다.
즉, 하우징(401)은 제1 영역(410-1) 및 제1 영역(410-2)에 대하여 각각 대응되도록 형성될 수도 있으나 기상 증착 장치(400)전체에 대응되도록 형성되는 것이 바람직하다.
제1 영역(410-1) 및 제1 영역(410-2)은 서로 동일한 구성을 가지므로 제1 영역(410-1)의 구성에 대하여만 설명한다.
공급부(미도시)는 하우징(401)에 배치되는데 예를들면 하우징(401)의 상부에 배치될 수 있고, 반응 공간(403)으로 제1 원료 기체를 공급한다.
플라즈마 발생부(411)는 하우징(401)내에 배치되는데, 플라즈마 발생부(411)는 전압을 인가받는 전극의 형태를 가질 수 있다. 대응면(415)은 플라즈마 발생부(411)에 대응되는 면이다. 반응 공간(403)은 하우징(401)내에 소정의 공간으로 정의된다. 구체적으로 반응 공간(403)은 대응면(415)과 플라즈마 발생부(411)사이의 공간이다. 절연 부재(420)는 플라즈마 발생부(411)를 감싸도록 배치된다. 절연 부재(420)는 플라즈마 발생부(411)를 감싸고 플라즈마 발생부(411)와 접하지 않도록 배치된다. 이를 위하여 절연 부재(420)와 플라즈마 발생부(411)사이에는 삽입 부재(430)가 배치된다. 삽입 부재(430)는 탄성이 있는 재질로서 오링(O-ring)일 수 있다. 삽입 부재(430)는 도시하지 않았으나 제1 삽입 부재(미도시) 및 제2 삽입 부재(미도시)를 구비한다. 플라즈마 발생부(411), 절연 부재(420) 및 삽입 부재(430)의 구성은 전술한 실시예와 동일하므로 구체적인 설명은 생략한다.
제1 주입부(442)는 반응 공간(403)과 연결되도록 형성된다. 즉, 반응 공간(403)은 공급부(미도시)와 제1 주입부(442)사이에 놓인다. 제1 주입부(442)는 공급부(미도시)를 통하여 유입된 제1 원료 기체가 반응 공간(403)에서 원하는 상태로 변환된 후 제1 주입부(442)로 전달되고 제1 주입부(442)에서 피증착재와 반응하며 피증착재의 표면에 증착 공정이 진행된다. 제1 주입부(442)는 연결부(441)에 의하여 반응 공간(403)과 연결되는데, 연결부(441)는 제1 주입부(442) 및 반응 공간(403)보다 좁은 폭을 갖는 것이 바람직하다.
복수의 제2 영역(450-1, 450-2)은 각각 제1 영역(410-1, 410-2)와 이격되도록 배치된다. 또한 제2 영역(450-1, 450-2)은 각각 기판(S)에 증착하기 위한 제2 원료 물질을 기판(S)방향으로 주입한다.
복수의 퍼지부(460-1, 460-2, 460-3, 460-4)는 각각 제1 영역(410-1, 410-2) 및 제2 영역(450-1, 450-2)각각에 인접하도록 배치된다.
구체적으로 퍼지부(460-2)는 제1 영역(410-1)과 제2 영역(450-1)사이에 배치되고, 퍼지부(460-3)는 제1 영역(410-1)과 제2 영역(450-2)사이에 배치되고, 퍼지부(460-4)는 제1 영역(410-2)과 제2 영역(450-2)사이에 배치된다.
또한, 퍼지부(460-1)는 제2 영역(450-1)에 인접하도록 배치된다. 복수의 퍼지부(460-1, 460-2, 460-3, 460-4)는 불활성 기체를 함유하는 퍼지 기체를 기판(S)방향으로 주입한다.
복수의 배기부(470-1, 470-2, 470-3…470-8, 470-9,470-10)들 각각은 복수의 제1 영역(410-1, 410-2), 복수의 제2 영역(450-1, 450-2), 복수의 퍼지부(460-1, 460-2, 460-3, 460-4)들 각각에 인접하도록 배치된다.
즉 복수의 배기부(470-1, 470-2, 470-3 … 470-8, 470-9,470-10)들 각각은 복수의 제1 영역(410-1, 410-2), 복수의 제2 영역(450-1, 450-2)들 각각의 사이에는 복수의 배기부(470-1, 470-2, 470-3…470-8, 470-9,470-10)들이 배치된다. 도 7에는 제1 영역(410-1)과 퍼지부(460-3)사이에 두 개의 배기부(470-5, 470-6)가 배치된 것이 도시되어 있으나 본 발명은 이에 한정되지 아니하고 두 개의 배기부(470-5, 470-6)중 하나는 생략할 수 있다.
본 실시예의 기상 증착 장치(400)를 이용한 증착 방법에 대하여 간략하게 설명하기로 한다. 구체적인 예로서 기상 증착 장치(400)를 이용하여 AlxOy를 기판(S)상에 형성하는 방법을 설명한다.
피증착재인 기판(S)이 기상 증착 장치(400)의 제2 영역(450-1)에 대응되도록 배치되면 제2 영역(450-1)으로부터 기판(S)방향으로 제2 원료 물질, 예를들면 기체 상태의 트리메틸알루미늄(TMA:trimethyl aluminium)과 같은 알루미늄(Al) 원자를 함유하는 기체일 수 있다. 이를 통하여 기판(S)의 상면에는 Al을 함유하는 흡착층이 형성된다. 구체적으로 기판(3)의 상면에는 화학적 흡착층 및 물리적 흡착층이 형성된다.
기판(S)의 상면에 형성된 흡착층 중 분자간 결합력이 약한 물리적 흡착층은퍼지부(460-1) 또는 퍼지부(460-2)에서 주입된 퍼지 기체에 의하여 기판(S)으로부터 분리되고, 배기부(470-2, 470-3)의 펌핑을 통하여 효과적으로 기판(S)에서 제거되어 최종적으로 기판(S)에 형성될 증착막의 순도를 향상한다.
그리고 나서, 피증착재인 기판(S)이 도 6의 X 축방향, 즉 화살표 방향으로 이동하여 기상 증착 장치(400)의 제1 영역(410-1)의 제1 주입부(442)에 대응되도록 배치되면 제1 원료 기체가 반응 공간(403)으로 유입된다. 구체적으로 제1 원료 기체는 산소를 하는데, H2O, O2, N2O등일 수 있다.
이 때 반응 공간(403)의 플라즈마 발생부(411)와 대응면(415)사이에 플라즈마가 발생하고 반응 공간(403)에 유입된 제1 원료 기체의 산소 성분의 적어도 일부는 라디칼 형태로 변한다.
이 때 반응 공간(403)에서 가속된 전자 및 이온이 절연 부재(420)에 의하여 플라즈마 발생부(411)의 표면과 충돌되는 것이 효과적으로 방지된다. 결과적으로 플라즈마 발생부(411)의 표면에서 발생하는 파티클 발생을 방지한다. 특히 삽입 부재(430)를 통하여 플라즈마 발생부(411)표면으로의 파티클 유입을 원천적으로 차단한다. 또한 절연 부재(420)와 플라즈마 발생부(411)를 이격시켜 플라즈마 발생부(411)에서 발생한 열이 절연 부재(420)에 전달되는 것을 차단한다. 이를 통하여 절연 부재(420)의 손상을 방지하고, 특히 절연 부재(420)의 포논 증가로 인하여 절연 부재(420)의 표면에서 발생할 수 있는 파티클 발생을 억제한다.
이를 통하여 반응 공간(403)에는 순도 높은 라디칼 형태의 물질이 존재하고, 이러한 라디칼 형태의 원료가 기판(S)의 표면에 도달되어 원하는 증착막이 형성된다.
즉, 제1 원료 기체 라디칼 물질은 기판(S)에 이미 흡착되어 있던 제2 원료 물질로 형성된 화학적 흡착층과 반응 또는 화학적 흡착층의 일부를 치환하고, 최종적으로 원하는 증착층인 AlxOy이 기판(S)상에 형성된다. 이 때 과잉의 제1 원료 물질은 물리적 흡착층을 이루고 기판(S)상에 잔존한다.
퍼지부(460-2) 또는 퍼지부(460-3)로부터 퍼지 기체가 기판(S)방향으로 주입되어 기판(S)에 잔존하는 제1 원료 물질의 물리적 흡착층을 기판(S)으로부터 분리하고, 배기부(470-4, 470-5)의 펌핑을 통하여 효과적으로 기판(S)에서 제거되어 최종적으로 기판(S)에 형성될 증착막의 순도를 향상한다.
결과적으로 기판(S)상에는 제1 원료 물질 및 제2 원료 물질을 함유하는 증착막이 형성된다. 즉, 구체적으로 기판(S)에는 AlxOy를 함유하는 단일의 원자층이 형성된다.
그리고 순차적으로 기판(S)이 이동하여 제2 영역(450-2) 및 제1 영역(410-2)에 대응되어 순차적으로 원하는 만큼 증착막을 더 형성할 수 있다.
이 때 기판(S)과 기상 증착 장치(400)는 상대적인 이동을 하면서 증착 공정을 수행할 수 있다. 즉 도 6에 도시한 것과 같이 기판(S)이 도 6의 X축 방향으로 이동하면서 연속적으로 증착 공정이 수행될 수 있고, 이와 반대로 기상 증착 장치(400)가 이동할 수도 있다. 또한 본 발명은 이에 한정되지 않고 기판(S)이 기상 증착 장치(400)에 대하여 고정된 채 증착 공정이 수행될 수도 있다.
본 실시예의 기상 증착 장치(400)는 반응 공간(403)내를 오염되지 않은 상태로 유지하여 순도높은 증착막을 용이하게 형성할 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 관한 유기 발광 표시 장치 제조 방법에 의하여 제조된 유기 발광 표시 장치를 개략적으로 도시한 단면도이고, 도 8은 도 7의 F의 확대도이다.
구체적으로 도 7 및 도 8은 전술한 기상 증착 장치(100, 200, 300, 400)중 어느 하나를 이용하여 제조된 유기 발광 표시 장치를 도시한다.
유기 발광 표시 장치(10:organic light emitting display apparatus)는 기판(30) 상에 형성된다. 기판(30)은 글래스재, 플라스틱재, 또는 금속재로 형성될 수 있다.
기판(30)상에는 기판(30)상부에 평탄면을 제공하고, 기판(30)방향으로 수분 및 이물이 침투하는 것을 방지하도록 절연물을 함유하는 버퍼층(31)이 형성되어 있다.
버퍼층(31)상에는 박막 트랜지스터(40(TFT:thin film transistor))와, 캐패시터(50)와, 유기 발광 소자(60:organic light emitting device)가 형성된다. 박막 트랜지스터(40)는 크게 활성층(41), 게이트 전극(42), 소스/드레인 전극(43)을 포함한다. 유기 발광 소자(60)는 제1 전극(61), 제2 전극(62) 및 중간층(63)을 포함한다.
캐패시터(50)는 제1 캐패시터 전극(51) 및 제2 캐패시터 전극(52)을 포함한다.
구체적으로 버퍼층(31)의 윗면에는 소정 패턴으로 형성된 활성층(41)이 배치된다. 활성층(41)은 실리콘과 같은 무기 반도체 물질, 유기 반도체 물질 또는 산화물 반도체 물질을 함유할 수 있고, p형 또는 n형의 도펀트를 주입하여 형성될 수 있다. 활성층(41)과 동일한 층에 제1 캐패시터 전극(51)이 형성되는데 활성층(41)과 동일한 재질로 형성될 수 있다.
활성층(41)상부에는 게이트 절연막(32)이 형성된다. 게이트 절연막(32)의 상부에는 활성층(41)과 대응되도록 게이트 전극(42)이 형성된다. 게이트 전극(42)을 덮도록 층간 절연막(33)이 형성되고, 층간 절연막(33) 상에 소스/드레인 전극(43)이 형성되는 데, 활성층(41)의 소정의 영역과 접촉되도록 형성된다. 소스/드레인 전극(43)과 동일한 층에 제2 캐패시터 전극(52)이 형성되는데 소스/드레인 전극(43)과 동일한 재질로 형성될 수 있다.
소스/드레인 전극(43)을 덮도록 패시베이션층(34)이 형성되고, 패시베이션층(34)상부에는 박막트랜지스터(40)의 평탄화를 위하여 별도의 절연막을 더 형성할 수도 있다.
패시베이션층(34)상에 제1 전극(61)을 형성한다. 제1 전극(61)은 소스/드레인 전극(43)중 어느 하나와 전기적으로 연결되도록 형성한다. 그리고, 제1 전극(61)을 덮도록 화소정의막(35)이 형성된다. 이 화소정의막(35)에 소정의 개구(64)를 형성한 후, 이 개구(64)로 한정된 영역 내에 유기 발광층을 구비하는 중간층(63)을 형성한다. 중간층(63)상에 제2 전극(62)을 형성한다.
제2 전극(62)상에 봉지층(70)을 형성한다. 봉지층(70)은 유기물 또는 무기물을 함유할 수 있고, 유기물과 무기물을 교대로 적층한 구조일 수 있다.
봉지층(70)은 본 발명의 전술한 기상 증착 장치들 중 어느 하나를 이용하여 형성할 수 있다. 즉 제2 전극(62)이 형성된 기판(30)을 본 발명의 전술한 기상 증착 장치들 중 어느 하나를 통과시키면서 원하는 층을 형성할 수 있다.
특히, 봉지층(70)은 무기층(71) 및 유기층(72)을 구비하고, 무기층(71)은 복수의 층(71a, 71b, 71c)을 구비하고, 유기층(72)은 복수의 층 (72a, 72b, 72c)을 구비한다. 이 때 본 발명의 기상 증착 장치를 이용하여 무기층(71)의 복수의 층(71a, 71b, 71c)을 형성할 수 있다.
그러나 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 즉 유기 발광 표시 장치(10)의 버퍼층(31), 게이트 절연막(32), 층간 절연막(33), 패시베이션층(34) 및 화소 정의막(35) 등 기타 절연막을 본 발명의 기상 증착 장치로 형성할 수도 있다.
또한 활성층(41), 게이트 전극(42), 소스/드레인 전극(43), 제1 전극(61), 중간층(63) 및 제2 전극(62)등 기타 다양한 박막을 본 발명의 기상 증착 장치로 형성하는 것도 물론 가능하다.
전술한 것과 같이 본 발명의 기상 증착 장치를 이용할 경우 유기 발광 표시 장치(10)에 형성되는 증착막 특성을 향상하여 결과적으로 유기 발광 표시 장치(10)의 전기적 특성 및 화질 특성을 향상할 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.
S, 30: 기판
100, 200, 300, 400: 기상 증착 장치
111, 211, 311, 411: 플라즈마 발생부
120, 220, 320, 420: 절연 부재
130, 230, 330, 430: 삽입 부재
103, 203, 303, 403: 반응 공간
10: 유기 발광 표시 장치

Claims (29)

  1. 기판에 증착막을 형성하기 위한 기상 증착 장치에 관한 것으로서,
    제1 원료 기체의 적어도 일부를 라디칼 형태로 변화시키도록 형성된 플라즈마 발생부;
    상기 플라즈마 발생부에 대응되는 대응면;
    상기 플라즈마 발생부와 상기 대응면 사이에 형성된 반응 공간; 및
    상기 플라즈마 발생부와 이격되고 상기 플라즈마 발생부를 감싸도록 형성된 절연 부재를 포함하고,
    상기 플라즈마 발생부와 상기 절연 부재 사이에는 삽입 부재가 배치되고,
    상기 삽입 부재는 상기 플라즈마 발생부의 길이 방향을 따라 서로 이격되도록 배치된 제1 삽입 부재 및 제2 삽입 부재를 포함하고,
    상기 제1 삽입 부재와 상기 제2 삽입 부재 사이에 공간이 형성되는 것을 포함하는 기상 증착 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 삽입 부재를 통하여 상기 플라즈마 발생부와 상기 절연 부재는 길이 방향을 따라 전체적으로 이격된 것을 포함하는 기상 증착 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 삽입 부재를 통하여 상기 플라즈마 발생부와 상기 절연 부재 사이의 공간이 밀폐되는 것을 특징으로 하는 기상 증착 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 플라즈마 발생부와 상기 절연 부재 사이의 영역 중 상기 제1 삽입 부재와 상기 제2 삽입 부재 사이의 공간이 상기 제1 삽입 부재 및 제2 삽입 부재에 의하여 밀폐되는 것을 특징으로 하는 기상 증착 장치.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 삽입 부재는 탄성을 갖는 기상 증착 장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 삽입 부재는 오링(O-ring)형태를 갖는 기상 증착 장치.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 플라즈마 발생부는 전극 형태를 갖는 기상 증착 장치.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 플라즈마 발생부는 기둥 형태를 갖는 기상 증착 장치.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 절연 부재는 속이 빈 기둥 형태를 갖는 기상 증착 장치.
  10. 제1 항에 있어서,
    상기 절연 부재는 쿼츠(quartz) 또는 세라믹 재질을 함유하는 기상 증착 장치.
  11. 제1 항에 있어서,
    상기 절연 부재는 상기 플라즈마 발생부의 표면 전체에 대응하도록 형성된 기상 증착 장치.
  12. 제1 항에 있어서,
    상기 반응 공간과 연결되고 상기 제1 원료 기체를 함유하는 증착 원료 물질을 상기 기판에 주입하는 제1 주입부를 더 포함하는 기상 증착 장치.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 반응 공간과 상기 제1 주입부 사이에 배치되고 상기 반응 공간 및 상기 제1 주입부보다 작은 폭을 갖는 연결부가 형성된 기상 증착 장치.
  14. 제1 항에 있어서,
    상기 기판과 상기 기상 증착 장치는 상대적으로 이동하도록 형성된 기상 증착 장치.
  15. 제12 항에 있어서,
    상기 제1 주입부와 인접하면서 상기 제1 주입부와 이격되도록 형성된 제2 주입부를 더 포함하는 기상 증착 장치.
  16. 제15 항에 있어서,
    상기 제2 주입부는 상기 기판 방향으로 증착막을 형성하는 제2 원료 물질 또는 퍼지 기체를 주입하는 기상 증착 장치.
  17. 제12 항에 있어서,
    상기 제1 주입부와 인접하면서 상기 제1 주입부와 이격되도록 형성되고, 상기 제1 주입부의 양쪽에 각각 배치된 제2 주입부 및 제3 주입부를 더 포함하는 기상 증착 장치.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 제2 주입부 및 상기 제3 주입부 각각은 퍼지 기체, 제2 원료 물질 및 제3 원료 물질로 이루어지는 군으로부터 선택된 어느 하나를 기판 방향으로 주입하는 기상 증착 장치.
  19. 제17 항에 있어서,
    상기 제1 주입부, 제2 주입부 및 상기 제3 주입부 각각에 인접하도록 배치된 복수의 배기부를 더 포함하는 기상 증착 장치.
  20. 제19 항에 있어서,
    상기 복수의 배기부는 적어도 상기 제1 주입부와 상기 제2 주입부 사이에 배치된 배기부 및 상기 제1 주입부와 상기 제3 주입부 사이에 배치된 배기부를 구비하는 기상 증착 장치.
  21. 기판에 증착막을 형성하기 위한 기상 증착 장치에 관한 것으로서,
    복수의 제1 영역, 복수의 제2 영역 및 복수의 퍼지부를 포함하고,
    상기 복수의 제1 영역 각각은,
    제1 원료 기체의 적어도 일부를 라디칼 형태로 변화시키도록 형성된 플라즈마 발생부;
    상기 플라즈마 발생부에 대응되는 대응면;
    상기 플라즈마 발생부와 상기 대응면 사이에 형성된 반응 공간; 및
    상기 플라즈마 발생부와 이격되고 상기 플라즈마 발생부를 감싸도록 형성된 절연 부재를 포함하고,
    상기 복수의 제2 영역 각각은 제2 원료 물질을 상기 기판 방향으로 주입하고,
    상기 퍼지부는 상기 기판 방향으로 퍼지 기체를 주입하고,
    상기 플라즈마 발생부와 상기 절연 부재 사이에는 삽입 부재가 배치되고,
    상기 삽입 부재는 상기 플라즈마 발생부의 길이 방향을 따라 서로 이격되도록 배치된 제1 삽입 부재 및 제2 삽입 부재를 포함하고,
    상기 제1 삽입 부재와 상기 제2 삽입 부재 사이에 공간이 형성되는 것을 포함하는 기상 증착 장치.
  22. 제21 항에 있어서,
    상기 복수의 퍼지부들 중 각각의 퍼지부는 상기 제1 영역과 상기 제2 영역 사이에 배치된 기상 증착 장치.
  23. 제21 항에 있어서,
    상기 제1 영역, 제2 영역 및 퍼지부에 인접하도록 배치된 복수의 배기부를 더 포함하는 기상 증착 장치.
  24. 기판에 증착막을 형성하기 위한 증착 방법에 관한 것으로서,
    공급부로부터 반응 공간으로 제1 원료 기체를 공급하는 단계;
    상기 반응 공간내에 배치된 플라즈마 발생부를 이용하여 플라즈마를 발생하여 상기 제1 원료 기체 중 적어도 일부를 라디칼 형태로 변환하는 단계; 및
    상기 라디칼 형태를 함유하는 제1 원료 증착 물질을 상기 기판에 주입하는 단계를 포함하고,
    상기 플라즈마 발생부를 이용하여 플라즈마를 발생하여 상기 제1 원료 기체 중 적어도 일부를 라디칼 형태로 변환하는 단계는 상기 플라즈마 발생부와 이격되고 상기 플라즈마 발생부를 감싸도록 형성된 절연 부재를 이용하여 상기 플라즈마 발생시 생성된 전자 또는 이온이 가속되어 상기 플라즈마 발생부에 충돌되는 것이 차단되는 것을 포함하고,
    상기 플라즈마 발생부와 상기 절연 부재 사이에는 삽입 부재가 배치되고,
    상기 삽입 부재는 상기 플라즈마 발생부의 길이 방향을 따라 서로 이격되도록 배치된 제1 삽입 부재 및 제2 삽입 부재를 포함하고,
    상기 제1 삽입 부재와 상기 제2 삽입 부재 사이에 공간이 형성되는 것을 포함하는 증착 방법.
  25. 제24 항에 있어서,
    상기 기판 및 상기 플라즈마 발생부는 상대적으로 이동하면서 증착 공정을 수행하는 증착 방법.
  26. 기상 증착 장치를 이용하여 유기 발광 표시 장치를 제조하는 방법에 관한 것으로서,
    상기 유기 발광 표시 장치는 제1 전극, 유기 발광층을 구비하는 중간층, 제2 전극 및 봉지층을 구비하고,
    상기 유기 발광 표시 장치의 적어도 하나의 박막을 형성하는 단계는,
    상기 기상 증착 장치에 대응하도록 기판을 배치하는 단계;
    상기 기상 증착 장치의 공급부로부터 반응 공간으로 제1 원료 기체를 공급하는 단계;
    상기 반응 공간내에 배치된 플라즈마 발생부를 이용하여 플라즈마를 발생하여 상기 제1 원료 기체 중 적어도 일부를 라디칼 형태로 변환하는 단계; 및
    상기 라디칼 형태를 함유하는 제1 원료 증착 물질을 상기 기판에 주입하는 단계를 포함하고,
    상기 플라즈마 발생부를 이용하여 플라즈마를 발생하여 상기 제1 원료 기체 중 적어도 일부를 라디칼 형태로 변환하는 단계는 상기 플라즈마 발생부와 이격되고 상기 플라즈마 발생부를 감싸도록 형성된 절연 부재를 이용하여 상기 플라즈마 발생시 생성된 전자 또는 이온이 가속되어 상기 플라즈마 발생부에 충돌되는 것이 차단되는 것을 포함하고,
    상기 플라즈마 발생부와 상기 절연 부재 사이에는 삽입 부재가 배치되고,
    상기 삽입 부재는 상기 플라즈마 발생부의 길이 방향을 따라 서로 이격되도록 배치된 제1 삽입 부재 및 제2 삽입 부재를 포함하고,
    상기 제1 삽입 부재와 상기 제2 삽입 부재 사이에 공간이 형성되는 것을 포함하는 유기 발광 표시 장치 제조 방법.
  27. 제26 항에 있어서,
    상기 유기 발광 표시 장치의 박막을 형성하는 단계는 상기 제2 전극 상에 배치되는 상기 봉지층을 형성하는 단계인 유기 발광 표시 장치 제조 방법.
  28. 제26 항에 있어서,
    상기 유기 발광 표시 장치의 박막을 형성하는 단계는 절연막을 형성하는 단계인 유기 발광 표시 장치 제조 방법.
  29. 제26 항에 있어서,
    상기 유기 발광 표시 장치의 박막을 형성하는 단계는 도전막을 형성하는 단계인 유기 발광 표시 장치 제조 방법.
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101538874B1 (ko) * 2010-11-24 2015-07-22 비코 에이엘디 인코포레이티드 대형 기판상에 원자층 증착을 수행하기 위한 다중 섹션을 구비한 연장된 반응기 조립체
KR20140038070A (ko) * 2012-09-20 2014-03-28 삼성코닝정밀소재 주식회사 가스 분사 장치 및 이에 사용되는 인젝터 파이프
KR102156795B1 (ko) * 2013-05-15 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 증착 장치
JP6305314B2 (ja) * 2014-10-29 2018-04-04 東京エレクトロン株式会社 成膜装置およびシャワーヘッド
CN105032181B (zh) * 2015-08-14 2017-08-18 山东电力工程咨询院有限公司 一种筒式介质阻挡放电低温等离子反应装置及反应***
CN105050304B (zh) * 2015-08-14 2017-08-18 山东电力工程咨询院有限公司 一种u型板式介质阻挡放电低温等离子反应器及反应***
CN108141090B (zh) 2015-10-28 2019-10-18 三菱电机株式会社 旋转电机
KR102662705B1 (ko) * 2016-01-24 2024-04-30 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 파이 형상 처리를 발생시키기 위한 대칭적인 플라즈마 소스
US20180163296A1 (en) * 2016-12-12 2018-06-14 National Chung Shan Institute Of Science And Technology Equipment for producing film
CN110257803A (zh) * 2019-07-22 2019-09-20 南昌工程学院 一种中温量子阱超晶格厚膜热电材料制备方法
CN111295033A (zh) * 2020-04-14 2020-06-16 昆山索坤莱机电科技有限公司 一种新型宽幅等离子表面处理装置
US11705312B2 (en) 2020-12-26 2023-07-18 Applied Materials, Inc. Vertically adjustable plasma source

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006299361A (ja) * 2005-04-22 2006-11-02 Dainippon Printing Co Ltd 成膜装置及び成膜方法
JP2011096616A (ja) * 2009-11-02 2011-05-12 E Square:Kk プラズマ表面処理装置

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4566403A (en) * 1985-01-30 1986-01-28 Sovonics Solar Systems Apparatus for microwave glow discharge deposition
FR2692730B1 (fr) * 1992-06-19 1994-08-19 Air Liquide Dispositif de formation de molécules gazeuses excitées ou instables et utilisations d'un tel dispositif.
FR2735053B1 (fr) * 1995-06-09 1997-07-25 Air Liquide Procede et dispositif de brasage a la vague integrant une operation de fluxage par voie seche
US6083355A (en) * 1997-07-14 2000-07-04 The University Of Tennessee Research Corporation Electrodes for plasma treater systems
US6106659A (en) * 1997-07-14 2000-08-22 The University Of Tennessee Research Corporation Treater systems and methods for generating moderate-to-high-pressure plasma discharges for treating materials and related treated materials
US6429400B1 (en) * 1997-12-03 2002-08-06 Matsushita Electric Works Ltd. Plasma processing apparatus and method
US6441553B1 (en) * 1999-02-01 2002-08-27 Sigma Technologies International, Inc. Electrode for glow-discharge atmospheric-pressure plasma treatment
US6186090B1 (en) * 1999-03-04 2001-02-13 Energy Conversion Devices, Inc. Apparatus for the simultaneous deposition by physical vapor deposition and chemical vapor deposition and method therefor
US6685803B2 (en) * 2001-06-22 2004-02-03 Applied Materials, Inc. Plasma treatment of processing gases
US6764658B2 (en) * 2002-01-08 2004-07-20 Wisconsin Alumni Research Foundation Plasma generator
US20030164143A1 (en) * 2002-01-10 2003-09-04 Hitachi Kokusai Electric Inc. Batch-type remote plasma processing apparatus
GB0208261D0 (en) * 2002-04-10 2002-05-22 Dow Corning An atmospheric pressure plasma assembly
TW200409669A (en) 2002-04-10 2004-06-16 Dow Corning Ireland Ltd Protective coating composition
JP4710216B2 (ja) * 2002-06-11 2011-06-29 コニカミノルタホールディングス株式会社 薄膜形成方法
US7819081B2 (en) * 2002-10-07 2010-10-26 Sekisui Chemical Co., Ltd. Plasma film forming system
JP4233348B2 (ja) * 2003-02-24 2009-03-04 シャープ株式会社 プラズマプロセス装置
KR100563057B1 (ko) * 2003-11-14 2006-03-24 삼성에스디아이 주식회사 초박형 유기 전계 발광 표시장치 및 그 제조방법
KR100637147B1 (ko) * 2004-02-17 2006-10-23 삼성에스디아이 주식회사 박막의 밀봉부를 갖는 유기 전계 발광 표시장치, 그제조방법 및 막 형성장치
JP4951501B2 (ja) * 2005-03-01 2012-06-13 株式会社日立国際電気 基板処理装置および半導体デバイスの製造方法
KR100689037B1 (ko) * 2005-08-24 2007-03-08 삼성전자주식회사 마이크로파 공명 플라즈마 발생장치 및 그것을 구비하는플라즈마 처리 시스템
US11136667B2 (en) 2007-01-08 2021-10-05 Eastman Kodak Company Deposition system and method using a delivery head separated from a substrate by gas pressure
KR101427091B1 (ko) 2008-06-02 2014-08-07 주식회사 케이씨텍 상압 플라즈마 발생장치 및 이를 구비한 상압 플라즈마표면처리장치
US8470718B2 (en) 2008-08-13 2013-06-25 Synos Technology, Inc. Vapor deposition reactor for forming thin film
KR101099191B1 (ko) * 2008-08-13 2011-12-27 시너스 테크놀리지, 인코포레이티드 기상 증착 반응기 및 이를 이용한 박막 형성 방법
US8851012B2 (en) 2008-09-17 2014-10-07 Veeco Ald Inc. Vapor deposition reactor using plasma and method for forming thin film using the same
KR101226426B1 (ko) 2008-09-17 2013-01-24 시너스 테크놀리지, 인코포레이티드 플라즈마를 이용한 기상 증착 반응기 및 이를 이용한 박막 형성 방법
EP2180768A1 (en) * 2008-10-23 2010-04-28 TNO Nederlandse Organisatie voor Toegepast Wetenschappelijk Onderzoek Apparatus and method for treating an object
US20110005682A1 (en) * 2009-07-08 2011-01-13 Stephen Edward Savas Apparatus for Plasma Processing
JP5812606B2 (ja) * 2010-02-26 2015-11-17 株式会社日立国際電気 基板処理装置及び半導体装置の製造方法
KR101680765B1 (ko) * 2010-11-17 2016-11-30 삼성전자주식회사 유기 발광 디스플레이 장치 및 이를 구비하는 접이식 디스플레이 장치
US20120255492A1 (en) 2011-04-06 2012-10-11 Atomic Energy Council-Institute Of Nuclear Enetgy Research Large Area Atmospheric Pressure Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition Apparatus
JP5694542B2 (ja) 2011-09-09 2015-04-01 東芝三菱電機産業システム株式会社 プラズマ発生装置およびcvd装置
KR102083448B1 (ko) * 2012-12-20 2020-03-03 삼성디스플레이 주식회사 기상 증착 장치, 이를 이용한 증착 방법 및 유기 발광 표시 장치 제조 방법
CN105491780B (zh) * 2014-10-01 2018-03-30 日新电机株式会社 等离子体产生用的天线及具备该天线的等离子体处理装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006299361A (ja) * 2005-04-22 2006-11-02 Dainippon Printing Co Ltd 成膜装置及び成膜方法
JP2011096616A (ja) * 2009-11-02 2011-05-12 E Square:Kk プラズマ表面処理装置

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