KR102048103B1 - Electrostatic discharge protection device and method for manufacturing thereof - Google Patents
Electrostatic discharge protection device and method for manufacturing thereof Download PDFInfo
- Publication number
- KR102048103B1 KR102048103B1 KR1020140187488A KR20140187488A KR102048103B1 KR 102048103 B1 KR102048103 B1 KR 102048103B1 KR 1020140187488 A KR1020140187488 A KR 1020140187488A KR 20140187488 A KR20140187488 A KR 20140187488A KR 102048103 B1 KR102048103 B1 KR 102048103B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electrodes
- base substrate
- pair
- electrostatic discharge
- insulating layer
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
- H05K1/0254—High voltage adaptations; Electrical insulation details; Overvoltage or electrostatic discharge protection ; Arrangements for regulating voltages or for using plural voltages
- H05K1/0257—Overvoltage protection
- H05K1/0259—Electrostatic discharge [ESD] protection
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05F—STATIC ELECTRICITY; NATURALLY-OCCURRING ELECTRICITY
- H05F3/00—Carrying-off electrostatic charges
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C7/00—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material
- H01C7/10—Non-adjustable resistors formed as one or more layers or coatings; Non-adjustable resistors made from powdered conducting material or powdered semi-conducting material with or without insulating material voltage responsive, i.e. varistors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/58—Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
- H01L23/60—Protection against electrostatic charges or discharges, e.g. Faraday shields
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Elimination Of Static Electricity (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
Abstract
전자소자 내장 기판 및 그 제조 방법이 개시된다. 본 발명의 일 측면에 따른 전자소자 내장 기판은 베이스 기판, 상기 베이스 기판 상에 서로 이격되어 배치되는 한 쌍의 전극 및 상기 전극의 일부 각각을 일체로 커버하도록 한 쌍의 상기 전극 및 상기 베이스 기판 상에 적층되어 형성되는 유기 절연층을 포함하고, 상기 유기 절연층은 내부에 한 쌍의 상기 전극 사이에 배치되는 공동부가 형성된다.An electronic device embedded substrate and a method of manufacturing the same are disclosed. An electronic device embedded substrate according to an aspect of the present invention includes a base substrate, a pair of electrodes spaced apart from each other on the base substrate, and a pair of the electrodes and the base substrate so as to integrally cover each of the electrodes. And an organic insulating layer formed by being laminated on the organic insulating layer, wherein the organic insulating layer has a cavity disposed between the pair of electrodes.
Description
본 발명은 정전기 방전 보호 소자 및 그 제조 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to an electrostatic discharge protection device and a method of manufacturing the same.
휴대용 전자 제품의 수요가 증대되고, 다양한 환경에서 사용되는 전자 제품의 종류가 증대됨에 따라, 이들 전자 제품을 보호하기 위한 정전기 방전 보호 소자(Electrostatic discharge, ESD)의 필요성 부각되고 있다. 즉, 정전기 방전 보호 소자는 전자 제품이 소형화, 고집적화 및 고속화됨에 따라 정전기 방전 보호 소자의 필요성은 더욱 증대된다.As the demand for portable electronic products increases and the types of electronic products used in various environments increase, the necessity of an electrostatic discharge (ESD) for protecting these electronic products is highlighted. That is, the need for the electrostatic discharge protection device is further increased as electronic products are downsized, integrated, and speeded up.
한편, TVS(Transient Voltage Suppressor) diode, MLV(Multilayer varistor) 및 Voltage Variable polymer등이 전자 제품의 특성에 따라 정전기 방전 보호 소자로 사용되고 있다.
On the other hand, TVS (Transient Voltage Suppressor) diode, MLV (Multilayer Varistor) and Voltage Variable Polymer are used as the electrostatic discharge protection device according to the characteristics of electronic products.
본 발명의 일 측면에 따르면, 베이스 기판, 한 쌍의 전극 및 유기 절연층을 포함하고, 유기 절연층은 내부에 한 쌍의 전극 사이에 배치되는 공동부가 형성되는 정전기 방전 보호 소자가 제공된다.
According to one aspect of the invention, there is provided an electrostatic discharge protection device comprising a base substrate, a pair of electrodes and an organic insulating layer, the organic insulating layer is formed therein a cavity disposed between the pair of electrodes.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자를 나타내는 사시도.
도 2는 도 1의 라인 I-I를 따라 취한 정전기 방전 보호 소자의 단면도.
도 3은 도 2의 A 영역을 확대하여 나타내는 도면.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법을 나타내는 순서도.
도 5 내지 도 10는 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법의 공정을 나타내는 도면.1 is a perspective view showing an electrostatic discharge protection device according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view of the electrostatic discharge protection element taken along line II of FIG.
3 is an enlarged view of a region A of FIG. 2;
4 is a flowchart illustrating a method of manufacturing an electrostatic discharge protection device according to an embodiment of the present invention.
5 to 10 is a view showing a process of the manufacturing method of the electrostatic discharge protection device according to an embodiment of the present invention.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular example embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise.
본 출원에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서 전체에서, "상에"라 함은 대상 부분의 위 또는 아래에 위치함을 의미하는 것이며, 반드시 중력 방향을 기준으로 상 측에 위치하는 것을 의미하는 것이 아니다.In the present application, when a part is said to "include" a certain component, it means that it can further include other components, without excluding other components, unless specifically stated otherwise. In addition, throughout the specification, "on" means to be located above or below the target portion, and does not necessarily mean to be located above the gravity direction.
또한, 결합이라 함은, 각 구성 요소 간의 접촉 관계에 있어, 각 구성 요소 간에 물리적으로 직접 접촉되는 경우만을 뜻하는 것이 아니라, 다른 구성이 각 구성 요소 사이에 개재되어, 그 다른 구성에 구성 요소가 각각 접촉되어 있는 경우까지 포괄하는 개념으로 사용하도록 한다.In addition, the coupling does not only mean the case where the physical contact is directly between the components in the contact relationship between the components, other components are interposed between the components, the components in the other components Use it as a comprehensive concept until each contact.
또한, 이하 사용되는 제1, 제2 등과 같은 용어는 동일 또는 상응하는 구성 요소들을 구별하기 위한 식별 기호에 불과하며, 동일 또는 상응하는 구성 요소들이 제1, 제2 등의 용어에 의하여 한정되는 것은 아니다.In addition, terms such as first and second used below are merely identification symbols for distinguishing the same or corresponding components, and the same or corresponding components are limited by terms such as the first and second components. no.
도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다.Since the size and thickness of each component shown in the drawings are arbitrarily shown for convenience of description, the present invention is not necessarily limited to the illustrated.
이하, 본 발명에 따른 정전기 방전 보호 소자 및 그 제조 방법의 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
Hereinafter, embodiments of an electrostatic discharge protection device and a method of manufacturing the same according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. And duplicate description thereof will be omitted.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자(100)를 나타내는 사시도이고, 도 2는 도 1의 라인 I-I를 따라 취한 정전기 방전 보호 소자(100)의 단면도이다.1 is a perspective view illustrating an electrostatic
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자(100)는 베이스 기판(110), 한 쌍의 전극(120) 및 유기 절연층(130)을 포함하고, 보호층(140) 및 외부 전극(150)을 더 포함할 수 있다.1 and 2, the electrostatic
베이스 기판(110)은 베이스 기판(110) 상에 적층되는 한 쌍의 전극(120) 및 유기 절연층(130)을 지지 가능하도록 형성된 것이면 충분하다. 도 1에 도시된 바와 같이, 베이스 기판(110)은 플레이트 형상으로 형성될 수 있다. 다만, 베이스 기판(110)의 형상은 도 1에 도시된 바에 한정될 것은 아니고, 사각형뿐만 아니라 원형의 플레이트 형상 등으로 형성될 수도 있다.The
베이스 기판(110)은 절연 재료로 이루어져 베이스 기판(110) 상에 적층되는 한 쌍의 전극과 절연될 수 있다. 구체적으로, 베이스 기판(110)은 전체적으로 절연성을 가지도록 절연 재료로 이루어질 수 있으며, 한 쌍의 전극(120)이 적층되는 베이스 기판(110)의 일면에 절연막이 형성되어 한 쌍의 전극(120)과 절연될 수도 있다.The
베이스 기판(110) 또는 베이스 기판(110)의 일면에 형성되는 절연막은 무기 절연 재료 또는 유기 절연 재료로 이루어질 수 있다. 즉, 베이스 기판(110)은 알루미나, 실리카 등의 무기 절연 재료로 이루어지는 기판일 수 있으며, 에폭시 수지 등의 유기 절연 재료로 이루어지는 기판일 수 있다.The insulating film formed on the
한 쌍의 전극(120)은 베이스 기판(110) 상에 서로 이격되어 배치된다. 한 쌍의 전극(120)은 일정한 이격 거리(Δd)를 두고 베이스 기판(110) 상에 서로 대향되게 배치되어 있다. 한 쌍의 전극 사이(110)에 형성되는 이격 거리(Δd)는 요구되는 정전기 방전 성능에 따라 적절히 선택될 수 있다.The pair of
도 2를 참조하면, 한 쌍의 전극(120)은 각 선단부(122)에서 대향되게 배치될 수 있다. 각 전극(120)의 선단부(122)란 베이스 기판(110) 상의 내측 영역에 배치되는 각 전극(120)의 일단부를 의미하며, 베이스 기판(110) 상의 외측 영역에 배치되는 각 전극(120)의 일단부는 후단부(124)라한다.Referring to FIG. 2, the pair of
각 전극(120)은 선단부(122)에서 서로 대향되며, 각 전극(120)의 후단부(124)는 후술할 외부 전극(150)과 각각 접속되도록 베이스 기판(110)의 측면과 나란하게 배치되어 베이스 기판(110)의 외측으로 노출될 수 있다.Each
한 쌍의 전극(120)의 각 선단부(122)는 일정 거리(Δd) 이격되어 있으므로, 전극의 양 단에 걸리는 전압이 일정 값 이하인 경우에는 전류가 흐르지 않는다. 그러나, 일정 전압 이상의 전압 즉, 작동 전압이 전극의 양 단에 인가되는 경우, 양 전극(120)은 이격 배치되어 있어도 전류가 흐를 수 있다. 따라서, 설정되는 작동 전압 값에 따라 양 전극(120)의 이격 거리(Δd)는 변경될 수 있다.Since the
도 1을 참조하면, 베이스 기판(110)은 서로 교차 형성되는 길이 방향(D1)과 폭 방향(D2)을 가질 수 있다. 한 쌍의 전극(120)은 베이스 기판(110)의 길이 방향(D1)을 따라 서로 이격되어 배치되되, 베이스 기판(110)의 폭 방향(D2)을 따라 베이스 기판(110)의 중앙 영역에 배치될 수 있다.Referring to FIG. 1, the
도 1에 도시된 바와 같이, 한 쌍의 전극(120)은 베이스 기판(110)의 폭보다 좁게 형성되어 베이스 기판(110)의 일부만을 커버하도록 베이스 기판(110) 상에 배치될 수 있다.As illustrated in FIG. 1, the pair of
유기 절연층(130)은 한 쌍의 전극(120)의 일부 각각을 일체로 커버하도록 한 쌍의 전극(120) 및 베이스 기판(110) 상에 적층되어 형성된다. 유기 절연층(130)은 전극(120)의 일부 각각을 일체로 커버하도록 형성되므로, 한 쌍의 전극(120) 사이에 형성되는 이격 공간을 포함하여 각 전극(120)의 일부 즉, 각 전극(120)의 선단부(122)와 인접한 영역을 일체로 커버할 수 있다.The
도 1에 도시된 바와 같이, 유기 절연층(130)은 한 쌍의 전극(120)이 배치되는 베이스 기판(110)의 일면 중 각 전극(120)에 의해서 커버되지 않는 베이스 기판(110)의 폭 방향(D2)으로 놓이는 베이스 기판(110)의 나머지 영역을 커버하도록 형성될 수 있다. 즉, 유기 절연층(130)은 베이스 기판(110)의 폭 너비와 대응되는 폭 너비를 가질 수 있다.As shown in FIG. 1, the
유기 절연층(130)은 내부에 한 쌍의 전극(120) 사이에 배치되는 공동부(135)가 형성된다. 유기 절연층(130)의 내부에 형성되는 공동부(135)는 한 쌍의 전극(120) 사이에 배치될 수 있고, 전극(120)에 작동 전압 이상의 전압이 인가되면, 공동부(135)를 통하여 양 전극(120) 사이에 전류가 흐를 수 있다.The
정전기와 같은 펄스 형태의 전압이 인가되어 한 쌍의 전극(120) 사이에 전류가 흐르는 경우, 전류가 한 쌍의 전극(120)을 커버하고 있는 유기 절연층(130)을 통하여 흐른다면 유기 절연층(130)은 내부를 흐르는 전류에 의해서 발생하는 열로 인하여 손상될 수 있다.When a voltage in the form of a pulse such as static electricity is applied and a current flows between the pair of
한 쌍의 전극(120)을 커버하는 유기 절연층(130)이 상기와 같은 이유로 손상이 되면, 반복 사용의 내구성이 현저히 저하되며, 요구되는 방전 성능에 따라 결정된 설계 값이 변경될 수 있으므로, 작동 전압이 인가되어도 양 전극 사이에 전류가 흐르지 않거나, 작동 전압 이하의 전압 값에서 전류가 흐를 수 있다.If the
본 실시예와 같이 유기 절연층(130) 내부에 공동부(135)가 형성되는 경우, 전류는 공동부(135)를 통하여 흐를 수 있으므로, 유기 절연층(130)의 손상을 방지할 수 있고, 소자의 전체적인 내구성 및 소자의 작동 신뢰성을 향상시킬 수 있다.When the
한편, 한 쌍의 전극(120)을 커버하는 절연층이 본 실시예와 같이 유기 절연 재료로 이루어지는 경우, 무기 절연 재료로 절연층을 형성하는 경우 보다 유전율이 낮아 전기 용량(Capacitance)값이 작아지게 되고, 이로써 고속 신호에서 간섭이 작아져 방전 성능이 향상될 수 있다.On the other hand, when the insulating layer covering the pair of
또한, 제조 공정적인 측면에서도, 절연층을 유기 절연층으로 형성하는 것이 보다 낮은 온도에서 절연층을 형성할 수 있으므로, 경제적인 이점 또한 확보할 수 있다.In addition, also in terms of the manufacturing process, since forming the insulating layer with the organic insulating layer can form the insulating layer at a lower temperature, it is also possible to secure economic advantages.
도 2를 참조하면, 한 쌍의 전극(120)은 공동부(135) 내에 노출되도록 배치될 수 있다. 각 전극(120)의 선단부(122)가 공동부(135) 내에 노출됨으로써, 각 전극(120) 사이를 흐르는 전류는 유기 절연층(130)을 거치지 않고 공동부(135)를 통하여 흐를 수 있다.Referring to FIG. 2, the pair of
도 3은 도 2의 A 영역을 확대하여 나타내는 도면이다.FIG. 3 is an enlarged view of region A of FIG. 2.
도 3을 참조하면, 유기 절연층(130)은 내부에 분산되어 배치되는 도체 입자(131)를 포함할 수 있다. 도체 입자(131)는 유기 절연층(130) 내부에 균일하게 또는 불균일하게 분산 배치될 수 있으며, 도체 입자(131)는 도전성 무기 재료 또는 도전성 유기 재료를 모두 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3, the organic insulating
도 3은 유기 절연층(130) 내부에 분산 배치되는 도체 입자(131)가 구 형상인 것을 도시하고 있으나, 도체 입자(131)는 구 형상뿐만 아니라 플레이트 형상 등으로 다양하게 형성될 수 있다. 유기 절연층(130) 내부에 도체 입자(131)가 충진됨으로써, 유기 절연층(130)은 보조 전극의 기능을 할 수 있다.3 illustrates that the
구체적으로, 유기 절연층(130)은 절연성의 재료로 이루어지므로, 유기 절연층(130)으로 전류가 흐를 수 없지만, 유기 절연층(130) 내부에 도체 입자(131)가 분산되어 배치되는 경우, 일정 전압 이하에서는 전류가 흐르지 않지만, 일정 전압 이상에서는 전류가 흐를 수 있다. 즉, 유기 절연층(130)은 내부에 배치되는 도체 입자(131)로 인하여 한 쌍의 전극(120) 이외에 보조 전극의 기능을 할 수 있다.Specifically, since the organic insulating
한편, 유기 절연층(130) 내부에 분사되어 배치되는 도체 입자(131)는 표면 상에 절연막(132)이 형성될 수 있다. 도체 입자(131)의 표면이 절연막(132)에 의해서 코팅됨으로써, 도체 입자(131)는 유기 절연층(130) 내부에 보다 조밀하게 배치될 수 있다.On the other hand, the insulating
즉, 도체 입자(131)는 유기 절연층(130) 내부에 분산 배치됨으로써 서로 인접한 다른 도체입자(131)와 절연을 유지할 수 있다. 도체 입자(131) 간의 이격 거리가 짧아지면, 낮은 전압 값에서도 전류가 흐를 수 있으므로, 도체 입자(131) 간의 이격 거리는 일정 값 이상을 유지해야 한다. 그러나, 각 도체 입자(131)의 표면 상에 절연막(132)이 형성되는 경우, 도체 입자(131) 간의 이격 거리는 줄어들 수 있다.That is, the
한편, 유기 절연층(130)은 에폭시, 폴리우레탄 및 실리콘 중 적어도 어느 하나를 포함하는 재질로 이루어질 수 있다. 즉, 유기 절연층(130)은 폴리머 수지와 같은 유기 절연 재료로 이루어질 수 있으며, 이와 같은 재료는 무기 절연 재료에 비하여 유전율이 낮아 고속 신호에서 간섭이 작아 전체적으로 높은 방전 성능을 유지할 수 있다.Meanwhile, the
다시, 도 1 및 도 2를 참조하면, 본 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자(100)는 보호층(140)과 한 쌍의 외부 전극(150)을 더 포함할 수 있다.Referring back to FIGS. 1 and 2, the electrostatic
보호층(140)은 전극(120), 유기 절연층(130) 및 베이스 기판(110)을 커버하도록 한 쌍의 전극(120), 유기 절연층(130) 및 베이스 기판(110) 상에 적층되어 형성될 수 있다. 보호층(140)은 에폭시 수지를 포함하는 재질로 이루어져 베이스 기판(110)과 같이 전극(120)과 전기적으로 절연될 수 있다.The
보호층(140)은 유기 절연층(130)에 의해서 커버되지 않는 베이스 기판(110)의 나머지 영역과 전극(120) 및 절연층(130)의 상면 및 측면을 일체로 커버할 수 있다. 베이스 기판(110)은 한 쌍의 전극(120) 및 유기 절연층(130)을 지지하는 기능을 할 수 있고, 보호층(140)은 베이스 기판(110)의 상면, 전극 및 유기 절연층(130)을 커버하여 각 구성을 보호할 수 있다.The
한 쌍의 외부 전극(150)은 한 쌍의 전극(120)과 각각 전기적으로 연결되고, 베이스 기판(110)과 보호층(140)의 측면을 커버하도록 배치된다. 한 쌍의 외부 전극(150)에 전원이 인가될 수 있으며, 이는 한 쌍의 외부 전극(150)과 각각 전기적으로 연결되고 베이스 기판(110) 상에 배치되는 한 쌍의 전극(120)으로 전달될 수 있다.The pair of
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법을 나타내는 순서도이고, 도 5 내지 도 10는 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법의 공정을 나타내는 도면이다.4 is a flowchart illustrating a method of manufacturing an electrostatic discharge protection device according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 5 to 10 are views illustrating a process of a method of manufacturing the electrostatic discharge protection device according to an embodiment of the present invention. .
도 4를 참조하면, 본 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법은 베이스 기판 상에 한 쌍의 전극을 배치하는 단계(S100), 베이스 기판과 전극 상에 페이스트를 도포하는 단계(S200), 페이스트를 열처리하는 단계(S300) 및 페이스트를 경화시켜 유기 절연층을 형성하는 단계(S400)를 포함한다. 이하, 도 5 내지 도 10를 참조하여 각 단계를 구체적으로 설명한다.Referring to FIG. 4, the method of manufacturing an electrostatic discharge protection device according to the present embodiment includes disposing a pair of electrodes on a base substrate (S100), applying a paste on the base substrate and an electrode (S200), Heat treating the paste (S300) and curing the paste to form an organic insulating layer (S400). Hereinafter, each step will be described in detail with reference to FIGS. 5 to 10.
도 5를 참조하면, 베이스 기판 상에 한 쌍의 전극을 배치하는 단계(S100)에서는, 준비된 베이스 기판(110)의 일면에 한 쌍의 전극(120)을 서로 이격되게 배치한다. 베이스 기판(110) 상에 한 쌍의 전극(120)을 배치하는 방법은 공지된 방법을 적절히 선택하여 실시할 수 있으며, 예를 들어, 도포, 전사, 전해 도금, 무전해 도금 증착 또는 스퍼터링 등과 같은 공정을 통하여 베이스 기판(110) 상에 한 쌍의 전극(120)을 배치 형성할 수 있다.Referring to FIG. 5, in a step S100 of placing a pair of electrodes on a base substrate, a pair of
베이스 기판 상에 한 쌍의 전극을 배치하는 단계(S100)에서, 한 쌍의 전극(120)은 기 설정된 이격 거리(Δd)를 두고 대향 배치될 수 있다. 한 쌍의 전극(120)이 서로 이격되어 형성되는 이격 거리(Δd)는 요구되는 방전 성능에 따라 적절히 선택될 수 있다.In an operation S100 of disposing a pair of electrodes on the base substrate, the pair of
도 6을 참조하면, 베이스 기판과 전극 상에 페이스트를 도포하는 단계(S200)에서는, 베이스 기판(110)과 한 쌍의 전극(120) 상에 휘발성 용제를 함유하는 페이스트(136)를 도포한다. 페이스트(136)는 각 전극(120)의 선단부를 일체로 커버하도록 도포된다. 이로써, 페이스트(136)는 한 쌍의 전극(120) 사이에 형성되는 이격 공간에도 도포될 수 있다.Referring to FIG. 6, in the step of applying paste on the base substrate and the electrode (S200), the
페이스트(136)는 휘발성 용제를 함유하는 유기 바인더로 이루어질 수 있다. 유기 바인더는 에폭시, 폴리우레탄 및 실리콘 중 적어도 어느 하나를 포함하는 재질로 이루어질 수 있다. 즉, 페이스트(136)는 에폭시, 폴리우레탄 및 실리콘 등과 같은 폴리머 수지가 용융된 상태의 유기 바인더일 수 있다.The
이때, 유기 바인더에는 도체 입자가 충진된 상태일 수 있으며, 도체 입자는 표면 상에 절연막이 형성될 수 있다. 유기 바인더 내부에 충진되는 도체 입자의 양은 요구되는 방전 성능에 따라 적절히 선택될 수 있으며, 도체 입자는 인접하여 배치되는 다른 도체 입자와 유기 바인더에 의해서 1차적으로 절연되고, 도체 입자의 표면에 형성되는 절연막에 의해서 2차적으로 절연될 수 있다.In this case, the organic binder may be filled with conductive particles, and the insulating particles may be formed on the surface of the conductive particles. The amount of conductor particles filled in the organic binder can be appropriately selected according to the discharge performance required, and the conductor particles are primarily insulated by the organic binder and other conductor particles disposed adjacently, and formed on the surface of the conductor particles. It can be insulated secondary by an insulating film.
페이스트(136)는 용융 상태의 폴리머 수지로 이루어지는 유기 바인더에 휘발성 용제가 첨가된 복합물질일 수 있다. 이때, 휘발성 용제는 PGMEA(Propylene Glycol Methyl Ether Acetate)일 수 있으며, 페이스트(136)는 첨가되는 휘발성 용제의 양에 따라 점도가 조절될 수 있다.The
다시 말해서, 베이스 기판(110)과 한 쌍의 전극(120) 상에 도포되는 페이스트(136)는 유기 바인더, 휘발성 용제 및 도체 입자를 포함할 수 있다. 페이스트(136)는 베이스 기판(110)과 전극(120) 상에 도포되거나, 베이스 기판(110)과 전극(120) 상에 전사 또는 인쇄될 수도 있다.In other words, the
도 7을 참조하면, 페이스트를 열처리하는 단계(S300)에서는, 페이스트(136)에 함유되는 휘발성 용제를 휘발시켜 전극(120) 사이에 공동부(135)를 형성하도록 페이스트(136)를 열처리한다. 이러한 열처리 단계는 200℃이하에서 실시될 수 있다.Referring to FIG. 7, in step S300 of pasting the paste, the
페이스트(136)에 함유되는 휘발성 용제는 200℃이하의 온도에서 휘발될 수 있고, 휘발성 용제가 휘발되면서 한 쌍의 전극(120) 사이에는 공동부(135)가 형성된다. 한편, 페이스트(136)를 열처리함에 있어서, 외부로 노출되는 페이스트(136)의 표면이 우선적으로 경화되도록 페이스트(136)를 급속으로 열처리를 실시한다.The volatile solvent contained in the
도 7은 페이스트(136)의 표면이 우선적으로 경화되는 상태를 도시하고 있다. 페이스트(136)의 표면이 우선적으로 경화된 후, 페이스트(136)의 내부에서는 휘발성 용제가 페이스트(136)의 내부에서 외부를 향하는 방향으로 휘발되고, 휘발성 용제가 휘발되면, 베이스 기판(110)의 표면 및 한 쌍의 전극(120) 사이에 공동부(135)가 형성될 수 있다.7 shows a state in which the surface of the
이와 같이, 본 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법은 페이스트(136)로 용융된 폴리머 수지를 사용하고, 공동부(135)를 형성하기 위해서 페이스트(136)에 휘발성 용제를 첨가하므로, 보다 낮은 온도에서 열처리를 실시할 수 있다.As described above, in the method of manufacturing the electrostatic discharge protection device according to the present embodiment, since the polymer resin melted as the
종래에는 공동부를 형성하기 위해서, 무기 절연 재료에 폴리머 수지를 첨가하여, 폴리머 수지를 소실시킴으로써 무기 절연층 내부에 공동부를 형성하는 방법을 사용하였다. 이러한 종래의 방법은 500℃ 내지 1000℃에서 열처리를 실시하므로, 베이스 기판의 재질로써 상기 고온에 견딜 수 있는 재질만을 사용하여 소자의 종류가 매우 제한적이었다.Conventionally, in order to form a cavity, the method of forming a cavity inside an inorganic insulating layer by adding a polymer resin to an inorganic insulating material and dissipating a polymer resin was used. Since the conventional method performs the heat treatment at 500 ℃ to 1000 ℃, the material of the base substrate is very limited by using only the material that can withstand the high temperature.
본 실시예에 따른 제조 방법은 종래의 방법 보다 저온에서 열처리를 실시하므로, 종래에 사용되던 세라믹 재질의 기판뿐만 아니라 유기 절연 재질로 이루어진 베이스 기판을 사용할 수 있다. 예를 들어, 인쇄회로기판을 베이스 기판으로 사용할 수도 있다.In the manufacturing method according to the present embodiment, since the heat treatment is performed at a lower temperature than the conventional method, it is possible to use a base substrate made of an organic insulating material as well as a substrate made of a ceramic material. For example, a printed circuit board may be used as the base substrate.
또한, 본 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법에 따르면, 한 쌍의 전극(120) 및 베이스 기판(110)을 커버하는 절연층을 무기 절연층보다 유전율이 낮은 유기 절연층으로 형성할 수 있으므로, 고속 신호에서 간섭이 작아져 절연층이 무기 재료로 형성되는 경우보다 방전 성능을 향상시킬 수 있다.In addition, according to the method of manufacturing the electrostatic discharge protection device according to the present embodiment, the insulating layer covering the pair of
도 8을 참조하면, 페이스트를 경화시켜 유기 절연층을 형성하는 단계(S400)에서는 페이스트(136)를 전체적으로 경화시켜 유기 절연층(130)을 형성한다. 유기 절연층(130)은 페이스트(136)에 함유된 휘발성 용제가 휘발된 상태에서 페이스트(136)를 경화시켜 형성할 수 있다.Referring to FIG. 8, in step S400 of curing the paste to form an organic insulating layer, the
한편, 도 9를 참조하면, 본 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법은 페이스트를 경화시켜 유기 절연층을 형성하는 단계(S400) 이후에 한 쌍의 전극(120), 유기 절연층(130) 및 베이스 기판(110)을 커버하는 보호층을 형성하는 단계(S500)를 더 포함할 수 있다.Meanwhile, referring to FIG. 9, in the method of manufacturing the electrostatic discharge protection device according to the present exemplary embodiment, after the step (S400) of curing the paste to form an organic insulating layer, the pair of
페이스트(136)의 경화가 완료되어 유기 절연층(130)이 형성되면, 유기 절연층(130) 상에 보호층(140)을 적층하여 형성할 수 있으며, 보호층(140)은 에폭시 수지를 포함하는 재질로 이루어질 수 있다.When the curing of the
보호층(140)은 베이스 기판(110), 한 쌍의 전극(120) 및 유기 절연층(130)을 보호할 수 있으며, 보호층(140)은 절연성의 재질로 형성되어 한 쌍의 전극(120)과 절연될 수 있다.The
도 10를 참조하면, 본 실시예에 따른 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법은 보호층을 형성하는 단계(S500) 이후에, 한 쌍의 외부 전극을 형성하는 단계(S600)를 더 포함할 수 있다.Referring to FIG. 10, after the forming of the protective layer (S500), the method of manufacturing the electrostatic discharge protection device according to the present embodiment may further include forming a pair of external electrodes (S600).
한 쌍의 외부 전극을 형성하는 단계(S600)에서는, 한 쌍의 전극(120)과 각각 전기적으로 연결되는 한 쌍의 외부 전극(150)을 베이스 기판(110)과 보호층(140)의 측면을 커버하도록 배치할 수 있다.In the forming of the pair of external electrodes (S600), the pair of
한 쌍의 외부 전극(150)에 정전기와 같은 펄스 전압이 인가되면, 한 쌍의 외부 전극(150)은 베이스 기판 (110)상에 배치되는 한 쌍의 전극(120)과 각각 전기적으로 연결되므로, 한 쌍의 전극(120)은 외부 전극(150)에 인가되는 전압에 의해서 한 쌍의 전극(120) 사이에 배치되는 공동부(135)를 통하여 전류가 흐를 수 있다.When a pulse voltage such as static electricity is applied to the pair of
본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 소자(100)는, 베이스 기판(110)과 베이스 기판(110) 상에 배치되는 한 쌍의 전극(120)을 커버하는 절연층(130)을 유전율이 비교적 낮은 유기 절연 재료로 형성하므로, 방전 성능을 향상시킬 수 있다.In the
또한, 유기 절연층(130) 내부에 한 쌍의 전극(120) 사이에 배치되는 공동부(135)가 형성되므로, 한 쌍의 전극(120) 양 단에 정전기와 같은 펄스 전압이 인가되면, 양 전극(120) 사이에 배치되는 공동부(135)를 통하여 전류를 흐를 수 있어, 유기 절연층(130)의 내구성을 향상시켜, 소자 전체의 작동 신뢰성을 확보할 수 있다.In addition, since the
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 정전기 방전 소자의 제조 방법은, 유기 절연층(130) 내부에 형성되는 공동부(135)를 200℃ 이하에서 휘발되는 휘발성 용제를 이용하여 형성하므로, 종래에 수지를 소실시키는 것에 비하여 경제성을 확보할 수 있고, 보다 용이하게 제조 가능하다.On the other hand, in the method of manufacturing an electrostatic discharge device according to an embodiment of the present invention, since the
또한, 전체 공정이 저온에서 이루어지므로, 정전기 방전 보호 소자(110)에 포함되는 베이스 기판(110), 유기 절연층(130)을 이루는 재료의 선택의 폭이 넓어질 수 있다.
In addition, since the entire process is performed at a low temperature, the choice of materials forming the
이상, 본 발명의 일 실시예에 대하여 설명하였으나, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서, 구성 요소의 부가, 변경, 삭제 또는 추가 등에 의해 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있을 것이며, 이 또한 본 발명의 권리범위 내에 포함된다고 할 것이다.
As mentioned above, although an embodiment of the present invention has been described, those of ordinary skill in the art may add, change, delete or add components within the scope not departing from the spirit of the present invention described in the claims. The present invention may be modified and changed in various ways, etc., which will also be included within the scope of the present invention.
100: 정전기 방전 보호 소자
110: 베이스 기판
120: 전극
130: 유기 절연층
131: 도체 입자
132: 절연막
135: 공동부
136: 페이스트
140: 보호층
150: 외부 전극100: electrostatic discharge protection element
110: base substrate
120: electrode
130: organic insulating layer
131: conductor particles
132: insulating film
135: cavities
136: paste
140: protective layer
150: external electrode
Claims (17)
상기 베이스 기판 상에 서로 이격되어 배치되는 한 쌍의 전극; 및
상기 전극의 일부 각각을 일체로 커버하도록 한 쌍의 상기 전극 및 상기 베이스 기판 상에 적층되어 형성되는 유기 절연층;을 포함하고,
상기 유기 절연층은 내부에 한 쌍의 상기 전극 사이에 배치되는 공동부가 형성되는, 정전기 방전 보호 소자.
A base substrate;
A pair of electrodes spaced apart from each other on the base substrate; And
And an organic insulating layer stacked on the pair of electrodes and the base substrate to integrally cover each of the electrodes.
The organic insulating layer is electrostatic discharge protection element, the cavity is disposed between the pair of the electrode formed therein.
한 쌍의 상기 전극은 상기 공동부 내에 노출되는, 정전기 방전 보호 소자.
The method of claim 1,
And a pair of said electrodes are exposed in said cavity.
상기 유기 절연층은 내부에 분산되어 배치되는 도체 입자를 포함하는, 정전기 방전 보호 소자.
The method of claim 1,
The organic insulating layer, the electrostatic discharge protection device comprising a conductor particle dispersed therein.
상기 도체 입자는 표면 상에 절연막이 형성되는, 정전기 방전 보호 소자.
The method of claim 3,
The conductor particle is an electrostatic discharge protection element, the insulating film is formed on the surface.
상기 유기 절연층은 에폭시, 폴리우레탄 및 실리콘 중 적어도 어느 하나를 포함하는 재질로 이루어지는, 정전기 방전 보호 소자.
The method according to any one of claims 1 to 4,
The organic insulating layer is made of a material containing at least one of epoxy, polyurethane, and silicon, electrostatic discharge protection device.
상기 전극, 상기 유기 절연층 및 상기 베이스 기판을 커버하도록 상기 전극, 상기 유기 절연층 및 상기 베이스 기판 상에 적층되어 형성되는 보호층;
을 더 포함하는 정전기 방전 보호 소자.
The method according to any one of claims 1 to 4,
A protective layer stacked on the electrode, the organic insulating layer, and the base substrate to cover the electrode, the organic insulating layer, and the base substrate;
Electrostatic discharge protection element further comprising.
상기 보호층은 에폭시 수지를 포함하는 재질로 이루어지는, 정전기 방전 보호 소자.
The method of claim 6,
The protective layer is made of a material containing an epoxy resin, electrostatic discharge protection device.
한 쌍의 상기 전극과 각각 전기적으로 연결되고, 상기 베이스 기판과 상기 보호층의 측면을 커버하도록 배치되는 한 쌍의 외부 전극;
을 더 포함하는 정전기 방전 보호 소자.
The method of claim 6,
A pair of external electrodes electrically connected to the pair of electrodes and disposed to cover side surfaces of the base substrate and the protective layer;
Electrostatic discharge protection element further comprising.
상기 베이스 기판과 상기 전극 상에 휘발성 용제를 함유하는 페이스트를 도포하는 단계;
상기 휘발성 용제를 휘발시켜 상기 전극 사이에 공동부를 형성하도록 상기 페이스트를 열처리하는 단계; 및
상기 페이스트를 경화시켜 유기 절연층을 형성하는 단계;
를 포함하는 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법.
Disposing a pair of electrodes spaced apart from each other on the base substrate;
Applying a paste containing a volatile solvent on the base substrate and the electrode;
Heat treating the paste to volatilize the volatile solvent to form a cavity between the electrodes; And
Curing the paste to form an organic insulating layer;
Method for producing an electrostatic discharge protection device comprising a.
상기 휘발성 용제는 PGMEA(Propylene Glycol Methyl Ether Acetate)인, 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법.
The method of claim 9,
The volatile solvent is PGMEA (Propylene Glycol Methyl Ether Acetate), the manufacturing method of the electrostatic discharge protection device.
상기 페이스트를 열처리하는 단계는 200℃이하에서 열처리를 실시하는, 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법.
The method of claim 9 or 10,
The heat treatment step of the paste is a heat treatment at 200 ℃ or less, the manufacturing method of the electrostatic discharge protection device.
상기 페이스트는 도체 입자가 충진되는 유기 바인더로 이루어지는, 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법.
The method of claim 9 or 10,
The paste is made of an organic binder filled with conductive particles, the electrostatic discharge protection device manufacturing method.
상기 도체 입자는 표면 상에 절연막이 형성되는, 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법.
The method of claim 12,
The conductor particle is a manufacturing method of the electrostatic discharge protection element, the insulating film is formed on the surface.
상기 유기 바인더는 에폭시, 폴리우레탄 및 실리콘 중 적어도 어느 하나를 포함하는 재질로 이루어지는, 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법.
The method of claim 12,
The organic binder is made of a material containing at least one of epoxy, polyurethane, and silicon, the method of manufacturing an electrostatic discharge protection device.
상기 유기 절연층을 형성하는 단계 이후에,
상기 전극, 상기 유기 절연층 및 상기 베이스 기판을 커버하는 보호층을 형성하는 단계;를 더 포함하는 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법.
The method of claim 9 or 10,
After forming the organic insulating layer,
And forming a protective layer covering the electrode, the organic insulating layer, and the base substrate.
상기 보호층은 에폭시 수지를 포함하는 재질로 이루어지는, 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법.
The method of claim 15,
The protective layer is made of a material containing an epoxy resin, the manufacturing method of the electrostatic discharge protection element.
상기 보호층을 형성하는 단계 이후에,
한 쌍의 상기 전극과 각각 전기적으로 연결되고, 상기 베이스 기판과 상기 보호층의 측면을 커버하도록 배치되는 한 쌍의 외부 전극을 형성하는 단계;를 더 포함하는 정전기 방전 보호 소자의 제조 방법.
The method of claim 15,
After forming the protective layer,
Forming a pair of external electrodes electrically connected to each of the pair of electrodes and disposed to cover side surfaces of the base substrate and the protective layer.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140187488A KR102048103B1 (en) | 2014-12-23 | 2014-12-23 | Electrostatic discharge protection device and method for manufacturing thereof |
CN201510964550.XA CN105722307B (en) | 2014-12-23 | 2015-12-21 | Electrostatic discharge protector and its manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140187488A KR102048103B1 (en) | 2014-12-23 | 2014-12-23 | Electrostatic discharge protection device and method for manufacturing thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20160076887A KR20160076887A (en) | 2016-07-01 |
KR102048103B1 true KR102048103B1 (en) | 2019-11-22 |
Family
ID=56146979
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140187488A KR102048103B1 (en) | 2014-12-23 | 2014-12-23 | Electrostatic discharge protection device and method for manufacturing thereof |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102048103B1 (en) |
CN (1) | CN105722307B (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110582817A (en) * | 2017-03-31 | 2019-12-17 | 东莞令特电子有限公司 | Circuit protection device including structurally resilient electrical transient material and method of making same |
CN107023128A (en) * | 2017-04-27 | 2017-08-08 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司曲靖局 | A kind of anti-static device |
KR102314494B1 (en) * | 2017-06-12 | 2021-10-20 | (주)아모텍 | Protection device for open mode, method for manufacturing the same, and electric apparatus with the same |
CN111048567B (en) * | 2019-12-24 | 2022-07-19 | 固安翌光科技有限公司 | Organic photoelectric device |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010061519A1 (en) * | 2008-11-26 | 2010-06-03 | 株式会社 村田製作所 | Esd protection device and method for manufacturing same |
WO2011104849A1 (en) * | 2010-02-25 | 2011-09-01 | 釜屋電機株式会社 | Electrostatic protection component and production method therefor |
JP2012014889A (en) * | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Murata Mfg Co Ltd | Esd protection device |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101008309B1 (en) * | 2008-07-21 | 2011-01-13 | 조인셋 주식회사 | ESD Protection Device Having Low Capacitance |
KR101439398B1 (en) * | 2010-02-04 | 2014-09-11 | 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 | Process for producing esd protection device, and esd protection device |
EP2626961B1 (en) * | 2010-09-30 | 2019-12-18 | TDK Corporation | Static-electricity countermeasure element |
CN103650267B (en) * | 2011-07-15 | 2015-09-02 | 株式会社村田制作所 | Esd protection device and manufacture method thereof |
-
2014
- 2014-12-23 KR KR1020140187488A patent/KR102048103B1/en active IP Right Grant
-
2015
- 2015-12-21 CN CN201510964550.XA patent/CN105722307B/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010061519A1 (en) * | 2008-11-26 | 2010-06-03 | 株式会社 村田製作所 | Esd protection device and method for manufacturing same |
WO2011104849A1 (en) * | 2010-02-25 | 2011-09-01 | 釜屋電機株式会社 | Electrostatic protection component and production method therefor |
JP2012014889A (en) * | 2010-06-30 | 2012-01-19 | Murata Mfg Co Ltd | Esd protection device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20160076887A (en) | 2016-07-01 |
CN105722307B (en) | 2019-07-30 |
CN105722307A (en) | 2016-06-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102048103B1 (en) | Electrostatic discharge protection device and method for manufacturing thereof | |
US9307632B2 (en) | Multilayered substrate and method of manufacturing the same | |
JP2020080419A (en) | Vertical switching configuration for ESD protection | |
US9043925B2 (en) | Method and apparatus for prevention of tampering and unauthorized extraction of information from microdevices | |
KR20070083691A (en) | Orientation-insensitive ultra-wideband coupling capacitor and method of making | |
US10332680B2 (en) | Composite electronic component | |
KR101630035B1 (en) | Resistance assembly for mobile device and manufacturing method thereof | |
TWI435340B (en) | Surface mount resistor with terminals for high-power dissipation and method for making same | |
CN111315126A (en) | Printed circuit board with integrated fusing and arc suppression | |
US20170162316A1 (en) | Coil component and power supply circuit unit | |
KR102356802B1 (en) | Paste for forming resist layer of chip resistor and chip resistor | |
KR102069626B1 (en) | Printed Circuit Board | |
JP2000114005A (en) | Ceramic electronic component | |
CN109300690B (en) | Composite electronic component and board having the same | |
US20170094771A1 (en) | Printed circuit board and electronic apparatus | |
CN206179611U (en) | Quick fin formula multilayer piezo -resistor | |
US9780533B2 (en) | ESD protective device | |
WO2018176366A1 (en) | Circuit protection apparatus including structurally resilient electrical transient material and method for making same | |
KR102609147B1 (en) | Complex electronic component | |
JP6311115B2 (en) | Circuit protection element and manufacturing method thereof | |
KR102480343B1 (en) | Electric shock protection device and mobile electronic device with the same | |
KR101696412B1 (en) | Semiconductive chip device having an air gap and method for manufacturing the same | |
WO2020037539A1 (en) | Surface mountable positive temperature coefficient device and method for making the same | |
KR100967696B1 (en) | Device for prevention electrostatic discharge on rapid transmission data communication line | |
JP2014135403A (en) | Printed circuit board and manufacturing method of the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |