KR102009870B1 - Apparatus for correcting image of nondestructive testing equipment - Google Patents
Apparatus for correcting image of nondestructive testing equipment Download PDFInfo
- Publication number
- KR102009870B1 KR102009870B1 KR1020180017676A KR20180017676A KR102009870B1 KR 102009870 B1 KR102009870 B1 KR 102009870B1 KR 1020180017676 A KR1020180017676 A KR 1020180017676A KR 20180017676 A KR20180017676 A KR 20180017676A KR 102009870 B1 KR102009870 B1 KR 102009870B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- filter
- radiation
- detector
- radiation dose
- driving
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
- G01N2223/303—Accessories, mechanical or electrical features calibrating, standardising
Abstract
Description
본 발명은 비파괴검사설비의 영상교정장치로서, 방사선으로 이용하여 획득하는 검출영상을 교정하는 비파괴검사설비의 영상교정장치에 관한 것이다.The present invention relates to an image calibration apparatus of a non-destructive inspection facility, and to an image calibration apparatus of a non-destructive inspection facility for correcting a detection image obtained by using radiation.
종래 비파괴검사설비는, 도 1에 도시된 바와 같이, 하나의 방사선원(10)과 복수 개의 픽셀(20a)로 이루어진 검출기(20)를 사용하는데, 균일한 방사선량(방사선 세기)의 영상을 획득하기 위해서 방사선원(10)의 타겟을 중심으로 하여 검출기(20)까지 동일한 거리를 유지하도록, 복수 개 픽셀(20a)로 이루어진 검출기(20)가 원호의 모양으로 설치 및 제작된다.Conventional non-destructive inspection equipment, as shown in Figure 1, using a
참고로, 도 1에서 복수 개의 픽셀(20a) 사이에 일정 간격 이격되어 표시된 복수 개의 점은, 복수 개의 픽셀(20a)에서 일부가 생략된 것을 의미한다.For reference, in FIG. 1, a plurality of dots displayed at predetermined intervals between the plurality of
그러나, 실제로 방사선원(10)과 검출기(20) 간에 동일한 거리를 유지하고 있다 하더라도 검출기(20)에서 검출되는 방사선량(방사선 세기)는, 도 2에 도시된 바와 같이 중앙부분의 픽셀(20a)이 가장 많고(방사선 세기가 강하고), 가장자리의 픽셀(20a)로 갈수록 적어지는(방사선 세기가 약해지는), 가우시안 곡선을 가지게 된다.However, even though the distance between the
이러한 현상은 검출기(20)의 각 픽셀(20a)에서 검출되는 방사선량이 다르다는 것을 의미하며, 이로 인해 투과 영상의 화질 불균형을 발생시킨다.This phenomenon means that the amount of radiation detected in each
또한, 낮은 에너지 영역의 방사선이 검출기(20)에 조사되는데, 이는 검출 영상의 노이즈 역할을 하여 영상의 질을 떨어뜨리는 문제점을 발생시킨다.In addition, the radiation of the low energy region is irradiated to the
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창안된 것으로서, 검출기에서 검출되는 방사선량을 균등하게 분포시키고, 설정수치보다 낮은 방사선에너지를 흡수하여 제거하는 비파괴검사설비의 영상교정장치를 제공하는 데에 그 목적이 있다.The present invention has been made to solve the above problems, and to provide an image calibration apparatus of a non-destructive inspection equipment for evenly distributing the amount of radiation detected by the detector, absorbing and removing radiation energy lower than the set value. Its purpose is.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따른 비파괴검사설비의 영상교정장치는, 비파괴검사설비에서 방사선이 방출되는 방출부에, 상기 방사선이 통과되도록 설치된 필터케이스; 상기 필터케이스의 내부에 배치되며, 검출기에서 검출되는 방사선량을 균등하게 분포시키고, 설정수치보다 낮은 방사선에너지를 흡수하여 제거하도록, 복수 개의 이동식 모듈구조로 구성된 필터유닛; 및 상기 필터유닛에 연결되며, 상기 필터유닛을 이동시키는 구동유닛;을 포함한다.In order to achieve the above object, the image calibration apparatus of the non-destructive inspection facility according to an embodiment of the present invention, the discharge unit in which the radiation is emitted from the non-destructive inspection facility, the filter case is installed so that the radiation passes; A filter unit disposed inside the filter case and configured to have a plurality of movable module structures so as to evenly distribute the radiation dose detected by the detector and to absorb and remove radiation energy lower than a set value; And a driving unit connected to the filter unit and moving the filter unit.
본 발명에 따른 비파괴검사설비의 영상교정장치는, 복수 개의 이동식 모듈구조인 필터유닛이 구성됨으로써, 검출기에서 검출되는 방사선량을 정밀하게 균등분포시키고, 설정수치보다 낮은 방사선에너지를 흡수하여 제거함으로써, 방사선 검출영상의 품질을 증대시킬 수 있는 효과를 가진다.The image calibration apparatus of the non-destructive inspection facility according to the present invention comprises a filter unit having a plurality of mobile module structures, thereby accurately and evenly distributing the radiation dose detected by the detector, and absorbing and removing radiation energy lower than the set value, It has the effect of increasing the quality of the radiation detection image.
도 1은 비파괴검사설비를 나타낸 측면도이다.
도 2는 다수의 검출기에서의 방사선량을 나타낸 그래프이다.
도 3 및 도 4는 본 발명에 따른 비파괴검사설비의 영상교정장치 내부를 나타낸 평면도 및 정면도이다.
도 5 및 도 6은 도 3의 비파괴검사설비의 영상교정장치에서 방사선량균등필터의 복수 개의 균등필터모듈이 이동되어 위치변경된 것을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 7 및 도 8은 도 3의 비파괴검사설비의 영상교정장치에서 에너지저감필터의 복수 개의 흡수필터모듈이 이동되어 위치변경된 것을 개략적으로 나타낸 도면이다.1 is a side view showing a non-destructive inspection equipment.
2 is a graph showing the radiation dose in a plurality of detectors.
3 and 4 are a plan view and a front view showing the inside of the image calibration apparatus of the non-destructive inspection equipment according to the present invention.
5 and 6 are views schematically showing that a plurality of uniform filter modules of a radiation dose equalization filter are moved and repositioned in the image calibration apparatus of the non-destructive inspection facility of FIG. 3.
7 and 8 are views schematically showing that a plurality of absorption filter modules of an energy saving filter are moved and repositioned in the image calibration apparatus of the non-destructive inspection facility of FIG. 3.
이하, 본 발명의 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명하기로 한다. 각 도면의 구성요소들에 도면부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail. In the reference numerals to the components of each drawing, it is noted that the same reference numerals are assigned to the same components as much as possible even though they are displayed on different drawings. In addition, in describing the present invention, when it is determined that the detailed description of the related well-known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.
도 3 및 도 4는 본 발명에 따른 비파괴검사설비의 영상교정장치 내부를 나타낸 평면도 및 정면도이며, 도 5 및 도 6은 도 3의 비파괴검사설비의 영상교정장치에서 방사선량균등필터의 복수 개의 균등필터모듈이 이동되어 위치변경된 것을 나타낸 도면이고, 도 7 및 도 8은 도 3의 비파괴검사설비의 영상교정장치에서 에너지저감필터의 복수 개의 흡수필터모듈이 이동되어 위치변경된 것을 나타낸 도면이다.3 and 4 are a plan view and a front view showing the inside of the image calibration device of the non-destructive testing equipment according to the present invention, Figures 5 and 6 are a plurality of uniformity of the radiation dose equalization filter in the image calibration device of the non-destructive testing equipment of FIG. 7 and 8 are views showing that the plurality of absorption filter modules of the energy saving filter are moved and changed in the image calibration apparatus of the non-destructive inspection facility of FIG. 3.
도면을 참조하면, 본 발명에 따른 비파괴검사설비의 영상교정장치는 필터케이스(100), 필터유닛(200), 및 구동유닛(300)을 포함한다.Referring to the drawings, the image calibration apparatus of the non-destructive inspection equipment according to the present invention includes a
여기에서, 상기 필터케이스(100)는 비파괴검사설비에서 방사선이 방출되는 방출부(11)에 설치된다. 참고로, 상기 방출부(11)는 팬콜리메이터 등이 활용될 수 있다.Here, the
이러한 필터케이스(100)는 방출부(11)의 방출홀(슬릿)(11a)을 통해 방출된 방사선이 통과할 수 있도록, 방출부(11)의 방출홀(11a)과 접하는 부분인 방출홀(11a) 측의 부분에는 제1 통과홀(100b)이 형성되고, 방출홀(11a)의 반대측 부분에는 제2 통과홀(100c)이 형성된다.The
이때, 상기 제1 통과홀(100b) 및 제2 통과홀(100c)은 방출홀(11a)보다 크기가 커서 방출홀(11a)을 통해 방출된 방사선이 필터케이스(100)에 의해 간섭되지 않고 계속적으로 나아가서 검출기(도 1의 20)까지 이를 수 있도록 한다.In this case, the first through
아울러, 상기 필터케이스(100)는 내부에 필터유닛(200)이 배치되어, 필터유닛(200)이 방사선을 선택적으로 간섭하게 위치변경될 수 있도록 적정한 내부공간(100a)을 가진다.In addition, the
그리고, 상기 필터유닛(200)은 필터케이스(100)의 내부에 배치되는데, 검출기에서 검출되는 방사선량을 균등하게 분포시키고, 이에 더하여 설정수치보다 낮은 방사선에너지를 흡수하여 제거하도록 구성된다.In addition, the
구체적으로, 상기 필터유닛(200)은 방사선량균등필터(210)와 에너지저감필터(220)를 구비할 수 있다.Specifically, the
만약, 검출기의 복수 개 픽셀(도 1의 20a)에서 검출되는 방사선량(방사선 세기)이 서로 다른 경우, 검출영상의 명암이 부분별로 서로 다르게 됨에 따라, 방사선 검출영상의 품질이 떨어지게 되는데 이러한 점을 방지하기 위해, 상기 필터유닛(200)은 방사선량균등필터(210)를 구비하여 검출기의 복수 개 픽셀에서 검출되는 방사선량을 균등하게 분포시킨다.If the radiation dose (radiation intensity) detected in a plurality of pixels (20a of FIG. 1) of the detector is different from each other, as the contrast of the detection image is different for each part, the quality of the radiation detection image is deteriorated. In order to prevent this, the
또한, 검출기에 낮은 에너지 영역의 방사선이 조사되는 경우, 낮은 에너지 영역의 방사선이 노이즈가 되어 방사선 검출영상의 품질을 떨어뜨리게 됨에 따라 이를 방지하기 위해, 상기 필터유닛(200)은 에너지저감필터(220)를 구비하여 설정수치보다 낮은 방사선에너지를 흡수하여 제거한다.In addition, when the radiation of the low energy region is irradiated to the detector, in order to prevent the radiation of the low energy region becomes noise to reduce the quality of the radiation detection image, the
나아가, 이러한 필터유닛(200)의 방사선량균등필터(210)와 에너지저감필터(220)는, 방사선량 균등분포와 낮은 방사선에너지 흡수제거를 보다 더 정밀하게 조절할 수 있도록, 복수 개의 이동식 모듈구조로 구성된다.Furthermore, the radiation
구체적인 구조를 살펴보면, 상기 방선량균등필터는 복수 개가 상기 필터케이스(100)의 내부에서 방사선의 방출방향으로 적층되고 방사선의 방출방향의 수직방향으로 적층되어, 각각 위치가변되는 균등필터모듈(211)을 가진다.Looking at a specific structure, a plurality of radiation dose equalization filter is laminated in the emission direction of the radiation in the interior of the
즉, 상기 방사선량균등필터(210)는 복수 개의 균등필터모듈(211)을 구비하는데, 상기 균등필터모듈(211)은 복수 개가 방사선의 방출방향으로 적층된 적층구조를 이루고, 이와 함께 방사선 방출방향의 수직방향으로도 적층된 적층구조를 이루게 되며, 복수 개 각각이 독립적으로 이동되어 각각 위치가 변할 수 있는 구조를 이루게 된다.That is, the radiation
이와 같이 균등필터모듈(211)이 도 3에 도시된 바와 같이, 복수 개가 방사선의 방출방향으로 적층된 적층구조로 이루어짐으로써, 만약 검출기에서 검출되는 방사선량이 많아서 방사선량을 줄이고 싶으면, 많은 수의 균등필터모듈(211)을 방사선의 방출루트 측으로 이동시켜 방사선을 필터링하면 되고, 만약 검출기에서 검출되는 방사선량이 적어서 방사선량을 늘리고 싶으면, 방사선을 필터링하고 있는 균등필터모듈(211)의 수를 줄여서, 즉 방사선의 방출루트에 위치된 복수 개의 균등필터모듈(211) 중에서 일부를 방사선의 방출루트로부터 이탈되도록 이동시키면 된다.As shown in FIG. 3, the
아울러, 균등필터모듈(211)은 도 4에 도시된 바와 같이, 방사선 방출방향의 수직방향으로도 적층된 적층구조로 이루어짐으로써, 검출기의 복수 개 픽셀(도 1의 20a)마다 다르게 방사선량이 조절될 수 있다.In addition, as shown in FIG. 4, the
일례로서, 검출기의 복수 개 픽셀 중에서 중앙부분의 픽셀 측으로 갈수록 방사선량이 많이 검출된다면, 도 5에 도시된 바와 같이 방사선 방출방향의 수직방향으로 복수 개가 배치된 균등필터모듈(211) 중에서 중앙부분으로 갈수록 더 많은 균등필터모듈(211)이 방사선의 방출루트 측으로 이동되어 방사선을 필터링함으로써, 검출기의 복수 개 픽셀 중에서 중앙부분의 픽셀 측으로 갈수록 방사선량을 더 많이 줄임에 따라, 검출기의 복수 개 픽셀 전체적으로 균등하게 방사선량이 검출될 수 있도록 할 수 있다.As an example, if the radiation dose is detected toward the pixel of the center portion of the plurality of pixels of the detector, as shown in Figure 5 toward the center portion of the
다른 일례로서, 검출기의 복수 개 픽셀 중에서 중앙부분이 아닌 일정부분의 픽셀 측으로 갈수록 방사선량이 많이 검출된다면, 도 6에 도시된 바와 같이 방사선 방출방향의 수직방향으로 복수 개가 배치된 균등필터모듈(211) 중에서 검출기의 일정부분 픽셀 측으로 가는 방사선의 방출루트 측으로 더 많은 균등필터모듈(211)이 이동되어 방사선을 필터링함에 따라, 검출기의 복수 개 픽셀 중에서 일정부분의 픽셀 측으로 갈수록 방사선량을 더 많이 줄임에 따라, 검출기의 복수 개 픽셀 전체적으로 균등하게 방사선량이 검출될 수 있도록 할 수 있다.As another example, if a large amount of radiation is detected toward the pixel portion of the detector instead of the central portion of the plurality of pixels of the detector, as illustrated in FIG. 6, a plurality of
종국적으로, 상기 균등필터모듈(211)이 복수 개가 필터케이스(100)의 내부에서 방사선의 방출방향으로 적층된 구조를 지닌 조건에서는 방사선량을 정밀하게 조절할 수 있고, 이에 더하여 복수 개가 방사선 방출방향의 수직방향으로 적층된 구조를 지닌 조건에서는, 검출기의 복수 개 픽셀 중에서 방사선량이 많이 검출된 픽셀에서의 방사선량을 필터링하여 줄임으로써, 검출기의 복수 개 픽셀 전체적으로 검출되는 방사선량을 균등하게 분포시킬 수 있다.Finally, in the condition that the
참고로, 도 3 및 도 4에서 복수 개의 균등필터모듈(211) 사이에서, 일정 간격 이격되어 표시된 복수 개의 점은, 복수 개 균등필터모듈(211)의 일부가 생략된 것을 의미한다.For reference, in FIG. 3 and FIG. 4, a plurality of dots displayed at regular intervals between the plurality of
한편, 상기 에너지저감필터(220)는 복수 개가 필터케이스(100)의 내부에서 방사선의 방출방향으로 적층되어, 각각 위치가변되는 흡수필터모듈(221)을 가진다.On the other hand, the
즉, 상기 에너지저감필터(220)는 복수 개의 흡수필터모듈(221)을 구비하는데, 상기 흡수필터모듈(221)은 복수 개가 방사선의 방출방향으로 적층된 적층구조를 이루며, 복수 개 각각이 독립적으로 이동되어 각각 위치가 변할 수 있는 구조를 이루게 된다.That is, the
이와 같이 흡수필터모듈(221)이 도 7에 도시된 바와 같이, 복수 개가 방사선의 방출방향으로 적층된 적층구조로 이루어짐으로써, 만약 흡수제거하고자 하는 방사선에너지의 수치가 높으면(검출영상에서 노이즈를 많이 제거하고자 한다면) 많은 수의 흡수필터모듈(221)을 방사선의 방출루트 측으로 이동시켜 방사선을 필터링하면 되고, 만약 흡수제거하고자 하는 방사선에너지의 수치가 낮으면(검출영상에서 노이즈를 적게 제거하고자 한다면) 적은 수의 흡수필터모듈(221)을 방사선의 방출루트 측으로 이동시켜 방사선을 필터링하면 된다.As shown in FIG. 7, the
그리고, 상기 에너지저감필터(220)와 방사선량균등필터(210)는, 방사선의 방출방향으로 순차적으로 배치되는 것이 바람직하다.In addition, the
즉, 상기 에너지저감필터(220)가 방사선의 방출방향으로 먼저 배치되고, 이어서 방사선량균등필터(210)가 배치될 수 있다.That is, the
다시 말해, 상기 에너지저감필터(220)와 방사선량균등필터(210)는 방출부(11)로부터 방출되는 방사선이 에너지저감필터(220)에 의해 필터링된 후, 방사선량균등필터(210)에 의해 필터링되도록 하는 배치구조를 이룰 수 있다.In other words, the
만약, 이와 반대로 방사선이 방사선량균등필터(210)에 의해 필터링된 다음 에너지저감필터(220)에 의해 필터링된다면, 방사선량균등필터(210)에 의해 균등하게 분포된 방사선량을 가진 방사선이 에너지저감필터(220)에 의해 필터링되면서 일정 부분이 비균등하게 될 수 있기 때문에, 본 발명과 같이 검출영상에서 노이즈로 구현되는 낮은 방사선에너지를 먼저 에너지저감필터(220)에 의해 제거한 후, 마지막으로 방사선량균등필터(210)에 의해 방사선량을 균등하게 분포시키는 것이 바람직하다.On the contrary, if the radiation is filtered by the radiation
한편, 상기 구동유닛(300)은 상술된 필터유닛(200)에 연결되며, 필터유닛(200)을 이동시키도록 구성된다.On the other hand, the
이러한 구동유닛(300)은 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 구동연결바(310)와 필터구동부재(320)를 구비할 수 있다.As shown in FIGS. 3 and 4, the driving
구체적으로, 상기 구동연결바(310)는 복수 개가 제공되는데, 복수 개의 균등필터모듈(211) 각각과 연결되고, 복수 개의 흡수필터모듈(221) 각각과 연결된다.Specifically, a plurality of drive connection bars 310 are provided, which are connected to each of the plurality of
즉, 구동연결바(310)는 한 개가 균등필터모듈(211) 한 개와 연결되고, 다른 한 개가 흡수필터모듈(221) 한 개와 연결됨으로써, 복수 개의 균등필터모듈(211) 및 복수 개의 흡수필터모듈(221)과 대응되게 복수 개가 마련된다.That is, one
이와 같이 구동연결바(310)는 일단부가 균등필터모듈(211) 또는 흡수필터모듈(221)과 연결되고, 필터케이스(100)를 관통하여 외부로 연장됨으로써, 필터케이스(100)의 외부에 배치된 필터구동부재(320)와 타단부가 연결된다.As such, the
참고로, 도 3 및 도 4에서 복수 개의 필터구동부재(320) 사이에서, 일정 간격 이격되어 표시된 복수 개의 점은, 복수 개 필터구동부재(320)의 일부가 생략된 것을 의미한다.For reference, among the plurality of
그리고, 상기 필터구동부재(320)는 필터케이스(100)의 일측 외면에 설치되며, 복수 개의 구동연결바(310) 각각을 독립적으로 이동시키도록 구성된다.In addition, the
이때, 상기 필터구동부재(320)는 복수 개의 구동연결바(310) 각각을 독립적으로 이동시키도록 구성되면 될 뿐, 본 발명에 의해 구체적인 구조가 한정되지 않고 모터, 실린더 등 종래의 어떠한 구동부재도 활용될 수 있음은 물론이다.At this time, the
또한, 상기 구동연결바(310)는 비록 도면 상으로는 길이가 짧게 보이지만, 이에 한정되지 않고 균등필터모듈(211) 및 흡수필터모듈(221)이 방출홀을 통과한 방사선을 필터링하도록 방사선 방출루트 측으로 이동시킬 수 있는 충분한 길이를 가짐은 물론이다.In addition, although the
이에 더하여, 상기 구동유닛(300)은 원위치푸쉬부재(330)와 원위치구동부재(340)를 더 구비할 수 있다.In addition, the driving
여기에서, 상기 원위치푸쉬부재(330)는 필터케이스(100)의 내부에서 배치되어, 방사선량균등필터(210)와 에너지저감필터(220)를 필터케이스(100)의 일측 방향으로 밀어내도록 구성된다.Here, the in-
이러한 원위치푸쉬부재(330)는 방사선량균등필터(210)와 에너지저감필터(220)를 모두 푸쉬할 수 있도록, 도면에 도시된 바와 같이 T자 형상을 취할 수 있지만 이에 한정되지 않고 안정적이면서도 원활하게 방사선량균등필터(210)와 에너지저감필터(220)를 동시에 푸쉬할 수 있는 구조라면 어떠한 구조도 취할 수 있음은 물론이다.The in-
또한, 상기 원위치구동부재(340)는 필터케이스(100)의 타측 외면에 설치되며, 원위치푸쉬부재(330)와 연결되어 원위치푸쉬부재(330)를 왕복이동시키도록 구성된다. 이때, 상기 원위치구동부재(340)는 원위치푸쉬부재(330)를 왕복이동시키도록 구성되면 될 뿐, 본 발명에 의해 구체적인 구조가 한정되지 않고 모터, 실린더 등 종래의 어떠한 구동부재도 활용될 수 있음은 물론이다.In addition, the home
이와 같이 구성되는 원위치푸쉬부재(330)와 원위치구동부재(340)는, 방사선량균등필터(210)와 에너지저감필터(220) 모두를 동시에 방사선 방출루트에서 벗어나도록 필터케이스(100)의 일측으로 푸쉬할 수 있음에 따라, 본 발명에 따른 비파괴검사설비의 영상교정장치가 사용된 후, 즉 방사선량균등필터(210)와 에너지저감필터(220)로 방사선이 필터링된 후 방사선량균등필터(210)와 에너지저감필터(220)를 빠른 시간내에 용이하게 원위치로 복귀시키는 초기화를 구현할 수 있다.The in-
참고, 상기 원위치푸쉬부재(330)는 비록 도면 상으로는 길이가 짧게 보이지만, 이에 한정되지 않고 균등필터모듈(211) 및 흡수필터모듈(221)을 원위치로 이동시킬 수 있는 충분한 길이를 가짐은 물론이다.Note that, although the in-
나아가, 본 발명에 따른 비파괴검사설비의 영상교정장치는, 비록 도면에 도시되지는 않았지만 측정부재와 제어부재를 더 포함할 수 있다.Furthermore, the image calibration apparatus of the non-destructive inspection facility according to the present invention may further include a measuring member and a control member, although not shown in the drawing.
여기에서, 상기 측정부재는 검출기에 설치되어, 검출기에서 검출되는 방사선량을 측정한다.Here, the measuring member is installed in the detector to measure the amount of radiation detected by the detector.
또한, 상기 제어부재는 측정부재 및 필터구동부재(320)와 전기적으로 연계되어, 측정부재의 측정치를 따라 실시간으로 필터구동부재(320)를 제어하도록 구성된다.In addition, the control member is electrically connected to the measuring member and the
이에 따라, 측정부재에 의하여 계속적으로 방사선량과 방사선에너지를 측정하고, 제어부재가 측정부재의 측정치를 수신하여 실시간으로 방사선량의 균등분포에 대한 체크와 설정치보다 낮은 방사선에너지 제거에 대한 체크를 하여, 이러한 데이터를 바탕으로 필터구동부재(320)를 제어함으로써, 검출기에 있어서의 방사선량의 균등분포와 함께 설정치보다 낮은 방사선에너지 제거를 실시간 및 자동으로 구현할 수 있다.Accordingly, the radiation member and the radiation energy are continuously measured by the measuring member, and the control member receives the measured value of the measuring member to check the distribution of the radiation dose in real time and to remove the radiation energy lower than the set value. By controlling the
결과적으로, 본 발명에 따른 비파괴검사설비의 영상교정장치는, 복수 개의 이동식 모듈구조인 필터유닛(200)이 구성됨으로써, 검출기에서 검출되는 방사선량을 정밀하게 균등분포시키고, 설정수치보다 낮은 방사선에너지를 흡수하여 제거함으로써, 방사선 검출영상의 품질을 증대시킬 수 있다.As a result, in the image calibration apparatus of the non-destructive inspection equipment according to the present invention, the
이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형 가능함은 물론이다.As described above, although the present invention has been described by way of limited embodiments and drawings, the present invention is not limited thereto and is intended by those skilled in the art to which the present invention pertains. Of course, various modifications and variations are possible within the scope of equivalents of the claims to be described.
100 : 필터케이스 100a : (필터케이스의)내부공간
100b : 제1 통과홀 100c : 제2 통과홀
200 : 필터유닛 210 : 방사선량균등필터
211 : 균등필터모듈 220 : 에너지저감필터
221 : 흡수필터모듈 300 : 구동유닛
310 : 구동연결바 320 : 필터구동부재
330 : 원위치푸쉬부재 340 : 원위치구동부재100: filter
100b:
200: filter unit 210: radiation dose equalization filter
211: equal filter module 220: energy saving filter
221: absorption filter module 300: drive unit
310: driving connecting bar 320: filter driving member
330: home position push member 340: home position driving member
Claims (6)
상기 필터유닛은, 복수 개가 상기 필터케이스의 내부에서 상기 방사선의 방출방향으로 적층되고 상기 방사선의 방출방향의 수직방향으로 적층되어, 각각 위치가변되는 균등필터모듈을 가진 방사선량균등필터; 및 복수 개가 상기 필터케이스의 내부에서 상기 방사선의 방출방향으로 적층되어, 각각 위치가변되는 흡수필터모듈을 가진 에너지저감필터;를 구비하는 것을 특징으로 하는 비파괴검사설비의 영상교정장치.
A filter case installed so as to allow the radiation to pass through the emission portion where the radiation is emitted from the non-destructive inspection facility; A filter unit disposed inside the filter case and configured to have a plurality of movable module structures so as to evenly distribute the radiation dose detected by the detector and to absorb and remove radiation energy lower than a set value; And a driving unit connected to the filter unit and moving the filter unit.
The filter unit may include: a radiation dose equalization filter having a uniform filter module, a plurality of which are stacked in a direction in which the radiation is emitted and vertically in a direction in which the radiation is emitted, inside the filter case; And an energy reduction filter having a plurality of absorbing filter modules stacked in the emission direction of the radiation inside the filter case, the positions of which are respectively changed.
상기 에너지저감필터와 방사선량균등필터는, 상기 방사선의 방출방향으로 순차적으로 배치된 것을 특징으로 하는 비파괴검사설비의 영상교정장치.
The method of claim 1,
And the energy reduction filter and the radiation dose equalization filter are sequentially disposed in the emission direction of the radiation.
상기 구동유닛은,
복수 개의 상기 균등필터모듈 각각과 연결되고, 복수 개의 상기 흡수필터모듈 각각과 연결되며, 상기 필터케이스를 관통하는 복수 개의 구동연결바; 및
상기 필터케이스의 일측 외면에 설치되고 상기 구동연결바와 연결되며, 복수 개의 상기 구동연결바 각각을 독립적으로 이동시키는 필터구동부재;
를 구비하는 것을 특징으로 하는 비파괴검사설비의 영상교정장치.
The method of claim 1,
The drive unit,
A plurality of driving connecting bars connected to each of the plurality of equal filter modules and connected to each of the plurality of absorption filter modules and penetrating the filter case; And
A filter driving member installed at one outer surface of the filter case and connected to the driving connecting bar and independently moving each of the plurality of driving connecting bars;
Image calibration apparatus of non-destructive inspection equipment, characterized in that it comprises a.
상기 구동유닛은,
상기 필터케이스의 내부에서 배치되어, 상기 방사선량균등필터와 에너지저감필터를 상기 필터케이스의 일측 방향으로 밀어내는 원위치푸쉬부재; 및
상기 필터케이스의 타측 외면에 설치되며, 상기 원위치푸쉬부재와 연결되어 상기 원위치푸쉬부재를 왕복이동시키는 원위치구동부재;
를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 비파괴검사설비의 영상교정장치.
The method of claim 4, wherein
The drive unit,
An in-situ push member disposed in the filter case to push the radiation dose equalization filter and the energy reduction filter toward one side of the filter case; And
An in-situ driving member installed on the other outer surface of the filter case and connected to the in-situ push member to reciprocate the in-situ push member;
Image calibration apparatus of the non-destructive inspection equipment, characterized in that it further comprises.
상기 검출기에 설치되어, 상기 검출기에서 검출되는 방사선량을 측정하는 측정부재; 및
상기 측정부재 및 상기 필터구동부재와 전기적으로 연계되어, 상기 측정부재의 측정치를 따라 실시간으로 상기 필터구동부재를 제어하는 제어부재;
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비파괴검사설비의 영상교정장치.
The method of claim 4, wherein
A measuring member installed in the detector to measure a radiation dose detected by the detector; And
A control member electrically connected to the measuring member and the filter driving member to control the filter driving member in real time according to the measured value of the measuring member;
Imaging apparatus of the non-destructive inspection equipment, characterized in that it further comprises.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180017676A KR102009870B1 (en) | 2018-02-13 | 2018-02-13 | Apparatus for correcting image of nondestructive testing equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180017676A KR102009870B1 (en) | 2018-02-13 | 2018-02-13 | Apparatus for correcting image of nondestructive testing equipment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR102009870B1 true KR102009870B1 (en) | 2019-08-12 |
Family
ID=67624633
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020180017676A KR102009870B1 (en) | 2018-02-13 | 2018-02-13 | Apparatus for correcting image of nondestructive testing equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102009870B1 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60109043U (en) * | 1983-12-27 | 1985-07-24 | 株式会社東芝 | Radiation void rate meter |
JPH03191850A (en) * | 1989-12-20 | 1991-08-21 | Aloka Co Ltd | Component analyzing apparatus using x rays |
JPH0686832A (en) | 1992-09-07 | 1994-03-29 | Hitachi Medical Corp | Static radiation treatment apparatus |
JP2009543083A (en) * | 2006-07-11 | 2009-12-03 | カール ツァイス インドゥストリエレ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | Apparatus for generating electromagnetic beam and method of operating apparatus |
JP2017116282A (en) * | 2015-12-21 | 2017-06-29 | 浜松ホトニクス株式会社 | Radiation detection device, radiation inspection system, and radiation detection device adjustment method |
-
2018
- 2018-02-13 KR KR1020180017676A patent/KR102009870B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60109043U (en) * | 1983-12-27 | 1985-07-24 | 株式会社東芝 | Radiation void rate meter |
JPH03191850A (en) * | 1989-12-20 | 1991-08-21 | Aloka Co Ltd | Component analyzing apparatus using x rays |
JPH0686832A (en) | 1992-09-07 | 1994-03-29 | Hitachi Medical Corp | Static radiation treatment apparatus |
JP2009543083A (en) * | 2006-07-11 | 2009-12-03 | カール ツァイス インドゥストリエレ メステヒニク ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | Apparatus for generating electromagnetic beam and method of operating apparatus |
JP2017116282A (en) * | 2015-12-21 | 2017-06-29 | 浜松ホトニクス株式会社 | Radiation detection device, radiation inspection system, and radiation detection device adjustment method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9052271B2 (en) | Versatile x-ray beam scanner | |
US9014339B2 (en) | Versatile x-ray beam scanner | |
DE2409563C2 (en) | Method for optical target tracking and device for carrying out the method | |
DE3518653C2 (en) | ||
DE112019000521B4 (en) | Additive manufacturing system and additive manufacturing process | |
EP3155407B1 (en) | Device and method for measuring distortion defects in a manufactured float glass strip | |
DE2915899A1 (en) | METHOD AND DEVICE FOR INSPECTION OF BODIES HAVING A VARIETY OF PARALLEL CHANNELS THROUGHOUT THE BODY | |
DE102010043632A1 (en) | Method for checking the operation of an inspection device and device for inspecting a product flow | |
KR20150139463A (en) | Multi-charged particle beam writing method and multi-charged particle beam writing device | |
DE102015112441A1 (en) | X-ray inspection apparatus and foreign matter detection method | |
DE102015122712A1 (en) | Apparatus and method for image acquisition | |
KR102009870B1 (en) | Apparatus for correcting image of nondestructive testing equipment | |
EP0315099B1 (en) | Device for the omnidirectional examination of a vehicle tyre by x-rays during one rotation of the rotatably supported tyre | |
KR20190049989A (en) | Manufacturing method of deposition mask | |
DE102007049133A1 (en) | Device for determining the position of at least one structure on an object, using a lighting device for the device and using protective gas for the device | |
DE102007057011B4 (en) | Detecting device and method for detecting damage of a solar cell by means of photoluminescence | |
TWI655516B (en) | Multi-beam inspection aperture, multi-beam beam inspection device, and multi-charged particle beam drawing device | |
CN109074887B (en) | X-ray tube and gamma source focal spot adjustment device and method | |
EP3903126A2 (en) | X-ray detector device, glass body for shielding optical detector means of a workpiece measuring device, and x-ray tomography workpiece measuring system | |
DE102006062776A1 (en) | Method and device for thickness measurement | |
DE102009047324A1 (en) | Hand-held device for calibrating optical sensor e.g. fixed irradiating linear detection and ranging sensor, in vehicle at e.g. workshop, has multipixel detector, and faceplate mask arranged in optical path between sensor and detector | |
WO2018099778A1 (en) | Apparatus for recording full-area images of a cell culture plate having one or more cavities | |
DE19852321C2 (en) | Optical radiation measuring device | |
DE102018132025A1 (en) | Industrial x-ray workpiece measurement system and method for operating such | |
DE102018201247A1 (en) | An object transmission device and method for determining a state of an object transmission device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |