KR101942931B1 - Strip correction system and method of the same - Google Patents
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Abstract
본 발명의 실시예에 따른 스트립 교정 시스템은 스트립이 권취되는 페이오프릴(PAY OFF REEL); 상기 페이오프릴에 권취된 상기 스트립을 공급받아 상기 스트립을 절단하는 시어(SHEAR); 상기 스트립이 시어로 진입하는 것을 감지하는 감지부; 상기 감지부에 의하여 상기 스트립이 감지되지 않을 경우, 상기 스트립의 구부러짐 여부를 측정하는 측정부; 및 상기 페이오프릴, 상기 시어, 상기 감지부 및 상기 측정부를 제어하는 제어부;를 포함한다.A strip calibration system according to an embodiment of the present invention includes a PAY OFF REEL to which a strip is wound; A SHEAR that receives the strip wound on the pheriphal and cuts the strip; A sensing unit sensing that the strip enters the sheath; A measuring unit for measuring whether the strip is bent when the strip is not detected by the sensing unit; And a controller for controlling the phage prills, the sheer, the sensing unit, and the measuring unit.
Description
본 발명은 스트립 교정 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 연속 소둔 작업이 완료된 스트립에 적용되는 스트립 교정 시스템에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
일반적으로 연속 소둔 작업이 완료된 스트립은 페어오프릴에 장착 후 스트립에 발생된 결합부를 제거하는 시어 설비로 공급된다. 즉, 페이오프릴에 코일 형태로 권취된 스트립은 시어로 공급되어 스트립의 결함부가 절단된다.In general, the strips having been subjected to the continuous annealing process are supplied to a shear facility for removing the joint portions generated on the strip after mounting on the pair of opril. That is, the strip wound in the form of a coil on the phage prill is fed to the shear so that the defective portion of the strip is cut.
이때, 스트립은 페이오프릴을 통해 시어로 공급되면서 응력에 의해서 선단부가 구부러지는 변형인 루프가 발생된다. 이러한 루프가 발생된 스트립은 시어 설비로 스트립의 공급을 가이드 하는 핀치롤을 통과하지 못하게 된다. At this time, the strip is supplied to the sheath through the phage prill to generate a loop in which the tip is bent by the stress. This looped strip will not pass through the pinch rolls guiding the feed of the strip to the shear facility.
이에, 스트립은 시어 설비로 진입되지 못하고, 시어 설비의 전방 측에서 스트립의 걸림 현상으로 스트립이 시어로 통판되지 못하는 문제점이 있다. 상기와 같은 스트립의 걸림 현상은 시어를 통해서 절단된 각각의 스트립을 용접하기 위한 스트립의 공급을 지연시켜 스트립의 생산성을 저하시키는 문제점이 있다.Accordingly, the strip can not enter the shear facility, and the strip can not be sent to the shear due to the trapping of the strip on the front side of the shear facility. The above-mentioned trapping of the strips causes a problem in that the productivity of the strips is lowered by delaying the supply of the strips for welding the respective strips cut through the sheer.
또한, 스트립의 루프를 교정하기 위하여, 스트립을 공급하는 페이오프릴을 수동으로 정지하고 스트립의 루프가 발생하는 부분을 수동으로 제거하여야 하므로, 이에 따른 작업 시간의 증가에 따라 스트립 생산성이 저하되는 문제점이 있다.In addition, in order to correct the loop of the strip, the feedforward which feeds the strip is manually stopped and the portion where the strip is looped is manually removed. As a result, the productivity of the strip is lowered .
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 스트립의 선단부에 구부러짐이 발생 시 스트립의 구부러짐을 자동으로 교정하여, 스트립의 구부러짐으로 인한 스트립의 통판 장애를 방지하여, 스트립의 생산성을 높일 수 있는 스트립 교정 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a strip calibration system capable of automatically correcting bending of a strip when bending occurs at the tip of the strip to prevent the strip from being damaged due to bending of the strip and to improve the productivity of the strip .
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급된 과제에 국한되지 않으며 여기서 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems to be solved by the present invention are not limited to the above-mentioned problems, and other problems not mentioned here can be understood by those skilled in the art from the following description.
본 발명의 실시예에 따른 스트립 교정 시스템은 스트립이 권취되는 페이오프릴(PAY OFF REEL); 상기 페이오프릴에 권취된 상기 스트립을 공급받아 상기 스트립을 절단하는 시어(SHEAR); 상기 스트립이 시어로 진입하는 것을 감지하는 감지부; 상기 감지부에 의하여 상기 스트립이 감지되지 않을 경우, 상기 스트립의 구부러짐 여부를 측정하는 측정부; 및 상기 페이오프릴, 상기 시어, 상기 감지부 및 상기 측정부를 제어하는 제어부;를 포함한다.A strip calibration system according to an embodiment of the present invention includes a PAY OFF REEL to which a strip is wound; A SHEAR that receives the strip wound on the pheriphal and cuts the strip; A sensing unit sensing that the strip enters the sheath; A measuring unit for measuring whether the strip is bent when the strip is not detected by the sensing unit; And a controller for controlling the phage prills, the sheer, the sensing unit, and the measuring unit.
또한, 상기 감지부와 상기 측정부 사이에 배치되며, 상기 스트립을 상기 페이오프릴로부터 상기 시어로 가이드하기 위한 핀치롤; 및 상기 측정부와 상기 페이오프릴 사이에 배치되며, 상기 측정부에 의하여 측정된 상기 스트립의 구부러짐을 교정하는 교정부;를 더 포함하며, 상기 핀치롤과 상기 교정부는 상기 제어부에 의해 제어될 수 있다.A pinch roll disposed between the sensing unit and the measuring unit for guiding the strip from the paper prill to the sheath; And a calibration unit disposed between the measurement unit and the paper prill to calibrate the bending of the strip measured by the measuring unit, wherein the pinch roll and the calibration unit can be controlled by the control unit have.
또한, 상기 감지부는 제1 광 센서를 포함하며, 상기 스트립의 미 진입을 감지한 경우, 미 진입 신호를 상기 제어부로 송출할 수 있다.In addition, the sensing unit may include a first optical sensor, and may transmit an uninitialized signal to the controller when it detects that the strip has not entered.
또한, 상기 제어부가 상기 미 진입 신호를 수신한 경우 상기 스트립을 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동시킬 수 있다.In addition, when the controller receives the non-entry signal, the controller may move the strip in a direction from the sheer toward the page prill.
또한, 상기 측정부는 제2 광 센서를 포함하며, 상기 스트립이 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동 시 상기 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 상기 스트립의 선단부 까지의 높이 변화에 따른 높이차를 측정하고, 상기 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 상기 스트립이 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동한 길이에 따른 거리차를 측정할 수 있다.The measuring unit may include a second optical sensor and may include a second optical sensor for detecting a height difference from a starting point at which the strip starts to be bent when the strip is moved in the direction from the shear toward the paper prill to a tip of the strip, And measure the distance difference according to the length of the strip from the starting point where the bending of the strip starts to the leading end of the strip in the direction from the shear toward the page prill.
또한, 상기 제어부는 상기 측정부에서 스트립의 높이차와 상기 스트립의 길이차 측정되면, 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동하는 스트립의 선단부와 상기 제2 광 센서가 정렬되도록 스트립의 이동을 정지시킬 수 있다.In addition, when the height difference of the strip and the length difference of the strip are measured in the measuring unit, the control unit controls the movement of the strip so that the second optical sensor is aligned with the leading end of the strip moving in the direction from the sheer toward the page prill. Can be stopped.
또한, 상기 제어부는 상기 측정부에서 상기 스트립의 높이차와 상기 스트립의 길이차가 측정되면, 상기 핀치롤을 상하로 개방시킬 수 있다.In addition, the control unit may open the pinch roll up and down when the height difference of the strip and the length difference of the strip are measured in the measuring unit.
또한, 상기 교정부는 상기 스트립의 상부에서 상하로 이동 가능하게 배치되며, 상기 스트립의 구부러짐을 교정할 수 있는 가압 롤러를 포함할 수 있다.In addition, the calibration section may include a pressure roller that is disposed to be movable up and down at an upper portion of the strip, and can correct the bending of the strip.
또한, 상기 제어부는 상기 측정부에서 상기 스트립의 높이차와 상기 스트립의 길이차가 측정되면, 상기 가압 롤러를 상기 스트립에 상부에 위치시키고, 상기 가압 롤러를 상기 측정부에서 측정된 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 스트립의 길이 방향을 따라 이동 시켜 상기 스트립의 구부러짐을 교정 시킬 수 있다.In addition, when the height difference of the strip and the length difference of the strip are measured in the measuring unit, the controller places the pressure roller on the strip, and when the pressure roller measures the bending of the strip measured by the measuring unit So that the bending of the strip can be corrected by moving the strip along the longitudinal direction of the strip from the starting point to the leading end of the strip.
또한, 상기 제어부는 상기 가압 롤러가 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 상기 스트립의 길이 방향으로 이동하여 상기 스트립의 구부러짐을 교정 시 상기 측정부에서 측정된 스트립의 높이차가 상기 핀치롤의 개방 높이 보다 낮게 되면, 상기 가압 롤러의 구동을 정지시킬 수 있다.The control unit may further include a control unit for controlling the pressing roller so that the height difference of the strip measured by the measuring unit when the pressing roller moves from the starting point where the bending of the strip starts to the leading end of the strip in the longitudinal direction of the strip, The driving of the pressure roller can be stopped.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 스트립 교정 방법은 페이오프릴에 권취된 스트립을 시어로 진입 시키는 스트립 진입 단계; 상기 스트립 진입 단계에서 상기 스트립을 미 진입을 감지하는 스트립 감지 단계; 및 상기 스트립 감지 단계에서 상기 스트립의 미 진입을 감지 시 상기 스트립의 변형을 측정하는 스트립 측정 단계; 를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a strip calibration method comprising: a strip entering step of entering a strip wound on a phage prill to a shear; A strip sensing step of sensing that the strip is not entered in the strip entering step; And a strip measuring step of measuring a deformation of the strip when the strip is not entered in the strip sensing step; .
또한, 상기 스트립 감지 단계는 상기 시어로 상기 스트립의 미 진입을 감지한 경우, 미 진입 신호를 상기 제어부로 송출하는 신호 송출 단계; 및 상기 신호 송출 단계에서 상기 스트립의 미 진입 신호가 송출되면, 상기 제어부가 상기 스트립을 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 상기 스트립을 이동 시키는 스트립 이동 단계;를 더 포함할 수 있다.In addition, the sensing of the strip may include transmitting a signal to the control unit when the strip does not enter the strip in the sheer; And a strip moving step of moving the strip in a direction from the sheer toward the page prill when the control unit transmits an uninitiated signal of the strip in the signal sending step.
또한, 상기 스트립 측정 단계에는 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동하는 상기 스트립의 구부려짐을 감지하고, 상기 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 상기 스트립의 선단부 까지의 높이 변화에 따른 높이차를 제2 광 센서가 측정하는 높이 측정단계; 상기 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 상기 스트립이 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동한 길이에 따른 거리차를 제2 광 센서가 측정하는 길이 측정 단계; 및 상기 높이 측정 단계와 길이 측정 단계에서, 상기 제2 광 센서가 상기 스트립의 높이차와 길이차를 측정하면, 상기 제2 광 센서는 스트립의 구부러진 정보를 상기 제어부로 송출하는 정보 송출 단계;를 포함할 수 있다.The strip measuring step may include detecting a bending of the strip moving in a direction from the shear toward the page prill and changing a height difference according to a change in height from a start point of the bending of the strip to a tip of the strip, A height measuring step of measuring by a second optical sensor; Measuring a distance by a second optical sensor from a starting point at which bending of the strip starts to a leading end of the strip, the distance difference being a length of the strip in a direction from the shear toward the facry prill; And transmitting the bent information of the strip to the control unit when the second photosensor measures a height difference and a length difference of the strip in the height measuring step and the length measuring step .
또한, 상기 정보 송출 단계에는 상기 스트립의 구부러진 정보를 상기 제어부가 수신 받으면, 상기 제어부가 상기 시어로 상기 스트립을 가이드 하는 핀치롤을 상하로 개방하는 핀치롤 개방 단계; 상기 스트립의 구부러진 정보를 상기 제어부가 수신 받으면, 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동하는 상기 스트립의 선단부와 상기 제2 광 센서가 정렬되도록 상기 스트립의 이동을 정지시키는 스트립 정지단계; 및 상기 스트립 정렬단계에서 정렬된 상기 스트립의 구부러짐을 교정하는 스트립 교정 단계;를 포함할 수 있다.In the information transmitting step, when the control unit receives the bent information of the strip, the control unit may open the pinch roll up and down to guide the strip with the sheer. Stopping the movement of the strip so that the tip of the strip moving in the direction from the sheer toward the page prism and the second photosensor are aligned when the controller receives the bent information of the strip; And a strip calibration step of calibrating bending of the strip aligned in the strip alignment step.
또한, 상기 스트립 교정 단계에는 상기 제어부가 가압 롤러를 상기 스트립의 상부로 위치시키고, 상기 길이 측정 단계에서 스트립의 길이차가 측정되면, 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 스트립의 길이 방향을 따라 상기 가압 롤러를 이동 시켜 상기 스트립의 구부러짐을 교정 시킬 수 있다.In addition, in the strip calibration step, the control unit positions the pressure roller to the upper portion of the strip, and when the length difference of the strip is measured in the length measuring step, the length direction of the strip from the starting point, at which the bending of the strip starts, The bending of the strip can be corrected by moving the pressure roller.
또한, 상기 스트립 교정 단계에는 상기 가압 롤러가 상기 길이 산출 단계에서 산출된 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 스트립의 길이 방향을 따라 이동하여 스트립의 구부러짐을 교정 시 상기 높이 측정단계에서 측정된 스트립의 높이차가 상기 핀치롤의 개방 높이 보다 낮게 되면, 상기 가압 롤러의 구동을 정지하고, 상기 스트립을 상기 페이오프릴로부터 상기 시어로 향하는 방향으로 이동 시켜 상기 시어로 상기 스트립을 재공급할 수 있다.Further, in the strip calibration step, the pressure roller moves along the longitudinal direction of the strip from the starting point where the bending of the strip calculated in the length calculating step is started to the front end of the strip, and when the bending of the strip is corrected, The driving of the pressure roller is stopped and the strip is moved in the direction from the paper prill toward the sheer to re-supply the strip to the sheath when the difference in height of the strip is lower than the open height of the pinch roll .
상기와 같은 구성을 갖는 본 발명의 실시예에 따르면, 스트립 선단부가 구부러지는 변형인 루프를 실시간으로 파악할 수 있으며, 스트립 선단부의 루프를 빠르게 교정하여, 스트립 선단부 루프에 의한 통판 장애를 해결할 수 있다.According to the embodiment of the present invention having the above-described configuration, it is possible to grasp the loop in which the strip end is bent, in real time, and quickly correct the loop of the strip end, thereby solving the problem of the transmission end caused by the strip end loop.
또한, 스트립 선단부 루프에 따른 스트립의 걸림을 방지하여, 시어로 스트립의 원활한 진입을 유도하여, 스트립의 생산성 향상을 유도할 수 있다.In addition, it is possible to prevent the strip from being caught by the loop at the tip end of the strip, thereby inducing smooth entry of the shear strip, thereby improving the productivity of the strip.
또한, 스트립의 류프를 수동으로 제거하지 않고 교정부를 통해서 자동으로 실시간 교정이 가능하므로, 스트립 교정 시간을 단축하여, 스트립의 생산성을 높일 수 있다.In addition, since the strip can be automatically calibrated in real time through the calibration section without manually removing the strip, the strip calibration time can be shortened and the productivity of the strip can be increased.
본 발명의 다양하면서도 유익한 장점과 효과는 상술한 내용에 한정되지 않으며, 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하는 과정에서 보다 쉽게 이해될 수 있을 것이다.The various and advantageous advantages and effects of the present invention are not limited to the above description, and can be more easily understood in the course of describing a specific embodiment of the present invention.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 스트립 교정 시스템의 개략도이다.
도 2는 도 1의 페이오프릴을 통해 공급되는 스트립의 변형이 발생되는 상태를 나타낸 개략도이다.
도 3은 도 2에 스트립의 변형이 발생 시 스트립의 변형을 측정하는 상태를 나타낸 개략도이다.
도 4는 도 3의 부분 확대도이다.
도 5는 도 1의 교정부가 스트립의 변형을 교정하는 상태를 나타낸 개략도이다.
도 6은 본 발명의 스트립 교정 시스템의 스트립 교정 방법을 설명하기 위한 순서도이다.1 is a schematic diagram of a strip calibration system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic view showing a state where deformation of a strip supplied through the phage prill of FIG. 1 occurs. FIG.
Fig. 3 is a schematic view showing a state in which the deformation of the strip is measured when deformation of the strip occurs in Fig. 2;
4 is a partial enlarged view of Fig.
Fig. 5 is a schematic view showing a state in which the calibration part of Fig. 1 corrects the deformation of the strip. Fig.
6 is a flowchart for explaining a strip calibration method of the strip calibration system of the present invention.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. The present invention is capable of various modifications and various embodiments, and specific embodiments are illustrated and described in the drawings. It is to be understood, however, that the invention is not to be limited to the specific embodiments, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention.
제2, 제1 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용될 수 있다.The terms including ordinal, such as second, first, etc., may be used to describe various elements, but the elements are not limited to these terms. The terms may only be used for the purpose of distinguishing one element from another.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. It is to be understood that when an element is referred to as being "connected" or "connected" to another element, it may be directly connected or connected to the other element, . On the other hand, when an element is referred to as being "directly connected" or "directly connected" to another element, it should be understood that there are no other elements in between.
실시 예의 설명에 있어서, 어느 한 구성요소가 다른 구성요소의 " 상(위) 또는 하(아래)(on or under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, 상(위) 또는 하(아래)(on or under)는 두 개의 구성요소가 서로 직접(directly)접촉되거나 하나 이상의 다른 구성요소가 상기 두 구성요소 사이에 배치되어(indirectly) 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 '상(위) 또는 하(아래)(on or under)'로 표현되는 경우 하나의 구성요소를 기준으로 위쪽 방향뿐만 아니라 아래쪽 방향의 의미도 포함할 수 있다.In the description of the embodiments, when an element is described as being formed "on or under" another element, the upper or lower (lower) (on or under) all include that the two components are in direct contact with each other or that one or more other components are indirectly formed between the two components. Also, when expressed as 'on or under', it may include not only an upward direction but also a downward direction based on one component.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used in this application is used only to describe a specific embodiment and is not intended to limit the invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, the terms "comprises" or "having" and the like are used to specify that there is a feature, a number, a step, an operation, an element, a component or a combination thereof described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof.
다르게 정의되지 않는 한, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, terms such as those defined in commonly used dictionaries are to be interpreted as having a meaning consistent with the meaning in the context of the relevant art, and unless otherwise explicitly defined in the present application, It is not interpreted in formal sense.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 실시예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the accompanying drawings, wherein like or corresponding elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description thereof will be omitted.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 스트립 교정 시스템의 개략도이고, 도 2는 도 1의 페이오프릴을 통해 공급되는 스트립의 변형이 발생되는 상태를 나타낸 개략도이며, 도 3은 도 2에 스트립의 변형이 발생 시 스트립의 변형을 측정하는 상태를 나타낸 개략도이고, 도 4는 도 3의 부분 확대도이며, 도 5는 도 1의 교정부가 스트립의 변형을 교정하는 상태를 나타낸 개략도이다.FIG. 1 is a schematic view of a strip calibration system according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic view showing a state where a strip supplied through a page prill of FIG. 1 is deformed, and FIG. FIG. 4 is a partial enlarged view of FIG. 3, and FIG. 5 is a schematic view showing a state where the calibration portion of FIG. 1 corrects the deformation of the strip.
먼저 도 1을 참조하면, 본 발명의 스트립 교정 시스템(1)은 페이오프릴(10), 시어(20), 감지부(30), 측정부(40), 핀치롤(50), 제어부(60) 및 교정부(70)를 포함한다.1, a
페이오프릴(10)은 연속 소둔 작업이 완료된 스트립(S)을 코일 형태로 권취한 후 시어(20)로 스트립(S)을 공급 및 회수할 수 있다.The
페이오프릴(10)은 정회전 및 역회전 될 수 있다. 즉, 페이오프릴(10)은 시어(20)를 기준으로 스트립(S)을 페이오프릴(10)로부터 시어(20)로 향하는 방향으로 스트립(S)을 이동 시킬 수 있다. 또한, 페이오프릴(10)은 시어(20)로부터 페이오프릴(10)을 향하는 방향으로 스트립(S)을 이동 시킬 수 있다.The
또한, 페이오프릴(10)은 시어(20)를 기준으로 상하로 배치되어 시어(20)로 스트립(S)을 상하로 번갈아 공급 할 수 있다.In addition, the
시어(20)는 페이오프릴(10)을 통해 스트립(S)을 공급받아 스트립(S)의 결함부를 절단할 수 있다. 일반적으로 시어(20)는 더블 컷 시어로 이루어질 수 있다. 즉, 시어(20)는 상하로 배치된 페이오프릴(10)을 통해 스트립(S)을 번갈아 공급받아 스트립(S)의 결함부를 각각 절단할 수 있다. 그리고 시어(20)를 통해 절단된 각각의 스트립(S)은 상호 용접되어 최종적으로 완성품인 스트립(S)이 생산될 수 있다.The sheer 20 can feed the strip S through the
도 2를 참조하면, 감지부(30)는 시어(20)의 전방에 배치되어 스트립(S)이 진입하는 것을 감지할 수 있다. 즉, 감지부(30)는 스트립(S)이 시어(20)로 진입여부를 감지하여 감지된 신호를 제어부(60)로 송출할 수 있다. 감지부(30)는 스트립(S)의 진입을 감지할 수 있도록 제1 광 센서(31)로 이루어질 수 있다.Referring to FIG. 2, the
도 2 및 도 3을 참조하면, 핀치롤(50)은 감지부(30)의 후방에 배치되어 페이오프릴(10)을 통해 공급되는 스트립(S)을 시어(20)로 가이드 할 수 있다.2 and 3, the
한편, 스트립(S)은 페이오프릴(10)을 통해 시어(20)로 공급되면서 응력에 의해서 선단부의 구부러지는 변형이 발생될 수 있다.On the other hand, while the strip S is supplied to the
이하, 스트립(S)의 선단부가 구부러지는 변형을 루프(L)라고 한다. 이러한 루프(L)가 발생된 스트립(S)은 시어(20)로 진입되지 못하여 통판 장애가 발생할 수 있다.Hereinafter, the deformation in which the leading end of the strip S is bent is referred to as a loop L. [ The strip S in which the loop L is generated can not enter the
한편, 감지부(30)에서 시어(20)로 스트립(S)의 진입이 감지되지 않을 경우, 감지부(30)는 스트립(S)의 미 진입 신호를 제어부(60)로 송출할 수 있다.The
도 2 및 도 3을 참조하면, 제어부(60)는 스트립(S)을 시어(20)로부터 페이오프릴(10)을 향하는 방향으로 이동 시킬 수 있다. 즉, 제어부(60)는 감지부(30)에 의하여 스트립(S)이 감지되지 않은 스트립(S)의 미 진입된 신호를 전달 받으면 스트립(S)을 시어(20)로부터 페이오프릴(10)이 향하는 방향으로 이동 시킬 수 있다.2 and 3, the
이때, 스트립(S)은 페이오프릴(10)의 역회전을 통해 이동될 수 있다.At this time, the strip S can be moved through the reverse rotation of the
도 3 및 도 4를 참조하면, 측정부(40)는 감지부(30)의 후방에 배치되어 스트립(S)의 루프(L)를 측정할 수 있다. 즉, 측정부(40)는 감지부(30)에 의하여 스트립(S)이 감지되지 않을 경우, 스트립(S)의 루프(L) 여부를 측정할 수 있다. 측정부(40)는 시어(20)로부터 페이오프릴(10)이 향하는 방향으로 이동시 스트립(S)의 루프(L)를 측정할 수 있다.3 and 4, the measuring
즉, 측정부(40)는 스트립(S)이 시어(20)로부터 페이오프릴(10)을 향하는 방향으로 이동시 스트립(S)의 루프(L)가 시작되는 시작점으로부터 스트립(S)의 선단부 까지의 높이 변화에 따른 높이차를 측정할 수 있다. That is, when the strip S moves in the direction from the sheer 20 toward the
여기서, 스트립(S)의 루프(L)가 시작되는 시작점을 제1 높이(h1), 스트립(S)의 선단부를 제2 높이(h2) 및 높이 변화를 높이차(Δh) 라고 한다. 즉, 측정부(40)는 제2 광 센서(41)를 포함하며, 스트립(S)의 제1 높이(h1)로부터 스트립(S)의 제2 높이(h2)가 측정부(40)를 통과하는 시점까지의 빛의 높이 변화를 측정하여, 스트립(S)의 높이차(Δh)를 측정할 수 있다.Here, a starting point at which the loop L of the strip S starts is referred to as a first height h1, a tip end of the strip S is referred to as a second height h2, and a height variation is referred to as a height difference DELTA h. That is, the measuring
또한, 측정부(40)는 스트립(S)의 루프(L)가 시작되는 시작점으로부터 스트립(S)의 선단부 까지 스트립(S)이 시어(20)로부터 페이오프릴(10)을 향하는 방향으로 이동한 길이에 따른 거리차를 측정할 수 있다.The measuring
여기서, 스트립(S)의 루프(L)가 시작되는 시작점을 제1 지점(L1), 스트립(S)의 선단부를 제2 지점(L2) 및 스트립(S)이 이동한 길이를 거리차(ΔL)라고 한다.Here, the starting point at which the loop L of the strip S starts is referred to as a first point L1, the leading end of the strip S is referred to as a second point L2, ).
도 5를 참조하면, 교정부(70)는 측정부(40)의 후방에 배치되어 측정부(40)에서 측정된 스트립(S)의 루프(L)를 교정할 수 있다. 교정부(70)는 스트립(S)의 상부에서 상하로 이동 가능하게 배치되며, 스트립(S)의 루프(L)를 교정할 수 있는 가압 롤러(71)로 이루어질 수 있다.5, the
한편, 핀치롤(50)과 교정부(70)는 제어부(60)에 의해 작동이 제어될 수 있다.On the other hand, the operation of the
도 3 내지 도 5를 참조하면, 제어부(60)는 감지부(30)에서 수신된 스트립(S)의 미 진입 신호에 따라 스트립(S)을 시어(20)로부터 페이오프릴(10)이 향하는 방향으로 이동 시킬 수 있다. 3 to 5, the
그리고 제어부(60)는 측정부(40)에서 스트립(S)의 높이차(Δh)와 길이차(ΔL)가 측정되면, 스트립(S)의 이동을 정지시킬 수 있다. 즉, 제어부(60)은 시어(20)로부터 페이오프릴(10)이 향하는 방향으로 이동하는 스트립(S)의 선단부와 제2 광 센서(41)가 정렬되도록 스트립(S)의 이동을 정지시킬 수 있다. 즉, 스트립(S)은 페이오프릴(10)는 구동에 따라 구동이 정지될 수 있다.The
또한, 제어부(60)은 측정부(40)에서 스트립(S)의 높이차(Δh)와 길이차(ΔL)가 측정되면, 핀치롤(50)을 상하로 개방시킬 수 있다. The
그리고 제어부(60)는 측정부(40)를 스트립(S)의 높이차(Δh)와 길이차(ΔL)가 측정되면, 가압 롤러(71)를 스트립(S)에 상부에 위치시킬 수 있다.The
그런 후 제어부(60)는 측정부(40)에서 측정된 스트립(S)의 제1 지점(L1)에서부터 스트립(S)의 제2 지점(L2) 까지 가압 롤러(71)를 스트립(S) 길이 방향을 따라 이동 시켜 스트립(S)의 루프(L)를 교정 시킬 수 있다.The
즉, 제어부(60)는 가압 롤러(71)를 스트립의 길이차(ΔL) 방향으로 이동시켜, 스트립(S)의 루프(L)를 교정시킬 수 있다. 이때, 가압 롤러(71)는 측정부(40)에서 측정되는 스트립(S)의 제2 높이(h2)가 핀치롤(50)의 개방 높이 보다 낮게 되면, 제어부(60)의 제어에 의해 구동이 정지될 수 있다.That is, the
그리고 제어부(60)는 스트립(S)을 페이오프릴(10)로부터 시어(20)로 향하는 방향으로 이동 시킬 수 있다. 이에, 스트립(S)은 시어(20)로 재공급되며, 스트립(S)은 개방된 핀치롤(50)을 통과할 수 있다.The
도 6은 본 발명의 스트립 교정 시스템의 스트립 교정 방법을 설명하기 위한 순서도이다. 도 6을 참조하면, 본 발명의 실시 예인 스트립 교정 시스템(1)의 교정 방법은 다음과 같다.6 is a flowchart for explaining a strip calibration method of the strip calibration system of the present invention. Referring to FIG. 6, the calibration method of the
본 발명의 실시예인 스트립 교정 시스템(1)의 교정 방법은 스트립 진입 단계(S1), 스트립 감지 단계(S2), 스트립 측정 단계(S3), 정보 송출 단계(S4) 및 스트립 교정 단계(S5)을 포함한다.The calibration method of the
스트립 진입 단계(S1)는 페이오프릴(10)에 권취된 스트립(S)을 시어(20)로 진입 시킬 수 있다.The strip entering step S1 can enter the
스트립 감지 단계(S2)는 스트립 진입 단계(S1)에서 진입 되는 스트립(S)을 감지할 수 있다. 스트립 감지 단계(S2)는 신호 송출 단계(S2-1) 및 스트립 이동 단계(S2-2) 및 스트립 절단 단계(S2-3)를 더 포함할 수 있다.The strip sensing step S2 may sense the strip S entering the strip entering step S1. The strip sensing step S2 may further include a signal sending step S2-1, a strip moving step S2-2, and a strip cutting step S2-3.
신호 송출 단계(S2-1)는 시어(20)로 스트립(S)의 미 진입을 제1 광 센서(31)가 감지할 수 있다. 즉, 제1 광 센서(31)가 스트립(S)의 미 진입을 감지하면, 미 진입된 감지 신호를 제어부(60)로 송출할 수 있다.In the signal transmission step S2-1, the first
그리고 스트립 이동 단계(S2-2)는 신호 송출 단계(S2-1)에서 스트립(S)의 미 진입 신호가 송출될 수 있다. 그러면, 제어부(60)가 스트립(S)을 시어(20)로부터 페이오프릴(10)을 향하는 방향으로 이동 시킬 수 있다. 여기서, 스트립(S)은 페이오프릴(10)의 역회전을 통해서 시어(20)로부터 페이오프릴(10)을 향하는 방향으로 이동될 수 있다.In the strip moving step S2-2, an uninitialized signal of the strip S may be transmitted in the signal transmitting step S2-1. Then, the
스트립 절단 단계(S2-3)는 제1 광 센서(31)가 시어(20)로 스트립(S)의 진입을 감지하면, 시어(20)를 통해 스트립(S)을 절단할 수 있다.The strip cutting step S2-3 can cut the strip S through the sheer 20 when the
스트립 측정 단계(S3)는 스트립 감지 단계(S2)에서 감지된 스트립(S)의 미 진입시 스트립(S)의 루프(L)를 측정할 수 있다. 즉, 스트립 측정 단계(S3)는 스트립 이동 단계(S2-2)를 통해 스트립(S)이 시어(20)로부터 페이오프릴(10)을 향하는 방향으로 이동하는 스트립(S)의 구부러짐을 측정할 수 있다.The strip measuring step S3 may measure the loop L of the strip S when the strip S sensed in the strip sensing step S2 is not entered. That is, the strip measuring step S3 measures the bending of the strip S moving in the direction from the sheer 20 toward the
스트립 측정 단계(S3)에는 높이 측정 단계(S3-1), 길이 측정 단계(S3-2), 스트립 변형 판단 단계(S3-3) 및 스트립 공급 단계(S3-4)를 더 포함할 수 있다. The strip measuring step S3 may further include a height measuring step S3-1, a length measuring step S3-2, a strip deformation determining step S3-3, and a strip supplying step S3-4.
높이 측정 단계(S3-1)는 시어(20)로부터 페이오프릴(10)을 향하는 방향으로 이동하는 스트립(S)의 구부러짐을 감지할 수 있다. 그리고 높이 측정 단계(S3-1)는 스트립(S)의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립(S)의 선단부까지의 높이 변화에 따른 높이차를 제2 광 센서(41)가 측정할 수 있다.The height measurement step S3-1 may detect the bending of the strip S moving in the direction from the sheer 20 toward the
앞서 설명한 바와 같이, 스트립(S)의 구부러짐은 루프(L)라 정의 하였고, 스트립(S)의 루프(L)가 시작되는 시작점을 제1 높이(h1), 스트립(S)의 선단부를 제2 높이(h2) 및 높이 변화를 높이차(Δh)라고 정의 하였다. As described above, the bending of the strip S is defined as a loop L, and the starting point at which the loop L of the strip S starts is referred to as a first height h1 and the leading end of the strip S is referred to as a second The change in height (h2) and height is defined as height difference (? H).
즉, 측정부(40)는 제2 광 센서(41)를 포함하며, 스트립(S)의 제1 높이(h1)로부터 스트립(S)의 제2 높이(h2)가 측정부(40)를 통과하는 시점까지의 빛의 높이 변화를 측정하여, 스트립(S)의 높이차(Δh)를 측정할 수 있다. 제2 광 센서(41)는 스트립(S)의 루프(L)가 시작되는 제1 높이(h1)부터 스트립(S)의 제2 높이(h2) 까지의 높이 변화에 따른 높이차(Δh)를 측정할 수 있다.That is, the measuring
그리고 길이 측정 단계(S3-2)는 스트립(S)의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립(S)의 선단부까지 스트립(S)이 시어(20)로부터 페이오프릴(10)을 향하는 방향으로 이동한 길이에 따른 거리차를 제2 광 센서(41)가 측정할 수 있다.In the length measurement step S3-2, the strip S moves from the sheer 20 to the front end of the strip S from the starting point where the bending of the strip S starts, The
앞서 설명한 바와 같이, 스트립(S)의 구부러짐은 루프(L)라 정의 하였고, 스트립(S)의 루프(L)가 시작되는 시작점을 제1 지점(L1), 스트립(S)의 선단부를 제2 지점(L2) 및 스트립(S)이 이동한 길이를 거리차(ΔL)라고 정의 하였다.As described above, the bending of the strip S is defined as a loop L, and the starting point at which the loop L of the strip S starts is referred to as a first point L1 and the leading end of the strip S is referred to as a second The length of movement of the point L2 and the strip S is defined as the distance difference? L.
즉, 길이 측정단계(S3-2)는 스트립(S)의 루프(L)가 시작되는 제1 지점(L1)부터 스트립(S)의 제2 지점(L2)까지 스트립(S)이 시어(20)로부터 페이오프릴(10)을 향하는 방향으로 동한 거리를 통해서 제2 광 센서(41)가 스트립(S)의 거리차(ΔL)을 측정할 수 있다.That is, the length measuring step S3-2 is performed such that the strip S extends from the first point L1 at which the loop L of the strip S starts to the second point L2 of the strip S, The
한편, 스트립 변형 판단 단계(S3-3)는 높이 측정 단계(S3-1)와 길이 측정 단계(S3-2)에서 측정된 스트립(S)의 루프(L)를 판단할 수 있다. 즉, 스트립 변형 판단 단계(S3-3)는 높이 측정 단계(S3-1)과 길이 측정 단계(S3-2)에서 제2 광 센서(41)가 스트립(S)의 높이차(Δh)와 길이차(ΔL)를 측정하면, 스트립(S)의 루프(L)의 측정 결과에 따라 스트립(S)의 루프(L) 정보를 제어부(60)로 송출할 수 있다.On the other hand, the strip deformation determining step S3-3 can determine the loop L of the strip S measured in the height measuring step S3-1 and the length measuring step S3-2. That is, the strip deformation determining step S3-3 determines whether or not the
한편, 스트립 공급 단계(S3-4)는 스트립 변형 판단 단계(S3-3)에서 스트립(S)의 루프(L)가 측정되지 않으면, 제어부(60)는 스트립(S)을 페이오프릴(10)로부터 시어(20)로 향하는 방향으로 스트립(S)을 이동 시킬 수 있다. 이때, 스트립(S)은 페이오프릴(10)의 정회전을 통해 시어(20)로 향하는 방향으로 이동될 수 있다.On the other hand, if the loop L of the strip S is not measured in the strip deformation determining step S3-3, the
정보 송출 단계(S4)는 스트립 변형 판단 단계(S3-3)에서 스트립(S)의 루프(L) 정보를 제어부(60)로 송출할 수 있다. 상기 정보 송출 단계(S4)에는 핀치롤 개방 단계(S4-1) 및 스트립 정지 단계(S4-2)를 더 포함할 수 있다. 핀치롤 개방 단계(S4-1)는 스트립(S)의 루프(L) 정보를 제어부(60)가 수신 받아, 핀치롤(50)을 상하로 개방할 수 있다.The information transmission step S4 may transmit the loop L information of the strip S to the
또한, 스트립 정지 단계(S4-2)는 스트립(S)의 루프(L) 정보를 제어부(60)가 수신 받으면, 시어(20)로부터 페이오프릴(10)을 향하는 방향으로 이동하는 스트립(S)의 선단부와 제2 광 센서(41)가 정렬되도록 스트립(S)의 이동을 정지시킬 수 있다. 즉, 스트립(S)은 페이오프릴(10)의 구동에 따라 정지될 수 있다.In the strip stop step S4-2, when the
스트립 교정 단계(S5)는 스트립 정지단계(S4-2)에서 정지된 스트립(S)의 루프(L)를 교정할 수 있다. 즉, 스트립 교정 단계(S5)에는 제어부(60)가 가압 롤러(71)를 스트립(S)의 상부로 위치시킬 수 있다. 그리고 길이 측정 단계(S3-2)에서 스트립(S)의 길이차(ΔL)가 측정되면, 루프(L)의 제1 지점(L1)에서부터 제2 지점(L2) 까지 가압 롤러(71)를 스트립(S)의 길이차(ΔL) 방향으로 이동 시켜 스트립(S)의 루프(L)를 교정 시킬 수 있다.The strip calibration step S5 can correct the loop L of the stopped strip S in the strip stop step S4-2. That is, in the strip calibration step S5, the
한편, 스트립 교정 단계(S5)에는 스트립(S) 제2 높이(h2)를 재 측정하는 높이 재측정 단계(S5-1), 가압 롤러 정지단계(S5-2) 및 스트립 재 공급 단계(S5-3)를 더 포함할 수 있다. 즉, 높이 재측정 단계(S5-1)는 가압 롤러(71)가 스트립(S)의 길이차(ΔL) 방향으로 이동하여 스트립(S)의 루프(L)를 교정 시 스트립(S)의 제2 높이(h2)를 제2 광 센서(41)가 재 측정하여 핀치롤(50)의 개방 높이와 비교할 수 있다.In the strip calibration step S5, a height measuring step S5-1 for re-measuring the second height h2 of the strip S, a pressure roller stopping step S5-2 and a strip material supplying step S5- 3). That is, the height re-measurement step S5-1 is a step in which the pressurizing
그리고 가압 롤러 정지단계(S5-2)는 높이 재측정 단계(S5-1)에서 측정된 스트립(S)의 제2 높이(h2)가 핀치롤(50)의 개방 높이 보다 낮게 되면 제어부(60)가 가압 롤러(71)의 구동을 정지시킬 수 있다. 스트립 재공급 단계(S5-3)는 가압 롤러(71)가 제어부(60)의 제어에 의해 구동이 정지되면, 스트립(S)의 페이오프릴(10)로부터 시어(20)로 향하는 방향으로 스트립(S)을 이동시킬 수 있다.When the second height h2 of the strip S measured in the height measuring step S5-1 is lower than the opening height of the
즉, 스트립 재공급 단계(S5-3)는 스트립(S)을 페이오프릴(10)에서 시어(20)로 향하는 방향으로 이동시켜 스트립(S)을 시어(20)로 재공급 하고, 스트립(S)은 개방된 핀치롤(50)를 통과하여 시어(20)로 진입 될 수 있다.That is, the strip feeding step S5-3 is a step of feeding the strip S to the sheer 20 by moving the strip S in the direction from the
지금 까지 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 스트립 교정 시스템(1)은 스트립(S) 의 루프(L)를 실시간으로 파악할 수 있으며, 스트립(S) 루프(L)를 교정하여, 스트립(S)의 통판 장애를 해결할 수 있다.As described so far, the
또한, 스트립(S)의 루프(L)에 따른 스트립(S)의 걸림을 방지하여, 시어(20)로 스트립(S)의 원활한 진입을 유도하여, 스트립(S)의 생산성 향상을 유도할 수 있다. 또한, 스트립(S)의 루프(L)를 수동으로 제거하지 않고 교정부(70)를 통해서 자동으로 실시간 교정이 가능하므로, 스트립(S) 교정 시간을 단축하여, 스트립(S)의 생산성을 높일 수 있다.It is also possible to prevent the strip S from being caught by the loop L of the strip S so as to induce smooth entry of the strip S by the sheer 20 and to improve the productivity of the strip S have. Since the loop S of the strip S can be automatically calibrated in real time through the
상기에서는 본 발명의 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 통상의 지식을 가진자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그리고, 이러한 수정과 변경에 관계된 차이점들을 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the present invention as defined by the appended claims. It will be understood that the present invention can be changed. It is intended that the present invention cover the modifications and variations of this invention provided they come within the scope of the appended claims and their equivalents.
1: 스트립 교정 시스템
10: 페이오프릴 20: 시어
30: 감지부 31:제1 광 센서
40: 측정부 41: 제2 광 센서
50: 핀치롤 60: 제어부
70: 교정부 71: 가압 롤러
S: 스트립 L: 루프1: Strip calibration system
10: Paeophil 20: Shea
30: sensing part 31: first light sensor
40: Measuring section 41: Second optical sensor
50: pinch roll 60:
70: Correction unit 71: Pressure roller
S: Strip L: Loop
Claims (16)
상기 페이오프릴에 권취된 상기 스트립을 공급받아 상기 스트립을 절단하는 시어(SHEAR);
상기 스트립이 시어로 진입하는 것을 감지하는 감지부;
상기 감지부에 의하여 상기 스트립이 감지되지 않을 경우, 상기 스트립의 구부러짐 여부를 측정하는 측정부;
상기 페이오프릴, 상기 시어, 상기 감지부 및 상기 측정부를 제어하는 제어부;
상기 감지부와 상기 측정부 사이에 배치되며, 상기 스트립을 상기 페이오프릴로부터 상기 시어로 가이드하기 위한 핀치롤; 및
상기 측정부와 상기 페이오프릴 사이에 배치되며, 상기 측정부에 의하여 측정된 상기 스트립의 구부러짐을 교정하는 교정부;
를 포함하고,
상기 감지부는 제1 광 센서를 포함하며, 상기 스트립의 미 진입을 감지한 경우, 미 진입 신호를 상기 제어부로 송출하며, 상기 제어부가 상기 미 진입 신호를 수신한 경우 상기 스트립을 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동시키고,
상기 측정부는
제2 광 센서를 포함하며, 상기 스트립이 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동 시 상기 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 상기 스트립의 선단부 까지의 높이 변화에 따른 높이차를 측정하고, 상기 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 상기 스트립이 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동한 길이에 따른 거리차를 측정하는 스트립 교정 시스템.PAY OFF REEL on which the strip is wound;
A SHEAR that receives the strip wound on the pheriphal and cuts the strip;
A sensing unit sensing that the strip enters the sheath;
A measuring unit for measuring whether the strip is bent when the strip is not detected by the sensing unit;
A controller for controlling the phage prills, the shear, the sensing unit, and the measurement unit;
A pinch roll disposed between the sensing unit and the measuring unit for guiding the strip from the paper prill to the sheath; And
An calibration unit disposed between the measurement unit and the paper prill, for calibrating bending of the strip measured by the measurement unit;
Lt; / RTI >
The controller may include a first optical sensor, and when the strip is not entered, the control unit transmits an uninitialized signal to the control unit. When the control unit receives the uninitialized signal, Moving in the direction toward the oprile,
The measuring unit
Measuring a height difference according to a change in height from a starting point at which the strip starts to bend when the strip moves in a direction from the shear toward the paper prill to the tip of the strip, And measures the distance difference along the length of the strip from the starting point where the bending of the strip starts to the leading end of the strip in the direction from the shear toward the paper prill.
상기 제어부는
상기 측정부에서 스트립의 높이차와 상기 스트립의 길이차 측정되면, 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동하는 스트립의 선단부와 상기 제2 광 센서가 정렬되도록 스트립의 이동을 정지시키는 스트립 교정 시스템.The method according to claim 1,
The control unit
And a strip correction unit that stops the movement of the strip so that the second optical sensor is aligned with the leading end of the strip moving in the direction from the sheer toward the page prill when the difference in height of the strip is measured in the measuring unit, system.
상기 제어부는
상기 측정부에서 상기 스트립의 높이차와 상기 스트립의 길이차가 측정되면, 상기 핀치롤을 상하로 개방시키는 스트립 교정 시스템. The method according to claim 1,
The control unit
Wherein the pinch roll is opened up and down when the height difference of the strip and the length difference of the strip are measured in the measuring unit.
상기 교정부는
상기 스트립의 상부에서 상하로 이동 가능하게 배치되며, 상기 스트립의 구부러짐을 교정할 수 있는 가압 롤러를 포함하는 스트립 교정 시스템.The method according to claim 1,
The calibration section
And a pressure roller movable up and down at an upper portion of the strip, the pressure roller capable of correcting the bending of the strip.
상기 제어부는
상기 측정부에서 상기 스트립의 높이차와 상기 스트립의 길이차가 측정되면, 상기 가압 롤러를 상기 스트립에 상부에 위치시키고, 상기 가압 롤러를 상기 측정부에서 측정된 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 스트립의 길이 방향을 따라 이동 시켜 상기 스트립의 구부러짐을 교정 시키는 스트립 교정 시스템.9. The method of claim 8,
The control unit
Wherein the pressure roller is positioned on the strip when the height difference of the strip and the length difference of the strip are measured by the measuring unit and the pressure roller is positioned on the strip from the starting point where the bending of the strip measured by the measuring unit is started And moving the strip along the longitudinal direction of the strip to correct the bending of the strip.
상기 제어부는
상기 가압 롤러가 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 상기 스트립의 길이 방향으로 이동하여 상기 스트립의 구부러짐을 교정 시 상기 측정부에서 측정된 스트립의 높이차가 상기 핀치롤의 개방 높이 보다 낮게 되면, 상기 가압 롤러의 구동을 정지시키는 스트립 교정 시스템.10. The method of claim 9,
The control unit
When the pressure roller moves in the longitudinal direction of the strip from the starting point where the bending of the strip starts to the leading end of the strip to correct the bending of the strip, when the height difference of the strip measured by the measuring portion becomes lower than the opening height of the pinch roll And stops the driving of the pressure roller.
상기 스트립 진입 단계에서 상기 스트립을 미 진입을 감지하는 스트립 감지 단계; 및
상기 스트립 감지 단계에서 상기 스트립의 미 진입을 감지 시 상기 스트립의 변형을 측정하는 스트립 측정 단계;
를 포함하며,
상기 스트립 감지 단계는
상기 시어로 상기 스트립의 미 진입을 감지한 경우, 미 진입 신호를 제어부로 송출하는 신호 송출 단계; 및
상기 신호 송출 단계에서 상기 스트립의 미 진입 신호가 송출되면, 상기 제어부가 상기 스트립을 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 상기 스트립을 이동 시키는 스트립 이동 단계;
를 더 포함하고,
상기 스트립 측정 단계에는
상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동하는 상기 스트립의 구부려짐을 감지하고, 상기 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 상기 스트립의 선단부 까지의 높이 변화에 따른 높이차를 제2 광 센서가 측정하는 높이 측정단계;
상기 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 상기 스트립이 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동한 길이에 따른 거리차를 제2 광 센서가 측정하는 길이 측정 단계; 및
상기 높이 측정 단계와 길이 측정 단계에서, 상기 제2 광 센서가 상기 스트립의 높이차와 길이차를 측정하면, 상기 제2 광 센서는 스트립의 구부러진 정보를 상기 제어부로 송출하는 정보 송출 단계;
를 포함하는 스트립 교정 방법.A strip entering step of entering the strip wound on the phage prill to the sheath;
A strip sensing step of sensing that the strip is not entered in the strip entering step; And
A strip measuring step of measuring a deformation of the strip when the strip is not entered in the strip sensing step;
/ RTI >
The strip sensing step
A signal sending step of sending an uninitialized signal to the control unit when the shear detects that the strip is not entered; And
A strip moving step of moving the strip in a direction from the shear toward the page prill when the control unit sends an uninitialized signal of the strip in the signal sending step;
Further comprising:
In the strip measuring step
A second optical sensor measures a difference in height in accordance with a change in height from a start point at which the bending of the strip starts to a front end of the strip, wherein the second optical sensor measures bending of the strip moving in a direction from the shear toward the page prill A height measuring step;
Measuring a distance by a second optical sensor from a starting point at which bending of the strip starts to a leading end of the strip, the distance difference being a length of the strip in a direction from the shear toward the facry prill; And
When the second photosensor measures a height difference and a length difference of the strip in the height measuring step and the length measuring step, the second photosensor transmits the bent information of the strip to the controller;
.
상기 정보 송출 단계에는
상기 스트립의 구부러진 정보를 상기 제어부가 수신 받으면, 상기 제어부가 상기 시어로 상기 스트립을 가이드 하는 핀치롤을 상하로 개방하는 핀치롤 개방 단계;
상기 스트립의 구부러진 정보를 상기 제어부가 수신 받으면, 상기 시어로부터 상기 페이오프릴을 향하는 방향으로 이동하는 상기 스트립의 선단부와 상기 제2 광 센서가 정렬되도록 상기 스트립의 이동을 정지시키는 스트립 정지단계; 및
상기 스트립 정지단계에서 정렬된 상기 스트립의 구부러짐을 교정하는 스트립 교정 단계;
를 포함하는 스트립 교정 방법.12. The method of claim 11,
In the information transmission step
A pinch roll releasing step of opening and closing the pinch roll guiding the strip by the control unit, when the control unit receives the bent information of the strip;
Stopping the movement of the strip so that the tip of the strip moving in the direction from the sheer toward the page prism and the second photosensor are aligned when the controller receives the bent information of the strip; And
A strip calibration step of calibrating bending of the strip aligned in the strip stop step;
.
상기 스트립 교정 단계에는
상기 제어부가 가압 롤러를 상기 스트립의 상부로 위치시키고, 상기 길이 측정 단계에서 스트립의 길이차가 측정되면, 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 스트립의 길이 방향을 따라 상기 가압 롤러를 이동 시켜 상기 스트립의 구부러짐을 교정 시키는 스트립 교정 방법.15. The method of claim 14,
In the strip calibration step
The control unit moves the pressure roller along the longitudinal direction of the strip from the starting point where the bending of the strip starts to the leading end of the strip when the pressure roller is positioned above the strip and the length difference of the strip is measured in the length measuring step And the strip is corrected for bending.
상기 스트립 교정 단계에는
상기 가압 롤러가 상기 길이 산출 단계에서 산출된 스트립의 구부러짐이 시작되는 시작점으로부터 스트립의 선단부까지 스트립의 길이 방향을 따라 이동하여 스트립의 구부러짐을 교정 시 상기 높이 측정단계에서 측정된 스트립의 높이차가 상기 핀치롤의 개방 높이 보다 낮게 되면, 상기 가압 롤러의 구동을 정지하고, 상기 스트립을 상기 페이오프릴로부터 상기 시어로 향하는 방향으로 이동 시켜 상기 시어로 상기 스트립을 재공급하는 스트립 교정 방법.16. The method of claim 15,
In the strip calibration step
When the pressure roller moves along the longitudinal direction of the strip from the starting point where the bending of the strip calculated in the length calculating step starts to the leading end of the strip to correct the bending of the strip, the height difference of the strip measured in the height measuring step, The driving of the pressure roller is stopped and the strip is moved in the direction from the paper prill to the shear so that the strip is re-supplied to the shear.
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KR1020170087831A KR101942931B1 (en) | 2017-07-11 | 2017-07-11 | Strip correction system and method of the same |
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KR1020170087831A KR101942931B1 (en) | 2017-07-11 | 2017-07-11 | Strip correction system and method of the same |
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