KR101897194B1 - Flexible light emitting device and method for manufacturing the same - Google Patents
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- 230000009975 flexible effect Effects 0.000 title claims abstract description 93
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title abstract description 12
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims abstract description 211
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 59
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 50
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims abstract description 31
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims abstract description 23
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 41
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 claims description 40
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 claims description 12
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 claims description 12
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 claims description 10
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 claims description 10
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 claims description 8
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 claims description 8
- -1 polydimethylsiloxane Polymers 0.000 claims description 7
- 238000005498 polishing Methods 0.000 claims description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 9
- 229910002704 AlGaN Inorganic materials 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 3
- 229920000089 Cyclic olefin copolymer Polymers 0.000 description 2
- 239000004713 Cyclic olefin copolymer Substances 0.000 description 2
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910003363 ZnMgO Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920001230 polyarylate Polymers 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920012266 Poly(ether sulfone) PES Polymers 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 1
- 239000012792 core layer Substances 0.000 description 1
- 238000000609 electron-beam lithography Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 238000000025 interference lithography Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K50/844—Encapsulations
-
- H01L51/5253—
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/31—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to form insulating layers thereon, e.g. for masking or by using photolithographic techniques; After treatment of these layers; Selection of materials for these layers
- H01L21/3105—After-treatment
- H01L21/31051—Planarisation of the insulating layers
-
- H01L51/0097—
-
- H01L51/5203—
-
- H01L51/56—
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K77/00—Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
- H10K77/10—Substrates, e.g. flexible substrates
- H10K77/111—Flexible substrates
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- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/549—Organic PV cells
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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Abstract
Description
유연한 발광 소자 및 그 제조 방법이 제공된다.A flexible light emitting device and a method of manufacturing the same are provided.
발광 다이오드(Light Emitting Diode, LED)는 PN 접합에 전류를 흘려줌으로써 빛을 발생시키는 반도체소자이다. 발광 다이오드는 수명이 길고 소비전력이 낮아 유지보수 비용을 줄일 수 있다는 점에서 차세대 발광 소자 중 하나로 각광받아왔다.A light emitting diode (LED) is a semiconductor device that generates light by flowing current to a PN junction. Light emitting diodes have been regarded as one of the next generation light emitting devices because they have long life span and low power consumption and can reduce maintenance cost.
최근에는 디스플레이의 형태 변형이 자유로운 플렉시블(flexible) 및 웨어러블(wearable) 산업이 성장하고 있으며, 이에 따라 형태 변형이 자유로운 유연한 발광 소자의 개발이 활발히 진행되고 있다.In recent years, a flexible and wearable industry has been developed in which the shape of a display can be freely deformed. Accordingly, a flexible light emitting device free from shape deformation has been actively developed.
대표적인 유연한 발광 소자로는 변형성이 우수한 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diodes, OLED)를 예로 들 수 있다. 하지만, 유기 발광 다이오드는 유기물이라는 재료적 특성에 따라 고온 및 수분에 취약하므로 안정성과 신뢰성이 낮아질 수 있다.Representative flexible light emitting devices include organic light emitting diodes (OLEDs) having excellent deformability. However, organic light emitting diodes are susceptible to high temperatures and moisture depending on the material properties of organic materials, so stability and reliability may be lowered.
이에 따라 고온 및 수분에 안정성이 있는 무기물을 이용한 발광 소자가 개발되었지만, 사파이어 기판 또는 실리콘 기판 등을 사용할 경우 발광 소자를 휘었을 때 기판이 깨질 수 있다. 그리고 플라스틱과 같은 유연한 기판을 사용할 경우, 플라스틱 기판의 녹는점이 낮아 고온에 견디기 어려우므로 플라스틱 기판의 상태가 양호하지 못할 수 있다.Accordingly, a light emitting device using an inorganic material having stability at high temperature and moisture has been developed. However, when a sapphire substrate or a silicon substrate is used, the substrate may be broken when the light emitting device is bent. When a flexible substrate such as a plastic substrate is used, the plastic substrate may not be in a satisfactory state because the melting point of the plastic substrate is low and it is difficult to withstand high temperatures.
본 발명의 일 실시예는 도전형 코어 구조물을 유연한 기판 상에 전사하여 변형성이 높으며 메쉬 형태로 형성되는 전극 구조를 통해 효과적인 전류 주입이 가능한 유연한 발광 소자를 제공하기 위한 것이다.An embodiment of the present invention is to provide a flexible light emitting device capable of effectively injecting a current through an electrode structure formed by transferring a conductive core structure onto a flexible substrate and having high deformability and being formed in a mesh shape.
본 발명의 일 실시예는 유연한 발광 소자의 제조 방법을 제공하기 위한 것이다.One embodiment of the present invention is to provide a method of manufacturing a flexible light emitting device.
상기 과제 이외에도 구체적으로 언급되지 않은 다른 과제를 달성하는 데 본 발명에 따른 실시예가 사용될 수 있다.Embodiments according to the present invention can be used to accomplish other tasks not specifically mentioned other than the above-described tasks.
본 발명의 실시예에 따른 유연한 발광 소자는 ⅰ) 유연한 기판, ⅱ) 유연한 기판 위에 위치하고, 볼록부와 오목부를 포함하는 갭 필링(Gab filling)층, ⅲ) 갭 필링층 위에 위치하고, 볼록부와 오목부를 따라 위치하는 제1 전극, ⅳ) 제1 전극 위에 위치하고, 오목부를 따라 위치하는 도전형 반도체층, ⅴ) 도전형 반도체층 위에 위치하고, 오목부에 위치하는 활성층, ⅵ) 활성층 위에 위치하고, 오목부에 위치하는 도전형 코어 구조물, ⅶ) 제1 전극 위에 위치하고, 도전형 반도체층의 측면과 연결되는 고분자 보호층, ⅷ) 고분자 보호층 위에 위치하고, 도전형 코어 구조물의 측면과 연결되고, 관통홀을 포함하는 마스크층 그리고 ⅸ) 마스크층 위에 위치하는 제2 전극을 포함한다.A flexible light emitting device according to an embodiment of the present invention comprises: i) a flexible substrate; ii) a Gab filling layer located on the flexible substrate and including a convex portion and a concave portion; iii) a gap filling layer located on the gap filling layer, (Iv) a conductive semiconductor layer located on the first electrode and located along the recess, (v) an active layer located on the conductive semiconductor layer and located in the recess, (vi) an active layer located on the active layer, A polymeric protection layer located on the first electrode and connected to a side surface of the conductive type semiconductor layer; (iii) a conductive polymer layer located on the polymeric protection layer and connected to a side surface of the conductive type core structure; And a second electrode overlying the mask layer.
제2 전극은 도전형 코어 구조물의 단부의 테두리 위에 위치할 수 있다. 마스크층과 도전형 코어 구조물 위에 위치하는 그래핀층을 더 포함할 수 있다. 제2 전극은 그래핀층 위에 메쉬(mesh) 형태로 위치할 수 있다.The second electrode may be located on the edge of the end of the conductive core structure. And a graphene layer overlying the mask layer and the conductive core structure. The second electrode may be positioned on the graphene layer in the form of a mesh.
갭 필링층의 상기 볼록부의 두께는 상기 갭 필링층의 상기 오목부의 두께보다 두꺼울 수 있다. 갭 필링층은 폴리메타크릴산 메틸(polymethylmethacrylate, PMMA), 폴리이미드(Polyimide, PI) 또는 폴리디메틸실록산(Polydimethylsiloxane, PDMS)을 포함할 수 있다.The thickness of the convex portion of the gap filling layer may be thicker than the thickness of the concave portion of the gap filling layer. The gap filling layer may comprise polymethylmethacrylate (PMMA), polyimide (PI), or polydimethylsiloxane (PDMS).
본 발명의 실시예에 따른 유연한 발광 소자의 제조 방법은 ⅰ) 지지 기판을 제공하는 단계, ⅱ) 지지 기판 위에 그래핀층을 제공하는 단계, ⅲ) 그래핀층 위에 관통홀을 포함하는 마스크층을 제공하는 단계, ⅳ) 관통홀에 위치하는 도전형 코어 구조물을 제공하는 단계, ⅴ) 도전형 코어 구조물을 따라 위치하는 활성층을 제공하는 단계, ⅵ) 활성층을 따라 위치하는 도전형 반도체층을 제공하는 단계, ⅶ) 마스크층 위에 위치하는 고분자 보호층을 제공하는 단계, ⅷ) 고분자 보호층과 도전형 반도체층을 따라 위치하는 제1 전극을 제공하는 단계, ⅸ) 제1 전극 위에 위치하는 갭 필링층(Gab filling)을 제공하는 단계, ⅹ) 갭 필링층에 유연한 기판을 제공하는 단계 그리고 xi) 지지 기판을 제거하는 단계를 포함할 수 있다.A method of manufacturing a flexible light emitting device according to an embodiment of the present invention comprises the steps of: i) providing a support substrate, ii) providing a graphene layer on a support substrate, iii) providing a mask layer comprising a through hole on the graphene layer (Iv) providing a conductive core structure located in the through hole, (v) providing an active layer located along the conductive core structure, (vi) providing a conductive semiconductor layer located along the active layer, Providing a polymeric protective layer on top of the mask layer, (iii) providing a first electrode located along the polymeric protective layer and the conductive semiconductor layer, (iv) providing a gap filling layer Gab filling x) providing a flexible substrate to the gap filling layer, and xi) removing the support substrate.
갭 필링층에 유연한 기판을 제공하는 단계는 지지 기판을 뒤집는 단계, 그리고 갭 필링층이 유연한 기판 위에 위치하도록 전사하는 단계를 포함할 수 있다. 지지 기판을 제거하는 단계는 그래핀층을 제거하는 단계, 그리고 도전형 코어 구조물의 단부의 테두리 위에 위치하는 제2 전극을 제공하는 단계를 포함할 수 있다. 그래핀층을 제거하는 단계는 화학적 기계 연마(Chemical Mechanical Polishing, CMP) 단계를 포함할 수 있다. 지지 기판을 제거하는 단계는 그래핀층 위에 메쉬(mesh) 형태로 제2 전극을 제공하는 단계를 포함할 수 있다.Providing the flexible substrate to the gap filling layer may include inverting the supporting substrate and transferring the gap filling layer to be positioned over the flexible substrate. The step of removing the support substrate may include removing the graphene layer, and providing a second electrode positioned over an edge of the end of the conductive core structure. The step of removing the graphene layer may include a chemical mechanical polishing (CMP) step. The step of removing the support substrate may comprise providing the second electrode in the form of a mesh on the graphene layer.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 유연한 기판 상에 코어 구조물을 전사하여 굽힘에도 안정성을 가지는 발광 소자를 얻을 수 있으며 전극이 구조물 전체를 감싸고, 메쉬 형태로 형성될 수 있으므로 소자 구동 시 발생할 수 있는 열을 효과적으로 분산시킬 수 있으며, 구조물의 전면으로 효과적으로 전류를 고르게 주입할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a core structure is transferred onto a flexible substrate to obtain a light emitting device having stability to bending, and the electrode can be formed in a mesh shape by wrapping the entire structure. Therefore, It is possible to effectively distribute the current evenly to the front surface of the structure.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 유연한 발광 소자의 단면도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 유연한 발광 소자의 단면도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 유연한 발광 소자의 발광 작동의 단면도이다.
도 4, 도 5 그리고 도 6은 본 발명의 실시예에 따른 유연한 발광 소자의 제조 과정이다.1 is a cross-sectional view of a flexible light emitting device according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view of a flexible light emitting device according to an embodiment of the present invention.
3 is a cross-sectional view of a light emitting operation of a flexible light emitting device according to an embodiment of the present invention.
FIGS. 4, 5 and 6 show a manufacturing process of a flexible light emitting device according to an embodiment of the present invention.
여기서 사용되는 전문용어는 단지 특정 실시예를 언급하기 위한 것이며, 본 발명을 한정하는 것을 의도하지 않는다. 여기서 사용되는 단수 형태들은 문구들이 이와 명백히 반대의 의미를 나타내지 않는 한 복수 형태들도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함하는"의 의미는 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소 및/또는 성분을 구체화하며, 다른 특정 특성, 영역, 정수, 단계, 동작, 요소, 성분 및/또는 군의 존재나 부가를 제외시키는 것은 아니다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to limit the invention. The singular forms as used herein include plural forms as long as the phrases do not expressly express the opposite meaning thereto. Means that a particular feature, region, integer, step, operation, element and / or component is specified, and that other specific features, regions, integers, steps, operations, elements, components, and / And the like.
다르게 정의하지는 않았지만, 여기에 사용되는 기술용어 및 과학용어를 포함하는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 일반적으로 이해하는 의미와 동일한 의미를 가진다. 보통 사용되는 사전에 정의된 용어들은 관련기술문헌과 현재 개시된 내용에 부합하는 의미를 가지는 것으로 추가 해석되고, 정의되지 않는 한 이상적이거나 매우 공식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless otherwise defined, all terms including technical and scientific terms used herein have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Commonly used predefined terms are further interpreted as having a meaning consistent with the relevant technical literature and the present disclosure, and are not to be construed as ideal or very formal meanings unless defined otherwise.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art can easily carry out the present invention. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 유연한 발광 소자(1)의 단면도를 나타낸다. 도 1의 유연한 발광 소자(1)의 구조는 단지 본 발명을 예시하기 위한 것이며, 본 발명이 여기에 한정되는 것은 아니다. 따라서 유연한 발광 소자(1)의 구조를 다른 형태로도 변형할 수 있다.Fig. 1 shows a cross-sectional view of a flexible light-
도 1에 도시한 바와 같이, 유연한 발광 소자(1)는 유연한 기판(10), 갭 필링층(20), 제1 전극(30), 도전형 반도체층(40), 활성층(41), 도전형 코어 구조물(50), 고분자 보호층(60), 마스크층(70), 그리고 제2 전극(80)을 포함할 수 있다.1, the flexible
유연한 기판(10)은 폴리이미드(Polyimide, PI), 폴리에틸렌 테레프타레이트(Polyethylene terephthalate, PET), 폴리에틸렌 나프탈레이트 (Polyethylene Naphthalate, PEN), 폴리디메틸실록산(Polydimethylsiloxane, PDMS), 폴리카보네이트(Polycarbonate, PC), 폴리에테르술폰(Polyethersulfone, PES), 폴리아릴레이트(Polyarylate, PAR) 또는 사이클로 올레핀 공중합체(Cyclic Olefin Copolymer, COC)를 포함할 수 있다.The
유연한 기판(10)은 갭 필링층(20), 제1 전극(30), 도전형 반도체층(40), 활성층(41), 도전형 코어 구조물(50), 고분자 보호층(60), 마스크층(70), 그리고 제2 전극(80)을 지지 할 수 있다. 유연한 기판(10)은 유연한 특성을 가지므로 굽힘 또는 변형이 자유로울 수 있다.The
갭 필링층(20)은 유연한 기판(10) 위에 위치할 수 있다. 갭 필링층(20)은 볼록부(21)와 오목부(22)를 포함할 수 있다. 갭 필링층(20)의 일측은 유연한 기판(10)의 위에서 유연한 기판(10)을 따라 위치할 수 있다. 갭 필링층(20)의 타측은 볼록부(21)와 오목부(22)가 교대로 위치하며 이어질 수 있다.The gap-
갭 필링층(20)은 폴리메타크릴산 메틸(polymethylmethacrylate, PMMA), 폴리이미드(Polyimide, PI) 또는 폴리디메틸실록산(Polydimethylsiloxane, PDMS)을 포함할 수 있다. 갭 필링층(20)은 절연체일 수 있다. 갭 필링층(20)은 유연한 특성을 가질 수 있다.The
갭 필링층(20)의 볼록부(21)의 두께(d1)는 갭 필링층(20)의 오목부(22)의 두께(d2)보다 두꺼울 수 있다. 이 경우, 유연한 발광 소자(1)의 굽힘 시 볼록부(21)의 곡률 반경이 오목부(22)의 곡률 반경보다 더 클 수 있으므로 볼록부(21)와 오목부(22)의 곡률 반경의 차이만큼 유연한 발광 소자(1)의 유연성이 커질 수 있다.The thickness d1 of the
또한 볼록부(21)와 오목부(22)의 곡률 반경의 차이는 유연한 발광 소자(1)가 휘어졌다 다시 직선으로 펼쳐지거나 반대 방향으로 휘어졌을 때 발생하는 팽창 및 수축 스트레스를 줄일 수 있으므로 크랙 발생과 같은 손상을 방지할 수 있다.The difference in curvature radius between the
제1 전극(30)은 갭 필링층(20) 위에 위치할 수 있다. 제1 전극(30)은 볼록부(21)와 오목부(22)를 따라 위치할 수 있다. 제1 전극(30)은 도전형 반도체층(40)을 감싸며 위치할 수 있다. 이 경우, 제1 전극(30)은 도전형 반도체층(40)의 전면과 연결될 수 있으므로, 제1 전극(30)은 도전형 반도체층(40), 활성층(41), 도전형 코어 구조물(50)에 전면적으로 전류를 고르게 주입할 수 있다. 또한 제1 전극(30)은 도전형 반도체층(40)의 하측 단부와 측면을 둘러싸고 있으므로 넓은 표면적 컨택을 이용하여 제1 전극(30)으로부터 도전형 반도체층(40)으로 정공을 주입 시킬 수 있다. 따라서 제1 전극(30)의 구조를 포함하는 유연한 발광 소자(1)는 발광 면적을 증가시킬 수 있으므로 발광 효율을 향상시킬 수 있다.The
제1 전극(30)은 도전형 반도체층(40)을 감싸며 위치할 수 있으므로, 도전형 반도체층(40), 활성층(41) 그리고 도전형 코어 구조물(50)의 내에서 전자와 정공의 재결합을 통해 빛을 가두어 증폭시킬 수 있다. 제1 전극(30)은 인듐, 금, 니켈, 팔라듐, 백금 또는 알루미늄을 포함할 수 있다. 제1 전극(30)은 인듐, 금, 니켈이 순서대로 증착된 전극일 수 있다.The
도전형 반도체층(40)은 제1 전극(30) 위에 위치할 수 있다. 도전형 반도체층(40)은 오목부(22)를 따라 위치할 수 있다. 도전형 반도체층(40)의 일측 단부는 오목부(22)보다 더 돌출될 수 있다. 도전형 반도체층(40)의 일측 단부는 마스크층(70)과 연결되고, 타측 단부는 제1 전극(30)과 연결될 수 있다.The
도전형 반도체층(40)은 Ⅲ-Ⅴ족, Ⅱ-Ⅵ족의 화합물 반도체로 제조 될 수 있다. 도전형 반도체층(40)은 AlGaN, GaN, InAlGaN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP, ZnO, ZnMgO, ZnCdO, GZO(Ga-doped ZnO), IZO(In-doped ZnO), 또는 AZO(Al-doped ZnO)을 포함할 수 있다.The
활성층(41)은 도전형 반도체층(40) 위에 위치할 수 있다. 활성층(41)은 오목부(22)를 따라 위치할 수 있다. 활성층(41)의 일측 단부는 마스크층(70)을 향해 오목부(22)보다 더 돌출될 수 있다. 활성층(41)의 일측 단부는 마스크층(70)과 연결되고, 타측 단부는 도전형 반도체층(40)과 연결될 수 있다.The
활성층(41)은 Ⅲ-Ⅴ족 화합물 반도체로 제조 될 수 있다. 활성층(41)은 단일 양자 우물 구조 또는 다중 양자 우물 구조(Multi Quantum Wells, MQWs)중 하나의 구조를 포함 할 수 있다. 활성층(41)은 AlGaN/AlGaN, InGaN/GaN, InGaN/InGaN, AlGaN/GaN, GaAs/AlGaAs 또는 GaP/AlGaP을 포함할 수 있다. 활성층(41)이 다중 양자 우물 구조일 경우 In 또는 Al 조성이 서로 다를 수 있다. 활성층(41)은 300nm 내지 700nm 파장의 빛을 발광할 수 있으며 자외선 내지 빨간색 빛에 해당 할 수 있다.The
도전형 코어 구조물(50)은 활성층(41) 위에 위치할 수 있다. 도전형 코어 구조물(50)은 오목부(22)에 위치할 수 있다. 도전형 코어 구조물(50)의 일측 단부는 제2 전극(80)을 향해 도전형 반도체층(40) 또는 활성층(41)보다 더 돌출 될 수 있다. 도전형 코어 구조물(50)의 일측 단부는 제2 전극(80)과 연결되고, 타측 단부는 활성층(41)과 연결될 수 있다.The conductive
도전형 코어 구조물(50)은 Ⅲ-Ⅴ족, Ⅱ-Ⅵ족의 화합물 반도체로 제조 될 수 있다. 도전형 반도체층(40)은 AlGaN, GaN, InAlGaN, AlGaAs, GaP, GaAs, GaAsP, AlGaInP, ZnO, ZnMgO, ZnCdO, GZO(Ga-doped ZnO), IZO(In-doped ZnO), 또는 AZO(Al-doped ZnO)을 포함할 수 있다.The
도전형 코어 구조물(50)의 직경은 100nm 내지 700㎛ 일 수 있다. 바람직하게는, 도전형 코어 구조물(50)의 직경은 400nm 내지 500㎛ 일 수 있다. 도전형 코어 구조물(50)의 길이는 200nm 내지 1500㎛ 일 수 있다. 바람직하게는, 도전형 코어 구조물(50)의 길이는 1㎛ 내지 1000㎛ 일 수 있다.The diameter of the
고분자 보호층(60)은 제1 전극(30) 위에 위치할 수 있다. 고분자 보호층(60)은 볼록부(21)의 상측에 위치할 수 있다. 고분자 보호층(60)은 도전형 반도체층(40)의 측면과 연결될 수 있다.The polymer
고분자 보호층(60)은 폴리메타크릴산 메틸(polymethylmethacrylate, PMMA), 폴리이미드(Polyimide, PI) 또는 폴리디메틸실록산(Polydimethylsiloxane, PDMS)을 포함할 수 있다. 고분자 보호층(60)은 절연체일 수 있다. 고분자 보호층(60)의 두께는 50nm 내지 10㎛ 일 수 있다. 바람직하게는, 고분자 보호층(60)의 두께는 200 nm 내지 5 ㎛ 일 수 있다. 유연한 발광 소자(1)는 고분자 보호층(60)의 두께를 조절하여 제1 전극(30)과 도전형 반도체층(40)의 접합 면적을 조절할 수 있다.The polymer
마스크층(70)은 고분자 보호층(60) 위에 위치할 수 있다. 마스크층(70)은 도전형 코어 구조물(50)의 측면과 연결될 수 있다. 마스크층(70)은 실리콘 산화물 또는 실리콘 질화물을 포함할 수 있다. 마스크층(70)의 두께는 10nm 내지 2μm 일 수 있다. 바람직하게는, 마스크층(70)의 두께는 30μm 내지 1μm 일 수 있다.The
제2 전극(80)은 마스크층(70) 위에 위치할 수 있다. 제2 전극(80)은 마스크층(70)의 전면을 덮으며, 도전형 코어 구조물(50)의 상단 테두리(51)와 연결될 수 있다. 제2 전극(80)은 티타늄, 금, 백금, 또는 알루미늄을 포함할 수 있다. 제2 전극(80)은 티타늄, 금이 순서대로 증착된 전극일 수 있다.The
제2 전극(80)은 도전형 코어 구조물(50)의 단부의 테두리(51)에 위치할 수 있다. 제2 전극(80)은 화살표 방향을 따라 도전형 코어 구조물(50)로 전자(e-)를 주입할 수 있다. 제2 전극(80)으로부터 도전형 코어 구조물(50)의 테두리(51)로 주입된 전자는 활성층(41) 내부에서 제1 전극(30)으로 주입된 정공(h+)과 발광 재결합하여 빛을 발생시킬 수 있다.The
제1 전극(30)은 도전형 반도체층(40), 활성층(41), 도전형 코어 구조물(50) 내에서 전자(e-)와 정공(h+)의 결합에 의해 빛을 증폭시키는 거울 효과를 야기시킬 수 있으므로, 유연한 발광 소자(1)의 발광 효율이 높아질 수 있다.The
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 유연한 발광 소자(2)의 개략적인 단면도를 나타낸다. 도 2에서는 그래핀층(90) 및 제2 전극(80)을 제외하고는 도 1의 유연한 발광 소자(1)와 유사하므로, 동일한 부분에는 동일한 도면 부호를 사용하며, 그 상세한 설명을 생략한다.2 shows a schematic cross-sectional view of a flexible
도 2에 도시한 바와 같이, 유연한 발광 소자(2)는 유연한 기판(10), 갭 필링층(20), 제1 전극(30), 도전형 반도체층(40), 활성층(41), 도전형 코어 구조물(50), 고분자 보호층(60), 마스크층(70), 제2 전극(80), 그리고 그래핀층(90)을 포함할 수 있다.2, the flexible
그래핀(Graphene)층(90)은 마스크층(70)과 도전형 코어 구조물(50) 위에 위치할 수 있다. 그래핀층(90)은 탄소로 이루어진 단층 구조물로 전기적으로 이차원 탄도 이동(2-dimensional ballistic transport) 특성을 가질 수 있다. 그래핀층(90)은 서브-마이크론(sub-micron)의 작은 사이즈에서도 매우 작은 전기 저항을 가질 수 있다. 그래핀층(90)은 높은 전하이동도(Si의 약 100배) 및 높은 전류밀도(Cu의 약 100배)를 가질 수 있다. 그래핀층(90)은 5×103 W/mk 이상의 열전도도를 가질 수 있고, 1000℃ 이상의 고온에서도 특성을 안정적으로 유지할 수 있다.
제2 전극(80)은 그래핀층(90) 위에 메쉬(mesh)형태로 위치할 수 있다. 제2 전극(80)은 화살표 방향으로 그래핀층(90)을 따라 도전형 코어 구조물(50)로 전자(e-)를 주입할 수 있다. 제2 전극(80)은 그래핀층(90)의 전면적에 걸쳐 메쉬(Mesh) 형태로 형성 될 수 있으므로, 그래핀층(90)의 전면에 전류를 주입할 수 있다. 또한, 제2 전극(80)을 통해 주입 된 전자(e-)는 그래핀층(90)을 통해 이동하여 도전형 코어 구조물(50)로 주입되어 활성층(41) 내에서 제1 전극(30)에서 주입된 정공(h+)과 발광 재결합하여 빛을 발생 시킬 수 있다.The
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 유연한 발광 소자(1) 및 유연한 발광 소자(2)의 발광 작동의 단면도를 나타낸다. 도 3의 (a)는 유연한 발광 소자(1)의 발광 작동을 나타내고, (b)는 유연한 발광 소자(2)의 발광 작동을 나타낸다.Fig. 3 shows a cross-sectional view of the light-emitting operation of the flexible light-emitting
도 3의 (a)에 도시한 바와 같이, 유연한 발광 소자(1)는 도전형 코어 구조물(50) 내에서 전자와 정공의 결합에 의해 빛이 발생되고, 증폭된 빛은 제1 전극(30)으로 인해 사방으로 방출되지 못하고 도전형 코어 구조물(50)을 따라 이동하여 제2 전극(80)을 향한 방향으로만 방출될 수 있다. 이 경우, 유연한 발광 소자(1)는 도전형 코어 구조물(50)의 상단의 중앙 부분만 노출되어 있어 방출된 빛(L) 세기의 감소가 없으므로 발광 효율이 높을 수 있다.3 (a), in the flexible
유연한 발광 소자(1,2)는 갭 필링층(20)이 상호 이격된 도전형 코어 구조물(50) 사이를 채워 지지할 수 있으며, 유연한 특성을 가질 수 있으므로 유연한 발광 소자(1)가 구부러 지더라도 도전형 코어 구조물(50)의 붕괴 현상이 발생되지 않을 수 있다.The flexible
도 3의 (b)에 도시한 바와 같이, 유연한 발광 소자(2)는 빛을 방출할 때 도전형 코어 구조물(50) 위에 약 98%의 가시광선 투과율을 갖는 그래핀층(90)으로 덮일 수 있으므로, 방출된 빛(L) 세기의 감소가 없으므로 발광 효율이 높을 수 있다. 또한 유연한 발광 소자(2)는 유연한 특성을 갖는 그래핀층(90) 위에 도전형 코어 구조물(50)이 상호 이격 되어 위치하고, 이를 유연한 기판(10)에 전사하여 제조할 수 있으므로 굽힘 변형이 자유로울 수 있다.3 (b), the flexible
유연한 발광 소자(1,2)는 고분자 보호층(60)이 유연한 특성을 가질 수 있으므로 유연한 발광 소자(1,2)의 굽힘 시 발생될 수 있는 마스크층(70)의 깨짐 발생을 미연에 방지하여 제1 전극(30)을 보호할 수 있다. 따라서 굽힘 상태에서도 유연한 발광 소자(1,2)의 구동이 가능할 수 있다.The flexible
도 3에 도시한 바와 같이, 유연한 발광 소자(1,2)는 발광 소자 자체가 구부러진 상태에도 빛을 발광할 수 있어 플렉시블 및 웨어러블 장치에도 적용할 수 있다. 유연한 발광 소자(1,2)가 굽힘 상태로 발광할 경우, 유연한 기판(10), 갭 필링층(20), 고분자 보호층(60), 마스크층(70), 제2 전극(80), 그리고 그래핀층(90)이 전체적으로 구부러질 수 있다. 이 경우, 유연한 기판(10)을 따라 위치하는 갭 필링층(20)의 일측의 단면적이 좁아지는 형상을 가질 수 있으며, 도전형 반도체층(40), 활성층(41) 그리고 도전형 코어 구조물(50)은 굽힘 반경의 중심 축을 향해 더 가까워 지는 형상을 가질 수 있다. 유연한 발광 소자(1,2)의 굽힘 반경은 ∞ 내지 4mm 일 수 있다. 굽힘 반경이 ∞일 경우, 유연한 발광 소자(1,2)를 굽히지 않은 상태일 수 있다.As shown in FIG. 3, the flexible light-emitting
도 4, 도 5 그리고 도 6은 유연한 발광 소자(1,2)의 제조 과정을 나타낸다. 도 4와 도 5는 유연한 발광 소자(1)의 제조 과정을 나타내고, 도 4와 도 6은 유연한 발광 소자(2)의 제조 과정을 나타낸다.FIGS. 4, 5, and 6 show a manufacturing process of the flexible
도 4에 도시한 바와 같이, 지지 기판(11)을 제공하고, 지지 기판(11) 위에 그래핀층(90)을 제공할 수 있다. 그래핀층(90)은 식각 용액에 의한 구리 포일 제거 방법 또는 전사 방법으로 제조될 수 있다. 그래핀층(90)의 위에는 복수의 관통홀(71)을 포함하는 마스크층(70)을 제공할 수 있다. 관통홀(71)은 전자빔 리소그래피(E-beam lithography), 포토 리소그래피(photo lithography), 레이저 간섭 리소그래피(Laser interference lithography), 또는 나노임프린트(Nanoimprint) 방법으로 제조될 수 있다. 복수의 관통홀(71)에는 각각 도전형 코어 구조물(50)을 제공할 수 있다. 도전형 코어 구조물(50)은 마스크층(70)에 형성된 관통홀(71)에 위치할 수 있으므로, 마스크층(70)에 선택적으로 노출된 그래핀층(90) 위에 위치할 수 있다.As shown in FIG. 4, a
다음으로, 도전형 코어 구조물(50)을 따라 위치하는 활성층(41)을 제공하고, 활성층(41)을 따라 위치하는 도전형 반도체층(40)을 제공할 수 있다. 이 경우, 도전형 코어 구조물(50) 상에 다중벽(코어셀) 와이어 구조를 형성할 수 있다. 활성층(41)은 장벽층, 우물층으로 이루어져 있으며 단일 양자 우물 구조 또는 다중 양자 우물 구조(Multi Quantum Well, MQW)를 포함 할 수 있다.Next, the
마스크층(70) 위에는 고분자 보호층(60)을 제공할 수 있다. 고분자 보호층(60)은 굽힘에 따른 제1 전극(30)의 손상 방지를 위해 유연한 특성을 가질 수 있다. 또한 고분자 보호층(60)은 다중벽(코어셀) 와이어 구조 사이를 절연시키는 절연체일 수 있다. 고분자 보호층(60)은 도전형 반도체층(40)의 하단부와 연결될 수 있으므로 도전형 반도체층(40)의 상단 및 측면은 노출될 수 있다. 이 경우, 마스크층(70)과 다중벽(코어셀) 와이어 구조를 고분자 물질로 코팅하고, 산소 플라즈마(Reactive Ion etching, RIE) 처리를 통해 도전형 반도체층(40)의 상단 및 측면 노출시킬 수 있다.On the
고분자 보호층(60) 및 도전형 반도체층(40)의 위에 고분자 보호층(60) 및 도전형 반도체층(40)을 따라 위치하는 제1 전극(30)을 제공할 수 있다. 제1 전극(30)이 고분자 보호층(60) 및 도전형 반도체층(40)을 따라 위치할 수 있으므로, 전류 주입의 효과가 높아질 수 있다. 제1 전극(30) 위에 위치하는 갭 필링층(20)을 제공할 수 있다. 갭 필링층(20)은 볼록부(21)와 오목부(22)를 통해 제1 전극(30)의 형상에 맞추어 제1 전극(30)의 위에 위치할 수 있다. 갭 필링층(20)은 제1 전극(30), 도전형 반도체층(40), 활성층(41), 그리고 도전형 코어 구조물(50)로 이루어진 다중벽(코어셀) 와이어 구조 사이를 절연시킬 수 있으며, 지지대로서 굽힘에 의한 손상을 미연에 방지할 수 있다. 갭 필링층(20)은 제1 전극(30)을 완전히 덮을 수 있는 두께를 가질 수 있다.The
도 5의 (e)에 도시한 바와 같이, 도 4의 (a) 내지 (d)의 과정을 통해 제조된 구조를 뒤집어 갭 필링층(20)이 유연한 기판(10)에 위치하도록 전사할 수 있다. 이 경우, 이미 제조된 구조를 유연한 기판(10)에 전사되므로, 갭 필링층(20), 제1 전극(30), 도전형 반도체층(40), 활성층(41), 도전형 코어 구조물(50), 고분자 보호층(60), 마스크층(70), 그리고 그래핀층(90)이 유연한 기판(10)에 전사될 때 구조적 안정성을 가질 수 있다.As shown in FIG. 5 (e), the structure manufactured through the processes of FIGS. 4 (a) to 4 (d) can be inverted and transferred so that the
도 5의 (f-1)에 도시한 바와 같이, 제조된 구조에서 지지 기판(11) 및 그래핀층(90)을 제거할 수 있다. 지지 기판(11) 및 그래핀층(90)의 제거는 화학적 기계 연마(Chemical Mechanical Polishing, CMP) 방법을 포함할 수 있다. The
도 5의 (g-1)는 유연한 발광 소자(1)의 단면도를 나타내고, 도 5의 (h-1)는 유연한 발광 소자(1)를 상면에서 내려다본 평면도를 나타낸다. 도 5의 (g-1) 및 (h-1)에 도시한 바와 같이, 마스크층(70) 위에 제2 전극(80)을 제공할 수 있다. 제2 전극(80)은 도전형 코어 구조물(50)의 단부의 테두리(51)에 위치할 수 있다. 제2 전극(80)은 마스크층(70)을 완전히 덮으며 도전형 코어 구조물(50)의 상단 테두리(51)만을 덮어 테두리(51)를 통해 도전형 코어 구조물(50)로 전자를 주입할 수 있다.5 (g-1) shows a cross-sectional view of the flexible light-emitting
도 4와 도 6은 유연한 발광 소자(2)의 제조 과정을 나타낸다. 도 4의 유연한 발광 소자(2)의 제조 과정은 전술한 도 4의 유연한 발광 소자(1)의 제조 과정과 동일하므로, 그 상세한 설명을 생략한다.Figs. 4 and 6 show a manufacturing process of the flexible
도 6의 (e) 도시한 바와 같이, 도 4의 (a) 내지 (d)의 과정을 통해 제조된 구조를 뒤집어 갭 필링층(20)이 유연한 기판(10)에 위치하도록 전사할 수 있다. 도 6의 (f-2)에 도시한 바와 같이, 제조된 구조에서 지지 기판(11)을 제거할 수 있다. 지지 기판(11)의 제거는 습식 식각 및 리프트 오프 방식, 폴리디메틸실록산(Polydimethylsiloxane, PDMS)을 이용한 스탬프 방식 또는 레이저 리프트 오프(Laser lift-off)방법으로 지지 기판(11)을 제거할 수 있다. 따라서, 유연한 기판(10)에 이미 제조된 구조를 전사할 수 있으므로, 구조의 정확도와 안정성을 높여 발광 소자의 색 재현성을 높일 수 있다.As shown in FIG. 6 (e), the structure fabricated through the processes of FIGS. 4 (a) to 4 (d) can be turned over to transfer the
도 6의 (g-2)는 유연한 발광 소자(2)의 단면도를 나타내고, 도 6의 (h-2)는 유연한 발광 소자(2)를 상면에서 내려다본 평면도를 나타낸다. 도 6의 (g-2) 및 (h-2)에 도시한 바와 같이, 그래핀층(90) 위에 제2 전극(80)을 제공할 수 있다. 제2 전극(80)은 그래핀층(90) 위에 메쉬(mesh)형태로 위치할 수 있다. 제2 전극(80)은 그래핀층(90)의 전면적에 걸쳐 메쉬(Mesh) 형태로 형성 될 수 있으므로, 그래핀층(90)의 전면에 전류를 주입할 수 있어 유연한 발광 소자(2)의 발광 효율을 높일 수 있다.6 (g-2) shows a cross-sectional view of the flexible light-emitting
본 발명을 앞서 기재한 바에 따라 설명하였지만, 다음에 기재하는 특허청구범위의 개념과 범위를 벗어나지 않는 한, 다양한 수정 및 변형이 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 종사하는 자들은 쉽게 이해할 것이다.It will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the spirit and scope of the following claims.
10. 유연한 기판 11. 지지 기판
20. 갭 필링층 21. 볼록부
22. 오목부 30. 제1 전극
40. 도전형 반도체층 41. 활성층
50. 도전형 코어 구조물 51. 테두리
60. 고분자 보호층 70. 마스크층
71. 관통홀 80. 제2 전극
90. 그래핀층10.
20.
22.
40. Conductive
50.
60. Polymer
71. Through
90. Graphene layer
Claims (11)
상기 유연한 기판 위에 위치하고, 볼록부와 오목부를 포함하는 갭 필링(Gab filling)층,
상기 갭 필링층 위에 위치하고, 상기 볼록부와 상기 오목부를 따라 위치하는 제1 전극,
상기 제1 전극 위에 위치하고, 상기 오목부를 따라 위치하는 도전형 반도체층,
상기 도전형 반도체층 위에 위치하고, 상기 오목부에 위치하는 활성층,
상기 활성층 위에 위치하고, 상기 오목부에 위치하는 도전형 코어 구조물,
상기 제1 전극 위에 위치하고, 상기 도전형 반도체층의 측면과 연결되는 고분자 보호층,
상기 고분자 보호층 위에 위치하고, 상기 도전형 코어 구조물의 측면과 연결되고, 관통홀을 포함하는 마스크층, 그리고
상기 마스크층 위에 위치하는 제2 전극
을 포함하고,
상기 도전형 코어 구조물의 하단부는 상기 오목부 안에 위치하면서 상기 볼록부의 최상면보다 아래에 위치하고,
상기 제2 전극은 상기 도전형 코어 구조물의 단부의 테두리에 위치하고,
상기 제1 전극에서 주입된 정공과 상기 제2 전극의 테두리에서 주입된 전자의 결합을 통해 발생된 빛을 가두어 증폭시키는 유연한 발광 소자.Flexible substrates,
A Gab filling layer located on the flexible substrate and including a convex portion and a concave portion,
A first electrode located above the gap filling layer and positioned along the convex portion and the concave portion,
A conductive semiconductor layer located on the first electrode and located along the recess,
An active layer located on the conductive semiconductor layer and located in the recess,
A conductive core structure located on the active layer and located in the recess,
A polymer protective layer disposed on the first electrode and connected to a side surface of the conductive semiconductor layer,
A mask layer disposed on the polymer protective layer and connected to a side surface of the conductive core structure and including a through hole,
And a second electrode
/ RTI >
Wherein a lower end of the conductive core structure is positioned below the uppermost surface of the convex portion,
Wherein the second electrode is located at an edge of an end portion of the conductive type core structure,
Wherein the first electrode and the second electrode are formed on the first electrode and the second electrode, respectively.
상기 마스크층과 상기 도전형 코어 구조물 위에 위치하는 그래핀층을 더 포함하는 유연한 발광 소자.The method of claim 1,
And a graphene layer overlying the mask layer and the conductive core structure.
상기 제2 전극은 그래핀층 위에 메쉬(mesh) 형태로 위치하는 유연한 발광 소자.4. The method of claim 3,
And the second electrode is positioned in a mesh form on the graphene layer.
상기 갭 필링층의 상기 볼록부의 두께는 상기 갭 필링층의 상기 오목부의 두께보다 두꺼운 유연한 발광 소자.The method of claim 1,
Wherein the thickness of the convex portion of the gap filling layer is thicker than the thickness of the concave portion of the gap filling layer.
상기 갭 필링층은 폴리메타크릴산 메틸(polymethylmethacrylate, PMMA), 폴리이미드(Polyimide, PI) 또는 폴리디메틸실록산(Polydimethylsiloxane, PDMS)을 포함하는 유연한 발광 소자.The method of claim 1,
Wherein the gap filling layer comprises polymethylmethacrylate (PMMA), polyimide (PI), or polydimethylsiloxane (PDMS).
상기 지지 기판 위에 그래핀층을 제공하는 단계,
상기 그래핀층 위에 관통홀을 포함하는 마스크층을 제공하는 단계,
상기 관통홀에 위치하는 도전형 코어 구조물을 제공하는 단계,
상기 도전형 코어 구조물을 따라 위치하는 활성층을 제공하는 단계,
상기 활성층을 따라 위치하는 도전형 반도체층을 제공하는 단계,
상기 마스크층 위에 위치하는 고분자 보호층을 제공하는 단계,
상기 고분자 보호층과 상기 도전형 반도체층을 따라 위치하는 제1 전극을 제공하는 단계,
상기 제1 전극 위에 위치하는 갭 필링층(Gab filling)을 제공하는 단계,
상기 갭 필링층에 유연한 기판을 제공하는 단계, 그리고
상기 지지 기판을 제거하는 단계
를 포함하고
상기 갭 필링층에 유연한 기판을 제공하는 단계는
상기 지지 기판을 뒤집는 단계, 그리고
상기 갭 필링층이 상기 유연한 기판 위에 위치하도록 전사하는 단계를 포함하고,
상기 지지 기판을 제거하는 단계는
상기 도전형 코어 구조물의 단부의 테두리 위에 위치하는 제2 전극을 제공하는 단계를 포함하고,
상기 갭 필링층은 볼록부와 오목부를 포함하고, 상기 도전형 코어 구조물의 하단부는 상기 오목부 안에 위치하면서 상기 볼록부의 최상면보다 아래에 위치하고,
상기 제1 전극에서 주입된 정공과 상기 제2 전극의 테두리에서 주입된 전자의 결합을 통해 발생된 빛을 가두어 증폭시키는 유연한 발광 소자의 제조 방법.Providing a support substrate,
Providing a graphene layer over the support substrate,
Providing a mask layer comprising a through hole on the graphene layer,
Providing a conductive core structure located in the through hole,
Providing an active layer located along the conductive core structure,
Providing a conductive semiconductor layer located along the active layer,
Providing a polymeric protective layer overlying the mask layer,
Providing a first electrode located along the polymeric protective layer and the conductive semiconductor layer,
Providing a gap filling layer overlying the first electrode,
Providing a flexible substrate to the gap filling layer, and
Removing the support substrate
Including the
The step of providing a flexible substrate to the gap filling layer
Inverting the supporting substrate, and
And transferring the gap filling layer to be positioned on the flexible substrate,
The step of removing the support substrate
Providing a second electrode overlying a rim of the end of the conductive core structure,
Wherein the gap filling layer includes a convex portion and a concave portion, and a lower end portion of the conductive type core structure is positioned below the uppermost surface of the convex portion,
Wherein the first electrode and the second electrode are formed on the first electrode and the second electrode, respectively.
상기 지지 기판을 제거하는 단계는
상기 그래핀층을 제거하는 단계를 포함하는 유연한 발광 소자의 제조 방법.8. The method of claim 7,
The step of removing the support substrate
And removing the graphene layer.
상기 그래핀층을 제거하는 단계는 화학적 기계 연마(Chemical Mechanical Polishing, CMP) 단계를 포함하는 유연한 발광 소자의 제조 방법.The method of claim 9,
Wherein the step of removing the graphene layer includes a chemical mechanical polishing (CMP) step.
상기 지지 기판을 제거하는 단계는
상기 그래핀층 위에 메쉬(mesh) 형태로 제2 전극을 제공하는 단계를 포함하는 유연한 발광 소자의 제조 방법.8. The method of claim 7,
The step of removing the support substrate
And providing a second electrode in the form of a mesh on the graphene layer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020170101199A KR101897194B1 (en) | 2017-08-09 | 2017-08-09 | Flexible light emitting device and method for manufacturing the same |
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KR20140027811A (en) * | 2012-08-27 | 2014-03-07 | 삼성전자주식회사 | Flexible semiconductor device and method of manufacturing the same |
KR20170020044A (en) * | 2015-08-13 | 2017-02-22 | 광주과학기술원 | Transparent electrode for lateral light emitting diode and led using the same |
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- 2017-08-09 KR KR1020170101199A patent/KR101897194B1/en active IP Right Grant
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