KR101890640B1 - 메모리카드 테스트 유닛 및 그를 구비하는 메모리카드 테스트 장치 - Google Patents

메모리카드 테스트 유닛 및 그를 구비하는 메모리카드 테스트 장치 Download PDF

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Abstract

메모리카드 테스트 유닛 및 그를 구비하는 메모리카드 테스트 장치가 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 메모리카드 테스트 유닛은, 테스트유닛 본체; 모리카드를 지지하며, 테스트유닛 본체 상에 마련되어 다수의 메모리카드가 결합된 상태에서 테스트 작업이 진행되도록 하는 테스트 보드; 및 테스트유닛 본체 일면에 마련되며, 메모리카드가 테스트되는 테스트 작업위치로 메모리카드를 이동시킬 때 테스트유닛 본체를 고정시키는 걸림부를 포함한다.

Description

메모리카드 테스트 유닛 및 그를 구비하는 메모리카드 테스트 장치{Memory Card Testing Unit And Memory Card Testing Apparatus Having The Same}
본 발명은, 메모리카드 테스트 유닛 및 메모리카드 테스트 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 메모리카드를 안정적으로 지지하고, 메모리카드 테스트를 위하여 실제 컴퓨터 상황과 동일한 환경을 제공하여 메모리카드 테스트를 안정적이고 효율적으로 진행할 수 있는 메모리카드 테스트 유닛 및 메모리카드 테스트 장치에 관한 것이다.
컴퓨터의 구조는 입력 장치, 연산 장치, 제어 장치, 기억 장치, 출력 장치의 다섯 가지로 크게 대별되며, 기억 장치는 주기억 장치와 보조기억 장치로 나눌 수 있다.
주기억장치의 기억매체로 일반적으로 반도체 기억 장치를 사용하는데, 반도체 기억장치에는 롬(ROM, Read Only Memory)과 램(RAM, Random Access memory)이 있다.
롬(ROM, Read Only Memory)은 컴퓨터의 판독전용 기억장치를 말하며, 전원이 끊어져도 정보가 없어지지 않기 때문에 불휘발성 메모리(non-volatile memory)라고도 한다.
반면, 램(RAM, Random Access memory)은 기억된 정보를 읽어내기도 하고 다른 정보를 기억시킬 수 있는 기억장치를 말하며, 전원이 끊어지면 기록된 정보도 날아가기 때문에 휘발성 메모리(volaile memory)라고도 한다. 따라서 램(RAM)은 컴퓨터의 주기억장치, 응용프로그램의 일시적 로딩(loading), 데이터의 일시적 저장 등에 사용된다.
일반적으로, 컴퓨터에서 주기억장치로 사용되는 메모리는 복수개의 반도체칩을 포함한다. 복수개의 반도체칩을 포함하는 반도체 칩 카드를 램 모듈 또는 메모리 모듈이라고 부르며, 컴퓨터를 구성하는 부품들 중에서 매우 중요한 역할을 한다.
메모리 모듈은, 싱글 인라인 메모리 모듈(SIMM, Single in line memory module), 듀얼 인라인 메모리 모듈(DIMM, Dual in line memory module), 램버스 인라인 메모리 모듈(RIMM, Rambus in line memory module)로 구분할 수 있다.
싱글 인라인 메모리 모듈(SIMM, Single in line memory module)은,‘단행 메모리 모듈’의 줄임말로, 한 장의 기판 위에 메모리가 꽂혀져 있고 기판의 한쪽 끝에는 외부와 데이터를 송수신하는 단자를 일렬로 배열하는 메모리 모듈을 말한다.
듀얼 인라인 메모리 모듈(DIMM, Dual in line memory module)은, '양행 메모리 모듈'의 줄임말로, 단자가 기판의 양측에 있는 것에서 유래 되었으며, 싱글 인라인 메모리 모듈(SIMM)에서는 기판의 양측 모두 동일 신호선이 설치된 반면, 듀얼 인라인 메모리 모듈(DIMM)에서는 양측에 다른 신호선이 설치되어 있다.
램버스 인라인 메모리 모듈(RIMM, Rambus in line memory module)은 기판에 직접 램버스(Rambus)를 사용한 메모리 모듈을 말한다.
이와 같은 여러 종류의 메모리 모듈은 메모리카드로 정의할 수 있으며, 이하에서는 메모리 모듈을 메모리카드로 지칭하기로 한다.
메모리카드는 컴퓨터의 작동에 있어 중요한 부분을 차지하기 때문에 메모리카드의 제작 후 테스트 과정을 통해 메모리카드의 성능을 검사한다.
전기적인 특성 검사로 주로 DC(Direct Current) 테스트 또는 AC(Alternating Current) 테스트가 수행되는데, DC 테스트는 피측정 단자에 DC 전원 장치를 접속한 후 규정 전압 또는 전류를 인가하여 단자에 흐르는 전압 또는 전류를 DC 측정 장치로 측정함으로써 메모리카드의 직류 특성을 검사하는 것으로서, DC 테스트를 통하여 메모리카드의 입력 전류, 전원 전류, 출력 전압 및 내부 배선의 개방(Open) 떠는 합선(Short)의 여부 등을 검사할 수 있다. 그리고, AC 테스트는 메모리카드의 타이밍을 측정하는 것으로서, 메모리의 입력 단자에 펄스 신호를 인가하여 입출역에 대한 지연 시간이나 출력 신호의 시작 시간과 종료 시간 등을 측정함으로써 동작의 특성을 검사할 수 있다.
한편, 컴퓨터의 내부를 구성하는 하드웨어로서 메인보드(Main board)가 있다.
메인보드(Main board)는, 컴퓨터 내에 기본회로와 부품들을 담고 있는 물리적인 하드웨어로서, 마더보드(Mother board) 또는 주기판으로 불리며, 중앙처리장치(CPU, Central Processing Unit), 마이크로프로세서, 메모리카드, 바이오스, 확장슬롯, 접속회로등을 포함한다. 메인보드(Main board)는 컴퓨터의 실행 환경을 설정하고 그 정보를 유지해 주며, 컴퓨터가 안정적으로 구동되게 해주는 역할은 한다.
그런데, DC 테스트 또는 AC 테스트는 메모리카드가 실제 장착되어 사용될 컴퓨터의 메인보드와는 상관없이 독립적으로 메모리카드의 이상상태를 점검한다. 그러므로 DC 테스트 또는 AC 테스트를 통해 메모리카드가 정상으로 판정되어 출하되더라도 메모리카드가 실제로 컴퓨터의 메인 보드에 탑재되거나 다른 장치에 장착된 후 제대로 동작하지 않는 경우가 발생할 수 있다.
따라서 메모리카드 제조사들은 모든 테스트가 끝난 메모리카드를 다시 실제 컴퓨터 상황에서 정상적인 동작 여부를 테스트하기 위한 공정을 적용하는데 이를 메모리카드 실장 테스트라 한다.
이와 같이 메모리카드 실장 테스트를 위하여 실제 컴퓨터 상황과 동일한 환경을 제공하고, 메모리카드 실장 테스트를 위하여 메모리카드를 이송시키거나 메모리카드 실장 테스트 작업을 진행하는 과정에서 메모리카드를 안정적으로 지지하는 장치 개발이 시급한 실정이다.
대한민국공개특허 제10-2011-0008905호 ((주)마이크로컨텍솔루션), 2011.09.20
따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 메모리카드를 안정적으로 지지하고, 메모리카드 테스트를 위하여 실제 컴퓨터 상황과 동일한 환경을 제공하여 메모리카드 테스트를 안정적이고 효율적으로 진행할 수 있는 메모리카드 테스트 유닛 및 메모리카드 테스트 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 테스트유닛 본체; 메모리카드를 지지하며, 상기 테스트유닛 본체 상에 마련되어 다수의 상기 메모리카드가 결합된 상태에서 테스트 작업이 진행되도록 하는 테스트 보드; 및 상기 테스트유닛 본체 일면에 마련되며, 상기 메모리카드가 테스트되는 테스트 작업위치로 상기 메모리카드를 이동시킬 때 상기 테스트유닛 본체를 고정시키는 걸림부를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트유닛이 제공될 수 있다.
상기 테스트 보드는, 배선 패턴이 형성된 기판본체; 상기 배선 패턴과 전기적으로 연결되되 상기 기판본체의 일면에 배치되어 상기 메모리카드가 장착되는 메모리카드 테스트 슬롯; 및 상기 기판본체의 타면에 배치되되 상기 배선 패턴과 전기적으로 연결되는 테스트용 모듈을 포함할 수 있다.
상기 테스트유닛 본체는, 상기 테스트 보드와 상기 테스트유닛 본체를 연결하는 인터포즈 보드; 상기 인터포즈 보드 상에 마련되어 상기 테스트 보드로 상기 인터포즈 보드를 통하여 전원을 공급하는 파워포트; 상기 인터포즈 보드 상에 마련되어 상기 테스트 보드로 상기 인터포즈 보드를 통하여 데이터를 입력하고 상기 테스트 보드로부터 상기 인터포즈 보드를 통하여 데이터를 출력하는 입출력포트; 및 상기 메모리카드의 테스트 작업 진행시 흔들림을 방지하는 테스트용 고정부를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 메모리카드를 지지하며, 상기 메모리카드가 테스트되는 테스트 작업위치로 상기 메모리카드를 이동시키기 위하여 마련되는 메모리카드 테스트유닛; 및 상기 테스트 작업위치에 상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹(docking) 가능하도록 배치되며, 상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹될 때, 상기 메모리카드에 대한 테스트 작업을 진행하는 메모리카드 테스트용 도킹유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치가 제공될 수 있다.
상기 메모리카드 테스트유닛은, 테스트유닛 본체; 메모리카드를 지지하며, 상기 테스트유닛 본체 상에 마련되어 다수의 상기 메모리카드가 결합된 상태에서 테스트 작업이 진행되도록 하는 테스트 보드; 및 상기 테스트유닛 본체 일면에 마련되며, 상기 메모리카드가 테스트되는 테스트 작업위치로 상기 메모리카드를 이동시킬 때 상기 테스트유닛 본체를 고정시키는 걸림부를 포함할 수 있다.
상기 테스트유닛 본체는, 상기 테스트 보드와 상기 테스트유닛 본체를 연결하는 인터포즈 보드; 상기 인터포즈 보드 상에 마련되어 상기 테스트 보드로 상기 인터포즈 보드를 통하여 전원을 공급하는 파워포트; 상기 인터포즈 보드 상에 마련되어 상기 테스트 보드로 상기 인터포즈 보드를 통하여 데이터를 입력하고 상기 테스트 보드로부터 상기 인터포즈 보드를 통하여 데이터를 출력하는 입출력포트; 및 상기 메모리카드의 테스트 작업 진행시 흔들림을 방지하는 테스트용 고정부를 포함할 수 있다.
상기 테스트 보드는, 배선 패턴이 형성된 기판본체; 상기 배선 패턴과 전기적으로 연결되되 상기 기판본체의 일면에 배치되어 상기 메모리카드가 장착되는 메모리카드 테스트 슬롯; 및 상기 기판본체의 타면에 배치되되 상기 배선 패턴과 전기적으로 연결되는 테스트용 모듈을 포함할 수 있다.
상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛은, 상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹되는 도킹공간이 내부에 형성되는 도킹유닛 본체; 및 상기 도킹유닛 본체 내에 마련되며, 상기 메모리카드 테스트유닛의 출입을 위해 상기 메모리카드 테스트유닛을 구동시키는 다수의 도킹유닛측 구동롤러를 포함할 수 있다.
상기 도킹유닛 본체는, 상기 도킹유닛 본체 내부에 마련되며, 상기 메모리카드 테스트유닛과 도킹되는 도킹유닛 도킹부를 포함할 수 있다.
상기 도킹유닛 도킹부는, 상기 도킹유닛 본체 내부에 마련되어 상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹될 때 상기 메모리카드 테스트유닛으로 데이터를 송신하거나 상기 메모리카드 테스트유닛으로부터 데이터를 수신하는 송수신 포트; 상기 도킹유닛 본체 내부에 마련되어 상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹될 때 상기 메모리카드 테스트유닛으로 전력을 공급하는 전력포트; 및 상기 도킹유닛 본체 내부에 마련되어 상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹될때 상기 메모리카드 테스트유닛을 고정시키는 고정부를 포함할 수 있다.
상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛은, 상기 도킹유닛 본체를 하부에서 지지하는 도킹유닛 서포팅 플레이트를 더 포함할 수 있다.
상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛은, 상기 도킹공간의 온도를 조절시키는 개별 온도 조절부를 더 포함할 수 있다.
상기 메모리카드 테스트유닛을 미리 결정된 위치의 상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛으로 전달하거나 상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛에서 테스트가 완료된 상기 메모리카드 테스트유닛을 취출시키는 메모리카드 테스트유닛 스토커를 더 포함할 수 있다.
상기 메모리카드 테스트유닛 스토커는, 상기 테스트 작업위치에 이동 가능하게 마련되는 스토커 본체; 및 상기 스토커 본체에 업/다운(up/down) 이동 가능하게 결합되며, 상기 메모리카드 테스트유닛을 상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛으로 전달하거나 상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛에서 테스트가 완료된 상기 메모리카드 테스트유닛을 취출시키는 스토커 선반을 포함할 수 있다.
상기 스토커 선반은, 베이스 플레이트; 상기 베이스 플레이트 상에 회전가능 하게 결합 되는 회전 플레이트; 상기 회전 플레이트 상에 마련되며, 상기 메모리카드 테스트유닛의 출입을 위해 상기 메모리카드 테스트유닛을 구동시키는 다수의 스토커측 구동롤러; 및 상기 회전 플레이트 상에 마련되며, 상기 메모리카드 테스트유닛의 회동을 방지하는 회동방지 걸림모듈을 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 메모리카드가 테스트되는 작업위치로 메모리카드를 이동시키거나 테스트 작업이 진행될 때 메모리카드를 안정적으로 지지며, 메모리카드 테스트를 위하여 실제 컴퓨터 상황과 동일한 환경을 제공하여 메모리카드 테스트를 안정적이고 효율적으로 진행할 수 있는 메모리카드 테스트 유닛 및 메모리카드 테스트 장치를 제공할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 메모리카드 테스트유닛의 일측 사시도이다.
도 2는 도 1의 메모리카드 테스트유닛의 타측 사시도이다.
도 3은 도 1의 메모리카드 테스트유닛의 일측 단면도이다.
도 4는 도 1의 메모리카드 테스트유닛의 평면도이다.
도 5는 메모리카드 테스트용 도킹유닛의 사시도이다.
도 6은 도 5의 메모리카드 도킹유닛의 단면 평면도이다.
도 7은 도 1의 메모리카드 테스트유닛과 도5의 메모리카드 테스트용 도킹유닛이 도킹한 상태의 일측 단면도이다.
도 8은 메모리카드 테스트유닛 스토커의 부분확대도이다.
도 9는 도 1의 메모리카드 테스트유닛과 도 5의 메모리카드 테스트용 도킹유닛을 포함하는 메모리카드 테스트 시스템의 평면도이다.
도 10은 도 9의 메모리카드 테스트 시스템의 일부 확대도이다.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부도면 및 첨부도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.
이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서 이미 공지된 기능 혹은 구성에 대한 설명은, 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.
일반적으로, 컴퓨터에서 주기억장치로 사용되는 메모리는 복수개의 반도체칩을 포함하며, 복수개의 반도체칩을 포함하는 반도체 칩 카드를 램 모듈 또는 메모리 모듈이라고 하고, 메모리 모듈은, 싱글 인라인 메모리 모듈(SIMM, Single in line memory module), 듀얼 인라인 메모리 모듈(DIMM, Dual in line memory module), 램버스 인라인 메모리 모듈(RIMM, Rambus in line memory module)로 구분할 수 있다. 다만, 이하에서는 별도의 구분 없이 메모리 모듈을 메모리카드로 지칭하기로 한다.
또한, 이하에서 메모리카드 실장 테스트를 메모리카드 테스트라 하기로 한다.
도 1는 메모리카드 테스트유닛의 일측 사시도 이고, 도 2는 도 1의 메모리카드 테스트유닛의 타측 사시도 이며, 도 3은 도 1의 메모리카드 테스트유닛의 일측 단면도이고, 도 4는 도 1의 메모리카드 테스트유닛의 평면도이다.
이들 도면에 자세히 도시된 바와 같이, 메모리카드 테스트유닛(1100)은, 테스트유닛 본체(1110)와, 테스트 보드(1120)와, 걸림부(1130)를 포함한다.
테스트 보드(1120)는, 테스트유닛 본체(1110) 상에 마련되어 다수의 메모리카드(1)가 결합된 상태에서 테스트 작업이 진행되도록 한다. 본 실시예에 따른 테스트 보드(1120)는 테스트유닛 본체(1110) 상에 두개의 테스트 보드(1120)가 대칭되게 마련되었으나 본 발명의 권리범위가 이에 한정되지 않으며, 필요에 따라 다수의 테스트 보드(1120)가 마련될 수 있다.
테스트 보드(1120)는, 배선 패턴이 형성된 기판본체(1121)와, 메모리카드 테스트 슬롯(1122)과, 테스트용 모듈(1123)을 포함한다.
메모리카드 테스트 슬롯(1122)은 기판본체(1121)에 형성된 배선 패턴과 전기적으로 연결되되 기판본체(1121)의 일면에 배치되어 메모리카드(1)를 장착한다. 메모리카드 테스트 슬롯(1122)은, 기판본체(1121)의 일면에 다수개 배치될 수 있으며, 사용자의 요구에 따라 확장할 수 있다. 따라서 다수의 메모리카드(1)를 동시에 테스트할 수 있으며, 메모리카드(1)의 테스트의 효율을 높이고, 메모리카드(1)의 테스트 공정 시간을 줄일 수 있다.
테스트용 모듈(1123)은, 배선 패턴이 형성된 기판본체(1121)의 메모리카드 테스트 슬롯(1122)이 배치되는 일면과 반대되는 타면에 배치되되 기판본체(1121)에 형성된 배선 패턴과 전기적으로 연결되고, 실제로 컴퓨터에 실장되는 메인보드와 동일한 환경을 형성하므로, 메모리카드(1)의 테스트 신뢰성을 높인다. 테스트용 모듈(1123)은 중앙처리장치(CPU)와, 마이크로프로세서와, 보조프로세서와, 접속회로를 포함할 수 있다.
테스트유닛 본체(1110)는, 인터포즈 보드(1111)와, 파워포트(1112)와, 입출력포트(1113)와, 테스트용 고정부(1114)를 포함한다.
인터포즈 보드(1111)는 테스트 보드(1120)와 테스트유닛 본체(1110)를 연결하고, 파워포트(1112)는 인터포즈 보드(1111) 상에 마련되어 테스트 보드(1120)로 인터포즈 보드(1111)를 통하여 전원을 공급하며, 입출력포트(1113)는 인터포즈 보드(1111) 상에 마련되어 테스트 보드(1120)로 인터포즈 보드(1111)를 통하여 데이터를 입력하고 테스트 보드(1120)로부터 인터포즈 보드(1111)를 통하여 데이터를 출력하며, 테스트용 고정부(1114)는 메모리카드(1)의 테스트 작업 진행시 흔들림을 방지한다.
전술한 바와 같이 메모리카드 테스트유닛(1100)은, 테스트유닛 본체(1110)와, 테스트 보드(1120)를 포함하며, 실제 컴퓨터와 동일한 환경을 형성하여 메모리카드 테스트에 활용되므로 테스트의 신뢰성을 높이는 효과가 있으며, 사용자의 편의에 따라 메모리카드(1) 실장 개수를 확장할 수 있고, 테스트 작업 진행시 흔들림을 방지하여, 테스트의 효율성 및 안정성을 높이는 효과가 있다.
한편, 도 5는 메모리카드 테스트용 도킹유닛의 사시도이고, 도 6은 도 5의 메모리카드 도킹유닛의 단면 평면도이며, 도 7은 도 1의 메모리카드 테스트유닛과 도5의 메모리카드 테스트용 도킹유닛이 도킹한 상태의 일측 단면도이고, 도 8은 메모리카드 테스트유닛 스토커의 부분확대도이다.
이들 도면에 자세히 도시된 바와 같이, 메모리카드 테스트 장치(1000)는 메모리카드 테스트유닛(1100)과, 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)과 메모리카드 테스트유닛 스토커(1320)를 포함한다.
메모리카드 테스트 장치(1000)는, 메모리카드 테스트유닛(1100), 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200) 및 메모리카드 테스트유닛 스토커(1320) 각각의 역할이 구분될 수 있으나, 메모리카드 테스트 장치(1000)에 포함되는 메모리카드 테스트유닛(1100)은 전술한 메모리카드 테스트유닛(1100)과 그 역할 및 그 구성이 동일하므로, 이하 전술한 부분과 중복되는 부분에 대해서는 생략하기로 한다.
메모리카드 테스트유닛(1100)은 메모리카드(1)를 지지하며, 메모리카드(1)를 이동시키기 위하여 마련된다.
도 5 내지 도 7에 자세히 도시된 바와 같이, 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)은 테스트 작업위치(P1)에 메모리카드 테스트유닛(1100)이 도킹(docking) 가능하도록 배치되며, 메모리카드 테스트유닛(1100)이 도킹될 때, 메모리카드(1)에 대한 테스트 작업을 진행한다.
메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)은, 도킹유닛 본체(1210)와, 도킹유닛측 구동롤러(1220)와, 도킹유닛 서포팅 플레이트(1230)와, 개별 온도 조절부(1240)를 포함한다.
도킹유닛 본체(1210) 내부에는 도킹공간(P2)이 형성되며, 도킹유닛 도킹부(1211)를 포함한다. 도킹공간(P2)은 메모리카드 테스트유닛(1100)이 도킹되는 공간이다. 도킹공간(P2)이 도킹유닛 본체(1210) 내부에 형성되므로 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)의 크기를 줄일 수 있고, 공간활용도를 높인다.
도킹유닛 도킹부(1211)는 도킹유닛 본체 내부에 마련되며, 메모리카드 테스트유닛(1100)과 도킹되고, 송수신 포트(1211a)와, 전력포트(1211b)와, 고정부(1211c)를 포함한다.
송수신 포트(1211a)는, 도킹유닛 본체(1210) 내부에 마련되어 메모리카드 테스트유닛(1100)이 도킹될 때 메모리카드 테스트유닛(1100)으로 데이터를 송신하거나 메모리카드 테스트유닛(1100)으로부터 데이터를 수신한다.
전력포트(1211b)는, 도킹유닛 본체(1210) 내부에 마련되어 메모리카드 테스트유닛(1100)이 도킹될 때 메모리카드 테스트유닛(1100)으로 전력을 공급한다.
고정부(1211c)는, 도킹유닛 본체(1210) 내부에 마련되어 메모리카드 테스트유닛(1100)이 도킹될 때 메모리카드 테스트유닛(1100)을 고정시키는 고정부를 포함한다.
전술한 바와 같이 도킹유닛 도킹부(1211)는, 송수신 포트(1211a)와, 전력포트(1211b)와, 고정부(1211c)를 포함하므로, 메모리카드 테스트유닛(1100)과 도킹되어 메모리카드 테스트 작업시 효율적으로 데이터를 송수신하고, 안정적인 전력을 공급하며, 메모리카드 테스트유닛(1100)을 고정하여 테스트의 안정성을 높이는 효과가 있다.
한편, 도킹유닛측 구동롤러(1220)는 도킹유닛 본체(1210) 내에 마련되며, 메모리카드 테스트유닛(1100)의 출입을 위해 메모리카드 테스트유닛(1100)을 구동시킨다.
즉, 본 발명에 따른 메모리카드 테스트유닛(1100)은 수동으로 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)에 도킹시킬 수 있지만, 본 실시예에 따른 메모리카드 테스트 장치(1000)는 도킹유닛측 구동롤러(1220)를 통해 자동으로 메모리카드 테스트유닛(1100)을 구동시켜 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)에 도킹시킬 수 있다.
따라서 메모리카드(1)의 테스트를 위하여 메모리카드(1)를 이동시키는 경우에 필요한 인력을 줄이고, 메모리카드(1) 테스트에 필요한 총 시간을 단축할 수 있으므로 메모리카드(1) 테스트의 효율성을 높일 수 있다.
도킹유닛 서포팅 플레이트(1230)는 도킹유닛 본체(1210)를 하부에서 지지하므로 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)의 안정성을 높이고, 메모리카드(1) 테스트의 신뢰성을 향상시킨다.
개별 온도 조절부(1240)는, 도킹공간(P2)의 온도를 조절시킬 수 있으며, 도킹공간(P2)의 온도 조절을 통해 고온 및 저온 상에서 메모리카드(1)의 성능을 테스트하는 극한 테스트를 실시할 수 있다. 즉, 극한 테스트를 위한 별도의 공정이 필요치 않으므로 메모리카드(1)의 테스트 효율성을 높이고, 본 발명에 따른 메모리카드 테스트 장치(1000)에서 테스트가 완료된 메모리카드(1)의 신뢰성을 높인다.
메모리카드 테스트유닛 스토커(1320)는, 테스트 작업위치(P1)에 이동 가능하게 마련되는 스토커 본체(1321)와, 스토커 선반(1322)을 포함하며, 메모리카드 테스트유닛(1100)을 미리 결정된 위치의 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)으로 전달하거나 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)에서 테스트가 완료된 메모리카드 테스트유닛(1100)을 취출시킨다.
즉, 본 실시예에 따른 메모리카드 테스트유닛 스토커(1320)는, 자동으로 메모리카드 테스트유닛(1100)을 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)으로 전달하거나 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)에서 메모리카드 테스트유닛(1100)을 취출시키므로, 메모리카드 테스트유닛(1100)의 이동 시간 및 필요 인력을 줄일 수 있어 메모리카드(1) 테스트의 효율성을 높인다. 다만 본 발명의 권리범위가 이에 한정되는 것은 아니며, 수동으로 메모리카드 테스트유닛(1100)을 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)을 전달하거나 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)에서 메모리카드 테스트유닛(1100)을 취출할 수 있다.
스토커 선반(1322)은, 스토커 본체(1321)에 업/다운(up/down) 이동 가능하게 결합되며, 메모리카드 테스트유닛(1100)을 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)으로 전달하거나 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)에서 테스트가 완료된 메모리카드 테스트유닛(1200)을 취출시키며, 베이스 플레이트(1322a)와, 베이스 플레이트(1322a) 상에 회전가능 하게 결합 되는 회전 플레이트(1322b)와, 다수의 테스트유닛 스토커측 구동 롤러(1322c)와, 테스트유닛 회동 방지 걸림모듈(1322d)을 포함한다.
다수의 테스트유닛 스토커측 구동롤러(1322c)는 회전 플레이트(1322b) 상에 마련되며, 메모리카드 테스트유닛(1100)의 출입을 위해 메모리카드 테스트유닛(1100)을 구동시킨다.
즉, 다수의 테스트유닛 스토커측 구동롤러(1322c)는, 자동으로 메모리카드 테스트유닛(1100)을 구동시키며, 전술한 바와 같이, 메모리카드 테스트유닛(1100)의 이동 시간 및 필요 인력을 줄일 수 있어 메모리카드(1) 테스트의 효율성을 높인다.
테스트유닛 회동 방지 걸림모듈(1322d)은, 회전 플레이트(1322b) 상에 마련되며, 메모리카드 테스트유닛(1100)의 회동을 방지하여, 메모리카드 테스트유닛(1100)의 이동시에 안정성을 높인다.
이러한 구성을 갖는 메모리카드 테스트 장치(1000)의 동작에 대하여 설명하면 다음과 같다.
도 9는 도 1의 메모리카드 테스트유닛과 도 5의 메모리카드 테스트용 도킹유닛을 포함하는 메모리카드 테스트 시스템의 평면도이고, 도 10은 도 9의 메모리카드 테스트 시스템의 일부 확대도이다.
본 실시예의 메모리카드 테스트 장치(1000)는 도 9에 나타난 바와 같이 메모리카드 테스트 시스템(10)에 배치되며, 메모리카드(1)를 테스트시키는 역할을 한다. 이하에서는 메모리카드 테스트 장치(1000)가 배치된 메모리카드 테스트 시스템(10)의 동작에 대하여 설명한다. 다만 본 발명의 권리범위가 이에 한정되는 것은 아니며, 필요에 따라 메모리카드 테스트 시스템(10)에 배치되지 않고 독립적으로 동작할 수 있다.
본 실시예의 메모리카드 테스트 시스템(10)은 도 9에 나타낸 바와 같이, 입고 트레이(1400)에는 테스트를 위하여 입고되는 메모리카드(1)가 적재된다. 메모리카드(1)가 적재된 입고 트레이(1400)는 입고 트레이 스테이션(1700)에 적재된다.
트레이 공용 스토커(1900)는 입고 트레이(1400)를 입고 트레이 스테이션(1700)에서 취출하여 메모리카드 전달유닛(1600)으로 전달시킨다.
메모리카드 전달유닛(1600)은 입고 트레이(1400) 상에 적재된 메모리카드(1)를 메모리카드 테스트유닛(1100)으로 전달한다.
메모리카드 전달유닛(1600)이 메모리카드(1)를 입고 트레이(1400)에서 메모리카드 테스트유닛(1100)으로 전달되는 과정을 자세히 설명하면 다음과 같다.
입고 트레이 커버 개방부(1630)는 입고 트레이 커버(1400a)와 입고 트레이(1400)를 분리하여 입고 트레이(1400)를 개방시킨다. 제1 픽앤플레이스부(1610)는 개방된 입고 트레이(1400)에서 메모리카드(1)를 취출하고, 제1 메모리카드 식별모듈(1611)은 메모리카드(1)의 식별부호를 인식한다. 제1 픽앤플레이스부(1610)는 식별부호가 인식된 메모리카드(1)를 메모리카드 테스트유닛(1100)에 장착한다.
즉, 메모리카드 전달유닛(1600)은 자동으로 메모리카드(1)를 입고 트레이(1400)에서 메모리카드 테스트유닛(1100)으로 전달하여 메모리카드 테스트에 필요한 시간과 인력을 줄여 메모리카드 테스트의 효율성을 높인다.
한편, 메모리카드 테스트유닛 스토커(1320)는 메모리카드 테스트유닛(1100)을 미리 결정된 위치의 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)으로 전달한다. 스토커측 구동롤러(1322c)는 메모리카드 테스트유닛(1100)을 구동시켜 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)으로 전달한다.
메모리카드 테스트유닛(1100)은 도킹공간(P2)에서 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)과 도킹되고, 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)은 메모리카드 테스트유닛(1100)이 도킹되면 메모리카드(1)에 대한 테스트 작업을 진행한다.
이때 개별 온도 조절부(1240)는 도킹공간(P2)의 온도를 조절시켜 메모리카드(1)에 대한 고온 또는 저온의 극한 테스트 작업을 진행할 수 있다.
그리고 메모리카드 테스트 스테이션(1300)은 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)을 개별적으로 지지하는 다수의 도킹유닛 지지용 선반을 구비하므로, 다수의 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)은 동시에 메모리카드(1) 테스트 작업을 진행할 수 있다.
다수의 도킹유닛측 구동롤러(1220)는 메모리카드 테스트유닛(1100)을 구동시키며, 메모리카드 테스트유닛 스토커(1320)는 메모리카드 테스트용 도킹유닛(1200)에서 테스트가 완료된 메모리카드 테스트유닛(1100)을 취출시킨다.
메모리카드 전달유닛(1600)은 메모리카드 테스트유닛(1100) 상에 장착된 메모리카드(1)를 출고 트레이(1500)로 전달한다.
메모리카드 전달유닛(1600)이 메모리카드 테스트유닛(1100) 상에 장착된 메모리카드(1)를 출고 트레이(1500)로 전달하는 과정을 자세히 설명하면 다음과 같다.
제2 픽앤플레이스부(1620)는 메모리카드 테스트유닛(1100)에서 메모리카드(1)를 취출하고, 제2 메모리카드 식별모듈(1621)은 메모리카드(1)의 식별부호를 인식한다. 제2 픽앤플레이스부(1620)는 식별부호가 인식된 메모리카드(1)를 출고 트레이(1500)에 적재한다.
이때 제2 픽앤플레이스부(1620)는, 테스트가 완료된 메모리카드(1) 중 정상 작동하는 메모리카드(1)를 정상 메모리카드 출고 트레이(1510)에 적재하고, 테스트가 완료된 메모리카드(1) 중 비정상 작동하는 메모리카드(1)를 비정상 메모리카드 출고 트레이(1520)에 적재한다.
출고 트레이 커버 결합부(1640)는 출고 트레이 커버(1500a)와 출고 트레이(1500)를 결합시킨다.
출고 트레이(1500)는 출고 트레이 스테이션(1800)에 적재되며, 이때 트레이 공용 스토커(1900)는 정상 메모리카드 출고 트레이(1510)와 비정상 메모리카드 출고 트레이(1520)를 구별하여 적재한다.
이와 같이 본 발명은 테스트가 완료된 메모리카드(1)를 자동으로 정상 메모리카드와 비정상 메모리카드로 구별하여 각각 정상 메모리카드 출고 트레이(1510)와 비정상 메모리카드 출고 트레이(1520)에 적재하므로 테스트 공정의 시간을 단축하고 인력을 감소시켜 테스트 공정의 효율성을 높인다.
이와 같이 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.
1000 : 메모리카드 테스트 장치 1100 : 메모리카드 테스트유닛
1110 : 무빙유닛 본체 1120 : 테스트 보드
1130 : 걸림부 1200 : 메모리카드 테스트용 도킹유닛
1210 : 도킹유닛 본체 1220 : 도킹유닛측 구동롤러
1230 : 도킹유닛 서포팅 플레이트 1240 : 개별 온도 조절부
1320 : 메모리카드 테스트유닛 스토커

Claims (15)

  1. 테스트유닛 본체;
    메모리카드를 지지하며, 상기 테스트유닛 본체 상에 마련되어 다수의 상기 메모리카드가 결합된 상태에서 테스트 작업이 진행되도록 하는 테스트 보드; 및
    상기 테스트유닛 본체 일면에 마련되며, 상기 메모리카드가 테스트되는 테스트 작업위치로 상기 메모리카드를 이동시킬 때 상기 테스트유닛 본체를 고정시키는 걸림부를 포함하며,
    상기 테스트유닛 본체는,
    상기 테스트 보드와 상기 테스트유닛 본체를 연결하는 인터포즈 보드;
    상기 인터포즈 보드 상에 마련되어 상기 테스트 보드로 상기 인터포즈 보드를 통하여 전원을 공급하는 파워포트;
    상기 인터포즈 보드 상에 마련되어 상기 테스트 보드로 상기 인터포즈 보드를 통하여 데이터를 입력하고 상기 테스트 보드로부터 상기 인터포즈 보드를 통하여 데이터를 출력하는 입출력포트; 및
    상기 메모리카드의 테스트 작업 진행시 흔들림을 방지하는 테스트용 고정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트유닛.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 테스트 보드는,
    배선 패턴이 형성된 기판본체;
    상기 배선 패턴과 전기적으로 연결되되 상기 기판본체의 일면에 배치되어 상기 메모리카드가 장착되는 메모리카드 테스트 슬롯; 및
    상기 기판본체의 타면에 배치되되 상기 배선 패턴과 전기적으로 연결되는 테스트용 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트유닛.
  3. 삭제
  4. 메모리카드를 지지하며, 상기 메모리카드가 테스트되는 테스트 작업위치로 상기 메모리카드를 이동시키기 위하여 마련되는 메모리카드 테스트유닛; 및
    상기 테스트 작업위치에 상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹(docking) 가능하도록 배치되며, 상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹될 때, 상기 메모리카드에 대한 테스트 작업을 진행하는 메모리카드 테스트용 도킹유닛을 포함하며,
    상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛은,
    상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹되는 도킹공간이 내부에 형성되는 도킹유닛 본체; 및
    상기 도킹유닛 본체 내에 마련되며, 상기 메모리카드 테스트유닛의 출입을 위해 상기 메모리카드 테스트유닛을 구동시키는 다수의 도킹유닛측 구동롤러를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 메모리카드 테스트유닛은,
    테스트유닛 본체;
    메모리카드를 지지하며, 상기 테스트유닛 본체 상에 마련되어 다수의 상기 메모리카드가 결합된 상태에서 테스트 작업이 진행되도록 하는 테스트 보드; 및
    상기 테스트유닛 본체 일면에 마련되며, 상기 메모리카드가 테스트되는 테스트 작업위치로 상기 메모리카드를 이동시킬 때 상기 테스트유닛 본체를 고정시키는 걸림부를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 테스트유닛 본체는,
    상기 테스트 보드와 상기 테스트유닛 본체를 연결하는 인터포즈 보드;
    상기 인터포즈 보드 상에 마련되어 상기 테스트 보드로 상기 인터포즈 보드를 통하여 전원을 공급하는 파워포트;
    상기 인터포즈 보드 상에 마련되어 상기 테스트 보드로 상기 인터포즈 보드를 통하여 데이터를 입력하고 상기 테스트 보드로부터 상기 인터포즈 보드를 통하여 데이터를 출력하는 입출력포트; 및
    상기 메모리카드의 테스트 작업 진행시 흔들림을 방지하는 테스트용 고정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 테스트 보드는,
    배선 패턴이 형성된 기판본체;
    상기 배선 패턴과 전기적으로 연결되되 상기 기판본체의 일면에 배치되어 상기 메모리카드가 장착되는 메모리카드 테스트 슬롯; 및
    상기 기판본체의 타면에 배치되되 상기 배선 패턴과 전기적으로 연결되는 테스트용 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치.
  8. 삭제
  9. 제4항에 있어서,
    상기 도킹유닛 본체는,
    상기 도킹유닛 본체 내부에 마련되며, 상기 메모리카드 테스트유닛과 도킹되는 도킹유닛 도킹부를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 도킹유닛 도킹부는,
    상기 도킹유닛 본체 내부에 마련되어 상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹될 때 상기 메모리카드 테스트유닛으로 데이터를 송신하거나 상기 메모리카드 테스트유닛으로부터 데이터를 수신하는 송수신 포트;
    상기 도킹유닛 본체 내부에 마련되어 상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹될 때 상기 메모리카드 테스트유닛으로 전력을 공급하는 전력포트; 및
    상기 도킹유닛 본체 내부에 마련되어 상기 메모리카드 테스트유닛이 도킹될때 상기 메모리카드 테스트유닛을 고정시키는 고정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치.
  11. 제4항에 있어서,
    상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛은,
    상기 도킹유닛 본체를 하부에서 지지하는 도킹유닛 서포팅 플레이트를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치.
  12. 제4항에 있어서,
    상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛은,
    상기 도킹공간의 온도를 조절시키는 개별 온도 조절부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치.
  13. 제4항에 있어서,
    상기 메모리카드 테스트유닛을 미리 결정된 위치의 상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛으로 전달하거나 상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛에서 테스트가 완료된 상기 메모리카드 테스트유닛을 취출시키는 메모리카드 테스트유닛 스토커를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 메모리카드 테스트유닛 스토커는,
    상기 테스트 작업위치에 이동 가능하게 마련되는 스토커 본체; 및
    상기 스토커 본체에 업/다운(up/down) 이동 가능하게 결합되며, 상기 메모리카드 테스트유닛을 상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛으로 전달하거나 상기 메모리카드 테스트용 도킹유닛에서 테스트가 완료된 상기 메모리카드 테스트유닛을 취출시키는 스토커 선반을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 스토커 선반은,
    베이스 플레이트;
    상기 베이스 플레이트 상에 회전가능 하게 결합 되는 회전 플레이트;
    상기 회전 플레이트 상에 마련되며, 상기 메모리카드 테스트유닛의 출입을 위해 상기 메모리카드 테스트유닛을 구동시키는 다수의 스토커측 구동롤러; 및
    상기 회전 플레이트 상에 마련되며, 상기 메모리카드 테스트유닛의 회동을 방지하는 회동방지 걸림모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 메모리카드 테스트 장치.
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