KR101864030B1 - 와인딩되는 재료용 검사장치 - Google Patents

와인딩되는 재료용 검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 와인딩되는 재료용 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 와인딩장치에 의해 와인딩되는 재료를 향하여 조명을 조사하기 위한 조명부, 상기 조명부에 의해 조명이 조사된 상기 재료의 영상을 획득하기 위한 카메라모듈, 상기 카메라모듈에 의해 획득한 영상신호를 수신하여 해당 재료 부분의 불량을 검출하기 위한 검출부, 상기 와인딩장치에 의해 와인딩되는 재료의 면과 상기 카메라모듈의 이격거리를 일정하게 유지시켜 포커싱을 조절하기 위한 위치조절수단, 및 상기 조명부와 카메라모듈, 검출부를 제어하기 위한 검출제어부,를 포함한다.
상기와 같은 본 발명에 의하면, 와인딩되는 재료에 대한 검사가 실시간 이루어지되, 와인딩 될수록 증가되는 두께에 대응하여 카메라모듈의 위치를 자동으로 조절함에 따라, 자동 포커싱은 물론, 선명한 영상을 획득하여 이물질유입이나 주름을 정밀하게 검출할 수 있으며, 이에, 제품의 품질을 향상시킬 수 있어 신뢰성을 향상시킬 수 있다.

Description

와인딩되는 재료용 검사장치{Inspection apparatuse for the material to be winding}
본 발명은 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 와인딩되는 재료에 대한 검사가 실시간으로 이루어지되, 와인딩되는 두께 즉, 원주크기에 대응하여 검사를 실시할 수 있도록 하여 품질과 신뢰성을 향상시킬 수 있는 와인딩되는 재료용 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로, 제작된 제품은 출하 전에, 불량검사가 이루어지는 것으로, 이 불량검사는 비파괴검사로 실시되고 있으며, 특히, 표면 검사에 의해 불량 여부를 확인하고 있다.
종래 표면검사장치로는 일본 특허 공개 평8-5573호에 개진된 바와 같이, 피검사물인 작업편(workpiece)의 표면에 평면광의 형태로 빛을 쏘는 광원으로서 조명장치를 구비하고 있다.
이 조명장치는 작업편의 한쪽 측면 위쪽에 경사지게 배치되며, 촬영장치는 영역 검지 카메라가 피검사물인 작업편의 다른 쪽 측면 위쪽에 경사지게 배치되어, 작업편으로부터 반사된 평면광을 포착하여 작업편의 표면 사진을 촬영한다.
이러한 방법으로, 표면검사장치는 작업편의 표면에 존재하는 와인딩주름이나 이물질 및 미세한 돌기를 검출한다.
그러나 종래 표면검사장치는 피검사물인 작업편을 이송시키는 상태에서 표면 사진을 획득함에 따라, 각 작업편의 높이가 달라 카메라의 포커싱이 변경되어 선명한 사진을 획득하지 못하는 문제점이 있다.
특히, 피검사물이 와인딩되는 금속 호일일 경우, 와인딩되는 호일 표면이 수평이동되지 않아 선명한 영상을 획득하기 더욱 어려운 문제점이 있다.
이러한 불명확한 영상을 통해서는 피검사물의 검사가 정밀하게 이루어지지 못함은 당연하며, 와인딩 공정 중 이물질유입이나 주름이 발생되어도, 지속하여 와인딩되는 호일에 의해 외측에서 확인할 수 없어 품질 저하는 물론, 신뢰성이 저하되는 문제점이 있다.
이에 따라, 와인딩되는 호일의 표면 영상을 명확하게 획득함은 물론, 표면의 위치가 달라져도 선명한 영상을 획득하여 검사 정밀도를 향상시킬 수 있는 기술에 대한 개발이 절실히 요구되고 있는 실정이다.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해소하기 위해 안출된 것으로써, 와인딩장치에 의해 와인딩되는 재료를 향하여 조명을 조사하기 위한 조명부, 상기 조명부에 의해 조명이 조사된 상기 재료의 영상을 획득하기 위한 카메라모듈, 상기 카메라모듈에 의해 획득한 영상신호를 수신하여 해당 재료 부분의 불량을 검출하기 위한 검출부, 상기 와인딩장치에 의해 와인딩되는 재료의 면과 상기 카메라모듈의 이격거리를 일정하게 유지시켜 포커싱을 조절하기 위한 위치조절수단, 및 상기 조명부와 카메라모듈, 검출부를 제어하기 위한 검출제어부,를 포함하여 와인딩되는 재료에 대한 검사가 실시간 이루어지되, 와인딩 될수록 증가되는 두께에 대응하여 카메라모듈의 위치를 자동으로 조절함에 따라, 자동 포커싱은 물론, 선명한 영상을 획득하여 이물질유입이나 주름을 정밀하게 검출할 수 있으며, 이에, 제품의 품질을 향상시킬 수 있어 신뢰성을 향상시킬 수 있는 와인딩되는 재료용 검사장치를 제공하는 것이 목적이다.
상기 목적을 이루기 위한 본 발명은, 와인딩장치에 의해 와인딩되는 재료를 향하여 조명을 조사하기 위한 조명부, 상기 조명부에 의해 조명이 조사된 상기 재료의 영상을 획득하기 위한 카메라모듈, 상기 카메라모듈에 의해 획득한 영상신호를 수신하여 해당 재료 부분의 불량을 검출하기 위한 검출부, 상기 와인딩장치에 의해 와인딩되는 재료의 면과 상기 카메라모듈의 이격거리를 일정하게 유지시켜 포커싱을 조절하기 위한 위치조절수단, 및 상기 조명부와 카메라모듈, 검출부를 제어하기 위한 검출제어부,를 포함한다.
바람직하게, 상기 와인딩장치는 재료를 와인딩하는 메인롤러를 갖고, 상기 카메라모듈은 상기 메인롤러의 중심축을 지나는 수직선상에 위치된다.
그리고 상기 카메라모듈은, 라인스캔카메라로, 복수 개 구비되어 상기 메인롤러의 중심축과 평행한 방향으로 배열된다.
또한, 상기 조명부는, 상기 각 카메라모듈에 대응되도록 복수 개 구비되어 상기 카메라모듈을 기준으로 재료의 와인딩되는 방향에 위치되어 와인딩되는 재료를 향해 조명을 조사한다.
그리고 상기 카메라모듈은 설치프레임에 의해 상기 메인롤러의 상측에 위치된다.
또한, 상기 설치프레임은, 일정간격 이격된 한 쌍의 고정프레임, 및 상기 카메라모듈이 구비되고, 상기 한 쌍의 고정프레임 사이를 따라 승강 가능하게 구비되는 이동프레임,을 포함한다.
그리고 상기 위치조절수단은, 상기 이동프레임에 구비되되, 상기 카메라모듈의 렌즈위치와 동일한 수평선상에서 상기 재료를 향하여 레이저를 조사하기 위한 레이저부, 상기 재료에 반사된 레이저를 수광하기 위한 수광부, 상기 수광부의 신호를 수신하여 상기 카메라모듈과 재료의 간격을 산출하기 위한 산출부, 상기 이동프레임을 승강시키기 위한 승강구동부, 및 상기 산출부의 신호를 수신하여 상기 승강구동부를 제어하기 위한 위치제어부,를 포함한다.
또한, 상기 위치조절수단은, 상기 메인롤러의 회전수를 검출하기 위한 엔코더, 상기 엔코더의 신호를 수신하여 상기 와인딩되는 재료의 두께를 산출하기 위한 산출부, 상기 이동프레임을 승강시키기 위한 승강구동부, 및 상기 산출부의 신호를 수신하여 상기 승강구동부를 제어하기 위한 위치제어부,를 포함한다.
그리고 상기 와인딩장치에 최초 와인딩되는 상기 재료의 최초 이미지에서 엣지에 해당되는 픽셀 좌표로 기준좌표가 설정되고, 상기 카메라모듈의 위치(A), 카메라모듈과 재료의 수직 이격거리(L), 카메라모듈과 재료를 수직으로 지나는 수직연장선이 재료와 만나는 수직위치(B)와 와인딩되는 재료의 엣지(E)의 수평 이격거리(X)가 설정되며, 상기 위치조절수단은, 상기 카메라모듈에 의해 획득한 상기 재료의 이미지에서 재료의 엣지가 위치된 픽셀의 좌표를 실시간 확인하기 위한 이미지분석부, 상기 이미지분석부에서 확인된 각 이미지의 픽셀 좌표를 기설정된 기준좌표와 비교하여 차이값을 확인하기 위한 이미지비교부, 상기 이미지비교부의 차이값을 수신하여 각 차이값에 의해 상기 카메라모듈의 수직 이동거리를 산출하기 위한 산출부, 상기 이동프레임을 승강시키기 위한 승강구동부, 및 상기 산출부의 신호를 수신하여 상기 승강구동부를 제어하기 위한 위치제어부,를 포함한다.
또한, 상기 위치조절수단은, 상기 엣지(E)를 향하여 일정 길이를 갖는 라인 레이저 빔을 조사하기 위한 레이저부, 상기 카메라모듈에 의해 획득된 이미지에서 상기 라인 레이저 빔이 조사된 픽셀의 좌표를 실시간 확인하기 위한 이미지분석부, 상기 이미지분석부에서 확인된 각 이미지의 픽셀 좌표를 기설정된 기준좌표와 비교하여 차이값을 확인하기 위한 이미지비교부, 상기 이미지비교부의 차이값을 수신하여 각 차이값에 의해 상기 카메라모듈의 수직 이동거리를 산출하기 위한 산출부, 상기 이동프레임을 승강시키기 위한 승강구동부, 및 상기 산출부의 신호를 수신하여 상기 승강구동부를 제어하기 위한 위치제어부,를 포함하고, 상기 위치제어부는, 와인딩장치에 최초 와인딩되는 상기 재료의 최초 이미지에서 라인 레이저 빔의 픽셀 좌표로 기준좌표가 설정되며, 상기 카메라모듈의 위치(A), 카메라모듈과 재료의 수직 이격거리(L), 카메라모듈과 재료를 수직으로 지나는 수직연장선이 재료와 만나는 수직위치(B), 상기 수직위치(B)와 라인 레이저 빔의 수평 이격거리(X)가 기설정된다.
그리고 상기 레이저부는, 라인 레이저 빔을 와인딩되는 재료의 원주방향으로 조사한다.
상기한 바와 같이, 본 발명에 의한 와인딩되는 재료용 검사장치에 의하면, 와인딩되는 재료에 대한 검사가 실시간 이루어지되, 와인딩 될수록 증가되는 두께에 대응하여 카메라모듈의 위치를 자동으로 조절함에 따라, 자동 포커싱은 물론, 선명한 영상을 획득하여 이물질유입이나 주름을 정밀하게 검출할 수 있으며, 이에, 제품의 품질을 향상시킬 수 있어 신뢰성을 향상시킬 수 있게 하는 매우 유용하고 효과적인 발명이다.
도 1은 본 발명에 따른 검사장치를 도시한 도면이고,
도 2는 본 발명에 따른 설치프레임을 도시한 도면이며,
도 3은 본 발명에 따른 검사장치의 위치조절수단을 도시한 도면이고,
도 4는 본 발명에 따른 위치조절수단의 다른 실시 예를 도시한 도면이며,
도 5는 본 발명에 따른 위치조절수단의 또 다른 실시 예를 도시한 도면이다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시 형태를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 첨부된 도면과 함께 이하에 개시될 상세한 설명은 본 발명의 예시적인 실시형태를 설명하고자 하는 것이며, 본 발명이 실시될 수 있는 유일한 실시형태를 나타내고자 하는 것이 아니다. 이하의 상세한 설명은 본 발명의 완전한 이해를 제공하기 위해서 구체적 세부사항을 포함한다. 그러나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 이러한 구체적 세부사항 없이도 실시될 수 있음을 안다.
몇몇 경우, 본 발명의 개념이 모호해지는 것을 피하기 위하여 공지의 구조 및 장치는 생략되거나, 각 구조 및 장치의 핵심기능을 중심으로 한 블록도 형식으로 도시될 수 있다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함(comprising 또는 including)"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "…부"의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미한다. 또한, "일(a 또는 an)", "하나(one)", "그(the)" 및 유사 관련어는 본 발명을 기술하는 문맥에 있어서(특히, 이하의 청구항의 문맥에서) 본 명세서에 달리 지시되거나 문맥에 의해 분명하게 반박되지 않는 한, 단수 및 복수 모두를 포함하는 의미로 사용될 수 있다.
본 발명의 실시 예들을 설명함에 있어서 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 후술되는 용어들은 본 발명의 실시예에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 검사장치를 도시한 도면이고, 도 2는 본 발명에 따른 설치프레임을 도시한 도면이며, 도 3은 본 발명에 따른 검사장치의 위치조절수단을 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명에 따른 위치조절수단의 다른 실시 예를 도시한 도면이다.
도면에서 도시한 바와 같이, 검사장치(10)는 조명부(100)와 카메라모듈(200), 검출부(300), 위치조절수단(400) 및 검출제어부(500)로 구성된다.
조명부(100)는 와인딩장치(20)에 의해 와인딩되는 재료(1)를 향하여 조명을 조사하기 위해 구비된다.
그리고 카메라모듈(200)은 조명부(100)에 의해 조명이 조사된 재료(1)의 영상을 획득하기 위해 구비된다.
검출부(300)는 카메라모듈(200)에 의해 획득한 영상신호를 수신하여 해당 재료 부분의 불량을 검출하기 위해 구비된다.
이러한 검출부(300)는 카메라모듈(200)을 통해 획득한 영상과 정상적으로 와인딩되는 재료 영상을 비교하여 이물질유입이나 주름 발생을 검출할 수 있다.
영상 비교 시, 영상 이미지 전체를 비교하거나 해당 위치에 대응하는 각 픽셀을 각각 비교하여 더욱 정밀한 검출이 이루어짐이 바람직하다.
물론, 이러한 검출방법은 한정된 것이 아니라, 획득한 영상으로 통해 이물질유입이나 주름을 확인할 수 있는 방법이라면 적용 가능함이 당연하다.
또한 위치조절수단(400)은 와인딩장치(20)에 의해 와인딩되는 재료(1)의 면과 카메라모듈(200)의 이격거리를 일정하게 유지시켜 포커싱을 조절하기 위해 구비된다.
검출제어부(500)는 조명부(100)와 카메라모듈(200), 검출부(300)를 제어하기 위한 구비된다.
여기서, 와인딩되는 재료는 금속 호일이나 수지재질의 필름 즉, 비닐필름 등으로, 와인딩될 수 있는 유연성을 갖고, 길게 형성되는 재질이면 해당됨이 당연하다.
이러한 금속 호일 검사장치(10)는 와인딩되는 재료(1)의 표면 영상을 실시간으로 획득하여 이물질혼입과 주름을 검출함에 따라, 제품의 품질과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
여기서, 와인딩장치(20)는 재료(1)를 와인딩하는 메인롤러(22)를 갖고, 카메라모듈(200)은 메인롤러(22)의 중심축을 지나는 수직선상에 위치된다.
이러한 카메라모듈(200)은 라인스캔카메라로, 복수 개 구비되어 메인롤러(200)의 중심축과 평행한 방향으로 배열된다.
일 실시 예로, 카메라모듈(200)은 4대가 설치되어 와인딩되는 금속 호일의 면에 대한 영상이미지를 획득한다.
물론, 이 카메라모듈(200)은 금속 호일의 폭에 대응되도록 개수가 설치되어 사용됨이 당연하다.
그리고 조명부(100)는 각 카메라모듈(200)에 대응되도록 복수 개 구비되어 카메라모듈(200)을 기준으로 재료(1)의 와인딩되는 방향에 위치되어 와인딩되는 재료(1)를 향해 조명을 조사한다.
이러한 카메라모듈(200)은 설치프레임(600)에 의해 메인롤러(22)의 상측에 위치된다.
설치프레임(600)은 도 2에서 도시한 바와 같이, 고정프레임(610)과 이동프레임(620)으로 구성된다.
고정프레임(610)은 한 쌍으로, 일정간격 이격되고, 이동프레임(620)은 카메라모듈(200)이 구비되고, 한 쌍의 고정프레임(610) 사이를 따라 승강 가능하게 구비된다.
그리고 위치조절수단(400)은 도 3에서 도시한 바와 같이, 레이저부(410)와 수광부(420), 산출부(430), 승강구동부(440) 및 위치제어부(450)로 구성된다.
레이저부(410)는 이동프레임(620)에 구비되되, 카메라모듈(200)의 렌즈 위치와 동일한 위치에서 금속 호일(1)을 향하여 레이저를 조사하기 위해 구비된다.
또한 수광부(420)는 재료(1)에 반사된 레이저를 수광하기 위해 구비된다.
산출부(430)는 수광부(420)의 신호를 수신하여 카메라모듈(200)과 재료(1)의 간격을 산출하기 위해 구비된다.
그리고 승강구동부(440)는 이동프레임(620)을 승강시키기 위해 구비되며, 위치제어부(450)는 산출부(430)의 신호를 수신하여 승강구동부(440)를 제어하기 위해 구비된다.
이러한 위치조절수단(400)에 의해 이동프레임(620)의 위치를 자동으로 조절함에 따라, 설치된 카메라모듈(200)을 와인딩되는 재료(1)와의 일정간격을 유지시킴은 물론, 포커싱을 자동으로 조절할 수 있다.
한편, 도 4에서 도시한 바와 같이, 다른 실시 예의 위치조절수단(400')은 엔코더(410')와 산출부(420'), 승강구동부(430') 및 위치제어부(440')로 구성된다.
엔코더(410')는 메인롤러(22)의 회전수를 검출하기 위해 구비된다.
그리고 산출부(420')는 엔코더(410')의 신호를 수신하여 와인딩되는 재료(1)의 두께를 산출하기 위해 구비된다.
승강구동부(430')는 이동프레임(620)을 승강시키기 위해 구비되고, 위치제어부(440')는 산출부(420')의 신호를 수신하여 승강구동부(430')를 제어하기 위해 구비된다.
이러한 위치조절수단(400')은 재료(1)의 두께를 알고, 메인롤러(22)의 회전수 및 회전 각도에 따라, 카메라모듈(200)이 위치된 방향의 와인딩된 전체두께를 산출한다.
그리고 산출값을 설정된 카메라모듈(200)의 금속 호일과의 이격거리값과 비교하여 일치되도록 승강구동부(430')를 제어하여 카메라모듈(200)의 위치를 조절한다.
또한 도 5에서 도시한 바와 같이, 또 다른 실시 예의 위치조절수단(400")은 이미지분석부(410")와 이미지비교부(420"), 산출부(430"), 승강구동부(440") 및 위치제어부(450")로 구성된다.
이에 앞서, 산출부(430") 또는 위치제어부(450")는 와인딩장치에 최초 와인딩되는 재료(1)의 최초 이미지에서 엣지에 해당되는 픽셀 좌표로 기준좌표가 설정되어 저장된다.
그리고 카메라모듈의 위치(A), 카메라모듈과 재료의 수직 이격거리(L), 카메라모듈과 재료(1)를 수직으로 지나는 수직연장선이 재료(1)와 만나는 수직위치(B)와 재료 엣지(E)의 수평 이격거리(X) 역시 설정되어 저장된다.
물론, 이 설정되는 값들은 현장 상황에 따라, 변동됨이 당연하다.
또한 재료 엣지(E)는 와인딩되는 재료(1)의 엣지 중 상단부를 말하는 것으로, 촬상된 이미지에서 중앙에 위치된 엣지(E)이다.
이러한 상태에서, 이미지분석부(410")는 카메라모듈(200)에 의해 획득한 재료(1)의 이미지에서 재료의 엣지(E)가 위치된 픽셀의 좌표를 실시간 확인하기 위해 구비된다.
또한 이미지비교부(420")는 이미지분석부(410")에서 확인된 각 이미지의 픽셀 좌표를 기설정된 기준좌표와 비교하여 차이값을 확인하기 위해 구비된다.
산출부(430")는 이미지비교부(420")의 차이값을 수신하여 각 차이값에 의해 카메라모듈(200)의 수직 이동거리를 산출하기 위해 구비된다.
그리고 승강구동부(440")는 이동프레임(620)을 승강시키기 위해 구비되며, 위치제어부(450")는 산출부(430")의 신호를 수신하여 승강구동부(440")를 제어하기 위해 구비된다.
한편, 도 6에서 도시한 바와 같이, 또 다른 실시 예의 위치조절수단(700)은 레이저부(710)와 이미지분석부(720), 이미지비교부(730), 산출부(740), 승강구동부(750) 및 위치제어부(760)를 포함한다.
레이저부(710)는 엣지(E)를 향하여 일정 길이를 갖는 라인 레이저 빔을 조사하기 위해 구비된다.
이러한 레이저부(710)는 라인 레이저 빔을 와인딩되는 재료의 원주방향으로 조사한다.
그리고 이미지분석부(720)는 카메라모듈(200)에 의해 획득된 이미지에서 라인 레이저 빔의 조사된(C) 픽셀의 좌표를 실시간 확인하기 위해 구비된다.
이미지비교부(730)는 이미지분석부(720)에서 확인된 각 이미지의 픽셀 좌표를 기설정된 기준좌표와 비교하여 차이값을 확인하기 위해 구비된다.
또한 산출부(740)는 이미지비교부(730)의 차이값을 수신하여 각 차이값에 의해 카메라모듈(200)의 수직 이동거리를 산출하기 위해 구비된다.
승강구동부(750)는 이동프레임(620)을 승강시키기 위해 구비되고, 위치제어부(760)는 산출부(740)의 신호를 수신하여 승강구동부(750)를 제어하기 위해 구비된다.
이에 앞서, 위치제어부(760)는 와인딩장치에 최초 와인딩되는 재료(1)의 최초 이미지에서 라인 레이저 빔의 픽셀 좌표로 기준좌표가 설정되어 저장된다.
그리고 카메라모듈(200)의 위치(A), 카메라모듈(200)과 재료의 수직 이격거리(L), 카메라모듈(200)과 재료(1)를 수직으로 지나는 수직연장선이 재료(1)와 만나는 수직위치(B), 이 수직위치(B)와 라인 레이저 빔의 단부의 수평 이격거리(X)가 기설정되어 저장된다.
물론, 이 설정되는 값들은 현장 상황에 따라, 변동됨이 당연하다.
이러한 상태에서, 이미지분석부(720)는 카메라모듈(200)에 의해 획득한 재료(1)의 이미지에서 재료에 조사된 레이저부(710)의 라인 레이저 빔의 단부(C)가 위치된 픽셀의 좌표를 실시간 확인하기 위해 구비된다.
또한 이미지비교부(730)는 이미지분석부(720)에서 확인된 각 이미지의 픽셀 좌표를 기설정된 기준좌표와 비교하여 차이값을 확인하기 위해 구비된다.
산출부(740)는 이미지비교부(730)의 차이값을 수신하여 각 차이값에 의해 카메라모듈(200)의 수직 이동거리를 산출하기 위해 구비된다.
그리고 승강구동부(750)는 이동프레임(620)을 승강시키기 위해 구비되며, 위치제어부(760)는 산출부(740)의 신호를 수신하여 승강구동부(750)를 제어하기 위해 구비된다.
이러한 각 실시 예의 위치조절수단(400, 400', 400")에 의해 카메라모듈(200)의 위치가 자동으로 조절됨은 물론, 자동으로 포커싱됨에 따라, 와인딩되는 금속 호일에 대한 검사가 실시간 이루어지며, 이물질유입이나 주름이 발생될 경우, 즉각 대응하여 품질향상은 물론, 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
10 : 검사장치 100 : 조명부
200 : 카메라모듈 300 : 검출부
400, 400', 400", 700 : 위치조절수단
410 : 레이저부 420 : 수광부
430 : 산출부 440 : 승강구동부
450 : 위치제어부 410' : 엔코더
420' : 산출부 430' : 승강구동부
440' : 위치제어부 410" : 이미지분석부
420" : 이미지비교부 430" : 산출부
440" : 승강구동부 450" : 위치제어부
710 : 레이저부 720 : 이미지분석부
730 : 이미지비교부 740 : 산출부
750 : 승강구동부 760 : 위치제어부
500 : 검출제어부 600 : 설치프레임

Claims (9)

  1. 와인딩장치에 의해 와인딩되는 재료를 향하여 조명을 조사하기 위한 조명부;
    상기 조명부에 의해 조명이 조사된 상기 재료의 영상을 획득하기 위한 카메라모듈;
    상기 카메라모듈에 의해 획득한 영상신호를 수신하여 해당 재료 부분의 불량을 검출하기 위한 검출부;
    상기 와인딩장치에 의해 와인딩되는 재료의 면과 상기 카메라모듈의 이격거리를 일정하게 유지시켜 포커싱을 조절하기 위한 위치조절수단; 및
    상기 조명부와 카메라모듈, 검출부를 제어하기 위한 검출제어부;를 포함하며,
    상기 와인딩장치는 재료를 와인딩하는 메인롤러를 갖고,
    상기 카메라모듈은 라인스캔카메라로, 설치프레임에 의해 상기 메인롤러의 상측에 위치되되, 상기 메인롤러의 중심축과 평행한 방향으로 복수 개 배열되도록 상기 메인롤러의 중심축을 지나는 수직선상에 위치되며,
    상기 조명부는,
    상기 각 카메라모듈에 대응되도록 복수 개 구비되어 상기 카메라모듈을 기준으로 재료의 와인딩되는 방향에 위치되어 와인딩되는 재료를 향해 조명을 조사하고,
    상기 설치프레임은,
    일정간격 이격된 한 쌍의 고정프레임; 및
    상기 카메라모듈이 구비되고, 상기 한 쌍의 고정프레임 사이를 따라 승강 가능하게 구비되는 이동프레임;을 포함하며,
    상기 와인딩장치에 최초 와인딩되는 상기 재료의 최초 이미지에서 엣지에 해당되는 픽셀 좌표로 기준좌표가 설정되고,
    상기 카메라모듈의 위치(A), 카메라모듈과 재료의 수직 이격거리(L), 카메라모듈과 재료를 수직으로 지나는 수직연장선이 재료와 만나는 수직위치(B)와 와인딩되는 재료의 엣지(E)의 수평 이격거리(X)가 설정되며,
    상기 위치조절수단은,
    상기 카메라모듈에 의해 획득한 상기 재료의 이미지에서 재료의 엣지가 위치된 픽셀의 좌표를 실시간 확인하기 위한 이미지분석부;
    상기 이미지분석부에서 확인된 각 이미지의 픽셀 좌표를 기설정된 기준좌표와 비교하여 차이값을 확인하기 위한 이미지비교부;
    상기 이미지비교부의 차이값을 수신하여 각 차이값에 의해 상기 카메라모듈의 수직 이동거리를 산출하기 위한 산출부;
    상기 이동프레임을 승강시키기 위한 승강구동부; 및
    상기 산출부의 신호를 수신하여 상기 승강구동부를 제어하기 위한 위치제어부;를 포함하는 와인딩되는 재료용 검사장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 와인딩장치에 의해 와인딩되는 재료를 향하여 조명을 조사하기 위한 조명부;
    상기 조명부에 의해 조명이 조사된 상기 재료의 영상을 획득하기 위한 카메라모듈;
    상기 카메라모듈에 의해 획득한 영상신호를 수신하여 해당 재료 부분의 불량을 검출하기 위한 검출부;
    상기 와인딩장치에 의해 와인딩되는 재료의 면과 상기 카메라모듈의 이격거리를 일정하게 유지시켜 포커싱을 조절하기 위한 위치조절수단; 및
    상기 조명부와 카메라모듈, 검출부를 제어하기 위한 검출제어부;를 포함하며,
    상기 와인딩장치는 재료를 와인딩하는 메인롤러를 갖고,
    상기 카메라모듈은 라인스캔카메라로, 설치프레임에 의해 상기 메인롤러의 상측에 위치되되, 상기 메인롤러의 중심축과 평행한 방향으로 복수 개 배열되도록 상기 메인롤러의 중심축을 지나는 수직선상에 위치되며,
    상기 조명부는,
    상기 각 카메라모듈에 대응되도록 복수 개 구비되어 상기 카메라모듈을 기준으로 재료의 와인딩되는 방향에 위치되어 와인딩되는 재료를 향해 조명을 조사하고,
    상기 설치프레임은,
    일정간격 이격된 한 쌍의 고정프레임; 및
    상기 카메라모듈이 구비되고, 상기 한 쌍의 고정프레임 사이를 따라 승강 가능하게 구비되는 이동프레임;을 포함하며,
    상기 위치조절수단은,
    엣지(E)를 향하여 일정 길이를 갖는 라인 레이저 빔을 조사하기 위한 레이저부;
    상기 카메라모듈에 의해 획득된 이미지에서 상기 라인 레이저 빔이 조사된 픽셀의 좌표를 실시간 확인하기 위한 이미지분석부;
    상기 이미지분석부에서 확인된 각 이미지의 픽셀 좌표를 기설정된 기준좌표와 비교하여 차이값을 확인하기 위한 이미지비교부;
    상기 이미지비교부의 차이값을 수신하여 각 차이값에 의해 상기 카메라모듈의 수직 이동거리를 산출하기 위한 산출부;
    상기 이동프레임을 승강시키기 위한 승강구동부; 및
    상기 산출부의 신호를 수신하여 상기 승강구동부를 제어하기 위한 위치제어부;를 포함하고,
    상기 위치제어부는,
    와인딩장치에 최초 와인딩되는 상기 재료의 최초 이미지에서 라인 레이저 빔의 픽셀 좌표로 기준좌표가 설정되며, 상기 카메라모듈의 위치(A), 카메라모듈과 재료의 수직 이격거리(L), 카메라모듈과 재료를 수직으로 지나는 수직연장선이 재료와 만나는 수직위치(B), 상기 수직위치(B)와 라인 레이저 빔의 수평 이격거리(X)가 기설정되며,
    상기 레이저부는,
    라인 레이저 빔을 와인딩되는 재료의 원주방향으로 조사하는 것을 특징으로 하는 와인딩되는 재료용 검사장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108411391B (zh) * 2018-04-26 2024-03-01 福建省力恒锦纶实业有限公司 一种用于锦纶丝的卷绕装置
CN110038822A (zh) * 2019-04-20 2019-07-23 东莞中科蓝海智能视觉科技有限公司 反光圆环件的视觉检测方法
CN110095473A (zh) * 2019-06-04 2019-08-06 哈尔滨理工大学 一种风电叶片表面缺陷检测***
CN115808130B (zh) * 2021-10-14 2023-12-12 宁德时代新能源科技股份有限公司 一种电芯卷绕校准方法及设备
CN114488465A (zh) * 2022-03-02 2022-05-13 桂林航天电子有限公司 一种线圈绕制专用视觉放大观察装置和方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101192118B1 (ko) * 2009-12-31 2012-10-17 유진인스텍 주식회사 복수조명을 이용한 스트립의 표면결함검출장치
KR101324015B1 (ko) * 2011-08-18 2013-10-31 바슬러 비전 테크놀로지스 에이지 유리기판 표면 불량 검사 장치 및 검사 방법
KR20140100127A (ko) * 2013-02-05 2014-08-14 유진인스텍 주식회사 권취 롤의 측면 형상 결함검사장치
KR20150077890A (ko) * 2013-12-30 2015-07-08 동우 화인켐 주식회사 롤 형태의 적층물의 표면 검사 장치

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