KR101858567B1 - Apparatus for slitting web and method for adjusting knife used in slitting web - Google Patents

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Abstract

일 방향으로 진행하는 원단을 슬리팅(slitting)하는 원단 슬리팅 장치 및 원단 슬리팅 장치에 구비된 나이프(knife)의 위치를 정밀하게 조정하는 방법이 개시된다. 개시된 원단 슬리팅 장치는, 원단(web)을 지지하며 회전하는 지지 롤러, 지지 롤러와 동축(同軸) 회전하도록 지지 롤러에 끼워진 제1 나이프(knife), 원단을 그 진행 방향과 평행하게 슬리팅(slitting)하도록 제1 나이프에 대해 배치된 제2 나이프, 제2 나이프를 회전 가능하게 고정 지지하며, 제1 나이프의 회전 축선과 평행한 방향으로 이동 가능한 제2 나이프 홀더(holder), 제2 나이프가 제1 나이프의 회전 축선과 평행하며 제2 나이프의 말단부가 제1 나이프의 말단부에 접근하는 방향으로 이동할 때, 제2 나이프에 가해지는 하중을 측정하는 로드셀(load cell), 및 제2 나이프가 제1 나이프의 회전 축선과 평행하며 제2 나이프의 말단부가 제1 나이프의 말단부에서 이격되는 방향으로 이동할 때, 제2 나이프가 간격 조정용 영점으로부터 이동한 거리를 실시간으로 측정하는 간격 측정용 리니어 스케일(linear scale)을 구비한다. 간격 조정용 영점은, 로드셀의 측정값이 급격히 증가하는 때 제2 나이프의 위치이다.Disclosed is a fabric slitting apparatus for slitting a fabric in one direction and a method for precisely adjusting a knife position of a fabric slitting apparatus. The disclosed fabric slitting apparatus includes a support roller that supports and rotates a web, a first knife that is inserted into the support roller so as to coaxially rotate with the support roller, a first knife that slides the fabric parallel to the traveling direction a second knife holder rotatably and fixedly supporting a second knife and a second knife disposed with respect to the first knife for slitting the first knife and movable in a direction parallel to the rotation axis of the first knife, A load cell for measuring a load applied to the second knife in parallel with the axis of rotation of the first knife and moving in a direction in which the distal end of the second knife approaches the distal end of the first knife, 1 distance in parallel with the axis of rotation of the knife and moving the distal end of the second knife away from the distal end of the first knife, It is provided with a linear scale for measuring distance (linear scale). The zero point for the gap adjustment is the position of the second knife when the measured value of the load cell is abruptly increased.

Description

원단 슬리팅 장치 및 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법{Apparatus for slitting web and method for adjusting knife used in slitting web}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a fabric slitting apparatus and a fabric slitting apparatus,

본 발명은, 일 방향으로 진행하는 원단을 슬리팅(slitting)하는 원단 슬리팅 장치 및 원단 슬리팅 장치에 구비된 나이프(knife)의 위치를 정밀하게 조정하는 방법을 제공한다.The present invention provides a fabric slitting apparatus for slitting a fabric in one direction and a method for precisely adjusting the position of a knife provided in the fabric slitting apparatus.

롤투롤(roll-to-roll) 방식은 일 측에서 롤(roll) 형태로 권취된 원단을 풀어 공급하고 타 측에서 상기 공급된 원단을 롤 형태로 재권취하여 회수하는 도중에 상기 원단에 코팅, 열처리, 합지 등의 개별 공정을 부가하여 주로 중간재인 제품을 제조하는 방식이다. In the roll-to-roll method, a raw material wound in a roll form is unwound from one side, and the raw material is coated, heat-treated, Laminates, etc., are added to produce a product which is mainly an intermediate product.

롤투롤 방식을 적용한 제품 생산 공정 중에 원단의 진행 방향과 평행하게 원단을 절개하여 분리하는 슬리팅(slitting) 공정이 포함될 수 있다. 슬리팅 공정을 진행하는 원단 슬리팅 장치는 말단부가 서로 겹쳐지는 하측 나이프와 상측 나이프를 구비한다. 일반적인 원단의 슬리팅 공정에서는 하측 나이프의 말단부와 상측 나이프의 말단부가 접촉된 경우에 원단이 진행 지체 없이 빠르게 절단되며, 원단의 절단면도 매끄럽다. 그러나, 예컨대, 이차전지 전극과 같이 금속 소재가 포함되어 하중이 크고 두꺼운 원단의 경우에는 하측 나이프의 말단부와 상측 나이프의 말단부가 접촉되어 있으면 절단면도 매끄럽지 않고, 슬리팅(slitting) 작업 속도도 지연된다. 슬리팅 작업 속도 지연은 롤투롤 작업 생산성을 저하시키는 원인이 된다. 특히 이차전지 전극의 경우에는 매끄럽지 않은 절단면에 먼지 등의 이물질이 들러붙기 쉬운데, 상기 이물질로 인해 이차전지의 성능이 저하될 수 있고, 심한 경우 이차전지의 폭발 사고가 발생할 수도 있다.A slitting process may be included in which the fabric is cut and separated in parallel with the traveling direction of the fabric during the product manufacturing process using the roll-to-roll method. The fabric slitting apparatus for performing the slitting process has a lower knife and an upper knife which have their distal ends overlapping with each other. In the general fabric slitting process, when the distal end of the lower knife is in contact with the distal end of the upper knife, the fabric is cut quickly without any delay, and the cut surface of the fabric is also smooth. However, in the case of a fabric having a large load and a large thickness including a metal material such as a secondary battery electrode, if the distal end of the lower knife is in contact with the distal end of the upper knife, the cut surface is not smooth and the slitting operation speed is also delayed . Delay in the slitting operation slows the productivity of the roll-to-roll operation. Particularly, in the case of a secondary battery electrode, foreign matter such as dust adheres to a non-smooth cut surface. The foreign matter can deteriorate the performance of the secondary battery, and an explosion accident of the secondary battery may occur in severe cases.

대한민국 공개특허공보 제10-1050337호Korean Patent Publication No. 10-1050337

본 발명은, 원단 슬리팅(slitting) 작업시에 한 쌍의 나이프 말단부가 미세하게 이격되어야 하는 경우에, 상기 한 쌍의 나이프 말단부가 이격된 거리와 겹쳐진 폭, 즉 오버랩(overlap)이 정밀하게 조정되는 원단 슬리팅 장치, 및 상기 나이프의 위치를 정밀하게 조정하는 방법을 제공한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is based on the finding that when a pair of knife end portions are to be finely spaced in a fabric slitting operation, the distance between the pair of knife end portions and the overlapping width, And a method of precisely adjusting the position of the knife.

본 발명은, 원단(web)을 지지하며 회전하는 지지 롤러, 상기 지지 롤러와 동축(同軸) 회전하도록 상기 지지 롤러에 끼워진 제1 나이프(knife), 상기 원단을 그 진행 방향과 평행하게 슬리팅(slitting)하도록 상기 제1 나이프에 대해 배치된 제2 나이프, 상기 제2 나이프를 회전 가능하게 고정 지지하며, 상기 제1 나이프의 회전 축선과 평행한 방향으로 이동 가능한 제2 나이프 홀더(holder), 상기 제2 나이프가 상기 제1 나이프의 회전 축선과 평행하며 상기 제2 나이프의 말단부가 상기 제1 나이프의 말단부에 접근하는 방향으로 이동할 때, 상기 제2 나이프에 가해지는 하중을 측정하는 로드셀(load cell), 및 상기 제2 나이프가 상기 제1 나이프의 회전 축선과 평행하며 상기 제2 나이프의 말단부가 상기 제1 나이프의 말단부에서 이격되는 방향으로 이동할 때, 상기 제2 나이프가 간격 조정용 영점으로부터 이동한 거리를 실시간으로 측정하는 간격 측정용 리니어 스케일(linear scale)을 구비하고, 상기 간격 조정용 영점은, 상기 로드셀의 측정값이 급격히 증가하는 때 상기 제2 나이프의 위치인 원단 슬리팅 장치를 제공한다. The present invention relates to a knitting machine comprising a support roller for supporting and rotating a web, a first knife fitted to the support roller so as to be coaxial with the support roller, a second knife holder rotatably fixed to the first knife and slidably coupled to the first knife and movable in a direction parallel to the rotation axis of the first knife, A load cell for measuring a load applied to the second knife when the second knife is parallel to the rotation axis of the first knife and moves in a direction in which the distal end of the second knife approaches the distal end of the first knife, And when the second knife is parallel to the rotation axis of the first knife and moves in a direction in which the distal end of the second knife is spaced from the distal end of the first knife, And a linear scale for measuring an interval in which the distance from the zero point for adjusting the gap is measured in real time, wherein the zero point for the gap adjustment is a position of the second knife when the measurement value of the load cell is abruptly increased A fabric slitting device is provided.

상기 제2 나이프 홀더는 상기 제2 나이프의 회전 축선이 상기 제1 나이프의 회전 축선에 접근하는 방향 및 이격되는 방향으로 이동 가능하고, 상기 원단 슬리팅 장치는, 상기 제2 나이프가 상기 제2 나이프의 회전 축선이 상기 제1 나이프의 회전 축선에서 이격되는 방향으로 이동할 때, 상기 제2 나이프가 오버랩 조정용 영점으로부터 이동한 거리를 실시간으로 측정하는 오버랩 측정용 리니어 스케일을 더 구비하고, 상기 오버랩 측정용 영점은, 상기 제2 나이프가 상기 제2 나이프의 회전 축선이 상기 제1 나이프의 회전 축선에 접근하는 방향으로 이동하여 상기 제2 나이프 홀더의 외주면이 상기 지지 롤러의 외주면에 밀착되는 때 상기 제2 나이프의 위치일 수 있다. Wherein the second knife holder is movable in a direction in which the rotation axis of the second knife approaches and separates from a rotation axis of the first knife, Further comprising a linear scale for overlap measurement for measuring in real time the distance traveled by the second knife from the zero point for overlap adjustment when the rotation axis of the second knife moves in a direction away from the rotation axis of the first knife, Wherein the second knife moves in a direction in which the rotation axis of the second knife approaches the rotation axis of the first knife so that the outer circumferential surface of the second knife holder is in close contact with the outer circumferential surface of the support roller, It may be the position of the knife.

본 발명의 원단 슬리팅 장치는, 상기 간격 측정용 리니어 스케일에 의해 측정된 측정값, 및 상기 오버랩 측정용 리니어 스케일에 의해 측정된 측정값이 실시간으로 표시되는 모니터(monitor)를 더 구비할 수 있다. The far-end slitting apparatus of the present invention may further comprise a monitor in which a measured value measured by the linear scale for interval measurement and a measured value measured by the linear scale for overlap measurement are displayed in real time .

또한 본 발명은, 원단을 그 진행 방향과 평행하게 슬리팅(slitting)하도록 배치된 제1 나이프 및 제2 나이프를 구비한 장치로서, 상기 원단은 전극 집전체와, 상기 전극 집전체의 양 측면 중 적어도 한 측면에 적층된 전극 활물질층을 구비한 이차전지 전극이고, 상기 제1 나이프의 말단부와 상기 제2 나이프의 말단부 사이의 간격은 0.01 내지 0.2mm 이고, 상기 제1 나이프의 말단부와 상기 제2 나이프의 말단부가 겹쳐진 영역의 폭은 0.01 내지 0.2mm 인 원단 슬리팅 장치를 제공한다. The present invention also provides a device comprising a first knife and a second knife arranged to slit the fabric parallel to its traveling direction, wherein the fabric has an electrode current collector, Wherein a distance between a distal end portion of the first knife and a distal end portion of the second knife is 0.01 to 0.2 mm and a distance between the distal end portion of the first knife and the distal end portion of the second knife The width of the region where the end portions of the knife are overlapped is 0.01 to 0.2 mm.

또한 본 발명은, 원단(web)을 그 진행 방향과 평행하게 슬리팅(slitting)하도록 배치된 제1 나이프와 제2 나이프를 구비한 원단 슬리팅 장치에서 상기 제1 나이프에 대한 상기 제2 나이프의 위치를 조정하는 방법으로서, 상기 제2 나이프를 상기 제1 나이프의 회전 축선과 평행하게 이동시키되 상기 제1 나이프의 말단부에 상기 제2 나이프의 말단부가 접근하는 방향으로 이동시키는 간격 조정용 접근 단계, 상기 제2 나이프에 가해지는 하중을 측정하는 로드셀(load cell)의 측정값이 급격히 증가하면 상기 제2 나이프의 접근을 정지시키고 이 위치를 간격 조정용 영점으로 설정하는 간격 조정용 영점 설정 단계, 및 상기 제1 나이프의 말단부와 상기 제2 나이프의 말단부 사이의 간격이 미리 설정된 값에 도달할 때까지 상기 간격 조정용 접근 단계에서 상기 제2 나이프가 이동하는 방향과 반대되는 방향으로 상기 제2 나이프를 이동시키는 간격 조정용 이격 단계를 구비하는, 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법을 제공한다. The present invention also relates to a fabric slitting apparatus having a first knife and a second knife arranged to slit a web parallel to its traveling direction, A step of adjusting an interval in which the second knife is moved in parallel with the rotation axis of the first knife to move the distal end of the second knife toward the distal end of the first knife; A zero point setting step for stopping approaching of the second knife and setting this position as a zero point for interval adjustment when a measured value of a load cell for measuring a load applied to the second knife suddenly increases, Adjusting the distance between the distal end of the knife and the distal end of the second knife to a predetermined value until the second age And a spacing adjusting spacing step of moving the second knife in a direction opposite to a direction in which the knife is moved.

상기 원단은 전극 집전체와, 상기 전극 집전체의 양 측면 중 적어도 한 측면에 적층된 전극 활물질층을 구비한 이차전지 전극이고, 상기 미리 설정된 간격은 0.01 내지 0.2mm 일 수 있다. The fabric is a secondary battery electrode having an electrode current collector and an electrode active material layer laminated on at least one side of both sides of the electrode current collector, and the predetermined interval may be 0.01 to 0.2 mm.

상기 간격 조정용 이격 단계에서, 상기 제2 나이프의 이동 거리는 간격 측정용 리니어 스케일(linear scale)에 의해 실시간으로 측정되어 모니터(monitor)에 표시될 수 있다. In the spacing adjustment step, the moving distance of the second knife may be measured in real time by a linear scale for interval measurement and displayed on a monitor.

상기 원단 슬리팅 장치는 상기 제1 나이프와 동축(同軸) 회전하며 상기 원단을 지지하는 지지 롤러와, 상기 제2 나이프를 고정 지지하는 제2 나이프 홀더(holder)를 구비하고, 상기 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법은, 상기 제2 나이프의 말단부와 상기 제1 나이프의 말단부가 겹쳐지도록, 상기 제2 나이프의 회전 축선이 상기 제1 나이프의 회전 축선에 접근하는 방향으로 상기 제2 나이프를 이동시키는 오버랩(overlap) 조정용 접근 단계, 상기 제2 나이프 홀더의 외주면이 상기 지지 롤러의 외주면에 밀착되면 상기 제2 나이프의 접근을 정지시키고 이 위치를 오버랩 조정용 영점으로 설정하는 오버랩 조정용 영점 설정 단계, 및 상기 제1 나이프의 말단부와 상기 제2 나이프의 말단부가 겹쳐진 영역의 폭이 미리 설정된 값에 도달할 때까지 상기 오버랩 조정용 접근 단계에서 상기 제2 나이프가 이동하는 방향과 반대되는 방향으로 상기 제2 나이프를 이동시키는 오버랩 조정용 이격 단계를 더 구비할 수 있다. Wherein the fabric slitting device includes a support roller that coaxially rotates with the first knife and supports the fabric, and a second knife holder that fixes the second knife, wherein the fabric slitting device The second knife is moved in the direction in which the axis of rotation of the second knife approaches the axis of rotation of the first knife so that the distal end of the second knife overlaps the distal end of the first knife An overlapping adjustment zero step of stopping the approach of the second knife and setting this position as a zero point for overlap adjustment when the outer circumferential surface of the second knife holder is in close contact with the outer circumferential surface of the support roller, Until the width of the region where the distal end of the first knife and the distal end of the second knife overlap reaches a predetermined value, The second knife is moved in a direction opposite to a direction in which the second knife moves in the adjustment accessing step.

상기 원단은 전극 집전체와, 상기 전극 집전체의 양 측면 중 적어도 한 측면에 적층된 전극 활물질층을 구비한 이차전지 전극이고, 상기 미리 설정된 겹쳐진 영역의 폭은 0.01 내지 0.2mm 일 수 있다. The fabric is a secondary battery electrode including an electrode current collector and an electrode active material layer laminated on at least one side of both sides of the electrode current collector. The predetermined overlapping area may have a width of 0.01 to 0.2 mm.

상기 오버랩 조정용 이격 단계에서, 상기 제2 나이프의 이동 거리는 오버랩 측정용 리니어 스케일에 의해 실시간으로 측정되어 모니터(monitor)에 표시될 수 있다.In the overlap adjusting adjustment step, the moving distance of the second knife can be measured in real time by the linear scale for overlap measurement and displayed on a monitor.

본 발명에 의하면, 원단 슬리팅 장치에서 한 쌍의 나이프의 말단부 사이의 간격을 정밀하게 조정하여 세팅(setting)할 수 있다. 또한, 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면 상기 한 쌍의 나이프 사이가 겹쳐진 폭, 즉 오버랩(overlap)을 정밀하게 조정하여 세팅할 수 있다. 따라서, 예컨대, 이차전지 전극과 같이 두껍고 무거운 원단을 일직선의 매끄러운 절단면을 갖도록 슬리팅(slitting)할 수 있으며, 슬리팅 작업의 속도와 생산성이 향상된다. 또한, 이렇게 매끄럽게 슬리팅된 이차전지 전극은 불량율을 낮추고, 이차전지 성능 저하 및 폭발 등의 사고를 예방한다.According to the present invention, the distance between the distal ends of the pair of knives in the far-end slitting apparatus can be precisely adjusted and set. Further, according to a preferred embodiment of the present invention, it is possible to precisely adjust the overlapped width of the pair of knives, that is, the overlap. Thus, for example, a thick and heavy fabric, such as a secondary battery electrode, can be slitted to have a straight, smooth cut surface, and the speed and productivity of the slitting operation can be improved. In addition, such a smoothly slit secondary cell electrode lowers the defect rate and prevents secondary cell performance deterioration and explosion.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 원단 슬리팅 장치의 정면도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 원단 슬리팅 장치의 평면도이다.
도 3은 도 2의 III 부분을 확대 도시한 도면이다.
도 4은 본 발명의 실시예에 따른 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법을 나타낸 플로우 차트이다.
도 5는 도 3의 제1 나이프의 말단부와 제2 나이프의 말단부 사이의 오버랩을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 도 3의 제1 나이프의 말단부와 제2 나이프의 말단부 사이의 간격을 설명하기 위한 도면이다.1 is a front view of a fabric slitting apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a top view of a fabric slitting apparatus in accordance with an embodiment of the present invention.
3 is an enlarged view of a portion III in Fig.
4 is a flowchart illustrating a method of adjusting a knife position of a fabric slitting apparatus according to an embodiment of the present invention.
Fig. 5 is a view for explaining the overlap between the distal end of the first knife and the distal end of the second knife in Fig. 3;
FIG. 6 is a view for explaining the interval between the distal end of the first knife and the distal end of the second knife in FIG. 3; FIG.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 원단 슬리팅 장치 및 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법을 상세하게 설명한다. 본 명세서에서 사용되는 용어(terminology)들은 본 발명의 바람직한 실시예를 적절히 표현하기 위해 사용된 용어들로서, 이는 사용자 또는 운용자의 의도 또는 본 발명이 속하는 분야의 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 따라서, 본 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will now be described more fully with reference to the accompanying drawings, in which exemplary embodiments of the invention are shown. The terminology used herein is a term used to properly express the preferred embodiment of the present invention, which may vary depending on the intention of the user or operator or the custom in the field to which the present invention belongs. Therefore, the definitions of these terms should be based on the contents throughout this specification.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 원단 슬리팅 장치의 정면도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 원단 슬리팅 장치의 평면도이며, 도 3은 도 2의 III 부분을 확대 도시한 도면이다. 도 1 내지 도 3을 함께 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 원단 슬리팅 장치(10)는, 끊김 없이 진행하는 원단(1)을 그 진행 방향과 평행하게 절개하여 복수의 원단 스트립(1A, 1B, 1C, 1D)으로 분할하는 장치로서, 지지 롤러(11), 제1 나이프(15), 제2 나이프(35), 및 제2 나이프 홀더(holder)(32)를 구비한다. FIG. 1 is a front view of a fabric slitting apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of a fabric slitting apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an enlarged view of a portion III of FIG. . Referring to FIGS. 1 to 3, a fabric slitting apparatus 10 according to an embodiment of the present invention includes a plurality of fabric strips 1A, 1B, 1C, and 1D according to the first embodiment of the present invention. The support roller 11 includes a first knife 15, a second knife 35, and a second knife holder 32.

지지 롤러(11)는 원단(1)을 지지하도록 Y축과 평행한 방향으로 연장된 롤러로서, 전동 모터(미도시)의 동력에 의해 회전하는 롤러이다. 지지 롤러(11)의 외주면에는 지지 롤러(11)의 길이 방향으로 이격되게 배치된 3개의 나이프 설치 그루브(groove)(13)가 형성된다. 3개의 나이프 설치 그루브(13)는 지지 롤러(11)의 외주면에서 그 회전 축선(RC1)을 향하여 파여져 형성된다. 이하에서 상기 회전 축선(RC1)을 제1 회전 축선이라 한다. 3개의 나이프 설치 그루브(13)에는 링(ring) 형상의 제1 나이프(15)가 하나씩 끼워져 고정된다. 이에 따라 3개의 제1 나이프(15)는 지지 롤러(11)가 제1 회전 축선(RC1)을 중심으로 회전할 때 같은 회전 속도로 동축(同軸) 회전한다. 제1 나이프(15)의 말단(16)은 지지 롤러(11)의 외주면(12)보다 더 외측으로 돌출되지 않는다. 즉, 상기 제1 회전 축선(RC1)에서 상기 제1 나이프 말단(16)까지의 거리는 지지 롤러(11)의 반경보다 작거나 같다.The support roller 11 is a roller that extends in a direction parallel to the Y axis so as to support the fabric 1 and is a roller that rotates by the power of an electric motor (not shown). Three knife mounting grooves 13 are formed on the outer peripheral surface of the supporting roller 11 so as to be spaced apart from each other in the longitudinal direction of the supporting roller 11. [ The three knife mounting grooves 13 are formed by being cut from the outer circumferential surface of the support roller 11 toward the rotation axis RC1 thereof. Hereinafter, the rotation axis RC1 is referred to as a first rotation axis. The first knife 15 having a ring shape is inserted into and fixed to each of the three knife mounting grooves 13. Accordingly, the three first knives 15 are coaxially rotated at the same rotational speed when the support roller 11 rotates around the first rotation axis RC1. The distal end 16 of the first knife 15 does not project further outward than the outer peripheral surface 12 of the support roller 11. [ That is, the distance from the first rotation axis RC1 to the first knife end 16 is smaller than or equal to the radius of the support roller 11. [

3개의 제2 나이프(35)는 원단(1)이 전단력(shear force)에 의해 원단(1)의 진행 방향과 평행하게 슬리팅(slitting)되도록 3개의 제1 나이프(15)와 일대일로 대응되게 배치된다. 3개의 제2 나이프 홀더(32)는 제2 나이프(35)를 하나씩 고정 지지한다. 제2 나이프(35)는 링(ring) 형상의 나이프이다. 제2 나이프 홀더(32)는 Y축과 평행한 자신의 회전 축선(RC2)에 대해 회전 가능하고, 제2 나이프(35)는 상기 제2 나이프 홀더(32)에 고정 지지되므로, 제2 나이프(35)는 상기 회전 축선(RC2)를 중심으로 회전 가능하다. 이하에서, 상기 회전 축선(RC2)을 제2 회전 축선이라 한다. 제2 나이프 홀더(32)는 높이가 낮은 원통 형상 내지 두꺼운 디스크(disc) 형상이며, 제2 나이프(35)의 말단(36)이 상기 제2 나이프 홀더(32)의 외주면(33)보다 외측으로 더 돌출된다. 즉, 상기 제2 회전 축선(RC2)에서 상기 제2 나이프 말단(36)까지의 거리는 제2 나이프 홀더(32)의 반경보다 크다. The three second knives 35 correspond to the first knives 15 in a one-to-one correspondence with the first knives 15 so that the first ends 1 are slitted in parallel with the advancing direction of the first ends 1 by a shear force . The three second knife holders 32 fixedly support the second knife 35 one by one. The second knife 35 is a ring-shaped knife. Since the second knife holder 32 is rotatable about its own axis of rotation RC2 parallel to the Y axis and the second knife 35 is fixed to the second knife holder 32, 35 are rotatable about the rotation axis RC2. Hereinafter, the rotation axis RC2 is referred to as a second rotation axis. The second knife holder 32 has a cylindrical shape or a thick disc shape so that the distal end 36 of the second knife 35 is located outside the outer peripheral surface 33 of the second knife holder 32 More protruding. That is, the distance from the second rotation axis RC2 to the second knife end 36 is larger than the radius of the second knife holder 32.

원단(1)을 슬리팅할 때 제2 나이프 말단(36)과 그 주위를 포함하는 제2 나이프(35)의 말단부는 상기 제1 나이프 말단(16)과 그 주위를 포함하는 제1 나이프(15)의 말단부에 실제로 접촉되거나 거의 접촉된 것처럼 근접하여 배치된다. 3쌍의 제1 및 제2 나이프(15, 35)에 의해 원단(1)은 4개의 원단 스트립(1A, 1B, 1C, 1D)으로 분할된다. 도 1 내지 도 3에 도시된 원단 슬리팅 장치(10)는 Z축 음(-)의 방향과 평행하게 위에서 아래로 진행하는 원단(1)을 4조각의 원단 스트립(1A, 1B, 1C, 1D)으로 분할하는 장치이나, 원단의 진행 방향이나 분할되는 원단 스트립의 개수가 이에 한정되는 것은 아니다.The distal end of the second knife 35 including the second knife end 36 and the periphery thereof when slitting the fabric 1 has a first knife end 16 and a first knife 15 As shown in FIG. The fabric 1 is divided into four fabric strips 1A, 1B, 1C, 1D by three pairs of first and second knives 15, The fabric slitting apparatus 10 shown in Figs. 1 to 3 has a four-piece fabric strips 1A, 1B, 1C and 1D (hereinafter referred to as " 1 " ) Or the number of the fabric strips to be divided or the direction of the end of the fabric is not limited thereto.

제2 나이프 홀더(32)는 암(arm)(26)에 의해 나이프 홀더 보디(knife holder body)(25)에 연결되고, 나이프 홀더 보디(25)는 베이스(base)(21)에 지지된다. 상기 나이프 홀더 보디(25)는 상기 베이스(21)에 대해 X축과 평행한 방향 및 Y축과 평행한 방향으로 미세하게 이동 가능하게 구성된다. 이에 따라, 상기 나이프 홀더 보디(25)에 고정 지지된 제2 나이프 홀더(32)와, 상기 제2 나이프 홀더(32)에 고정 지지된 제2 나이프(35)는, 상기 나이프 홀더 보디(25)가 이동하면 같은 방향으로 같은 이동 거리만큼 이동한다. The second knife holder 32 is connected to a knife holder body 25 by an arm 26 and the knife holder body 25 is supported by a base 21. The knife holder body 25 is configured to be finely movable with respect to the base 21 in a direction parallel to the X axis and a direction parallel to the Y axis. The second knife holder 32 fixed to and supported by the knife holder body 25 and the second knife 35 fixedly supported by the second knife holder 32 are fixed to the knife holder body 25, Moves in the same direction by the same movement distance.

상기 원단 슬리팅 장치(10)는 로드셀(load cell)(30), 간격 측정용 리니어 스케일(linear scale)(22), 오버랩 측정용 리니어 스케일(27), 모니터(41), 및 콘트롤러(controller)(42)를 구비한다. 로드셀(30)은 제2 나이프(35)가 제1 회전 축선(RC1)과 평행하게 이동하되, 제2 나이프(35)의 말단부가 제1 나이프(15)의 말단부에 접근하는 방향, 즉 Y축 양(+)의 방향과 평행하게 이동할 때, 제2 나이프(35)에 가해지는 하중을 측정하며, 상기 암(26)에 설치된다. 제2 나이프(35)에 물체가 접촉되지 않으면 제2 나이프(35)가 Y축과 평행하게 이동하는 도중에 로드셀(30)의 측정값이 크게 변화하지 않고 일정하다. 로드셀(30)의 측정값이 급격히 증가할 때에는 제2 나이프(35)가 제1 나이프(15)에 접촉된 것이므로, 이 때 제2 나이프(35)의 위치가 간격 조정용 영점(YC0)(도 6 참조)이 된다. The fabric slitting apparatus 10 includes a load cell 30, a linear scale 22 for measuring an interval, a linear scale 27 for overlap measurement, a monitor 41, (42). The load cell 30 moves in a direction in which the second knife 35 moves parallel to the first rotation axis RC1 and the distal end of the second knife 35 approaches the distal end of the first knife 15, And measures the load applied to the second knife 35 when it moves in parallel with the direction of the positive (+) direction. If the object is not in contact with the second knife 35, the measured value of the load cell 30 does not vary greatly during the movement of the second knife 35 in parallel with the Y axis. When the measurement value of the load cell 30 suddenly increases, the second knife 35 is in contact with the first knife 15, so that the position of the second knife 35 becomes the zero point YC0 ).

간격 측정용 리니어 스케일(22)은 제2 나이프(35)가 제1 회전 축선(RC1)과 평행한 방향으로 이동하되, 제2 나이프(35)의 말단부가 제1 나이프(15)의 말단부에서 이격되는 방향, 즉 Y축 음(-)의 방향과 평행하게 이동할 때, 제2 나이프(35)가 상기 간격 조정용 영점(YC0)으로부터 이동한 거리(YCD)(도 6 참조)를 실시간으로 측정한다. 여기서, 실시간으로 측정한다는 의미는 매우 짧은 시간 간격을 두고 반복적으로 측정함을 의미한다. 상기 간격 측정용 리니어 스케일(22)은 상기 베이스(21)에 설치된다. The interval measuring linear scale 22 moves the second knife 35 in a direction parallel to the first rotation axis RC1 while the distal end of the second knife 35 is spaced apart from the distal end of the first knife 15 (See FIG. 6) of the second knife 35 moved from the interval adjusting zero point YC0 (see FIG. 6) when the second knife 35 is moved in parallel with the direction of the Y-axis negative (-) direction. Here, the measurement in real time means repeatedly measuring at a very short time interval. The interval measuring linear scale 22 is installed on the base 21.

오버랩 측정용 리니어 스케일(27)은 제2 회전 축선(RC2)이 제1 회전 축선(RC1)에서 이격되는 방향, 즉 X축 양(+)의 방향과 평행한 방향으로 제2 나이프(35)가 이동할 때, 제2 나이프(35)가 오버랩 조정용 영점(XC0)(도 5 참조)으로부터 이동한 거리(XCD)(도 5 참조)를 실시간으로 측정한다. 여기서, 실시간으로 측정한다는 의미는 매우 짧은 시간 간격을 두고 반복적으로 측정함을 의미한다. 상기 오버랩 측정용 리니어 스케일(27)은 상기 나이프 홀더 보디(25)에 설치된다.The overlap scale linear scale 27 has the second knife 35 in a direction parallel to the direction in which the second rotation axis RC2 is spaced apart from the first rotation axis RC1, When moving, the distance (XCD) (see FIG. 5) in which the second knife 35 has moved from the overlapping adjustment zero point XC0 (see FIG. 5) is measured in real time. Here, the measurement in real time means repeatedly measuring at a very short time interval. The linear scale 27 for overlap measurement is provided on the knife holder body 25. [

제2 회전 축선(RC2)이 제1 회전 축선(RC1)에 접근하는 방향, 즉 X축 음(-)의 방향과 평행한 방향으로 제2 나이프(35)가 이동하여 상기 제2 나이프 홀더(32)의 외주면(33)이 지지 롤러(11)의 외주면(12)에 밀착되어 상기 제2 나이프(35)가 더 이상 X축 음(-)의 방향과 평행하게 이동할 수 없게 되면, 이 때의 제2 나이프(35)의 위치가 상기 오버랩 조정용 영점(XC0)이 된다. The second knife 35 moves in a direction parallel to the direction in which the second rotation axis RC2 approaches the first rotation axis RC1, that is, the direction of the X axis negative (-), and the second knife holder 32 The outer circumferential surface 33 of the second knife 35 is brought into close contact with the outer circumferential surface 12 of the support roller 11 so that the second knife 35 can no longer move in parallel with the negative X- 2 knife 35 becomes the overlap adjustment zero point XC0.

모니터(41)에는 간격 측정용 리니어 스케일(22)에 의해 측정된 측정값, 및 오버랩 측정용 리니어 스케일(27)에 의해 측정된 측정값이 실시간으로 표시된다. 콘트롤러(42)는 상기 간격 조정용 영점(YC0)(도 6 참조)에서의 이동 거리(YCD)(도 6 참조)로부터 상기 제1 나이프(15)의 말단부와 상기 제2 나이프(35)의 말단부 사이의 간격(DG)(도 6 참조)을 계산하고, 이 결과가 모니터(41)에 표시되도록 신호를 전송한다. 여기서, 상기 간격(DG)은 상기 제2 나이프(35)의 말단부가 상기 제1 나이프(15)의 말단부로부터 이격된, Y축과 평행한 방향의 거리를 의미한다. The monitor 41 displays a measured value measured by the linear scale 22 for interval measurement and a measured value measured by the linear scale 27 for overlap measurement in real time. The controller 42 determines the distance between the distal end of the first knife 15 and the distal end of the second knife 35 from the moving distance YCD (see FIG. 6) at the interval adjusting zero point YC0 (See FIG. 6), and transmits the signal so that the result is displayed on the monitor 41. The distance DG is a distance between the distal end of the second knife 35 and the distal end of the first knife 15 in a direction parallel to the Y axis.

또한, 콘트롤러(42)는 상기 오버랩 조정용 영점(XC0)(도 5 참조)에서의 이동 거리(XCD)(도 5 참조)로부터 상기 제2 나이프(35)의 말단부와 상기 제2 나이프(35)의 말단부 사이의 오버랩(DO)(도 5 참조)을 계산하고, 이 결과가 모니터(41)에 표시되도록 신호를 전송한다. 여기서, 상기 오버랩(DO)은 제2 나이프(35)의 말단부가 제1 나이프(15)의 말단부와 겹쳐진, X축과 평행한 방향의 폭을 의미한다. 5) from the overlapping adjustment zero point XC0 (see FIG. 5), the controller 42 controls the operation of the end of the second knife 35 and the movement of the second knife 35 (See Fig. 5), and transmits a signal such that the result is displayed on the monitor 41. [0051] Fig. Here, the overlap DO means a width of the second knife 35 in the direction parallel to the X axis, the distal end of which overlaps the distal end of the first knife 15.

도 4은 본 발명의 실시예에 따른 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법을 나타낸 플로우 차트이고, 도 5는 도 3의 제1 나이프의 말단부와 제2 나이프의 말단부 사이의 오버랩을 설명하기 위한 도면이며, 도 6은 도 3의 제1 나이프의 말단부와 제2 나이프의 말단부 사이의 간격을 설명하기 위한 도면이다. 도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법은, 원단(1)을 그 진행 방향과 평행하게 슬리팅(slitting)하도록 배치된 제1 나이프(15)와 제2 나이프(35)를 구비한 원단 슬리팅 장치(10)에서 제1 나이프(15)에 대한 제2 나이프(35)의 위치를 조정하는 방법으로서, 오버랩 조정 단계(S10)와 간격 조정 단계(S20)를 구비한다. 도 4에 도시된 실시예에는 오버랩 조정 단계(S10) 이후에 간격 조정 단계(S20)를 수행하는 것으로 표시되어 있으나, 간격 조정 단계 이후에 오버랩 조정 단계를 수행하는 것도 본 발명에 포함된다. FIG. 4 is a flowchart illustrating a knife position adjusting method of a far-end slitting apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 5 is a view for explaining an overlap between a distal end portion of the first knife and a distal end portion of the second knife shown in FIG. And FIG. 6 is a view for explaining an interval between the distal end of the first knife and the distal end of the second knife in FIG. Referring to FIGS. 1 to 4, a method for adjusting a knife position of a far-field slitting apparatus according to an embodiment of the present invention includes a first knife (not shown) arranged to slit the far- A method of adjusting a position of a second knife (35) with respect to a first knife (15) in a far-field slitting apparatus (10) having a first knife (15) and a second knife And an adjusting step S20. In the embodiment shown in FIG. 4, the interval adjustment step (S20) is performed after the overlap adjustment step (S10), but it is also included in the present invention to perform the overlap adjustment step after the interval adjustment step.

도 4 및 도 5를 함께 참조하면, 오버랩 조정 단계(S10)는 오버랩 조정용 접근 단계(S11), 오버랩 조정용 영점 설정 단계(S12), 및 오버랩 조정용 이격 단계(S13)를 구비한다. 간격 조정 단게(S20)는 간격 조정용 접근 단계(S21), 간격 조정용 영점 설정 단계(S22), 및 간격 조정용 이격 단계(S23)를 구비한다. 오버랩 조정용 접근 단계(S11)는 제2 나이프(35)의 말단부와 제1 나이프(15)의 말단부가 겹쳐지도록, 제2 나이프(35)의 회전 축선, 즉 제2 회전 축선(RC2)이 제1 나이프(15)의 회전 축선, 즉 제1 회전 축선(RC1)에 접근하는 방향, 즉 X축 음(-)의 방향과 평행한 방향으로 제2 나이프(35)를 이동시키는 단계이다. 작업자가 나이프 홀더 보디(25)(도 1 및 도 2 참조)를 이동시킴으로써 상기 제2 나이프(35)가 이동하게 된다. 4 and 5, the overlap adjustment step S10 includes an approach step S11 for overlap adjustment, a zero point setting step S12 for overlap adjustment, and a step S13 for overlap adjustment. The interval adjusting stage S20 includes an approach step S21 for adjusting the interval, a zero point setting step S22 for adjusting the interval, and a step S23 for adjusting the interval. The overlapping adjustment accessing step S11 is performed such that the rotation axis of the second knife 35, that is, the second rotation axis RC2 is positioned at the first position, so that the distal end of the second knife 35 and the distal end of the first knife 15 overlap. The second knife 35 is moved in a direction parallel to the rotation axis of the knife 15, that is, the direction approaching the first rotation axis RC1, that is, the direction of the X axis negative (-). The operator moves the second knife 35 by moving the knife holder body 25 (see FIGS. 1 and 2).

오버랩 조정용 영점 설정 단계(S12)는, 제2 나이프(35)가 X축 음(-)의 방향과 평행하게 이동하여 제2 나이프 홀더(32)의 외주면(33)이 지지 롤러(11)의 외주면(12)(도 3 참조)에 밀착되고 더 이상 제2 나이프(35)가 X축 음(-)의 방향과 평행하게 이동할 수 없을 때 제2 나이프(35)의 접근을 정지시키고, 이 위치를 오버랩 조정용 영점(XC0)으로 설정하는 단계이다. In the overlap setting zero point setting step S12, the second knife 35 moves in parallel with the negative direction of the X axis so that the outer circumferential surface 33 of the second knife holder 32 is in contact with the outer peripheral surface of the support roller 11 Stopping approach of the second knife 35 when the second knife 35 is in close contact with the second knife 12 (see Fig. 3) and can no longer move in parallel with the direction of the X axis negative (-), Is set to the zero point for overlap adjustment (XC0).

오버랩 조정용 이격 단계(S13)는, 제1 나이프(15)의 말단부와 제2 나이프(35)의 말단부가 겹쳐진 영역의 폭(DO), 즉 오버랩이 미리 설정된 값에 도달할 때까지 S11 단계에서 제2 나이프(35)가 이동하는 방향과 반대되는 방향으로 제2 나이프(35)를 이동시키는 단계이다. S13 단계에서 제2 나이프(35)의 X축과 평행한 방향의 이동 거리(XCD)는 오버랩 측정용 리니어 스케일(27)(도 1 참조)에 의해 실시간으로 측정된다. 부연하면, S12 단계에서 오버랩 조정용 영점(XC0)이 설정되면 그 지점에서 오버랩 측정용 리니어 스케일(27)의 측정값은 0 이 되고, 나이프 홀더 보디(25)(도 1 참조)가 X축 양(+)의 방향과 평행하게 이동하면 상기 오버랩 측정용 리니어 스케일(27)에 의해 0에서부터 점증하는 이동 거리(XCD)가 측정된다. The overlapping adjustment separation step S13 is repeated until the width DO of the area where the distal end of the first knife 15 and the distal end of the second knife 35 overlap, 2 is a step of moving the second knife 35 in a direction opposite to the direction in which the knife 35 moves. In step S13, the movement distance XCD in the direction parallel to the X axis of the second knife 35 is measured in real time by the overlap scale linear scale 27 (see FIG. 1). The measured value of the linear scale 27 for overlap measurement becomes zero at that point and the knife holder body 25 (see FIG. 1) is moved in the X axis direction +), The incremental moving distance (XCD) from 0 is measured by the linear scale 27 for overlap measurement.

상기 오버랩(DO)은 제2 나이프(35)의 말단(36)에서 제1 나이프(15)의 말단(16)까지 X축과 평행한 방향의 거리와 같다. 제2 나이프 홀더(32)(도 2 참조)의 외주면(33)에서 제2 나이프 말단(36)까지 X축과 평행한 방향의 거리(PL)는 원단 슬리팅 장치(10)의 제원(諸元)을 통해 알 수 있다. 따라서, 상기 거리(PL)에서 상기 이동 거리(XCD)를 차감하여 상기 오버랩(DO)이 계산된다. 콘트롤러(42)(도 1 참조)는 상기 오버랩(DO) 계산을 수행하고, 실시간 오버랩(DO)이 모니터(41)(도 1 참조)에 표시되도록, 상기 오버랩(DO)을 계산한 결과에 대한 신호를 모니터(41)에 전송한다. The overlap DO is equal to the distance from the distal end 36 of the second knife 35 to the distal end 16 of the first knife 15 in a direction parallel to the X axis. The distance PL in the direction parallel to the X axis from the outer circumferential surface 33 to the second knife end 36 of the second knife holder 32 (see FIG. 2) varies depending on the specifications of the fabric slitting apparatus 10 ). Therefore, the overlap (DO) is calculated by subtracting the travel distance (XCD) from the distance (PL). The controller 42 (see FIG. 1) performs the above-described overlap (DO) calculation and calculates the overlap (DO) for the result of calculating the overlap (DO) so that the real time overlap DO is displayed on the monitor 41 And transmits a signal to the monitor 41.

예를 들어, 원단(1)이 전극 집전체와, 상기 전극 집전체의 양 측면 중 적어도 한 측면에 적층된 전극 활물질층을 구비한 이차전지 전극이면, 상기 미리 설정된 오버랩 값은 0.01 내지 0.2mm 중에서 지정된 하나의 값이다. 작업자는 X축 양(+)의 방향과 평행하게 제2 나이프(35)를 이동시키면서 동시에 모니터(41)를 주시하여 상기 오버랩(DO)의 계산 결과를 관찰한다. 그 과정에서 오버랩(DO)의 계산 결과가 점증하여 상기 미리 설정된 오버랩 값과 일치하거나, 오버랩(DO) 계산 결과와 상기 미리 설정된 오버랩 값과의 차이가 최소가 될 때 작업자가 제2 나이프(35)의 이동을 멈추면 제2 나이프(35)의 오버랩(DO)이 최적의 값으로 세팅(setting)된다. For example, if the fabric 1 is a secondary battery electrode having an electrode current collector and an electrode active material layer laminated on at least one side of both side surfaces of the electrode current collector, the preset overlap value is preferably 0.01 to 0.2 mm It is one specified value. The operator looks at the monitor 41 and simultaneously observes the calculation result of the overlap DO while moving the second knife 35 in parallel with the positive X-axis direction. When the calculation result of the overlap (DO) increases in the process and the result is equal to the predetermined overlap value or the difference between the result of calculation of the overlap (DO) and the preset overlap value becomes minimum, The overlap DO of the second knife 35 is set to an optimum value.

도 4 및 도 6을 함께 참조하면, 간격 조정용 접근 단계(S21)는 제2 나이프(35)를 제1 회전 축선(RC1)(도 1 및 도 2 참조)과 평행하게 이동시키되 제1 나이프(15)의 말단부에 제2 나이프(35)의 말단부가 접근하는 방향, 즉 Y축 양(+)의 방향과 평행한 방향으로 이동시키는 단계이다. 작업자가 나이프 홀더 보디(25)(도 1 및 도 2 참조)를 이동시킴으로써 상기 제2 나이프(35)가 이동하게 된다. 4 and 6, the spacing adjusting access step S21 moves the second knife 35 in parallel with the first rotation axis RC1 (see FIGS. 1 and 2), and the first knife 15 In the direction in which the distal end of the second knife 35 approaches, that is, in the direction parallel to the positive (+) direction of the Y-axis. The operator moves the second knife 35 by moving the knife holder body 25 (see FIGS. 1 and 2).

간격 조정용 영점 설정 단계(S22)는, 제2 나이프(35)에 가해지는 하중을 측정하는 로드셀(30)(도 1 및 도 2 참조)의 측정값이 급격히 증가하면 제2 나이프(35)의 접근, 즉 Y축 양(+)의 방향과 평행한 방향의 이동을 정지시키고, 이 위치를 간격 조정용 영점(YC0)으로 설정하는 단계이다. When the measured value of the load cell 30 (see Figs. 1 and 2) for measuring the load applied to the second knife 35 sharply increases, the interval setting zero point setting step S22 , That is, the movement in the direction parallel to the positive (+) direction of the Y-axis is stopped, and this position is set as the interval adjusting zero point YC0.

간격 조정용 이격 단계(S23)는, 제1 나이프(15)의 말단부와 제2 나이프(35)의 말단부 사이의 간격(DG)이 미리 설정된 값에 도달할 때까지 S21 단계에서 제2 나이프(35)가 이동하는 방향과 반대되는 방향으로 제2 나이프(35)를 이동시키는 단계이다. S23 단계에서 제2 나이프(35)의 Y축과 평행한 방향의 이동 거리(YCD)는 간격 측정용 리니어 스케일(22)(도 1 및 도 2 참조)에 의해 실시간으로 측정된다. 부연하면, S22 단계에서 간격 조정용 영점(YC0)이 설정되면 그 지점에서 간격 측정용 리니어 스케일(22)의 측정값은 0 이 되고, 나이프 홀더 보디(25)(도 1 및 도 2참조)가 Y축 음(-)의 방향과 평행하게 이동하면 상기 간격 측정용 리니어 스케일(22)에 의해 0에서부터 점증하는 이동 거리(YCD)가 측정된다. The spacing adjusting step S23 is repeated until the interval DG between the distal end of the first knife 15 and the distal end of the second knife 35 reaches a predetermined value, The second knife 35 is moved in a direction opposite to the direction in which the second knife 35 moves. In step S23, the moving distance (YCD) of the second knife 35 in the direction parallel to the Y axis is measured in real time by the interval measuring linear scale 22 (see Figs. 1 and 2). More specifically, when the interval adjusting zero point YC0 is set in step S22, the measured value of the interval measuring linear scale 22 becomes zero at that point, and the knife holder body 25 (see FIGS. 1 and 2) When moving in parallel with the direction of the negative (-) axis, the incremental moving distance (YCD) from zero is measured by the interval measuring linear scale 22.

상기 간격(DG)은 제1 나이프(15)의 말단(16)에서 제2 나이프(35)의 말단(36)까지 Y축과 평행한 방향의 거리이며, 상기 간격 측정용 리니어 스케일(22)에 의해 측정된 이동 거리(YCD)와 같다. 콘트롤러(42)(도 1 참조)는 상기 간격(DG) 계산을 수행하고, 실시간 간격(DG)이 모니터(41)(도 1 참조)에 표시되도록, 상기 간격(DG)을 계산한 결과에 대한 신호를 모니터(41)에 전송한다. The distance DG is a distance in the direction parallel to the Y axis from the distal end 16 of the first knife 15 to the distal end 36 of the second knife 35, (YCD) measured by the camera. The controller 42 (see FIG. 1) performs the interval DG computation and computes the interval DG such that the real time interval DG is displayed on the monitor 41 (see FIG. 1) And transmits a signal to the monitor 41.

예를 들어, 원단(1)이 전극 집전체와, 상기 전극 집전체의 양 측면 중 적어도 한 측면에 적층된 전극 활물질층을 구비한 이차전지 전극이면, 상기 미리 설정된 간격 값은 0.01 내지 0.2mm 중에서 지정된 하나의 값이다. 작업자는 Y축 음(-)의 방향과 평행하게 제2 나이프(35)를 이동시키면서 동시에 모니터(41)를 주시하여 상기 간격(DG)의 계산 결과를 관찰한다. 그 과정에서 간격(DG)의 계산 결과가 점증하여 상기 미리 설정된 간격 값과 일치하거나, 간격(DG) 계산 결과와 상기 미리 설정된 간격 값과의 차이가 최소가 될 때 작업자가 제2 나이프(35)의 이동을 멈추면 제2 나이프(35)의 간격(DG)이 최적의 값으로 세팅(setting)된다.For example, if the fabric 1 is a secondary battery electrode comprising an electrode current collector and an electrode active material layer laminated on at least one side of both side surfaces of the electrode current collector, the predetermined interval value is preferably 0.01 to 0.2 mm It is one specified value. The operator observes the monitor 41 while observing the calculation result of the interval DG while simultaneously moving the second knife 35 in parallel with the direction of the Y axis negative (-). If the result of the calculation of the interval DG in the process is increasing to match the predetermined interval value or the difference between the calculation result of the interval DG and the predetermined interval value becomes minimum, The interval DG of the second knife 35 is set to an optimum value.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the scope of the present invention. Therefore, the true scope of protection of the present invention should be defined only by the appended claims.

10: 원단 슬리팅 장치 11: 지지 롤러
15: 제1 나이프 22, 27: 리니어 스케일
30: 로드셀 32: 제2 나이프 홀더
35: 제2 나이프 41: 모니터10: fabric slitting device 11: support roller
15: first knife 22, 27: linear scale
30: load cell 32: second knife holder
35: second knife 41: monitor

Claims (10)

원단(web)을 지지하며 회전하는 지지 롤러; 상기 지지 롤러와 동축(同軸) 회전하도록 상기 지지 롤러에 끼워진 제1 나이프(knife); 상기 원단을 그 진행 방향과 평행하게 슬리팅(slitting)하도록 상기 제1 나이프에 대해 배치된 제2 나이프; 상기 제2 나이프를 회전 가능하게 고정 지지하며, 상기 제1 나이프의 회전 축선과 평행한 방향으로 이동 가능하고, 상기 제2 나이프의 회전 축선이 상기 제1 나이프의 회전 축선에 접근하는 방향 및 이격되는 방향으로 이동 가능한 제2 나이프 홀더(holder); 상기 제2 나이프가 상기 제1 나이프의 회전 축선과 평행하며 상기 제2 나이프의 말단부가 상기 제1 나이프의 말단부에 접근하는 방향으로 이동할 때, 상기 제2 나이프에 가해지는 하중을 측정하는 로드셀(load cell); 상기 제2 나이프가 상기 제1 나이프의 회전 축선과 평행하며 상기 제2 나이프의 말단부가 상기 제1 나이프의 말단부에서 이격되는 방향으로 이동할 때, 상기 제2 나이프가 간격 조정용 영점으로부터 이동한 거리를 실시간으로 측정하는 간격 측정용 리니어 스케일(linear scale); 및, 상기 제2 나이프의 회전 축선이 상기 제1 나이프의 회전 축선에서 이격되는 방향으로 상기 제2 나이프가 이동할 때, 상기 제2 나이프가 오버랩 조정용 영점으로부터 이동한 거리를 실시간으로 측정하는 오버랩 측정용 리니어 스케일;을 구비하고,
상기 제2 나이프의 말단은 상기 제2 나이프 홀더의 외주면보다 외측으로 더 돌출되고,
상기 간격 조정용 영점은, 상기 로드셀의 측정값이 급격히 증가하는 때 상기 제2 나이프의 위치이고,
상기 오버랩 조정용 영점은, 상기 제2 나이프의 회전 축선이 상기 제1 나이프의 회전 축선에 접근하는 방향으로 상기 제2 나이프가 이동하여 상기 제2 나이프 홀더의 외주면이 상기 지지 롤러의 외주면에 밀착되는 때 상기 제2 나이프의 위치로서, 상기 로드셀의 측정값 뿐만 아니라 다른 어떤 임의의 로드셀의 측정값과도 무관한 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 원단 슬리팅 장치.A support roller for supporting and rotating the web; A first knife fitted to the support roller to rotate coaxially with the support roller; A second knife disposed about the first knife to slit the fabric parallel to its travel direction; The second knife being rotatably fixed and movable in a direction parallel to the rotation axis of the first knife, and the rotation axis of the second knife is moved in a direction approaching the rotation axis of the first knife, A second knife holder movable in a direction of the first knife holder; A load cell for measuring a load applied to the second knife when the second knife is parallel to the rotation axis of the first knife and moves in a direction in which the distal end of the second knife approaches the distal end of the first knife, cell); When the second knife is parallel to the rotation axis of the first knife and moves in a direction in which the distal end of the second knife is spaced from the distal end of the first knife, A linear scale for measuring the gap to be measured; And an overlap measuring unit for measuring in real time the distance traveled by the second knife from the zero point for overlap adjustment when the second knife moves in a direction in which the axis of rotation of the second knife is spaced from the axis of rotation of the first knife And a linear scale,
The distal end of the second knife further protrudes outwardly from the outer circumferential surface of the second knife holder,
Wherein the zero point for adjusting the gap is a position of the second knife when the measured value of the load cell abruptly increases,
Wherein the overlap adjustment zero point is set such that when the second knife moves in a direction in which the axis of rotation of the second knife approaches the rotation axis of the first knife and the outer circumferential surface of the second knife holder is in close contact with the outer circumferential surface of the support roller Wherein the position of the second knife is independent of the measured value of the load cell as well as the measured value of any other load cell. 삭제delete 제1 항에 있어서,
상기 간격 측정용 리니어 스케일에 의해 측정된 측정값, 및 상기 오버랩 측정용 리니어 스케일에 의해 측정된 측정값이 실시간으로 표시되는 모니터(monitor);를 더 구비한 것을 특징으로 하는 원단 슬리팅 장치.The method according to claim 1,
And a monitor for displaying measured values measured by the linear scale for interval measurement and measured values measured by the linear scale for overlap measurement in real time. 삭제delete 원단(web)을 그 진행 방향과 평행하게 슬리팅(slitting)하도록 배치된 제1 나이프와 제2 나이프, 상기 제1 나이프와 동축(同軸) 회전하며 상기 원단을 지지하는 지지 롤러, 상기 제2 나이프를 고정 지지하는 제2 나이프 홀더(holder)를 구비하고, 상기 제2 나이프의 말단이 상기 제2 나이프 홀더의 외주면보다 외측으로 더 돌출된 원단 슬리팅 장치에서, 상기 제1 나이프에 대한 상기 제2 나이프의 위치를 조정하는 방법으로서,
상기 제2 나이프를 상기 제1 나이프의 회전 축선과 평행하게 이동시키되 상기 제1 나이프의 말단부에 상기 제2 나이프의 말단부가 접근하는 방향으로 이동시키는 간격 조정용 접근 단계;
상기 제2 나이프에 가해지는 하중을 측정하는 로드셀(load cell)의 측정값이 급격히 증가하면 상기 제2 나이프의 접근을 정지시키고 이 위치를 간격 조정용 영점으로 설정하는 간격 조정용 영점 설정 단계;
상기 제1 나이프의 말단부와 상기 제2 나이프의 말단부 사이의 간격이 미리 설정된 값에 도달할 때까지 상기 간격 조정용 접근 단계에서 상기 제2 나이프가 이동하는 방향과 반대되는 방향으로 상기 제2 나이프를 이동시키는 간격 조정용 이격 단계;
상기 제2 나이프의 말단부와 상기 제1 나이프의 말단부가 겹쳐지도록, 상기 제2 나이프의 회전 축선이 상기 제1 나이프의 회전 축선에 접근하는 방향으로 상기 제2 나이프를 이동시키는 오버랩(overlap) 조정용 접근 단계;
상기 제2 나이프 홀더의 외주면이 상기 지지 롤러의 외주면에 밀착되면 상기 제2 나이프의 접근을 정지시키고 이 위치를 오버랩 조정용 영점으로 설정하는 오버랩 조정용 영점 설정 단계; 및,
상기 제1 나이프의 말단부와 상기 제2 나이프의 말단부가 겹쳐진 영역의 폭이 미리 설정된 값에 도달할 때까지 상기 오버랩 조정용 접근 단계에서 상기 제2 나이프가 이동하는 방향과 반대되는 방향으로 상기 제2 나이프를 이동시키는 오버랩 조정용 이격 단계;를 더 구비하고,
상기 제1 나이프의 말단부와 상기 제2 나이프의 말단부가 겹쳐진 영역의 폭은, 상기 오버랩 조정용 이격 단계에서 상기 제2 나이프가 이동하는 방향과 평행한 방향으로 상기 제2 나이프 홀더의 외주면으로부터 상기 제2 나이프 말단까지의 거리에서, 상기 오버랩 조정용 이격 단계에서 상기 제2 나이프가 이동한 거리를 차감하여 계산되고,
상기 오버랩 조정용 영점은 상기 로드셀의 측정값 뿐만 아니라 다른 어떤 임의의 로드셀의 측정값과도 무관한 것을 특징으로 하는, 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법.A first knife and a second knife arranged to slit the web in parallel to its traveling direction, a support roller coaxially rotating with the first knife and supporting the fabric, And a second knife holder for fixing and supporting the second knife holder, wherein a distal end of the second knife further protrudes outward than an outer circumferential surface of the second knife holder, A method of adjusting a position of a knife,
An approaching adjustment step of moving the second knife in parallel with the rotation axis of the first knife and moving the distal end of the second knife in a direction approaching the distal end of the first knife;
A zero point setting step for stopping the approach of the second knife and setting this position as a zero point for adjusting the gap when the measured value of the load cell measuring the load applied to the second knife suddenly increases;
Moving the second knife in a direction opposite to a direction in which the second knife moves in the gap adjustment adjusting step until the gap between the distal end of the first knife and the distal end of the second knife reaches a predetermined value A spacing step for adjusting the spacing;
An overlap adjusting mechanism for moving the second knife in a direction in which the rotation axis of the second knife approaches the rotation axis of the first knife so that the distal end of the second knife overlaps the distal end of the first knife step;
A zero point setting step for stopping the approach of the second knife when the outer circumferential surface of the second knife holder is in close contact with the outer circumferential surface of the support roller and setting the position to the zero point for overlap adjustment; And
In the direction opposite to the direction in which the second knife moves in the overlapping adjustment approaching step until the width of the region where the end portion of the first knife and the end portion of the second knife overlap reaches a predetermined value, Further comprising: an overlapping adjustment step for shifting the overlap adjustment member,
Wherein the width of the area where the distal end of the first knife and the distal end of the second knife overlap is larger than the width of the second knife holder from the outer circumferential surface of the second knife holder in the direction parallel to the direction of movement of the second knife, At a distance to the end of the knife, a distance at which the second knife moved in the overlapping adjustment step is calculated,
Wherein the zero point for overlap adjustment is independent of the measured value of the load cell as well as the measured value of any other load cell. 제5 항에 있어서,
상기 원단은 전극 집전체와, 상기 전극 집전체의 양 측면 중 적어도 한 측면에 적층된 전극 활물질층을 구비한 이차전지 전극이고,
상기 미리 설정된 간격은 0.01 내지 0.2mm 인 것을 특징으로 하는, 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법.6. The method of claim 5,
Wherein the raw fabric is a secondary battery electrode comprising an electrode current collector and an electrode active material layer laminated on at least one side of both sides of the electrode current collector,
Wherein the preset interval is between 0.01 and 0.2 mm. 제5 항에 있어서,
상기 간격 조정용 이격 단계에서, 상기 제2 나이프의 이동 거리는 간격 측정용 리니어 스케일(linear scale)에 의해 실시간으로 측정되어 모니터(monitor)에 표시되는 것을 특징으로 하는, 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법.6. The method of claim 5,
Wherein the moving distance of the second knife is measured in real time by a linear scale for interval measurement and is displayed on a monitor in the spacing adjusting spacing step . 삭제delete 제5 항에 있어서,
상기 원단은 전극 집전체와, 상기 전극 집전체의 양 측면 중 적어도 한 측면에 적층된 전극 활물질층을 구비한 이차전지 전극이고,
상기 미리 설정된 겹쳐진 영역의 폭은 0.01 내지 0.2mm 인 것을 특징으로 하는, 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법.6. The method of claim 5,
Wherein the raw fabric is a secondary battery electrode comprising an electrode current collector and an electrode active material layer laminated on at least one side of both sides of the electrode current collector,
Wherein the width of the predetermined overlapping region is 0.01 to 0.2 mm. 제5 항에 있어서,
상기 오버랩 조정용 이격 단계에서, 상기 제2 나이프의 이동 거리는 오버랩 측정용 리니어 스케일에 의해 실시간으로 측정되어 모니터(monitor)에 표시되는 것을 특징으로 하는, 원단 슬리팅 장치의 나이프 위치 조정 방법.6. The method of claim 5,
Wherein the moving distance of the second knife is measured in real time by the linear scale for overlap measurement and displayed on a monitor in the overlap adjusting adjusting step.
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JP7110445B2 (en) * 2017-04-27 2022-08-01 三菱電機エンジニアリング株式会社 Support pin positioning method and apparatus for printed wiring board

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