KR101739645B1 - 비접촉 온도 측정기 보정 시스템 및 이의 실행 방법 - Google Patents

비접촉 온도 측정기 보정 시스템 및 이의 실행 방법 Download PDF

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KR101739645B1
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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 비접촉 온도 측정기 보정 시스템은 측정 대상 물체에 대해서 온도를 측정하는 온도 센서 및 상기 온도 센서의 보정 온도를 저장하는 메모리를 포함하는 복수의 온도 측정 모듈 및 상기 복수의 온도 측정 모듈의 온도 센서 각각에 대해서 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 결정하여 온도 센서의 온도 정보를 보정하는 캘리브레이션 모듈을 포함한다. 따라서, 본 발명은 복수의 온도 측정 모듈을 캘리브레이션 모듈을 이용하여 동시에 캘리브레이션 설정을 진행하여 오차 보정 공정을 진행하여 비접촉 온도 측정기의 생산에서 제일 중요하고 시간이 많이 걸리는 캘리브레이션 공정 시간을 단축시킬 수 있다는 장점이 있다.

Description

비접촉 온도 측정기 보정 시스템 및 이의 실행 방법{SYSTEM OF PROOFING NON-CONTACTING TEMPERATURE MEASURING APPARATUS AND METHOD PERFORMING THEREOF}
본 발명의 실시예들은 비접촉 온도 측정기 보정 시스템 및 이의 실행 방법에 관한 것이다.
온도를 판독하는 온도계는 수은 온도계와 같은 전형적인 온도계 외에, 발생된 적외선 방사에 기초하여 주어진 대상물의 온도를 검출할 수 있는 적외선 온도계가 최근에 시장에 널리 퍼져 있는 것으로 알려졌다.
특히, 적외선 온도계는 적외선 방사 센서가 동작하여 열 검출이 요구되는 환자의 신체 영역으로부터 발산된 적외선을 상기 센서로 전달하는 판독 영역을 포함한다. 현재 시장에서 이용 가능한 적외선 온도계는 2개의 큰 부류로 나누어 보면 부분 침입성 온도계와 비침입성 온도계로 실질적으로 구분 지을 수 있다.
첫 번째 형태의 적외선 온도계에서, 온도계 부분 또는 프로브가 온도가 측정될 대상물의 귓바퀴(auricle) 내로 삽입되어, 이 영역의 적외선 방사가 센서 부재에 전달되는 것이 제공된다.
그러나 바로 위에서 설명된 온도계들은 그들의 가치가 대체로 유효하기는 하지만 위생학적(hygienic) 조건하에서 온도계 자체의 사용과 관련된 일부 제한을 두드러지게 하고, 이러한 것은 프로브를 위한 보호 캡의 사용에 대한 필요성을 수반하며, 또한 온도계 프로브는 어느 경우라 해도 환자의 귓바퀴로 부분적으로 도입되는 성가신 이물체이기 때문에 이것들을 사용함에 있어서는 매우 실용적인 것은 아니다.
두 번째 형태의 적외선 온도계, 비침입성의 온도계에 있어서, 감지 부재로 적외선 방사를 전달하도록 설계된 온도계 단부는 열 레벨이 알려져야만 하는 대상물의 표면과 접촉하거나 또는 그로부터 떨어져 유지되도록 제공된다.
이러한 적외선 온도계를 사용하여 온도를 정확히 측정하기 위해서는 작동에 상당한 주의가 요구되며, 측정 대물 물체의 방사율을 보정하지 않으면 정확한 측정은 할 수 없다는 문제점이 있다.
본 발명은 복수의 온도 측정 모듈에 대해서 캘리브레이션 모듈을 이용하여 동시에 오차 보정 공정을 진행하여 비접촉 온도 측정기의 생산에서 제일 중요하고 시간이 많이 걸리는 캘리브레이션 공정 시간을 단축시킬 수 있도록 하는 비접촉 온도 측정기 보정 시스템 및 이의 실행 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
또한 본 발명에 따르면, 온도 보정한 복수의 온도 측정 모듈을 온도 측정기 메인 모듈에 연결한 후에 온도 보정 오차를 확인하여 오차 범위를 초과하는 비접촉 온도 측정 모듈에 대해서는 2차적으로 온도 보정 작업을 진행함으로써 정확하게 캘리브레이션 공정을 실행할 수 있도록 하는 비접촉 온도 측정기 보정 시스템 및 이의 실행 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급한 과제(들)로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제(들)은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
실시예들 중에서, 비접촉 온도 측정기 보정 시스템은 측정 대상 물체에 대해서 온도를 측정하는 온도 센서 및 상기 온도 센서의 보정 온도를 저장하는 메모리를 포함하는 복수의 온도 측정 모듈 및 상기 복수의 온도 측정 모듈의 온도 센서 각각에 대해서 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 결정하여 온도 센서의 온도 정보를 보정하는 캘리브레이션 모듈을 포함한다.
실시예들 중에서, 비접촉 온도 측정기 보정 시스템의 실행 방법은 복수의 온도 측정 모듈 각각을 캘리브레이션 모듈에 연결하는 단계, 상기 캘리브레이션 모듈이 상기 복수의 온도 측정 모듈 각각에 대해서 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 결정하는 단계 및 상기 캘리브레이션 모듈이 상기 복수의 온도 측정 모듈의 온도 센서 각각에 대해서 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 이용하여 온도 정보를 보정하는 단계를 포함한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 첨부 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 이점 및/또는 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성요소를 지칭한다.
본 발명에 따르면, 복수의 온도 측정 모듈에 대해서 캘리브레이션 모듈을 이용하여 동시에 오차 보정 공정을 진행하여 비접촉 온도 측정기의 생산에서 제일 중요하고 시간이 많이 걸리는 캘리브레이션 공정 시간을 단축시킬 수 있다는 장점이 있다.
또한 본 발명에 따르면, 온도 보정한 복수의 온도 측정 모듈을 온도 측정기 메인 모듈에 연결한 후에 온도 보정 오차를 확인하여 오차 범위를 초과하는 비접촉 온도 측정 모듈에 대해서는 2차적으로 온도 보정 작업을 진행함으로써 정확하게 캘리브레이션 공정을 실행할 수 있다는 장점이 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 비접촉 온도 측정기 보정 시스템을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 비접촉 온도 측정기 보정 시스템을 통해 보정된 복수의 온도 측정 모듈의 온도 보정 오차를 확인하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 비접촉 온도 측정기 보정 시스템의 실행 과정을 설명하기 위한 흐름도이다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 설명하기로 한다.
비접촉 온도 측정기는 측정 대상 물체(예를 들어, 인체)가 방출하는 에너지, 조금 더 구체적으로 동맥혈류에 의해 방사되는 적외선열을 적외선 센서로 감지하여 체온을 측정하는 장치이다.
이러한 비접촉 온도 측정기를 사용하여 온도를 정확히 측정하기 위해서는 작동에 상당한 주의가 요구되며, 측정 대물 물체의 방사율을 보정하지 않으면 정확한 측정은 할 수 없다. 여기에서, 방사율이란 측정 대상 물체에서 에너지가 방사되는 비율을 의미한다.
즉, 100이라는 에너지를 품고 있는 측정 대상 물체가 얼마만큼의 에너지를 외부로 방사하는가 하는 비율이다. 예를 들어, 100℃ 의 에너지를 방출하는 측정 대상 물체의 온도를 비접촉 온도 측정기가 측정했을 때 97℃인 경우, 측정 대상 물체가 97%의 에너지를 방출한다는 의미하는 것이다. 따라서, 측정 대상 물체의 실제 온도 100℃를 측정하기 위해서는 3%에 대한 부분을 보정해 주어야 한다.
종래에는, 상기와 같은 이유로 측정 대상 물체의 방사율을 보정하기 위해서 캘리브레이션 장비를 이용하여 온도 측정 모듈을 1대씩 오차 보정 공정을 진행하였다. 하지만, 많은 양의 온도 측정 모듈을 1대씩 오차 보정 공정을 진행하는데 많은 시간이 걸렸다.
이러한 문제점을 해결하기 위해서, 본 발명에서는 복수의 온도 측정 모듈에 대해서 캘리브레이션 모듈을 이용하여 동시에 오차 보정 공정을 진행하여 비접촉 온도 측정기의 생산에서 제일 중요하고 시간이 많이 걸리는 캘리브레이션 공정 시간을 단축시킬 수 있다는 장점이 있다.
또한, 본 발명에서는 온도 보정한 복수의 온도 측정 모듈을 온도 측정기 메인 모듈에 연결한 후에 온도 보정 오차를 확인하여 오차 범위를 초과하는 온도 측정 모듈에 대해서는 2차적으로 온도 보정 작업을 진행하여 캘리브레이션의 정확성을 높일 수 있다. 그러면 이하에서는 본 발명에 따른 비접촉 온도 측정기 보정 시스템에 대해서 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 비접촉 온도 측정기 보정 시스템을 설명하기 위한 도면이다.
도 1을 참조하면, 비접촉 온도 측정기 보정 시스템은 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 및 캘리브레이션 모듈(200)을 포함한다.
복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 각각은 측정 대상 물체에 대해서 온도를 측정하는 온도 센서(101_1, 101_2, …, 101_N) 및 캘리브레이션 모듈(200)에 의해 결정된 온도 센서의 보정 온도를 저장하는 메모리(102_1, 102_2, …, 102_N)를 포함한다.
캘리브레이션 모듈(200)은 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 각각의 온도 센서(101_1, 101_2, …, 101_N)에 대해서 동시에 캘리브레이션 설정을 진행하여 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N)의 온도 센서(101_1, 101_2, …, 101_N) 각각에 대해서 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 결정할 수 있다.
즉, 캘리브레이션 모듈(200)은 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 각각의 온도 센서(101_1, 101_2, …, 101_N)에 대해서 해당 온도 센서의 실험 온도를 측정한 후 실험 온도와 표준 온도를 비교하여 온도 센서 별 보정 온도를 결정하는 것이다.
이와 같이, 캘리브레이션 모듈(200)은 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 각각의 온도 센서(101_1, 101_2, …, 101_N)에 대해서 동시에 캘리브레이션 설정을 진행하기 위해서 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 각각의 온도 센서의 실험 온도를 측정하기 위한 실험 환경으로 구현될 수 있다.
일 실시예에서, 캘리브레이션 모듈(200)은 방사를 일으키지 않는 흡수체(예를 들어, 블랙 바디)로 구현될 수 있다. 이와 같이, 캘리브레이션 모듈(200)은 방사를 일으키지 않는 흡수체로 구현함으로써 방사율이 100%라는 가정하에 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 각각의 온도 센서(101_1, 101_2, …, 101_N)에 대한 실험 온도를 측정한다.
다른 일 실시예에서, 캘리브레이션 모듈(200)은 온도가 변하지 않는 온도 수조로 구현될 수 있다. 이와 같이, 캘리브레이션 모듈(200)은 온도 수조로 구현함으로써 온도가 변하지 않는다는 가정하에 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 각각의 온도 센서(101_1, 101_2, …, 101_N)에 대한 실험 온도를 측정한다.
그런 다음, 캘리브레이션 모듈(200)은 복수의 온도 측정 모듈 각각에 대해서 해당 온도 센서의 실험 온도와 표준 온도를 비교하여 온도 센서 별 보정 온도를 결정하고, 온도 센서 별 보정 온도를 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 각각의 메모리에 저장한다.
이와 같이, 캘리브레이션 모듈(200)에 의해 결정된 온도 센서 별 보정 온도를 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 각각의 메모리(102_1, 102_2, …, 102_N)에 저장하는 이유는 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N)이 온도 측정기 메인 모듈(미도시됨)과 연결된 상태에서 측정 대상 물체의 온도를 측정하여 측정 온도를 생성할 시 측정 온도를 보정하는데 사용하기 위해서이다.
본 발명에서는 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 각각의 온도 센서에 대해서 동시에 캘리브레이션 설정을 진행하여 보정 온도를 결정하여 온도 센서 별 보정 온도를 복수의 온도 측정 모듈(100_1, 100_2, …, 100_N) 각각의 메모리(102_1, 102_2, …, 102_N)에 저장함으로써 비접촉 온도 측정기의 생산에서 제일 중요하고 시간이 많이 걸리는 캘리브레이션 공정 시간을 단축할 수 있다는 장점에 있다.
또한, 본 발명에서는 복수의 온도 측정 모듈(100)을 온도 측정기 메인 모듈(300)에 연결하여 해당 온도 센서의 보정 온도가 오차 범위를 초과하는지 확인하여 온도 보정 재수행 대상을 선별할 수 있다.
즉, 온도 측정 모듈(100)의 온도 센서(101)가 측정 대상 물체의 온도를 측정하여 생성한 측정 온도 및 메모리(102)에 저장된 해당 온도 센서(101)의 보상 온도 사이의 차이 온도가 설정된 허용 오차 범위를 초과하면 해당 온도 측정 모듈(100)에 대해서는 2차적으로 온도 보정 작업을 진행하여 캘리브레이션의 정확성을 높일 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 비접촉 온도 측정기 보정 시스템을 통해 보정된 복수의 온도 측정 모듈의 온도 보정 오차를 확인하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 2를 참조하면, 복수의 온도 측정 모듈(100) 각각의 메모리에는 캘리브레이션 모듈(200)을 통해 온도 센서 별 보정 온도가 저장된다. 본 발명에서는 이러한 복수의 온도 측정 모듈(100)을 온도 측정기 메인 모듈(300)에 연결하여 해당 온도 센서의 보정 온도가 오차 범위를 초과하는지 확인하여 온도 보정 재수행 대상을 선별할 수 있다.
온도 측정 모듈(100)은 온도 측정기 메인 모듈(300)의 제어에 따라 측정 대상 물체의 온도를 측정하는 온도 센서(101) 및 온도 센서 별 보정 온도가 저장되어 있는 메모리(102)를 포함한다. 이와 같이, 메모리(102)에 온도 센서 별 보정 온도를 저장하는 이유는 온도 측정 모듈(100)이 온도 측정기 메인 모듈(300)과 연결된 상태에서 측정 대상 물체의 온도를 측정하여 측정 온도를 생성할 시 측정 온도를 보정하는데 사용하기 위해서이다.
온도 측정기 메인 모듈(300)은 제어부(301), 스위치 입력부(302), 통신 인터페이스(303) 및 표시부(304)를 포함한다.
제어부(301)는 스위치 입력부(302)를 통해 스캔 스위치의 입력 명령이 수신되면 온도 측정 모듈(100)의 온도 센서(101)가 동작되도록 하며, 온도 센서(101)는 측정 대상 물체의 온도를 측정하여 생성한 측정 온도를 제어부(301)에 제공하게 된다.
그런 다음, 제어부(301)는 온도 측정 모듈(100)의 메모리(102)에서 온도 센서(101)에 해당하는 보정 온도를 추출하고, 온도 측정 모듈(100)의 측정 온도 및 보정 온도 사이의 차이 온도가 기 설정된 허용 오차 범위를 초과하는지 여부를 확인한다.
이와 같이, 발명에서는 온도 보정한 복수의 온도 측정 모듈을 온도 측정기 메인 모듈에 연결한 후에 온도 보정 오차를 확인하여 오차 범위를 초과하는 해당 온도 측정 모듈(100)에 대해서는 2차적으로 온도 보정 작업을 진행하여 캘리브레이션의 정확성을 높일 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 비접촉 온도 측정기 보정 시스템의 실행 과정을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 3을 참조하면, 복수의 온도 측정 모듈(100) 각각은 캘리브레이션 모듈에 연결된다(단계 S310). 캘리브레이션 모듈(200)은 복수의 온도 측정 모듈 각각에 대해서 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 결정한다(단계 S320).
단계 S320에 대한 일 실시예에서, 캘리브레이션 모듈(200)은 복수의 온도 측정 모듈 각각의 온도 센서에 대해서 동시에 캘리브레이션 설정을 진행하여 보정 온도를 결정할 수 있다. 보다 구체적으로, 캘리브레이션 모듈(200)은 복수의 온도 측정 모듈 각각에 대해서 해당 온도 센서의 실험 온도와 표준 온도를 비교하여 온도 센서 별 보정 온도를 결정하고, 온도 센서 별 보정 온도를 복수의 온도 측정 모듈 각각의 메모리에 저장할 수 있다.
여기에서, 메모리에 저장되어 있는 온도 센서 별 보정 온도는 복수의 온도 측정 모듈이 온도 측정기 메인 모듈과 연결된 상태에서 측정 대상 물체의 온도를 측정하여 측정 온도를 생성할 시 측정 온도를 보정하기 위해 사용될 수 있다.
캘리브레이션 모듈(200)은 복수의 온도 측정 모듈 각각에 대해서 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 이용하여 온도 정보를 보정한다(단계 S330).
단계 S330에 대한 일 실시예에서, 복수의 온도 측정 모듈 각각은 상기 보정 온도의 오차 범위를 확인하기 위해 온도 측정기 메인 모듈에 연결되며, 복수의 온도 측정 모듈 각각의 온도 센서에 의해 생성된 측정 온도 및 상기 온도 센서에 해당하는 보상 온도 사이의 차이 온도가 복수의 온도 측정 모듈 각각의 온도 센서에 의해 생성된 측정 온도 및 상기 온도 센서에 해당하는 보상 온도 사이의 차이 온도가 기 설정된 허용 오차 범위를 초과하는지 여부를 확인하여 온도 보정 재수행 대상을 선별한다.
이와 같이, 발명에서는 온도 보정한 복수의 온도 측정 모듈을 온도 측정기 메인 모듈에 연결한 후에 온도 보정 오차를 확인하여 오차 범위를 초과하는 해당 온도 측정 모듈(100)에 대해서는 2차적으로 온도 보정 작업을 진행하여 캘리브레이션의 정확성을 높일 수 있다.
지금까지 본 발명에 따른 구체적인 실시예에 관하여 설명하였으나, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서는 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 후술하는 특허 청구의 범위뿐 아니라 이 특허 청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 상기의 실시예에 한정되는 것은 아니며, 이는 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명 사상은 아래에 기재된 특허청구범위에 의해서만 파악되어야 하고, 이의 균등 또는 등가적 변형 모두는 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
100_1, 100_2, …, 100_N: 복수의 온도 측정 모듈
101_1, 101_2, …, 101_N: 온도 센서
102_1, 102_2, …, 102_N: 메모리
200: 캘리브레이션 모듈
300: 온도 측정기 메인 모듈
301: 제어부
302: 스위치 입력부
303: 통신 인터페이스
304: 표시부

Claims (14)

  1. 측정 대상 물체에 대해서 온도를 측정하는 온도 센서 및 상기 온도 센서의 보정 온도를 저장하는 메모리를 포함하는 복수의 온도 측정 모듈; 및
    상기 복수의 온도 측정 모듈의 온도 센서 각각에서 측정된 실험 온도와 표준 온도를 비교하여 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 결정하고 결정된 보정 온도에 따라 온도 센서의 온도 정보를 보정하는 캘리브레이션 모듈을 포함하고,
    상기 복수의 온도 측정 모듈 각각은
    상기 보정 온도의 오차 범위를 확인하기 위해 온도 측정기 메인 모듈에 연결되는 것을 특징으로 하고,
    상기 온도 측정기 메인 모듈은
    상기 복수의 온도 측정 모듈 각각의 온도 센서에 의해 생성된 측정 온도 및 상기 온도 센서에 해당하는 보정 온도 사이의 차이 온도가 기 설정된 허용 오차 범위를 초과하는 온도 측정 모듈에 대해 온도 보정을 재수행하는 것을 특징으로 하는 비접촉 온도 측정기 보정 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 캘리브레이션 모듈은
    상기 복수의 온도 측정 모듈 각각의 온도 센서에 대해서 동시에 캘리브레이션 설정을 진행하여 보정 온도를 결정하는 것을 특징으로 하는
    비접촉 온도 측정기 보정 시스템.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 캘리브레이션 모듈은
    상기 복수의 온도 측정 모듈 각각에 대해서 해당 온도 센서의 실험 온도와 표준 온도를 비교하여 온도 센서 별 보정 온도를 결정하는 것을 특징으로 하는
    비접촉 온도 측정기 보정 시스템.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 캘리브레이션 모듈은
    상기 온도 센서 별 보정 온도를 상기 복수의 온도 측정 모듈 각각의 메모리에 저장하는 것을 특징으로 하는
    비접촉 온도 측정기 보정 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 메모리에 저장되어 있는 온도 센서 별 보정 온도는
    상기 복수의 온도 측정 모듈이 온도 측정기 메인 모듈과 연결된 상태에서 측정 대상 물체의 온도를 측정하여 측정 온도를 생성할 시 상기 측정 온도를 보정하기 위해 사용되는 것을 특징으로 하는
    비접촉 온도 측정기 보정 시스템.
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 복수의 온도 측정 모듈 각각을 캘리브레이션 모듈에 연결하는 단계;
    상기 캘리브레이션 모듈이 상기 복수의 온도 측정 모듈 각각에 대해서 해당 온도 센서에서 측정된 실험 온도와 표준 온도를 비교하여 상기 온도 센서에 대한 보정 온도를 결정하는 단계; 및
    상기 캘리브레이션 모듈이 상기 복수의 온도 측정 모듈 각각에 대해서 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 이용하여 온도 정보를 보정하는 단계를 포함하고,
    상기 복수의 온도 측정 모듈 각각은 상기 보정 온도의 오차 범위를 확인하기 위해 온도 측정기 메인 모듈에 연결되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하고,
    상기 온도 측정기 메인 모듈이 상기 복수의 온도 측정 모듈 각각의 온도 센서에 의해 생성된 측정 온도 및 상기 온도 센서에 해당하는 보정 온도 사이의 차이 온도가 기 설정된 허용 오차 범위를 초과하는 온도 측정 모듈에 대해 온도 보정을 재수행하는 것을 특징으로 하는 비접촉 온도 측정기 보정 시스템의 실행 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 캘리브레이션 모듈이 상기 복수의 온도 측정 모듈 각각에 대해서 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 결정하는 단계는
    상기 캘리브레이션 모듈이 상기 복수의 온도 측정 모듈 각각의 온도 센서에 대해서 동시에 캘리브레이션 설정을 진행하여 보정 온도를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는
    비접촉 온도 측정기 보정 시스템의 실행 방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 캘리브레이션 모듈이 상기 복수의 온도 측정 모듈 각각에 대해서 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 결정하는 단계는
    상기 캘리브레이션 모듈이 상기 복수의 온도 측정 모듈 각각에 대해서 해당 온도 센서의 실험 온도와 표준 온도를 비교하여 온도 센서 별 보정 온도를 결정하는 것을 특징으로 하는
    비접촉 온도 측정기 보정 시스템의 실행 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 캘리브레이션 모듈이 상기 복수의 온도 측정 모듈의 온도 센서 각각에 대해서 해당 온도 센서에 대한 보정 온도를 이용하여 온도 정보를 보정하는 단계는
    상기 캘리브레이션 모듈이 상기 온도 센서 별 보정 온도를 상기 복수의 온도 측정 모듈 각각의 메모리에 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는
    비접촉 온도 측정기 보정 시스템의 실행 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 메모리에 저장되어 있는 온도 센서 별 보정 온도는
    상기 복수의 온도 측정 모듈이 온도 측정기 메인 모듈과 연결된 상태에서 측정 대상 물체의 온도를 측정하여 측정 온도를 생성할 시 상기 측정 온도를 보정하기 위해 사용되는 것을 특징으로 하는
    비접촉 온도 측정기 보정 시스템의 실행 방법.
  13. 삭제
  14. 삭제
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2002048648A (ja) 2000-08-04 2002-02-15 Seiko Epson Corp 測温計およびその補正方法
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002048648A (ja) 2000-08-04 2002-02-15 Seiko Epson Corp 測温計およびその補正方法
JP2004530893A (ja) 2001-06-18 2004-10-07 ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド 複合マイクロボロメータアレイの読出し方法及び装置
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