KR101668039B1 - Method for Light Test of Display Panel - Google Patents

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KR101668039B1
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이승원
김영현
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주식회사 홍익기술
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Abstract

Disclosed is a method for testing lighting of a display panel in the present invention comprising: a location setting step of placing a display panel having a plurality of pixels to face a front of a capturing module; a lighting step of generating a lighting pattern since a part of the display panel is lighted; a detecting step of capturing a first image of the display panel where the lighting pattern is lighted in a capturing module, and detects coordinates of the lighting pattern from the first image; a table forming step of matching location information of the lighting pattern lighted from the display panel to a coordinate point of the lighting pattern detected from the first image, and forming a matching table; a capturing step of turning on the display panel to photograph a second image having a test pattern; and an inspecting step of applying the second image to the matching table, and detecting a location of a defective pixel from the display panel.

Description

디스플레이 패널 점등 검사방법{Method for Light Test of Display Panel}[0001] The present invention relates to a method for testing a display panel,

본 발명은 제조된 디스플레이 패널의 점등검사를 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법에 관한 것으로서 보다 상세하게는, 디스플레이 패널과 이를 촬영한 이미지에서의 픽셀 차이를 통해 매칭테이블을 형성한 후 이를 이용하여 디스플레이패널의 불량픽셀 위치를 도출할 수 있는 디스플레이 패널 점등 검사방법이다.
The present invention relates to a method of inspecting a display panel for lighting a manufactured display panel, and more particularly, to a method of inspecting a display panel using a display panel and a display panel, It is a display panel lighting inspection method which can derive a defective pixel position.

디스플레이 패널이란 화면을 통해 정보를 표시하는 것으로써, 가전제품에 널리 사용되고 있다. 최근에는 이런 디스플레이 패널의 일 예로 엘씨디가 보편적으로 사용되고 있다.The display panel is widely used in household appliances by displaying information through a screen. In recent years, as an example of such a display panel, an LCD is widely used.

일반적으로 엘씨디란 TV나 컴퓨터등의 모니터에 사용되고 있는 음극선관을 대체하기 위해 개발된 표시장치로, 경량화가 용이하고 고화질, 저전력소비 등의 장점을 가지므로 산업에서 널리 이용되고 있다.In general, LCD is a display device developed to replace a cathode ray tube used in a monitor of a TV or a computer. It is widely used in industry because it has a light weight, high image quality and low power consumption.

특히, 근래에는 휴대폰이나 PDA와 같은 이동통신단말기의 수요가 지속적으로 확산됨에 따라, 그 이동통신단말기에 탑재되는 소형 디스플레이 패널 시장이 기하급수적으로 팽창하고 있다.Particularly, as the demand for mobile communication terminals such as mobile phones and PDAs continues to spread in recent years, the market for small display panels mounted on the mobile communication terminals is exponentially expanding.

디스플레이 패널은 제조공정에서 색도, 색 얼룩, 콘트라스트 등의 동작상태를 검사하는 점등검사를 거치게 된다. 이때, 이동통신단말기가 점차 고도의 기술과 품질이 요구되는 칼라 디스플레이 패널을 탑재하게 됨에 따라, 정밀한 검사가 필연적으로 수반됨은 물론, 대량생산이 본격화됨에 따라 검사의 효율성 향상이 수반된다.The display panel undergoes a lighting test for checking the operation state such as chromaticity, color unevenness, and contrast in the manufacturing process. At this time, since a mobile communication terminal is gradually equipped with a color display panel requiring a high level of technology and quality, precise inspection is inevitably accompanied and, in addition, mass production is promoted and inspection efficiency is improved.

이와 같이 디스플레이시장이 활성화됨에 따라 다양한 형태의 디스플레이 패널의 테스트 장치 및 방법들이 개발되었다.As the display market has been activated, various types of display panel test apparatuses and methods have been developed.

종래에는 단순히 디스플레이패널을 점등시켜 이를 촬영하기는 하였으나 정확한 색상의 구분 및 이를 통한 불량픽셀의 위치를 도출하기 어려웠다.In the past, the display panel was simply turned on to photograph it, but it was difficult to distinguish the correct color and to locate the defective pixel through it.

특히 화소가 높은 고픽셀의 디스플레이패널의 경우 이를 정확하게 분석하기 어려울 뿐만 아니라 해당 위치의 정확한 도출을 판단할 방법이 없는 문제점이 있었다.
In particular, in the case of a high pixel display panel having a high pixel, it is difficult to accurately analyze the display panel, and there is no method of determining the accurate derivation of the position.

본 발명의 목적은 종래의 디스플레이 패널 점등 검사방법의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 디스플레이 패널에서 점등패턴이 점등된 제1이미지를 촬영하고 이를 통해 제1이미지와 실제 디스플레이 패널간의 매칭테이블을 형성하고, 이를 통해 디스플레이 패널에서 불량픽셀의 위치를 도출하는 디스플레이 패널 점등 검사방법을 제공함에 있다.An object of the present invention is to solve a problem of a conventional method of inspecting a display panel lighting, and it is an object of the present invention to provide a method of inspecting a display panel, comprising: forming a matching table between a first image and an actual display panel, And a method of inspecting a display panel lighting method for deriving a position of a defective pixel on a display panel.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description are exemplary and explanatory and are not intended to limit the invention to the precise form disclosed. There will be.

상기한 과제를 해결하기 위하여 본 발명은, 디스플레이 패널 점등 검사방법에 관한 것으로, 복수 개의 픽셀을 가지는 디스플레이 패널을 촬영모듈의 전방에 마주보도록 배치하는 위치설정 단계, 상기 디스플레이 패널 중 일부가 점등하여 점등패턴을 발생시키는 점등단계, 상기 촬영모듈에서 상기 점등패턴이 점등된 상기 디스플레이 패널의 제1이미지를 촬영하고 상기 제1이미지에서 상기 점등패턴 좌표를 검출하는 검출단계, 상기 디스플레이 패널에서 점등된 상기 점등패턴의 위치정보와 상기 제1이미지에서 검출된 상기 점등패턴의 좌표지점을 대응시켜 매칭테이블을 형성하는 테이블 형성단계, 상기 디스플레이 패널을 점등시켜 검사패턴이 포함된 제2이미지를 촬영하는 촬영단계 및 상기 제2이미지를 상기 매칭테이블에 적용하여 상기 디스플레이 패널에서 불량픽셀의 위치를 도출하는 검수단계를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a display panel, comprising: positioning a display panel having a plurality of pixels so as to face the front of a photographing module; A detecting step of photographing a first image of the display panel on which the lighting pattern is lit up in the photographing module and detecting the lighting pattern coordinates in the first image, A table forming step of forming a matching table by associating the position information of the pattern with the coordinate points of the lighting pattern detected in the first image, a photographing step of photographing the second image including the inspection pattern by lighting the display panel, Applying the second image to the matching table, The panel comprises a verification step for deriving a position of the defective pixel.

또한, 상기 점등패턴은 상기 디스플레이 패널의 픽셀 중 적어도 일부를 기 설정된 간격으로 분산되어 점등하는 것을 특징으로 할 수 있다.Also, the lighting pattern is characterized in that at least a part of the pixels of the display panel are dispersed and lighted at predetermined intervals.

또한, 상기 검수단계는 상기 제2이미지를 복수 개의 영역으로 분할하여 상기 불량픽셀이 존재하는 영역에 상기 매칭테이블을 적용시키며 상기 불량픽셀의 위치를 도출하는 것을 특징으로 할 수 있다.In the inspection step, the second image is divided into a plurality of regions, the matching table is applied to an area where the defective pixels are present, and the position of the defective pixel is derived.

또한, 상기 검수단계는 상기 제1이미지에서 측정된 상기 점등패턴의 위치를 기준으로 상기 제2이미지상에서 측정된 상기 불량픽셀의 좌표를 도출하고, 여기에 상기 매칭테이블을 적용하여 상기 디스플레이 패널에서 상기 불량픽셀의 위치를 도출하는 것을 특징으로 할 수 있다.Also, in the checking step, coordinates of the defective pixel measured on the second image are derived based on the position of the lighting pattern measured in the first image, and the matching table is applied to the defective pixel, And deriving the position of the defective pixel.

또한, 상기 점등패턴은 상기 디스플레이 패널 픽셀 중 일부가 선형으로 이격된 격자형태로 점등하는 것을 특징으로 할 수 있다.In addition, the lighting pattern may be characterized in that a part of the pixels of the display panel is illuminated in a lattice form spaced linearly.

또한, 상기 디스플레이 패널은 복수 개가 연속하여 교체되며 상기 촬영모듈의 전방에서 점등검사가 진행되고, 각각이 독립적으로 상기 검출단계 및 상기 테이블 형성단계를 진행하는 것을 특징으로 할 수 있다.Also, a plurality of the display panels may be continuously replaced, and a lighting test may be performed in front of the photographing module, and each of the display panels may independently perform the detecting step and the table forming step.

또한, 상기 촬영모듈은 상기 디스플레이 패널의 크기보다 상대적으로 크게 상기 제1이미지 및 상기 제2이미지를 촬영하는 것을 특징으로 할 수 있다.
The photographing module photographs the first image and the second image relatively larger than the size of the display panel.

상기 문제점을 해결하기 위해 본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.In order to solve the above problems, the present invention has the following effects.

첫째, 디스플레이패널에서 점등된 점등패턴의 위치와 촬영모듈에서 촬영된 디스플레이패널의 이미지에서 점등패턴의 좌표를 도출하여 실제 디스플레이패널과 촬영된 이미지 사이의 매칭을 위한 매칭테이블을 형성함으로써, 검사패턴이 점등된 디스플레이 패널의 이미지에 매칭테이블을 적용하여 실제 디스플레이패널에서의 불량픽셀 위치를 정확하게 파악할 수 있는 이점이 있다.First, a matching table for matching between the actual display panel and the photographed image is derived by deriving the coordinates of the lighting pattern from the position of the lighting pattern illuminated on the display panel and the image of the display panel photographed by the photographing module, The matching table is applied to the image of the illuminated display panel, so that the position of the defective pixel in the actual display panel can be accurately grasped.

둘째, 촬영모듈에서 촬영된 이미지를 복수 개의 영역으로 분할하여 불량픽셀이 위치한 영역만 별도로 매칭테이블을 적용함으로써 보다 쉽게 불량픽셀의 실제 위치를 파악할 수 있는 이점이 있다.Secondly, there is an advantage in that the image taken by the imaging module is divided into a plurality of regions, and the actual position of the defective pixel can be more easily grasped by separately applying the matching table only to the region where the defective pixel is located.

이러한 본 발명에 의한 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
The effects of the present invention are not limited to the effects mentioned above, and other effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the description of the claims.

도 1은 디스플레이 패널을 촬영모듈이 촬영하는 상태를 나타낸 도면;
도 2는 도 1의 디스플레이 패널에 점등패턴이 점등되어 제1이미지를 촬영한 상태를 나타낸 도면;
도 3은 도 2의 디스플래이패널에서 검사패턴을 촬영한 제2이지미를 나타낸 도면; 및
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 점등 검사방법을 나타낸 흐름도이다.1 is a view showing a state in which a photographing module photographs a display panel;
FIG. 2 is a diagram illustrating a state in which a first image is photographed when a lighting pattern is lit on the display panel of FIG. 1; FIG.
FIG. 3 is a view showing a second image of the inspection pattern taken on the display panel of FIG. 2; And
4 is a flowchart illustrating a method of inspecting a display panel lighting according to the present invention.

이와 같이 구성된 본 발명에 의한 디스플레이 패널 점등 검사방법 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 통하여 설명한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정형태로 한정하려는 것이 아니라 본 실시예를 통해서 좀더 명확한 이해를 돕기 위함이다.A display panel lighting inspection method according to the present invention constructed as above will be described with reference to the accompanying drawings. However, it is not intended to limit the invention to any particular form but to facilitate a more thorough understanding of the present invention.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 점등 검사방법은 제조된 디스플레이 패널(D)의 점등검사 시 화상카메라로 디스플레이 패널의 점등 영상을 측정하여 이를 통해 불량화소의 위치를 정확하게 측정할 수 있도록 하기 위한 점등검사 방법이다. The method of inspecting a display panel lighting according to the present invention is a lighting inspection method for measuring a lighting image of a display panel with an image camera at the time of lighting inspection of the manufactured display panel D and thereby accurately measuring the position of a defective pixel .

먼저, 도1 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하면 다음과 같다.First, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 4. FIG.

도 1은 디스플레이 패널을 촬영모듈이 촬영하는 상태를 나타낸 도면이고, 도 2는 도 1의 디스플레이 패널에 점등패턴이 점등되어 제1이미지를 촬영한 상태를 나타낸 도면이다.FIG. 1 is a view showing a state in which a photographing module photographs a display panel, and FIG. 2 is a diagram showing a state in which a first pattern is photographed by lighting a lighting pattern on the display panel of FIG.

그리고 도 3은 도 2의 디스플래이패널에서 검사패턴을 촬영한 제2이지미를 나타낸 도면이고, 도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 점등 검사방법을 나타낸 흐름도이다.FIG. 3 is a view showing a second image obtained by photographing an inspection pattern on the display panel of FIG. 2, and FIG. 4 is a flowchart illustrating a method of inspecting a display panel lighting according to the present invention.

먼저, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 점등 검사방법은 크게, 위치설정 단계, 점등단계, 검출단계, 테이블 형성단계 및 검수단계를 포함한다.First, a display panel lighting inspection method according to the present invention includes a positioning step, a lighting step, a detection step, a table formation step, and a verification step.

상기 위치설정 단계는 디스플레이 패널(P)의 점등검사를 하기 위한 초기상태로, 도 1에 도시된 바와 같이 복수 개의 픽셀을 가지는 디스플레이 패널(P)을 촬영모듈(100)의 전방으로 향하도록 배치한다.The position setting step is an initial state for performing the on-off inspection of the display panel P, and arranges the display panel P having a plurality of pixels toward the front of the photographing module 100 as shown in FIG. 1 .

여기서, 도시된 바와 같이 상기 디스플레이 패널(P)은 고정된 상기 촬영모듈(100)의 전방에서 복수 개가 반복적으로 이송되며 점등검사를 실시하게 된다.Here, as shown in the figure, a plurality of the display panels P are repeatedly transported in front of the fixed photographing module 100, and a lighting inspection is performed.

이때, 상기 촬영모듈(100)의 촬영영역 내에 상기 디스플레이 패널(P)이 위치하도록 위치가 조절되며, 이때 상기 디스플레이 패널(P)의 위치가 설정된다.(S1)At this time, the position of the display panel P is adjusted so that the display panel P is positioned in the shooting area of the photographing module 100, and the position of the display panel P is set at this time.

이와 같이 상기 디스플레이 패널(P)은 상기 촬영모듈(100)의 전방에서 위치가 설정된다.Thus, the display panel P is positioned in front of the photographing module 100.

그리고 상기 디스플레이 패널(P)은 상기 촬영모듈(100)의 전방에서 기 설정된 점등패턴(10)으로 빛이 발광되는 점등단계를 거친다.(S2)The display panel P is illuminated in a predetermined lighting pattern 10 in front of the photographing module 100. In step S2,

구체적으로 상기 점등단계는 상기 점등패턴(10)이 발광된 상태에서 상기 디스플레이 패널(P)이 상기 촬영모듈(100)에 의해 이미지로 촬영된다.Specifically, in the lighting step, the display panel P is photographed as an image by the photographing module 100 in a state in which the lighting pattern 10 is emitted.

이때, 상기 점등패턴(10)은 상기 디스플레이 패널(P)에서 일부의 소자가 기 설정된 패턴 형태로 점등되는 것을 나타내며, 다양한 형태로 배치될 수 있다.At this time, the lighting pattern 10 indicates that some elements of the display panel P are lit in a predetermined pattern, and may be arranged in various forms.

본 실시예에서 상기 점등패턴(10)은 상기 디스플레이 패널(P)상에서 복수 개의 점들이 기 설정된 간격으로 분산되어 형성되며, 이와 달리 일정한 패턴이나 형상 등을 형성하도록 구성될 수도 있다.In the present embodiment, the lighting pattern 10 may be formed by dispersing a plurality of points on the display panel P at predetermined intervals, and may be configured to form a constant pattern or shape.

또한 이와 달리 상기 점등패턴(10)은 상기 디스플레이 패널(P)의 픽셀 중 일부가 선형으로 이격되 격자 형태로 점등될 수도 있다.Alternatively, the lighting pattern 10 may be partly linearly spaced apart from the pixels of the display panel P, and may be turned on in a lattice pattern.

이와 같이 상기 점등단계에서 상기 디스플레이 패널(P)이 점등패턴(10)을 가지며 점등되면, 이를 상기 촬영모듈(100)에서 이미지로 촬영할 수 있다.When the display panel P has the lighting pattern 10 and is turned on in the lighting step, the photographing module 100 can photograph the display panel P as an image.

한편, 상기 점등단계를 거친 후 상기 촬영모듈(100)을 통해 상기 점등패턴(10)이 발광된 상기 디스플레이 패널(P)의 제1이미지(I1)를 촬영한다.(S3)After the lighting step, the first image I1 of the display panel P on which the lighting pattern 10 is emitted is photographed through the photographing module 100. In step S3,

이때, 상기 촬영모듈(100)에서 촬영되는 상기 디스플레이 패널(P)의 제1이미지(I1)는 실제 상기 디스플레이 패널(P)의 픽셀과 상기 촬영모듈(100) 자체에서 기록되는 픽셀이 서로 다르게 구성된다.In this case, the first image I1 of the display panel P taken by the imaging module 100 is configured such that the pixels of the display panel P and the pixels of the imaging module 100 themselves are different from each other do.

일반적으로 상기 촬영모듈(100)은 카메라 등이 구성될 수 있으며, 이와 같은 촬영모듈(100)에서 기록되는 픽셀은 카메라 자체의 해상도에 의해 결정된다.Generally, the photographing module 100 may be a camera or the like, and the pixels recorded in the photographing module 100 are determined according to the resolution of the camera itself.

그리고, 이와 같이 상기 촬영모듈(100)에 의해 촬영된 상기 제1이미지(I1)에서, 상기 점등패턴(10)의 좌표를 검출한다.The coordinates of the lighting pattern 10 are detected in the first image I1 captured by the photographing module 100 as described above.

구체적으로 상술한 바와 같이 상기 디스플레이 패널(P)의 픽셀과 상기 촬영모듈(100)의 픽셀이 상이하기 때문에 상기 제1이미지(I1)에서 상기 디스플레이 패널(P)의 상기 점등패턴(10)에 대한 좌표를 검출한다.Since the pixels of the display panel P and the pixels of the photographing module 100 are different from each other in the first image I1 as described above, Coordinates are detected.

여기서, 일반적인 촬영모듈(100)의 경우 촬영된 이미지의 외측 끝단부는 중앙부에 비해 상대적으로 흐리게 측정될 수 있기 때문에 상기 촬영모듈(100)이 상기 디스플레이 패널(P)의 제1이미지(I1)를 촬영 시 실제 디스플레이 패널(P)의 가장자리를 포함하도록 한다.Since the outer end of the photographed image 100 can be relatively blurred compared with the central portion, the photographing module 100 can photograph the first image I1 of the display panel P The edge of the actual display panel P is included.

즉, 상기 촬영모듈(100)은 상기 디스플레이 패널(P)의 크기보다 상대적으로 크게 상기 제1이미지(I1) 및 후술하는 제2이미지(I2)를 촬영한다.That is, the photographing module 100 photographs the first image I1 and the second image I2, which will be described later, relatively larger than the size of the display panel P.

이와 같이 상기 검출단계는 상기 점등단계에서 점등된 상기 디스플레이 패널(P)의 제1이미지(I1)를 상기 촬영모듈(100)을 통해 촬영하고 상기 제1이미지(I1) 내에서 상기 점등패턴(10)의 좌표를 검출한다.The sensing step photographs the first image I1 of the display panel P illuminated in the lighting step through the photographing module 100 and displays the lighting pattern 10 in the first image I1 ).

다음으로 상기 테이블 형성단계는 상기 점등패턴(10)이 점등된 상기 디스플레이 패널(P)에서 상기 점등패턴(10)의 위치정보와 상기 제1이미지(I1)에서 검출된 상기 점등패턴(10)의 좌표를 대응하여 매칭테이블(미도시)을 형성한다.(S4)Next, the table forming step may be performed such that the position information of the lighting pattern 10 on the display panel P on which the lighting pattern 10 is lit and the position information of the lighting pattern 10 detected in the first image I1 A matching table (not shown) is formed corresponding to the coordinates (S4)

구체적으로, 상기 제1이미지(I1)는 상기 카메라의 픽셀에 대응하여 저장된 이미지로써, 상기 디스플레이 패널(P)에서의 점등패턴(10) 위치와 상기 제1이미지(I1)에서의 점등패턴(10) 좌표가 서로 일치되도록 한다. Specifically, the first image I1 is an image stored corresponding to the pixels of the camera, and the position of the lighting pattern 10 in the display panel P and the lighting pattern 10 in the first image I1 ) Let the coordinates coincide with each other.

이때, 상기 매칭테이블이란 상술한 상기 디스플레이 패널(P)의 픽셀과 상기 촬영모듈(100)에서 촬영된 상기 제1이미지(I1)의 픽셀이 서로 다르기 때문에 실제 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등된 상기 점등패턴(10)의 실제 위치와 상기 제1이미지(I1)에서의 상기 점등패턴(10) 좌표를 상호 대응되도록 하는 테이블이다.Since the pixels of the display panel P and the pixels of the first image I1 captured by the photographing module 100 are different from each other, The actual position of the lighting pattern 10 and the coordinates of the lighting pattern 10 in the first image I1 correspond to each other.

보다 상세하게 살펴보면 상기 제1이미지(I1)에서 상기 점등패턴(10) 의 좌표점을 연결하여 Spline 곡선을 만들고 이를 상기 디스플레이 패널(P)의 해상도에 맞게 분해하여 만들어진 Mesh를 통해 상기 매칭테이블을 형성한다.In more detail, a spline curve is formed by connecting the coordinate points of the lighting pattern 10 in the first image I1 and the matching table is formed through a mesh created by decomposing the spline curve according to the resolution of the display panel P do.

여기서, 상기 매칭테이블은 상기 제1이미지(I1)에서 특정 좌표의 위치를 적용하여 실제 디스플레이 패널(P)에서 대응하는 지점의 위치를 도출할 수 있는 일종의 보정수단의 역할을 한다.Here, the matching table serves as a kind of correction means capable of deriving a position of a corresponding point in the actual display panel P by applying a specific coordinate position in the first image I1.

예를 들어, 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등된 점등패턴(10)에서 점등위치간의 이격 거리가 10Point인 경우, 상기 제1이미지(I1)에서 나타난 점등패턴(10)의 좌표지점을 이에 대응하여 비율을 도출할 수 있다.For example, when the distance between the lighting positions in the lighting pattern 10 illuminated in the display panel P is 10 points, the coordinate points of the lighting pattern 10 indicated by the first image I1 correspond to the coordinates The ratio can be derived.

그리고 이와 같은 비율 차이를 통해 상기 매칭테이블을 형성할 수 있다.The matching table can be formed through the ratio difference.

이와 같이 상기 테이블 형성단계에서는 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등된 상기 점등패턴(10)의 위치와 상기 제1이미지(I1)에서 검출된 점등패턴(10)의 좌표지점 위치를 대응하여 비율에 대응하여 매칭테이블을 형성한다.As described above, in the table formation step, the position of the lighting pattern 10 illuminated in the display panel P corresponds to the position of the coordinate point of the lighting pattern 10 detected in the first image I1 Thereby forming a matching table.

다음으로, 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등패턴(10)이 아닌 검사패턴(20)을을 점등하고(S5) 이를 상기 촬영모듈(100)을 통해 촬영하여 제2이미지(I2)를 수집한다.(S6)Next, the inspection pattern 20, which is not the lighting pattern 10, is lighted on the display panel P (S5), and the second image I2 is collected by photographing the inspection pattern 20 through the photographing module 100. FIG. (S6)

구체적으로 상기 제2이미지(I2)는 상술한 점등패턴(10)의 제1이미지(I1)와 달리 상기 디스플레이 패널(P)의 점등검사를 하기 위한 패턴으로써 각각의 패널(P)에서 입력되는 값과 출력되는 색상이 올바른지 검사하기 위한 이미지이다.Specifically, the second image I2 is a pattern for performing the on-off inspection of the display panel P, unlike the first image I1 of the lighting pattern 10 described above, And an image for checking whether the output color is correct.

그리고 이와 같이 상기 촬영모듈(100)에 의해 촬영된 상기 제2이미지(I2)는 상기 매칭테이블에 적용하여 실제 디스플레이 패널(P)의 위치와 비교하는 검수단계를 거친다.The second image I2 photographed by the photographing module 100 is applied to the matching table and compared with the actual display panel P position.

상기 검수단계에서 상기 제2이미지를 확인 결과 불략픽셀이 존재하는지 여부를 판단하게 된다(S7).In the checking step, it is determined whether or not there is an unsolicited pixel in the second image (S7).

구체적으로 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등된 상기 검사패턴(20)에서 불량픽셀이 발견되는 경우, 상기 제2이미지(I2) 내에서 상기 불량픽셀의 위치를 도출하고 이를 상기 매칭테이블에 적용시킨다(S8).Specifically, when a defective pixel is found in the inspection pattern 20 turned on in the display panel P, the position of the defective pixel is derived in the second image I2 and applied to the matching table S8).

이에 따라, 상기 제2이미지(I2)에서 측정된 상기 불량픽셀의 위치에 상기 매칭테이블을 적용시킴으로써 상기 디스플레이 패널(P)에서의 실제 불량픽셀 위치를 도출할 수 있다(S9).Accordingly, the actual defective pixel position in the display panel P can be derived by applying the matching table to the position of the defective pixel measured in the second image I2 (S9).

여기서, 상기 검수단계는 상기 제1이미지(I1)에서 측정된 상기 점등패턴(10)의 위치를 기준으로 상기 제2이미지(I2)상에서 측정된 상기 불량픽셀의 좌표를 도출하고, 여기에 상기 매칭테이블을 적용하여 상기 디스플레이 패널(P)에서 상기 불량픽셀의 위치를 도출할 수 있다.Here, the checking step may include deriving the coordinates of the defective pixel measured on the second image (I2) based on the position of the lighting pattern (10) measured in the first image (I1) The position of the defective pixel can be derived from the display panel P by applying a table.

이와 같이 상기 촬영모듈(100)에서 촬영된 상기 제2이미지(I2)에서의 상기 불량픽셀의 좌표를 상기 매칭테이블에 적용함으로써 상기 디스플레이 패널(P)에서 점등된 상기 불량픽셀의 실제 위치를 도출할 수 있다.The coordinates of the defective pixel in the second image I2 photographed by the photographing module 100 are applied to the matching table to derive the actual position of the defective pixel that is lighted on the display panel P .

한편, 상기 검수단계에서는 상기 제2이미지(I2)에서 상기 불량픽셀의 좌표를 도출할 때, 상기 제2이미지(I2) 전체를 기준으로 하지 않고 상기 제2이미지(I2)를 가상의 선(L)을 이용하여 복수 개의 영역으로 구획하고 상기 불량픽셀이 존재하는 영역에서 매칭테이블을 적용시킴으로써 보다 간결하게 상기 불량픽셀의 위치를 도출할 수 있다.Meanwhile, in the checking step, when deriving the coordinates of the defective pixel in the second image I2, the second image I2 may be referred to as a virtual line L2 without reference to the entire second image I2 ), And applying the matching table in the area where the defective pixel exists, the position of the defective pixel can be more concisely derived.

이와 같이 본 발명에 따른 디스플레이 패널 점등 검사방법은 상술한 바와 같이 위치설정 단계, 상기 점등단계, 상기 검출단계, 상기 테이블 형성단계 및 상기 검수단계를 포함하여 상기 촬영모듈(100)에서 촬영된 이미지로 손쉽게 불량픽셀의 실제 위치를 도출할 수 있다.As described above, the display panel lighting inspection method according to the present invention includes the steps of positioning, lightening, detecting, forming the table, and inspecting the image taken by the photographing module 100, It is possible to easily derive the actual position of the defective pixel.

그리고 이와 같은 방법을 통해 복수 개의 상기 디스플레이 패널(P)은 상기 촬영모듈(100)의 전방에서 복수 개가 연속하여 교체되며 점등검사를 시할 수 있다(S10).In this way, a plurality of the display panels P can be continuously replaced in the front of the photographing module 100, and a lighting inspection can be performed (S10).

여기서, 상기 복수 개의 디스플레이 패널(P)은 매 검사마다 각각에 대해 독립적으로 상기 검출단계 및 상기 테이블 형성단계를 진행하게 된다.Here, the plurality of display panels P may independently perform the detecting step and the table forming step for each inspection.

즉, 교체가 진행되며 복수의 디스플레이 패널(P)에 대해 점등검사를 실시하는 경우, 상기 디스플레이 패널(P) 각각마다 픽셀이 서로 다를 수 있기 때문에 매번 점등 검사마다 상기 매칭테이블을 새로 형성한다.That is, when the lighting inspection is performed on the plurality of display panels P, since the pixels may be different from each other in each of the display panels P, the matching table is newly formed for each lighting inspection.

이에 따라 상기 디스플레이 패널(P)에서 불량픽셀이 발생하는 경우 위치를 보다 정밀하게 측정할 수 있다.
Accordingly, when defective pixels are generated in the display panel P, the position can be measured more precisely.

이상과 같이 본 발명에 대한 바람직한 실시예를 살펴보았으며, 앞서 설명한 실시예 외에도 본 발명의 취지나 범주에서 벗어남이 없이 다른 형태로 구체화될 수 있다. 그러므로, 상술한 실시예는 제한적인 것이 아니라 예시적인 것으로 여겨져야 하고, 이에 따라 본 발명은 상술한 설명에 한정되지 않고 첨부된 청구항의 범주 및 그 동등 범위 내에서 변경될 수도 있다.
As described above, the preferred embodiments of the present invention have been described, and the present invention can be embodied in other forms without departing from the spirit or scope of the present invention. Therefore, the above-described embodiments are to be considered as illustrative rather than restrictive, and thus the present invention is not limited to the above description, but may be modified within the scope of the appended claims and equivalents thereof.

100: 촬영모듈
10: 점등패턴
20: 검사패턴
I1: 제1이미지
I2: 제2이미지
P: 디스플레이 패널100: photographing module
10: Lighting pattern
20: inspection pattern
I1: 1st image
I2: Second image
P: Display panel

Claims (7)

복수 개의 픽셀을 가지는 디스플레이 패널을 촬영모듈의 전방에 마주보도록 배치하는 위치설정 단계;
상기 디스플레이 패널 중 일부가 점등하여 점등패턴을 발생시키는 점등단계;
상기 촬영모듈에서 상기 점등패턴이 점등된 상기 디스플레이 패널의 제1이미지를 촬영하고 상기 제1이미지에서 상기 점등패턴 좌표를 검출하는 검출단계;
상기 디스플레이 패널에서 점등된 상기 점등패턴의 위치정보와 상기 제1이미지에서 검출된 상기 점등패턴의 좌표지점을 대응시키되, 상기 제1이미지에서 검출된 상기 점등패턴의 좌표지점을 연결하여 스플라인(spline) 곡선을 만들고 상기 디스플레이 패널의 해상도에 맞게 분해한 메시(mesh)로 이루어진 매칭테이블을 형성하는 테이블 형성단계;
상기 디스플레이 패널을 점등시켜 검사패턴이 포함된 제2이미지를 촬영하는 촬영단계; 및
상기 제2이미지를 상기 매칭테이블에 적용하여 상기 디스플레이 패널에서 불량픽셀의 위치를 도출하는 검수단계;
를 포함하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.A positioning step of arranging a display panel having a plurality of pixels so as to face the front of the photographing module;
A lighting step of lighting a part of the display panel to generate a lighting pattern;
A detecting step of photographing a first image of the display panel on which the lighting pattern is turned on in the photographing module and detecting the lighting pattern coordinates in the first image;
And a control unit for controlling the display unit so that the position information of the lighting pattern turned on in the display panel and the coordinate point of the lighting pattern detected in the first image are associated with each other and the coordinate points of the lighting pattern detected in the first image are connected, A table forming step of forming a curve and a matching table made of a mesh that is disassembled according to the resolution of the display panel;
A photographing step of photographing a second image including an inspection pattern by lighting the display panel; And
Applying a second image to the matching table to derive a position of a defective pixel in the display panel;
The method comprising the steps of: 제1항에 있어서,
상기 점등패턴은,
상기 디스플레이 패널의 픽셀 중 적어도 일부를 기 설정된 간격으로 분산되어 점등하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.The method according to claim 1,
In the lighting pattern,
Wherein at least some of the pixels of the display panel are dispersed at predetermined intervals to illuminate the display panel. 제2항에 있어서,
상기 검수단계는,
상기 제2이미지를 복수 개의 영역으로 분할하여 상기 불량픽셀이 존재하는 영역에 상기 매칭테이블을 적용시키며 상기 불량픽셀의 위치를 도출하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.3. The method of claim 2,
In the inspection step,
Dividing the second image into a plurality of regions, applying the matching table to an area where the defective pixels exist, and deriving a position of the defective pixel. 제2항에 있어서,
상기 검수단계는,
상기 제1이미지에서 측정된 상기 점등패턴의 위치를 기준으로 상기 제2이미지상에서 측정된 상기 불량픽셀의 좌표를 도출하고, 여기에 상기 매칭테이블을 적용하여 상기 디스플레이 패널에서 상기 불량픽셀의 위치를 도출하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.3. The method of claim 2,
In the inspection step,
Deriving coordinates of the defective pixel measured on the second image based on the position of the lighting pattern measured in the first image, applying the matching table to the defective pixel, and deriving the position of the defective pixel on the display panel And the display panel is turned on. 제1항에 있어서,
상기 점등패턴은,
상기 디스플레이 패널 픽셀 중 일부가 선형으로 이격된 격자형태로 점등하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.The method according to claim 1,
In the lighting pattern,
Wherein a portion of the pixels of the display panel are illuminated in a grid shape spaced linearly. 제1항에 있어서,
상기 디스플레이 패널은,
복수 개가 연속하여 교체되며 상기 촬영모듈의 전방에서 점등검사가 진행되고,
각각이 독립적으로 상기 검출단계 및 상기 테이블 형성단계를 진행하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.The method according to claim 1,
The display panel includes:
A plurality of lamps are successively replaced, a lighting test is performed in front of the photographing module,
Wherein the step of independently performing the detecting step and the step of forming a table are performed independently. 제1항에 있어서,
상기 촬영모듈은,
상기 디스플레이 패널의 크기보다 상대적으로 크게 상기 제1이미지 및 상기 제2이미지를 촬영하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 점등 검사방법.The method according to claim 1,
The photographing module,
Wherein the first image and the second image are taken relatively larger than the size of the display panel.
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