KR101656702B1 - 적분구 시스템 신뢰성 평가장치 및 적분구 시스템 신뢰성 평가방법 - Google Patents
적분구 시스템 신뢰성 평가장치 및 적분구 시스템 신뢰성 평가방법 Download PDFInfo
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Abstract
적분구 시스템 신뢰성 평가장치 및 적분구 시스템 신뢰성 평가방법에 대한 발명이 개시된다. 개시된 발명은: 광원에서 출사되는 광이 확산, 반사되는 적분구와, 적분구에서 확산, 반사된 광이 입사되는 광센서와, 광센서에서 출력된 전류값을 이용하여 광의 강도를 측정하는 광도계, 및 광센서에서 출력되는 전류를 광도계에 전달하는 케이블을 포함하여 구성되는 적분구 시스템의 신뢰성을 검증하는 적분구 시스템 신뢰성 평가장치에 있어서, 광원에 전원을 공급하는 전원공급부와; 광센서에서 출력되는 전류값을 측정하는 광센서측정부; 및 광원의 출력값이 조절되도록 전원공급부의 동작을 제어하고, 광원의 출력값과 광센서측정부에서 측정된 측정값과 광도계에서 출력된 측정값을 이용하여 적분구 시스템의 신뢰성을 검증하는 검증모듈을 포함한다.
Description
본 발명은 적분구 시스템 신뢰성 평가장치 및 적분구 시스템 신뢰성 평가방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 광원의 특성을 분석하기 위해 사용되는 적분구 시스템의 신뢰성을 평가하기 위한 적분구 시스템 신뢰성 평가장치 및 적분구 시스템 신뢰성 평가방법에 관한 것이다.
최근, LED(Light Emitting Diode)나 EL(Electro Luminescence) 등 새로운 광원의 개발이 급속하게 진행되고 있다.
이와 같은 광원을 평가하는 지표로서는, 광원의 전광속(全光束)이나 광색 등의 지표가 사용된다.
특히, 광원의 전광속은 그 광원의 출력뿐만 아니라 램프 효율을 구하는 데 있어 중요한 지표이다.
이와 같은 광원의 전광속을 측정하는 방법으로서, 중공의 구의 내벽에 황산바륨 등의 확산 재료를 도포한 적분구(Integrating sphere)가 일반적으로 사용된다.
적분구는, 내부에 광원을 설치하여 광원의 발광 특성을 적분구 내에서 측정하는 장치로서, 적분구의 중심에서 점등되는 광원으로부터 방사되는 광을 균일화하고, 그 균일화된 광의 조도에 기초하여 전광속을 산출할 수 있다.
즉 적분구의 내부에 설치된 광원으로부터 광이 방사상으로 출사되면, 출사된 광이 적분구에 도포된 확산 재료에 의해 다중 확산, 반사되며, 이처럼 확산, 반사된 광이 광 검출기에 입사되면, 그 출력 신호가 광 강도계에 유도되어 출사된 광의 전광속을 측정할 수 있다.
이와 같이 적분구를 이용한 적분구 시스템을 이용하여 산출된 광원의 전광속을 통해 광원의 출력, 램프 효율 등을 구할 수 있으나, 적분구 시스템에서 측정되는 값의 신뢰도가 떨어지는 경우에는 이를 통해 구해지는 다른 전체 측정값의 정확도가 낮아지므로, 적분구 시스템의 측정 신뢰도를 검증하기 위한 평가장치 및 평가방법의 개발이 요구된다.
본 발명의 배경기술은 대한민국 등록특허 제10-1287311호(2013년 07월 1일 등록, 발명의 명칭 : 발광 소자 검사 장치)에 개시되어 있다.
본 발명은 적분구 시스템의 측정 신뢰도를 효과적으로 검증할 수 있고, 신뢰성 높은 검증 결과를 제공할 수 있는 적분구 시스템 신뢰성 평가장치 및 적분구 시스템 신뢰성 평가방법를 제공하는 데 그 목적이 있다.
본 발명의 일 측면에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가장치는: 광원에서 출사되는 광이 확산, 반사되는 적분구와, 상기 적분구에서 확산, 반사된 광이 입사되는 광센서와, 상기 광센서에서 출력된 전류값을 이용하여 광의 강도를 측정하는 광도계, 및 상기 광센서에서 출력되는 전류를 상기 광도계에 전달하는 케이블을 포함하여 구성되는 적분구 시스템의 신뢰성을 검증하는 적분구 시스템 신뢰성 평가장치에 있어서, 상기 광원에 전원을 공급하는 전원공급부와; 상기 광센서에서 출력되는 전류값을 측정하는 광센서측정부; 및 상기 광원의 출력값이 조절되도록 상기 전원공급부의 동작을 제어하고, 상기 광원의 출력값과 상기 광센서측정부에서 측정된 측정값과 상기 광도계에서 출력된 측정값을 이용하여 상기 적분구 시스템의 신뢰성을 검증하는 검증모듈을 포함한다.
또한 상기 검증모듈은, 상기 광원의 출력값이 조절되도록 상기 전원공급부의 동작을 제어하는 제어부와; 상기 광센서측정부에서 측정된 전류값을 이용하여 상기 광센서에 입사된 광의 강도를 산출하는 산출부; 및 상기 산출부에서 산출된 산출값과 상기 광도계에서 출력된 측정값 간의 차이값을 산출하여 상기 광도계에서 출력된 측정값의 신뢰도를 검증하는 검증부를 포함하는 것이 바람직하다.
또한 본 발명은 상기 적분구 시스템 주변의 온도와 상기 광원의 온도와 상기 적분구의 온도와 상기 광센서의 온도를 측정하는 온도측정부를 더 포함하고; 상기 검증부는, 상기 온도측정부에서 측정된 온도에 관한 정보를 이용하여 상기 산출부에서 산출된 산출값과 상기 광도계에서 출력된 측정값을 보정하고, 보정된 산출값과 측정값을 이용하여 상기 광도계에서 출력된 측정값의 신뢰도를 검증하는 것이 바람직하다.
또한 상기 광원의 출력값과 상기 온도측정부에서 측정된 온도에 관한 정보와 상기 산출부에서 산출된 산출값과 상기 광도계에서 출력된 측정값을 시계열로 저장하는 저장부를 더 포함하는 것이 바람직하다.
또한 상기 광센서측정부는, 상기 케이블을 통해 상기 광센서와 연결되되, 상기 광도계와 병렬로 연결되는 것이 바람직하다.
또한 본 발명의 다른 측면에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가방법은: 광원에서 출사되는 광이 확산, 반사되는 적분구와, 상기 적분구에서 확산, 반사된 광이 입사되는 광센서와, 상기 광센서에서 출력된 전류값을 이용하여 광의 강도를 측정하는 광도계, 및 상기 광센서에서 출력되는 전류를 상기 광도계에 전달하는 케이블을 포함하여 구성되는 적분구 시스템의 신뢰성을 검증하는 적분구 시스템 신뢰성 평가방법에 있어서, 상기 광원의 출력을 조절하는 단계와; 상기 광센서에서 출력되는 전류값을 측정하는 단계와; 측정된 전류값을 이용하여 상기 광센서에 입사된 광의 강도를 산출하는 단계; 및 상기 광센서에 입사된 광의 강도를 산출한 산출값과 상기 광도계에서 출력된 측정값 간의 차이값을 산출하여 상기 광도계에서 출력된 측정값의 신뢰도를 검증하는 단계를 포함한다.
또한 본 발명은 상기 적분구 시스템 주변의 온도와 상기 광원의 온도와 상기 적분구의 온도와 상기 광센서의 온도를 측정하는 단계; 및 측정된 온도에 관한 정보를 이용하여 상기 광센서에 입사된 산출값과 상기 광도계에서 출력된 측정값을 보정하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
또한 상기 광원의 출력값과 상기 온도측정부에서 측정된 온도에 관한 정보와 상기 산출부에서 산출된 산출값과 상기 광도계에서 출력된 측정값을 시계열로 저장하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
본 발명의 적분구 시스템 신뢰성 평가장치 및 적분구 시스템 신뢰성 평가방법에 따르면, 적분구 시스템의 측정 신뢰도를 효과적으로 검증할 수 있는 자동 평가 시스템을 구축할 수 있고, 신뢰성 높은 검증 결과를 제공할 수 있을 뿐 아니라, 적분구 시스템 신뢰성 평가에 관한 전반적인 사항을 저장, 출력하여 측정자가 파악할 수 있도록 하는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가장치의 구성을 보여주는 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가장치의 제어 흐름을 보여주는 구성도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가 과정을 보여주는 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가장치의 제어 흐름을 보여주는 구성도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가 과정을 보여주는 흐름도이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가장치 및 적분구 시스템 신뢰성 평가방법의 일 실시예를 설명한다. 설명의 편의를 위해 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다. 또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가장치의 구성을 보여주는 구성도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가장치(100)는, 적분구 시스템의 신뢰성을 검증하도록 구비되는 것으로서, 적분구 시스템과 연결되게 설치된다.
적분구 시스템은, 적분구(11)와 광센서(13)와 광도계(15) 및 케이블(17)을 포함하는 형태로 구비될 수 있다.
적분구(11)는 내부가 비어있는 두 개의 반구가 결합된 구 형태로 구비되며, 그 내부에는 반사율이 높은 확산 재료, 예를 들면 황산 바륨 등과 같은 물질이 도포된다.
이러한 적분구(11)의 내부에는 엘이디 등과 같은 광원(11)이 설치되며, 이와 같이 적분구(11) 내부에 설치된 광원(1)으로부터 광이 방사상으로 출사되면, 출사된 광이 적분구에 도포된 확산 재료에 의해 다중 확산, 반사되어 적분구(11) 표면에 균일하게 분포될 수 있다.
이와 같이 적분구(11)에 의해 균일하게 분포된 광이 광센서(13)에 입사되면, 광센서(13)는 입사된 광의 전속도에 따라 해당 수치의 전류를 출력하고, 이와 같이 광센서(13)에서 출력된 전류는 케이블(17)을 통해 광도계(15)로 전달된다.
그리고 광도계(15)는 상기와 같이 광센서(13)로부터 전달된 전류를 기초로 광원(1)에서 출사된 광의 전속도, 강도, 휘도, 조도 등의 물리량을 측정할 수 있으며, 광도계(15)에서 측정된 물리량의 아날로그 신호는 정밀 아날로그-디지털 변환기(ADC; 19)를 통해 디지털 신호로 변환되어 광도계(15)에서 출력될 수 있다..
본 실시예의 적분구 시스템 신뢰성 평가장치(100)는, 이와 같이 마련된 적분구 시스템의 신뢰성에 연결되도록 설치되며, 전원공급부(110)와, 광센서측정부(120)와, 온도측정부(130) 및 검증모듈(140)을 포함하는 형태로 구비된다.
전원공급부(110)는, 광원(1)에 전원을 공급하도록 구비된다. 이러한 전원공급부(110)는, 후술할 제어부(141)에 의해 동작이 제어되어 광원(1)에 공급되는 전압을 조절함으로써 광원(1)의 출력이 조절되도록 할 수 있다.
광센서측정부(120)는, 광센서(13)에서 출력되는 전류의 수치, 즉 전류값을 측정하도록 구비된다.
광센서측정부(120)는 케이블(17)을 통해 광센서(13)와 연결되어 광센서(13)에서 출력되는 전류값을 측정하며, 본 실시예에서는 광센서측정부(120)가 케이블(17)을 통해 광센서(13)와 연결되되, 광도계(15)와 병렬로 연결되는 것으로 예시된다.
이러한 광센서측정부(120)는, 광센서측정부(120)에서 출력되는 전류값을 직접 측정함으로써, 광센서(13)에서 실제 출력되는 전류값이 어느 정도인지에 대한 정보를 취득할 수 있다.
온도측정부(130)는, 적분구 시스템과 그 주변의 온도, 즉 적분구(11)와 그 주변을 포함한 복수개의 채널의 온도를 측정하도록 구비된다.
본 실시예에서 온도측정부(130)는, 4개의 채널, 즉 적분구 시스템 주변의 온도와, 광원(1)의 온도와, 적분구(11)의 온도와, 광센서(13)의 온도를 측정하도록 구비되는 것으로 예시된다.
이러한 온도측정부(130)는, 적분구 시스템 주변, 광원(1), 적분구(11), 광센서(13)의 온도를 각각 측정함으로써, 광원(1)의 출력, 광센서(13)의 측정에 영향을 미칠 수 있는 온도에 관한 정보를 취득할 수 있다.
검증모듈(140)은, 광원(1)의 출력값이 조절되도록 전원공급부(110)의 동작을 제어하고, 광원(1)의 출력값과 광도계에서 출력된 측정값을 이용하여 적분구 시스템의 신뢰성을 검증한다. 이러한 검증모듈(140)은, 제어부(141)와 산출부(143) 및 검증부(145)를 포함한다.
제어부(141)는, 광원(1)의 출력값이 조절되도록 전원공급부(110)의 동작을 제어한다. 즉 제어부(141)는, 전원공급부(110)에서 광원(1)으로 공급되는 전원의 전원 공급 시간, 전압 등이 조절되도록 전원공급부(110)의 동작을 조절함으로써, 전원공급부(110)에서 공급되는 전압의 수치에 따라 광원(1)의 동작 시간, 출력이 조절될 수 있도록 한다.
이러한 제어부(141)의 동작 제어는 미리 입력된 운영 프로그램에 따라 이루어질 수 있으며, 측정자의 수동 명령 입력에 의해 이루어질 수도 있다.
이와 함께 제어부(141)는, 온도측정부(130)의 동작, 후술할 산출부(143), 검증부(145) 및 저장부(147)의 동작 제어도 함께 수행함으로써, 적분구 시스템 신뢰성 평가장치(100)의 적분구 시스템 신뢰성 평가 과정이 자동으로 이루어질 수 있도록 한다.
산출부(143)는, 광센서측정부(120)에서 측정된 전류값을 이용하여 광센서(13)에 입사된 광의 강도를 산출한다. 이러한 산출부(143)는, 광센서측정부(120)에서 측정된 전류값을 이용하여 광도계(15)에서 출력되는 측정값과 같은 차원의 산출값을 산출함으로써, 광센서측정부(120)에서 측정된 결과의 수치와 광도계(15)에서 출력되는 결과의 수치 간의 비교 및 차이값 산출이 가능해지도록 한다.
검증부(145)는, 산출부(143)에서 산출된 산출값과 광도계(15)에서 출력된 측정값 간의 차이값을 산출하여 광도계(15)에서 출력된 측정값의 신뢰도를 검증한다.
즉 검증부(145)는, 산출부(143)에서 산출된 산출값과 광도계(15)에서 출력된 측정값을 비교하여 이 두 값 간의 차이값이 어느 정도인지를 파악하고, 이를 통해 광도계(15)에서 출력된 측정값의 신뢰도가 어느 정도인지를 검증하게 된다.
한편 검증부(145)는, 온도측정부(130)에서 측정된 온도에 관한 정보를 이용하여 산출부(143)에서 산출된 산출값과 광도계(15)에서 출력된 측정값을 보정하고, 이와 같이 보정된 측정값을 이용하여 광도계(15)에서 출력된 측정값의 신뢰도를 검증할 수 있다.
즉 검증부(145)는, 온도측정부(130)를 통해 수집된 온도에 관한 정보, 즉 적분구 시스템 주변, 광원(1), 적분구(11), 광센서(13)의 온도에 관한 정보를 통해 광원(1), 적분구(11), 광센서(13)가 어느 온도로 얼마나 발열되었는지를 파악하고, 파악된 발열 정도로 인해 광원(1)의 출력, 광센서(13)의 측정 특성에 어느 정도의 영향이 가해졌는지를 산출한다.
그리고 검증부(145)는, 이와 같이 산출된 보정치를 산출부(143)에서 산출된 산출값과 광도계(15)에서 출력된 측정값을 각각 보정하고, 이처럼 보정된 측정값을 이용하여 광도계(15)에서 출력된 출력된 측정값의 신뢰도를 검증할 수 있다.
또한 검증부(145)는, 광원(1)에 공급된 전원의 공급 시간, 전압 대비 광원(1)의 출력값이 어느 정도인지를 파악할 수 있으며, 이를 기저장된 정보, 즉 광원(1)에 공급된 전원의 공급 시간, 전압에 대비하여 출력되어야 할 이론적인 출력값과 비교하여 광원(1)의 동작 신뢰성을 파악할 수 있다.
또한 검증부(145)는, 광센서측정부(120)에서 측정된 전류값을 기저장된 정보, 즉 광원(1)의 출력값 대비 광센서(13)에서 출력되어야 할 이론적인 전류값과 비교하여 광센서(13)의 동작 신뢰성을 파악할 수도 있다.
아울러 본 실시예의 검증모듈(140)은, 저장부(147)를 더 포함할 수 있다. 저장부(147)는 광원(1)의 출력값과, 온도측정부(130)에서 측정된 온도에 관한 정보와, 산출부(143)에서 산출된 산출값과 광도계(15)에서 출력된 측정값을 시계열로 정렬할 수 있으며, 이와 같이 정렬된 값들은 CSV(Comma separated value) 파일 형태로 저장되어 적분구 시스템 신뢰성 평과에 관한 전반적인 사항을 측정자가 파악할 수 있도록 제공될 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가장치의 제어 흐름을 보여주는 구성도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가 과정을 보여주는 흐름도이다.
이하, 도 2 및 도 3을 참조하여 본 실시예에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가방법에 대하여 설명한다.
본 실시예에 따른 적분구 시스템 신뢰성 평가장치(100)를 이용하여 적분구 시스템 신뢰성을 평가하기 위해서는, 먼저 광원(1)의 출력을 조절한다(S10).
광원(1)의 출력은 광원(1)에 전원을 공급하는 전원공급부(110)의 동작을 조절함으로써 이루어질 수 있으며, 전원공급부(110)의 동작 조절은 제어부(141)의 동작 제어에 의해 이루어질 수 있다.
제어부(141)의 동작 제어는, 전원공급부(110)에서 광원(1)으로 공급되는 전원의 전원 공급 시간, 전압 등이 조절되도록 전원공급부(110)의 동작을 조절함으로써, 전원공급부(110)에서 공급되는 전압의 수치에 따라 광원(1)의 동작 시간, 출력이 조절되도록 이루어질 수 있다.
광원(1)의 출력 조절에 의해 광원(1)으로부터 광이 출사되어 적분구 시스템에서의 광의 측정이 이루어지면, 광센서(13)에서 출력되는 전류값을 측정한다(S20).
광센서(13)에서 출력되는 전류값의 측정은, 광센서측정부(120)에서 이루어지며, 광센서측정부(120)는 케이블(17)을 통해 광센서(13)와 연결되어 광센서(13)에서 출력되는 전류값을 직접 측정하여 광센서(13)에서 실제 출력되는 전류값이 어느 정도인지에 대한 정보를 취득할 수 있다.
광센서측정부(120)에서 측정된 전류값에 대한 정보는 산출부(143)로 전달되며, 산출부(143)는 광센서측정부(120)에서 측정된 전류값을 이용하여 광센서(13)에 입사된 광의 강도를 산출한다(S30).
산출부(143)는, 광센서측정부(120)에서 측정된 전류값을 이용하여 광도계(15)에서 출력되는 측정값과 같은 차원의 산출값을 산출함으로써, 광센서측정부(120)에서 측정된 결과의 수치와 광도계(15)에서 출력되는 결과의 수치 간의 비교 및 차이값 산출이 가능해지도록 한다.
이와 함께, 광센서측정부(120)에서의 측정과 광도계(15)에서의 측정이 이루어지는 과정 동안 적분구 시스템 주변의 온도와, 광원(1)의 온도와, 적분구(11)의 온도와, 광센서(13)의 온도를 측정한다(S40).
그리고 검증부(145)는 상기와 같이 취득된 온도에 관한 정보를 이용하여 산출부(143)에서 산출된 산출값과 광도계(15)에서 출력된 측정값을 보정하고(S50), 이와 같이 보정된 측정값을 이용하여 광도계(15)에서 출력된 출력된 측정값의 신뢰도를 검증할 수 있다.
즉 검증부(145)는, 온도측정부(130)를 통해 수집된 온도에 관한 정보, 즉 적분구 시스템 주변, 광원(1), 적분구(11), 광센서(13)의 온도에 관한 정보를 통해 광원(1), 적분구(11), 광센서(13)가 어느 온도로 얼마나 발열되었는지를 파악하고, 파악된 발열 정도로 인해 광원(1)의 출력, 광센서(13)의 측정 특성에 어느 정도의 영향이 가해졌는지를 산출한다.
그리고 검증부(145)는, 이와 같이 산출된 보정치를 산출부(143)에서 산출된 산출값과 광도계(15)에서 출력된 측정값을 각각 보정하고, 이처럼 보정된 측정값을 이용하여 광도계(15)에서 출력된 출력된 측정값의 신뢰도를 검증할 수 있다.
상기와 같이 산출부(143)에서 산출된 산출값과 광도계(15)에서 출력된 측정값을 보정한 검증부(145)는, 보정된 산출값과 측정값을 이용하여, 광센서(13)에 입사된 광의 강도를 산출한 산출값과 광도계(15)에서 출력된 측정값 간의 차이값을 산출하여 광도계(15)에서 출력된 출력값의 신뢰도를 검증한다(S60).
즉 검증부(145)는, 산출부(143)에서 산출된 산출값과 광도계(15)에서 출력된 측정값을 비교하여 이 두 값 간의 차이값이 어느 정도인지를 파악하고, 이를 통해 광도계(15)에서 출력된 측정값의 신뢰도가 어느 정도인지를 검증하게 된다.
예를 들어 검증부(145)에 의해 파악된 두 값 간의 차이값이 산출부(143)에서 산출된 산출값의 10% 정도로 산출된 경우, 검증부(145)는 광도계(15)에서 출력된 측정값의 신뢰도가 90% 정도인 것으로 표시할 수 있다.
또한 검증부(145)는, 광원(1)에 공급된 전원의 공급 시간, 전압 대비 광원(1)의 출력값이 어느 정도인지를 파악할 수 있으며, 이를 기저장된 정보, 즉 광원(1)에 공급된 전원의 공급 시간, 전압에 대비하여 출력되어야 할 이론적인 출력값과 비교하여 광원(1)의 동작 신뢰성을 파악할 수 있다.
또한 검증부(145)는, 광센서측정부(120)에서 측정된 전류값을 기저장된 정보, 즉 광원(1)의 출력값 대비 광센서(13)에서 출력되어야 할 이론적인 전류값과 비교하여 광센서(13)의 동작 신뢰성을 파악할 수도 있다.
상기와 같은 과정에서 취득되는 정보들, 즉 광원(1)의 출력값, 온도측정부(130)에서 측정된 온도에 관한 정보, 산출부(143)에서 산출된 산출값, 광도계(15)에서 출력된 측정값이 저장부(147)에 시계열로 저장되며, 그 외에 광원(1), 광센서(13), 광도계(15)의 동작 신뢰성에 관한 정보가 저장될 수 있다.
이와 같이 저장된 정보는, 적분구 시스템 신뢰성 평과에 관한 전반적인 사항을 측정자가 파악할 수 있도록 제공될 수 있다.
상기한 바와 같은 본 실시예의 적분구 시스템 신뢰성 평가장치 및 적분구 시스템 신뢰성 평가방법에 따르면, 적분구 시스템의 측정 신뢰도를 효과적으로 검증할 수 있는 자동 평가 시스템을 구축할 수 있고, 신뢰성 높은 검증 결과를 제공할 수 있을 뿐 아니라, 적분구 시스템 신뢰성 평가에 관한 전반적인 사항을 저장, 출력하여 측정자가 파악할 수 있도록 하는 효과가 있다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.
1 : 광원 11 : 적분구
13 : 광센서 15 : 광도계
17 : 케이블 19 : ADC
100 : 적분구 시스템 신뢰성 평가장치 110 : 전원공급부
120 : 광센서측정부 130 : 온도측정부
140 : 검증모듈 141 : 제어부
143 : 산출부 145 : 검증부
147 : 저장부
13 : 광센서 15 : 광도계
17 : 케이블 19 : ADC
100 : 적분구 시스템 신뢰성 평가장치 110 : 전원공급부
120 : 광센서측정부 130 : 온도측정부
140 : 검증모듈 141 : 제어부
143 : 산출부 145 : 검증부
147 : 저장부
Claims (8)
- 삭제
- 광원에서 출사되는 광이 확산, 반사되는 적분구와, 상기 적분구에서 확산, 반사된 광이 입사되는 광센서와, 상기 광센서에서 출력된 전류값을 이용하여 광의 강도를 측정하는 광도계, 및 상기 광센서에서 출력되는 전류를 상기 광도계에 전달하는 케이블을 포함하여 구성되는 적분구 시스템의 신뢰성을 검증하는 적분구 시스템 신뢰성 평가장치에 있어서,
상기 광원에 전원을 공급하는 전원공급부;
상기 광센서에서 출력되는 전류값을 측정하는 광센서측정부; 및
상기 광원의 출력값이 조절되도록 상기 전원공급부의 동작을 제어하고, 상기 광원의 출력값과 상기 광센서측정부에서 측정된 측정값과 상기 광도계에서 출력된 측정값을 이용하여 상기 적분구 시스템의 신뢰성을 검증하는 검증모듈;을 포함하고,
상기 검증모듈은,
상기 광원의 출력값이 조절되도록 상기 전원공급부의 동작을 제어하는 제어부;
상기 광센서측정부에서 측정된 전류값을 이용하여 상기 광센서에 입사된 광의 강도를 산출하는 산출부; 및
상기 산출부에서 산출된 산출값과 상기 광도계에서 출력된 측정값 간의 차이값을 산출하여 상기 광도계에서 출력된 측정값의 신뢰도를 검증하는 검증부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 적분구 시스템 신뢰성 평가장치.
- 제2항에 있어서,
상기 적분구 시스템 주변의 온도와 상기 광원의 온도와 상기 적분구의 온도와 상기 광센서의 온도를 측정하는 온도측정부를 더 포함하고;
상기 검증부는, 상기 온도측정부에서 측정된 온도에 관한 정보를 이용하여 상기 산출부에서 산출된 산출값과 상기 광도계에서 출력된 측정값을 보정하고, 보정된 산출값과 측정값을 이용하여 상기 광도계에서 출력된 측정값의 신뢰도를 검증하는 것을 특징으로 하는 적분구 시스템 신뢰성 평가장치.
- 제3항에 있어서,
상기 광원의 출력값과 상기 온도측정부에서 측정된 온도에 관한 정보와 상기 산출부에서 산출된 산출값과 상기 광도계에서 출력된 측정값을 시계열로 저장하는 저장부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 적분구 시스템 신뢰성 평가장치.
- 제2항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 광센서측정부는, 상기 케이블을 통해 상기 광센서와 연결되되, 상기 광도계와 병렬로 연결되는 것을 특징으로 하는 적분구 시스템 신뢰성 평가장치.
- 삭제
- 광원에서 출사되는 광이 확산, 반사되는 적분구와, 상기 적분구에서 확산, 반사된 광이 입사되는 광센서와, 상기 광센서에서 출력된 전류값을 이용하여 광의 강도를 측정하는 광도계, 및 상기 광센서에서 출력되는 전류를 상기 광도계에 전달하는 케이블을 포함하여 구성되는 적분구 시스템의 신뢰성을 검증하는 적분구 시스템 신뢰성 평가방법에 있어서,
상기 광원의 출력을 조절하는 단계;
상기 광센서에서 출력되는 전류값을 측정하는 단계;
측정된 전류값을 이용하여 상기 광센서에 입사된 광의 강도를 산출하는 단계;
상기 적분구 시스템 주변의 온도와 상기 광원의 온도와 상기 적분구의 온도 및 상기 광센서의 온도를 측정하는 단계;
측정된 온도에 관한 정보를 이용하여 상기 광센서에 입사된 산출값과 상기 광도계에서 출력된 측정값을 보정하는 단계; 및
상기 광센서에 입사된 광의 강도를 산출한 산출값과 상기 광도계에서 출력된 측정값 간의 차이값을 산출하여 상기 광도계에서 출력된 측정값의 신뢰도를 검증하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 적분구 시스템 신뢰성 평가방법.
- 제7항에 있어서,
상기 광원의 출력값과, 상기 적분구 시스템 주변의 온도와 상기 광원의 온도와 상기 적분구의 온도와 상기 광센서의 온도에 관한 정보와, 상기 광센서에서 출력되는 전류값을 측정하는 광센서측정부에서 측정된 전류값을 이용하여 상기 광센서에 입사된 광의 강도를 산출한 산출값, 및 상기 광도계에서 출력된 측정값을 시계열로 저장하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 적분구 시스템 신뢰성 평가방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020150071083A KR101656702B1 (ko) | 2015-05-21 | 2015-05-21 | 적분구 시스템 신뢰성 평가장치 및 적분구 시스템 신뢰성 평가방법 |
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KR101656702B1 true KR101656702B1 (ko) | 2016-09-13 |
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KR (1) | KR101656702B1 (ko) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19990045696A (ko) * | 1997-11-28 | 1999-06-25 | 모리시타 요이찌 | 광센서장치 및 그에 이용되는 신호처리회로 |
KR100497813B1 (ko) * | 2002-04-06 | 2005-07-01 | (주)아텔스 | 온도 보상형 led신호등의 광출력 유지제어기 |
KR101182822B1 (ko) * | 2011-03-29 | 2012-09-13 | 삼성전자주식회사 | 발광소자 검사장치 및 방법 |
KR101192263B1 (ko) * | 2010-12-03 | 2012-10-17 | (주) 넥스트칩 | 조도 검출 장치, 및 이의 오차 검출 및 오차 보정 방법 |
-
2015
- 2015-05-21 KR KR1020150071083A patent/KR101656702B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR19990045696A (ko) * | 1997-11-28 | 1999-06-25 | 모리시타 요이찌 | 광센서장치 및 그에 이용되는 신호처리회로 |
KR100497813B1 (ko) * | 2002-04-06 | 2005-07-01 | (주)아텔스 | 온도 보상형 led신호등의 광출력 유지제어기 |
KR101192263B1 (ko) * | 2010-12-03 | 2012-10-17 | (주) 넥스트칩 | 조도 검출 장치, 및 이의 오차 검출 및 오차 보정 방법 |
KR101182822B1 (ko) * | 2011-03-29 | 2012-09-13 | 삼성전자주식회사 | 발광소자 검사장치 및 방법 |
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