KR101627337B1 - 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지 - Google Patents

상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지 Download PDF

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Abstract

본 발명은 촬상장치의 구조를 변경하지 않고, 시료가 주입되는 시료 챔버의 형태를 개선하여 촬상장치의 렌즈로 인한 상면만곡을 보정함으로써 가운데 뿐만 아니라 모서리 부분이나 가장자리 부분에서도 정확한 영상을 획득할 수 있는 시료 챔버 카트리지에 관한 것으로, 본 발명에 따른 시료 챔버 카트리지는, 액상의 시료를 수용하는 시료 챔버가 내부에 형성되어 있는 본체와; 상기 본체의 상부면에 설치되어 시료 챔버의 상부면을 구성하며, 시료의 광학 영상 획득을 위해 투명한 재질로 된 윈도우를 포함하며; 상기 시료 챔버의 하부면은 하측으로 오목한 곡면으로 된 것을 특징으로 한다.

Description

상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지{Sample Chamber Cartridge for Reducing Field Curvature}
본 발명은 혈액 등의 액상 시료를 분석하기 위한 시료 챔버 카트리지에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 혈액이나 오수 등의 바이오 또는 환경 관련 액상 시료를 주입하고 이를 촬영하여 액상 시료 내의 입자 농도를 측정함에 있어서 촬상장치의 렌즈로 인한 상면만곡을 보정하여 전체적으로 정확한 영상을 획득할 수 있는 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지에 관한 것이다.
바이오/환경 분야에서 건강진단과 환경오염 조사 과정은 시료 채취-시료 전처리-시약 반응-검출 및 분석으로 이어지는 것이 보편적이며, 기본적인 검사법은 시료에 포함된 입자상 물질의 농도를 측정하는 작업이다. 기존에는 시료가 포함된 액상유동 또는 공기흐름을 레이저로 조사하여 검출되는 광신호를 분석하는 장비가 주로 개발되었으나, 최근에는 기기의 소형화, 휴대성, 편의성, 경제성 등을 고려하게 되면서 고가의 레이저 광원 및 광검출 센서를 저가의 LED 광원 및 CMOS 카메라가 대체하여 현장진단기기(point-of-care device) 개발에 사용되고 있다.
카메라로 얻은 입자상 시료의 영상을 분석하여 입자 농도를 측정하기 위해서는 일정한 부피의 시료를 담을 수 있는 시료 챔버가 필요하며, 입자 농도 = (시료에 포함된 입자의 총 개수)/(시료 부피)로 계산될 수 있다.
그런데 카메라로 시료를 촬영하여 입자 농도를 계측할 때, 도 1 및 도 2에 도시된 것과 같이 카메라의 양볼록렌즈(L)에 의한 상면만곡(field curvature) 수차를 포함한 다양한 수차로 인해 시료 챔버의 가운데 부분에 초점을 맞추게 되면 상의 가장자리 부분이 왜곡되는 현상이 발생하게 되고, 이로 인해 정확한 입자 농도의 계측이 이루어지지 않게 된다.
이에 종래에는 촬상장치의 볼록렌즈의 전면에 굴절률이 다른 또 다른 렌즈를 설치하는 방식(공개특허 제2007-0087214호 참조) 또는 이미지센서의 면을 곡면으로 형성하여 수차를 보정하고 있으나, 이 경우 촬상장치의 구성이 복잡해지고, 촬상장치의 구조 변경이 불가피하여 경제성 측면에서도 불리한 문제가 있다.
대한민국 등록특허 제10-0844350호(등록일자 2008년07월01일) 대한민국 공개특허 제2007-0087214호(공개일자 2007년08월27일)
본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 촬상장치의 구조를 변경하지 않고, 시료가 주입되는 시료 챔버의 형태를 개선하여 촬상장치의 렌즈로 인한 상면만곡을 보정함으로써 가운데 뿐만 아니라 모서리 부분이나 가장자리 부분에서도 정확한 영상을 획득할 수 있는 시료 챔버 카트리지를 제공함에 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 시료 챔버 카트리지는, 액상의 시료를 수용하는 시료 챔버가 내부에 형성되어 있는 본체와; 상기 본체의 상부면에 설치되어 시료 챔버의 상부면을 구성하며, 시료의 광학 영상 획득을 위해 투명한 재질로 된 윈도우를 포함하며; 상기 시료 챔버의 하부면은 하측으로 오목한 곡면으로 된 것을 특징으로 한다.
본 발명의 한 형태에 따르면, 상기 시료 챔버의 하부면의 곡률반경(r0)은 아래의 식
Figure 112014076672669-pat00001
을 만족하되, 여기서 n0는 각각 촬상장치의 양볼록렌즈와 시료 챔버 사이의 매질의 굴절률이고, n1은 양볼록렌즈의 굴절률이며, n2는 촬상장치의 양볼록렌즈와 촬상장치의 이미지센서 사이의 매질의 굴절률이고, K1 및 K2는 각각 촬상장치의 양볼록렌즈의 배율로서
Figure 112014076672669-pat00002
,
Figure 112014076672669-pat00003
이며, 여기서 R1 및 R2는 각각 촬상장치의 양볼록렌즈의 양면의 곡률반경인 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 다른 한 형태에 따르면, 상기 시료 챔버의 하부면은 유연한 재질의 박판으로 이루어지며, 상기 본체에는 시료 챔버의 하부면에 압력을 가하여 곡률을 가변시키는 가변수단이 설치될 수 있다.
상기 가변수단은 상기 시료 챔버의 하부면과 본체의 하부면 사이에 형성된 공간으로 유체를 공급하거나 배출하는 유압제어기를 포함한 구성으로 이루어질 수 있다.
또는 상기 가변수단은 상기 시료 챔버의 하부면의 가장자리 부분에 형성된 복수개의 접촉부와, 상기 본체의 하부면을 관통하여 상단부가 상기 접촉부에 밀착되어 본체의 하부면에 대해 상하로 이동하면서 시료 챔버의 하부면의 가장자리 부분의 높이를 조절하는 복수개의 조절나사를 포함하여 구성될 수도 있다.
본 발명의 시료 챔버 카트리지는 시료가 주입되는 시료 챔버가 촬상장치의 양볼록렌즈의 곡률과 대응하는 곡률의 곡면으로 이루어지므로, 촬상장치가 시료 챔버 내의 시료를 촬영할 때 양볼록렌즈의 상면만곡에 의해 영상의 가장자리 부분에서 왜곡이 발생하는 현상이 억제되고, 전체적으로 정확한 영상을 획득할 수 있다. 따라서 시료의 입자 농도 측정이 정확하게 이루어질 수 있게 된다.
도 1은 종래의 시료 챔버 카트리지에 의한 광학 작용(상면만곡 현상)을 설명하는 도면이다.
도 2는 상면만곡에 의해 가장자리 부분이 왜곡된 영상의 일례를 보여주는 광학 사진이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지의 구조를 나타낸 단면도이다.
도 4는 도 1의 대응도로서, 본 발명에 따른 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지의 광학 작용을 설명하는 도면이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지의 구조를 나타낸 단면도이다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지의 구조를 나타낸 단면도이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 시료 챔버 카트리지는 액상의 시료를 수용하는 시료 챔버(20)가 내부에 형성되어 있는 본체(10)와, 상기 본체(10)의 상부면에 설치되어 시료 챔버(20)의 상부면을 구성하며 시료의 광학 영상 획득을 위해 투명한 재질로 된 윈도우(22)를 포함한다.
상기 시료 챔버(20)는 위에서 보았을 때 사각형 또는 원형으로 이루어질 수 있다. 상기 시료 챔버(20)의 하부면은 촬상장치(카메라)의 양볼록렌즈에 의한 상면만곡을 교정할수 있도록 하측으로 오목한 곡면으로 이루어진다.
또한 상기 윈도우(22)는 촬상장치에 의한 촬영이 가능하도록 투명한 유리 또는 합성수지 재질로 만들어져 시료 챔버(20)의 상부면을 구성하며, 상기 시료 챔버(20)와 마찬가지로 하측으로 오목한 곡면으로 형성된다. 상기 윈도우(22)의 곡률반경은 상기 시료 챔버(20)의 하부면(21)의 곡률반경과 동일한 것이 바람직하다.
상기와 같이 시료 챔버(20)의 하부면(21)과 윈도우(22)가 곡면으로 형성되므로 시료 챔버(20)는 소정의 곡률을 갖는 곡면으로 형성된다.
도 1에 도시한 것과 같이, 물체의 평면(기존의 시료 챔버)으로부터 출발하여 촬상장치의 양볼록렌즈(L)를 통과한 광선의 초점은 곡면 상에 위치하게 되며, 이 곡면을 페츠발 면(Petzval Surface)이라고 하고, 아래의 수학식 1로 표현된다.
Figure 112014076672669-pat00004
여기서, r0는 시료 챔버의 곡률반경이고, r2는 광선의 초점에 의해 형성된 면, 즉 페츠발 면의 곡률반경을 나타낸다. 그리고, n0는 각각 촬상장치의 양볼록렌즈(L)와 시료 챔버(20) 사이의 매질의 굴절률이고, n1은 양볼록렌즈의 굴절률이며, n2는 촬상장치의 양볼록렌즈(L)와 촬상장치의 이미지센서 사이의 매질(통상적으로 공기)의 굴절률이다. n0 및 n2는 통상적으로 공기의 굴절률로서 1.0이다.
그리고 K1 및 K2는 각각 촬상장치의 양볼록렌즈(L)의 배율로서
Figure 112014076672669-pat00005
,
Figure 112014076672669-pat00006
이며, 여기서 R1 및 R2는 각각 촬상장치의 양볼록렌즈(L)의 양면의 곡률반경이다.
기존의 시료 챔버(20)는 평면으로 되어 있기 때문에 1/r0=0 이므로 이 때 곡면으로 된 페츠발 면(Petzval Surface) r2가 얻어진다.
본 발명에 따른 시료 챔버 카트리지의 시료 챔버(20)의 하부면(21)은 촬상장치의 이미지센서에 결상되는 면을 곡면이 아닌 평면으로 만듦으로서 영상의 가장자리 부분에서도 왜곡이 발생하지 않도록 하는 곡률반경을 갖는 것이 바람직하다(도 4 참조).
따라서, 상기 수학식 1에서 페츠발 면이 평면이 되는 조건, 즉 1/r2=0 일 때 계산되는 대상 물체의 곡률반경(r0)이 시료 챔버(20)의 곡률반경이 되며, 아래의 수학식 2로 표현된다.
Figure 112014076672669-pat00007
여기서, 상기 촬상장치의 양볼록렌즈(L)와 시료 챔버(20) 사이의 매질과, 촬상장치의 양볼록렌즈(L)와 촬상장치의 이미지센서 사이의 매질은 통상적으로 공기로서 n0 및 n2의 값은 1.0이며, 따라서 시료 챔버(20)의 곡률반경(r0)에 대한 식은 아래와 같이 표현될 수 있다.
Figure 112014076672669-pat00008
상기 시료 챔버(20)의 하부면(21)은 본체(10)에 일체로 형성되거나 고정되게 형성될 수도 있지만, 촬상장치에 종류나 사양에 따라 하부면(21)의 곡률반경을 변경할 수 있게 구성할 수도 있을 것이다.
예를 들어, 도 5에 도시한 것과 같이 시료 챔버(20) 하부면(21)을 유연한 폴리머 재질의 박판으로 구성하고, 하부면(21)의 하측에 공간(15)을 형성하여, 유압제어기(미도시)를 통해 상기 공간(15)으로 공기 또는 오일이나 물 등의 유체를 공급하거나 배출하여 상기 공간(15) 내측의 압력을 소정의 압력으로 제어함으로써 하부면(21)의 곡률반경을 조정할 수도 있을 것이다. 이 때, 상기 시료 챔버(20) 하부면(21)이 유체 압력에 의해 곡률반경이 가변이 용이하도록 하기 위하여 상기 본체(10) 내측에는 상기 시료 챔버(20)의 하부면(21)의 양단부가 슬라이딩 가능하게 삽입되는 슬롯(14)이 형성됨이 바람직하다.
상기 유압제어기는 본체(10)의 일측면 하부에 상기 공간(15)과 연통되게 형성된 유입포트(11)를 통해 유체를 공급하고, 본체(10)의 일측면 하부에 상기 공간(15)과 연통되게 형성된 배출포트(12)를 통해 유체를 배출하여 공간(15) 내부에서의 유체 압력을 조정한다. 상기 공간(15) 내측으로 유입된 유체는 시료 챔버(20)의 하부면(21)에 소정의 압력을 가하게 되고, 이에 따라 하부면(21)의 곡률반경이 가변된다.
상기 유압제어기에 의해 시료 챔버(20) 하부면(21)과 본체(10) 하부면 사이의 공간(15) 내측으로 공급된 유체가 시료 챔버(20) 하부면(21)의 중앙부보다 가장자리 부분을 변형시킬 수 있도록 하기 위하여 시료 챔버(20)의 하부면(21) 중앙부에 보강리브(23)가 십자(+) 또는 방사상으로 형성될 수 있다.
또는 도 6에 도시한 것과 같이 상기 시료 챔버(20)의 하부면(21)의 가장자리 부분에 복수개의 접촉부(25)를 돌출되게 형성하고, 상기 본체(10)에 본체(10)의 하부면을 관통하여 상기 접촉부(25)에 밀착되는 복수개의 조절나사(30)를 설치하여, 상기 조절나사(30)를 돌려서 시료 챔버(20)의 하부면(21) 가장자리 부분의 높이를 조절함으로써 하부면(21)의 곡률반경을 조정할 수도 있을 것이다.
이와 같이 본 발명의 시료 챔버 카트리지는 시료가 주입되는 시료 챔버(20)가 촬상장치의 양볼록렌즈(L)의 곡률과 대응하는 곡률의 곡면으로 이루어지므로, 촬상장치가 시료 챔버(20) 내의 시료를 촬영할 때 양볼록렌즈(L)의 상면만곡에 의해 영상의 가장자리 부분에서 왜곡이 발생하는 현상이 억제되고, 전체적으로 정확한 영상을 획득할 수 있다. 따라서 시료의 입자 농도 측정이 정확하게 이루어질 수 있게 된다.
이상에서 본 발명은 실시예를 참조하여 상세히 설명되었으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기에서 설명된 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 부가 및 변형이 가능할 것임은 당연하며, 이와 같은 변형된 실시 형태들 역시 아래에 첨부한 특허청구범위에 의하여 정하여지는 본 발명의 보호 범위에 속하는 것으로 이해되어야 할 것이다.
10 : 본체 11 : 유입포트
12 : 배출포트 15 : 공간
20 : 시료 챔버 21 : 하부면
22 : 윈도우 L : 양볼록렌즈

Claims (8)

  1. 하단부에 양볼록렌즈(L)가 구비되고 상기 양볼록렌즈(L)의 상측에 이미지센서가 구비된 촬상장치의 하측에 거리를 두고 배치되며, 상기 촬상장치에 의해 촬상될 액상의 시료를 수용하는 시료 챔버 카트리지에 있어서,
    액상의 시료를 수용하는 시료 챔버(20)가 내부에 형성되어 있는 본체(10)와;
    상기 본체(10)의 상부면에 설치되어 시료 챔버(20)의 상부면을 구성하며, 시료의 광학 영상 획득을 위해 투명한 재질로 된 윈도우(22)를 포함하며;
    상기 시료 챔버(20)의 하부면(21)은 하측으로 오목한 곡면으로 이루어지며;
    상기 시료 챔버(20)의 하부면(21)의 곡률반경(r0)은 아래의 식
    Figure 112016006619227-pat00009

    을 만족하되, 여기서 n0는 촬상장치의 양볼록렌즈(L)와 시료 챔버(20) 사이의 매질의 굴절률이고, n1은 촬상장치의 양볼록렌즈(L)의 굴절률이며, n2는 촬상장치의 양볼록렌즈(L)와 촬상장치의 이미지센서 사이의 매질의 굴절률이고, K1 및 K2는 각각 촬상장치의 양볼록렌즈(L)의 배율로서
    Figure 112016006619227-pat00010
    ,
    Figure 112016006619227-pat00011
    이며, 여기서 R1 및 R2는 각각 촬상장치의 양볼록렌즈(L)의 양면의 곡률반경인 것을 특징으로 하는 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서, 상기 윈도우(22)도 하측으로 오목한 곡면으로 된 것을 특징으로 하는 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지.
  4. 제3항에 있어서, 상기 윈도우(22)는 시료 챔버(20)의 하부면과 동일한 곡률반경을 갖는 것을 특징으로 하는 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지.
  5. 제1항에 있어서, 상기 시료 챔버(20)의 하부면(21)은 유연한 재질의 박판으로 이루어지며, 상기 본체(10)에는 시료 챔버(20)의 하부면(21)에 압력을 가하여 곡률을 가변시키는 가변수단이 설치된 것을 특징으로 하는 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지.
  6. 제5항에 있어서, 상기 가변수단은 상기 시료 챔버(20)의 하부면(21)과 본체(10)의 하부면 사이에 형성된 공간(15)으로 유체를 공급하거나 배출하는 유압제어기를 포함하는 것을 특징으로 하는 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지.
  7. 제6항에 있어서, 상기 시료 챔버(20)의 하부면(21) 중앙부에 보강리브(23)가 십자(+) 또는 방사상으로 형성된 것을 특징으로 하는 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지.
  8. 제5항에 있어서, 상기 가변수단은 상기 시료 챔버(20)의 하부면(21)의 가장자리 부분에 형성된 복수개의 접촉부(25)와, 상기 본체(10)의 하부면을 관통하여 상단부가 상기 접촉부(25)에 밀착되어 본체(10)의 하부면에 대해 상하로 이동하면서 시료 챔버(20)의 하부면(21)의 가장자리 부분의 높이를 조절하는 복수개의 조절나사(30)를 포함하는 것을 특징으로 하는 상면만곡 보정형 시료 챔버 카트리지.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10274742B2 (en) 2017-03-29 2019-04-30 Samsung Display Co., Ltd. Display device

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100234236B1 (ko) * 1993-03-31 1999-12-15 윤종용 가변 배율을 갖는 광학장치
JP3151516B2 (ja) * 1996-09-30 2001-04-03 テクトロニクス・インコーポレイテッド プラズマ・アドレス液晶パネルの電極形成方法及びチャンネル部材
JP3160234U (ja) 2010-04-06 2010-06-17 株式会社島津製作所 試料セル及びそれを用いた粒度分布測定装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03151516A (ja) * 1989-11-07 1991-06-27 Mazda Motor Corp 多気筒エンジンの排気装置
JP3646494B2 (ja) * 1997-11-14 2005-05-11 凸版印刷株式会社 液体の光学特性測定用セルおよびその作製方法
JP2008525929A (ja) 2004-12-27 2008-07-17 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 収差補正装置
KR100844350B1 (ko) 2007-01-09 2008-07-07 주식회사 디지탈바이오테크놀러지 부유 혼합 미세입자 중 특정 미세입자를 광학적인 방법으로계수하기 위한 미세채널 칩 및 이를 이용한 미세입자 계수방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100234236B1 (ko) * 1993-03-31 1999-12-15 윤종용 가변 배율을 갖는 광학장치
JP3151516B2 (ja) * 1996-09-30 2001-04-03 テクトロニクス・インコーポレイテッド プラズマ・アドレス液晶パネルの電極形成方法及びチャンネル部材
JP3160234U (ja) 2010-04-06 2010-06-17 株式会社島津製作所 試料セル及びそれを用いた粒度分布測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10274742B2 (en) 2017-03-29 2019-04-30 Samsung Display Co., Ltd. Display device

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