KR101559562B1 - Testing method and testing system of device under test for weapon - Google Patents

Testing method and testing system of device under test for weapon Download PDF

Info

Publication number
KR101559562B1
KR101559562B1 KR1020130160765A KR20130160765A KR101559562B1 KR 101559562 B1 KR101559562 B1 KR 101559562B1 KR 1020130160765 A KR1020130160765 A KR 1020130160765A KR 20130160765 A KR20130160765 A KR 20130160765A KR 101559562 B1 KR101559562 B1 KR 101559562B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
scenario
weapon
eut
device under
Prior art date
Application number
KR1020130160765A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20150072992A (en
Inventor
조동훈
이동훈
김상열
Original Assignee
엘아이지넥스원 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘아이지넥스원 주식회사 filed Critical 엘아이지넥스원 주식회사
Priority to KR1020130160765A priority Critical patent/KR101559562B1/en
Publication of KR20150072992A publication Critical patent/KR20150072992A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101559562B1 publication Critical patent/KR101559562B1/en

Links

Images

Classifications

    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F41WEAPONS
    • F41AFUNCTIONAL FEATURES OR DETAILS COMMON TO BOTH SMALLARMS AND ORDNANCE, e.g. CANNONS; MOUNTINGS FOR SMALLARMS OR ORDNANCE
    • F41A33/00Adaptations for training; Gun simulators
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F41WEAPONS
    • F41GWEAPON SIGHTS; AIMING
    • F41G3/00Aiming or laying means
    • F41G3/32Devices for testing or checking
    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F42AMMUNITION; BLASTING
    • F42BEXPLOSIVE CHARGES, e.g. FOR BLASTING, FIREWORKS, AMMUNITION
    • F42B35/00Testing or checking of ammunition

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)

Abstract

본 발명의 일 실시예는 하나의 시험시스템을 이용하여 다수의 무기를 시험하기 위한 통합된 시험 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명의 일 실시예는 이러한 목적을 달성하기 위해, 서로 다른 무기의 시험은 시험 시나리오의 입력에 따라 진행되도록하는 시스템을 제공하며, 그에 따라, 시험 절차가 단순화되고, 시험 관리가 간소화되어 시험 사용자의 시스템 이용 및 조작의 편의를 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시예는 각각의 장비에 각각의 시험 실행 파일 내용을 저장하지 않아도 되므로, 시험시스템의 용량을 줄일 수 있다.An embodiment of the present invention aims at providing an integrated test system for testing multiple weapons using one test system. In order to achieve this object, an embodiment of the present invention provides a system for allowing testing of different weapons to proceed according to input of a test scenario, thereby simplifying test procedures and simplifying test management, The convenience of use of the system and the operation of the system can be improved. In addition, an embodiment of the present invention does not need to store the contents of each test executable file in each device, so the capacity of the test system can be reduced.

Description

무기용 피시험장치의 시험방법 및 시험시스템{TESTING METHOD AND TESTING SYSTEM OF DEVICE UNDER TEST FOR WEAPON}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for testing a weapon-

본 발명의 실시예들은 무기용 피시험장치의 시험방법 및 시험시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 하나의 시험장비를 이용하여 다수의 무기를 시험하기 위한 무기용 피시험장치의 시험방법 및 시험시스템에 관한 것이다.Embodiments of the present invention relate to a test method and a test system for an apparatus for testing an inorganic object, and more particularly to a test method and a test system for an inorganic apparatus under test for testing a plurality of weapons using one test equipment .

냉전시대의 종식 이후에 전세계는 평화주의 정책을 펴고 있으나, 여전히 영토 분쟁 및 국가 간의 힘겨루기 등이 존재하고 있는 상황인바 자국의 국방력 유지 및 향상은 반드시 필요하다. 이에 따라, 국방력 향상 및 유지를 위해 많은 국가에서 여전히 무기의 개발이 이루어지고 있다.After the end of the Cold War era, the world has been carrying out a pacifist policy, but there are still territorial disputes and conflicts between countries. As a result, weapons are still being developed in many countries to improve and maintain national defense.

이러한 무기의 개발과 더불어 중요한 것은 무기의 시험(TEST)이다. 무기가 정확하게 목표물을 인지하고 정확한 지점에 목표물에 도달해야 하므로, 시험은 무기를 사용하기 전에 반드시 거쳐야하는 검증절차이다. 각 무기들은 그 용도, 형태 및 이용방법 등이 상이하기 때문에 모두 각기 다른 방식으로 시험되어 왔다. 다만, 기술발전에 따라 이러한 무기들도 현대화되었는데, 이러한 무기들 역시 디지털/아날로그 통신 등에 의해 명령을 수신하고 실행되는 과정을 거치므로, 무기사용 인터페이스 점검, 통신설비 점검, 디지털/아날로그 입출력 점검 등과 같은 디지털 장비 사용에서 유발되는 점검사항들은 공통적이다.In addition to the development of these weapons, it is the testing of weapons. Testing is a verification procedure that must go through before using the weapon, because the weapon must recognize the target accurately and reach the target at the correct spot. Each weapon has been tested in a different way because it differs in purpose, form and method of use. However, due to technological advances, these weapons have also been modernized. These weapons also receive commands and are executed by digital / analog communication, so that they can be used to check weapons use interfaces, check communication facilities, check digital / analog inputs and outputs Checks caused by the use of digital equipment are common.

도 1은 종래의 무기 시험시스템의 디지털 장비에 입력되는 실행 파일의 내용을 나타낸 것이며, 도 2는 종래의 무기 시험시스템의 구성도이다. 도 1을 참고하면, 실행파일에는 ①번부터 ⓝ번까지의 시험항목(예를 들어, 유도 미사일 시험, 수중 미사일 시험, 레이더 감지 시험 등 서로 다른 시험 항목)절차, 시험항목 ICD(Interface Control Document), 인터페이스 정의에 대한 파일이 포함되어 있다. 시험항목절차로서 입력하는 함수값과 시험항목 ICD, 인터페이스의 입력값은 ①번부터 ⓝ번까지의 시험에 대해서 공통적임에도 불구하고 반복적으로 장치 드라이버에 입력되어 있다. 또한, 도 2에 도시된 종래기술의 구성도를 참고하면, 상기 ①번부터 ⓝ번까지의 시험은 점검수행모듈과 Protocol(ICD) 처리 모듈에 의해서 수행되는 것으로서, ①번부터 ⓝ번까지의 시험항목이 달라짐에 따라 점검수행모듈과 Protocol(ICD) 처리 모듈의 설정값도 달라지게 된다.FIG. 1 shows contents of an executable file input to a digital apparatus of a conventional inorganic test system, and FIG. 2 is a configuration diagram of a conventional inorganic test system. Referring to FIG. 1, the execution file includes procedures for testing items (1) through (1) (for example, different test items such as guided missile test, underwater missile test, radar detection test) , And a file for the interface definition. Test items The function values and test items to be input as the procedure procedure ICD and input values of the interface are repeatedly input to the device driver although they are common to the tests from ① to ⓝ. Referring to the configuration diagram of the prior art shown in FIG. 2, the tests (1) to (3) are performed by the inspection execution module and the protocol (ICD) As the items are changed, the setting values of the inspection execution module and the protocol (ICD) processing module are different.

즉, 무기를 시험하는 데에 있어서, 유사하거나 동일한 절차를 반복적으로 구현하고 되풀이하게 되므로, 시험을 처리하는 사용자의 이용의 불편과 시간의 낭비, 그리고 소프트웨어 용량 및 하드웨어 용량의 과다 등이 문제가 될 수 있다.That is, in testing a weapon, similar or identical procedures are repeatedly implemented and repeated, so that there is a problem such as inconvenience of use of the user who processes the test, waste of time, excessive amount of software capacity and hardware capacity .

따라서 위와 같은 문제를 해결하기 위하여 본 발명의 일 실시예는 하나의 시험시스템을 이용하여 다수의 무기를 시험하기 위한 통합된 시험 시스템을 제공하는 데에 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide an integrated test system for testing a plurality of weapons using one test system.

또한, 본 발명의 일 실시예는 하나의 시험시스템에서 통합된 시험 절차를 제공하기 위해 서로 다른 무기의 시험은 시험 시나리오의 입력에 따라 진행되도록 하는 시스템을 제공하는 데에 목적이 있다. It is also an object of one embodiment of the present invention to provide a system that allows testing of different weapons to proceed according to input of a test scenario to provide an integrated test procedure in one test system.

또한, 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 후술되는 발명을 실시하기 위한 구체적 내용 및 특허청구범위에서 설명될 것이다.Other objects and features of the present invention will be described in the following detailed description and claims.

이와 같은 본 발명의 해결 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따르는 무기용 피시험장치 시험방법은, 사용자로부터 피시험장치의 시험 시나리오를 입력받는 단계; 상기 입력된 시험 시나리오에 따라 상기 피시험장치를 구동하기 위한 가상의 상태 머신을 생성하는 단계; 상기 입력된 시험 시나리오에 따라 등록된 피시험장치 중 적어도 하나를 선택하는 단계; 상기 입력된 시험 시나리오에 따라 시험제어정보를 생성하고 저장하는 단계; 상기 시험제어정보에 따라 시험실행 메시지를 생성하는 단계; 상기 선택된 적어도 하나의 피시험장치로 상기 시험실행 메시지를 패킷 송신하는 단계; 및 상기 적어도 하나의 피시험장치로부터 시험결과 메시지를 패킷 수신하여 사용자에게 제공함으로써 시험을 종료하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of testing an apparatus for testing an inorganic device, the method comprising: receiving a test scenario of a device under test from a user; Generating a virtual state machine for driving the EUT according to the input test scenario; Selecting at least one of the plurality of devices to be tested according to the input test scenario; Generating and storing test control information according to the input test scenario; Generating a test execution message according to the test control information; Transmitting a packet of the test execution message to the selected at least one EUT; And terminating the test by receiving a test result message from the at least one EUT and providing the test result message to the user.

또한, 상기 피시험장치는 광학 무기, 전자 무기, 전기 무기, 음향 무기, 자기 무기, 음파 무기, 방사능 무기, 화학 무기, 유도 무기, 수중 무기, 항공 무기 및 우주 무기 중 적어도 하나인 것을 특징으로 한다.The device under test is at least one of an optical weapon, an electronic weapon, an electric weapon, an acoustic weapon, a magnetic weapon, a sonic weapon, a radioactive weapon, a chemical weapon, an induced weapon, an underwater weapon, .

또한, 상기 사용자로부터 피시험장치의 시험 시나리오를 입력받는 단계는, 상기 사용자에 의해 새로운 시험 시나리오를 입력받거나 데이터베이스에 등록된 복수 개의 시험 시나리오 중 선택된 적어도 하나의 시험 시나리오를 입력받는 것을 특징으로 한다.The step of receiving a test scenario of the device under test from the user may include inputting a new test scenario by the user or receiving at least one test scenario selected from a plurality of test scenarios registered in the database.

또한, 상기 시험 시나리오는, 상기 피시험장치 및 피시험장치를 제어하는 제어구성요소의 상태를 점검하는 시나리오, 상기 점검 순서에 대한 시나리오, 상기 점검 대상에 대한 시나리오 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 한다.The test scenario may include at least one of a scenario for checking the state of a control component that controls the EUT and the EUT, a scenario for the check procedure, and a scenario for the object to be checked do.

또한, 상기 시험 시나리오는 xml 태그 형태로 제공되는 것을 특징으로 한다.In addition, the test scenario is provided in the form of an xml tag.

또한, 상기 상태 머신은 상기 피시험장치의 상태를 파악하고, 상기 시험 시나리오의 각 절차 및 상기 피시험장치에 대한 전이조건을 판단하며, 상기 피시험장치의 시험을 수행하는 것을 특징으로 한다.The state machine may be configured to determine the state of the apparatus under test, determine each procedure of the test scenario, transition conditions for the apparatus under test, and perform the test of the apparatus under test.

또한, 상기 선택된 적어도 하나의 피시험장치로 상기 시험실행 메시지를 패킷 송신하는 단계 전, 상기 피시험장치로부터의 패킷 수신을 준비하기 위해 패킷 수신 버퍼를 할당하고 초기화하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 한다.And further comprising the step of allocating and initializing a packet reception buffer to prepare for receiving a packet from the device under test before packet sending the test execution message to the selected at least one device under test .

한편, 본 발명의 다른 실시예에 따르는 무기용 피시험장치의 시험시스템은, 사용자로부터 피시험장치의 시험 시나리오를 입력받는 사용자 입력 장치; 상기 입력된 시험 시나리오에 부합되는 피시험장치를 선택하고, 상기 피시험장치의 점검 절차를 수행하며, 상기 피시험장치와 패킷 통신을 수행함으로써 시험을 명령하고 시험결과를 수집하는 시험실행부; 및 상기 시험실행부의 명령에 따라 시험을 수행하며 시험결과를 상기 시험실행부로 송신하는 피시험장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.Meanwhile, a test system for an apparatus for testing inorganic weapons according to another embodiment of the present invention includes: a user input device for receiving a test scenario of a device under test from a user; A test execution unit for selecting a device under test conforming to the inputted test scenario, performing a checking procedure of the device under test, commanding a test by performing packet communication with the device under test, and collecting test results; And a device under test that performs a test in accordance with an instruction of the test execution unit and transmits a test result to the test execution unit.

또한, 상기 시험실행부는, 상기 입력된 시험 시나리오에 따라 상기 피시험장치를 구동하기 위한 가상의 상태 머신을 생성하는 상태 머신 제어부; 상기 입력된 시험 시나리오에 따라 등록된 피시험장치 중 적어도 하나를 선택하는 피시험장치 제어부; 상기 입력된 시험 시나리오에 따라 시험제어정보를 생성하고 저장하는 시험제어정보 저장부; 상기 시험제어정보에 따라 시험실행 메시지를 생성하는 시험제어부; 상기 선택된 적어도 하나의 피시험장치로 상기 시험실행 메시지를 패킷 송신하며, 상기 적어도 하나의 피시험장치로부터 시험결과 메시지를 패킷 수신하는 통신부; 및 상기 사용자에게 상기 시험결과 메시지를 분석하여 제공하는 데이터 수집 및 계측부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The test execution unit may further include: a state machine control unit for generating a virtual state machine for driving the EUT according to the input test scenario; An EUT controller for selecting at least one of the EUTs registered according to the input test scenario; A test control information storage unit for generating and storing test control information according to the input test scenario; A test control unit for generating a test execution message according to the test control information; A communication unit for packet-transmitting the test execution message to the selected at least one EUT and receiving a test result message from the at least one EUT; And a data collecting and measuring unit for analyzing and providing the test result message to the user.

또한, 상기 피시험장치는 광학 무기, 전자 무기, 전기 무기, 음향 무기, 자기 무기, 음파 무기, 방사능 무기, 화학 무기, 유도 무기, 수중 무기, 항공 무기 및 우주 무기 중 적어도 하나인 것을 특징으로 한다.The device under test is at least one of an optical weapon, an electronic weapon, an electric weapon, an acoustic weapon, a magnetic weapon, a sonic weapon, a radioactive weapon, a chemical weapon, an induced weapon, an underwater weapon, .

또한, 상기 시험 시나리오는, 상기 피시험장치 및 피시험장치를 제어하는 제어구성요소의 상태를 점검하는 시나리오, 상기 점검 순서에 대한 시나리오, 상기 점검 대상에 대한 시나리오 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 한다.The test scenario may include at least one of a scenario for checking the state of a control component that controls the EUT and the EUT, a scenario for the check procedure, and a scenario for the object to be checked do.

또한, 상기 시험 시나리오는 xml 태그 형태로 제공되는 것을 특징으로 한다.In addition, the test scenario is provided in the form of an xml tag.

상기와 같이 구성되는 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 따르는 무기용 피시험장치의 시험방법 및 시험시스템은 통합된 하나의 시험시스템을 이용해 서로 다른 다양한 시험을 진행하게 할 수 있다 The testing method and the testing system of the apparatus for testing inorganic materials according to at least one embodiment of the present invention constructed as described above can conduct various different tests using an integrated test system

그에 따라, 시험 절차가 단순화되고, 시험 관리가 간소화되어 시험 사용자의 시스템 이용 및 조작의 편의를 향상시킬 수 있다.Accordingly, the test procedure is simplified, and the test management is simplified, thereby improving the convenience of the system user and operation of the test user.

또한, 각각의 장비에 각각의 시험 실행 파일 내용을 저장하지 않아도 되므로, 시험시스템의 용량을 줄일 수 있다.In addition, since the contents of each test execution file are not stored in each device, the capacity of the test system can be reduced.

도 1은 종래의 무기 시험시스템의 디지털 장비에 입력되는 실행 파일의 내용을 도식화한 것이다.
도 2는 종래의 무기 시험시스템의 구성도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따르는 시험시스템의 개념도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따르는 무기용 피시험장치의 시험시스템의 구조도이다.
도 5a는 본 발명의 일 실시예에 따르는 시험실행부의 구조도이다.
도 5b는 본 발명의 일 실시예에 따르는 피시험장치의 구조도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따르는 무기용 피시험장치의 시험 방법을 나타내는 순서도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따르는 시험제어부의 내부 구조 및 시험실행을 위한 내부 절차를 나타내는 순서도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따르는 피시험장치의 송수신기 인터페이스 시험 절차를 나타내는 개략 순서도이다.
도 9는 피시험장치의 송수신기 인터페이스 시험 절차를 구체적으로 설명하기 위한 도면이다.
1 is a schematic diagram of contents of an executable file input to a digital apparatus of a conventional weapon testing system.
2 is a configuration diagram of a conventional inorganic test system.
3 is a conceptual diagram of a test system according to an embodiment of the present invention.
4 is a structural view of a test system of an apparatus for testing inorganic We according to an embodiment of the present invention.
5A is a structural diagram of a test execution unit according to an embodiment of the present invention.
5B is a structural diagram of a device under test according to an embodiment of the present invention.
6 is a flowchart showing a test method of an apparatus for testing inorganic We according to an embodiment of the present invention.
7 is a flowchart showing an internal structure of a test control unit and an internal procedure for executing a test according to an embodiment of the present invention.
8 is a schematic flow chart showing a transceiver interface test procedure of the EUT according to an embodiment of the present invention.
9 is a diagram for explaining the transceiver interface test procedure of the EUT in detail.

이하, 본 발명의 실시예에 따르는 무기용 피시험장치의 시험방법 및 시험시스템에 대하여 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다.BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, a test method and a test system for an apparatus for testing inorganic matter according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

본 명세서에서는 서로 다른 실시예라도 동일 · 유사한 구성에 대해서는 동일 · 유사한 참조번호를 부여하고, 그 설명은 처음 설명으로 갈음한다. 또한, 본 명세서에 첨부된 도면의 구성요소들은 설명의 편의를 위해 확대 또는 축소되어 도시될 수 있음이 고려되어야 한다.In the present specification, the same or similar reference numerals are given to different embodiments in the same or similar configurations. In addition, it should be considered that the components of the drawings attached hereto can be enlarged or reduced for convenience of explanation.

본 명세서에서 사용되는 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다. 또한, 본 명세서에서 사용되는 제 1, 제 2 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있으나 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용되므로 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지 않는다.As used herein, the singular forms "a", "an" and "the" include plural referents unless the context clearly dictates otherwise. Furthermore, terms including ordinals such as first, second, etc. used in this specification may be used to describe various components, but since the terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another, The elements are not limited by these terms.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따르는 시험시스템의 개념도이다. 도 2와 도 3을 비교하면, 종래의 기술은 점검수행모듈과 Protocol 처리 모듈을 구비하였으며, 이러한 모듈들은 각 시험항목이 변경됨에 따라 설정값도 달라지므로, 서로 다른 시험을 수행하기 위해서는 상기 점검수행모듈 및 Protocol 처리 모듈 역시 달라져야 했다. 그러나, 본 발명의 일 실시예에 따르는 시험시스템은 점검수행모듈 및 Protocol 처리 모듈에 대한 공통화 플랫폼을 도입하여 종래기술에서 문제되던 번거로움을 해결할 수 있다. 본 발명의 일 실시예의 시험시스템은 입력된 시험 시나리오를 읽고 파싱하는 모듈만 존재하며, 시나리오가 삽입되면 동적으로 시험항목/절차/ICD/인터페이스가 정의되도록 설계된다.3 is a conceptual diagram of a test system according to an embodiment of the present invention. Comparing FIG. 2 and FIG. 3, the conventional technology has a check execution module and a protocol processing module. Since the set values of the modules vary as the test items are changed, Modules and protocol processing modules also had to be changed. However, the test system according to an embodiment of the present invention can solve the troublesome problem in the prior art by introducing a commonization platform for the inspection execution module and the protocol processing module. The test system of the embodiment of the present invention includes only a module that reads and parses the inputted test scenario and is designed such that the test item / procedure / ICD / interface is dynamically defined when the scenario is inserted.

상기 공통화 플랫폼의 개요는 구조도 옆에 도시된 순서도에 잘 나타나 있다. 공통화 플랫폼의 동작개념은 각 시험마다 그에 대응하는 시나리오를 입력받고 시나리오에 따라 시험을 수행하도록 하되, 시나리오 입력과 처리 절차는 모든 시험에 대해서 공통되는 프로세스를 가지는 것을 특징으로 한다.The outline of the commonization platform is well illustrated in the flowchart shown next to the structural drawing. The operation concept of the commonized platform is to input a scenario corresponding to each test and to perform the test according to the scenario, and the scenario input and process procedure has a common process for all the tests.

구체적으로, 공통화 플랫폼의 동작은, 제어클럭이 초기화된 다음, 시나리오를 입력받고, 상태 머신(후술로 구체적으로 설명함)을 할당하는 방식으로 시작된다. 이러한 상태 머신 할당과 시나리오에 대한 정보는 DB(데이터베이스)에 저장되고, 시나리오 입력이 완료된 것으로 판단된 경우, 시험준비를 위한 과정에 들어간다. 예를 들어, 시험 장비에 문제가 없는지 초기 설정값 테스트 등의 시험 준비를 위한 과정이 진행될 수 있다. 이어서, 시험을 수행하고 시험이 종료된 후에는 결과 데이터를 받아 분석하는 과정이 진행될 수 있다.Specifically, the operation of the commonization platform starts with a method in which a control clock is initialized, a scenario is input, and a state machine (to be described later) is allocated. The information on the state machine assignment and the scenario is stored in the DB (database), and if it is determined that the scenario input is completed, the process for preparation for the test is entered. For example, a process for preparing a test, such as initial set-value testing, may be performed to see if there is a problem with the test equipment. Then, after the test is performed and the test is completed, the process of receiving and analyzing the result data may be performed.

이어서, 도 4 내지 도 5b를 통해 본 발명에 따르는 무기용 피시험장치의 시험시스템의 구조를 구체적으로 설명하도록 한다.Next, the structure of the test system of the apparatus for testing inorganic We according to the present invention will be described in detail with reference to Figs. 4 to 5B.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따르는 무기용 피시험장치(300)의 시험시스템의 구조도이다. 본 발명의 일 실시예에 따르는 시험시스템은 시험명령부(100)(호스트 장치), 시험실행부(200), 피시험장치(300)를 포함한다.4 is a structural view of a test system of the apparatus for testing for inorganic material 300 according to an embodiment of the present invention. The test system according to an embodiment of the present invention includes a test command unit 100 (host device), a test execution unit 200, and a device under test 300.

시험명령부(100)는 사용자가 시험명령 내역을 입력할 수 있는 입력부(예를 들어, 키보드, 터치스크린, 마우스 등)를 가진 단말기일 수 있다. 상기 단말기는 예를 들어, 컴퓨터, 스마트 단말기, PDA 등 네트워크 통신이 가능한 디지털 단말기일 수 있다. 시험명령부(100)는 사용자의 입력에 의해 피시험장치(300)의 시험 시나리오와 시험 시작 명령을 입력할 수 있으며, 이러한 입력 내용을 시험실행부(200)로 전송한다.The test command unit 100 may be a terminal having an input unit (e.g., a keyboard, a touch screen, a mouse, and the like) through which a user can input test command details. The terminal may be, for example, a digital terminal capable of network communication such as a computer, a smart terminal, and a PDA. The test command unit 100 can input a test scenario and a test start command of the EUT 300 by a user's input and transmits the input contents to the test execution unit 200.

시험실행부(200)는 시험 시나리오 및 시험 명령 내역을 입력 받은 후, 피시험장치(300)를 점검하고 시험을 실행하는 각종 제반 과정을 담당한다. 시험실행부(200)의 상세 구성은 도 5a를 통해 구체적으로 설명하도록 한다.After receiving the test scenario and the test command details, the test execution unit 200 performs various processes of checking the EUT 300 and executing the test. The detailed configuration of the test execution unit 200 will be described in detail with reference to FIG. 5A.

시험실행부(200)는 시험제어부(210), 제어클럭 생성부(220), 시험 시나리오 입력부(230) 및 시험 관리부(240)를 포함한다.The test execution unit 200 includes a test control unit 210, a control clock generation unit 220, a test scenario input unit 230, and a test management unit 240.

시험제어부(210)는 시험관리부(240)에 포함된 각각의 하위 구성요소를 제어함으로써 시험 실행시부터 종료시까지의 시험 절차를 제어한다.The test control unit 210 controls the test procedure from the time of executing the test to the end of the test by controlling each subcomponent included in the test management unit 240. [

제어클럭 생성부(220)는 제어클럭을 특정한 시간 간격마다 주기적으로 생성한다. 제어클럭은 시험실행부(200) 내의 모든 구성요소 및 회로가 일정한 속도로 작동하기 위해서 일정한 간격으로 공급되는 전기적 진동(pulse)이다. 이때, 제어클럭의 속도가 빠를 수록 시험실행부(200)의 처리 속도도 빠르다고 할 수 있다.The control clock generating unit 220 periodically generates the control clocks at specific time intervals. The control clock is an electrical pulse that is supplied at regular intervals so that all components and circuits in the test execution unit 200 operate at a constant speed. At this time, the higher the control clock speed, the faster the test execution unit 200 is.

시험 시나리오 입력부(230)는 시험명령부(100)로부터 입력된 시험 시나리오 입력 요청을 수신하고, 요청된 시험 시나리오 항목을 시험 관리부로 입력하는 역할을 수행한다. 입력된 시험 시나리오는 제어클럭에 따라 시험 관리부로 전달된다.The test scenario input unit 230 receives a test scenario input request input from the test instruction unit 100 and inputs a requested test scenario item to the test management unit. The input test scenario is transferred to the test management unit according to the control clock.

시험관리부(240)는 시험 실행을 관리하는 구성요소로서, 복수 개의 하위 구성요소로 이루어진다.The test management unit 240 is a component for managing test execution, and is composed of a plurality of subcomponents.

먼저, 시험 시나리오 추출부(241)는 시험 시나리오 입력부(230)로부터 전달받은 시험 시나리오가 어떤 것인지 판독한다. 이어서, 시험 시나리오 추출부(241)는 어떠한 내용의 시험인지 시나리오를 분석하며, 분석된 시험 시나리오를 추출한다. 추출된 시험 시나리오는 시험제어부(210)로 전달된다.First, the test scenario extracting unit 241 reads out the test scenarios received from the test scenario input unit 230. Then, the test scenario extracting unit 241 analyzes the contents of the test scenarios and extracts the analyzed test scenarios. The extracted test scenario is transmitted to the test control unit 210.

상태 머신 제어부(242)는 추출된 시험 시나리오를 시험제어부(210)로부터 전달받아, 그에 따라 상태 머신을 생성하고 제어한다. 상태 머신 제어부(242)는 상태 머신을 생성하고, 상태 머신을 관리하며, 상태 머신의 현재 상태를 지속적으로 추적하는 기능을 수행한다. 여기서 상태 머신이란 추출된 시험 시나리오에 따라 피시험장치(300)의 상태를 파악하고, 시험 시나리오의 각 절차 및 피시험장치 상태에 대한 전이조건을 판단하며, 피시험장치(300)의 시험을 수행하는 가상의 머신으로서, 장치 드라이버 모듈을 의미한다.The state machine control unit 242 receives the extracted test scenario from the test control unit 210, and generates and controls the state machine accordingly. The state machine control 242 functions to create a state machine, manage the state machine, and keep track of the current state of the state machine. Here, the state machine refers to the state of the EUT 300 according to the extracted test scenario, determines each procedure of the test scenario and the transition condition for the state of the EUT, and tests the EUT 300 And refers to a device driver module.

시험제어정보 저장부(243)는 시험 시나리오를 저장하며, 저장된 시험 시나리오에 따르는 시험제어정보(Interface Control Document: ICD)를 등록 및 저장한다. 시험제어정보는 시험 시나리오에 따라, 각각의 구성요소가 실행해야할 동작 정보 및 제어 정보를 의미하는 것이다. 시험제어정보 저장부는 추출된 시험 시나리오를 분석하여 시험제어정보를 추출할 수 있다.The test control information storage unit 243 stores test scenarios and registers and stores test control information (ICD) according to the stored test scenarios. The test control information means operation information and control information to be executed by each component according to a test scenario. The test control information storage unit can extract the test control information by analyzing the extracted test scenarios.

피시험장치 제어부(244)는 피시험장치(300)를 등록하고, 추출된 시험 시나리오에 따라 등록된 피시험장치(300) 중 적어도 하나의 피시험장치(300)를 할당하며, 피시험장치(300)의 상태를 지속적으로 추적한다. 여기서 피시험장치는 광학 무기, 전자 무기, 전기 무기, 음향 무기, 자기 무기, 음파 무기, 방사능 무기, 화학 무기, 유도 무기, 수중 무기, 항공 무기 및 우주 무기 중 적어도 하나일 수 있다. 피시험장치(300)의 등록은 시험명령부(100)를 통한 사용자의 입력에 의해 이루어질 수 있으며, 복수 개의 장치가 등록될 수 있다. 피시험장치 제어부(244)는 등록된 복수 개의 장치 중 입력된 시나리오에 맞게 특정 피시험장치(300)를 할당할 수 있다. 예를 들어, 미사일 발사 시험 시나리오가 입력된 경우, 미사일 발사장치, 레이더 장치 등이 할당될 수 있다.The EUT controller 244 registers the EUT 300 and allocates at least one EUT 300 among the EUTs 300 registered in accordance with the extracted test scenario, 300) is continuously tracked. Here, the device under test may be at least one of an optical weapon, an electronic weapon, an electric weapon, an acoustic weapon, a magnetic weapon, a sonic weapon, a radioactive weapon, a chemical weapon, a guided weapon, an underwater weapon, The registration of the device under test 300 may be performed by a user's input through the test command unit 100, and a plurality of devices may be registered. The EUT controller 244 can assign a specific EUT 300 according to the input scenario among the plurality of registered EUTs. For example, when a missile launch test scenario is input, a missile launch device, a radar device, or the like may be assigned.

타이머 제어부(244)는 시험시 시험관리부(240)의 구성요소 내지 피시험장치(300)의 구성요소가 진행해야할 각 수행항목에 대한 시간을 등록하고 할당하며 측정하는 기능을 수행한다. 예를 들어, 미사일 발사가 명령 입력후 100ms 이내에 이루어져야 하는 경우, 타이머 제어부(244)는 100ms를 등록하고 미사일 발사를 위해 선행되어야할 하위 구성요소의 기능들에 대한 실행시간을 할당하며, 측정할 수 있다. The timer control unit 244 registers, allocates, and measures a time for each performance item to be processed by a component of the test management unit 240 or a component of the EUT 300 during the test. For example, if the missile launch must occur within 100 ms of the command input, the timer control unit 244 registers 100 ms, allocates execution time for the functions of the subcomponents to be preceded for missile launch, have.

환경 모의 제어부(246)는 시험 주변 환경을 모의하고 제어하는 기능을 수행한다. 예를 들어, 바람이 많이 불거나 비가오는 날씨의 경우, 환경 모의 제어부(246)는 환경을 모의하고 그에 따라 각 구성요소들의 시험실행 설정값이 달라지도록 제어하는 기능을 수행한다.The environment simulation control unit 246 performs a function of simulating and controlling the test surrounding environment. For example, in the case of a windy or rainy weather, the environment simulation control unit 246 performs a function of simulating the environment and controlling the test execution set values of the respective components to be changed accordingly.

제 1 통신부(247)는 피시험장치(300)로 시험실행 패킷을 송신하고 시험결과 패킷을 수신하는 기능을 수행한다. 구체적으로, 제 1 통신부(247)는 시험실행 내용을 포함하고 있는 패킷을 생성하고, 패킷 송신 버퍼를 통하여 패킷을 송신할 수 있다. 또한, 제 1 통신부(247)는 피시험장치(300)로부터 시험결과에 내용을 포함하고 있는 패킷을 수신하고, 패킷 수신 버퍼를 통해 패킷을 파싱한다. 예를 들어, 제 1 통신부(247)는 시험 실행 내용을 포함하는 메시지를 패킷으로 피시험장치(300)에 전송할 수 있으며, 피시험장치(300)가 미사일인 경우, 미사일의 실시간 위치 정보를 패킷으로 전송받아 파싱할 수 있다.The first communication unit 247 transmits a test execution packet to the device under test 300 and receives a test result packet. Specifically, the first communication unit 247 can generate a packet including the contents of the test execution and transmit the packet through the packet transmission buffer. Also, the first communication unit 247 receives the packet containing the contents of the test result from the EUT 300, and parses the packet through the packet receiving buffer. For example, the first communication unit 247 may transmit a message including the contents of the test execution to the EUT 300 as a packet. If the EUT 300 is a missile, And can be parsed.

데이터 수집 및 계측부(248)는 제 1 통신부(247)를 통하여 수신한 피시험장치(300)의 데이터를 수집하고 계측하는 기능을 수행한다. 데이터 수집 및 계측부(248)는 제 1 통신부(247)가 수신한 패킷을 수신받아 피시험장치(300)의 데이터들을 수집하고, 이들을 분석하여 계측할 수 있다.The data acquisition and measurement unit 248 performs a function of collecting and measuring the data of the device under test 300 received via the first communication unit 247. The data collecting and measuring unit 248 can collect the data of the device under test 300 by receiving the packets received by the first communication unit 247, analyze them, and measure them.

이하, 도 5b를 통하여 피시험장치(300)의 구성요소에 대하여 설명하도록 한다. 피시험장치(300)는 제 2 통신부(310)와 신호처리부(320)를 포함한다.Hereinafter, the components of the device under test 300 will be described with reference to FIG. 5B. The EUT 300 includes a second communication unit 310 and a signal processing unit 320.

제 2 통신부(310)는 제 1 통신부(247)와 유사한 기능을 수행한다. 제 2 통신부(310)는 제 1 통신부(247)로부터 전송된 패킷을 수신하고, 신호처리부(320)에 따라 생성된 신호를 패킷 형태로 송신할 수 있다.The second communication unit 310 performs a function similar to that of the first communication unit 247. The second communication unit 310 receives the packet transmitted from the first communication unit 247 and transmits the generated signal according to the signal processing unit 320 in the form of a packet.

신호처리부(320)는 제 2 통신부(310)를 통하여 수신한 패킷을 처리하여, 시험실행부(200)가 요청한 시험실행 내역을 수행하도록 할 수 있다. 또한, 신호처리부(320)는 피시험장치(300)의 시험실행상태에 대한 정보를 제 2 통신부(310)로 전달하여, 시험실행부(200)로 송신되도록 할 수 있다.The signal processing unit 320 may process the packet received through the second communication unit 310 and perform the test execution details requested by the test execution unit 200. [ The signal processing unit 320 may transmit information on the test execution state of the device under test 300 to the second communication unit 310 and transmit the information to the test execution unit 200.

이하, 도 6을 통해 본 발명의 일 실시예에 따르는 무기용 피시험장치(300)의 시험 방법을 설명하도록 한다.Hereinafter, a test method of the apparatus for testing an inorganic object 300 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

먼저, 시험 명령부(100)는 사용자에 의해 시험하고자하는 연동장치 프로필을 삽입한다(S100). 연동장치는 피시험장치(300) 및 피시험장치(300)와 연동되는 보조 장치를 포함한다. 예를 들어, 미사일발사장치 및 레이더 장치 등이 연동장치로 포함될 수 있다.First, the test command unit 100 inserts the interworking device profile to be tested by the user (S100). The interlocking device includes a device under test 300 and an auxiliary device operatively associated with the device under test 300. For example, a missile launch device and a radar device may be included as interlocking devices.

시험제어부(210)는 연동 장치 프로필을 수신한 다음, 대응하는 장치 드라이버 모듈을 생성한다(S101). 장치 드라이버 모듈은 앞서 언급한 상태 머신에 대응하는 것으로서, 상기 연동 장치 각각에 대하여 생성될 수도 있으며, 상기 연동 장치 모두를 제어하도록 하나만 생성될 수도 있다.The test control unit 210 receives the interlocking device profile, and then generates a corresponding device driver module (S101). The device driver module corresponds to the above-mentioned state machine, and may be generated for each of the interlocking devices, and only one of them may be generated to control all of the interlocking devices.

이어서, 시험 명령부(100)는 사용자에 의해 m 개의 시험 시나리오 데이터를 삽입한다(S102). 상기 m 개의 시험 시나리오 데이터는 피시험장치(300) 또는 시험실행부(200)의 내부구성요소 상태 점검에 대한 데이터, 점검 절차에 대한 데이터, 점검 대상에 대한 데이터 등을 포함할 수 있다. 예를 들어, 시험 시나리오 데이터의 내용은 "데이터 수집 및 계측부(248)로 0x00 0x01의 신호를 보내야 함", "점검 방식은 data-ack 방식으로 이루어져야 함", "데이터 수집 및 계측부(248)에 데이터 송신후 정상적인 경우라면 DUT xx IF에서 데이터를 획득하여 TC로 전달함" 등을 포함할 수 있다.Then, the test commander 100 inserts m trial scenario data by the user (S102). The m test scenario data may include data on the internal component status check of the EUT 300 or the test execution unit 200, data on the check procedure, data on the check target, and the like. For example, the contents of the test scenario data may be stored in the data collection and measurement unit 248 as "data should be sent in a data-ack manner " Acquire data from the DUT xx IF and transmit it to the TC if it is normal after data transmission ".

시험제어부(210)는 m 개의 시험 시나리오 데이터를 시험 관리부로 전송하며(S103), 시험관리부(240)는 전송받은 m 개의 시험 시나리오를 시험제어정보 저장부(243)에 저장한다(S104).The test control unit 210 transmits m test scenario data to the test management unit (S103), and the test management unit 240 stores the received m test scenarios in the test control information storage unit 243 (S104).

이어서, 사용자는 입력된 m 개의 시험 시나리오 중 제 n 시험을 실행할 것을 시험명령부(100)를 통해 입력할 수 있다(S105).Subsequently, the user can input through the test command unit 100 to execute the nth test among the input m test scenarios (S105).

시험제어부(210)는 입력된 m개의 시험 시나리오 데이터 중 제 n 시험 절차 데이터를 로딩한다(S106).The test control unit 210 loads the nth test procedure data among the input m test scenario data (S106).

시험제어부(210)는 로딩된 제 n 시험 절차 데이터에 따라, 시험관리부(240)의 환경 모의 제어부(246)에 환경 모의 제어를 요청하며(S107), 데이터 수집 및 계측부(248)에 데이터 수집/계측 제어 메시지를 송신한다(S108). 또한, 시험제어부(210)는 제 n 시험 절차 데이터에 따라, 피시험장치 제어부(244)에 피시험장치(300)의 제어사항에 대한 메시지를 송신할 수도 있으며, 타이머 제어부(244)에 타이머 할당 및 측정사항에 대한 메시지를 송신할 수도 잇다.The test control unit 210 requests the environment simulation control unit 246 of the test management unit 240 to perform environment simulation control according to the n-th test procedure data loaded in step S107, And transmits a measurement control message (S108). The test control unit 210 may also send a message to the EUT controller 244 about the control of the EUT 300 according to the nth test procedure data, And a message about the measurement item.

이어서, 시험 진행을 위한 제반 절차가 모두 마쳐진 것으로 판단된 경우, 시험제어부(210)는 피시험장치(300)에 제 n 시험 실행 신호를 전송한다(S109). 이때, 시험제어부(210)는 제 1 통신부(247)를 통해 제 n 시험 실행 신호를 전송하며, 제 n 시험 실행 신호는 피시험장치(300)의 제어사항에 정보를 포함한다.Then, if it is determined that all the procedures for the test progress have been completed, the test control unit 210 transmits an nth test execution signal to the device under test 300 (S109). At this time, the test control unit 210 transmits the nth test execution signal through the first communication unit 247, and the nth test execution signal includes information on the control items of the EUT 300. [

피시험장치(300)는 제 n 시험 실행 신호에 따라 시험을 수행하며, 내부의 신호처리부(320) 및 제 2 통신부(310)를 통해 시험 결과 데이터를 시험 관리부로 전송할 수 있다(S110).The EUT 300 performs a test according to the nth test execution signal and may transmit the test result data to the test management unit through the internal signal processing unit 320 and the second communication unit 310 at step S110.

시험관리부(240)의 데이터 수집 및 계측부(248)는 제 1 통신부(247)를 통해 전송된 시험 결과 데이터를 수집하고, 계측하여 시험 결과 데이터를 시험제어부(210)로 전송한다(S111).The data collection and measurement unit 248 of the test management unit 240 collects and measures the test result data transmitted through the first communication unit 247 and transmits the test result data to the test control unit 210 (S111).

시험제어부(210)는 데이터 수집 및 계측부(248)를 제어하여 시험 결과 데이터를 처리하여 응답 메시지를 생성하고(S112), 상기 응답 메시지를 시험 명령부(100)로 전송한다(S113). 응답 메시지는 시험명령부(100)가 파악할 수 있는 컴퓨터 언어로 작성될 수 있다.The test control unit 210 controls the data acquisition and measurement unit 248 to process the test result data to generate a response message (S112), and transmits the response message to the test command unit 100 (S113). The response message may be written in a computer language that the test command unit 100 can grasp.

이어서, 시험명령부(100)는 응답 메시지를 통해 제 n 시험의 결과를 판단하고 저장할 수 있다(S114).Then, the test command unit 100 can determine and store the result of the nth test through the response message (S114).

이하, 도 7을 통해 시험제어부(210)의 내부 구조 및 시험실행을 위한 내부 절차를 구체적으로 설명하도록 한다.Hereinafter, the internal structure of the test control unit 210 and internal procedures for executing the test will be described in detail with reference to FIG.

시험제어부(210)는 tHostIF, tTsExtractor, tTester, tIFMng, tIFDev라는 구성요소를 포함한다.The test control unit 210 includes components tHostIF, tTsExtractor, tTester, tIFMng, and tIFDev.

먼저, tHostIF 는 시험명령부(100)로부터 시험 요청에 대한 명령 프레임을 수신하고, 이로부터 명령 메시지를 생성하여 tTsExtractor로 전송한다(S200). 명령 메시지는 시험 명령부에서 사용자가 제 n 시험에 대한 시험 시작 요청을 입력할 경우, 생성되는 메시지이다.First, tHostIF receives an instruction frame for a test request from the test command unit 100, generates a command message from the command frame, and transmits the command message to the tTsExtractor (S200). The command message is a message to be generated when the user inputs a test start request for the nth test in the test command section.

시험 제어부의 tTsExtractor는 시험 시나리오(TS)를 검색하고 추출하여tTester로 전송한다(S201). tTsExtractor는 시험관리부(240)의 시험 시나리오(TS) 추출부를 제어하여 시험 시나리오(TS)를 추출 할 수 있다. 한편, 시험 시나리오(TS)는 scxml 형태, xml 태그 형태로 가공되어 추출될 수 있다.The tTsExtractor of the test control unit searches for and extracts the test scenario (TS) and transmits it to the tester (S201). tTsExtractor can extract the test scenario (TS) by controlling the test scenario (TS) extracting unit of the test management unit 240. [ On the other hand, the test scenario (TS) can be processed and extracted in scxml form and xml tag form.

tTester는 추출된 시나리오(TS)에 따라 상태 머신 제어부를 통해 상태 머신(SM)을 생성 및 로딩하고, 상태 머신(SM)을 동작시키며, 추출된 시나리오(TS)를 tIFMng으로 전송한다(S202). 이때, 상태 머신(SM)은 tIFMng에 의해서도 로딩 및 동작된다. 그리고, tTester는 시나리오(TS)에 따라 생성된 피시험장치(300)의 동작 정보를 담은 제 1 데이터를 전송하며(S203), tIFMng는 제 1 데이터로부터 제 1 메시지를 추출하여 전송할 수 있다(S204).tTester generates and loads the state machine SM through the state machine controller according to the extracted scenario TS, operates the state machine SM, and transmits the extracted scenario TS to tIFMng (S202). At this time, the state machine SM is also loaded and operated by tIFMng. Then, tTester transmits the first data containing the operation information of the EUT 300 generated according to the scenario TS (S203), and the tIFMng extracts the first message from the first data and transmits the extracted first data (S204 ).

tIFDev은 제 1 메시지로부터 실행 프레임을 생성하고, 제 1 통신부(247)를 제어하여 실행 프레임을 피시험장치(300)로 전송한다(S205).tIFDev generates an execution frame from the first message, and controls the first communication unit 247 to transmit the execution frame to the device under test 300 (S205).

피시험장치(300)는 실행 프레임에 따라 시험을 실행하며, 응답 프레임을 되돌려보낸다(S206).The EUT 300 executes the test according to the execution frame, and sends back the response frame (S206).

tIFDev는 제 1 통신부(247)를 통해 수신한 응답 프레임으로부터 제 2 메시지(응답 메시지)를 추출/생성하며, 제 2 메시지(응답 메시지)는 tIFMng로 전송되어(S207), tTester로 전송된다(S208).The tIFDev extracts / generates a second message (response message) from the response frame received through the first communication unit 247, and the second message (response message) is transmitted as tIFMng (S207) ).

tTester는 제 2 데이터로부터 결과 데이터를 생성하며(S208), 결과 데이터는 tHostIF로 전송된다(S209). 전송된 결과 데이터는 시험명령부(100)의 컴퓨터로 전송되어 사용자에게 제공될 수 있다.tTester generates result data from the second data (S208), and the result data is transmitted to tHostIF (S209). The transmitted resultant data may be transmitted to the computer of the test command unit 100 and provided to the user.

이하, 본 발명의 일 실시예의 시험방법이 적용된 일 예제로서 피시험장치의 송수신기 인터페이스 시험 절차를 도 8 내지 도 9를 참조하여 구체적으로 설명하도록 한다.Hereinafter, as an example to which the test method of the embodiment of the present invention is applied, the transceiver interface test procedure of the EUT will be described in detail with reference to FIGS. 8 to 9. FIG.

도 8을 참조하면, 사용자가 시험을 요청할 경우, 피시험장치의 송수신기(즉, 제 2 통신부)의 인터페이스 기능점검을 위한 절차가 수행될 수 있다.Referring to FIG. 8, when the user requests the test, a procedure for checking the interface function of the transceiver of the EUT (i.e., the second communication unit) may be performed.

먼저, 시험 제어부(210)는 신호처리 구성요소(예를 들어, 제 1 통신부)에 대해서 피시험장치의 송수신기의 설정값을 설정하도록 요청할 수 있다.First, the test control unit 210 may request the signal processing component (e.g., the first communication unit) to set a set value of the transceiver of the device under test.

이에 대해, 신호처리 구성요소가 수신확인 응답을 보내올 경우, 시험 제어부(210)는 신호처리 구성요소에 피시험장치의 송수신기 인터페이스 시험을 시작하라는 메시지를 송신할 수 있다.On the other hand, if the signal processing component sends an acknowledgment, the test control unit 210 may send a message to the signal processing component to start the transceiver interface test of the EUT.

이에 대해, 피시험장치(300)는 신호처리 구성요소가 보내온 피시험장치의 송수신기의 설정값과 초기 설정값이 일치하는지 여부를 판단하여 판단결과를 신호처리 구성요소를 통해 시험 제어부(210)로 전송한다.On the other hand, the EUT 300 determines whether or not the set value of the transceiver of the EUT sent by the signal processing component matches the initial set value, and sends the determination result to the test control unit 210 through the signal processing component send.

판단결과가 긍정인 경우, 신호처리 구성요소와 피시험장치의 송수신기 간 연정 및 설정 기능 시험이 시작하게 된다. 그러나, 판단결과가 부정인 경우, 오류 메시지를 시험 명령부로 전송하여 사용자가 확인할 수 있게 하거나, 오류 메시지를 시험 제어부로 전송하여 시스템 자체적으로 오류를 분석하고 재시험을 수행할 수도 잇다.If the result of the determination is affirmative, the coarse and set function tests between the signal processing component and the transceiver of the EUT start. However, if the determination result is negative, the error message may be transmitted to the test command unit so that the user can confirm the error message, or the error message may be transmitted to the test control unit so that the system itself can analyze the error and perform the retest.

이어서, 도 9를 통해 상기 피시험장치의 송수신기 인터페이스 시험 절차를 구체적으로 설명한다.Next, a transceiver interface test procedure of the EUT will be described in detail with reference to FIG.

먼저, 시험실행부(200)는 대기 모드 상태로 존재한다(S400). 대기모드는 시험명령에 대한 입력이 없는 상태를 의미한다.First, the test execution unit 200 is in a standby mode (S400). Standby mode means that there is no input to the test command.

시험요청이 입력되는 경우, 시험실행부(200)는 시험절차를 로딩하고 시작한다(S401).If a test request is input, the test execution unit 200 loads and starts the test procedure (S401).

시험절차 시작에 따라 피시험장치(300)가 할당되고 로딩된다(S402). 이때, 피시험장치(300)의 상태를 확인하게 되며, 선택된 피시험장치(300)가 적절하지 않은 상태로 존재하는 경우, 결과값을 반환한다. 결과값 반환에 따라, 사용자 선택 또는 피시험장치 제어부(244)의 선택에 의해 새로운 피시험장치(300)가 선택될 수도 있다.At the start of the test procedure, the device under test 300 is allocated and loaded (S402). At this time, the state of the device under test 300 is checked. If the selected device under test 300 exists in an improper state, the result is returned. Depending on the return of the result value, the new device under test 300 may be selected by the user selection or by the selection of the device under test control 244.

이어서, 피시험장치(300)가 준비된 경우, 수신버퍼의 크기와 시험제어정보를 점검하기 위해, 피시험장치(300)로부터 데이터를 수신하기 위해서 제 1 통신부(247)를 패킷 수신 준비 상태로 설정한다(S403). 이때, 패킷 수신 버퍼를 할당하며 초기화한다.Next, when the EUT 300 is prepared, the first communication unit 247 is set to the packet reception ready state in order to receive data from the EUT 300 to check the size of the receiving buffer and the test control information (S403). At this time, a packet reception buffer is allocated and initialized.

그리고, 송신버퍼의 크기와 시험제어정보를 점검하며, 피시험장치(300)로 패킷을 송신한다(S404). 타이머제어부는 패킷 송신 기준 시간을 측정하여 경과할 경우 다시 패킷을 재송신하도록 한다.Then, the size of the transmission buffer and the test control information are checked, and the packet is transmitted to the device under test 300 (S404). The timer control unit measures the packet transmission reference time, and retransmits the packet again when elapsed.

패킷이 전송된 경우, 시험이 실행되며(S405), 시험 실행에 따라 피시험장치(300)로부터 패킷을 수신한다(S406). 수신된 패킷은 예를 들어, 100ms 이내로 수신되도록 설정될 수 있다.When the packet is transmitted, the test is executed (S405), and the packet is received from the device under test 300 according to the test execution (S406). The received packet may be set to be received within 100 ms, for example.

수신된 패킷은 시험제어부(210) 및 시험관리부(240)로 전송되고, 시험 절차는 종료 처리된다(S407). 시험 절차 종료시 피시험장치(300)의 동작이 종료되며, 수신된 패킷에 따라 결과 데이터가 생성된다.The received packet is transmitted to the test control unit 210 and the test management unit 240, and the test procedure is terminated (S407). At the end of the test procedure, the operation of the device under test 300 is terminated and result data is generated according to the received packet.

마지막으로, 결과데이터가 시험명령부(100)로 전송되어, 시험결과를 판정하게 된다(S408).Finally, the result data is transmitted to the test command unit 100 to determine the test result (S408).

이러한 일련의 시험 시나리오는 xml tag로 작성되어 시험제어기에 삽입되어, 시험제어기는 이러한 시나리오에 따라 동작하도록 시험관리부(240) 및 피시험장치(300)를 제어할 수 있다.This series of test scenarios may be written in an xml tag and inserted into the test controller so that the test controller can control the test manager 240 and the device under test 300 to operate in accordance with such scenarios.

이상으로 설명한 본 발명의 일 실시예는, 시험 시나리오를 분석하여 실행하는 모듈 하나를 탑재함으로써, 다양한 무기에 대한 시험을 실행할 수 있다. 그에 따라, 시험 장비의 복잡도를 감소시킬 수 있으며, 사용자 역시 더욱 간편한 프로세스로 시험 장비를 이용할 수 있다.The embodiment of the present invention described above can test various weapons by mounting one module for analyzing and executing the test scenarios. As a result, the complexity of the test equipment can be reduced and the user can also use the test equipment in a simpler process.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시 예들에 대하여 상세하게 설명하였지만, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것이 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. Therefore, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concept of the present invention defined in the following claims are also within the scope of the present invention.

100: 시험명령부
200: 시험실행부
210: 시험제어부
220: 제어클럭 생성부
230: 시험 시나리오 입력부
240: 시험관리부
241: 시험 시나리오 추출부
242: 상태 머신 제어부
243: 시험제어정보 저장부
244: 피시험장치 제어부
245: 타이머 제어부
246: 환경 모의 제어부
247: 제 1 통신부
248: 데이터 수집 및 계측부
300: 피시험장치
310: 제 2 통신부
320: 신호처리부
100: Test command section
200: Test execution unit
210:
220: Control clock generation unit
230: Test scenario input unit
240:
241: Test scenario extracting unit
242:
243: Test control information storage unit
244: EUT controller
245:
246: Environment simulation control unit
247: first communication section
248: Data collection and measurement unit
300: Equipment under test
310: second communication section
320:

Claims (12)

사용자로부터 피시험장치의 시험 시나리오를 입력받는 단계;
상기 입력된 시험 시나리오에 따라 상기 피시험장치를 구동하기 위한 가상의 상태 머신을 생성하는 단계;
상기 입력된 시험 시나리오에 따라 등록된 피시험장치 중 적어도 하나를 선택하는 단계;
상기 입력된 시험 시나리오에 따라 시험제어정보를 생성하고 저장하는 단계;
상기 시험제어정보에 따라 시험실행 메시지를 생성하는 단계;
상기 선택된 적어도 하나의 피시험장치로 상기 시험실행 메시지를 패킷 송신하는 단계; 및
상기 적어도 하나의 피시험장치로부터 시험결과 메시지를 패킷 수신하여 사용자에게 제공함으로써 시험을 종료하는 단계;
를 포함하되, 상기 상태 머신은 상기 피시험장치의 상태를 파악하고, 상기 시험 시나리오의 각 절차 및 상기 피시험장치에 대한 전이조건을 판단하며, 상기 피시험장치의 시험을 수행하는 것을 특징으로 하는 무기용 피시험장치의 시험방법.
Receiving a test scenario of a device under test from a user;
Generating a virtual state machine for driving the EUT according to the input test scenario;
Selecting at least one of the plurality of devices to be tested according to the input test scenario;
Generating and storing test control information according to the input test scenario;
Generating a test execution message according to the test control information;
Transmitting a packet of the test execution message to the selected at least one EUT; And
Terminating the test by receiving a test result message from the at least one EUT and providing the test result message to the user;
Wherein the state machine grasps the state of the device under test, determines each procedure of the test scenario and the transition condition for the device under test, and performs the test of the device under test Test method for apparatus under test for inorganic use.
제 1 항에 있어서,
상기 피시험장치는 광학 무기, 전자 무기, 전기 무기, 음향 무기, 자기 무기, 음파 무기, 방사능 무기, 화학 무기, 유도 무기, 수중 무기, 항공 무기 및 우주 무기 중 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 무기용 피시험장치의 시험방법.
The method according to claim 1,
Characterized in that the device under test is at least one of an optical weapon, an electronic weapon, an electric weapon, an acoustic weapon, a magnetic weapon, a sonic weapon, a radioactive weapon, a chemical weapon, an induced weapon, Test method of the EUT.
제 1 항에 있어서,
상기 사용자로부터 피시험장치의 시험 시나리오를 입력받는 단계는,
상기 사용자에 의해 새로운 시험 시나리오를 입력받거나 데이터베이스에 등록된 복수 개의 시험 시나리오 중 선택된 적어도 하나의 시험 시나리오를 입력받는 것을 특징으로 하는 무기용 피시험장치의 시험방법.
The method according to claim 1,
Receiving a test scenario of the device under test from the user,
Wherein the at least one test scenario selected from among a plurality of test scenarios received as input by the user or a new test scenario registered in the database is input.
제 1 항에 있어서,
상기 시험 시나리오는,
상기 피시험장치 및 피시험장치를 제어하는 제어구성요소의 상태를 점검하는 시나리오, 상기 점검 순서에 대한 시나리오, 상기 점검 대상에 대한 시나리오 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 무기용 피시험장치의 시험방법.
The method according to claim 1,
In the test scenario,
Wherein the at least one of the plurality of apparatuses includes at least one of a scenario for checking a state of a control component that controls the EUT and the EUT, a scenario for the checking procedure, and a scenario for the object to be inspected Test Methods.
제 1 항에 있어서,
상기 시험 시나리오는 xml 태그 형태로 제공되는 것을 특징으로 하는 무기용 피시험장치의 시험방법.
The method according to claim 1,
Wherein the test scenario is provided in the form of an xml tag.
삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 선택된 적어도 하나의 피시험장치로 상기 시험실행 메시지를 패킷 송신하는 단계 전,
상기 피시험장치로부터의 패킷 수신을 준비하기 위해 패킷 수신 버퍼를 할당하고 초기화하는 단계;
를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 무기용 피시험장치의 시험방법.
The method according to claim 1,
Before sending a packet of the test execution message to the selected at least one EUT,
Allocating and initializing a packet reception buffer to prepare for receiving a packet from the EUT;
Wherein the method further comprises the steps of:
사용자로부터 피시험장치의 시험 시나리오를 입력받는 사용자 입력 장치;
상기 입력된 시험 시나리오에 부합되는 피시험장치를 선택하고, 상기 피시험장치의 점검 절차를 수행하며, 상기 피시험장치와 패킷 통신을 수행함으로써 시험을 명령하고 시험결과를 수집하는 시험실행부; 및
상기 시험실행부의 명령에 따라 시험을 수행하며 시험결과를 상기 시험실행부로 송신하는 피시험장치;
를 포함하되, 상기 시험실행부는
상기 입력된 시험 시나리오에 따라 상기 피시험장치를 구동하기 위한 가상의 상태 머신을 생성하는 상태 머신 제어부;
상기 입력된 시험 시나리오에 따라 등록된 피시험장치 중 적어도 하나를 선택하는 피시험장치 제어부;
상기 입력된 시험 시나리오에 따라 시험제어정보를 생성하고 저장하는 시험제어정보 저장부;
상기 시험제어정보에 따라 시험실행 메시지를 생성하는 시험제어부;
상기 선택된 적어도 하나의 피시험장치로 상기 시험실행 메시지를 패킷 송신하며, 상기 적어도 하나의 피시험장치로부터 시험결과 메시지를 패킷 수신하는 통신부; 및
상기 사용자에게 상기 시험결과 메시지를 분석하여 제공하는 데이터 수집 및 계측부;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 무기용 피시험장치의 시험 시스템.
A user input device for receiving a test scenario of a device under test from a user;
A test execution unit for selecting a device under test conforming to the inputted test scenario, performing a checking procedure of the device under test, commanding a test by performing packet communication with the device under test, and collecting test results; And
A test device for performing a test in accordance with an instruction of the test execution section and transmitting a test result to the test execution section;
, Wherein the test execution unit
A state machine controller for generating a virtual state machine for driving the EUT according to the input test scenario;
An EUT controller for selecting at least one of the EUTs registered according to the input test scenario;
A test control information storage unit for generating and storing test control information according to the input test scenario;
A test control unit for generating a test execution message according to the test control information;
A communication unit for packet-transmitting the test execution message to the selected at least one EUT and receiving a test result message from the at least one EUT; And
A data collection and measurement unit for analyzing and providing the test result message to the user;
Wherein the test apparatus comprises:
삭제delete 제 8 항에 있어서,
상기 피시험장치는 광학 무기, 전자 무기, 전기 무기, 음향 무기, 자기 무기, 음파 무기, 방사능 무기, 화학 무기, 유도 무기, 수중 무기, 항공 무기 및 우주 무기 중 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 무기용 피시험장치의 시험시스템.
9. The method of claim 8,
Characterized in that the device under test is at least one of an optical weapon, an electronic weapon, an electric weapon, an acoustic weapon, a magnetic weapon, a sonic weapon, a radioactive weapon, a chemical weapon, an induced weapon, Test system of the EUT.
제 8 항에 있어서,
상기 시험 시나리오는,
상기 피시험장치 및 피시험장치를 제어하는 제어구성요소의 상태를 점검하는 시나리오, 상기 점검 순서에 대한 시나리오, 상기 점검 대상에 대한 시나리오 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 무기용 피시험장치의 시험시스템.
9. The method of claim 8,
In the test scenario,
Wherein the at least one of the plurality of apparatuses includes at least one of a scenario for checking a state of a control component that controls the EUT and the EUT, a scenario for the checking procedure, and a scenario for the object to be inspected Test system.
제 8 항에 있어서,
상기 시험 시나리오는 xml 태그 형태로 제공되는 것을 특징으로 하는 무기용 피시험장치의 시험시스템.
9. The method of claim 8,
Wherein the test scenario is provided in the form of an xml tag.
KR1020130160765A 2013-12-20 2013-12-20 Testing method and testing system of device under test for weapon KR101559562B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130160765A KR101559562B1 (en) 2013-12-20 2013-12-20 Testing method and testing system of device under test for weapon

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130160765A KR101559562B1 (en) 2013-12-20 2013-12-20 Testing method and testing system of device under test for weapon

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150072992A KR20150072992A (en) 2015-06-30
KR101559562B1 true KR101559562B1 (en) 2015-10-12

Family

ID=53518815

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130160765A KR101559562B1 (en) 2013-12-20 2013-12-20 Testing method and testing system of device under test for weapon

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101559562B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101705347B1 (en) 2016-03-17 2017-02-09 엘아이지넥스원 주식회사 Automatic inspection apparatus and method of weapon system

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102066972B1 (en) * 2018-11-06 2020-01-16 주식회사 한화 Data analysis device and operating method of the same
KR102512342B1 (en) * 2021-02-23 2023-03-22 엘아이지넥스원 주식회사 Method and Apparatus for Checking Inspection Objects That Processes Encryption or Decryption by Storing The Secret Key in The Cache Memory

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101050732B1 (en) * 2010-10-22 2011-07-20 엘아이지넥스원 주식회사 An apparatus of checking a ignition signal and a method of checking the ignition signal thereof

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101050732B1 (en) * 2010-10-22 2011-07-20 엘아이지넥스원 주식회사 An apparatus of checking a ignition signal and a method of checking the ignition signal thereof

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101705347B1 (en) 2016-03-17 2017-02-09 엘아이지넥스원 주식회사 Automatic inspection apparatus and method of weapon system

Also Published As

Publication number Publication date
KR20150072992A (en) 2015-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105302716B (en) Test method, device under the development mode of interflow
CA2702762C (en) Method and apparatus for simulating aircraft data processing systems
CN102141962B (en) Safety distributed test framework system and test method thereof
KR101027971B1 (en) Mobile communication terminal capable of testing application and method thereof
CN106886494B (en) Automatic interface testing method and system
CN111124850A (en) MQTT server performance testing method, system, computer equipment and storage medium
CN103150238B (en) A kind of service request processing method, simulated performance method of testing and device
KR101559562B1 (en) Testing method and testing system of device under test for weapon
CN106484623A (en) A kind of method of software test, apparatus and system
CN104515964B (en) Method for shooting magnetic resonance image data
CN102981949A (en) Method for on-line automatic tests of server
CN104657270A (en) Method and system for testing
CN109117368A (en) A kind of interface test method, electronic equipment and storage medium
CN108984403A (en) The verification method and device of FPGA logical code
CN105785312A (en) Method and system for automatically checking functions of smart ammeters
CN107102949A (en) Application program off-line test method and instrument
US8880278B2 (en) Method and device for accessing maintenance functions of an aircraft from a mobile maintenance terminal
KR101270582B1 (en) Performance vertification device for gps/ins integrated navigation system
CN113010358A (en) LTPB (Low temperature pluggable) bus detection device applied to avionics system and method for testing flow description language of LTPB bus detection device
KR101862617B1 (en) System of testing iot sensor for power facility management
CN110971478A (en) Pressure measurement method and device for cloud platform service performance and computing equipment
US20230035673A1 (en) Information processing system, information processing apparatus, use method of information processing apparatus, user terminal, and program therefor
CN109976992A (en) A kind of automatic software test method and system
KR101174716B1 (en) Apparatus and system for verifying of equipment
CN113127884A (en) Virtualization-based vulnerability parallel verification method and device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180809

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190917

Year of fee payment: 5