KR101511726B1 - 이온화 전원에 대한 계량기 동작을 자가 교정하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents

이온화 전원에 대한 계량기 동작을 자가 교정하기 위한 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법은, 이온화 시스템을 교정 모드에 위치시키는 단계와; 하나 이상의 조정 범위를 통해 이온화 시스템을 스테핑(stepping)하는 단계와; 각 단계에서 교정 데이터를 수집하고 상기 교정 데이터를 메모리에 저장하는 단계와; 이온화 시스템을 동작 모드에 위치시키는 단계와; 이온화 시스템의 출력에 관한 실시간 데이터를 수집하는 단계와; 실시간 데이터를 교정 데이터와 비교하고 그 사이의 차이 값을 결정하는 단계와; 이온화기의 상대적인 상태를 결정하기 위해 상기 차이 값을 이용하는 단계를 포함한다.

Description

이온화 전원에 대한 계량기 동작을 자가 교정하기 위한 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR SELF CALIBRATING METER MOVEMENT FOR IONIZATION POWER SUPPLIES}
본 출원은 2007년 11월 19일에 출원된 "이온화 전원에 대한 계량기 동작을 자가 교정하기 위한 방법 및 장치(Method And Apparatus For Self Calibrating Meter Movement For Ionization Power Supplies)"라는 명칭의 미국 가특허 출원 번호 61/003,797의 이익을 청구하며, 이 문헌의 전체 내용은 본 명세서에 병합되어 있다.
공기 이온화는 비-전도성 물질 및 절연된 전도체 상에 정전하를 생성하거나 제거하는 효율적인 방법이다. 공기 이온화기는 주변 대기에서의 대량의 양이온 및 음이온을 생성하며, 이 양이온 및 음이온은 공기속에서 전하의 이동 운반체 역할을 한다. 이온이 공기를 통해 흐를 때, 이온은 반대로 대전된 입자 및 표면으로 이끌린다. 정전기적으로 대전된 표면의 생성 또는 중화는 이러한 프로세스를 통해 빠르게 달성될 수 있다.
공기 이온화는 전기 이온화기를 이용하여 수행될 수 있으며, 이러한 전기 이 온화기는 코로나 방전으로 알려진 프로세스로 이온을 생성한다. 전기 이온화기는, 전계가 주변 공기의 유전 세기를 극복할 때까지 날카로운 지점 주위의 전계를 강화시킴으로써 공기 이온을 생성한다. 음의 코로나 방전은 전자가 전극으로부터 주변 공기로 흐를 때 발생한다. 양의 코로나 방전은 공기 분자로부터 전극으로 전자가 흘러 발생한다.
정전기 대전 시스템, 이온화 시스템, 또는 교류(AC) 또는 직류(DC) 전하 중화 시스템과 같은 이온화 디바이스는 이온화 바(ionizing bar), 공기 이온화 송풍기, 공기 이온화 노즐 등과 같은 많은 형태를 취하고, 양이온 및 음이온을 작업 공간(workspace) 내로 또는 영역의 표면상으로 방출함으로써 정전하를 생성하거나 중화하는데 이용된다. 이온화 바는 일반적으로 종이 인쇄(paper printing), 폴리머 시트 물질, 또는 플라스틱 백의 제조와 같은 연속적인 웹(web) 동작에 사용된다. 공기 이온화 송풍기 및 노즐은, 일반적으로 정전기 방전(ESD)에 민감한, 하드 디스크 드라이브, 집적 회로 등과 같은 전자 기기를 조립하기 위한 작업 공간에서 사용된다. 정전기 대전 시스템은 일반적으로 잡지 또는 루스 리프식 종이(loose leaf paper)와 같은 종이 제품을 천공하는데(pinning) 사용된다.
이온화기는 일반적으로 고전압 전원에 의해 전력 공급되는(powered) 적어도 하나의 이온화 방출기를 포함한다. 이온화 방출기에 의해 생성된 전하는 고전압 전원을 통해 이온화 방출기로 흐르는 전류에 비례한다. 시간이 지나면서, 이온화기는 파편(debris)을 축적할 수 있다. 이온화기의 성능을 최적으로 유지시키기 위해, 파편을 제거하도록 이온화기를 세척(clean)할 필요가 있다. 이온화기가 파편을 축적함에 따라, 이온화기의 전하는 감소하므로, 전압 공급부로부터 이온화기로 흐르는 전류도 또한 감소한다. 종래에, 전압 공급부로부터 이온화기로 흐르는 전류는 고전압 변압기 또는 공급부의 리턴 레그(return leg)를 이용함으로써 측정될 수 있었으며, 이것은 공급부로부터의 전류 합(sum current)이 측정될 수 있게 하였다.
간략히 언급하면, 본 발명의 실시예는 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법을 포함한다. 상기 방법은 이온화 시스템을 교정 모드에 위치시키는 단계와, 하나 이상의 조정 범위를 통해 이온화 시스템을 스테핑(stepping)하는 단계와, 각 단계에서 교정 데이터를 수집하고 교정 데이터를 메모리에 저장하는 단계와, 이온화 시스템을 동작 모드에 위치시키는 단계와, 이온화 시스템의 출력에 관한 실시간 데이터를 수집하는 단계와, 실시간 데이터를 교정 데이터와 비교하고 이들 사이의 차이 값을 결정하는 단계와, 이온화기의 상대적인 상태를 결정하기 위해 차이 값을 이용하는 단계를 포함한다.
본 발명의 추가 실시예는 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하기 위한 장치를 포함한다. 상기 장치는 교정 모듈과, 하나 이상의 조정 범위를 통해 이온화 시스템을 스테핑하는 범위 모듈을 포함한다. 제 1 수집 모듈은 각 단계에서 교정 데이터를 수집하고, 교정 데이터를 메모리에 저장한다. 동작 모듈은 이온화 시스템을 동작 모드에 위치시킨다. 제 2 수집 모듈은 이온화 시스템의 출력 에 관한 실시간 데이터를 수집한다. 비교 모듈은 실시간 데이터를 교정 데이터와 비교하고, 시스템의 동작 포인트에 기초하여 이들 사이의 차이 값을 결정하고, 이온화기의 상대적인 상태를 결정하기 위해 그 차이 값을 이용한다.
전술한 요약 및 본 발명의 바람직한 실시예의 다음의 상세한 설명은 첨부 도면과 연계하여 읽을 때 더 잘 이해될 것이다. 본 발명을 예시하기 위해, 현재 바람직한 실시예가 도면에 도시된다. 그러나, 본 발명이 도시된 정확한 배열 및 수단에 한정되지 않음이 이해되어야 한다.
베이스라인 전류로부터의 상대적인 증가 및 감소는 레벨에서의 감소로서 계량기 상에 보여진다. 베이스라인 전류로부터의 상대적인 증가 및 감소는, 이온화기 상에서 컨덕턴스로 인한 실제 증가 또는 절연 파편으로 인한 감소가 있는 지의 여부에 상관없이 감소로서 보여진다. 이들은 또한 양쪽 유형의 파편이 전하를 중화시킬 수 있는 이온화기의 능력에 손상을 주는 악영향을 초래하기 때문에 그렇게 보여진다. 일반적인 응용에서, 이것은 전도성 또는 절연성 파편 또는 먼지로 인해 이온화기 바(ionizer bar)의 효율 감소를 보여줌으로써 사용자에게 도움을 준다.
특정한 용어는 본 명세서에 단지 편의를 위해 사용되고, 본 발명을 제한하는 것으로 취한 것은 아니다. 도면에서, 동일한 참조 번호는 여러 도면 전체에 동일한 요소를 나타내기 위해 사용된다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따라 이온화 디바이스(10)의 개략적인 블록도 이다. 이온화 디바이스의 예는 정전기 대전 시스템, 이온화 시스템, 및 교류(AC) 또는 직류(DC) 전하 중화 시스템을 포함한다. 이온화 디바이스(10)는 적어도 하나의 고전압(HV) 전원(13)을 포함하는 이온화기 전원(12)을 포함한다. HV 전원(13)은 약 3kV 내지 약 60kV의 AC 또는 DC 전압을 공급할 수 있다. 이온화기 전원(12)은 제어기 또는 제어기 모듈(14){간략함을 위해, 이후부터 "제어기(14)"로서 언급됨}을 더 포함한다. 하나의 바람직한 실시예에서, 제어기(14)는 마이크로프로세서이다. 다른 바람직한 실시예에서, 제어기(14)는 감지 회로이다. 이온화 디바이스(10)는 도 1에 이온화기 바로서 도시된 적어도 하나의 이온화 방출기(16)를 더 포함한다. 방출기(16)는 커넥터 시스템(18)에 의해 이온화기 전원(12)에 연결된다. 이온화기 전원(12)은 이온화 방출기(16)에 전력 공급하기 위해 입력 전압(20)을 공급한다. 입력 전압(20)은 전압 레벨, 전류 레벨, 주파수, 최대 전압, 최소 전압, 최대 전류, 최소 전류, 또는 펄스 시간과 같은 동작 파라미터에 의해 기술될 수 있다. 커넥터 시스템(18)은, 본 명세서에 병합된, "고전압 전원 커넥터 시스템(High Voltage Power Supply Connector System)"이라는 명칭의 공동 계류중인 미국 출원 번호 11/763,270에 기재된 바와 같이, 이온화기 전원(12)에 있는 제어기(14)에 방출기(16)의 하나 이상의 특성을 제공할 수 있다. 제어기(14)는 연결된 방출기(16)를 위한 정확한 설정으로 조정하기 위해 HV 전원(13)의 하나 이상의 동작 파라미터를 제어하는 검출 논리 회로(detection logic)(22)를 갖는다. 대안적인 실시예에서, 검출 논리 회로(22)는, 커넥터 시스템(18)이 커넥터 시스템(18)에 제공된 특성에 기초하여 HV 전원(13)에서의 아날로그 제어 전압을 직접 변경하도록 커넥터 시 스템(18)에 포함될 수 있다. 방출기 또는 이온화기 바(16)가 검출되지 않으면, HV 전원(13)은 바람직하게 출력 전압을 자동으로 차단한다.
HV 전원 및 이온화기를 갖는 DC, 펄스, 또는 AC 이온화기 시스템은 일반적으로 시스템의 상대적인 성능을 반영하기 위해 계량기 동작 또는 바 그래프 디스플레이를 갖는다. 이러한 유형의 표시기(indicator)는 이온화기가 실행될 때, 파편 및 먼지가 수집될 수 있고 전하를 중화시키는 이온화기의 능력에 손상을 줄 수 있기 때문에 중요하다. 이러한 파편은 절연성이거나 전도성일 수 있으며, 이것은 각각 이온화기 바로부터 전류 흐름을 제한하거나 증가시킨다. 현재 이용가능한 시스템은 전위차계를 이용하여 수동으로 조정되고, 이것은 최종 사용자에게 혼란을 주거나 및/또는 성가시게 할 수 있다.
본 발명의 하나 이상의 바람직한 실시예에 따라, 제어기(14)를 갖는 이온화기 시스템(10)을 전개하는 것은 계량기 동작이 버튼의 터치 시에 교정되도록 한다. 제어기(14)는 바람직하게 모든 응용 및 범위에 대해 적절한 동적 범위로 설계된다. 기본적으로, 제어기(14)는 바람직하게, 전류 흐름이 고유하게 차이나는, 상이한 길이의 바에 대한 데이터를 정확히 수집하는데 충분한 범위를 포함한다. 계량기 동작을 교정하기 위해, 제어기(14)는 이온화 시스템(10)의 출력에 대한 베이스 라인 정보를 모은다. 이온화기 전원(12)은 내부에 저장된 동작 포인트 또는 스텝(step)의 범위를 통해 순환된다. 값은 각 동작 포인트 또는 스텝에서 데이터 포인트로서 기록되고, 내부에 저장된다. 기록된 값에 기초하여, 스케일링(scaling) 수식이 전개되고, 계량기 동작에 적용된다. 계량기 동작은 무선, 디지털 포트, 또는 아날로그 출력을 이용하여 제어기(14)에 의해 제어된다. 조정 범위는 다음의 동작 모드, 즉 속도, 하이브리드(hybrid), 및 거리 중 하나 또는 이들의 조합일 수 있다.
본 기술의 하나 이상의 바람직한 응용에서, 베이스라인 전류는 다수의 동작 포인트에서 측정되고 저장된다. 계량기 동작은 베이스라인 레벨에서 완전한 스케일로 판독되도록 조정된다. 베이스라인 전류로부터의 상대적인 증가 및 감소는 레벨에서의 감소로서 계량기 상에 보여진다. 베이스라인 전류로부터의 상대적인 증가 및 감소는, 이온화기 상에서 컨덕턴스로 인한 실제 증가 또는 절연 파편으로 인한 감소가 있는 지의 여부에 상관없이 감소로서 보여진다. 이들은, 양쪽 유형의 파편이 전하를 중화시킬 수 있는 이온화기의 능력에 손상을 주는 악영향을 초래하기 때문에 그렇게 보여진다. 일반적인 응용에서, 이것은 전도성 또는 절연성 파편 또는 먼지로 인해 이온화기 바의 효율이 감소하는 것을 보여줌으로써 사용자에게 도움을 준다. 베이스라인 레벨로부터 파편 또는 먼지의 상대적인 레벨을 보여주는 디스플레이, 또는 효율의 다른 표시기와 같은 다른 표시 디스플레이는 본 발명의 범주 내에 있다.
다시 도 1을 참조하면, 이온화기 전원(12)은 사용자 입력, 센서 데이터, 마이크로프로세서 데이터, 또는 다른 원격 데이터를 포함하는 하나 이상의 소스로부터 입력(24)을 수신한다. 시스템은 사용자, 센서, 마이크로프로세서로부터 데이터에 응답하여, 중화의 목표 영역(26)에 대한 데이터를 수집한다. 바람직한 실시예에서, 인에이블(enable) 신호(28)는 고전압 펄스의 타이밍을 설정한다. Vprogram +/- 신호(30)는 출력 레벨을 설정한다. 바람직한 실시예에서, 센서(32)는 중화의 목표 영역 또는 이동하는 웹에 대한 데이터를 수집한다.
도 2는 교정 데이터의 수집을 예시하는 흐름도이다. 입력은 사용자, 마이크로프로세서, 또는 이온화 시스템(10)에 결합되거나 이에 일체로 된 다른 디바이스로부터 수신된다. 흐름도에 도시된 예에서, 교정 버튼은 교정 모드에 들어가기 위해 눌러진다(224). 그 후에, 교정 모듈 또는 시퀀스(240)가 시작된다. 이 시퀀스 동안, 이온화기의 복수의 베이스라인 출력 전류는 이온화기로의 고전압 전원의 하나 이상의 포인트에서 측정된다. 이들 출력의 측정은 측정된 각 포인트에서 베이스라인 교정 데이터로서 컴파일링(compiled)된다. 측정된 포인트는 사용자, 마이크로프로세서, 또는 이온화 시스템에 결합되거나 이에 일체로 된 다른 커넥터 시스템에 의해 미리 프로그램되거나 프로그래밍될 수 있는 셋포인트이다. 메모리 내의 셋포인트는, 바람직하게 범위를 균일하게 분할하고 셋포인트를 결정함으로써 모든 설정 범위를 커버한다. 일실시예에서, 250개의 셋포인트는 베이스라인 전류 데이터를 컴파일링하기 위해 메모리에 저장된다. 베이스라인 전류는 각 포인트(248)에서 측정되어 저장된다.
도 1 및 도 2를 참조하여, 입력은 수신되어, 선택된 이온화 바의 베이스라인 데이터의 교정을 개시한다. 바람직한 실시예에서, 교정 시퀀스는 시작되고(240), 복수의 포인트에서의 이온화기의 출력 전류는 각 포인트에서 측정되어 저장된다. 포인트, 또는 셋포인트는 메모리 또는 입력 소스로부터 검색가능하다(258). 셋포인트는 모든 설정 범위를 커버한다. 모든 설정 범위를 커버하기 위해, 그 범위는 균일하게 분할되고, 셋포인트가 결정된다. 바람직한 실시예에서, 100 내지 300개의 셋포인트가 측정되어, 셋포인트 어레이로서 저장된다(260). 더 바람직한 실시예에서, 250개의 셋포인트가 측정되어 저장된다. 전원은 각 포인트에 대해 설정되고(262), 데이터는 각 포인트에서 샘플링된다(264). 데이터는 선택된 이온화 바에 대한 베이스라인 값을 컴파일링하도록 수집된다. 더 이상 구현할 셋포인트가 없고(246) 데이터가 각 포인트에서 수집될 때, 교정 데이터가 저장된다(248). 다른 바람직한 실시예에서, 데이터는 수집 프로세스를 통해 저장된다. 이러한 프로세스는 선택된 이온화기에 대한 전원을 교정한다. 바람직한 실시예에서, 교정 동안, 사용자, 센서, 또는 마이크로프로세서 입력에 대한 응답 프로세스는 중지된다. 더욱이, 이러한 교정 동안, 전류의 출력 값은 선택된 이온화기 바에 대한 베이스라인 값으로 재설정된다(245). 그런 후에 전원은 정상 동작으로 복귀한다(249).
도 3은, 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 이온화 시스템의 셋포인트 조정을 통해 실시간 샘플링을 수집하고, 또한 비교 모듈, 또는 비교 프로세스와 연관된 제 2 수집 모듈과 연관된 흐름도이다. 도 3에서, 저장된 교정 데이터가 각 루프 동안 재호출되도록 루프에서 셋포인트 조정이 이루어진다. 재호출된 데이터 포인트는 적용된 셋포인트, 또는 동작 포인트에 가장 가까운 전원으로 얻어진 포인트이다. 도 4는, 사용되는 단 하나의 저장된 교정 값이 있도록(448), 즉 고정된 셋포인트 또는 동작 포인트에 가장 가까운 교정 값이 있도록(366) 고정된 셋포인트를 통한 실시간 샘플링의 수집 및 비교 프로세스와 연관된 흐름도이다. 도 3 및 도 4에서 실질적으로 유사한 단계는 동일한 참조 번호로 표시된다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따라, 전원은 아날로그-디지털 판독을 일정하게 샘플링한다(364). 샘플링은 일정하거나 간헐적일 수 있다. 측정된 셋포인트에 기초하여, 교정 데이터는 그러한 셋포인트에 대해 저장된 베이스라인 값으로부터 그러한 셋포인트에 대해 검색된다(368). 절대치의 백분율 차이는 셋포인트에서 저장된 값 및 실시간 판독값으로부터 계산된다(370). 바람직한 실시예에서, 검색된 Ical은 그러한 셋포인트에서 베이스라인 교정 측정치이다. 검색된 Ical은 100%의 값으로 할당된다. 100%으로부터의 에러가 계산된다. 바람직한 실시예에서, 차이를 결정하는데 사용된 계산은 다음과 같다:
ID = [Ical - Irt]
여기서 ID는 베이스라인 교정 측정치(Ical)에서 실시간 측정치(Irt)를 뺀 절대값이다. 베이스라인 교정으로부터 백분율 차이(E%)는 다음 수학식에 의해 계산된다(372):
E% = 100 * (1-(ID / Ical)
백분율 차이의 계산시, 이온화기 전원의 계량기 또는 디스플레이는 갱신된다(374). 이온화기 전원에 연결된 사용자 인터페이스는 또한 백분율 차이(E%)를 디스플레이하도록 갱신된다. 백분율 차이(E%)는 선택된 이온화된 바에 대한 임계치에 대해 비교된다(376). 임계치가 초과될 때 세척 바 표시기가 조명된다(378). 본 발명의 다양한 바람직한 실시예에서, 이온화기 바가 세척되어야 하는 한계에 대한 임계치는 사용자, 센서, 마이크로프로세서에 의해 구성되거나, 이온화기 전원에 결합 되거나 이내에 위치된 소프트웨어에 의해 설정될 수 있다. 본 발명의 바람직한 실시예에서, 전류는 디스플레이 상에서 모니터링되고, 세척 바 표시기는 전류가 Ical의 교정 값으로부터 60%의 E%에 의해 벗어날 때 조명된다.
도 5는 이온화 시스템의 계량기 동작의 도시이다. 도 5는 본 발명의 계량기 동작 세부사항 및 세척 바 표시기를 디스플레이하는 하나의 바람직한 사용자 인터페이스(500)를 도시한다. 도 5의 계량기 동작 표시기에서, 내부 백분율 스케일(550)은 최우측에 디스플레이되고, 내부 백분율 스케일에 숫자가 할당되고, 이러한 내부 백분율 스케일은, 이온화기의 베이스라인 교정치에 대한 이온화기의 실시간 출력치로의 낮은 편차로부터 높은 편차로의 우선권(priority)을 간단한 수치 스케일(552)상에 표시한다. 백분율 차이가 증가함에 따라, 일련의 표시기 조명(554)은 최저 편차로부터 최대 편차까지 조명된다. 포인트 백분율 차이가 임계치를 초과할 때, 세척 바 광원(556)은 조명된다. 이온화기 바가 세척될 때, 시스템은 재설정된다. 몇몇 바람직한 실시예에서, 시스템은 이온화기 바의 세척 없이 재설정될 수 있다.
도 6은 이온화 시스템에 대한 베이스라인 값 및 조정 범위의 표(600)이다. 본 발명의 바람직한 실시예에서, 전원은 부착되는 이온화기 바 유형을 구성한다. 바람직한 실시예에서, 전원은 커넥터 시스템을 이용하여 부착된 바 유형을 자동으로 구성한다. 이 실시예에서, 이온화기 바 유형은 상이한 동작 거리에 대해 최적화된 상이한 핀 간격(pin spacing)을 갖는다. 전원은 도 6의 표(600)에 표시된 바와 같이 상이한 주파수 및 출력 전압에서 바를 실행한다. 교정을 시작하기 전에, 이온화기 바는 원하는 위치에 설치되어야 한다. 교정 동안, 아날로그-디지털 판독치가 모아진다. 이러한 판독은 새로운 상태에서 바의 성능, 또는 베이스 라인의 상태를 반영하고, 설치의 다른 인자를 고려한다. 예를 들어, 하나의 그러한 인자는 접지된 금속 표면에 대한 바의 근접도이다. 고려되고 보상되는 다른 인자는 이온화기 바 길이를 포함한다. 더 짧은 바는 더 적은 수의 방출기 핀을 갖고, 더 낮은 전류에서 동작하는 반면, 더 긴 바는 더 많은 수의 핀을 갖고, 더 높은 전류에서 동작한다. 자동 교정 사이클 동안, 이러한 인자가 고려되고, 필요시, 베이스라인 데이터에서 정정된다. 이온화기 바가 설치될 때 이온화기 전원이 이온화기 바의 성능을 측정하기 때문에, 이온화기 전원은, 사용자 인터페이스 또는 사용자 디스플레이를 포함하는, 도 5의 계량기 동작을 자동으로 스케일링하기 위해 교정을 이용할 수 있다. 따라서, 전위차계를 조정할 필요가 없거나, 다른 경우 전원을 "조절(tweak)"할 필요가 없다.
본 발명의 넓은 개념에서 벗어나지 않고 전술한 실시예에 대해 변화가 이루어질 수 있다는 것이 당업자에게 인식될 것이다. 그러므로, 본 발명이 개시된 특정 실시예에 한정되지 않지만, 첨부된 청구항에 의해 한정된 바와 같이 본 발명의 사상 및 범주 내에서 이러한 변형을 포함하도록 의도된다는 것으로 이해된다.
상술한 바와 같이, 본 발명은 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법 및 장치 등에 이용된다.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 2극 펄스 이온화 시스템을 개략적으로 도시한 블록도.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 이온화 시스템의 교정 데이터의 수집과 연관된 흐름도.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 이온화 시스템의 셋포인트 조정을 통한 실시간 샘플링의 수집 및 비교 프로세스와 연관된 흐름도.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 이온화 시스템의 고정된 셋포인트 조정을 통한 실시간 샘플링의 수집 및 비교 프로세스와 연관된 흐름도.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 이온화 시스템의 계량기 동작을 도시한 도면.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 이온화 시스템에 대한 베이스라인 값 및 조정 범위를 도시한 표.

Claims (26)

  1. 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법으로서,
    a) 이온화 시스템을 교정 모드에 위치시키는 단계와;
    b) 하나 이상의 조정 범위를 통해 이온화 시스템을 스테핑(stepping)하는 단계와;
    c) 각 단계에서 교정 데이터를 수집하고 상기 교정 데이터를 메모리에 저장하는 단계와;
    d) 이온화 시스템을 동작 모드에 위치시키는 단계와;
    e) 이온화 시스템의 출력에 관한 실시간 데이터를 수집하는 단계와;
    f) 실시간 데이터를 교정 데이터와 비교하고 그 사이의 차이 값을 결정하는 단계와;
    g) 이온화기의 상대적인 상태를 결정하기 위해 상기 차이 값을 이용하는 단계를
    포함하는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 출력은 이온화 시스템의 출력 전류인, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 조정 범위 중 하나는 이온화 시스템의 출력 전압인, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 조정 범위 중 하나는 이온화 시스템의 듀티 사이클(duty cycle)인, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 조정 범위 중 하나는 이온화 시스템의 주파수인, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  6. 제 1항에 있어서, 상기 이온화 시스템은, 이온화 시스템의 출력 전압 및 이온화 시스템의 듀티 사이클을 포함하는 적어도 2개의 조정 범위를 통해 스테핑되는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  7. 제 1항에 있어서,
    상대적인 이온화기 상태의 표시기(indicator)를 제어하도록 차이값을 이용하는 단계를 더 포함하는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  8. 제 1항에 있어서, 상기 메모리는 비휘발성 메모리이고, 상기 교정 데이터는 이를 통해 이온화기에 대한 전력이 턴 오프되는 경우라도 저장된 상태로 유지되는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  9. 제 1항에 있어서, 상기 이온화기는 하나 이상의 이온화 핀을 포함하고, 상기 방법은 이온화 핀이 세척된 후에 단계(a) 내지 단계(g)를 반복하는 단계를 더 포함하는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  10. 제 1항에 있어서, 상기 이온화기는 중화 이온기인, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  11. 제 1항에 있어서, 상기 교정은 사용자 인터페이스로부터 수신되는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  12. 제 1항에 있어서, 상기 단계(f)에서, 실시간 데이터를 교정 데이터와 비교하는 것은 이온화 시스템의 동작 포인트에 가장 가까운 수집된 교정 데이터의 교정 값을 이용하여 발생하는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  13. 제 1항에 있어서, 상기 단계(f)에서, 실시간 데이터를 교정 데이터와 비교하는 것은 고정된 셋포인트인 저장된 교정 값을 이용하여 발생하는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 결정하는 방법.
  14. 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치로서,
    a) 교정 모듈과;
    b) 하나 이상의 조정 범위를 통해 이온화 시스템을 스테핑하는 범위 모듈과;
    c) 각 단계에서 교정 데이터를 수집하고 상기 교정 데이터를 메모리에 저장하는 제 1 수집 모듈과;
    d) 이온화 시스템을 동작 모드에 위치시키는 동작 모듈과;
    e) 이온화 시스템의 출력에 관한 실시간 데이터를 수집하는 제 2 수집 모듈과;
    f) 실시간 데이터를 교정 데이터와 비교하고, 시스템의 동작 포인트에 기초하여 그 사이의 차이 값을 결정하고, 이온화기의 상대적인 상태를 결정하기 위해 상기 차이 값을 이용하는 비교 모듈을
    포함하는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  15. 제 14항에 있어서, 상기 출력은 이온화 시스템의 출력 전류인, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  16. 제 14항에 있어서, 상기 조정 범위 중 하나는 이온화 시스템의 출력 전압인, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  17. 제 14항에 있어서, 상기 조정 범위 중 하나는 이온화 시스템의 듀티 사이클 인, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  18. 제 14항에 있어서, 상기 조정 범위 중 하나는 이온화 시스템의 주파수인, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  19. 제 14항에 있어서, 상기 범위 모듈은, 이온화 시스템의 출력 전압 및 이온화 시스템의 듀티 사이클을 포함하는 적어도 2개의 조정 범위를 통해 이온화 시스템을 스테핑하는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  20. 제 14항에 있어서, 상기 비교 모듈의 차이 값은 상대적인 이온화기 상태의 표시기를 제어하는데 사용되는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  21. 제 14항에 있어서, 상기 메모리는 비휘발성 메모리이고, 상기 교정 데이터는 이를 통해 이온화기로의 전력이 턴 오프되는 경우라도 저장된 상태로 유지되는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  22. 제 14항에 있어서, 상기 이온화기는 하나 이상의 이온화 핀을 포함하는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  23. 제 14항에 있어서, 상기 이온화기는 중화 이온화기인, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  24. 제 14항에 있어서, 상기 교정 데이터는 사용자 인터페이스로부터 수신되는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  25. 제 14항에 있어서, 상기 비교 모듈은 이온화 시스템의 동작 포인트에 가장 가까운 수집된 교정 데이터의 교정 값을 비교를 위해 재호출하는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
  26. 제 14항에 있어서, 상기 비교 모듈은 고정된 셋포인트인 저장된 교정 값을 비교를 위해 재호출하는, 이온화 시스템에서 이온화기의 상대적인 상태를 식별하는 장치.
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