KR101505498B1 - 커버 글라스 분석 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 커버 글라스의 분석 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 조명 및 카메라 판정을 이용한 디스플레이용 커버 글라스의 자동화 검사 공정에 있어서, 이송되는 커버 글라스를 진동시켜 다양한 각도로의 영상 획득이 가능하여 보다 신뢰성 높은 결함 검출이 가능한 커버 글라스 분석 장치에 관한 것이다.
이에 따른 본 발명은 커버 글라스의 분석 장치에 있어서 커버 글라스를 이송하는 평행 이송 수단, 평행 이송 수단의 위쪽에 구비되며 움직이는 커버 글라스를 촬영하는 광학 센서, 역시 평행 이송 수단 위쪽에 구비되는 조명, 및 커버 글라스를 진동시키는 진동판을 포함하는 것을 특징으로 한다.
이에 따른 본 발명은 커버 글라스의 분석 장치에 있어서 커버 글라스를 이송하는 평행 이송 수단, 평행 이송 수단의 위쪽에 구비되며 움직이는 커버 글라스를 촬영하는 광학 센서, 역시 평행 이송 수단 위쪽에 구비되는 조명, 및 커버 글라스를 진동시키는 진동판을 포함하는 것을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 커버 글라스의 분석 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 조명 및 카메라 판정을 이용한 디스플레이용 커버 글라스의 자동화 검사 공정에 있어서, 이송되는 커버 글라스를 진동시켜 다양한 각도로의 영상 획득이 가능하여 보다 신뢰성 높은 결함 검출이 가능한 커버 글라스 분석 장치에 관한 것이다.
LCD 디스플레이, OLED 디스플레이 등의 디스플레이 장치에는 해당 디스플레이를 보호하기 위한 커버 글라스가 장착된다. 일반적으로, 이러한 커버 글라스는 용융 제조공정을 거쳐 완성되는데 이렇게 완성된 커버 글라스는 검사 공정에 보내져서 미세한 상처나 이물 등의 결함의 유무에 대한 검사를 거치게 된다. 최근 소형의 디스플레이가 필수적으로 장착되는 스마트 폰이나 태블릿 피씨 등의 휴대용 디지털 기기에 대한 관심이 급증하였는데, 이러한 휴대용 디지털 기기의 폭발적인 보급으로 인하여 커버 글라스 검사 공정 및 장치에 대한 관심도 더욱 증가하고 있다. 특히 휴대용 디지털 기기의 경우 일반적인 사용 태양에 있어서, 사용자의 육안과 기기와의 거리가 매우 근접하게 되므로 커버 글라스의 결함 여부가 해당 기기의 품질에 직접적인 영향을 미치게 되므로 그 분석 공정은 더욱 중요하게 되었다.
이러한 커버 글라스의 분석 공정에 사용되는 장치는, 이송용 롤러 상에 수평으로 커버 글라스를 적재하고, 이송용 롤러로 커버 글라스를 수평으로 이동시키면서 커버 글라스에 광원을 조사하고, 그로부터 반사, 회절, 산란되어서 나오는 광을 이미지 센서, 즉 카메라로 감지하여 컴퓨터로 분석하는 것으로 커버 글라스의 결함을 자동으로 검출하는 방법이 이용되고 있다. 예를 들어, 대한민국 공개특허 제10-2007-0121820호, 미국 등록특허 제7551274호 등의 종래 기술에서는 이와 같은 방식의 분석 공정 및 장치가 개시되고 있다. 그러나 이러한 종래 기술은 분석 정확도가 떨어져 결함 검출에 한계가 있다는 문제점이 있으며 특히, 더 높은 분석 정확도가 요구되는 스마트 폰용 커버 글라스의 결함 판정에는 만족할 만한 결과를 보이지 못하고 있다.
본 발명은 상기 종래 기술들이 가지고 있던 문제점에 착안하여 이루어진 것으로, 커버 글라스의 분석에 있어 커버 글라스를 진동시켜 회전시키고, 이로 인하여 이미지 센서의 촬영 각도를 다양화하여 더욱 정확한 결함의 검출이 가능한 커버 글라스 분석 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
또한 본 발명은, 커버 글라스의 분석에 있어 공기부상 컨베이어를 이용하여 이송되는 커버 글라스의 오염물질을 제거하고 이송 중의 결함 발생을 예방할 수 있는 커버 글라스 분석 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은 컴퓨터 판정을 이용한, 디스플레이 장치용 커버 글라스의 자동 분석 장치에 있어서, 커버 글라스를 향해 빛을 방사하는 조명; 커버 글라스를 촬영하는 광학 센서; 커버 글라스를 진동시키는 진동판;을 포함하며 적어도 조명, 광학 센서, 진동판 중 어느 하나를 제어하는 제어부;를 포함하고, 진동판에는 회전축이 구비되어 커버 글라스를 진동에 의해 시소방식으로 진동시키는 것을 특징한다.
또한 본 발명의 커버 글라스 분석 장치는 일 실시 예에 따라, 커버 글라스를 이송하는 평행 이송 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 커버 글라스 분석 장치는 일 실시 예에 따라, 평행 이송 수단은 상단 및 하단에서 공기가 분사되어 커버 글라스를 이송시키는 공기부상 컨베이어인 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 커버 글라스 분석 장치는 일 실시 예에 따라, 조명 및 광학 센서는 평행 이송 수단의 상단에 배치되는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 커버 글라스 분석 장치는 일 실시 예에 따라, 진동판은, 커버 글라스를 이송 방향으로 이송시키고 또한 진동판의 진동 시 커버 글라스를 고정시키는 다수의 롤러가 포함되는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 커버 글라스 분석 장치는 일 실시 예에 따라, 롤러는 진동판에 대하여 수직으로 세워져 회전하며 커버 글라스의 측면과 접촉하며 커버 글라스를 이송 및 고정시키는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 커버 글라스 분석 장치는 일 실시 예에 따라, 진동판의 이송 방향으로의 길이는 적어도 커버 글라스의 이송 방향으로의 길이의 두 배인 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 커버 글라스 분석 장치는 일 실시 예에 따라, 커버 글라스가 평행 이송 수단의 영역에서 벗어난 상태에서, 진동판은 회전축을 중심으로 기설정된 회전각도만큼만 커버 글라스를 진동시키는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명의 커버 글라스 분석 장치는 일 실시 예에 따라, 진동판의 회전축에는 진동을 유발하는 전동 장치가 연결되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 커버 글라스 분석 장치는, 다양한 촬영 각도에서 커버 글라스를 분석할 수 있어 결함 검출율을 크게 높일 수 있다.
또한 본 발명의 커버 글라스 분석 장치는, 공기부상 컨베이어로 커버 글라스를 이송하므로 이송과 함께 커버 글라스에 붙은 이물질을 제거할 수 있으며 이송 장치와의 물리적 접촉이 극히 줄어드므로 이송 중에 커버 글라스에 흠집이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
도1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 커버 글라스 분석 장치의 전체 구성을 개념적으로 나타낸 블록도,
도2a는 커버 글라스 분석 장치의 제어부를 제외한 전체 구조를 간략히 나타낸 개념도,
도2b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 진동판(400)의 진동 모습을 간략히 나타낸 개념도,
도3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 진동판(400)의 상세한 구조를 나타낸 사시도,
도4a는 본 발명의 일 실시 예에 따른 진동판(400)을 상단에서 바라본 평면도,
도4b는 진동판(400)의 또 다른 실시 예로서 양측의 베이스(430)가 넓은 판(plate)의 형태로서 연결된 실시 예를 나타내는 평면도,
도5a와 도5b는 커버 글라스(1)가 평행 이송 수단(100)의 어느 영역에도 걸치지 않은 상태일 때의 진동 모습을 나타낸 개념도,
도6a는 커버 글라스(1)가 조사부를 통과하고 반대편 평행 이송 수단(100)에 진입하는 경우의 진동 모습을 나타낸 개념도,
도6b는 커버 글라스(1)가 조사부를 모두 통과하고 진동판(400)을 빠져나가고 있는 모습을 나타낸 개념도,
도7a, 도7b, 도7c는 평행 이송 수단(100)으로 공기부상 컨베이어를 이용할 때의 커버 글라스(1)의 이송 및 진동 모습을 나타낸 개념도,
도8a, 도8b, 도8c는 진동판(400)의 베이스(430)의 길이를 충분히 길게 하여 어느 지점에서도 회전 각도의 제약이 없도록 한 경우의 진동판(400)의 진동 모습을 나타낸 개념도,
도9는 진동판(400)의 연결부(440)와 회전축(410)이 베이스(430)의 일측 끝단에 구성된 형태의 진동판(400)을 나타낸 측면도,
도10a, 도10b, 도10c는 회전축(410)이 커버 글라스(1) 이송 방향과 동일한 방향으로 나란히 구성된 경우의 진동판(400)을 도시한 측면도, 평면도, 정면도이다.
도2a는 커버 글라스 분석 장치의 제어부를 제외한 전체 구조를 간략히 나타낸 개념도,
도2b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 진동판(400)의 진동 모습을 간략히 나타낸 개념도,
도3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 진동판(400)의 상세한 구조를 나타낸 사시도,
도4a는 본 발명의 일 실시 예에 따른 진동판(400)을 상단에서 바라본 평면도,
도4b는 진동판(400)의 또 다른 실시 예로서 양측의 베이스(430)가 넓은 판(plate)의 형태로서 연결된 실시 예를 나타내는 평면도,
도5a와 도5b는 커버 글라스(1)가 평행 이송 수단(100)의 어느 영역에도 걸치지 않은 상태일 때의 진동 모습을 나타낸 개념도,
도6a는 커버 글라스(1)가 조사부를 통과하고 반대편 평행 이송 수단(100)에 진입하는 경우의 진동 모습을 나타낸 개념도,
도6b는 커버 글라스(1)가 조사부를 모두 통과하고 진동판(400)을 빠져나가고 있는 모습을 나타낸 개념도,
도7a, 도7b, 도7c는 평행 이송 수단(100)으로 공기부상 컨베이어를 이용할 때의 커버 글라스(1)의 이송 및 진동 모습을 나타낸 개념도,
도8a, 도8b, 도8c는 진동판(400)의 베이스(430)의 길이를 충분히 길게 하여 어느 지점에서도 회전 각도의 제약이 없도록 한 경우의 진동판(400)의 진동 모습을 나타낸 개념도,
도9는 진동판(400)의 연결부(440)와 회전축(410)이 베이스(430)의 일측 끝단에 구성된 형태의 진동판(400)을 나타낸 측면도,
도10a, 도10b, 도10c는 회전축(410)이 커버 글라스(1) 이송 방향과 동일한 방향으로 나란히 구성된 경우의 진동판(400)을 도시한 측면도, 평면도, 정면도이다.
이하, 본 발명에 따른 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 여기서, 도면의 가독성을 위하여 도면상 대칭되는 구조이거나 동일한 구성임이 용이하게 확인될 수 있는 경우에는 일부 도면상의 부호를 생략하였다.
도1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 커버 글라스 분석 장치의 구성을 개념적으로 나타낸 블록도이며 도2a는 상기 커버 글라스 분석 장치의 제어부를 제외한 전체 구조를 간략히 나타낸 구조도이다. 평행 이송 수단(100)은 분석 대상인 커버 글라스(1)를 평행 방향(도2a에서 화살표로 표시)으로 이송한다. 따라서 평행 이송 수단(100)으로는 예를 들어, 벨트 컨베이어나 롤러 컨베이어, 체인 컨베이어, 공기부상 컨베이어 등 산업 현장에서 널리 쓰이는 컨베이어 장치가 사용될 수 있다.
광학 센서(200)는 평행 이송 수단(100)의 위쪽에 구비되며 아래쪽의 커버 글라스(1)를 촬영한다. 즉 광학 센서(200)는 진동판(400) 상의 특정 지점(조사부)을 촬영하는데, 이 때 커버 글라스(1)가 평행 이송 수단(100)에 의해 이송되면 광학 센서(200)는 커버 글라스(1)의 특정 지점을 순차적으로 촬영하게 된다. 여기서 조명(300)은 이송되는 커버 글라스(1)를 향해 특정 파장의 빛, 예를 들어 가시광선이나 자외선 파장의 빛을 조사하게 되고 결국 광학 센서(200)는, 조명(300)에 의하여 커버 글라스(1)로부터 방출되는 산란광 내지 회절광을 촬영하게 된다. 이 때 광학 센서(200)는 촬영된 영상을 제어부(500) 또는 실시 예에 따라 컴퓨터 등의 기타 영상 판독 수단(미도시)으로 전송하여 영상을 분석하도록 하며 제어부(500)나 영상 판독 수단은 영상에서의 이상 유무를 분석하여 최종적으로 커버 글라스(1)의 결함 여부를 판정하게 된다. 이와 관련한 산란광 내지 회절광을 이용한 투명 소재의 결함 검출 방법은 종래 기술에 따를 것이며 본 발명의 특징으로는 볼 수 없다 할 것이므로 이 부분에 대한 자세한 설명은 생략한다. 여기서 광학 센서(200)는 커버 글라스(1) 이송 방향에 직각 방향으로의 직선 부위를 감지하는 라인 스캔 카메라인 것이 바람직하다.
조명(300)은 하나 혹은 다수가 구비될 수 있으며 이송되는 커버 글라스(1)를 향해 그 분석을 위한 특정 파장, 예를 들어 가시광선이나 자외선 파장의 빛의 빛을 발산한다. 조명(300)은 진동판(400)의 특정 지점(조사부)을 향해 빛을 발산하는데, 조사부는 진동판(400)의 회전축(410) 상에 형성됨이 바람직하다. 여기서 광학 센서(200)로 라인 스캔 카메라를 사용할 경우에는, 조명(300) 역시 조사부를 향하여 이송 방향에 직각 방향으로의 직선형 광을 방출하는 것이 바람직하다.
진동판(400)은 평행 이송 수단(100)의 일측에 마련되는데, 도2a에서 볼 수 있듯이 평행 이송 수단(100)의 일부를 대체하는 형태로 평행 이송 수단(100) 상에 삽입된다. 진동판(400)의 양 측면에는 모터 등의 장치로 인하여 자발적으로 회전할 수 있는 롤러(420)가 다수 구비되어 커버 글라스(1)의 측면과 압박 접촉하며, 커버 글라스(1)를 이송시킴과 동시에 진동판(400)의 진동 시 커버 글라스(1)가 진동판과 함께 진동할 수 있도록 커버 글라스(1)를 고정시키는 역할을 한다. 진동판(400)에는 회전축(410)이 구비되어 있어 진동판(400)의 진동은 결국 특정 각도 만큼의 진동판(400)의 다수 번의 회전을 유도하게 된다. 이러한 진동을 만들어 내기 위하여 회전축(410)에는 모터 등의 전동 장치(미도시)가 연결될 수 있다.
제어부(500)는 예를 들어, 적어도 마이크로 프로세서를 포함할 수 있으며, 다른 구성요소, 즉, 평행 이송 수단(100), 광학 센서(200), 조명(300), 진동판(400)과 연결되며 이들 구성요소를 제어하는 역할을 한다. 상기 역할에는 예를 들어, 평행 이송 수단(100)의 이송 속도, 추후 설명할 진동판(400)의 진동 및 광학 센서의 영상 촬영 타이밍을 제어하거나 조명의 온, 오프(on, off)를 제어하는 역할을 포함할 수 있다. 추가적으로 광학 센서(200)에서 획득한 산란광 내지 회절광 영상을 분석하여 결함 보유 여부를 판독하는 판독 기능을 보유할 수도 있다.
도2b는 본 발명의 일 실시 예에 따른 진동판(400)의 진동 모습을 간략히 나타낸 개념도인데, 본 도면과 도2a를 토대로 본 발명에 따른 커버 글라스 분석 장치의 작동에 대해 설명한다.
먼저 도2a에서 볼 수 있듯이 커버 글라스 분석 장치의 작동에 있어, 커버 글라스(1)는 평행 이송 수단(100)에 의하여 이송 방향으로 수평으로 이동한다. 이동하는 커버 글라스(1)가 진동판(400)에 진입하면서 롤러(420)가 커버 글라스(1)의 측면과 접촉하게 되고 이 롤러(420)는 상기 이송방향으로 커버 글라스(1)를 이송시킬 수 있도록 자발적으로 회전한다. 결국 커버 글라스(1)가 진동판(400) 영역에 진입하면서는 평행 이송 수단(100)이 아닌 롤러(420)에 의하여 이송이 지속된다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 진동판(400)의 상세한 구조는 사시도로서 도3에서, 상측에서 바라본 평면도로서 도4a와 도4b에서 도시하였다. 진동판(400)은 베이스(430)가 양 측에 배치되고, 양 베이스(430) 상에 다수의 롤러(420)가 배치되며 베이스(430) 하단으로는 연결부(440)가 각각 구성되며 연결부(440)에는 회전축(410)이 구성되어 있다. 이들 구성은 모두 일체로서 고정되므로 회전축(410)이 회전하는 경우 모든 구성이 따라 같은 각도로 회전하게 된다. 상기 회전축(410)에는 진동, 즉 반복되는 회전을 유발하기 위한 전동 장치(미도시)가 연결될 수 있다. 도4b의 평면도는 양측의 베이스(430)가 넓은 판(plate)의 형태로서 연결된 실시 예를 도시한 것이다. 또한 도4a와 도4b에서 화살표로 표시한 대로 다수의 롤러(420)는 커버 글라스(1)를 이송방향으로 이송할 수 있도록 자발적으로 회전한다. 이러한 회전을 위하여 다수의 롤러(420)에는 소형 모터(미도시)가 연결될 수 있다.
도2a에서 볼 수 있듯이 커버 글라스(1)가 진동판(400) 영역에 진입하여 회전축(410) 상단의 조사부를 통과하기 시작하면 조명(300)은 조사부를 향해 빛을 방출하고 광학 센서(200)는 조사부를 향하여 제어부(500)의 제어에 따라 이송되는 커버 글라스(1)를 특정의 속도, 예를 들어, 초당 25장 정도로 촬영하게 된다. 이 때 진동판(400)은 역시 제어부(500)의 제어에 따라 회전축(410)을 중심으로 진동하기 시작하는데 예를 들어, 초당 1회로 진동할 수 있다. 진동에 의하여 진동판(400)은 롤러(420)에 의해 고정되는 커버 글라스(1)와 함께 동시에 같은 각도(도면에서의 α1도)로 회전을 반복하게 된다. 결국 0도에서 α1도 사이에서 각도를 달리하는 커버 글라스(1)의 다수의 산란광 내지 회절광 이미지를 1초의 시간 내에서 획득할 수 있게 된다. 이 때 커버 글라스(1)의 이송 속도를 충분히 낮춘다면 사실상 커버 글라스(1)의 동일 부위에 대한 다수의 산란광 내지 회절광 영상을 1초에 획득할 수 있게 되는 것이다. 이렇게 본 발명에서는 진동판(400)이 빠른 속도로 진동하면서 광학 센서(200)로 영상을 획득하므로 동일 부위에 대한 다양한 조사 각도의 영상을 획득하여 이를 제어부(400) 내지 판독 컴퓨터가 분석하는 것으로 결함의 검출율을 높일 수 있다. 즉 결함의 종류 및 그 형태에 따라 분석용 광의 특정 조사 각도에서는 검출이 되지 않는 경우가 있는데, 본 발명에서와 같이 다양한 조사 각도에서 분석용 광을 조사하고 이에 대해 분석한다면 결함의 검출률이 크게 높아질 수 있다. 여기서 회전각 α1은 45도 이하인 것이 바람직하다.
도5a와 도5b는 커버 글라스(1)가 평행 이송 수단(100)의 어느 영역에도 걸치지 않은 상태일 때의 진동 모습을 나타낸다. 도2b에서와 같이 커버 글라스(1)의 일부가 평행 이송 수단(100)에 위치할 경우에는 평행 이송 수단(100)이 커버 글라스(1)의 회전을 방해할 수 있다. 즉 α1이 마이너스 각도가 되도록 회전하는 것은 불가능할 수 있다. 그러나 도5b에서와 같이 커버 글라스(1)가 평행 이송 수단(100) 영역에서 완전히 벗어난 상태에서는 회전각 α2가 마이너스가 되도록 진동판(400) 및 커버 글라스(1)가 진동할 수 있다. 이 상태에서의 회전각 α2는 -45도 에서 +45도 사이인 것이 바람직하다.
도6a는 커버 글라스(1)가 조사부를 통과하고 반대편 평행 이송 수단(100)에 진입하는 경우의 진동 모습을 나타낸 개념도이다. 여기서의 진동판(400)의 회전 각도(α3)는 역시 45도 이하임이 바람직하다. 도6b는 커버 글라스(1)가 조사부를 모두 통과하고 진동판(400)을 빠져나가고 있는 모습을 나타내며 이렇게 커버 글라스(1)가 조사부를 모두 통과한 경우 진동판(400)은 진동을 멈추고 다시 평행 이송 수단(100)으로 커버 글라스(1)를 이송한다.
상기와 같은 방법으로 커버 글라스(1)가 조사부에 진입하는 시점부터 모두 통과하여 조사부로부터 이탈하는 시점까지 진동, 조명 조사 및 촬영, 분석 과정을 거치는 것으로 하나의 커버 글라스(1)의 결함 여부 분석이 종료되며 이와 같은 과정이 연속적, 자동적으로 진행되면서 신속하고 높은 검출율로 커버 글라스를 분석할 수 있다.
도7a, 도7b, 도7c는 본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 것으로 평행 이송 장치(100)로 공기부상 컨베이어를 사용할 때의 커버 글라스(1) 이송 및 진동판(400)의 진동 모습을 나타낸다. 먼저 도7a는 평행 이송 장치(100)가 커버 글라스(1)를 이송하는 모습을 나타내는데, 도면에서와 같이 평행 이송 장치(100)는 상단 및 하단에서 공기가 분사되어 커버 글라스(1)를 일정 높이로 띄워 물리적인 마찰을 최소화한 상태로 이송을 한다. 도면 상의 휘어진 화살표는 공기의 흐름을 예시적으로 표현한 것이다. 이처럼 평행 이송 장치(100)로 공기부상 컨베이어를 사용할 경우, 물리적 마찰이 사라지므로 커버 글라스의 이송 중에 발생할 수 있는 긁힘을 예방할 수 있고 공기분사의 효과로 커버 글라스에 붙은 먼지 등의 오물을 제거할 수 있다는 장점을 가진다.
도7b와 도7c는 커버 글라스(1)가 조사부에 진입하여 진동판(400)의 진동이 시작된 모습을 나타낸다. 본 도면에서와 같이 진입 초기에는 커버 글라스(1)의 일부가 평행 이송 장치(100)의 상단 내지 하단에 의해 진동 각도의 제한을 받을 수 있으며 이 경우에는 그 제한되는 각도(β1, β2) 내에서 진동, 즉 빠른 속도로 회전을 반복하며 검사가 진행될 수 있다. 물론 커버 글라스(1)가 평행 이송 장치(100)의 간섭을 받지 않는 지점까지 진입한 경우에는 타측에서의 간섭이 시작될 때까지 진동판은 전술한 대로 -45도 에서 +45도의 범위에서 회전하는 것이 바람직하다.
도8a, 도8b, 도8c는 본 발명의 또 다른 실시 예로서, 진동판(400)의 베이스(430)의 길이를 충분히(적어도 커버 글라스(1) 길이의 두 배 이상으로) 길게 하여 어느 지점에서도 회전 각도의 제약이 없도록 한 경우의 진동판(400)의 진동 모습을 나타낸다. 이처럼 베이스(430)가 충분히 길고 커버 글라스(1)를 이송 및 고정할 충분한 수의 롤러(420)가 구비된다면 커버 글라스(1)가 조사부에 진입하는 시점부터 모두 통과하는 시점까지 회전 각도의 제한 없이, 바람직하게는 -45도 에서 +45도의 범위에서 커버 글라스(1)를 회전시키며 다양한 각도에서의 산란광 및 회절광에 대한 영상을 획득하여 분석을 진행할 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시 예로서, 도9는 진동판(400)의 연결부(440)와 회전축(410)이 베이스(430)의 일측 끝단에 구성된 형태의 진동판(400)을 도시한 것이며, 도10a, 도10b, 도10c는 회전축(410)이 커버 글라스(1) 이송 방향과 동일한 방향으로 나란히 구성된 경우의 진동판(400)을 각각 측면도, 평면도, 정면도로 도시한 것이다. 특히 도10의 경우와 같이 이송 방향과 나란한 방향으로 회전축이 구성된 경우, 커버 글라스(1)는 진동판(400)의 진동에 의하여 좌우로 진동한다. 본 발명의 특징 중 하나는 커버 글라스(1)를 진동, 즉 빠른 주기로 움직이게 하면서 광학 센서(200)로 커버 글라스(1)를 촬영하여 다양한 촬영 각도에서의 영상을 분석할 수 있게 한다는 점에 있으므로 상기 도9 및 도10과 같은 형태의 진동판(400)으로도 동일 목적을 달성할 수 있다는 점은 당업자에게 자명하다 할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 커버 글라스 분석 장치는, 회전 가능한 진동판을 이송되는 커버 글라스와 함께 빠른 속도로 진동시켜 짧은 시간에 다양한 조사각에 따른 산란광 내지 회절광을 분석할 수 있게 하므로, 분석 시간을 크게 늘리지 않으면서도 결함의 검출율을 높일 수 있으며 실시 예에 따라 공기 분사 컨베이어를 이용하여 커버 글라스의 이송 과정에서의 흠집을 줄이고 오물을 제거할 수 있는 효과가 있다.
1: 커버 글라스 100: 평행 이송 수단
200: 광학 센서 300: 조명
400: 진동판 410: 회전축
420: 롤러 430: 베이스
440: 연결부 500: 제어부
200: 광학 센서 300: 조명
400: 진동판 410: 회전축
420: 롤러 430: 베이스
440: 연결부 500: 제어부
Claims (9)
- 컴퓨터 판정을 이용한, 디스플레이 장치용 커버 글라스의 자동 분석 장치에 있어서,
커버 글라스를 향해 빛을 방사하는 조명;
커버 글라스를 촬영하는 광학 센서;
커버 글라스를 진동시키는 진동판;을 포함하며
적어도 조명, 광학 센서, 진동판 중 어느 하나를 제어하는 제어부;를 포함하고,
진동판에는 회전축이 구비되어 커버 글라스를 진동에 의해 시소방식으로 진동시키는 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치. - 제1항에 있어서, 커버 글라스를 진동판으로 이송시키거나 진동판으로부터 커버 글라스를 이송시키는 평행 이송 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.
- 제2항에 있어서, 평행 이송 수단은 상단 및 하단에서 공기가 분사되어 커버 글라스를 이송시키는 공기부상 컨베이어인 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.
- 제2항에 있어서 조명 및 광학 센서는 평행 이송 수단의 상단에 배치되는 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.
- 제2항에 있어서, 진동판은, 커버 글라스를 이송 방향으로 이송시키고 또한 진동판의 진동 시 커버 글라스를 고정시키는 다수의 롤러가 포함되는 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.
- 제5항에 있어서, 롤러는 진동판에 대하여 수직으로 세워져 회전하며 커버 글라스의 측면과 접촉하며 커버 글라스를 이송 및 고정시키는 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.
- 제6항에 있어서, 진동판의 이송 방향으로의 길이는 적어도 커버 글라스의 이송 방향으로의 길이의 두 배인 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.
- 제2항에 있어서,
커버 글라스가 평행 이송 수단의 영역에서 벗어난 상태에서, 진동판은 회전축을 중심으로 기설정된 회전각도만큼만 커버 글라스를 진동시키는 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치. - 제1항에 있어서, 진동판의 회전축에는 진동을 유발하는 전동 장치가 연결되는 것을 특징으로 하는 커버 글라스 분석 장치.
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KR101505498B1 true KR101505498B1 (ko) | 2015-03-24 |
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Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3859859B2 (ja) | 1998-03-18 | 2006-12-20 | セントラル硝子株式会社 | 透明板状体の欠陥検出方法および装置 |
JP4157037B2 (ja) * | 2001-09-21 | 2008-09-24 | オリンパス株式会社 | 欠陥検査装置 |
JP2009051654A (ja) | 2007-08-29 | 2009-03-12 | Toppan Printing Co Ltd | 基板搬送装置及び基板検査装置 |
JP2012127738A (ja) | 2010-12-14 | 2012-07-05 | Hitachi High-Technologies Corp | 基板欠陥検査システム及び基板欠陥検査方法並びに搬送装置 |
-
2013
- 2013-09-16 KR KR1020130111027A patent/KR101505498B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3859859B2 (ja) | 1998-03-18 | 2006-12-20 | セントラル硝子株式会社 | 透明板状体の欠陥検出方法および装置 |
JP4157037B2 (ja) * | 2001-09-21 | 2008-09-24 | オリンパス株式会社 | 欠陥検査装置 |
JP2009051654A (ja) | 2007-08-29 | 2009-03-12 | Toppan Printing Co Ltd | 基板搬送装置及び基板検査装置 |
JP2012127738A (ja) | 2010-12-14 | 2012-07-05 | Hitachi High-Technologies Corp | 基板欠陥検査システム及び基板欠陥検査方法並びに搬送装置 |
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