KR101455232B1 - Optical system of signal detection for near-infrared and tera hertz waves band - Google Patents

Abstract

본 발명은 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템의 한 예는 광통부를 가지는 제1 주반사경과 상기 제1 주반사경의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 주반사경을 구비한 주반사경부, 상기 주반사경부와 마주보게 위치하며, 상기 제1 주반사경에서 반사된 빛을 상기 광통부로 반사시키는 제1 부반사경과 상기 제2 주반사경에서 반사된 빛을 상기 광통부로 반사시키며 제1 부반사경의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 부반사경을 구비한 부반사경부, 상기 광통부 하단에 위치하며 상기 광통부를 통과한 빛에서 적외선을 필터링하고 촬상하여 전기적인 신호로 출력하는 이미지 센서(image sensor)부, 그리고 상기 광통부 하단에 위치하며 상기 광통부를 통과한 빛에서 테라헤르츠 대역의 신호를 필터링(filtering)하여 검출하는 테라헤르츠 검출부를 포함하는 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템.An example of an optical system for detecting a near-infrared ray signal and a terahertz band signal includes a main reflector having a first main reflector having a light tube and a plurality of second main reflectors circumferentially arranged around the first main reflector, A first sub-reflector which is positioned to face the main reflecting portion and reflects the light reflected from the first main reflecting mirror to the optical tube portion, and a second sub reflector which reflects the light reflected from the second main reflecting mirror to the optical tube portion, An image sensor which is located at the lower end of the light tube and filters the infrared rays from the light passing through the light tube and picks up the image and outputs the signal as an electric signal; a terahertz wave detector for filtering a signal in the terahertz band from the light passing through the optical tube and detecting the image signal, An optical system for detecting a signal of the near-infrared signal, and the terahertz band including parts.

Description

근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템 {OPTICAL SYSTEM OF SIGNAL DETECTION FOR NEAR-INFRARED AND TERA HERTZ WAVES BAND}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an optical system for detecting a near-infrared signal and a terahertz signal,

본 발명은 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an optical system for detecting a near infrared ray signal and a signal in a terahertz band.

일반적으로 렌즈 및 반사경들이 설치된 광학 시스템은 지형 탐색을 위한 항공 또는 위성용 카메라나 천체를 관측하기 위한 광학 시스템에 이용되고 있다.In general, optical systems with lenses and reflectors are used in aerial or satellite cameras for terrain detection and optical systems for observing objects.

이러한 광학시스템은 복수개의 반사경과 렌즈가 구비되어 별 또는 지표물 등과 같은 피사체에서 반사되어 나오는 빛을 집광하여 이미징(imaging) 한다.Such an optical system includes a plurality of mirrors and a plurality of lenses, and collects and im- ages light reflected from a subject such as a star or a surface water.

따라서 관측자는 천체 망원경을 통해 빛에 의해 형성된 이미지를 직접 눈으로 관측하거나 카메라와 같은 별도의 장비를 이용하여 빛에 의해 형성된 이미지를 촬영하여 촬영된 이미지를 확인한다.Therefore, the observer observes the image formed by the light through the telescope directly or observes the image formed by the light using a separate device such as a camera and confirms the photographed image.

한편, 시각적으로 보다 정확한 이미지는 물론 서로 다른 파장에 따른 사물 관찰도 가능하도록 가시광선 및 적외선 등 빛의 영역을 판독하는 천체 망원경도 개발되고 있으며, 이와 관련된 내용으로 일 예로 2012년의 proc. SPIE에 발표된 매트 존스 등의 ""Giant Magellan Telescope: overview "에 개시되어 있다.On the other hand, an astronomical telescope for reading light regions such as visible light and infrared light is also being developed to visually observe objects with different wavelengths as well as more accurate images. Quot; Giant Magellan Telescope: overview ", such as Matt Jones et al., Published in the SPIE.

그러나, 종래의 천체 망원경은 근적외선과 테라헤르츠 대역의 신호 등의 서로 다른 파장의 빛을 동시에 관측할 수 없어 사용자의 불편함이 있었다.However, the conventional astronomical telescope can not simultaneously observe lights of different wavelengths such as near-infrared rays and terahertz signals, which is inconvenient for the user.

Matt Johns et al., "Giant Magellan Telescope: overview ", Proc. SPIE 8444, Ground-based and Airborne Telescopes IV, 84441H (September 17, 2012); doi:10.1117/12.926716; http://dx.doi.org/10.1117/12.926716Matt Johns et al., "Giant Magellan Telescope: overview ", Proc. SPIE 8444, Ground-based and Airborne Telescopes IV, 84441H (September 17, 2012); doi: 10.1117 / 12.926716; http://dx.doi.org/10.1117/12.926716

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 서로 다른 파장의 빛을 동시에 관측하여 사용자의 만족도를 증가시키기 위한 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to increase the user's satisfaction by simultaneously observing lights of different wavelengths.

본 발명의 한 특징에 따른 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템은 광통부를 가지는 제1 주반사경과 상기 제1 주반사경의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 주반사경을 구비한 주반사경부, 상기 주반사경부와 마주보게 위치하며, 상기 제1 주반사경에서 반사된 빛을 상기 광통부로 반사시키는 제1 부반사경과 상기 제2 주반사경에서 반사된 빛을 상기 광통부로 반사시키며 제1 부반사경의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 부반사경을 구비한 부반사경부, 상기 광통부 하단에 위치하며 상기 광통부를 통과한 빛에서 적외선을 필터링하고 촬상하여 전기적인 신호로 출력하는 이미지 센서(image sensor)부, 그리고 상기 광통부 하단에 위치하며 상기 광통부를 통과한 빛에서 테라헤르츠 대역의 신호를 필터링(filtering)하여 검출하는 테라헤르츠 검출부를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an optical system for detecting a near-infrared signal and a terahertz signal, the optical system including a first main reflector having a light tube and a plurality of second main reflectors surrounding the first main reflector, A first sub-reflector which is positioned to face the main reflecting portion and reflects the light reflected from the first main reflecting mirror to the optical tube portion, and a second sub reflector which reflects the light reflected from the second main reflecting mirror to the optical tube portion An image that is filtered at the infrared light which is located at the lower end of the light tube and which has been filtered through the light tube and is picked up and output as an electrical signal; An image sensor, and a terahertz filter disposed at the lower end of the optical tube and filtering the signal of the terahertz band from the light passing through the optical tube. It comprises tsu detector.

상기 이미지 센서부는 상기 광통부 하단에 위치하며 상기 광통부를 통과한 빛에서 적외선을 필터링하여 상을 맺어주는 제1 결상광학계, 그리고 상기 제1 결상광학계에 의해 얻어진 상기 상을 촬상하여 전기적인 신호로 출력하는 이미지 센서(image sensor)를 포함한다.The image sensor unit includes a first imaging optical system positioned at the lower end of the light tube unit and filtering an infrared ray from the light passing through the optical tube unit to form an image, and a second imaging optical system for imaging the image obtained by the first imaging optical system, And an image sensor for outputting the image.

상기 테라헤르츠 검출부는 상기 광통부 하단에 위치하며 상기 광통부를 통과한 빛에서 테라헤르츠 대역의 신호를 필터링(filtering)하는 제2 결상광학계, 그리고 상기 제2 결상광학계에 의해 필터링 된 상기 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 테라헤르츠 검출기를 포함한다.The terahertz detection unit includes a second imaging optical system positioned at the lower end of the optical tube for filtering a signal in a terahertz band from the light passing through the optical tube, and a second imaging optical system for filtering the terahertz band signal filtered by the second imaging optical system. And a terahertz detector for detecting a signal of the first antenna.

상기 제1 주반사경과 제2 주반사경은 동일한 형태를 갖는다.The first main reflector and the second main reflector have the same shape.

상기 제1 및 제2 주반사경은 원형, 다각형, 타원 중 어느 하나의 형태를 갖는다.The first and second main reflectors may have a shape of a circle, a polygon, or an ellipse.

상기 제1 주반사경과 제2 주반사경은 서로 다른 형태를 갖는다.The first main reflector and the second main reflector have different shapes.

상기 제1 및 제2 주반사경 중 어느 하나는 원형, 다각형, 타원 중 어느 하나의 형태를 갖고, 다른 하나는 원형, 다각형, 타원 중 어느 하나의 형태를 갖는다.Wherein one of the first and second main reflectors has a shape of a circle, a polygon, or an ellipse, and the other has a shape of a circle, a polygon, and an ellipse.

상기 부반사경부는 상기 주반사경부의 상기 제1 및 제2 주반사경 각각의 개수의 합과 동일한 개수의 부반사경을 가진다.And the sub-reflecting mirror portion has the same number of sub-reflecting mirrors as the sum of the numbers of the first and second main reflecting mirrors of the main reflecting mirror portion.

상기 제1 및 제2 부반사경은 상기 제1 및 제2 주반사경과 형태는 동일하다.The first and second sub-reflectors are identical in shape to the first and second main reflectors.

상기 제1 및 제2 부반사경은 상기 제1 및 제2 주반사경 중 어느 하나의 지름보다 작은 지름을 갖는다.The first and second sub-reflecting mirrors have diameters smaller than the diameter of any one of the first and second main reflecting mirrors.

상기 제1 결상광학계는 적외선만을 통과시키는 필터를 포함한다.The first imaging optical system includes a filter for passing only infrared rays.

상기 이미지 센서는 CCD(Charge-Coupled Device) 또는 CMOS 이미지 센서(complementary metal-oxide semiconductor) 이미지 센서(image sensor)이다.The image sensor is a charge-coupled device (CCD) or a complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) image sensor.

상기 테라헤르츠 검출기는 볼로미터(bolometer)이다.The terahertz detector is a bolometer.

이러한 특징에 따르면, 근적외선 신호와 테라헤르츠 대역의 신호를 동시에 관측하므로 사용자의 만족도가 증가한다.According to this feature, since the near infrared ray signal and the terahertz band signal are simultaneously observed, the satisfaction of the user is increased.

도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템의 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시한 광학 시스템을 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 주반사경부, 부반사경부 그리고 주반사경부 하단에 위치하는 검출부를 자른 도면을 도시한 단면도와 주반사경부, 부반사경부에 의해 검출부로 전달되는 빛의 경로를 계략적으로 도시한 도면이다.1 is a perspective view of an optical system for detecting a near-infrared signal and a terahertz band signal according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a sectional view of the optical system shown in FIG. 1 taken along the line II-II in a cutaway view of the main reflecting part, the sub-reflecting part and the detecting part located at the lower end of the main reflecting part; And schematically showing a path of light transmitted to the detection unit.

아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art can easily carry out the present invention. The present invention may, however, be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein.

그러면 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 한 실시예에 따른 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템에 대하여 설명한다.An optical system for detecting a near-infrared signal and a terahertz signal according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1 및 도 2를 참고로 하면, 한 실시예에 따른 광학 시스템의 구조는 빛(1)을 반사시키는 주반사경부(100), 주반사경부(100)의 상단에 주반사경부(100)와 마주보게 위치하는 부반사경부(200), 주반사경부(100) 하단에 위치하는 검출부(300)를 구비한다.1 and 2, an optical system according to an embodiment includes a main reflecting part 100 for reflecting light 1, a main reflecting part 100 at an upper end of the main reflecting part 100, And a detecting unit 300 positioned at the lower end of the main reflecting mirror unit 100. As shown in FIG.

주반사경부(100)는 제1 주반사경(110)과 제1 주반사경(110)의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 주반사경(120)을 구비한다.The main reflecting mirror part 100 includes a first main reflecting mirror 110 and a plurality of second main reflecting mirrors 120 located around the first main reflecting mirror 110. [

여기에서 제1 주반사경(110)은 부반사경부(200)로부터 반사된 빛(1)을 통과시키는 광통부(111)를 가진다.Here, the first main reflector 110 has a light tube portion 111 for passing the light 1 reflected from the sub-reflecting portion 200.

이러한 제1 및 제2 주반사경(110, 120)은 서로 동일한 형태를 갖거나 서로 다른 형태를 가질 수 있다. 제1 및 제2 주반사경(110, 120)의 형태는 원형, 다각형, 타원형 중 어느 하나일 수 있다.The first and second main reflectors 110 and 120 may have the same shape or different shapes. The shapes of the first and second main reflectors 110 and 120 may be circular, polygonal, or elliptical.

이렇게 구성되는 제2 주반사경(120)은 주반사경부(100)의 상단에 마주보게 위치하는 부반사경부(200)로 빛(1)을 반사시키기 위해 부반사경부(200)를 향해 기울어져 있다.The second main reflector 120 configured as described above is inclined toward the sub-reflecting portion 200 in order to reflect the light 1 to the sub-reflecting portion 200 positioned opposite to the upper end of the main reflecting portion 100 .

부반사경부(200)는 제1 주반사경(110)에서 반사된 빛을 반사시켜 광통부(111)로 전달하는 제1 부반사경(210)과 제1 부반사경(210)의 둘레에 위치하며 제2 주반사경(120)에서 반사된 빛을 반사시켜 광통부(111)로 전달하는 복수개의 제2 부반사경을 가지며, 이러한 제2 부반사경(220)은 제2 주반사경(120)의 개수의 합과 동일한 개수로 이루어진다.The sub-reflecting mirror portion 200 is disposed around the first sub-reflecting mirror 210 and the first sub-reflecting mirror 210 that reflect the light reflected from the first main reflecting mirror 110 and transmit the light to the light tube portion 111, The second sub-reflector 220 has a plurality of second sub-reflectors that reflect light reflected from the two-main reflector 120 and transmit the reflected light to the light tube 111. The second sub-reflector 220 has a sum of the numbers of the second main reflectors 120 As shown in FIG.

이러한 부반사경부(200)는 주반사경부(100)가 반사시킨 빛(1)을 광통부(111)로 반사시키기 위해 광통부(111)의 방향으로 기울어져 있다.The sub-reflecting portion 200 is inclined in the direction of the light tube 111 so as to reflect the light 1 reflected by the main reflecting portion 100 to the light tube portion 111.

또한, 제1 및 제2 부반사경(210, 220)은 제1 또는 제2 주반사경(110, 120)과 형태가 동일할 수 있으며 제1 및 제2 부반사경(210, 220)의 지름은 제1 및 제2 주반사경(110, 120)의 지름보다 작은 지름을 갖는다.The first and second sub-reflectors 210 and 220 may have the same shape as the first or second main reflectors 110 and 120 and the diameters of the first and second sub- 1 and the second main reflecting mirrors 110, 120, respectively.

검출부(300)는 광통부(111) 하단에 위치하고 적외선을 촬상하는 이미지 센서(image sensor)부(310)와 광통부(111) 하단에 이미지 센서부(310)와 나란히 위치하고 테라헤르츠(tera hertz) 대역의 신호를 검출하는 테라헤르츠 검출부(320)를 포함한다.The detection unit 300 includes an image sensor unit 310 positioned at the lower end of the light tube 111 and capturing infrared rays and a tera hertz sensor disposed at the lower end of the light tube unit 111 in parallel with the image sensor unit 310, And a terahertz detector 320 for detecting a signal of a band.

여기에서 이미지 센서부(310)는 제1 주반사경(110)에서 일차 반사되고, 제1 부반사경(210)에서 이차 반사된 후 광통부(111)를 통과한 빛(1)을 받아 동작하며, 전달 받은 빛(1)에서 적외선을 필터링(filtering)하여 상(도시하지 않음)을 맺어주는 제1 결상광학계(311)와 제1 결상광학계(311)에 의해 얻어진 적외선의 상을 촬상하여 전기적인 신호로 출력하는 이미지 센서(image sensor, 312)를 포함한다.Here, the image sensor unit 310 receives the light 1 passing through the light tube 111 after being reflected at the first main reflector 110, secondarily reflected at the first sub-reflector 210, An image of an infrared ray obtained by the first imaging optical system 311 and the first imaging optical system 311 which filters an infrared ray through the transmitted light 1 and forms an image (not shown) And an image sensor 312 for outputting the image data.

위와 같이 광통부(111)를 통과한 빛(1) 중에서 적외선만을 통과시키는 필터(filter)를 포함한 제1 결상광학계(310)에 의하여 적외선만 필터링 된 후 상이 맺히고, 제1 결상광학계(311)의 후단에 위치한 이미지 센서(312)가 제1 결상광학계(311)에 맺힌 상을 촬상하여 전기적인 신호로 출력한다.Only the infrared rays are filtered by the first imaging optical system 310 including the filter that allows only the infrared rays to pass through the light 1 passing through the optical tube 111 as described above, The image sensor 312 located at the rear end picks up an image formed on the first imaging optical system 311 and outputs it as an electrical signal.

여기에서 이미지 센서(312)는 CCD(Charge-Coupled Device) 또는 CMOS (complementary metal-oxide semiconductor) 이미지 센서(image sensor) 일 수 있다.Here, the image sensor 312 may be a charge-coupled device (CCD) or a complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) image sensor.

또한 테라헤르츠 검출부(320)는 제2 주반사경(120)에서 일차 반사되고, 제2 부반사경(220)에서 이차 반사된 후 광통부(111)를 통과한 빛(1)을 받아 동작하며, 전달 받은 빛(1)에서 테라헤르츠(tera hertz) 대역의 신호를 필터링(filtering)하는 제2 결상광학계(321)와 제2 결상광학계(321)에 의해 필터링 된 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 테라헤르츠 검출기(322)를 포함한다.The terahertz detection unit 320 receives the light 1 passing through the light tube 111 after being reflected by the second main reflector 120 and then reflected by the second auxiliary reflector 220, A second imaging optical system 321 for filtering a signal in the terahertz band in the received light 1 and a terahertz detector 322 for detecting a signal in the terahertz band filtered by the second imaging optical system 321, Detector 322.

여기에서 테라헤르츠 검출기(322)는 볼로미터(bolometer)일 수 있다.Where the terahertz detector 322 may be a bolometer.

다음은, 본 발명의 한 실시예에 따른 광학시스템을 통해 빛에서 근적외선 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 동작이다.The following is an operation of detecting a near-infrared ray and a terahertz band signal from light through an optical system according to an embodiment of the present invention.

빛(1)이 주반사경부(100)에 닿으면 제1 및 제2 주반사경(110, 120)의 각도에 의하여 부반사경부(200)의 방향으로 반사되고, 주반사경부(100)에서 반사되어 부반사경부(200)에 닿은 빛(1)은 부반사경(210)의 각도에 의해 제1 주반사경부(110)에 위치하는 광통부(111)를 통과하게 된다.When the light 1 touches the main reflecting portion 100, the light is reflected in the direction of the sub-reflecting portion 200 by the angles of the first and second main reflecting mirrors 110 and 120, The light 1 that has come into contact with the secondary reflecting mirror part 200 passes through the light tube part 111 located at the first main reflecting mirror part 110 by the angle of the secondary reflecting mirror 210. [

이렇게 광통부(111)를 통과한 빛(1)은 광통부(111)의 하단에 있는 이미지 센서부(310)와 테라헤르츠 검출부(320)으로 전달된다.The light 1 having passed through the light tube 111 is transmitted to the image sensor unit 310 and the terahertz detector 320 at the lower end of the light tube 111.

여기에서 이미지 센서부(310)에 전달된 빛(1)은 제1 결상광학계(311)에 포함된 필터에 의해 적외선이 필터링 된 후 상이 맺히게 된다.Here, the light 1 transmitted to the image sensor unit 310 is filtered after the infrared ray is filtered by the filter included in the first imaging optical system 311, and then the image is formed.

이후 이미지 센서(312)에서 제1 결상광학계(311)에 맺힌 상을 촬상하여 전기적인 신호로 출력하게 된다.Then, the image sensor 312 picks up an image formed on the first imaging optical system 311 and outputs it as an electrical signal.

또한, 테라헤르츠 검출부(320)으로 전달된 빛(1)은 제2 결상광학계(321)에 의해 필터링 된 후 테라헤르츠 검출기(322)에 의해 테라헤르츠 대역의 신호가 검출된다.In addition, the light 1 transmitted to the terahertz detector 320 is filtered by the second imaging optical system 321, and the terahertz band signal is detected by the terahertz detector 322.

이와 같이 적외선을 촬상하는 이미지 센서부(310)의 이미지 센서(312)와 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 테라헤르츠 검출부(320)의 테라헤르츠 검출기(322)가 나란히 존재하여 동시에 근적외선 신호와 테라헤르 대역의 신호를 검출할 수 있어서 주반사경부 하단에 위치하는 검출부(300)의 공간을 효율적으로 구성하는 것이 가능하다.The terahertz detector 322 of the terahertz detector 320 for detecting the terahertz band signal and the terahertz detector 322 of the image sensor 312 for detecting the infrared rays are present side by side and at the same time the near infrared ray signal and the teraher It is possible to efficiently detect the space of the detector 300 located at the lower end of the main reflecting mirror portion.

이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, It belongs to the scope of right.

100: 주반사경부 110: 제1 주반사경
111: 광통부 120: 제2 주반사경
200: 부반사경부 210: 제1 부반사경
220: 제2 부반사경 300: 검출부
310: 이미지 센서부 311: 제1 결상광학계
312: 이미지 센서 320: 테라헤르츠 검출부
321: 제2 결상광학계 322: 테라헤르츠 검출기
1: 빛100: main reflecting part 110: first main reflecting mirror
111: light tube 120: second main reflector
200: sub-reflecting portion 210: first sub-reflecting mirror
220: Second submirror 300: Detector
310: image sensor unit 311: first imaging optical system
312: image sensor 320: terahertz detector
321: Second imaging optical system 322: Terahertz detector
1: Light

Claims (13)

광통부(111)를 가지는 제1 주반사경(110)과 상기 제1 주반사경(110)의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 주반사경(120)을 구비한 주반사경부(100),
상기 주반사경부(100)와 마주보게 위치하며, 상기 제1 주반사경(110)에서 반사된 빛을 상기 광통부(111)로 반사시키는 제1 부반사경(210)과 상기 제2 주반사경(120)에서 반사된 빛을 상기 광통부(111)로 반사시키며 제1 부반사경(210)의 둘레에 위치하는 복수개의 제2 부반사경(220)을 구비한 부반사경부(200),
상기 광통부(111) 하단에 위치하며 상기 광통부(111)를 통과한 빛에서 근적외선을 필터링하고 촬상하여 전기적인 신호로 출력하는 이미지 센서(image sensor)부(310), 그리고
상기 광통부(111) 하단에 위치하며 상기 광통부(111)를 통과한 빛에서 테라헤르츠 대역의 신호를 필터링(filtering)하여 검출하는 테라헤르츠 검출부(320)를 포함하고,
상기 이미지 센서부(310)는 상기 제1 주반사경(110)에서 일차 반사되고 상기 제1 부반사경(210)에서 이차 반사된 후 상기 광통부(111)를 통과한 빛에서 근적외선을 필터링하여 상을 맺어주는 제1 결상광학계(311), 그리고 상기 제1 결상광학계(311)에 의해 얻어진 상기 상을 촬상하여 전기적인 신호로 출력하는 이미지 센서(image sensor, 312)를 포함하며,
상기 테라헤르츠 검출부(320)는 상기 복수개의 제2 주반사경(120)에서 일차 반사되고 상기 복수개의 제2 부반사경(220)에서 이차 반사된 후 상기 광통부(111)를 통과한 빛에서 테라헤르츠 대역의 신호를 필터링(filtering)하는 제2 결상광학계(321), 그리고 상기 제2 결상광학계(321)에 의해 필터링 된 상기 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 테라헤르츠 검출기(322)를 포함하며,
상기 이미지 센서부(310)와 상기 테라헤르츠 검출부(320)는 상기 광통부(111)의 하단에 서로 다른 위치에 위치하여 상기 광통부(111)를 통과한 각각의 빛을 수신하고,
상기 부반사경부(200)는 상기 주반사경부(100)의 상기 제1 및 제2 주반사경(110, 120) 각각의 개수의 합과 동일한 개수의 부반사경을 가지며,
상기 제1 및 제2 부반사경(210, 220)은 상기 제1 및 제2 주반사경(110, 120) 중 어느 하나의 지름보다 작은 지름을 갖는 근적외선 신호 및 테라헤르츠 대역의 신호를 검출하는 광학 시스템.A main reflecting mirror 100 having a first main reflecting mirror 110 having a photoreceptor 111 and a plurality of second main reflecting mirrors 120 positioned around the first main reflecting mirror 110,
A first sub reflector 210 facing the main reflector 100 and reflecting the light reflected from the first main reflector 110 to the light tube 111, (200) having a plurality of second sub-reflectors (220) which are arranged around the first sub-reflector (210) and reflect the light reflected by the first sub-reflector
An image sensor unit 310 located at the lower end of the optical tube 111 for filtering and imaging the near-infrared light from the light passing through the optical tube 111 and outputting the electrical signal;
And a terahertz detector 320 located at the lower end of the optical tube 111 for filtering and detecting a signal of a terahertz band from the light passing through the optical tube 111,
The image sensor unit 310 filters the near infrared rays from the light reflected by the first main reflector 110 and the second light reflected by the first sub-reflector 210 after passing through the optical tube 111, And an image sensor (312) for picking up the image obtained by the first imaging optical system (311) and outputting it as an electric signal, wherein the first imaging optical system (311)
The terahertz detecting unit 320 reflects the first light reflected from the plurality of second main reflectors 120 and the second reflected light from the plurality of second sub-reflectors 220, And a terahertz detector (322) for detecting the signal of the terahertz band filtered by the second imaging optical system (321), wherein the second imaging optical system (321)
The image sensor unit 310 and the terahertz detection unit 320 are disposed at different positions on the lower end of the light tube 111 to receive the respective lights passing through the light tube 111,
The sub-reflecting mirror portion 200 has the same number of sub-reflecting mirrors as the sum of the numbers of the first and second main reflecting mirrors 110 and 120 of the main reflecting mirror portion 100,
The first and second sub-reflectors 210 and 220 may be configured to detect a near-infrared signal and a terahertz signal having a diameter smaller than that of any one of the first and second main reflectors 110 and 120, . 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete

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