KR101390019B1 - 회로 검사용 테스트 장치 및 그 구동방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 제어계측 기술에 관한 것으로, 즉, 본 발명의 실시예에 따른 회로 검사용 테스트 장치 및 그 구동방법은 특히 국가기술자격시험의 작업형 시험에서 주어진 문제의 회로결선의 도통, 단락 및 개방시험, 램프(파이롯트램프) 무결성 시험, 정류회로 무결성 시험에 관한 이상유무를 상용전원(220V)공급 없이도 검사 및 체크함으로써, 국가기술자격시험에 응시한 시험자가 결선한 시험자 테스팅 회로에 대한 이상유무를 필요에 따라 실기시험 중간이라도 언제든지 확인할 수 있다.

Description

회로 검사용 테스트 장치 및 그 구동방법{Test Device examinating a Circuit and Drive Method of the Same}
본 발명은 제어계측 기술에 관한 것으로, 특히 국가기술자격시험의 작업형 시험에서 주어진 문제의 회로결선의 도통, 단락 및 개방시험, 램프(파이롯트램프) 무결성 시험, 정류회로 무결성 시험에 관한 이상유무를 상용전원(220V)공급 없이도 충분히 검사 및 체크하는 회로 검사용 테스트 장치 및 그 구동방법에 관한 것이다.
최근 들어 전자 및 반도체기술의 급진적인 발전으로 저항, 콘덴서, 코일, 다이오드, 트랜지스터 및 IC회로 등의 전자부품이 초소형화, 집적화되어 감에 따라 마더보드 또는 메인보드라고 일컬어지는 하나의 기판상에 해당 전자제품을 작동시킬 수 있는 각 전자부품을 버스구조로 연결하여 해당 전자제품에 내장함으로써 사용하고 있다.
전자부품 및 보드제작의 기술이 발전함에 따라 해당 전자제품 또한 갈수록 소형화 및 집적화되어 가고 있고, 전자제품의 소형화 및 집적화추세에 따라 메인보드상의 부품구조도 갈수록 복잡하게 구성되어 사용시 보드상에 쇼트 및 에러가 발생하는 경우 일반 측정기기나 테스트기로는 어느 부위에서 고장이 발생했는지를 검출하기가 불가능하여 작업현장에서 많은 애로사항이 있다.
이러한 보드상의 에러검출을 하기 위해 외국의 ATE 또는 BTS라는 Combinational Board Test System이나 국산 In_Circuit Tester 또는 MDA라는 보드 테스트 시스템을 공급하여, 에러가 발생한 보드를 검사하여 수리할 수 있도록 하고 있다. 하지만 기존의 국내외 회사에서 개발한 보드 테스트 시스템은 아래와 같은 문제점이 있다.
첫째, 주제어장치가 테스트 헤드(Testhead)의 외부에 실장되게 구성되어 있어 테스트 헤드 및 시스템 카드는 자체의 별도 프로세스로 나뉘어지게 되고, LAN이나 다른 통신 프로토콜을 사용하여 통신이 이루어지기 때문에 상호 인터페이스가 복잡해지고, 시스템의 수행속도도 떨어지게 되고, 테스트 헤드부분에 별도의 제어장치가 요구되어 시스템의 가격단가가 상승되며 시스템의 프로그램도 복잡해지고, 사용자 인터페이스 및 특수 계측기가 통합되어 작동되기가 어렵다는 문제점이 있다.
둘째, 기존의 보드 테스트 시스템의 Fixture 크기는 너무 두껍고 크기 때문에 관리 및 보관이 용이하지 않고, 이로 인해 Fixture의 제작비용이 상승하게 되고, 또한 Fixture작업이 수작업에 의존하는 Wrapping Wire방식을 사용하고 있어 수작업으로 인한 실수의 우려가 있고, 프로그램 디버깅시 Fixture의 수정작업이 빈번하게 되고, Fixture 수정작업에는 기본적으로 Fixture를 분해해야 하기 때문에 시간적인 손실이 크게 되고, Mux(Multiplex)방식의 릴레이 매트릭스(Relay Matrix)구조를 사용시에는 프로그램을 일부만 수정하여도 Fixture를 수정해야 하는 불편함이 있고, Wrapping Wire방식으로 인한 신호 잡음의 발생으로 인해 기능 테스트(Functional Test)의 안정성이 떨어진다는 문제점이 있다.
세째, 기존의 계측카드 즉, HPIO(Hybrid Pattern Input/Output) 마스터카드, DMM(Digital Multimeter)카드, AWG(Arbitrary Waveform Generator)카드, 스코프(Scope)카드, DIO(Digital Input/Output)카드, 사용자 인터페이스 카드 등의 계측카드를 별도로 PC back plane에 슬롯방식으로 체결하도록 하여 각 카드마다 별도의 프로세스를 가지게 되어 상호 인터페이스가 복잡해지게 되고, 시스템의 전체속도가 저하되는 문제점이 있다.
네째, 기존의 국산 In-Circuit 테스트 시스템은 CAD file을 이용하지 않고, 대부분의 작업이 수작업에 의해 이루어지기 때문에 작업시간이 많이 소요되고, 작업자의 실수도 우려되며, 그래픽 사용자 인터페이스(Graphical User Interface)방식의 구성이 어려워 텍스트 에디터방식을 이용함으로 인해 사용자의 편의성을 고려하지 않아 사용시 많은 불편함을 초래하고 있다.
다섯째, 제품의 단납기 추세로 인해 장비 검토/납기,프로그램 및 Fixture준비 기간등이 점점 짧아짐에 따라 수입 제품으로는 대응하기가 어려워지고 있다.
계속해서, 가정이나 공장 등 전기를 사용하는 전력사용처에서 전압, 전류 및 소비전력을 계측하기 위해 회로 시험기(tester)가 사용되고 있다.
이러한 회로 시험기는 저항, 전압 및 전류를 측정할 수 있는 계기가 하나의 몸체에 조립되어 있는 전기 계측기로서 축전지 또는 건전지, 전구, 콘센트, 다이오드 등과 같은 점검대상의 저항(OHMS), 직류 전압(DC V), 교류 전압(AC V)및 직류 전류(DC mA) 등을 측정하는데 사용된다.
종래의 회로 시험기는 상용전원을 응시자가 투입하지 못하는 문제가 있어 상용전력(110~220V)의 인가가 금지되어 있으며, 심사관에 의해서만 회로결선의 무결성을 최종 판단 받도록 하는 제약사항이 있는 문제점이 있었다.
한국특허 공개번호 : 10-2002-0060893 한국특허 공개번호 : 10-2005-0017162 한국특허 공개번호 : 10-2004-0013283 한국특허 공개번호 : 10-2011-0036192
본 발명의 회로 검사용 테스트 장치 및 그 구동방법은 앞서 본 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 제 1 목적은 국가기술자격시험(전기기능사실기, 전기기능장실기, 승강기기능사실기, 승강기산업기사실기 및 공조냉동기능사실기 등)의 작업형 시험에서 주어진 문제의 회로결선의 도통, 단락 및 개방시험, 램프(파이롯트램프) 무결성 시험, 정류회로 무결성 시험에 관한 이상유무를 상용전원(220V)공급 없이도 충분히 검사 및 체크하기 위함이다.
또한, 본 발명의 제 2 목적은 국가기술자격시험에서 시행되는 실기시험을 통해 작업된 시험자 테스팅 회로를 대상으로 ①회로결선의 도통, 단락 및 개방시험, ②램프(파이롯트램프) 무결성 시험, ③정류회로 무결성 시험에 관한 이상유무를 검사하더라도 상용전력(110 내지 220V)이 인가된 것과 동일한 환경하에서 회로 테스팅이 가능하도록 하기 위함이다.
또한, 본 발명의 제 3 목적은 국가기술자격시험에 응시한 시험자가 결선한 시험자 테스팅 회로에 대한 이상유무를 본 회로 검사용 테스트 장치를 이용해 직접 체크할 수 있어, 실기시험 도중이라도 잘못된 결선 상태를 바르게 수정 혹은 교정할 수 있음으로 합리적인 규칙을 시험자 개개인에게 공평하게 제공하고 이를 통해 공정한 시험제도 마련 및 산업발전에 이바지할 수 있는 훌륭한 인재들을 선발할 수 있기 위함이다.
상기의 과제를 달성하기 위한 본 발명은 다음과 같은 구성을 포함한다.
즉, 본 발명의 실시예에 따른 회로 검사용 테스트 장치는, 복수의 클럭 구형파를 생성시킨 후, 외부 연결된 제 1, 2 스위칭 트랜지스터가 동시에 온되지 않도록 상기 복수의 클럭 구형파를 상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터에 교대로 인가하는 클럭 발생부; 상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터를 구비하며, 상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터에 입력된 상기 복수의 클럭 구형파를 스위칭 제어함에 따라 변압기에 인가된 링크 전압으로 기전력을 유기한 후, 상기 기전력으로 상기 링크 전압을 승압해 교류 전압을 발생시키는 교류전압 승압부; 제 1 스위치 온시, 외부로부터 인가된 외부 전압으로 기구비된 제 1 발광표시소자의 점등상태를 확인하고, 상기 제 1 발광표시소자 점등시 작동상태 정상임을 파악하는 작동상태 확인부; 상기 외부 전압을 인가받아 기설정된 기준치로 레벨 다운시켜 저저압 레벨인 정전압을 생성시키는 전압 조정부; 상기 정전압을 인가받은 제 1, 2 검침 수단을 시험자 테스팅 회로에 배선된 다수의 접점 중 선택된 어느 양단에 탐침시켜 상기 시험자 테스팅 회로를 대상으로 한 도통시험, 단락시험 및 개방시험을 실시하는 테스팅 회로 검침부; 및 시험자 테스팅 회로가 도통 상태이면 부저를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 결선상태 양호임을 외부에 알리고, 상기 시험자 테스팅 회로가 단락 상태이면 제 2 발광표시소자를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 결선상태 불량임을 외부에 알리며, 상기 시험자 테스팅 회로가 개방된 상태이면 상기 제 2 발광표시소자를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 다른 결선상태 불량임을 외부에 알리는 결선상태 확인부를 포함하며, 상기 테스팅 회로 검침부는 기구비된 제 2 스위치를 온시켜 상기 정전압 대신 상기 제 1, 2 검침 수단에 인가된 상기 교류 전압으로 상기 시험자 테스팅 회로를 탐침하며, 상기 시험자 테스팅 회로에 기연결된 다수의 램프의 발광 여하에 따라 램프 무결성 시험에 관한 동작상태 유무를 판정하고, 기설치된 제 3 발광표시소자의 온-오프 동작에 따라 상기 시험자 테스팅 회로 내 배치된 적어도 하나의 정류회로 무결성 시험에 관한 조립상태 유무를 판정하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 회로 검사용 테스트 장치의 구동방법은, 클럭 발생부가 복수의 클럭 구형파를 생성시킨 후, 외부 연결된 제 1, 2 스위칭 트랜지스터가 동시에 온되지 않도록 상기 복수의 클럭 구형파를 상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터에 교대로 인가하는 단계; 교류전압 승압부가 상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터 상에 입력된 상기 복수의 클럭 구형파를 스위칭 제어함에 따라 변압기에 인가된 링크 전압으로 기전력을 유기한 후, 상기 기전력으로 상기 링크 전압을 승압해 교류 전압을 발생시키는 단계; 제 1 스위치 온시, 작동상태 확인부가 외부로부터 인가된 외부 전압으로 기구비된 제 1 발광표시소자의 점등상태를 확인하고, 상기 제 1 발광표시소자 점등시 작동상태 정상임을 파악하는 단계; 전압 조정부가 상기 외부 전압을 인가받아 기설정된 기준치로 레벨 다운시켜 저저압 레벨인 정전압을 생성시키는 단계; 테스팅 회로 검침부가 상기 정전압을 인가받은 제 1, 2 검침 수단을 시험자 테스팅 회로에 배선된 다수의 접점 중 선택된 어느 양단에 탐침시켜 상기 시험자 테스팅 회로를 대상으로 한 도통시험, 단락시험 및 개방시험을 실시하는 단계; 상기 도통시험 시, 결선상태 확인부가 부저를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 결선상태 양호임을 외부에 알리는 단계; 상기 단락시험 시, 상기 결선상태 확인부가 제 2 발광표시소자를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 결선상태 불량임을 외부에 알리는 단계; 및 상기 개방시험 시, 상기 결선상태 확인부가 상기 제 2 발광표시소자를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 다른 결선상태 불량임을 외부에 알리는 단계를 포함하며, 상기 테스팅 회로 검침부는 기구비된 제 2 스위치를 온시켜 상기 정전압 대신 상기 제 1, 2 검침 수단에 인가된 상기 교류 전압으로 상기 시험자 테스팅 회로를 탐침하며, 상기 시험자 테스팅 회로에 기연결된 다수의 램프의 발광 여하에 따라 램프 무결성 시험에 관한 동작상태 유무를 판정하고, 기설치된 제 3 발광표시소자의 온-오프 동작에 따라 상기 시험자 테스팅 회로 내 배치된 적어도 하나의 정류회로 무결성 시험에 관한 조립상태 유무를 판정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 회로 검사용 테스트 장치 및 그 구동방법은 국가기술자격시험(전기기능사실기, 전기기능장실기, 승강기기능사실기, 승강기산업기사실기 및 공조냉동기능사실기 등)의 작업형 시험에서 주어진 문제의 회로결선의 도통, 단락 및 개방시험, 램프(파이롯트램프) 무결성 시험, 정류회로 무결성 시험에 관한 이상유무를 상용전원(220V)공급 없이도 충분히 검사 및 체크하는 제 1 효과를 준다.
또한, 본 발명은 국가기술자격시험에서 시행되는 실기시험을 통해 작업된 시험자 테스팅 회로를 대상으로 ①회로결선의 도통, 단락 및 개방시험, ②램프(파이롯트램프) 무결성 시험, ③정류회로 무결성 시험에 관한 이상유무를 검사하더라도 상용전력(110 내지 220V)이 인가된 것과 동일한 환경하에서 회로 테스팅이 가능하도록 하는 제 2 효과를 준다.
또한, 본 발명은 국가기술자격시험에 응시한 시험자가 결선한 시험자 테스팅 회로에 대한 이상유무를 본 회로 검사용 테스트 장치를 이용해 직접 체크할 수 있어, 실기시험 도중이라도 잘못된 결선 상태를 바르게 수정 혹은 교정할 수 있음으로 합리적인 규칙을 시험자 개개인에게 공평하게 제공하고 이를 통해 공정한 시험제도 마련 및 산업발전에 이바지할 수 있는 훌륭한 인재들을 선발할 수 있는 제 3 효과를 준다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 회로 검사용 테스트 장치를 도시한 사시도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 회로 검사용 테스트 장치를 도시한 블록도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 회로 검사용 테스트 장치를 도시한 세부도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 회로 검사용 테스트 장치를 이용해 시험자 테스팅 회로를 검사하는 모습을 나타낸 이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 회로 검사용 테스트 장치의 구동방법을 나타낸 순서도이다.
[실시예]
이하, 본 발명의 실시예에 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 회로 검사용 테스트 장치를 도시한 도면이다.
도 1를 참조하면, 회로 검사용 테스트 장치(1000)는 국가기술자격시험의 작업형 시험에서 주어진 문제의 회로결선의 도통, 단락 및 개방시험, 램프(파이롯트램프) 무결성 시험, 정류회로 무결성 시험에 관한 이상유무를 상용전원(220V)공급 없이도 충분히 검사 및 체크한 장치로, 클럭 발생부(100), 교류전압 승압부(110), 작동상태 확인부(120), 전압 조정부(130), 테스팅 회로 검침부(140) 및 결선상태 확인부(150)를 포함한다.
먼저, 클럭 발생부(100)는 도 2, 도 3에서 보여지는 바와 같이, TL494C 칩을 이용하여 복수의 클럭 구형파를 생성시킨 후, 외부 연결된 제 1, 2 스위칭 트랜지스터(111, 112)가 동시에 온되지 않도록 복수의 클럭 구형파를 제 1, 2 스위칭 트랜지스터(111, 112)에 교대로 인가한다.
일반적으로, 클럭 발생부(100)는 컴퓨터의 내부 시계와 같은 기능을 해 준다.
클럭 발생부(100)는 컴퓨터가 작동하는데 필요한 박자를 만들어 내는 일을 하는데 컴퓨터의 여러 부분이 일을 하는데 필요한 박자를 맞추어 주는 것으로서, 이 타이밍을 정확하게 맞추기 위해서 수정시계(QUARTS)와 비숫한 일을 하는 수정발진자(QUARTS CYSTAL)를 사용한다. 수정의 초고속 발진을 이용해서 컴퓨터에서 필요로 하는 간격으로 전기적인 클럭신호를 출력한다. 즉, 크리스탈의 14.318MHZ의 신호를 받아서 CPU와 그 주위 회로를 동작시키는 전기적인 클럭신호를 발생시킨다
클럭 발생부(100)는 CPU, PCI-E 각종 칩에 클럭의 기초가 되는 기저 클럭을 최초로 만들고 분배해 주는 곳 주로 CPU 근처나 전원부에서 볼 수 있다.
교류전압 승압부(110)는 제 1, 2 스위칭 트랜지스터(111, 112)를 구비하며, 제 1, 2 스위칭 트랜지스터(111, 112)에 입력된 복수의 클럭 구형파를 스위칭 제어함에 따라 변압기(113)에 인가된 링크 전압으로 기전력을 유기한 후, 기전력으로 링크 전압을 승압해 교류 전압을 발생시킨다.
교류전압 승압부(110) 내 구성된 제 1, 2 스위칭 트랜지스터(111, 112)는 복수의 클럭 구형파에 의한 스위칭 변환으로 변압기(113)의 센터탭에 인가된 링크 전압을 변압기(113)의 제 1, 2 탭에 교대로 도통시켜 기전력을 유도한다.
교류전압 승압부(110)는 링크 전압을 변압기(1130)의 2차측에서 승압해 110 내지 330V의 교류 전압을 발생시킨다.
전원 공급부(160) 상에 기설치된 제 1 스위치(124) 온시, 작동상태 확인부(130)는 외부로부터 인가된 외부 전압으로 기구비된 제 1 발광표시소자(121)의 점등상태를 확인하고, 제 1 발광표시소자(121) 점등시 작동상태 정상임을 파악한다.
전압 조정부(130)는 외부 전압을 인가받아 기설정된 기준치로 레벨 다운시켜 저저압 레벨인 정전압을 생성시킨다.
전압 조정부(130)는 MC34063A 칩을 이용하여 외부 전압을 레벨 다운시켜 1 내지 9V로 안정화된 정전압을 생성시킨다.
테스팅 회로 검침부(140)는 도 4에서 보여지는 바와 같이, 정전압을 인가받은 제 1, 2 검침 수단(141, 142)을 시험자 테스팅 회로(200)에 배선된 다수의 접점 중 선택된 어느 양단에 탐침시켜 시험자 테스팅 회로(200)를 대상으로 한 도통시험, 단락시험 및 개방시험을 실시한다.
테스팅 회로 검침부(140)는 기구비된 제 2 스위치(143)를 온시켜 정전압 대신 제 1, 2 검침 수단(141, 142)에 인가된 교류 전압으로 시험자 테스팅 회로(200)를 탐침하며, 시험자 테스팅 회로(200)에 기연결된 다수의 램프의 발광 여하에 따라 램프 무결성 시험에 관한 동작상태 유무를 판정하고, 기설치된 제 3 발광표시소자(144)의 온-오프 동작에 따라 시험자 테스팅 회로(200) 내 배치된 적어도 하나의 정류회로 무결성 시험에 관한 조립상태 유무를 판정한다.
테스팅 회로 검침부(140)는 악어클립형 혹은 집게형으로 제작된 제 1 검침수단(141)과 막대형 혹은 봉형으로 제작된 제 2 검침수단(142)을 포함하는 세부장치로, 제 1, 2 검침수단(141, 142)을 이용해 시험자 테스팅 회로(200)에 배선된 다수의 접점 중 선택된 어느 양단에 각기 접촉시켜 시험자 테스팅 회로(200)의 도통상태, 단락상태 및 개방상태를 하나씩 탐지 및 검사한다.
또한, 테스팅 회로 검침부(140)는 시험자 테스팅 회로(200)에 기연결된 다수의 램프가 발광될 경우엔 램프 무결성 시험에 관한 동작상태를 정상으로 판정하며, 제 3 발광표시소자(144)가 온일 시 정류회로에 순방향 전압이 걸리는 것으로 인지해 정류회로의 조립상태를 양호로 판정한다.
결선상태 확인부(150)는 시험자 테스팅 회로(200)가 도통 상태이면 부저(151)를 온시켜 시험자 테스팅 회로(200)가 결선상태 양호임을 외부에 알리고, 시험자 테스팅 회로(200)가 단락 상태이면 제 2 발광표시소자(152)를 온시켜 시험자 테스팅 회로(200)가 결선상태 불량임을 외부에 알리며, 시험자 테스팅 회로(200)가 개방된 상태이면 제 2 발광표시소자(152)를 온시켜 시험자 테스팅 회로(200)가 다른 결선상태 불량임을 외부에 알린다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 회로 검사용 테스트 장치의 구동방법을 나타낸 순서도이다.
도 5를 참조하면, 회로 검사용 테스트 장치의 구동방법은 국가기술자격시험의 작업형 시험에서 주어진 문제의 회로결선의 도통, 단락 및 개방시험, 램프(파이롯트램프) 무결성 시험, 정류회로 무결성 시험에 관한 이상유무를 상용전원(220V)공급 없이도 검사 및 체크하는 장치의 구동방법이다.
먼저, 클럭 발생부는 복수의 클럭 구형파를 생성시킨 후, 외부 연결된 제 1, 2 스위칭 트랜지스터가 동시에 온되지 않도록 복수의 클럭 구형파를 제 1, 2 스위칭 트랜지스터에 교대로 인가한다(S100).
교류전압 승압부는 제 1, 2 스위칭 트랜지스터에 입력된 복수의 클럭 구형파를 스위칭 제어함에 따라 변압기에 인가된 링크 전압으로 기전력을 유기한 후, 기전력으로 링크 전압을 승압해 교류 전압을 발생시킨다(S110).
교류전압 승압부의 제 1, 2 스위칭 트랜지스터는 복수의 클럭 구형파에 의한 스위칭 변환으로 변압기의 센터탭에 인가된 링크 전압을 변압기의 제 1, 2 탭에 교대로 도통시켜 기전력을 유도함에 따라, 교류전압 승압부는 링크 전압을 변압기의 2차측에서 승압해 110 내지 330V의 교류 전압을 발생시킨다.
제 1 스위치 온시, 작동상태 확인부는 외부로부터 인가된 외부 전압으로 기구비된 제 1 발광표시소자의 점등상태를 확인하고, 제 1 발광표시소자 점등시 작동상태 정상임을 파악한다(S120).
전압 조정부는 외부 전압을 인가받아 기설정된 기준치로 레벨 다운시켜 저저압 레벨인 정전압을 생성시킨다(S130).
다시 말해, 전압 조정부는 외부 전압을 레벨 다운시켜 1 내지 9V로 안정화된 정전압을 생성시킨다.
테스팅 회로 검침부는 정전압을 인가받은 제 1, 2 검침 수단을 시험자 테스팅 회로에 배선된 다수의 접점 중 선택된 어느 양단에 탐침시켜 시험자 테스팅 회로를 대상으로 한 도통시험, 단락시험 및 개방시험을 실시한다(S140).
테스팅 회로 검침부는 기구비된 제 2 스위치를 온시켜 정전압 대신 제 1, 2 검침 수단에 인가된 교류 전압으로 시험자 테스팅 회로를 탐침하며(S150), 시험자 테스팅 회로에 기연결된 다수의 램프의 발광 여하에 따라 램프 무결성 시험에 관한 동작상태 유무를 판정하고(S160), 기설치된 제 3 발광표시소자의 온-오프 동작에 따라 시험자 테스팅 회로 내 배치된 적어도 하나의 정류회로 무결성 시험에 관한 조립상태 유무를 판정한다(S170).
도통시험 시, 결선상태 확인부는 부저를 온시켜 시험자 테스팅 회로가 결선상태 양호임을 외부에 알리며, 단락시험 시, 제 2 발광표시소자를 온시켜 시험자 테스팅 회로가 결선상태 불량임을 외부에 알린다(S180, S190).
또한, 개방시험 시, 결선상태 확인부는 제 2 발광표시소자를 온시켜 시험자 테스팅 회로가 다른 결선상태 불량임을 외부에 알린다(S200).
본 발명의 실시예에 따른 회로 검사용 테스트 장치의 구동방법은 이하 기재된 바와 같이 추가 동작을 실시하는데 용이하다.
회로 검사용 테스트 장치의 테스팅 회로 검침부는 제 1, 2 검침수단을 이용해 시험자 테스팅 회로에 배선된 다수의 접점 중 선택된 어느 양단에 각기 접촉시켜 시험자 테스팅 회로의 도통상태, 단락상태 및 개방상태를 하나씩 탐지 및 검사한다.
테스팅 회로 검침부는 다수의 램프가 발광되면, 램프 무결성 시험에 관한 동작상태를 정상으로 판정하며, 제 3 발광표시소자가 온일 시 정류회로에 순방향 전압이걸리는 것으로 인지해 정류회로의 조립상태를 양호로 판정한다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
1000 : 회로 검사용 테스트 장치
100 : 클럭 발생부 110 : 교류전압 승압부
120 : 작동상태 확인부 130 : 전압 조정부
140 : 테스팅 회로 검침부 150 : 결선상태 확인부

Claims (10)

  1. 복수의 클럭 구형파를 생성시킨 후, 외부 연결된 제 1, 2 스위칭 트랜지스터가 동시에 온되지 않도록 상기 복수의 클럭 구형파를 상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터에 교대로 인가하는 클럭 발생부;
    상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터를 구비하며, 상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터에 입력된 상기 복수의 클럭 구형파를 스위칭 제어함에 따라 변압기에 인가된 링크 전압으로 기전력을 유기한 후, 상기 기전력으로 상기 링크 전압을 승압해 교류 전압을 발생시키는 교류전압 승압부;
    제 1 스위치 온시, 외부로부터 인가된 외부 전압으로 기구비된 제 1 발광표시소자의 점등상태를 확인하고, 상기 제 1 발광표시소자 점등시 작동상태 정상임을 파악하는 작동상태 확인부;
    상기 외부 전압을 인가받아 기설정된 기준치로 레벨 다운시켜 저저압 레벨인 정전압을 생성시키는 전압 조정부;
    상기 정전압을 인가받은 제 1, 2 검침 수단을 시험자 테스팅 회로에 배선된 다수의 접점 중 선택된 어느 양단에 탐침시켜 상기 시험자 테스팅 회로를 대상으로 한 도통시험, 단락시험 및 개방시험을 실시하는 테스팅 회로 검침부; 및
    시험자 테스팅 회로가 도통 상태이면 부저를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 결선상태 양호임을 외부에 알리고, 상기 시험자 테스팅 회로가 단락 상태이면 제 2 발광표시소자를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 결선상태 불량임을 외부에 알리며, 상기 시험자 테스팅 회로가 개방된 상태이면 상기 제 2 발광표시소자를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 다른 결선상태 불량임을 외부에 알리는 결선상태 확인부를 포함하며, 상기 테스팅 회로 검침부는,
    기구비된 제 2 스위치를 온시켜 상기 정전압 대신 상기 제 1, 2 검침 수단에 인가된 상기 교류 전압으로 상기 시험자 테스팅 회로를 탐침하며, 상기 시험자 테스팅 회로에 기연결된 다수의 램프의 발광 여하에 따라 램프 무결성 시험에 관한 동작상태 유무를 판정하고, 기설치된 제 3 발광표시소자의 온-오프 동작에 따라 상기 시험자 테스팅 회로 내 배치된 적어도 하나의 정류회로 무결성 시험에 관한 조립상태 유무를 판정하는 것을 특징으로 하는 회로 검사용 테스트 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터는,
    상기 복수의 클럭 구형파에 의한 스위칭 변환으로 상기 변압기의 센터탭에 인가된 상기 링크 전압을 상기 변압기의 제 1, 2 탭에 교대로 도통시켜 상기 기전력을 유도하는 것을 특징으로 하는 회로 검사용 테스트 장치.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 교류전압 승압부는,
    상기 링크 전압을 변압기의 2차측에서 승압해 110 내지 330V의 상기 교류 전압을 발생시키는 것을 특징으로 하는 회로 검사용 테스트 장치.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 전압 조정부는,
    상기 외부 전압을 레벨 다운시켜 1 내지 9V로 안정화된 상기 정전압을 생성시키는 것을 특징으로 하는 회로 검사용 테스트 장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 테스팅 회로 검침부는,
    악어클립형 혹은 집게형으로 제작된 제 1 검침수단;
    막대형 혹은 봉형으로 제작된 제 2 검침수단을 포함하며,
    상기 제 1, 2 검침수단을 이용해 상기 시험자 테스팅 회로에 배선된 다수의 접점 중 선택된 어느 양단에 각기 접촉시켜 상기 시험자 테스팅 회로의 도통상태, 단락상태 및 개방상태를 하나씩 탐지 및 검사하며,
    상기 다수의 램프가 발광되면, 상기 램프 무결성 시험에 관한 동작상태를 정상으로 판정하며, 상기 제 3 발광표시소자가 온일 시 상기 정류회로에 순방향 전압이 걸리는 것으로 인지해 상기 정류회로의 조립상태를 양호로 판정하는 것을 특징으로 하는 회로 검사용 테스트 장치.
  6. a)클럭 발생부가 복수의 클럭 구형파를 생성시킨 후, 외부 연결된 제 1, 2 스위칭 트랜지스터가 동시에 온되지 않도록 상기 복수의 클럭 구형파를 상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터에 교대로 인가하는 단계;
    b)교류전압 승압부가 상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터 상에 입력된 상기 복수의 클럭 구형파를 스위칭 제어함에 따라 변압기에 인가된 링크 전압으로 기전력을 유기한 후, 상기 기전력으로 상기 링크 전압을 승압해 교류 전압을 발생시키는 단계;
    c)제 1 스위치 온시, 작동상태 확인부가 외부로부터 인가된 외부 전압으로 기구비된 제 1 발광표시소자의 점등상태를 확인하고, 상기 제 1 발광표시소자 점등시 작동상태 정상임을 파악하는 단계;
    d)전압 조정부가 상기 외부 전압을 인가받아 기설정된 기준치로 레벨 다운시켜 저저압 레벨인 정전압을 생성시키는 단계;
    e)테스팅 회로 검침부가 상기 정전압을 인가받은 제 1, 2 검침 수단을 시험자 테스팅 회로에 배선된 다수의 접점 중 선택된 어느 양단에 탐침시켜 상기 시험자 테스팅 회로를 대상으로 한 도통시험, 단락시험 및 개방시험을 실시하는 단계;
    f)상기 도통시험 시, 결선상태 확인부가 부저를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 결선상태 양호임을 외부에 알리는 단계;
    g)상기 단락시험 시, 상기 결선상태 확인부가 제 2 발광표시소자를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 결선상태 불량임을 외부에 알리는 단계; 및
    h)상기 개방시험 시, 상기 결선상태 확인부가 상기 제 2 발광표시소자를 온시켜 상기 시험자 테스팅 회로가 다른 결선상태 불량임을 외부에 알리는 단계를 포함하며,
    i)상기 테스팅 회로 검침부는,
    기구비된 제 2 스위치를 온시켜 상기 정전압 대신 상기 제 1, 2 검침 수단에 인가된 상기 교류 전압으로 상기 시험자 테스팅 회로를 탐침하며, 상기 시험자 테스팅 회로에 기연결된 다수의 램프의 발광 여하에 따라 램프 무결성 시험에 관한 동작상태 유무를 판정하고, 기설치된 제 3 발광표시소자의 온-오프 동작에 따라 상기 시험자 테스팅 회로 내 배치된 적어도 하나의 정류회로 무결성 시험에 관한 조립상태 유무를 판정하는 것을 특징으로 하는 회로 검사용 테스트 장치의 구동방법.
  7. 제 6 항에 있어서, b)단계에서, 상기 제 1, 2 스위칭 트랜지스터가,
    상기 복수의 클럭 구형파에 의한 스위칭 변환으로 상기 변압기의 센터탭에 인가된 상기 링크 전압을 상기 변압기의 제 1, 2 탭에 교대로 도통시켜 상기 기전력을 유도하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사용 테스트 장치의 구동방법.
  8. 제 6 항에 있어서, b)단계에서, 상기 교류전압 승압부가,
    상기 링크 전압을 변압기의 2차측에서 승압해 110 내지 330V의 상기 교류 전압을 발생시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사용 테스트 장치의 구동방법.
  9. 제 6 항에 있어서, d)단계에서, 상기 전압 조정부가,
    상기 외부 전압을 레벨 다운시켜 1 내지 9V로 안정화된 상기 정전압을 생성시키는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사용 테스트 장치의 구동방법.
  10. 제 6 항에 있어서, 상기 테스팅 회로 검침부가,
    e)단계에서, 상기 제 1, 2 검침수단을 이용해 상기 시험자 테스팅 회로에 배선된 다수의 접점 중 선택된 어느 양단에 각기 접촉시켜 상기 시험자 테스팅 회로의 도통상태, 단락상태 및 개방상태를 하나씩 탐지 및 검사하는 단계; 및
    i)단계에서, 상기 다수의 램프가 발광되면, 상기 램프 무결성 시험에 관한 동작상태를 정상으로 판정하며, 상기 제 3 발광표시소자가 온일 시 상기 정류회로에 순방향 전압이 걸리는 것으로 인지해 상기 정류회로의 조립상태를 양호로 판정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 회로 검사용 테스트 장치의 구동방법.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101997536B1 (ko) * 2018-05-08 2019-10-01 한국전력공사 회로 건전성 시험 장치, 이의 방법, 및 이 방법을 저장한 컴퓨터 판독 가능 저장 매체
KR102171386B1 (ko) * 2019-10-29 2020-10-28 유동근 계전기 시험 배선 자동 테스트 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR890003371B1 (ko) * 1986-09-20 1989-09-19 조은석 케이블 검사회로
KR900006283B1 (ko) * 1981-10-26 1990-08-27 넬슨 스톤 전자 검사 장치내의 핀 전자 인터페이스 회로의 자동 디-스큐우잉(De-skewing)방법 및 장치
JP2001242213A (ja) 2000-02-28 2001-09-07 Toshiba Fa Syst Eng Corp 変圧器の誘導試験装置および移動台車
KR100463450B1 (ko) 2003-10-25 2004-12-24 (주)김포전력 가로등 전선로 누전 위치 탐지를 위한 중첩 맥류 신호 발생 장치와 감지 신호 출력 장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR900006283B1 (ko) * 1981-10-26 1990-08-27 넬슨 스톤 전자 검사 장치내의 핀 전자 인터페이스 회로의 자동 디-스큐우잉(De-skewing)방법 및 장치
KR890003371B1 (ko) * 1986-09-20 1989-09-19 조은석 케이블 검사회로
JP2001242213A (ja) 2000-02-28 2001-09-07 Toshiba Fa Syst Eng Corp 変圧器の誘導試験装置および移動台車
KR100463450B1 (ko) 2003-10-25 2004-12-24 (주)김포전력 가로등 전선로 누전 위치 탐지를 위한 중첩 맥류 신호 발생 장치와 감지 신호 출력 장치

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101997536B1 (ko) * 2018-05-08 2019-10-01 한국전력공사 회로 건전성 시험 장치, 이의 방법, 및 이 방법을 저장한 컴퓨터 판독 가능 저장 매체
KR102171386B1 (ko) * 2019-10-29 2020-10-28 유동근 계전기 시험 배선 자동 테스트 장치

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