KR101371111B1 - Apparatus for led module inspecting - Google Patents
Apparatus for led module inspecting Download PDFInfo
- Publication number
- KR101371111B1 KR101371111B1 KR1020110146483A KR20110146483A KR101371111B1 KR 101371111 B1 KR101371111 B1 KR 101371111B1 KR 1020110146483 A KR1020110146483 A KR 1020110146483A KR 20110146483 A KR20110146483 A KR 20110146483A KR 101371111 B1 KR101371111 B1 KR 101371111B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- light emitting
- led module
- emitting diode
- light
- optical
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 82
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 25
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000009877 rendering Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 22
- 238000000926 separation method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/12—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using wholly visual means
- G01J1/14—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using wholly visual means using comparison with a surface of graded brightness
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0242—Control or determination of height or angle information of sensors or receivers; Goniophotometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0295—Constructional arrangements for removing other types of optical noise or for performing calibration
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B5/00—Optical elements other than lenses
- G02B5/02—Diffusing elements; Afocal elements
- G02B5/0205—Diffusing elements; Afocal elements characterised by the diffusing properties
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
본 발명은, LED 모듈이 포함하는 복수의 발광 다이오드의 광 특성을 검사하는 장치에 있어서, 상기 LED 모듈이 상부에 배치되는 본체; 상기 LED 모듈에 전원을 인가하여 발광이 이루어지도록 하는 전원 공급부; 상기 전원 공급부의 전원 인가 시 상기 발광 다이오드에서 방출되는 광을 수광하여 상기 발광 다이오드의 광 특성을 측정하여 해당하는 신호를 출력하는 광 측정부; 일단으로는 광 유입 홀이 형성되고 타단으로는 확산판이 배치되는 파이프 형태로서, 상기 발광 다이오드와 상기 광 측정부 사이의 이격 간격이 유지되도록 하는 경통부; 상기 본체 상에 배치되고 상기 광 측정부가 측정 대상인 상기 발광 다이오드의 직상부에 위치되도록 하는 이송부; 및 상기 광 측정부의 출력 신호에 의해 상기 발광 다이오드의 측정된 광특성값을 기준값과 비교하여 결과를 출력하는 제어부를 포함하는 LED 모듈 검사 장치를 제공한다.
본 발명은 측정 대상인 LED 모듈의 발광 다이오드와 광 측정기의 사이에 경통을 배치하여 발광 다이오드와 측정기의 거리를 일정하게 유지할 수 있어 LED 모듈이 포함하는 발광 다이오드의 광 특성 검사 조건을 균일하게 유지할 수 있고, 측정 대상인 LED 모듈의 발광 다이오드와 광 측정기의 사이에 경통을 배치하여 외부의 잡광이 유입되는 것을 방지하여 LED 모듈이 포함하는 발광 다이오드에 대한 광 특성 측정의 효율이 향상될 수 있다. The present invention provides a device for inspecting optical characteristics of a plurality of light emitting diodes included in an LED module, the apparatus comprising: a main body on which the LED module is disposed; A power supply unit applying power to the LED module to emit light; An optical measuring unit configured to receive light emitted from the light emitting diode when the power supply unit is applied and measure an optical characteristic of the light emitting diode to output a corresponding signal; A pipe part having a light inlet hole formed at one end thereof and a diffuser plate disposed at the other end thereof, the tube part configured to maintain a separation gap between the light emitting diode and the light measuring part; A transfer unit disposed on the main body and positioned so that the optical measurement unit is positioned directly above the light emitting diode to be measured; And a control unit for outputting a result by comparing the measured optical characteristic value of the light emitting diode with a reference value by an output signal of the optical measuring unit.
The present invention can maintain a constant distance between the light emitting diode and the measuring device by arranging a barrel between the light emitting diode of the LED module to be measured and the light measuring device to maintain the optical property inspection conditions of the light emitting diode included in the LED module uniformly. In addition, a tube may be disposed between the light emitting diode of the LED module to be measured and the light measuring device to prevent external light from flowing therein, thereby improving the efficiency of measuring light characteristics of the light emitting diode included in the LED module.
Description
본 발명은 LED 모듈 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 측정 대상인 LED 모듈의 발광 다이오드와 광 측정기의 거리를 일정하게 유지하고 외부의 잡광의 유입을 방지할 수 있는 LED 모듈 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an LED module inspection apparatus, and more particularly, to an LED module inspection apparatus capable of maintaining a constant distance between a light emitting diode and an optical meter of an LED module to be measured and preventing inflow of external light.
발광 소자는 전기를 빛으로 변환시키는 전자 소자의 일종으로서, 발광 다이오드(light emitting diode; LED)를 대표적인 예로 들 수 있다. 발광 다이오드는 형광등이나 백열등에 비해서 소비 전력이 낮고 수명이 긴 장점이 있으며, 구조가 간단하여 대량 생산이 용이하고 가격이 비교적 저렴한 장점이 있다. The light emitting device is a kind of electronic device that converts electricity into light, and a light emitting diode (LED) may be a representative example. Light emitting diodes have the advantages of low power consumption and long lifespan compared to fluorescent or incandescent lamps, and are simple in structure and easy to mass produce, and relatively inexpensive.
완성된 발광 소자는 모듈 형태로 제작되어 사용되는 것이 일반적이다. The completed light emitting device is generally manufactured and used in the form of a module.
LED 모듈은 복수개의 발광소자가 연속적으로 배열되는 형태로서, 칩온보드(Chip on board;COB) 형태로서 사각형, 바(bar) 형태 등 다양한 형태로 제작된 후, 조명 도구 또는 디스플레이 장치의 백라이트 유닛(Backlight unit) 등 다양한 용도로 사용된다. The LED module is a form in which a plurality of light emitting elements are continuously arranged, and is manufactured in various forms such as a square shape or a bar shape as a chip on board (COB) shape, and then a backlight unit of a lighting tool or a display device ( It is used for various purposes such as backlight unit.
LED 모듈이 포함하는 복수개의 발광 소자 중, 어느 하나의 발광 소자가 불량인 경우, LED 모듈을 사용하는 제품의 기능이 저하되므로 LED 모듈의 출시 전 LED 모듈이 포함하는 발광 소자에 대하여 측정을 수행하는 것이 바람직하다. If any one of the plurality of light emitting devices included in the LED module is defective, the function of the product using the LED module is reduced, so that the measurement of the light emitting devices included in the LED module before the LED module is released is performed. It is preferable.
LED 모듈에 대한 광 특성 검사 시, LED 모듈이 포함하는 발광 소자에서 방출되는 광 이외의 잡광이 광 측정기에 수광된다면 LED 모듈에 대한 광 특성 검사의 정확성이 저하되므로 이를 방지할 필요가 있다. When the optical properties of the LED module is inspected, if the incident light other than the light emitted from the light emitting device included in the LED module is received by the optical meter, the accuracy of the optical properties of the LED module may be deteriorated.
또한, 측정 대상인 LED 모듈과 광 측정기의 거리가 균일하게 유지되지 못한다면 광 측정기에 수광되는 광의 조도가 변화되므로 측정 대상인 LED 모듈과 광 측정기의 거리를 일정하게 유지할 필요가 있다. In addition, if the distance between the LED module and the optical meter to be measured is not maintained uniformly, since the illuminance of the light received by the optical meter is changed, it is necessary to maintain a constant distance between the LED module and the optical meter.
본 발명은 상기한 필요성을 해결하기 위한 것으로서, 측정 대상인 LED 모듈의 발광 다이오드와 광 측정기의 사이에 경통을 배치하여 외부의 잡광이 광 측정기 측으로 유입되는 것을 방지하여 LED 모듈이 포함하는 발광 다이오드에 대한 광 특성 측정 효율이 향상되도록 하는 LED 모듈 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention is to solve the above necessity, by arranging a barrel between the light emitting diode of the LED module to be measured and the light measuring device to prevent the external light from entering the light measuring device side for the light emitting diode included in the LED module An object of the present invention is to provide an LED module inspection device for improving the optical characteristic measurement efficiency.
또한, 본 발명은 측정 대상인 LED 모듈의 발광 다이오드와 광 측정기의 사이에 경통을 배치하여 발광 다이오드와 측정기의 거리를 일정하게 유지하여 LED 모듈이 포함하는 발광 다이오드에 대한 광 특성 측정 조건을 균일하게 유지할 수 있는 LED 모듈 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. In addition, the present invention is to maintain a constant distance between the light emitting diode and the light measuring device of the LED module to be measured to maintain a constant distance between the light emitting diode and the measuring device to maintain the optical characteristics measurement conditions for the light emitting diode included in the LED module An object of the present invention is to provide an LED module inspection device.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, LED 모듈이 포함하는 복수의 발광 다이오드의 광 특성을 검사하는 장치에 있어서, 상기 LED 모듈이 상부에 배치되는 본체; 상기 LED 모듈에 전원을 인가하여 발광이 이루어지도록 하는 전원 공급부; 상기 전원 공급부의 전원 인가 시 상기 발광 다이오드에서 방출되는 광을 수광하여 상기 발광 다이오드의 광 특성을 측정하여 해당하는 신호를 출력하는 광 측정부; 일단으로는 광 유입 홀이 형성되고 타단으로는 확산판이 배치되는 파이프 형태로서, 상기 발광 다이오드와 상기 광 측정부 사이의 이격 간격이 유지되도록 하는 경통부; 상기 본체 상에 배치되고 상기 광 측정부가 측정 대상인 상기 발광 다이오드의 직상부에 위치되도록 하는 이송부; 및 상기 광 측정부의 출력 신호에 의해 상기 발광 다이오드의 측정된 광특성값을 기준값과 비교하여 결과를 출력하는 제어부를 포함하는 LED 모듈 검사 장치를 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting optical characteristics of a plurality of light emitting diodes included in an LED module, the apparatus comprising: a main body on which the LED module is disposed; A power supply unit applying power to the LED module to emit light; An optical measuring unit configured to receive light emitted from the light emitting diode when the power supply unit is applied and measure an optical characteristic of the light emitting diode to output a corresponding signal; A pipe part having a light inlet hole formed at one end thereof and a diffuser plate disposed at the other end thereof, the tube part configured to maintain a separation gap between the light emitting diode and the light measuring part; A transfer unit disposed on the main body and positioned so that the optical measurement unit is positioned directly above the light emitting diode to be measured; And a control unit for outputting a result by comparing the measured optical characteristic value of the light emitting diode with a reference value by an output signal of the optical measuring unit.
상기 전원 공급부는 상기 LED 모듈에 전원을 인가하되 상기 광 측정부에 의한 검사 대상인 상기 발광 다이오드에 대하여만 전원을 공급할 수 있다.The power supply unit applies power to the LED module, but may supply power only to the light emitting diode that is an inspection target by the light measuring unit.
상기 전원 공급부는 상기 LED 모듈의 복수의 상기 발광 다이오드에 대하여 동일한 전원을 공급할 수 있다.The power supply unit may supply the same power to the plurality of light emitting diodes of the LED module.
상기 전원 공급부는 상기 LED 모듈의 복수의 상기 발광 다이오드에 대하여 공급하는 전원은 펄스 구동 방식의 정전류일 수 있다.The power supply unit may supply power to the plurality of light emitting diodes of the LED module may be a constant current of a pulse driving method.
상기 광 측정부가 측정하는 광 특성은 광도, 색도, 피크 파장, 주파장, 조도, 색온도, 연색성을 포함할 수 있다. The optical properties measured by the optical measuring unit may include light intensity, chromaticity, peak wavelength, dominant wavelength, illuminance, color temperature, and color rendering.
상기 기준값과 비교되는 광 특성값은 복수의 회수로 측정된 광 특성값의 평균값일 수 있다. The optical characteristic value compared with the reference value may be an average value of the optical characteristic values measured by a plurality of times.
상기와 같은 본 발명은, 측정 대상인 LED 모듈의 발광 다이오드와 광 측정기의 사이에 경통을 배치하여 발광 다이오드와 측정기의 거리를 일정하게 유지할 수 있어 LED 모듈이 포함하는 발광 다이오드의 광 특성 검사 조건을 균일하게 유지할 수 있다.The present invention as described above, by arranging a barrel between the light emitting diode of the LED module to be measured and the light measuring device to maintain a constant distance between the light emitting diode and the measuring device to uniform the light characteristic inspection conditions of the light emitting diode included in the LED module I can keep it.
또한, 측정 대상인 LED 모듈의 발광 다이오드와 광 측정기의 사이에 경통을 배치하여 외부의 잡광이 유입되는 것을 방지하여 LED 모듈이 포함하는 발광 다이오드에 대한 광 특성 측정의 효율이 향상될 수 있다.In addition, by arranging a barrel between the light emitting diode of the LED module to be measured and the light measuring device to prevent external light from flowing in, the efficiency of optical property measurement for the light emitting diode included in the LED module may be improved.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 LED 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 LED 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 3과 도 4는 본 발명에서 사용하는 경통의 구성을 나타내는 사시도 및 단면도이다.
도 4는 본 발명에서 사용하는 경통과 LED 모듈의 상관 관계를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명에 의한 LED 모듈 검사 장치의 광 특성 측정 대기 상태를 나타내는 도면이다. 1 is a perspective view showing the configuration of the LED module inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a block diagram showing the configuration of the LED module inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 and 4 are a perspective view and a cross-sectional view showing the configuration of a barrel used in the present invention.
4 is a view showing a correlation between the barrel and the LED module used in the present invention.
5 is a view showing the optical characteristic measurement standby state of the LED module inspection apparatus according to the present invention.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 LED 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 사시도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 LED 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 블록도이다. 1 is a perspective view showing the configuration of the LED module inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a block diagram showing the configuration of the LED module inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 1과 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 LED 모듈 검사 장치(100)는 본체(110), 전원 공급부(120), 광 측정기(130), 이송부(140), 경통(160) 및 제어부(170)를 포함한다. 1 and 2, the LED
본체(110)는 상부에 LED 모듈(10)에 대한 검사 위치를 제공하고, LED 모듈(10)에 대한 검사를 위한 후술하는 구성 요소들이 설치된다. The
도면에 의하면, 본체(110)는 금속 프레임 등을 이용하여 직육면체 형태로 형성되지만, 사용자의 필요에 따라 다양한 형태로 형성될 수 있다. 또한, 필요한 장소로 이동할 수 있도록 바퀴가 설치될 수 있고, 필요 장소에 고정될 수도 있다. According to the figure, the
본체(110)의 상부에는 검사 대상인 LED 모듈(10)이 배치된다.The
본 실시예에서, 측정 대상인 LED 모듈(10)은 소정 개수의 발광 다이오드가 일렬로 배치되어 있는 바(bar) 형태로 이루어지지만, 검사의 진행에 대응하여 후술하는 광 측정기(130)의 위치를 이동할 수 있다면, LED 모듈(10)의 형태는 바 형태로 제한되지 않는다. 다만, 설명의 용이함을 위해 LED 모듈(10)은 바 형태인 것으로 상정하여 설명하기로 한다. In the present embodiment, the
검사 대상인 LED 모듈(10)은 본체(110) 상에 복수개로 배치될 수 있다. The
전원 공급부(120)는 LED 모듈(10)이 배치되는 검사 위치인 본체(110)에 설치될 수 있다. The
전원 공급부(120)는 LED 모듈(10)에 포함되어 있는 발광 다이오드 각각에 대하여 전원을 공급하여 발광 다이오드에서 광이 방출되도록 한다. 이때, 전원 공급부(120)는 LED 모듈(10)이 포함하는 복수의 발광 다이오드에 대하여 개별적으로 전원을 공급하는 것이 바람직하다. The
본 실시예에서 사용하는 전원 공급부(120)는 10mA ~ 400 mA(±0.1mA)의 최대 300V(±0.1V)의 직류 전원을 공급할 수 있다. 이때, 전원 공급부(120)는 펄스 구동 방식으로 정전류의 전원을 공급할 수 있도록 구성된다. 전원 공급부(120)에서 공급되는 전원의 펄스 간격과 대기 시간 등은 사용자의 필요에 따라 변경될 수 있다.The
이때, 전원 공급부(120)는 하나의 LED 모듈(10)에 대한 검사가 진행되는 동안, LED 모듈(10)이 포함하고 있는 복수의 발광 다이오드 각각에 대하여 동일한 전원을 공급하여, 발광 다이오드에서 방출되는 광이 동일하도록 하는 것이 바람직하다. 전원 공급부(120)에서 LED 모듈(10)에 대하여 전원을 공급한 후, LED 모듈(10)이 포함하는 복수의 발광 다이오드에 대하여 순방향 전압을 측정할 수 있다. 측정된 순방향 전압은 LED 모듈(10)이 포함하는 복수의 발광 다이오드의 성능을 나타내는 특성으로서 인식될 수 있다. In this case, the
전원 공급부(120)는 LED 모듈(10)의 복수의 발광 다이오드에 대하여 개별적으로 전원을 공급하기 용이하도록 핀 블록(121)과 플레이트 형태의 모듈 배치판(122)를 포함할 수 있다. 여기서, 전원 공급을 위해 핀 블록(121)을 사용하는 것이 바람직하지만, 사용자의 필요에 따라 다양한 형태의 전원 공급 구성 요소가 사용될 수 있다. The
또한, 전원 공급부(120)는 광 특성의 측정을 위해 후술하는 광 측정기(130)의 직 하부에 위치된 발광 다이오드에 대하여 전원 공급이 가능하도록 구성되는 것이 바람직하다. In addition, the
광 측정기(130)는 LED 모듈(10)의 발광 다이오드에 전원이 공급되어 광이 방출될 때 방출된 광을 수광하여, 발광 다이오드의 광 특성을 측정하고 그 측정 결과를 출력한다. 이를 위해, 광 측정기(130)는 전원 공급부(120)와 신호 전달이 가능하게 연결되어, 전원 공급부(120)에서 발광 다이오드로 전원이 공급될 때, 광 측정기(130)의 동작이 이루어지도록 하는 것이 바람직하다. The
여기서, 광 측정기(130)가 측정하는 발광 다이오드의 광 특성은 광도, 색도, 피크 파장, 주파장, 조도, 색온도, 연색성을 포함할 수 있다. 이외에도, 광 측정기(130)가 측정하는 발광 다이오드의 광 특성은 광분광분포, 색좌표 등을 포함할 수 있다. 여기서, 발광 다이오드의 광특성 측정은 복수의 회수로 측정을 수행한 후, 평균값을 산출하여 수행하는 것이 바람직하다. Here, the optical characteristics of the light emitting diode measured by the
광 측정기(130)는 발광 다이오드에 대한 광 특성 검사 시 발광체(12)의 검사 위치에서 전원이 인가된 발광 다이오드의 직상방에 위치되는 것이 바람직하다. 이를 위해 광 측정기(130)의 고정 및 이송을 위한 이송부(140)가 설치될 수 있다. The
이송부(140)는 발광 다이오드의 광 특성을 측정하는 광 측정기(130)가 검사 대상인 LED 모듈(10)의 발광 다이오드 상부에 위치될 수 있도록 한다. The
이송부(140)는 광 측정기(130)를 X축 방향으로 이송하는 X축 레일(141)과 광 측정기(130)를 Y축 방향으로 이송하는 Y축 레일(142) 및 광 측정기(130)를 상하로 이송하는 Z 축 레일(143)을 포함한다. 본 실시예에서, X축 레일(141)은 LED 모듈(10)과 평행하게 배치되는 레일로 이루어지고, Y축 레일(142)은 X축 레일(141)이 Y축 방향으로 이동가능하게 하는 레일로 이루어질 수 있다. The
이송부(140)에 의해 광 측정기(130)의 이동 시, 광 측정기(130)의 이동 시작 위치와 종료 위치의 판별을 위해 이송부(140)에는 소정의 마킹이 표시될 수 있다. 마킹의 인식은 레이저 조사기(미도시)에 의해 이루어질 수 있다. When the
또한, 이송부(140)는 소정의 높이를 갖는 프레임(150) 상에 설치될 수 있다.In addition, the
따라서, 작업자가 LED 모듈(10)를 배치한 후 광 측정기(130)와 이송부(140)를 동작시키면, 이송부(140)는 복수로 배치되어 있는 LED 모듈(10)의 일측에서 타측으로 X축 레일(141)을 따라 광 측정기(130)를 이송시키며 발광 다이오드에 대한 광 특성 측정을 수행한다. 하나의 LED 모듈(10)에 대하여 검사가 완료되면 다음 열의 LED 모듈(10)로 Y축 레일(142)을 따라 광 측정기(130)를 이송시켜 광 특성 검사가 계속 수행되도록 한다. Therefore, when the operator operates the
LED 모듈(10)에 대한 광 측정기(130)의 정확한 이동을 위해 이송부(140)에는 LED 모듈(10)의 위치, LED 모듈(10) 간의 간격, LED 모듈(10)에 포함되는 발광 다이오드간의 간격에 대한 값이 설정되어 있다. In order to accurately move the
광 측정기(130)와 측정 대상인 발광 다이오드의 사이에는 경통(160)이 부착된다. A
경통(160)은 광 측정기(130)와 측정 대상인 발광 다이오드의 이격 거리가 일정하게 유지되도록 한다. 또한, 경통(160)은 측정 대상인 발광 다이오드에서 방출된 광 이외의 외부의 잡광이 광 측정기(130)로 유입되는 것을 방지한다. The
도 3과 도 4는 본 발명에서 사용하는 경통의 구성을 나타내는 사시도 및 단면도이다. 3 and 4 are a perspective view and a cross-sectional view showing the configuration of a barrel used in the present invention.
경통(160)은 사용자가 설정한 소정의 길이와 직경으로 형성되고 내측으로는 공간이 형성되어 있는 파이프 형태이다. 본 실시예에서, 경통(160)의 길이는 70mm 이다. 경통(160)의 길이는 가감될 수 있지만, 본체(110) 상부의 구조물 즉, LED 모듈(10)의 배치와 고정을 위한 구성 요소(예들 들어 핀블록(121))와 간섭되지 않는 최대의 길이로 설정하는 것이 바람직하다. The
경통(160)의 직경은 광 측정기(130)의 하단부에 고정 가능한 정도로 형성되는 것이 바람직하다. 본 실시예에서, 경통(160)의 내경은 12mm이고, 외경은 50mm 로 설정하였으나, 필요에 의해 가감될 수 있다. The diameter of the
경통(160)의 내주면은 빛의 난반사 방지를 위한 처리가 되어 있는 것이 바람직하다. The inner circumferential surface of the
그리고, 발광 다이오드의 광이 유입되는 경통(160)의 일단에는 경통(160)의 내측 직경보다 작은 직경의 홀(162)이 형성된다. 홀(162)에 의해 외부에서의 잡광 유입 방지 효과가 향상될 수 있다. 여기서, 홀(162)은 면적은 100mm2 인 정원 형태로 형성되는 것이 바람직하지만, 사용자의 필요에 따라 변경될 수 있다. In addition, a
도면에서는 홀(162)에 대하여 이해를 용이하게 하기 위하여 상대적으로 확대하여 도시하였다. In the drawings, the
경통(160)의 타단으로는 확산판(164)이 배치된다. The
확산판(164)은 발광 다이오드에서 방출된 광이 광 측정기(130)의 측정면 전체에 걸쳐 균일하게 확산된 상태에서 입사되도록 하여 광 측정기(130)에 의한 발광 다이오드의 광 특성 측정이 용이하도록 한다. The
한편, 경통(160)은 발광 다이오드에서 방출되는 광에 대하여 불투명한 재질로 이루어지는 것이 바람직하다. 즉, 발광 다이오드에서 방출되는 광이 가시광선인 경우, 경통(160)은 가시광선이 투과하지 못하는 재질로 만들어지고, 발광 다이오드에서 방출되는 광이 자외선 또는 적외선인 경우에는 자외선 또는 적외선이 투과하지 못하도록 제작되는 것이 바람직하다. On the other hand, the
제어부(170)는 광 측정기(130)에서 출력되는 신호를 입력받고, 기 설정되어 있는 발광 다이오드의 광 특성의 기준값과 비교하여 측정된 대상인 발광 다이오드의 광 특성이 기준값과 오차범위 이내인지 판단하고, 판단 결과를 출력한다.The
제어부(170)에서 출력되는 판단 결과는 측정된 발광 다이오드의 불량 여부로서, 판단 결과는 다양한 신호(음성, 발광 신호 등)를 이용하여 사용자에게 알려질 수 있다. The determination result output from the
상기와 같이 구성된 본 발명의 사용에 대해 살펴보기로 한다. The use of the present invention configured as described above will be described.
도 1에 도시된 바와 같이, 본체(110) 상부에 복수의 LED 모듈(10)이 배치된 다. As shown in FIG. 1, a plurality of
도 5는 본 발명에 의한 LED 모듈 검사 장치(100)의 광 특성 측정 대기 상태를 나타내는 도면으로서, 도시의 간략화를 위해 일부 구성요소만을 도시하였다. FIG. 5 is a view illustrating an optical characteristic measurement standby state of the LED
이후, 이송부(140)의 동작에 의해 광 측정기(130)는 복수의 LED 모듈(10) 중 측정 대상인 LED 모듈(10) 상부에 위치된다. 그리고, 이송부(140)의 더 세밀한 동작에 의해 광 측정기(130)는 LED 모듈(10)의 일단 즉, LED 모듈(10)이 포함하고 있는 발광 다이오드 중 일단부에 위치하고 있는 발광 다이오드의 직 상부에 위치된다.Thereafter, the
여기서, 사용자는 Z축 레일(143) 상의 광 측정기(130)의 높이를 조정하여 경통(160)이 핀 블록(121)과 같은 다른 구성요소와 간섭되지 않는 범위에서 가장 낮은 위치에 배치되도록 한 후, 측정 작업을 개시하는 것이 바람직하다. Here, the user adjusts the height of the
전원 공급부(120)는 LED 모듈(10)이 포함하는 발광 다이오드 중, 광 측정기(130)의 직하부에 위치한 발광 다이오드에 전원을 공급하고, 전원 공급 신호를 광 측정기(130)로 출력한다. 광 측정기(130)는 전원 공급 신호에 의해 발광 다이오드에서 발광이 이루어지는 것으로 판단하여, 발광 다이오드에 대한 광 특성 측정이 이루어지도록 한다. The
하나의 발광 다이오드에 대한 광 특성 측정이 완료되면, 이송부(140)는 광 측정기(130)를 이동시켜 이웃하는 발광 다이오드에 대하여 차례대로 광 특성 측정을 수행한다. 광 특성 측정 시, 발광 다이오드에 인가된 전원의 전류 소모량, 전압 강하 정도의 측정에 의한 전기 특성 특정도 동시에 수행될 수 있다. When the optical characteristic measurement for one light emitting diode is completed, the
여기서, 발광 다이오드의 광특성 측정은 복수의 회수로 이루어지는 것이 바람직하다. 복수의 회수로 광특성 측정을 수행한 후, 제어부(170)는 측정된 값의 평균값을 산출하고, 평균값을 기준값과 비교하여 양품 판정을 수행한다. 또한, 제어부(170)는 평균값과 기준값과의 차이 정도에 따라 등급 판정을 수행할 수 있다. Here, it is preferable that the optical characteristic measurement of a light emitting diode consists of several times. After the optical characteristic measurement is performed a plurality of times, the
이때, 이송부(140)에 의해 광 측정기(130)가 이동하는 동안에는 전원 공급부(120)에 의한 전원 공급은 정지된다. 이송부(140)의 동작이 정지하면 전원 공급부(120)는 전원 공급을 재개한다. At this time, the power supply by the
발광 다이오드의 광 특성 측정 시, 경통(160)은 LED 모듈(10)의 발광 다이오드와 광 측정기(130)의 간격이 일정하게 유지되도록 한다. 또한, 발광 다이오드에서 방출된 광 이외의 잡광이 광 측정기(130)로 유입되는 것을 방지할 수 있다. When measuring the light characteristics of the light emitting diode, the
측정 대상인 LED 모듈(10)이 포함하는 발광 다이오드의 광 특성 측정이 모두 완료되면, 이웃하는 LED 모듈(10)에 대한 광특성 측정을 위해 이송부(140)는 광 측정기(130)를 이동시킨다. When all the optical properties of the light emitting diode included in the
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.While the present invention has been described with reference to exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the appended claims. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.
10: LED 모듈
100: 모듈 검사 장치
110: 본체
120: 전원 공급부
130: 광 측정기
140: 이송부
160: 경통
170: 제어부10: LED module
100: module inspection device
110:
120: Power supply
130: light meter
140:
160: barrel
170:
Claims (6)
상기 LED 모듈이 상부에 배치되는 본체;
상기 LED 모듈에 전원을 인가하여 발광이 이루어지도록 하는 전원 공급부;
상기 전원 공급부의 전원 인가 시 상기 발광 다이오드에서 방출되는 광을 수광하여 상기 발광 다이오드의 광도, 색도, 피크 파장, 주파장, 조도, 색온도, 연색성, 광분광분포 및 색좌표를 포함하는 광 특성을 측정하여 해당하는 신호를 출력하는 광 측정부;
사용자가 설정한 길이와 직경을 갖는 파이프 형태로서, 상기 발광 다이오드와 상기 광 측정부의 사이에 부착되고, 일단으로는 상기 발광 다이오드에서 방출되는 광이 유입되는 광 유입 홀이 형성되며, 타단으로는 유입된 광을 확산시키는 확산판이 배치되고, 상기 발광 다이오드와 상기 광 측정부 사이의 이격 간격이 유지되도록 하는 경통부;
상기 본체 상에 배치되고, 상기 광 측정부를 이동시켜 상기 광 측정부가 측정 대상인 상기 발광 다이오드의 직상부에 위치되도록 하는 이송부; 및
상기 광 측정부의 출력 신호에 의해 상기 발광 다이오드의 측정된 광 특성값을 기 설정되어 있는 상기 발광 다이오드의 광 특성의 기준값과 비교하여 결과를 출력하는 제어부를 포함하는 LED 모듈 검사 장치.In the device for inspecting the optical characteristics of a plurality of light emitting diodes included in the LED module,
A main body in which the LED module is disposed;
A power supply unit applying power to the LED module to emit light;
Receiving light emitted from the light emitting diode when power is supplied to the power supply unit to measure optical characteristics including light intensity, chromaticity, peak wavelength, dominant wavelength, illuminance, color temperature, color rendering, light distribution, and color coordinates of the light emitting diode. An optical measuring unit for outputting a corresponding signal;
A pipe having a length and a diameter set by a user, and is attached between the light emitting diode and the light measuring unit, and a light inlet hole through which light emitted from the light emitting diode is introduced is formed, and the other end is inlet. A diffuser plate having a diffuser plate configured to diffuse the received light, and maintaining a spaced interval between the light emitting diode and the light measuring unit;
A transfer unit disposed on the main body and configured to move the optical measuring unit so that the optical measuring unit is positioned directly above the light emitting diode to be measured; And
And a control unit for outputting a result by comparing the measured optical characteristic value of the light emitting diode with a preset reference optical characteristic of the light emitting diode by an output signal of the optical measuring unit.
상기 전원 공급부는 상기 LED 모듈에 전원을 인가하되 상기 광 측정부에 의한 검사 대상인 상기 발광 다이오드에 대하여만 전원을 공급하는 LED 모듈 검사 장치.The method of claim 1,
The power supply unit applies power to the LED module, but the LED module inspection device for supplying power only to the light emitting diode that is the inspection target by the optical measuring unit.
상기 전원 공급부는 상기 LED 모듈의 복수의 상기 발광 다이오드에 대하여 동일한 전원을 공급하는 LED 모듈 검사 장치.The method of claim 1,
The power supply unit LED module inspection device for supplying the same power to the plurality of light emitting diodes of the LED module.
상기 전원 공급부는 상기 LED 모듈의 복수의 상기 발광 다이오드에 대하여 공급하는 전원은 펄스 구동 방식의 정전류인 LED 모듈 검사 장치.The method of claim 3,
The power supply unit supplying power to the plurality of light emitting diodes of the LED module is an LED module inspection device of a pulse drive type constant current.
상기 기준값과 비교되는 광 특성값은 복수의 회수로 측정된 광 특성값의 평균값인 LED 모듈 검사 장치.
The method of claim 1,
The LED module inspection apparatus of the optical characteristic value compared with the said reference value is an average value of the optical characteristic value measured by several times.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110146483A KR101371111B1 (en) | 2011-12-29 | 2011-12-29 | Apparatus for led module inspecting |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110146483A KR101371111B1 (en) | 2011-12-29 | 2011-12-29 | Apparatus for led module inspecting |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130077652A KR20130077652A (en) | 2013-07-09 |
KR101371111B1 true KR101371111B1 (en) | 2014-03-11 |
Family
ID=48990850
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110146483A KR101371111B1 (en) | 2011-12-29 | 2011-12-29 | Apparatus for led module inspecting |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101371111B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150125260A (en) * | 2014-04-30 | 2015-11-09 | 호서대학교 산학협력단 | Judging Method the luminaire performance through measuring illumination and uniformity factor |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101865363B1 (en) * | 2016-05-03 | 2018-06-08 | 유원엘디에스(주) | Method for judging quality of LED module and Apparatus for judging quality of LED module |
KR101816223B1 (en) * | 2016-09-29 | 2018-01-09 | 주식회사 파이맥스 | LED optical characteristics inspection device and an LED lighting fusion test automation and assembly systems including the same |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006098054A (en) | 2004-09-28 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | Chromaticity determination device for light emitting diode |
KR100754010B1 (en) * | 2005-11-16 | 2007-09-03 | 한국광기술원 | System for measuring optical and thermal properties of light emitting diode array and Control method useing thereof |
KR100753895B1 (en) * | 2006-09-14 | 2007-09-05 | 이호준 | Differential interference contrast microscope consist of singular body |
JP2008126471A (en) | 2006-11-20 | 2008-06-05 | Seiko Epson Corp | Apparatus for inspecting printer head, method for inspecting printer head, and method for manufacturing printer head |
-
2011
- 2011-12-29 KR KR1020110146483A patent/KR101371111B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006098054A (en) | 2004-09-28 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | Chromaticity determination device for light emitting diode |
KR100754010B1 (en) * | 2005-11-16 | 2007-09-03 | 한국광기술원 | System for measuring optical and thermal properties of light emitting diode array and Control method useing thereof |
KR100753895B1 (en) * | 2006-09-14 | 2007-09-05 | 이호준 | Differential interference contrast microscope consist of singular body |
JP2008126471A (en) | 2006-11-20 | 2008-06-05 | Seiko Epson Corp | Apparatus for inspecting printer head, method for inspecting printer head, and method for manufacturing printer head |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150125260A (en) * | 2014-04-30 | 2015-11-09 | 호서대학교 산학협력단 | Judging Method the luminaire performance through measuring illumination and uniformity factor |
KR101595179B1 (en) | 2014-04-30 | 2016-02-17 | 호서대학교 산학협력단 | Judging Method the luminaire performance through measuring illumination and uniformity factor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20130077652A (en) | 2013-07-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100768884B1 (en) | Luminous element test system | |
KR101279656B1 (en) | Probe inspection apparatus | |
KR100978246B1 (en) | Instrument and method for measuring total luminous flux of luminous elements | |
TWI533001B (en) | Method and apparatus for testing photovoltaic devices | |
US8436554B2 (en) | LED solar illuminator | |
KR100957748B1 (en) | Apparatus and Method for Inspecting LED Array | |
KR101371111B1 (en) | Apparatus for led module inspecting | |
KR100768912B1 (en) | Probe inspection apparatus | |
KR20090127651A (en) | Light-emitting diode properties measuring apparatus | |
KR20070052115A (en) | System for measuring optical and thermal properties of light emitting diode array | |
KR100958104B1 (en) | Led module or blu fixing apparatus for measuring optical property | |
CN103018256B (en) | LED (light-emitting diode) defect detecting system | |
KR101374880B1 (en) | Apparatus for testing LED | |
TWI638222B (en) | Camera test apparatus and method of testing camera | |
KR101376537B1 (en) | In-line System for testing LED | |
KR102000358B1 (en) | Apparatus for Measuring Characteristic for Solar Cell Using Controlling of LED Light | |
KR20190089710A (en) | Curing apparatus | |
KR20130032107A (en) | Illuminating apparatus and method of controlling the same | |
KR101544273B1 (en) | Apparatus for estimating of lighting device | |
KR101049097B1 (en) | Light source characteristic inspection system and inspection method using the same | |
KR101015792B1 (en) | Test jig for side luminescence type led array | |
CN108663549B (en) | Positioning device and testing system | |
WO2020184695A1 (en) | Light irradiation system | |
KR101243820B1 (en) | Insection appratus for image display panel | |
KR20090053500A (en) | Actinograph and back light unit therewith |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
N231 | Notification of change of applicant | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |