KR101332160B1 - Probe holder for measuring emc - Google Patents

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KR101332160B1
KR101332160B1 KR1020120080964A KR20120080964A KR101332160B1 KR 101332160 B1 KR101332160 B1 KR 101332160B1 KR 1020120080964 A KR1020120080964 A KR 1020120080964A KR 20120080964 A KR20120080964 A KR 20120080964A KR 101332160 B1 KR101332160 B1 KR 101332160B1
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민병희
김태윤
장재웅
장경덕
문귀원
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한국항공우주연구원
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Abstract

The present invention relates to a probe holder for measuring EMC. The probe holder for measuring EMC is a probe holder with a current injection probe and a current monitor probe and comprises a base plate having a groove for holding a probe in the shape corresponding to the shape of the current injection probe; a scale part for measuring a length formed at one side of the base plate in the longitudinal direction; and female and male connection parts formed at ends of the base plate in the longitudinal direction, respectively.

Description

이엠씨 측정용 프로브 거치대{PROBE HOLDER FOR MEASURING EMC}PROC HOLDER FOR MEASURING EMC}

본 발명은 이엠씨(EMC) 측정용 프로브 거치대에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 군용규격(MIL STD)에 따른 EMC 측정용 프로브 거치대에 관한 것이다.
The present invention relates to an EMC measuring probe holder, and more particularly, to an EMC measuring probe holder according to the Military Standard (MIL STD).

EMC란 Electro Magnetic Compatibility의 약어로 전자환경 문제에서의 전자기적 양립성 또는 전자적 적합성을 말한다. EMC stands for Electro Magnetic Compatibility. It refers to electromagnetic compatibility or electronic compatibility in electronic environment problems.

전자기로 인한 전자파장애 등 전자환경 문제에는 많은 문제들이 있으며 무선통신에서의 채널간 상호간섭문제, 주파수 스펙트럼 효용문제, 방송 전파의 고스트(ghost)문제, 로봇 시스템 등 컴퓨터 응용기기의 오동작 및 안전성 문제, 정보통신 네트워크의 신뢰성 문제등이 있으며 나아가 인체 등 생물 생태계에 대한 전자에너지의 영향이 보다 중요한 EMC의 문제로 돼 있다.There are many problems in the electronic environment such as electromagnetic interference caused by electromagnetic, and there are many problems such as mutual interference between channels in radio communication, frequency spectrum utility problem, ghost problem of broadcasting radio wave, malfunction and safety problems of computer application devices such as robot system, There are reliability issues in information and communication networks, and the impact of electronic energy on biological ecosystems, such as the human body, becomes more important for EMC.

예를 들면 텔레비전의 수신장애에서는 고층빌딩, 송전선, 고가교탑 등으로부터 반사되는 전파에 의한 고스트 발생, 정보통신 네트워크 에서는 무선이동통신에서의 주행성 패이징이나 도시전파 잡음에 의한 오동작, 사람을 비롯한 생물체에 미치는 생체장해(hazard)등 많은 문제들이 있다. 이들 불요 전자 에너지의 방사원에 대한 대책만이 아니라 장해를 받는 쪽도 내방해파특성(immunity)의 강화책을 강구, 실시해 조화있는 해결책을 탐구하는 것을 바탕으로 전자기적양립성(EMC)이란 개념이 생겨났다. For example, ghost generation caused by radio waves reflected from high-rise buildings, transmission lines, and high-rise towers in reception disturbances of televisions. There are many problems such as biohazard. The concept of Electromagnetic Compatibility (EMC) was developed based on the search for harmonized solutions by implementing measures to strengthen the immunity against the radiation source of unnecessary electron energy as well as the obstacles. .

즉, 전자파양립성(EMC)이란 내성(Immunity)을 향상시켜 민감성(Susceptibility)을 저하시키는 것이다. In other words, electromagnetic compatibility (EMC) is to improve the resistance (Immunity) to reduce the susceptibility (Susceptibility).

각종 전자기기의 사용이 폭발적으로 증가함과 동시에 디지털 기술과 반도체기술 등의 발달로 정밀전자기기의 응용분야가 광범위해지면서 이들로부터 발생하는 전자파 장해가 전파잡음 간섭을 비롯해 정밀전자기기의 상호 오동작, 인체 등 생체에 미치는 생체악영향(Biological Hazard)을 유발하게 되어 생물 생태계에의 전자에너지의 영향이 큰 문제로 대두 되면서 1973년에 IEC는 EMC(전자환경문제-Electro Magnetic Compatibility)를 다루는 기술위원회인 TC-77을 만들어 전자파 환경 문제를 중점적으로 심의하고 있다. With the explosive increase in the use of various electronic devices and the development of digital and semiconductor technologies, the application fields of precision electronic devices have become widespread. As the influence of electronic energy on the biological ecosystem became a big problem because it caused biological adverse effects on living organisms such as the human body, in 1973, IEC was TC, a technical committee dealing with EMC (Electro Magnetic Compatibility). It is focusing on electromagnetic environment issues by creating -77.

한편, MIL STD 461E는 원전설비 등 중요기기에 적용하는 군용규격으로 현재 사용하는 EMC 상용규격의 원조이고, MIL STD 461 규격은 수십 년 동안 변천을 거듭하여 상용규격과 일부 측정방법에서 공통점을 갖도록 발전해 최근에 MIL STD 461E가 발표되었다. Meanwhile, MIL STD 461E is a military standard applied to important equipment such as nuclear power facilities, and is the origin of EMC's current commercial standard. MIL STD 461 standard has evolved for decades and developed to have commonality between commercial standard and some measurement methods. Recently, the MIL STD 461E was released.

도 1은 일반적인 MIL-STD 461E에 따른 전도성 노이즈(Conducted Emission) 시험 셋업(Set-up)을 설명하기 위한 도면이고, 도 2는 일반적인 CS(Conducted Susceptibility) 101 시험 셋업 구조를 나타낸 블록도이다. FIG. 1 is a diagram for describing a conducted noise test set-up according to a general MIL-STD 461E, and FIG. 2 is a block diagram illustrating a general conducted susceptibility (CS) 101 test setup structure.

도 1 및 도 2를 참조하면, 신호발생기(10)로부터 신호를 생성하여 증폭기(20)에 의해 증폭시킨 후 방향성 커플러(30)를 통해 신호를 인가하는 구조이다. 이때, 시험대상 장비에 전원을 공급하기 위한 LISN(Line Impedance Stabilization Network)(40)과 피측정물인 EUT(Equipment Unit Test)(50) 사이에 전류 주입 프로브(Injection Probe)(60)와 전류 모니터 프로브(Monitor Probe)(70)를 배치하여 프로브를 통해 사인파를 인가한 후 인가된 사인파를 모니터링 하도록 구성되어 있다. 1 and 2, a signal is generated from the signal generator 10, amplified by the amplifier 20, and then a signal is applied through the directional coupler 30. At this time, a current injection probe 60 and a current monitor probe between a line impedance stabilization network (LISN) 40 for supplying power to the device under test and an equipment unit test (EUT) 50, which is a measurement target, (Monitor Probe) 70 is configured to apply a sine wave through the probe and to monitor the applied sine wave.

또한, LISN(40)과 EUT(50) 간의 이격 거리(2m), 동판으로부터 전원 케이블의 이격 거리(5cm), 케이블간 이격 거리(2cm), 전류 주입 프로브(60)와 전류 모니터 프로브(70) 간의 이격 거리(5cm) 등을 규정하고 있다. In addition, the separation distance (2m) between the LISN 40 and the EUT 50, the separation distance of the power cable from the copper plate (5cm), the separation distance between the cables (2cm), the current injection probe 60 and the current monitor probe 70 The separation distance (5cm) of a liver is prescribed | regulated.

도 3은 종래기술에 따른 MIL-STE 시험 셋업 사진을 나타낸 것으로, 도 3에 도시된 바와 같이 종래에는 별도의 거치대 없이 5cm 두께의 스티로폼(점선 표시)을 이용하여 시험 셋업을 수행하고 있다. FIG. 3 shows a MIL-STE test setup picture according to the prior art. As shown in FIG. 3, the test setup is performed using a styrofoam (dotted line) having a thickness of 5 cm without a cradle.

이에 따라, 매 측정시마다 측정에 필요한 장비를 MIL-STD 규격에 부합하도록 수작업으로 세팅해야하므로 번거로울 뿐만 아니라 측정 동안 스티로폼의 이동 등으로 인해 측정환경이 변할 수 있는 우려가 있다.
Accordingly, since the equipment required for the measurement must be manually set to meet the MIL-STD standard at every measurement, the measurement environment may be changed due to the movement of the styrofoam during the measurement.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 측정 동안 프로브의 측정 위치를 보다 정확하고 편리하게 고정시킬 수 있는 이엠씨 측정용 프로브 거치대를 제공하는 것이다. Accordingly, the present invention has been made to solve the problems of the prior art, it is to provide an EM measuring probe holder that can more accurately and conveniently fix the measurement position of the probe during the measurement.

본 발명의 보다 구체적인 다른 목적은, 각 측정 장치들의 위치를 보다 편리하게 설정할 수 있는 이엠씨 측정용 프로브 거치대를 제공하는 것이다.
Another specific object of the present invention is to provide an EM measuring probe holder for more convenient setting of the position of each measuring device.

이를 위해 본 발명의 일 실시예에 따른 이엠씨 측정용 프로브 거치대는 이엠씨(EMC) 측정용 전류 주입 프로브와 전류 모니터 프로브가 탑재되는 프로브 거치대로서, 상기 전류 주입 프로브의 형상과 대응되는 형상의 프로브 거치용 홈이 형성된 베이스 플레이트와; 상기 베이스 플레이트의 일 측면에 길이방향으로 형성된 길이측정용 눈금부; 및 상기 베이스 플레이트의 상기 길이방향 단부에 각각 형성된 암연결부 및 수연결부를 포함하는 것을 특징으로 한다. For this purpose, the probe holder for the MC measuring probe according to the embodiment of the present invention is a probe holder on which an EM measuring current injection probe and a current monitor probe are mounted, and for mounting a probe having a shape corresponding to the shape of the current injection probe. A grooved base plate; A scale for measuring length formed on one side of the base plate in a longitudinal direction; And a female connection part and a male connection part respectively formed at the longitudinal end of the base plate.

본 발명의 일 실시예에서, 상기 베이스 플레이트와 일체로 형성되어 상기 프로브 거치용 홈이 상기 프로브 거치대가 설치되는 바닥면으로부터 일정 높이 이격되도록 하는 지지대를 더 포함할 수 있다. In one embodiment of the present invention, it may further include a support formed integrally with the base plate so that the probe mounting groove is spaced apart from the bottom surface on which the probe holder is installed by a predetermined height.

본 발명의 일 실시예에서, 상기 베이스 플레이트의 폭방향으로 형성된 양쪽 단부는 0.5 내지 1cm의 폭으로 형성될 수 있다. In one embodiment of the present invention, both ends formed in the width direction of the base plate may be formed in a width of 0.5 to 1cm.

본 발명의 일 실시예에서, 상기 프로브 거치대의 길이는 50cm로 형성될 수 있다.
In one embodiment of the present invention, the length of the probe holder may be formed to 50cm.

본 발명에 따른 이엠씨 측정용 프로브 거치대에 의하면, 측정 동안 프로브의 위치를 고정하여 보다 정확하고 편리하게 측정이 이루어질 수 있도록 한다. According to the probe holder for the MC measurement according to the present invention, by fixing the position of the probe during the measurement to be able to make a more accurate and convenient measurement.

또한, 본 발명의 이엠씨 측정용 프로브 거치대에 의하면, 프로브간 이격 거리 뿐만 아니라 LISN과 EUT간의 이격 거리, 케이블간 이격 거리 등 MIL-STD 규격에 부합하도록 이엠씨 측정 장치들을 편리하게 셋업 및 위치를 조절할 수 있고, 측정 동안 장치들의 위치를 고정시켜 측정 신뢰도를 높일 수 있다.
In addition, according to the probe holder for the MC measurement of the present invention, as well as the separation distance between the probe, the distance between the LISN and the EUT, the cable separation distance and the like can be conveniently set up and position the EMS measurement devices to meet the MIL-STD standard It is possible to increase the measurement reliability by fixing the positions of the devices during the measurement.

도 1은 일반적인 MIL-STD 461E에 따른 전도성 노이즈(Conducted Emission) 시험 셋업(Set-up)을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 일반적인 CS(Conducted Susceptibility) 101 시험 셋업 구조를 나타낸 블록도이다.
도 3은 종래기술에 따른 MIL-STE 시험 셋업 사진을 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 거치대의 사시도이다.
도 5는 도 4에 도시된 프로브 거치대의 정면도이다.
도 6은 도 4에 도시된 프로브 거치대의 측면도이다.
도 7은 도 4에 도시된 프로브 거치대의 평면도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 거치대의 사용 상태도이다. 1 is a view for explaining a set-up (Conducted Emission) test set-up according to the general MIL-STD 461E.
Figure 2 is a block diagram showing a typical conducted susceptibility (CS) 101 test setup structure.
Figure 3 shows a MIL-STE test setup picture according to the prior art.
4 is a perspective view of a probe holder according to an embodiment of the present invention.
5 is a front view of the probe holder shown in FIG. 4.
6 is a side view of the probe holder shown in FIG. 4.
FIG. 7 is a plan view of the probe holder shown in FIG. 4. FIG.
8 is a state diagram used in the probe holder according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 상세히 설명하면 다음과 같다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 판례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear. In addition, the terms described below are defined in consideration of the functions of the present invention, and these may vary depending on the intention of the user, the operator, or the precedent. Therefore, the definition should be based on the contents throughout this specification.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 거치대의 사시도이고, 도 5 내지 도 7은 각각 도 4의 정면도, 측면도, 평면도이다. 4 is a perspective view of the probe holder according to an embodiment of the present invention, Figures 5 to 7 are a front view, a side view, a plan view of Figure 4, respectively.

도 4 내지 도 7을 참조하면, 본 실시예에 따른 프로브 거치대(100)는 프로브가 놓이게 되는 베이스 플레이트(110)와, 상기 베이스 플레이트(110)를 지지하는 지지대(120)와, 상기 베이스 플레이트(110)의 일 측면에 형성된 눈금부(130)와, 상기 베이스 플레이트(110)의 양쪽 단부에 형성된 한 쌍의 암, 수 연결부(140, 150)를 포함한다. 4 to 7, the probe holder 100 according to the present embodiment includes a base plate 110 on which the probe is placed, a support 120 supporting the base plate 110, and the base plate ( The scale portion 130 formed on one side of the 110, and a pair of female, male connecting portions 140, 150 formed at both ends of the base plate 110.

상기 베이스 플레이트(110)에는 전류 주입 프로브(current injection probe) 및 전류 모니터 프로브(current monitoring probe)를 수용하도록 프로브 거치용 홈(112)이 형성되어 있으며, 프로브 거치용 홈(112)은 프로브와 대응되는 형상으로 이루어져 전류 주입 프로브가 흔들리지 않고 안정적으로 설치될 수 있도록 프로브를 고정하는 역할을 한다. 예를 들어, 전류 주입 프로브가 원형인 경우 베이스 플레이트의 바닥 쪽 일부는 전류 주입 프로브와 대응되는 형상 및 크기의 원형이고 양쪽 측면은 직사각형으로 전체적으로 U자 형상을 이룬다. The base plate 110 is provided with a probe mounting groove 112 to accommodate a current injection probe and a current monitoring probe, and the probe mounting groove 112 corresponds to the probe. It consists of a shape that serves to fix the probe so that the current injection probe can be installed stably without shaking. For example, when the current injection probe is circular, a portion of the bottom side of the base plate is circular in shape and size corresponding to the current injection probe, and both sides are rectangular and generally U-shaped.

또한, 베이스 플레이트(110)의 폭(W)은 5cm 이내이며, 양쪽 측면의 폭은 각각 1cm를 넘지 않도록 한다. 이는 케이블과 케리블간의 이격 거리를 2cm 이하로 일정하게 유지하도록 하기 위한 것으로, MIL-STK 규격에 따르면 케이블간 이격 거리는 2cm 이하로 규정하고 있다. 예를 들어, 프로브 거치용 홈(112)의 폭을 3cm, 양쪽 측면의 폭을 각각 1cm로 할 수 있다. In addition, the width W of the base plate 110 is less than 5cm, the width of both sides do not exceed 1cm each. This is to keep the separation distance between the cable and the cable at 2 cm or less. According to the MIL-STK standard, the separation distance between the cables is 2 cm or less. For example, the width of the probe mounting groove 112 may be 3 cm and the width of both sides may be 1 cm, respectively.

또한, 베이스 플레이트(110)는 목재나 플라스틱 등의 부도체 재질로 형성되는 것이 바람직하며, 유전율 면에서 목재가 플라스틱에 비해 우수한 특성을 나타낸다. 다만, 플라스틱 재질의 경우 거치대를 제조함에 있어 사출성형 공법을 통해 하나의 몸체로 제조할 수 있으므로 제조공정 및 비용면에서 플라스틱 재질이 더 적합할 수 있다. In addition, the base plate 110 is preferably formed of a non-conductive material such as wood or plastic, and wood exhibits superior characteristics in comparison to plastic in terms of permittivity. However, in the case of a plastic material, the plastic material may be more suitable in terms of manufacturing process and cost since it may be manufactured in one body through an injection molding method.

상기 지지대(120)는 베이스 플레이트(110) 위에 배치되는 전원 케이블(power cable)이 거치대가 설치되는 바닥면(동판)으로부터 일정 높이(H)(5cm) 이격되도록 하기 위한 것으로, 베이스 플레이트와 일체로 형성되는 것이 바람직하다. The support 120 is to allow a power cable disposed on the base plate 110 to be spaced a predetermined height (H) (5 cm) from the bottom surface (copper plate) on which the cradle is installed, and integrally with the base plate. It is preferably formed.

상기 눈금부(130)는 베이스 플레이트(110)의 일 측면에 길이를 표시하는 눈금 형태로 형성되는 길이측정수단으로서 mm 단위로 표시되는 것이 바람직하다. 이러한 눈금부를 이용하여 베이스 플레이트 위에 설치되는 전류 주입 프로브와 전류 모니터 프로브 간의 간격(5cm)을 조절할 수 있다. 이때, 상기 눈금부(130)는 베이스 플레이트의 길이방향을 따라 전체적으로 표시되거나 길이방향 일부에 부분적으로 표시될 수 있다. The scale unit 130 is preferably displayed in mm units as length measuring means formed in the form of a scale indicating the length on one side of the base plate (110). The scale may be used to adjust the distance (5 cm) between the current injection probe and the current monitor probe installed on the base plate. In this case, the graduation unit 130 may be displayed as a whole along the longitudinal direction of the base plate or may be partially displayed in the longitudinal direction.

상기 한 쌍의 암, 수 연결부(140, 150)는 베이스 플레이트(110)의 길이방향 양쪽 단부에 하나씩 형성되어 여러 개의 거치대를 조립식으로 연결하여 사용할 수 있도록 한다. 예를 들어, 베이스 플레이트의 길이(B)를 45cm로 설정하고, 암, 수 연결부 각각의 길이를 4cm로 설정하면 4개의 거치대를 연결 조립함으로써 ETU와 LISN 사이의 이격 거리가 2m가 되도록 구성할 수 있다.The pair of female and male connectors 140 and 150 are formed at both ends of the base plate 110 in the longitudinal direction one by one so that a plurality of cradles can be assembled and used. For example, if the length (B) of the base plate is set to 45 cm and the length of each male and female connection part is set to 4 cm, the four stand holders can be connected and assembled so that the separation distance between the ETU and the LISN is 2 m. have.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 거치대의 사용 상태도로서, 도 8의 (a)는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로브 거치대에 전류 주입 프로브와 전류 모니터 프로브가 장착된 상태를 도시한 것이고, 도 8의 (b)는 도 8의 (a)의 우측면도이고, 도 8의 (c)는 도 8의 (a)의 좌측면도이다.8 is a state diagram using the probe holder according to an embodiment of the present invention, Figure 8 (a) shows a state in which the current injection probe and the current monitor probe is mounted on the probe holder according to an embodiment of the present invention. FIG. 8B is a right side view of FIG. 8A, and FIG. 8C is a left side view of FIG. 8A.

도 8을 참조하면, 프로브 거치대(100)의 오른쪽에 전류 주입 프로브(60)가 배치되고, 전류 주입 프로브(60)로부터 왼쪽으로 5cm 이격된 위치에 전류 모니터 프로브(70)가 배치되어 있다. 이들 전류 주입 프로브(60)와 전류 모니터 프로브(70) 간의 간격은 별도의 측정자를 사용하지 않고 베이스 플레이트의 일 측면에 표시되어 있는 눈금부를 보면서 용이하게 조절할 수 있다. 또한, 프로브 거치대(100)는 동판(1) 위에 설치되며, 전원 케이블(80)은 동판(1) 위로 5cm 이격되어 위치하고 있다. Referring to FIG. 8, the current injection probe 60 is disposed on the right side of the probe holder 100, and the current monitor probe 70 is disposed at a position spaced 5 cm from the current injection probe 60. The distance between these current injection probes 60 and the current monitor probes 70 can be easily adjusted while viewing the scales displayed on one side of the base plate without using a separate measuring instrument. In addition, the probe holder 100 is installed on the copper plate 1, the power cable 80 is located 5cm apart on the copper plate (1).

이와 같이, 본 발명에 따른 프로브 거치대를 이용하면 동판 위에 4개의 프로브 거치대를 연결하여 조립한 다음 전류 주입 프로브와 전류 모니터 프로브를 프로브 거치용 홈 위에 올려놓은 후 측면에 새겨진 눈금부를 보면서 전류 주입 프로브와 전류 모니터 프로브 사이의 간격을 5cm로 설정할 수 있다. 따라서, 보다 정확하고 편리한 측정이 이루어질 수 있다. As described above, using the probe holder according to the present invention, the four probe holders are assembled and assembled on the copper plate, and then the current injection probes and the current monitor probes are placed on the grooves for mounting the probes. The distance between the current monitor probes can be set to 5 cm. Thus, more accurate and convenient measurement can be made.

한편, 본 발명의 상세한 설명 및 첨부도면에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 본 발명은 개시된 실시예에 한정되지 않고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다. 따라서, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들을 포함하는 것으로 해석되어야 할 것이다.
While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and similarities. Accordingly, the scope of the present invention should be construed as being limited to the embodiments described, and it is intended that the scope of the present invention encompasses not only the following claims, but also equivalents thereto.

60 : 전류 주입 프로브
70 : 전류 모니터 프로브
100 : 프로브 거치대
110 : 베이스 플레이트
112 : 프로브 거치용 홈
120 : 지지대
130 : 눈금부
140, 150 : 연결부60: current injection probe
70: current monitor probe
100: probe holder
110: base plate
112: probe mounting groove
120: support
130:
140, 150: connection portion

Claims (4)

이엠씨(EMC) 측정용 전류 주입 프로브와 전류 모니터 프로브가 탑재되는 프로브 거치대로서,
상기 전류 주입 프로브의 형상과 대응되는 형상의 프로브 거치용 홈이 형성된 베이스 플레이트와;
상기 베이스 플레이트의 일 측면에 길이방향으로 형성된 길이측정용 눈금부와;
상기 베이스 플레이트의 상기 길이방향 단부에 각각 형성된 암연결부 및 수연결부와;
상기 베이스 플레이트와 일체로 형성되어 상기 프로브 거치용 홈이 상기 프로브 거치대가 설치되는 바닥면으로부터 일정 높이 이격되도록 하는 지지대를 포함하는 것을 특징으로 하는 이엠씨 측정용 프로브 거치대.
A probe holder equipped with an EM injection current injection probe and a current monitor probe.
A base plate having a probe mounting groove formed in a shape corresponding to that of the current injection probe;
A length measuring scale formed in a length direction on one side of the base plate;
A female connecting portion and a male connecting portion respectively formed at the longitudinal end of the base plate;
An MC measuring probe holder, characterized in that it is formed integrally with the base plate so that the probe mounting groove is spaced apart from the bottom surface on which the probe holder is installed by a predetermined height.
삭제delete 제 1 항에 있어서, 상기 베이스 플레이트의 폭방향으로 형성된 양쪽 단부는 0.5 내지 1cm의 폭으로 형성되는 것을 특징으로 하는 이엠씨 측정용 프로브 거치대.
The method of claim 1, wherein both ends formed in the width direction of the base plate is a probe holder for the MC measurement, characterized in that formed in a width of 0.5 to 1cm.
제 1 항에 있어서, 상기 베이스 플레이트의 길이는 45cm, 상기 암연결부와 상기 수연결부 각각의 길이는 4cm인 것을 특징으로 하는 이엠시 측정용 프로브 거치대. According to claim 1, wherein the length of the base plate 45cm, the length of each of the female connector and the male connector is 4cm measuring probe holder.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009293933A (en) 2008-06-02 2009-12-17 Kansai Electric Power Co Inc:The Probe support member and magnetic field distribution measuring device using the same
KR20100070861A (en) * 2008-12-18 2010-06-28 주식회사 코리아 인스트루먼트 Probe card
KR20100097810A (en) * 2009-02-27 2010-09-06 양 전자시스템 주식회사 Apparatus for operating of prob pin in probing apparatus
KR20110022202A (en) * 2009-08-27 2011-03-07 (주)유비프리시젼 Multi probe unit

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009293933A (en) 2008-06-02 2009-12-17 Kansai Electric Power Co Inc:The Probe support member and magnetic field distribution measuring device using the same
KR20100070861A (en) * 2008-12-18 2010-06-28 주식회사 코리아 인스트루먼트 Probe card
KR20100097810A (en) * 2009-02-27 2010-09-06 양 전자시스템 주식회사 Apparatus for operating of prob pin in probing apparatus
KR20110022202A (en) * 2009-08-27 2011-03-07 (주)유비프리시젼 Multi probe unit

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