KR101189909B1 - Method of inspecting mixed light state of simulation light emitting diode light source - Google Patents

Method of inspecting mixed light state of simulation light emitting diode light source Download PDF

Info

Publication number
KR101189909B1
KR101189909B1 KR1020110009424A KR20110009424A KR101189909B1 KR 101189909 B1 KR101189909 B1 KR 101189909B1 KR 1020110009424 A KR1020110009424 A KR 1020110009424A KR 20110009424 A KR20110009424 A KR 20110009424A KR 101189909 B1 KR101189909 B1 KR 101189909B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light
led
led unit
coordinates
image
Prior art date
Application number
KR1020110009424A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20120073076A (en
Inventor
이 룽 웽
흐신-타이 양
밍-한 리
Original Assignee
크로마 에이티이 인코포레이티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 크로마 에이티이 인코포레이티드 filed Critical 크로마 에이티이 인코포레이티드
Publication of KR20120073076A publication Critical patent/KR20120073076A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101189909B1 publication Critical patent/KR101189909B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/443—Emission spectrometry
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/58—Photometry, e.g. photographic exposure meter using luminescence generated by light
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/52—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using colour charts
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28—Investigating the spectrum
    • G01J3/443—Emission spectrometry
    • G01J2003/4435—Measuring ratio of two lines, e.g. internal standard

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

확산 시트가 없는 상태에서 복수의 LED 라이트바에 포함되는 복수의 LED 유닛에 대해 동시에 공동 검출 화상을 찍고 공동 검출 화상의 각 LED 유닛의 좌표 및 상기 좌표와 대응되는 광 강도자료를 탐지하며 표준 확산광 프로파일을 각 LED 유닛에 적용함으로써 각 LED 유닛의 광 확산 상태 시뮬레이션 화상을 계산해내도록 하며 상기 광 확산 상태 시뮬레이션 화상으로서 각 LED램프의 혼합 광 상태 광 강도 자료를 계산하는 시뮬레이션 발광 다이오드 광원 혼합 광 상태 검출 방법에 관한 것이다.Simultaneously take a joint detection image for a plurality of LED units included in a plurality of LED lightbars in the absence of a diffusion sheet, detect the coordinates of each LED unit of the joint detection image and the light intensity data corresponding to the coordinates, and standard diffuse light profile Is applied to each LED unit to calculate a light diffusion state simulation image of each LED unit, and to calculate the mixed light state light intensity data of each LED lamp as the light diffusion state simulation image. It is about.

Description

시뮬레이션 발광 다이오드 광원 혼합 광 상태 검출 방법{METHOD OF INSPECTING MIXED LIGHT STATE OF SIMULATION LIGHT EMITTING DIODE LIGHT SOURCE}Simulated LED light source mixed light state detection method {METHOD OF INSPECTING MIXED LIGHT STATE OF SIMULATION LIGHT EMITTING DIODE LIGHT SOURCE}

본 발명은 발광 다이오드(Light Emitting Diode, 이하 "LED"라고 함) 광원의 혼합 광 상태를 검출하는 방법에 관한 것으로, 특히 소프트웨어를 개량하여 복수의 LED 유닛의 출력 광이 확산 시트를 투과하여 된 혼합 광 상태를 시뮬레이션하는 시뮬레이션 LED 혼합 광 상태 검출 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for detecting a mixed light state of a light emitting diode (“LED”) light source. In particular, the software is improved to mix the output light of a plurality of LED units through a diffusion sheet. A simulation LED mixed light state detection method for simulating a light state is provided.

발광 다이오드 기술이 성숙하게 발전되고 가격이 점점 내려감에 따라 냉음극관을 LED로 대체하여 대규모패널의 백라이트로 사용하는 추세이다. 실제 응용에서 보면, LED는 점 광원에 속하므로 백라이트로 사용할 경우 복수의 LED를 LED 라이트바(LED Light Bar)로 조립하며 복수의 LED 라이트바를 패널 주변에 붙여 사용한다. As light-emitting diode technology matures and prices decrease, it is increasingly used as a backlight for large-scale panels by replacing cold cathode tubes with LEDs. In practical applications, LEDs belong to a point light source, so when used as a backlight, a plurality of LEDs are assembled into LED light bars, and a plurality of LED light bars are attached around the panel.

현재는 LED 라이트바가 출하 전 테스트 단계에서 실제로 패널에 적용된 경우의 광선 표현을 시뮬레이션하기 위하여 적어도 하나의 확산 시트(Diffuser Film)를 투과하게 하여 검출 대기 LED에서 나온 광을 혼광하여 균일한 면 광원으로 한 다음, 단점식 광색도 측정 장치(single-point photometric color measurement device)로써 검출한다. 검출 대기 LED 라이트바를 검출할 경우, 검출 대기 LED 라이트바 위의 복수의 서로 다른 구간을 하나씩 순서에 따라 발광하게 함으로써 단점식 광색도 측정 장치가 구간 사이에 간섭이 없는 상황에서 각 구간의 개별 광 강도 및 컬러 값을 검출하도록 하여 검출 대기 LED 라이트바가 균일하게 발광하는 양품인지를 검증한다. At present, the LED light bar is transmitted through at least one diffuser film to simulate the ray representation when it is actually applied to the panel during the pre-shipment test phase. Next, it is detected by a single-point photometric color measurement device. When detecting the detection waiting LED light bar, the plurality of different sections on the detection waiting LED light bar are emitted one by one in order, so that the individual light intensity of each section in the situation where the disadvantage type photochromic measuring device has no interference between the sections And detecting the color value to verify whether the detection standby LED light bar emits light uniformly.

검증 프로세스를 자세히 설명하기 위하여 본 발명의 종래기술의 LED 라이트바 검증방법의 동작 설명도인 도 1 및 도 1a를 참조한다. 도면에서와 같이 구간 A와 구간 B로 나눌 수 있다. 각 구간에서의 LED 유닛(1)은 서로 전기적으로 연결된다. 실제로 검출을 진행할 경우 LED 라이트바(100) 위에 확산 시트(200)를 덮는다. 먼저 구간 A의 LED 유닛(1)에 전기를 넣어 점등하여 단점식 광색도 측정 장치(300)로써 구간 A의 LED 유닛(1)의 확산 시트(200)를 투과한 광에 대해 제1 광 강도 및 제1 컬러 값을 찍는다. 다음 구간 B에 전기를 넣어 점등하여 단점식 광색도 측정 장치(300)를 이동하여 제2 광 강도 및 제2 컬러 값을 찍는다. 제1 광 강도, 제1 컬러 값, 제1 광 강도 및 제2 컬러 값이 합격 범위 내에 있는지를 비교하여 LED 라이트바(100)가 표준에 합격하는 지를 판단할 수 있다.To explain the verification process in detail, reference is made to FIGS. 1 and 1A, which is an operation explanatory diagram of the LED light bar verification method of the prior art of the present invention. As shown in the figure, it can be divided into section A and section B. The LED units 1 in each section are electrically connected to each other. In the case of actually detecting, the diffusion sheet 200 is covered on the LED light bar 100. First, the first light intensity and the light transmitted through the diffusion sheet 200 of the LED unit 1 of the section A as the short-term photochromic measuring device 300 by turning on the electricity to the LED unit 1 of the section A to turn on. Take a first color value. The electricity is turned on in the next section B, and the light is moved to draw the second light intensity and the second color value. The first light intensity, the first color value, the first light intensity, and the second color value may be compared to determine whether the LED light bar 100 passes the standard.

상술한 검증방법의 장점은 검출 대기 LED 라이트바의 각 LED를 하나씩 검증할 필요가 없이 전체 LED 라이트바가 확산 시트를 투과하는 광선이 검증표준에 부합되는지를 확정할 수 있다. 그러나 확산 시트의 혼합 광 역할로 인해 부동한 LED 라이트바의 출력 광이 서로 간섭하는 문제가 생기므로 상술의 검증 방법은 구간을 따라 순서적으로 전기를 넣어 점등시켜 검사해야만 하므로 검증과정이 시간이 많이 소요되며 효율이 낮게 된다.The advantage of the above-described verification method is that it is possible to determine whether the light beams passing through the diffusion sheet of the entire LED light bar meet the verification standard without having to verify each LED of the detection standby LED light bar one by one. However, due to the mixed light role of the diffusion sheet, the output light of the different LED lightbars interferes with each other. Therefore, the verification method needs to be turned on and inspected in sequence along the section, so the verification process is time consuming. And the efficiency is low.

만약 동시에 대량의 검출 대기 LED 라이트바를 검출하려면 반드시 복수의 검출 대기 LED 라이트바가 동시에 점등한 후 광선이 확산 시트를 투과한 후 균일하게 혼합되어 개별적으로 분별하여 검증하기 어려운 문제를 극복해야 한다. 본 발명의 발명자는 상기 문제에 입각하여 새로운 시뮬레이션 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법을 연구하여 LED 라이트바의 검증에 적용함으로써 일차적으로 대량의 검출 대기 LED 라이트바를 검출할 수 있도록 하여 검증효율을 향상시키고 제조과정을 단축시키는 효과를 달성하였다.If at the same time to detect a large number of detection waiting LED light bar, the plurality of detection waiting LED light bar must be turned on at the same time, then the light beam passes through the diffusion sheet and then uniformly mixed to overcome the problem of difficult to separate and verify individually. In accordance with the above problem, the inventor of the present invention studies a new simulation LED light mixed light state detection method and applies it to the verification of LED light bars to primarily detect a large amount of detection standby LED light bars, thereby improving verification efficiency and manufacturing. The effect of shortening the process was achieved.

종래기술은 상기와 같은 LED 라이트바의 검증효율을 향상시키지 못하는 문제점이 있으므로, 본 발명의 목적은 시뮬레이션 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법을 제공함으로써 복수의 LED 라이트바를 동시에 검출 가능하며 복수의 LED 라이트바가 확산 시트를 투과한 후 서로 혼합, 간섭하여 검증에 영향을 주는 문제를 배제하며 각 LED 라이트바의 정확한 혼합 광 상태 광 강도 자료를 얻도록 하는 데 있다.Since the prior art has a problem that does not improve the verification efficiency of the LED light bar as described above, an object of the present invention is to provide a method for detecting a simulated LED light source mixed light state can simultaneously detect a plurality of LED light bar and a plurality of LED light bar After passing through the diffusion sheet, it is possible to obtain the accurate mixed light state light intensity data of each LED light bar by eliminating the problem of mixing and interfering with each other and affecting the verification.

본 발명의 시뮬레이션 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법은 종래기술의 문제를 해결하기 위하여 다음과 같은 기술 수단을 사용한다. 적어도 하나의 확산 시트를 투과하는 LED 유닛에 대해 단독적으로 확산광 필드 프로파일을 찍는다. 그 중에서 상기 LED 유닛은 최적 표준 샘플(Golden Sample)이다. 따라서 상기 확산광 필드 프로파일을 정규화(Normalize)하여 표준 확산광 필드 프로파일로 한다. The simulation LED light source mixed light state detection method of the present invention uses the following technical means to solve the problems of the prior art. The diffused light field profile is taken alone for the LED unit passing through the at least one diffuser sheet. Among them, the LED unit is an optimal standard sample (Golden Sample). Therefore, the diffused light field profile is normalized to a standard diffused light field profile.

복수의 LED 라이트바가 포함하는 복수의 LED 유닛에 대해 동시에 공동 검출 화상을 찍고 공동 검출 화상으로부터 각 LED 유닛의 좌표 및 상기 좌표에 대응되는 광 강도자료를 탐지한다. 상기 좌표와 광 강도 자료에 기초하여 표준 확산광 필드 프로파일을 각 LED 유닛에 적용하여 각 LED 유닛의 광 확산 상태의 시뮬레이션 화상을 계산할 수 있다. 상기 광 확산 상태의 시뮬레이션 화상을 통합함으로써 각 LED 라이트바의 혼합 광 상태의 광 강도자료를 계산할 수 있다.A joint detection image is simultaneously taken for a plurality of LED units included in the plurality of LED light bars, and the coordinates of each LED unit and light intensity data corresponding to the coordinates are detected from the joint detection image. Based on the coordinates and the light intensity data, a standard diffused light field profile may be applied to each LED unit to calculate a simulated image of the light diffused state of each LED unit. By integrating the simulation image of the light diffusion state, the light intensity data of the mixed light state of each LED light bar can be calculated.

본 발명의 바람직한 실시예에서 화상 촬영 장치를 이용하여 상기 공동 검출 화상을 찍는다. 그리고 상기 각 LED 유닛의 좌표는 법선 방향으로 출력되는 광의 출력지점의 좌표를 가리킨다. 표준 확산광 필드 프로파일을 각 LED 유닛에 적용할 경우 각 LED 유닛의 상기 법선 방향으로 출력되는 광의 출력지점의 좌표에 대응되는 광 강도 자료를 상기 표준 확산광 필드 프로파일의 중심 좌표에 대입한다. In a preferred embodiment of the present invention, the joint detection image is taken by using an image photographing apparatus. And the coordinates of each LED unit indicates the coordinates of the output point of the light output in the normal direction. When the standard diffused light field profile is applied to each LED unit, light intensity data corresponding to the coordinates of the output point of the light output in the normal direction of each LED unit is substituted into the center coordinates of the standard diffused light field profile.

종래기술의 LED 라이트바 혼합 광 상태 검출 방법이 많은 시간을 소요하여 효율이 낮은데 비해, 본 발명의 시뮬레이션 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법은 패널 완제품의 규격에 따라 사전에 알맞은 표준 확산광 필드 프로파일을 만들 수 있고 확산 시트가 없는 상황에서 동시에 대량의 LED 유닛에 대해 동시에 공동 검출 화상을 찍고 표준 확산광 필드 프로파일을 각 LED 유닛에 적용시켜 각 LED 유닛의 광 확산 상태 시뮬레이션 화상을 계산한다. 따라서 LED 라이트바가 확산 시트를 투과한 후의 광 균일 역할을 감안하지 않아도 되고 일차적으로 복수의 LED 라이트바와 이에 포함하는 LED 유닛을 검출할 수 있고 긴 막대모양 외에도 여러 가지 모양의 LED 라이트바에도 적용할 수 있다. 그 외에도 본 발명의 검출 방법은 한 번의 검출과정에서 LED 라이트바의 전체적인 광 강도 분포 데이터(porofile)를 얻을 수 있어 반드시 각 LED 유닛의 위치를 하나씩 검출한 후에 LED 라이트바의 전체적인 광 강도분포데이터를 알 수 있는 종래기술에 비해 검출 과정이 많이 간단하게 되었다.While the LED light bar mixed light state detection method of the prior art takes a long time and has low efficiency, the simulation LED light source mixed light state detection method of the present invention creates a standard diffuse light field profile that is suitable in advance according to the specifications of the panel finished product. In the absence of a diffused sheet, a simultaneous detection image is taken for a large number of LED units simultaneously and a standard diffuse light field profile is applied to each LED unit to calculate a light diffusion state simulation image of each LED unit. Therefore, it is not necessary to consider the role of light uniformity after the LED light bar passes through the diffusion sheet, and can primarily detect a plurality of LED light bars and LED units included therein, and can be applied to various shapes of LED light bars in addition to the long bar shape. have. In addition, the detection method of the present invention can obtain the overall light intensity distribution data (porofile) of the LED light bar in one detection process, so that after detecting the position of each LED unit one by one, the overall light intensity distribution data of the LED light bar is obtained. Compared with the known prior art, the detection process is much simpler.

도 1 및 도 1a는 본 발명의 종래기술의 LED 라이트바 검증방법의 동작 설명도.
도 2는 본 발명의 확산광 필드 화상의 설명도.
도 2a는 본 발명의 화산광 필드 프로파일의 일차원 설명도.
도 2b는 본 발명의 표준 확산광 필드 프로파일의 설명도.
도 3은 LED 라이트바의 설명도.
도 3a는 공동 검출 화상(12)의 설명도.
도 3b는 LED 유닛의 좌표와 광 강도 자료의 도표.
도 4는 LED 라이트바의 혼합 광 상태의 광 강도 자료.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예의 간단한 순서.1 and 1a is a diagram illustrating the operation of the LED light bar verification method of the prior art of the present invention.
2 is an explanatory diagram of a diffused light field image of the present invention;
Figure 2a is a one-dimensional explanatory diagram of the volcanic light field profile of the present invention.
2B is an explanatory diagram of a standard diffuse light field profile of the present invention.
3 is an explanatory diagram of an LED light bar.
3A is an explanatory diagram of a cavity detection image 12.
3b is a diagram of coordinates and light intensity data of an LED unit.
4 is a light intensity material of the mixed light state of the LED light bar.
5 is a simple sequence of a preferred embodiment of the present invention.

이하, 실시예 및 도면에 기초하여 본 발명의 구체적인 실시예를 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the specific Example of this invention is described based on an Example and drawing.

본 발명은 발광 다이오드 검출 방법에 관한 것으로, 특히 시뮬레이션 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법에 관한 것이다. 이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 예로서 설명한다. 그러나 이는 단지 예에 불과하며 본 발명을 한정하는 것이 아님을 당업자라면 반드시 알아야 한다. 바람직한 실시예는 이하 구체적으로 설명한다.The present invention relates to a light emitting diode detection method, and more particularly to a method for detecting a simulated LED light source mixed light state. Hereinafter, the preferred embodiment of the present invention will be described by way of example. However, it should be understood by those skilled in the art that this is only an example and does not limit the present invention. Preferred embodiments are described in detail below.

본 발명의 시뮬레이션 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법은 동시에 복수의 LED 유닛을 검출하는데 적용된다. 상기 LED 유닛은 LED 칩 모듈일 수 있고, 복수의 상기 LED 유닛을 한 조로 하는 LED 라이트바(LED light bar)가 복수개 구성된다. 상기 LED 라이트바는 평면표시패널의 백라이트로 적용되므로 반드시 광선 혼합 광 상태의 검출을 진행해야 한다.The simulation LED light source mixed light state detection method of the present invention is applied to detect a plurality of LED units at the same time. The LED unit may be an LED chip module, and a plurality of LED light bars including a plurality of the LED units are configured. Since the LED light bar is applied as a backlight of a flat panel display panel, the light mixed light state must be detected.

도 2 내지 도 2b를 참조한다. 도 2는 본 발명의 확산광 필드 화상의 설명도이고, 도 2a는 본 발명의 화산광 필드 프로파일의 일차원 설명도이며, 도 2b는 본 발명의 표준 확산광 필드 프로파일의 설명도이다.See FIGS. 2-2B. Fig. 2 is an explanatory diagram of the diffuse light field image of the present invention, Fig. 2A is a one-dimensional explanatory diagram of the volcanic light field profile of the present invention, and Fig. 2B is an explanatory diagram of the standard diffuse light field profile of the present invention.

본 발명의 시뮬레이션 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법의 제1 단계는 먼저 적어도 하나의 확산 시트(Diffuser Film)를 투과하는 상기 복수의 LED 유닛 중 적어도 하나에 대해 단독적으로 확산광 필드 화상(11)을 찍고, 확산광 필드 프로파일을 분석하는 것이다. 바람직하게는 상기 적어도 하나의 LED 유닛은 테스트에 가장 알맞은 최적 표준 샘플(Golden Sample)이다. 또는 상기 LED 유닛 중의 복수개에 대해 각각 확산광 필드 화상을 찍고 상기 확산광 필드 화상을 평균하여 요구에 알맞은 확선광 필드 프로파일을 분석할 수 있다.The first step of the simulated LED light source mixed light state detection method of the present invention firstly takes a diffused light field image 11 alone for at least one of the plurality of LED units passing through at least one diffuser film. To analyze the diffuse light field profile. Preferably the at least one LED unit is an optimal standard sample (Golden Sample) that is best suited for testing. Alternatively, the diffused light field image may be taken for each of a plurality of the LED units, and the diffused light field image may be averaged to analyze the expanded light field profile that meets the needs.

도 2a에 도시된 같이, 확산광 필드 프로파일은 중심 좌표(중심 좌표의 X축 좌표는 X1로 표시함)를 가지고 있고, 따라서 도 2b에서와 같이 상기 확산광 필드 프로파일을 정규화(Normailze)하여 표준 확산광 필드 프로파일로 한다. As shown in Fig. 2A, the diffused light field profile has a center coordinate (the X-axis coordinate of the center coordinate is denoted by X1), and thus, the diffused light field profile is normalized by normalizing the diffused light field profile as shown in Fig. 2B. It is assumed to be a light field profile.

도 3에 표시된 LED 라이트바의 설명도를 참조하면, 본 발명의 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법은 상기 표준 확산광 필드 프로파일을 얻은 후 화상 촬영 장치(도시되지 않음)를 이용하여 복수의 LED 라이트바(100)가 포함하는 복수의 LED 유닛(1)에 대해 동시에 도 3a와 같은 공동 검출 화상(12)을 찍는다.Referring to the explanatory diagram of the LED light bar shown in Fig. 3, the LED light source mixed light state detection method of the present invention obtains the standard diffused light field profile and then uses a plurality of LED light bars using an image photographing device (not shown). A plurality of LED units 1 included in 100 simultaneously take a joint detection image 12 as shown in FIG. 3A.

공동 검출 화상(12)으로부터 각 LED 유닛(1)의 좌표 및 이 좌표에 대응하는 광 강도 자료를 탐지함으로써 도 3b에 도시된 LED 유닛의 좌표 및 광 강도 자료의 도표를 얻도록 한다. 그 중에서 상기 좌표는 각 LED 유닛(1)의 법선 방향으로 출력되는 광의 출력지점의 좌표이고, 법선 방향으로 출력되는 광의 출력지점은 일반적으로 각 LED 유닛(1)의 제일 밝은 광 출력 지점이다.By detecting the coordinates of each LED unit 1 and the light intensity data corresponding to the coordinates from the cavity detection image 12, a diagram of the coordinates and the light intensity data of the LED unit shown in FIG. 3B is obtained. Among them, the coordinate is the coordinate of the output point of the light output in the normal direction of each LED unit 1, and the output point of the light output in the normal direction is generally the brightest light output point of each LED unit 1.

상기 LED 유닛(1)의 좌표 및 이에 대응하는 광 강도 자료에 기초하여 상기 표준 확산광 필드 프로파일을 상기 LED 유닛(1)의 하나하나에 적용시켜 각 LED 유닛(1)의 광 확산 상태의 시뮬레이션 화상을 얻을 수 있다. 적용시킨다는 것은 각 LED 유닛(1)의 법선 방향으로 출력되는 광의 출력지점의 좌표에 대응되는 광 강도 자료를 상기 표준 확산광 필드 프로파일의 중심 좌표에 대입하여 표준 확산광 필드 프로파일로써 상기 LED 광 확산 상태의 시뮬레이션 화상을 계산한다는 것을 의미한다. 상기 광 확산 상태의 시뮬레이션 화상은 실제로 컴퓨터 데이터이고 투과 영상 또는 데이터의 방식으로 컴퓨터 속에 표현되며 이는 당업자라면 알고 있는 지식이다.Simulation image of the light diffusion state of each LED unit 1 by applying the standard diffused light field profile to one of the LED units 1 based on the coordinates of the LED unit 1 and the corresponding light intensity data. Can be obtained. Application of the LED light diffusion state as a standard diffuse light field profile by substituting the light intensity data corresponding to the coordinates of the output point of the light output in the normal direction of each LED unit 1 into the center coordinates of the standard diffuse light field profile Means to calculate the simulated image. The simulated image of the light diffusion state is actually computer data and is represented in a computer in the form of a transmission image or data, which is a knowledge known to those skilled in the art.

상기 LED 유닛(1)의 각각의 광 확산 상태의 시뮬레이션 화상을 얻은 후 개별적으로 통합할 수 있고, 이로써 도 4에 표시된 LED 라이트바의 혼합 광 상태의 광 강도자료를 계산한다. 도면에서와 같이 혼합 광 상태의 광 강도자료(13)는 LED 라이트바(100)가 확산 시트를 투과한 혼합 광 상태를 표시한다. 실제 조작에서 상기 혼합 광 상태의 광 강도자료(13)는 이미 실제 광선 혼합 광 상태와 상당히 비슷하게 시뮬레이션하고 있다.A simulation image of each light diffusion state of the LED unit 1 can be obtained and then integrated separately, thereby calculating the light intensity data of the mixed light state of the LED light bar shown in FIG. 4. As shown in the figure, the light intensity data 13 in the mixed light state indicates the mixed light state in which the LED light bar 100 has passed through the diffusion sheet. In actual operation, the light intensity data 13 of the mixed light state are already simulated substantially similar to the actual light mixed light state.

본 발명의 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법에서 검출 소프트웨어를 개량함으로써 복수의 LED 라이트바(100)가 확산 시트를 투과한 후 광선이 서로 혼합되어 정확히 검증할 수 없는 문제를 극복할 수 있고, 한 번에 대량의 LED 라이트바(100)를 검출함으로써 현재의 종래 기술이 이용하는 검출 방법보다 효율이 향상되고 상당히 진보적인 효과를 갖고 있다. By improving the detection software in the LED light source mixed light state detection method of the present invention, after the plurality of LED light bars 100 have passed through the diffusion sheet, the light rays are mixed with each other, and thus, the problem that cannot be accurately verified can be overcome. By detecting a large amount of the LED light bar 100, the efficiency is improved and has a considerably progressive effect compared to the detection method used in the present prior art.

따라서, 본 발명이 공개한 기술을 널리 보급하기 위하여 이하 본 발명의 바람직한 실시예의 기술을 간단한 순서도로 정리하여 당업자로 하여금 쉽게 기억할 수 있게 하였다.Therefore, in order to widely spread the technology disclosed by the present invention, the following describes the technique of the preferred embodiment of the present invention in a simple flowchart so that those skilled in the art can easily remember.

본 발명의 바람직한 실시예의 간단한 순서도인 도 5를 참조한다. 본 발명의 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법에서 먼저 적어도 하나의 확산 시트를 투과하는 LED 유닛에 대해 단독적인 확산광 필드 프로파일을 찍는다(단계 101). 다음 상기 확산광 필드 프로파일을 정규화하여 표준 확산광 필드 프로파일을 얻는다(단계 102).Reference is made to FIG. 5, which is a simple flowchart of a preferred embodiment of the present invention. In the LED light source mixed light state detection method of the present invention, a single diffused light field profile is first obtained for an LED unit passing through at least one diffuser sheet (step 101). The diffused light field profile is then normalized to obtain a standard diffused light field profile (step 102).

전하결합소자(Charge-Coupled Device, CCD)를 이용하여 상기 LED 유닛에 대해 동시에 공동 검출 화상을 찍고 그 중에서 상기 LED 유닛은 복수의 LED 라이트바를 구성한다(단계 103). 상기 공동 검출 화상에서 각 LED 유닛의 법선 방향으로 출력되는 광의 출력지점의 좌표 및 상기 좌표에 대응되는 광 강도 자료를 탐지한다(단계 104). 상기 좌표와 광 강도 자료에 기초하여 표준 확산광 필드 프로파일을 각 LED 유닛에 적용하여 각 LED 유닛의 광 확산 상태의 시뮬레이션 화상을 계산한다(단계 105).A charge-coupled device (CCD) is used to take a joint detection image for the LED unit simultaneously, wherein the LED unit constitutes a plurality of LED light bars (step 103). The coordinates of the output points of the light output in the normal direction of each LED unit in the cavity detection image and the light intensity data corresponding to the coordinates are detected (step 104). Based on the coordinates and the light intensity data, a standard diffused light field profile is applied to each LED unit to calculate a simulated image of the light diffused state of each LED unit (step 105).

마지막으로 상기 각 LED 유닛의 광 확산 상태의 시뮬레이션 화상으로서 각 LED 라이트바(100)의 혼합 광 상태의 광 강도 자료(13)를 계산한다(단계 106).Finally, the light intensity data 13 of the mixed light state of each LED light bar 100 is calculated as a simulation image of the light diffusion state of each said LED unit (step 106).

별도로 실제적용시 화상 촬영 장치가 상기 LED 유닛을 향하는 방향에 적어도 하나의 제1 필터, 적어도 하나의 제2 필터, 및 적어도 하나의 제3 필터를 설치할 수 있고, 상기 제1 필터, 상기 제2 필터 및 상기 제3 필터는 각각 CIE 등색 함수(Color matching functions)로 규정한 3 자극 값인 X필터, Y필터 및 Z필터에 대응된다. 그 중에서 CIE 등색 함수는 국제조명위원회(International Commission of Illumination)에서 1931년에 규정한 것으로, 표준 관측자(standard observer)의 시야에 의해 모든 색은 3 종류의 자극 값 X, Y 및 Z로 표현한다. Separately, in actual application, at least one first filter, at least one second filter, and at least one third filter may be installed in a direction toward the LED unit, and the first filter and the second filter may be installed. And the third filter corresponds to an X filter, a Y filter, and a Z filter, which are three stimulus values defined by CIE color matching functions, respectively. Among them, the CIE conformation function was defined in 1931 by the International Commission of Illumination, and all colors are expressed by three kinds of stimulus values X, Y, and Z according to the standard observer's field of view.

따라서, 검출할 경우에 제2 필터를 화상 촬영 장치와 상기 LED 유닛 사이에 바꾸어 넣고 검출한 혼합 광 상태 광 강도 자료(13)는 각 LED 라이트바의 휘도 값을 대표할 수 있다. 제1 필터와 제3 필터로 검출하여 얻은 혼합 광 상태 광 강도 자료(13)를 이용하여 종합하면 각 LED 라이트바의 컬러 값을 계산할 수 있다. CIE의 등색 함수로써 컬러 값을 계산하는 방법은 당업자라면 모두 알고 있는 기술이며 여기에서는 더 이상 설명하지 않다.Therefore, when detecting, the mixed light state light intensity data 13 detected by switching the second filter between the image photographing device and the LED unit can represent the luminance value of each LED light bar. When combined using the mixed light state light intensity data 13 detected by the first filter and the third filter, the color value of each LED light bar can be calculated. The method of calculating the color value as the equivalence function of the CIE is a technique known to those skilled in the art and is not described herein any further.

본 발명의 실시예에서 알 수 있는 바와 같이, 본 발명은 산업상 이용 가치를 확실히 가지고 있다. 상기 실시예에 대한 설명은 본 발명의 바람직한 실시예에 대한 설명에 불과하고, 통상의 지식을 가진 당업자라면 본 발명의 상기 실시예에 대한 설명으로부터 다른 여러 가지 개량 및 변화가 가능하다는 것을 알 수 있다. 그러나 본 발명의 실시예에 근거한 여러 가지 개량 및 변화는 여전히 본 발명의 사상 및 청구범위 내에 속한다.
As can be seen from the embodiments of the present invention, the present invention has certain industrial value. The description of the embodiment is only a description of a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art can be seen that various other improvements and changes from the description of the embodiment of the present invention. . However, various improvements and changes based on the embodiments of the present invention still fall within the spirit and claims of the present invention.

100: LED 라이트바 1: LED 유닛
11: 확산광 필드 화상 12: 공동 검출 화상
13: 혼합 광 상태 광 강도 자료 A: 구간
B: 구간 X1: 중심 좌표100: LED light bar 1: LED unit
11: diffused light field image 12: cavity detection image
13: Mixed light state light intensity data A: section
B: Interval X1: Center Coordinates

Claims (9)

동시에 복수의 발광 다이오드(LED) 유닛을 검출하는데 적용되고 각 LED 유닛의 혼합 광 상태 시뮬레이션 화상을 얻는 시뮬레이션 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법에 있어서,
(a) 적어도 하나의 확산시트(Diffuser Film)를 투과하는 LED유닛에 대하여 단독적인 확산광 필드 프로파일을 찍는 단계;
(b) 상기 확산광 필드 프로파일을 정규화하여 표준 확산광 필드 프로파일로 하는 단계;
(c) 상기 LED 유닛에 대해 동시에 공동 검출 화상을 찍는 단계;
(d) 상기 공동 검출 화상의 각 LED 유닛의 좌표 및 상기 좌표에 대응되는 광 강도 자료를 탐지하는 단계; 및
(e) 상기 단계 (d)에서 얻어진 각 LED 유닛의 좌표 및 상기 좌표에 대응되는 광 강도 자료를 상기 단계 (b)에서 얻어진 표준 확산광 필드 프로파일에 적용함으로써, 각 LED 유닛의 상기 광 확산 상태 시뮬레이션 화상을 계산하는 단계를 포함하는 시뮬레이션 LED 광원 혼합 광 상태 검출 방법.A simulation LED light source mixed light state detection method, which is applied to detect a plurality of light emitting diode (LED) units at the same time and obtains a mixed light state simulation image of each LED unit,
(a) taking a single diffused light field profile for the LED unit passing through at least one diffuser film;
(b) normalizing the diffused light field profile to a standard diffused light field profile;
(c) simultaneously taking a joint detection image for the LED unit;
(d) detecting coordinates of each LED unit of the cavity detection image and light intensity data corresponding to the coordinates; And
(e) simulating the light diffusion state of each LED unit by applying the coordinates of each LED unit obtained in step (d) and the light intensity data corresponding to the coordinates to the standard diffused light field profile obtained in step (b) A method for detecting a simulated LED light source mixed light state comprising calculating an image. 제 1 항에 있어서, 상기 단계 (d)에서 상기 좌표는 각 LED 유닛의 각 LED 유닛에 대해 법선 방향으로 출력되는 광의 출력지점의 좌표를 가리키는 시뮬레이션 발광 다이오드 광원 혼합 광 상태 검출 방법. The method according to claim 1, wherein in the step (d), the coordinates indicate coordinates of an output point of light output in a normal direction for each LED unit of each LED unit. 제 1 항에 있어서, 상기 단계 (e)는 상기 표준 확산광 필드 프로파일을 각 LED 유닛에 적용하였을 경우, 각 LED 유닛의 법선 방향으로 출력되는 광의 출력지점의 좌표에 대응되는 광 강도자료를 상기 표준 확산광 필드 프로파일의 중심 좌표에 대입하는 단계 (e1)를 더 포함하는 시뮬레이션 발광 다이오드 광원 혼합 광 상태 검출 방법. The method according to claim 1, wherein the step (e) comprises applying the light intensity data corresponding to the coordinates of the output point of the light output in the normal direction of each LED unit when the standard diffused light field profile is applied to each LED unit. And (e1) substituting the center coordinates of the diffused light field profile. 제 1 항에 있어서, 상기 LED 유닛은 LED 칩 모듈인 시뮬레이션 발광 다이오드 광원 혼합 광 상태 검출 방법. The method according to claim 1, wherein the LED unit is an LED chip module. 제 1 항에 있어서, 상기 LED 유닛은 복수의 LED 라이트바를 구성하는 시뮬레이션 발광 다이오드 광원 혼합 광 상태 검출 방법. The method according to claim 1, wherein the LED unit constitutes a plurality of LED light bars. 제 5 항에 있어서,
상기 LED 유닛이 복수의 LED 라이트바를 구성하는 경우,
상기 단계 (e)는 각 LED 유닛의 광 확산 상태 시뮬레이션 화상을 계산하는 단계는,
각 LED 라이트바의 혼합 광 상태의 광 강도자료를 계산하는 단계(e2)를 더 포함하는 시뮬레이션 발광 다이오드 광원 혼합 광 상태 검출 방법. The method of claim 5, wherein
When the LED unit constitutes a plurality of LED light bar,
Step (e) is a step of calculating the light diffusion state simulation image of each LED unit,
The method further comprises the step (e2) of calculating the light intensity data of the mixed light state of each LED light bar. 제 1 항에 있어서, 상기 단계 (a)에서 상기 LED 유닛 중 적어도 하나는 테스트에 알맞은 최적 표준 샘플(Golden Sample)인 시뮬레이션 발광 다이오드 광원 혼합 광 상태 검출 방법.The method of claim 1 wherein at least one of the LED units in step (a) is an optimal standard sample suitable for testing. 제 1 항에 있어서, 상기 단계 (c)는 화상 촬영 장치를 이용하여 상기 LED 유닛에 대해 상기 공동 검출 화상을 찍는 단계 (c1)를 더 포함하는 시뮬레이션 발광 다이오드 광원 혼합 광 상태 검출 방법. The method according to claim 1, wherein said step (c) further comprises the step (c1) of taking said joint detection image for said LED unit using an image photographing apparatus. 제 8 항에 있어서, 상기 화상 촬영 장치가 상기 LED 유닛을 향하는 방향에 적어도 하나의 제1 필터, 적어도 하나의 제2 필터 및 적어도 하나의 제3 필터를 설치할 수 있고 상기 제1 필터, 상기 제2 필터 및 상기 제3 필터는 각각 CIE 등색 함수로 규정한 3 자극 값인 시뮬레이션 발광 다이오드 광원 혼합 광 상태 검출 방법.9. The apparatus of claim 8, wherein at least one first filter, at least one second filter, and at least one third filter may be installed in a direction toward which the image photographing apparatus faces the LED unit. And a third filter, wherein the filter and the third filter each have three stimulus values defined by a CIE equivalent function.
KR1020110009424A 2010-12-24 2011-01-31 Method of inspecting mixed light state of simulation light emitting diode light source KR101189909B1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW099145871 2010-12-24
TW099145871A TWI428573B (en) 2010-12-24 2010-12-24 Method for detecting the mixed state of light - emitting diode light source

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120073076A KR20120073076A (en) 2012-07-04
KR101189909B1 true KR101189909B1 (en) 2012-10-10

Family

ID=46707645

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110009424A KR101189909B1 (en) 2010-12-24 2011-01-31 Method of inspecting mixed light state of simulation light emitting diode light source

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR101189909B1 (en)
TW (1) TWI428573B (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108279389B (en) * 2018-03-28 2024-06-04 江苏鸿佳电子科技有限公司 LED lamp strip grafting test fixture
TWI734928B (en) * 2018-06-22 2021-08-01 旺矽科技股份有限公司 Method for detecting luminescence distribution of laser chip and method for displaying luminous intensity of laser chip

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241733A (en) 2004-02-24 2005-09-08 National Institute Of Information & Communication Technology Sampling light generating device and optical sampling device using the same
JP2008249687A (en) 2007-01-25 2008-10-16 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd Method and apparatus for estimating intensity of one spectrum of light in mixed light, in response to sensed intensities of one or more other spectrums of light in mixed light
JP2010223646A (en) 2009-03-23 2010-10-07 Institute Of National Colleges Of Technology Japan Wavelength spectrum detection method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005241733A (en) 2004-02-24 2005-09-08 National Institute Of Information & Communication Technology Sampling light generating device and optical sampling device using the same
JP2008249687A (en) 2007-01-25 2008-10-16 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd Method and apparatus for estimating intensity of one spectrum of light in mixed light, in response to sensed intensities of one or more other spectrums of light in mixed light
JP2010223646A (en) 2009-03-23 2010-10-07 Institute Of National Colleges Of Technology Japan Wavelength spectrum detection method

Also Published As

Publication number Publication date
KR20120073076A (en) 2012-07-04
TWI428573B (en) 2014-03-01
TW201226865A (en) 2012-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8360601B2 (en) LED module
CN105068315A (en) Blue light LED direct type backlight module and liquid crystal display screen
CN104165753A (en) Device and method for detecting transparent display screen
CN1682071A (en) Method and apparatus for luminating uniformly
CN104458767A (en) Device and method for detecting glass substrate
CN102779498B (en) Method and system for realizing white balance of liquid crystal display module
CN104330749A (en) Front-side-illuminating LED light strip test device and method
CN110017895B (en) Light source monitoring system
CN110831276B (en) LED-based lamplight brightness control method and related device
US20210345469A1 (en) Measurement method and device of light source parameters, illumination system and terminal apparatus
CN105954893B (en) A kind of configuration method and detection device of liquid crystal optics mould group
CN104915716A (en) Method of uniformly optimizing illuminating LED array light source for strip steel surface detection
KR101189909B1 (en) Method of inspecting mixed light state of simulation light emitting diode light source
CN104980730A (en) Method for positioning optical center on the basis of concentric circle theory
CN103323894A (en) Processing method, processing device and backlight module for diffuser plate dot
CN109194953A (en) Spatial color and resolution measurement device and measurement method
CN104779325A (en) LED test process and correction method for same
CN104062099A (en) Testing device and method for LED light strips with side luminance
CN106226033A (en) The method and device of detection transparent substrates transmitance
CN103900795A (en) Device and method for testing transparent effect of transparent display screen
CN104931238A (en) Device and method for testing transparent effect of transparent display substrate
CN209673221U (en) A kind of light source monitoring system
Schmähling et al. Virtual experiment for near-field goniophotometric measurements
CN107179514B (en) Lamps and lanterns flash test method and system
CN102159957B (en) Test table with solar cells for light-emitting components and test method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150921

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161004

Year of fee payment: 5