KR101162953B1 - Fault detection circuit for backlight of liquid crystaldisplay - Google Patents

Fault detection circuit for backlight of liquid crystaldisplay Download PDF

Info

Publication number
KR101162953B1
KR101162953B1 KR1020100049137A KR20100049137A KR101162953B1 KR 101162953 B1 KR101162953 B1 KR 101162953B1 KR 1020100049137 A KR1020100049137 A KR 1020100049137A KR 20100049137 A KR20100049137 A KR 20100049137A KR 101162953 B1 KR101162953 B1 KR 101162953B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
led
short
transistor
signal
output
Prior art date
Application number
KR1020100049137A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20110129644A (en
Inventor
홍승호
이승우
Original Assignee
주식회사엘디티
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사엘디티 filed Critical 주식회사엘디티
Priority to KR1020100049137A priority Critical patent/KR101162953B1/en
Publication of KR20110129644A publication Critical patent/KR20110129644A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101162953B1 publication Critical patent/KR101162953B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/28—Provision in measuring instruments for reference values, e.g. standard voltage, standard waveform
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/1659—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 to indicate that the value is within or outside a predetermined range of values (window)
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)

Abstract

본 발명은 액정표시장치에 적용된 엘이디 스트링에서 어느 채널의 엘이디가 오픈 또는 쇼트의 고장이 발생되고, 각 채널의 엘이디 구동용 트랜지스터 중에서 어떤 채널의 트랜지스터에 쇼트 고장이 발생되었는지를 검출하는 기술에 관한 것으로, 엘이디 스트링 채널의 엘이디들이 턴온되는 구간에서, 채널정보가 포함된 엘이디 오픈 고장검출신호를 생성하는 엘이디 오픈 검출부; 상기 엘이디 스트링의 각 채널에서 마지막 엘이디의 캐소우드를 통해 출력되는 피드백전압을 쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 쇼트 고장검출신호를 생성하여 채널정보와 함께 출력하는 엘이디 쇼트 검출부; 상기 해당 채널의 엘이디들이 턴오프되는 구간에서, 채널정보가 포함된 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 생성하는 트랜지스터 쇼트 검출부;를 포함하는 엘이디 구동제어부를 구비한 것을 특징으로 한다. The present invention relates to a technique for detecting whether an LED of a channel has an open or short fault in an LED string applied to a liquid crystal display, and a short fault has occurred in a transistor of an LED driving transistor of each channel. An LED open detection unit configured to generate an LED open fault detection signal including channel information in a section in which LEDs of the LED string channel are turned on; An LED short detection unit configured to compare the feedback voltage output through the cathode of the last LED in each channel of the LED string with the short reference voltage to generate an LED short fault detection signal according to the output, and output the channel short fault detection signal; And a transistor short detector configured to generate a transistor short fault detection signal including channel information in a period in which the LEDs of the corresponding channel are turned off.

Description

액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로{FAULT DETECTION CIRCUIT FOR BACKLIGHT OF LIQUID CRYSTALDISPLAY}Backlight fault detection circuit of liquid crystal display {FAULT DETECTION CIRCUIT FOR BACKLIGHT OF LIQUID CRYSTALDISPLAY}

본 발명은 액정표시장치의 백라이트에 고장이 발생되는 것을 검출하는 기술에 관한 것으로, 특히 백라이트로 사용되는 엘이디 스트링의 전기적 특성을 분석하여 엘이디와 엘이디 구동용 트랜지스터의 고장을 검출할 수 있도록 한 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technology for detecting a failure of a backlight of a liquid crystal display device. In particular, a liquid crystal display capable of detecting failure of an LED and an LED driving transistor by analyzing electrical characteristics of an LED string used as a backlight. The present invention relates to a backlight failure detection circuit of a device.

일반적으로, 액정표시장치는 복수개의 게이트 라인과 데이터 라인이 서로 수직한 방향으로 배열되어 매트릭스 형태의 픽셀영역을 갖는 액정표시패널(이하, "액정패널" 이라 칭함)과, 액정패널에 구동 신호와 데이터 신호를 공급하는 구동회로부와, 액정패널에 광원을 제공하는 백라이트를 구비한다. In general, a liquid crystal display device includes a liquid crystal display panel (hereinafter, referred to as a "liquid crystal panel") having a plurality of gate lines and data lines arranged in a direction perpendicular to each other, and having a pixel area in a matrix form, and a driving signal and A driving circuit unit for supplying a data signal and a backlight for providing a light source to the liquid crystal panel are provided.

그리고, 상기 구동회로부는 액정패널의 각 데이터 라인에 데이터 신호를 공급하는 소스 드라이버와, 액정패널의 각 게이트 라인에 게이트 구동 펄스를 인가하는 게이트 드라이버와, 액정패널의 구동 시스템으로부터 입력되는 디스플레이 데이터와 수직 및 수평동기신호 그리고 클럭신호 등 제어신호를 입력받아 소스 드라이버와 게이트 드라이버가 화면을 재생하기에 적합한 타이밍으로 출력하는 타이밍 콘트롤러 등을 구비한다. The driving circuit unit includes a source driver for supplying a data signal to each data line of the liquid crystal panel, a gate driver for applying a gate driving pulse to each gate line of the liquid crystal panel, display data input from the driving system of the liquid crystal panel; And a timing controller that receives control signals such as vertical and horizontal synchronization signals and a clock signal, and outputs them at a timing suitable for the source driver and the gate driver to reproduce the screen.

종래의 액정표시장치에서는 주로 냉음극선관(CCFL: Cold Cathode Fluorescent Lamp)의 백라이트가 사용되었으나, 근래들어 백라이트 시장에서 냉음극선관이 엘이디(LED)로 빠르게 대체되고 있는 추세에 있다. 일반적으로, 액정표시장치에 적용되는 엘이디는 스트링(string) 형태로 제작되는데, 그 중에서 고장(예: 애노드와 캐소우드의 쇼트나 오픈)이 발생된 엘이디가 존재하는 경우 화상에 나쁜 영향을 미치므로 이를 검출하여 수리하거나 교체해 주어야 한다.In the conventional LCD, a backlight of a cold cathode fluorescent lamp (CCFL) is mainly used. However, in recent years, a cold cathode ray tube is rapidly being replaced by an LED in the backlight market. In general, LEDs applied to liquid crystal displays are manufactured in a string form, and in the case of LEDs having a failure (for example, short or open of anode and cathode), they have an adverse effect on the image. This must be detected and repaired or replaced.

그런데, 종래의 액정표시장치에 있어서는 백라이트용 엘이디 스트링에서 어느 채널에 존재하는 엘이디가 고장난 것인지 구별해서 검출하지 못하고, 모든 채널의 마지막 엘이디의 캐소우드 단의 출력전압 변화량을 근거로 고장이 발생된 사실만을 검출할 수 있게 되어 있었다. 따라서, 엘이디 고장에 적절히 대응하는데 어려움이 있었다.However, in the conventional liquid crystal display device, a failure occurs based on the output voltage change amount of the cathode stage of the last LED of all channels, without detecting which LED is present in which channel in the backlight LED string. Only bays could be detected. Therefore, there was a difficulty in properly responding to the LED failure.

따라서, 본 발명의 목적은 액정표시장치에 적용된 엘이디 스트링에서 어느 채널의 엘이디가 오픈 또는 쇼트의 고장이 발생되고, 각 채널의 엘이디 구동용 트랜지스터 중에서 어떤 채널의 트랜지스터에 쇼트 고장이 발생되었는지를 검출할 수 있도록 하는데 있다. Accordingly, it is an object of the present invention to detect whether a channel of an LED string applied to a liquid crystal display device is open or a short fault occurs, and a short fault occurs in a transistor of which channel among the LED driving transistors of each channel. It is to make it possible.

본 발명의 목적들은 앞에서 언급한 목적으로 제한되지 않는다. 본 발명의 다른 목적 및 장점들은 아래 설명에 의해 더욱 분명하게 이해될 것이다.
The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects. Other objects and advantages of the invention will be more clearly understood by the following description.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은,The present invention for achieving the above object,

각 채널마다 직렬접속된 다수의 엘이디를 구비하여 액정패널에 백라이트를 제공하는 엘이디 스트링;An LED string having a plurality of LEDs connected in series for each channel to provide a backlight to the liquid crystal panel;

엘이디 구동용 트랜지스터를 이용하여 채널별로 상기 엘이디를 점등시키는 엘이디 구동부;An LED driver for lighting the LEDs for each channel by using an LED driving transistor;

상기 해당 채널의 엘이디들이 턴온되는 구간에서, 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 오픈기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 오픈 고장검출신호를 생성한 후, 엘이디 오픈 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 엘이디 오픈 검출부; In the period when the LEDs of the corresponding channel is turned on, the output voltage of the LED driving transistor is compared with the open reference voltage to generate the LED open fault detection signal according to the corresponding channel information obtained based on the LED open clock signal. LED open detection unit to include and output;

상기 엘이디 스트링의 각 채널에서 마지막 엘이디의 캐소우드를 통해 출력되는 피드백전압을 쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 쇼트 고장검출신호를 생성한 후, 엘이디 쇼트 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 엘이디 쇼트 검출부; The feedback voltage output through the cathode of the last LED in each channel of the LED string is compared with the short reference voltage to generate the LED short fault detection signal accordingly, and then the corresponding channel information obtained based on the LED short clock signal is obtained. LED short detection unit to include and output;

상기 해당 채널의 엘이디들이 턴오프되는 구간에서, 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 티알쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 생성한 후, 트랜지스터 쇼트 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 트랜지스터 쇼트 검출부;In the period in which the LEDs of the corresponding channel are turned off, the output voltage of the LED driving transistor is compared with a thial short reference voltage to generate a transistor short fault detection signal corresponding thereto, and then obtained based on the transistor short clock signal. A transistor short detector including channel information and outputting the channel information;

상기 엘이디 오픈 고장검출신호, 엘이디 쇼트 고장검출신호 및, 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 입력받아 기 설정된 시간에 또는 사용자 요구가 있을 때 출력하는 고장검출 제어부;를 포함하여 구성함을 특징으로 한다.
And a fault detection control unit for receiving the LED open fault detection signal, the LED short fault detection signal, and the transistor short fault detection signal and outputting the same at a predetermined time or when a user request is received.

본 발명은 액정표시장치에 적용된 엘이디 스트링에서 어느 채널의 엘이디가 오픈 또는 쇼트의 고장이 발생되고, 각 채널의 엘이디 구동용 트랜지스터 중에서 어떤 채널의 트랜지스터에 쇼트 고장이 발생되었는지 검출하여 사용자에게 알려줌으로써, 사용자가 보다 편리하고 신속하게 고장에 대응할 수 있는 효과가 있다.
The present invention detects and informs a user of which channel of an LED string in an LED string applied to a liquid crystal display device has an open or short fault, and which channel transistor among LED drive transistors of each channel has a short fault. There is an effect that the user can respond to the failure more conveniently and quickly.

도 1은 본 발명에 의한 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로도.
도 2는 엘이디 구동제어부에 대한 상세 블록도.
도 3은 고장검출 제어부에 대한 상세 블록도.
도 4는 입출력포트부의 상세 회로도.
도 5는 엘이디 오픈 검출부의 구현 예시도.
도 6은 엘이디 쇼트 검출부의 구현 예시도.
도 7은 트랜지스터 쇼트 검출부의 구현 예시도.
도 8의 (a)는 트랜지스터의 구동신호에 대한 파형도.
도 8의 (b)는 엘이디 오픈 클럭신호의 파형도.
도 8의 (c)는 트랜지스터 쇼트 클럭신호의 파형도.
도 8의 (d)는 엘이디 오픈 고장검출신호의 파형도.
도 8의 (e)는 트랜지스터 쇼트 클럭신호의 파형도.
도 9는 (a)-(c)는 쇼트인에이블신호의 파형도.
도 9는 (d)-(f)는 쇼트클럭호의 파형도.
도 9의 (g)는 엘이디 쇼트 고장검출신호의 파형도. 1 is a backlight failure detection circuit diagram of a liquid crystal display according to the present invention.
2 is a detailed block diagram of the LED driving control unit.
3 is a detailed block diagram of a fault detection control unit.
4 is a detailed circuit diagram of an input / output port unit.
5 is an exemplary view illustrating an LED open detection unit.
6 is a diagram illustrating an implementation of an LED short detection unit.
7 illustrates an implementation example of a transistor short detector.
8A is a waveform diagram of a driving signal of a transistor.
8B is a waveform diagram of an LED open clock signal.
8C is a waveform diagram of a transistor short clock signal.
Fig. 8D is a waveform diagram of the LED open fault detection signal.
8E is a waveform diagram of a transistor short clock signal.
9A to 9C are waveform diagrams of a short enable signal.
(D)-(f) are waveform diagrams of a short clock.
Fig. 9G is a waveform diagram of the LED short fault detection signal.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 의한 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로도로서 이에 도시한 바와 같이, 엘이디 스트링(110), 엘이디 구동부(120), 엘이디 구동제어부(130)를 구비한다.1 is a backlight failure detection circuit diagram of a liquid crystal display according to the present invention, and as shown therein, includes an LED string 110, an LED driver 120, and an LED drive controller 130.

엘이디 스트링(110)은 각 채널(CH0~CHn)별로 직렬접속된 다수의 엘이디(LED)를 구비하여 액정패널(도면에 미표시)에 백라이트를 제공한다.The LED string 110 includes a plurality of LEDs connected in series for each channel CH0 to CHn to provide a backlight to the liquid crystal panel (not shown).

엘이디 구동부(120)는 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 마지막 엘이디(LED)의 캐소우드에 콜렉터가 접속되고 베이스측이 엘이디 구동제어부(130)에 각기 접속된 엘이디 구동용 트랜지스터(예, BJT : Bipolar Junction Transisteor)(Q0~Qn)를 구비하여 이들을 통해 상기 엘이디 스트링(110)의 엘이디(LED)를 각 채널별로 구동한다.The LED driver 120 is connected to the cathode of the last LED (LED) of each channel (CH0 ~ CHn) of the LED string 110 for driving the LED connected to the LED drive control unit 130, respectively, the base side A transistor (eg, BJT: Bipolar Junction Transisteor) (Q0 to Qn) is provided to drive LEDs of the LED string 110 for each channel.

엘이디 구동제어부(130)는 상기 엘이디 구동부(120)의 각 트랜지스터(Q0~Qn)의 구동을 제어하고, 이에 의해 상기 상기 엘이디 스트링(110)에서 해당 채널의 엘이디들이 구동된다. 이와 별도로, 상기 엘이디 구동제어부(130)는 클럭신호를 이용하여 상기 엘이디 스트링(110)에서 어느 채널의 엘이디에 오픈 또는 쇼트 고장(애노드와 캐소우드가 오픈되거나 쇼트되는 고장)이 발생되는지 검출함과 아울러, 상기 엘이디 구동부(120)에서 어느 채널의 트랜지스터에 쇼트 고장이 발생되는지 검출한다. The LED driving controller 130 controls driving of the transistors Q0 to Qn of the LED driving unit 120, thereby driving the LEDs of the corresponding channel in the LED string 110. Separately, the LED driving controller 130 detects which channel of the LED string 110 has an open or short fault (a fault in which the anode and the cathode are opened or shorted) by using a clock signal. In addition, the LED driver 120 detects which channel a short fault occurs in the transistor of which channel.

이하, 상기 엘이디 구동제어부(130)의 다양한 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, various embodiments of the LED driving control unit 130 will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 상기 엘이디 구동제어부(130)에 대한 상세 블록도로서 이에 도시한 바와 같이, 입출력 포트부(210), 엘이디 오픈 검출부(220), 엘이디 쇼트 검출부(230), 트랜지스터 쇼트 검출부(240), 고장검출 제어부(250)를 구비한다.2 is a detailed block diagram of the LED driving control unit 130, as shown in the input / output port unit 210, LED open detection unit 220, LED short detection unit 230, transistor short detection unit 240, A failure detection control unit 250 is provided.

도 3은 상기 고장검출 제어부(250)에 대한 상세 블록도로서 이에 도시한 바와 같이, 엘이디 오픈 클럭신호 발생기(310), 엘이디 쇼트 클럭신호 발생기(320), 트랜지스터 쇼트 클럭신호 발생기(330), 폴트 데이터 처리기(340)를 구비한다. 3 is a detailed block diagram of the failure detection control unit 250, as shown in the LED open clock signal generator 310, LED short clock signal generator 320, transistor short clock signal generator 330, fault Data processor 340 is provided.

엘이디 오픈 클럭신호 발생기(310)는 n 비트의 출력포트(BG[0:n])로 출력되는 신호와 클럭신호(CLOCK)를 근거로 하여 n 비트의 엘이디 오픈 클럭신호 (LED_OPEN_CK[0:n])를 발생한다. 상기 클럭신호(CLOCK)는 엘이디 구동제어부(130)에서 사용되는 기준 클럭신호로서 다른 클럭신호와 구분하기 위해 이후부터는 메인 클럭신호라 칭한다.LED open clock signal generator 310 is based on the signal output to the n-bit output port (BG [0: n]) and the clock signal (CLOCK) of the n-bit LED open clock signal (LED_OPEN_CK [0: n] Will occur). The clock signal CLOCK is a reference clock signal used by the LED driving controller 130 and is referred to as a main clock signal hereinafter to distinguish it from other clock signals.

엘이디 쇼트 클럭신호 발생기(320)는 상기 n 비트의 출력포트(BG[0:n])로 출력되는 신호와 메인 클럭신호(CLOCK)를 근거로 하여 n 비트의 엘이디 쇼트 클럭신호 (LED_SHORT_CK[0:n])와, 쇼트 인에이블신호(SHORT_EN)를 발생한다.The LED short clock signal generator 320 outputs the n-bit LED short clock signal LED_SHORT_CK [0: based on the signal output to the n-bit output port BG [0: n] and the main clock signal CLOCK. n]) and a short enable signal SHORT_EN.

트랜지스터 쇼트 클럭신호 발생기(330)는 상기 n 비트의 출력포트(BG[0:n])로 출력되는 신호와 메인 클럭신호(CLOCK)를 근거로 하여 n 비트의 트랜지스터 쇼트 클럭신호(TR_SHORT_CK[0:n])를 발생한다.The transistor short clock signal generator 330 is based on the signal output to the n bit output ports BG [0: n] and the main clock signal CLOCK. The transistor short clock signal TR_SHORT_CK [0: n]).

폴트 데이터 처리기(340)는 상기 엘이디 오픈 검출부(220)에서 엘이디 오픈 검출 시 출력되는 엘이디 오픈 검출신호(LED_OPEN_FLAG[0:n]), 상기 엘이디 쇼트 검출부(230)에서 엘이디 쇼트 검출시 출력되는 엘이디 쇼트 검출신호(LED_SHORT_FLAG[0:n]), 트랜지스터 쇼트 검출부(240)에서 트랜지스터 쇼트 검출 시 출력되는 트랜지스터 쇼트 검출신호(TR_SHORT_FLAG[0:n]) 및 메인 클럭신호(CLOCK)를 근거로 하여 고장신호(ERROR)를 출력한다.The fault data processor 340 outputs the LED open detection signal LED_OPEN_FLAG [0: n] output when the LED open detection unit 220 detects the LED open, and the LED short output when the LED short detection unit 230 detects the LED short. On the basis of the detection signal LED_SHORT_FLAG [0: n], the transistor short detection signal TR_SHORT_FLAG [0: n] output when the transistor short detection unit 240 detects a transistor short, and the main clock signal CLOCK, ERROR) is displayed.

상기 엘이디 구동제어부(130)내의 각부의 작용을 관련 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The operation of each part in the LED driving control unit 130 will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 상기 엘이디 스트링(110)에서 한 채널의 엘이디에 대한 입출력 포트부(210)의 구현예를 나타낸 것이다. 비교기(CP210)는 엘이디 구동용 트랜지스터(Q0)의 에미터에 접속된 입력포트(ES)를 통해 피드백되는 엘이디 구동전압을 펄스폭변조신호(PWM)와 비교하여 그에 따른 구동신호를 출력포트(BG)를 통해 그 트랜지스터(Q0)의 베이스 측으로 출력한다. 상기와 같은 비교기(CP210)는 상기 엘이디 스트링(110)의 채널수 만큼 구비된다.4 illustrates an embodiment of an input / output port unit 210 for an LED of one channel in the LED string 110. The comparator CP210 compares the LED driving voltage fed back through the input port ES connected to the emitter of the LED driving transistor Q0 with the pulse width modulation signal PWM, and outputs the corresponding driving signal to the output port BG. ) Is output to the base side of the transistor Q0. The comparator CP210 is provided as many as the number of channels of the LED string 110.

도 5는 상기 엘이디 오픈 검출부(220)의 구현예를 나타낸 것이다. 백라이트 모듈이 동작하는 동안 엘이디 스트링(110)의 엘이디(LED)들은 온,오프를 반복한다. 그런데, 상기 엘이디 스트링(110)의 각 엘이디(LED)의 오프(OFF) 구간에서 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압의 레벨은 오픈 고장이 발생되었을 때 입력되는 전압의 레벨과 거의 같으므로 그 오프 구간에서는 오픈 고장을 검출할 수 없다. 5 illustrates an embodiment of the LED open detection unit 220. While the backlight module operates, the LEDs of the LED string 110 repeat on and off. However, since the level of the voltage input to the input port ES in the OFF period of each LED of the LED string 110 is almost the same as the level of the voltage input when an open fault occurs. Open faults cannot be detected in the off section.

이를 감안하여, 도 8의 (a)와 같이 상기 출력포트(BG)에 "하이"를 출력하여 해당 채널(CH0)의 엘이디(LED)들이 턴온되는 구간에서 비교기(CP220)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 오픈기준전압(OPENV)과 비교하여 그에 따른 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN)를 출력한다.In consideration of this, as shown in FIG. 8A, the comparator CP220 outputs “high” to the output port BG so that the LEDs of the corresponding channel CH0 are turned on. ) Is compared with the open reference voltage OPENV to output the LED open fault detection signal LED_OPEN accordingly.

예를 들어, 트랜지스터(Q0)의 콜렉터에 직렬접속된 채널(CH0)의 엘이디(LED)들이 모두 정상인 경우, 온 구간에서 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압은 접지전압의 레벨보다 어느 정도 높게 나타난다. 따라서, 이때 상기 비교기(CP220)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 오픈기준전압(OPENV)과 비교하여 상기 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN)를 "로우"로 출력한다.For example, when the LEDs of the channel CH0 connected in series with the collector of the transistor Q0 are all normal, the voltage input to the input port ES in the on period is somewhat higher than the level of the ground voltage. appear. Therefore, the comparator CP220 compares the voltage input to the input port ES with the open reference voltage OPENV and outputs the LED open fault detection signal LED_OPEN as low.

그러나, 상기 트랜지스터(Q0)의 콜렉터에 직렬접속된 채널(CH0)의 엘이디(LED) 중에서 하나 이상이 오픈된 경우, 온 구간에서 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압은 접지전압의 레벨로 유지된다. 이때, 상기 비교기(CP220)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 오픈기준전압(OPENV)과 비교하여 상기 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN)를 "하이"로 출력한다. However, when one or more of the LEDs of the channel CH0 connected in series with the collector of the transistor Q0 are opened, the voltage input to the input port ES in the on period is maintained at the ground voltage level. do. At this time, the comparator CP220 compares the voltage input to the input port ES with the open reference voltage OPENV and outputs the LED open fault detection signal LED_OPEN as “high”.

저장 소자(221)는 상기 비교기(CP220)에서 상기와 같이 출력되는 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN)를 상기 고장검출 제어부(250)의 엘이디 오픈 클럭신호 발생기(310)에서 도 8의 (b)와 같이 출력되는 해당 타이밍의 엘이디 오픈 클럭신호(LED_OPEN_CK)를 이용하여 저장한 후 도 8의 (d)와 같은 타이밍으로 상기 폴트 데이터 처리기(340)에 출력한다. 이때, 상기 저장 소자(221)에서 출력되는 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN_FLAG)에는 상기 엘이디 오픈 클럭신호(LED_OPEN_CK)를 근거로 한 채널정보가 포함되어 있다. The storage device 221 may store the LED open fault detection signal LED_OPEN output from the comparator CP220 as described above with reference to (b) of FIG. 8 in the LED open clock signal generator 310 of the fault detection control unit 250. The LED is stored using the LED open clock signal LED_OPEN_CK of the corresponding timing, which is output as described above, and outputs the same to the fault data processor 340 at the timing shown in FIG. In this case, the LED open fault detection signal LED_OPEN_FLAG output from the storage element 221 includes channel information based on the LED open clock signal LED_OPEN_CK.

상기와 같은 엘이디 오픈 검출부(220)를 상기 엘이디 스트링(110)의 채널수(CH0~CHn) 만큼 구비하고, 상기와 같이 각 채널에 대한 엘이디 오픈 고장을 검출하여 그에 따른 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN_FLAG)를 상기와 같은 타이밍으로 상기 고장검출 제어부(250)의 상기 폴트 데이터 처리기(340)에 출력한다. The LED open detection unit 220 as described above is provided with the number of channels CH0 to CHn of the LED string 110, and the LED open fault detection signal for each channel is detected according to the LED open fault detection signal LED_OPEN_FLAG. ) Is output to the fault data processor 340 of the fault detection control unit 250 at the same timing as above.

따라서, 상기 폴트 데이터 처리기(340)는 기 설정된 시간에 자동으로 또는 사용자의 요구가 있을 때, 상기와 같은 과정을 통해 입력받은 상기 채널정보가 포함된 엘이디 오픈 고장검출신호(LED_OPEN_FLAG)를 근거로 엘이디 오픈에 관련된 고장신호(ERROR)를 출력한다. 이에 따라, 사용자는 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 엘이디(LED) 중에서 어느 채널의 엘이디(LED)에 오픈 고장이 발생되었는지의 여부를 확인할 수 있게 된다.Therefore, when the fault data processor 340 automatically or at the request of the user at a preset time, the LED is based on the LED open fault detection signal LED_OPEN_FLAG including the channel information received through the above process. Outputs a fault signal (ERROR) related to open. Accordingly, the user can determine whether an open failure has occurred in the LED (LED) of the LED (LED) of each channel (CH0 ~ CHn) of the LED string 110.

도 6은 상기 엘이디 쇼트 검출부(230)의 구현예를 나타낸 것이다. 엘이디구동신호 피드백부(231)는 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)에서 쇼트된 엘이디가 존재하는지 확인하기 위해 각 채널(CH0~CHn)의 마지막 엘이디(LED)의 캐소우드를 통해 출력되는 전압을 피드백시키는 역할을 수행한다. 6 illustrates an embodiment of the LED short detector 230. LED driving signal feedback unit 231 checks the cathode of the last LED (LED) of each channel (CH0 ~ CHn) to check whether there is a short LED in each channel (CH0 ~ CHn) of the LED string 110 It feeds back the output voltage.

이를 위해 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 마지막 엘이디(LED)의 캐소우드에 각 다이오드(D1~Dn)의 애노드를 접속하고, 이들의 캐소우드를 제너다이오드(ZD)를 통해 베이스측에 전원단자전압(VCC)이 출력되는 트랜지스터(Qa)의 콜렉터에 접속한다. 그리고, 상기 트랜지스터(Qa)의 에미터를 쇼트인에이블신호(SHORT_EN)에 의해 턴온되는 스위치(SW231)를 통해 후술할 비교기(CP230)의 비반전입력단자에 접속하고 그 접속점을 저항(R3b)을 통해 접지단자에 접속한다. To this end, the anodes of the diodes D1 to Dn are connected to the cathodes of the last LEDs of the channels CH0 to CHn of the LED string 110, and the cathodes of the diodes ZD are connected to the zener diodes ZD. It connects to the collector of transistor Qa through which the power supply terminal voltage VCC is output to the base side. The emitter of the transistor Qa is connected to the non-inverting input terminal of the comparator CP230, which will be described later, via the switch SW231 turned on by the short enable signal SHORT_EN, and the connection point is connected to the resistor R3b. Connect to ground terminal through

상기 엘이디 쇼트 클럭신호 발생기(320)로부터 스위치(SW231)에 공급되는 쇼트인에이블신호(SHORT_EN)는 도 9의 (a)-(c)에서와 같이 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 엘이디들을 구동시키기 위한 구동신호와 동기하여 겹치지 않게 소정의 시차를 두고 공급된다. The short enable signal SHORT_EN supplied from the LED short clock signal generator 320 to the switch SW231 is formed in each channel CH0 to the LED string 110 as shown in FIGS. 9A to 9C. It is supplied with a predetermined time difference so as not to overlap with the driving signal for driving the LEDs of CHn).

비교기(CP230)는 상기와 같이 동작되는 스위치(SW231)를 통해 피드백되는 전압을 쇼트기준전압(SHORTV)과 비교하여 그에 따른 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT)를 출력한다.The comparator CP230 compares the voltage fed back through the switch SW231 operated as described above with the short reference voltage SHORTV and outputs the LED short fault detection signal LED_SHORT accordingly.

예를 들어, 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 엘이디(LED) 중에서 쇼트된 엘이디가 존재하지 않는 경우 상기 엘이디구동신호 피드백부(231)를 통해 상기 비교기(CP230)의 반전입력단자에 입력되는 전압은 비반전입력단자에 공급되는 상기 쇼트기준전압(SHORTV)보다 낮게 된다. 따라서, 이때 상기 비교기(CP230)는 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT)를 "로우"로 출력한다.For example, when a shorted LED does not exist among the LEDs of each channel CH0 to CHn of the LED string 110, the comparator CP230 is inverted through the LED driving signal feedback unit 231. The voltage input to the input terminal is lower than the short reference voltage (SHORTV) supplied to the non-inverting input terminal. Therefore, at this time, the comparator CP230 outputs the LED short fault detection signal LED_SHORT to "low".

그러나, 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn) 중에서 하나 이상의 채널에 쇼트된 엘이디가 존재하는 경우 상기 엘이디구동신호 피드백부(231)를 통해 상기 비교기(CP230)의 반전입력단자에 입력되는 전압 중에서 해당 채널의 전압은 비반전입력단자에 공급되는 상기 쇼트기준전압(SHORTV)보다 높게 된다. 따라서, 이때 상기 비교기(CP230)는 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT)를 "하이"로 출력한다.However, when there is a shorted LED in one or more channels among the channels CH0 to CHn of the LED string 110, the LED is input to the inverting input terminal of the comparator CP230 through the LED driving signal feedback unit 231. Among the voltages, the voltage of the corresponding channel is higher than the short reference voltage (SHORTV) supplied to the non-inverting input terminal. Accordingly, the comparator CP230 outputs the LED short fault detection signal LED_SHORT as "high".

상기 비교기(CP230)에서 출력되는 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT)는 상기 엘이디 쇼트 클럭신호 발생기(320)에서 출력되는 도 9의 (d)-(f)에서와 같은 n 비트의 엘이디 쇼트 클럭신호(LED_SHORT_CK[0:n])에 의하여 저장소자(232A~232N)에 해당 타이밍으로 순차적으로 저장된다.The LED short fault detection signal LED_SHORT output from the comparator CP230 is the n-bit LED short clock signal of FIG. 9 (d)-(f) output from the LED short clock signal generator 320. LED_SHORT_CK [0: n]) is sequentially stored in the reservoirs 232A to 232N at a corresponding timing.

상기 저장소자(232A~232N)에서 상기와 같이 저장된 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT)는 도 9의 (g)와 같은 타이밍으로 상기 고장검출 제어부(250)의 폴트 데이터 처리기(340)에 전달된다. 이때, 상기 저장 소자(232A~232N)에서 출력되는 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT_FLAG)에는 상기 엘이디 쇼트 클럭신호(LED_SHORT_CK)를 근거로 한 채널정보가 포함되어 있다. The LED short fault detection signal LED_SHORT stored as described above in the reservoirs 232A to 232N is transmitted to the fault data processor 340 of the fault detection control unit 250 at the timing as shown in FIG. In this case, the LED short fault detection signal LED_SHORT_FLAG output from the storage devices 232A to 232N includes channel information based on the LED short clock signal LED_SHORT_CK.

따라서, 상기 폴트 데이터 처리기(340)는 기 설정된 시간에 자동으로 또는 사용자의 요구가 있을 때, 상기와 같은 과정을 통해 입력받은 상기 채널정보가 포함된 엘이디 쇼트 고장검출신호(LED_SHORT_FLAG)를 근거로 엘이디 쇼트에 관련된 고장신호(ERROR)를 출력한다. 이에 따라, 사용자는 상기 엘이디 스트링(110)의 각 채널(CH0~CHn)의 엘이디(LED) 중에서 어느 채널의 엘이디(LED)에 쇼트 고장이 발생되었는지의 여부를 확인할 수 있게 된다.Accordingly, when the fault data processor 340 automatically or at the request of the user at a preset time, the fault data processor 340 based on the LED short fault detection signal LED_SHORT_FLAG including the channel information received through the above process. Outputs fault signal (ERROR) related to short. Accordingly, the user can determine whether a short failure occurs in the LED (LED) of the LED (LED) of each channel (CH0 ~ CHn) of the LED string 110.

도 7은 상기 트랜지스터 쇼트 검출부(240)의 구현예를 나타낸 것이다. 상기 설명에서와 같이 백라이트 모듈이 동작하는 동안 엘이디 스트링(110)의 엘이디(LED)들은 온,오프를 반복한다. 그런데, 상기 엘이디 스트링(110)의 각 엘이디(LED)의 온 구간에서 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압의 레벨은 쇼트 고장이 발생되었을 때 입력되는 전압의 레벨과 거의 같으므로 그 온 구간에서는 쇼트 고장을 검출할 수 없다. 7 illustrates an embodiment of the transistor short detector 240. As described above, the LEDs of the LED string 110 repeat on and off while the backlight module operates. However, since the level of the voltage input to the input port ES in the on period of each LED of the LED string 110 is almost the same as the level of the voltage input when the short fault occurs, in the on period A short fault cannot be detected.

이를 감안하여, 상기 출력포트(BG)에 "로우"를 출력하여 해당 채널(CH0)의 엘이디(LED)들이 턴오프되는 구간에서 비교기(CP240)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 티알쇼트기준전압(TR_SHORTV)과 비교하여 그에 따른 트랜지스터 쇼트 고장검출신호(TR_SHORT)를 출력한다.In consideration of this, the comparator CP240 outputs the voltage input to the input port ES in a section in which “low” is output to the output port BG and the LEDs of the corresponding channel CH0 are turned off. The transistor short fault detection signal TR_SHORT is output according to the short reference voltage TR_SHORTV.

예를 들어, 트랜지스터(Q0)가 정상인 경우, 오프 구간에서 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압은 접지전압의 레벨과 유사하게 나타난다. 따라서, 이때 상기 비교기(CP240)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 티알쇼트기준전압(TR_SHORTV)과 비교하여 상기 트랜지스터 고장검출신호(TR_SHORT)를 "로우"로 출력한다.For example, when the transistor Q0 is normal, the voltage input to the input port ES in the off period is similar to the level of the ground voltage. Accordingly, the comparator CP240 compares the voltage input to the input port ES with the thial short reference voltage TR_SHORTV and outputs the transistor fault detection signal TR_SHORT as "low".

그러나, 상기 트랜지스터(Q0)의 콜렉터와 에미터가 쇼트된 경우, 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압은 상기 채널(CH0)의 엘이디(LED) 중에서 마지막 엘이디의 캐소우드의 전압과 유사한 높은 레벨의 전압으로 유지된다. 이때, 상기 비교기(CP240)는 상기 입력포트(ES)에 입력되는 전압을 티알쇼트기준전압(TR_SHORTV)과 비교하여 상기 트랜지스터 고장검출신호(TR_SHORT)를 "하이"로 출력한다.However, when the collector and the emitter of the transistor Q0 are shorted, the voltage input to the input port ES is at a high level similar to the voltage of the cathode of the last LED among the LEDs of the channel CH0. Is maintained at the voltage of. In this case, the comparator CP240 compares the voltage input to the input port ES with the thial short reference voltage TR_SHORTV and outputs the transistor fault detection signal TR_SHORT as "high".

저장 소자(241)는 상기 비교기(CP240)에서 상기와 같이 출력되는 트랜지스터 고장검출신호(TR_SHORT)를 상기 고장검출 제어부(250)의 트랜지스터 쇼트 클럭신호 발생기(330)에서 도 8의 (c)와 같이 출력되는 해당 타이밍의 트랜지스터 쇼트 클럭신호(TR_SHORT_CK)를 이용하여 저장한 후 도 8의 (e)와 같은 타이밍으로 상기 폴트 데이터 처리기(340)에 출력한다. 상기 저장 소자(241)는 플립플롭이나 래치로 구현할 수 있다. The storage device 241 transmits the transistor fault detection signal TR_SHORT output as described above from the comparator CP240 to the transistor short clock signal generator 330 of the fault detection control unit 250 as shown in FIG. 8C. After storing using the transistor short clock signal TR_SHORT_CK at the corresponding timing output, the transistor short clock signal TR_SHORT_CK is stored and output to the fault data processor 340 at the timing shown in FIG. The storage element 241 may be implemented as a flip flop or a latch.

상기와 같은 트랜지스터 쇼트 검출부(240)를 상기 엘이디 스트링(110)의 채널수(CH0~CHn) 만큼 구비하고, 나머지의 각 트랜지스터(Q1~Qn)에 대해서도 상기와 같이 트랜지스터 쇼트 고장을 검출하여 그에 따른 트랜지스터 쇼트 고장검출신호(TR_SHORT_FLAG)를 상기 폴트 데이터 처리기(340)에 출력한다. 이때, 각 채널에 대응하는 상기 저장 소자(241)에서 출력되는 트랜지스터 쇼트 고장검출신호(TR_SHORT_FLAG)에는 상기 트랜지스터 쇼트 클럭신호(TR_SHORT_CK)를 근거로 한 채널정보가 포함되어 있다. The transistor short detection unit 240 described above is provided as many as the number of channels CH0 to CHn of the LED string 110, and the transistor short failures are detected for each of the remaining transistors Q1 to Qn as described above. The transistor short fault detection signal TR_SHORT_FLAG is output to the fault data processor 340. At this time, the transistor short fault detection signal TR_SHORT_FLAG output from the storage element 241 corresponding to each channel includes channel information based on the transistor short clock signal TR_SHORT_CK.

따라서, 상기 폴트 데이터 처리기(340)는 기 설정된 시간에 자동으로 또는 사용자의 요구가 있을 때, 상기와 같은 과정을 통해 입력받은 상기 채널정보가 포함된 트랜지스터 쇼트 고장검출신호(TR_SHORT_FLAG)를 근거로 하여 트랜지스터 쇼트에 관련된 고장신호(ERROR)를 출력한다. 이에 따라, 사용자는 상기 각 채널의 트랜지스터(Q0~Qn) 중에서 어느 채널의 트랜지스터에 쇼트 고장이 발생되었는지의 여부를 확인할 수 있게 된다.Therefore, when the fault data processor 340 automatically or at the request of the user at a preset time, the fault data processor 340 is based on the transistor short fault detection signal TR_SHORT_FLAG including the channel information received through the above process. Outputs a fault signal (ERROR) related to the transistor short. Accordingly, the user can check whether a short failure occurs in a transistor of which channel among the transistors Q0 to Qn of each channel.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명하였지만, 본 발명의 권리범위가 이에 한정되는 것이 아니라 다음의 청구범위에서 정의하는 본 발명의 기본 개념을 바탕으로 보다 다양한 실시예로 구현될 수 있으며, 이러한 실시예들 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
Although the preferred embodiment of the present invention has been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and may be implemented in various embodiments based on the basic concept of the present invention defined in the following claims. Such embodiments are also within the scope of the present invention.

110 : 엘이디 스트링
120 : 엘이디 구동부
130 : 엘이디 구동제어부
210 : 입출력 포트부
220 : 엘이디 오픈 검출부
230 : 엘이디 쇼트 검출부
240 : 트랜지스터 쇼트 검출부
250 : 고장검출 제어부
310 : 엘이디 오픈 클럭신호 발생기
320 : 엘이디 쇼트 클럭신호 발생기
330 : 트랜지스터 쇼트 클럭신호 발생기
340 : 폴트 데이터 처리기110: LED string
120: LED drive unit
130: LED drive control unit
210: input / output port
220: LED open detection unit
230: LED short detection unit
240: transistor short detection unit
250: fault detection control unit
310: LED open clock signal generator
320: LED short clock signal generator
330: transistor short clock signal generator
340: Fault data processor

Claims (8)

각 채널마다 직렬접속된 다수의 엘이디를 구비하여 액정패널에 백라이트를 제공하는 엘이디 스트링;
엘이디 구동용 트랜지스터를 이용하여 채널별로 상기 엘이디를 점등시키는 엘이디 구동부;를 구비한 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로에 있어서,
상기 각 채널 중에서 임의의 채널의 엘이디들이 턴온되는 구간에서, 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 오픈기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 오픈 고장검출신호를 생성한 후, 엘이디 오픈 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 복수 개의 엘이디 오픈 검출부;
상기 엘이디 스트링의 각 채널에서 마지막 엘이디의 캐소우드를 통해 출력되는 피드백전압을 쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 쇼트 고장검출신호를 생성한 후, 엘이디 쇼트 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 엘이디 쇼트 검출부;
상기 해당 채널의 엘이디들이 턴오프되는 구간에서, 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 티알쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 생성한 후, 트랜지스터 쇼트 클럭신호를 근거로 획득한 해당 채널정보를 포함시켜 출력하는 복수 개의 트랜지스터 쇼트 검출부;
상기 엘이디 오픈 고장검출신호, 엘이디 쇼트 고장검출신호 및 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 입력받아 기 설정된 시간에 또는 사용자 요구가 있을 때 출력하는 고장검출 제어부;를 포함하는 엘이디 구동제어부를 포함하여 구성한 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
An LED string having a plurality of LEDs connected in series for each channel to provide a backlight to the liquid crystal panel;
In the backlight failure detection circuit of the liquid crystal display device comprising: an LED driver for lighting the LED for each channel by using an LED driving transistor,
In the period in which the LEDs of any channel among the respective channels are turned on, the output voltage of the LED driving transistor is compared with the open reference voltage to generate an LED open fault detection signal according to the LED, and then acquired based on the LED open clock signal. A plurality of LED open detectors including one corresponding channel information and outputting the corresponding channel information;
The feedback voltage output through the cathode of the last LED in each channel of the LED string is compared with the short reference voltage to generate the LED short fault detection signal accordingly, and then the corresponding channel information obtained based on the LED short clock signal is obtained. LED short detection unit to include and output;
In the period in which the LEDs of the corresponding channel are turned off, the output voltage of the LED driving transistor is compared with a thial short reference voltage to generate a transistor short fault detection signal corresponding thereto, and then obtained based on the transistor short clock signal. A plurality of transistor short detectors including and outputting channel information;
And an LED driving control unit including the LED open fault detection signal, the LED short fault detection signal, and the transistor short fault detection signal and outputting the input at a predetermined time or when there is a user request. Backlight fault detection circuit of the liquid crystal display device.
제1항에 있어서, 엘이디 오픈 검출부는
해당 채널의 엘이디들이 턴온되는 온 구간에서 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 오픈기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 오픈 고장검출신호를 출력하는 비교기;
상기 비교기에서 출력되는 엘이디 오픈 고장검출신호를 해당 타이밍의 엘이디 오픈 클럭신호를 이용하여 저장한 후 해당 채널정보와 함께 출력하는 저장소자;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
The method of claim 1, wherein the LED open detection unit
A comparator for comparing the output voltage of the LED driving transistor with an open reference voltage and outputting an LED open fault detection signal in an on period when LEDs of the corresponding channel are turned on;
And a reservoir for storing the LED open fault detection signal output from the comparator using the LED open clock signal at a corresponding timing and outputting the same along with the corresponding channel information.
제1항에 있어서, 엘이디 쇼트 검출부는
상기 엘이디 스트링의 각 채널의 마지막 엘이디의 캐소우드를 통해 출력되는 전압을 피드백시키는 엘이디구동신호 피드백부;
상기 엘이디구동신호 피드백부를 통해 출력되는 피드백 전압을 쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 엘이디 쇼트 고장검출신호를 출력하는 비교기;
상기 비교기에서 출력되는 각 채널의 엘이디 쇼트 고장검출신호를 n 비트의 엘이디 쇼트 클럭신호를 이용하여 저장한 후 해당 채널정보와 함께 출력하는 상기 채널 개수의 저장소자;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
The method of claim 1, wherein the LED short detection unit
An LED driving signal feedback unit for feeding back a voltage output through the cathode of the last LED of each channel of the LED string;
A comparator for comparing the feedback voltage output through the LED driving signal feedback unit with a short reference voltage and outputting an LED short fault detection signal accordingly;
And storing the LED short fault detection signal of each channel output from the comparator using an LED short clock signal of n bits and outputting the corresponding channel information together with the corresponding channel information. Backlight fault detection circuit in the device.
제3항에 있어서, 엘이디구동신호 피드백부는 상기 엘이디 스트링의 각 채널의 마지막 엘이디의 캐소우드가 각각의 다이오드를 통해 공통접속된 후 제너다이오드, 트랜지스터 및 쇼트인에이블신호에 의해 턴온되는 스위치를 순차적으로 통해 상기 비교기의 비반전입력단자에 접속되고 그 접속점이 저항을 통해 접지단자에 접속되어 구성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
The LED driving signal feedback unit sequentially turns on a switch which is turned on by a zener diode, a transistor, and a short enable signal after the cathode of the last LED of each channel of the LED string is commonly connected through each diode. And a connection point connected to a non-inverting input terminal of the comparator and connected to a ground terminal through a resistor.
제4항에 있어서, 스위치에 공급되는 쇼트인에이블신호는 상기 각 채널의 엘이디들을 구동시키기 위한 구동신호와 동기하여 겹치지 않게 시차를 두고 공급되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
5. The backlight failure detection circuit according to claim 4, wherein the short enable signal supplied to the switch is supplied at a time difference so as not to overlap with a driving signal for driving the LEDs of each channel.
제1항에 있어서, 트랜지스터 쇼트 검출부는
해당 채널의 엘이디들이 턴오프는 구간에서 상기 엘이디 구동용 트랜지스터의 출력전압을 티알쇼트기준전압과 비교하여 그에 따른 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 출력하는 비교기;
상기 비교기에서 출력되는 트랜지스터 쇼트 고장검출신호를 해당 타이밍의 트랜지스터 쇼트 클럭신호를 이용하여 저장한 후 해당 채널정보와 함께 출력하는 저장소자;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
The method of claim 1, wherein the transistor short detection unit
A comparator for comparing the output voltage of the LED driving transistor with a thial short reference voltage and outputting a transistor short fault detection signal in a period when LEDs of the corresponding channel are turned off;
And a storage device for storing the transistor short fault detection signal output from the comparator using the transistor short clock signal at a corresponding timing and outputting the same together with channel information.
제6항에 있어서, 저장소자는 플립플롭이나 래치를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.
7. The backlight failure detection circuit of claim 6, wherein the reservoir comprises a flip flop or a latch.
제1항에 있어서, 고장검출 제어부는
n 비트의 출력포트로 출력되는 신호와 메인 클럭신호를 근거로 하여 n 비트의 엘이디 오픈 클럭신호를 발생하는 엘이디 오픈 클럭신호 발생기;
상기 n 비트의 출력포트로 출력되는 신호와 상기 메인 클럭신호를 근거로 하여 n 비트의 엘이디 쇼트 클럭신호와 쇼트 인에이블신호를 발생하는 엘이디 쇼트 클럭신호 발생기;
상기 n 비트의 출력포트로 출력되는 신호와 상기 메인 클럭신호를 근거로 하여 n 비트의 트랜지스터 쇼트 클럭신호를 발생하는 트랜지스터 쇼트 클럭신호 발생기;
상기 엘이디 오픈 검출부에서 엘이디 오픈 검출 시 출력되는 엘이디 오픈 검출신호, 상기 엘이디 쇼트 검출부에서 엘이디 쇼트 검출 시 출력되는 엘이디 쇼트 검출신호, 상기 트랜지스터 쇼트 검출부에서 트랜지스터 쇼트 검출 시 출력되는 트랜지스터 쇼트 검출신호 및 상기 메인 클럭신호를 근거로 하여 고장신호를 출력하는 폴트 데이터 처리기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 백라이트 고장 검출회로.The method of claim 1, wherein the fault detection control unit
an LED open clock signal generator for generating an n-bit LED open clock signal based on a signal output to an n-bit output port and a main clock signal;
An LED short clock signal generator for generating an n-bit LED short clock signal and a short enable signal based on the signal output to the n-bit output port and the main clock signal;
A transistor short clock signal generator for generating an n bit transistor short clock signal based on the signal output to the n bit output port and the main clock signal;
The LED open detection signal output when the LED open detection is detected by the LED open detection unit, the LED short detection signal output when the LED short detection is detected by the LED short detection unit, the transistor short detection signal output when the transistor short detection is detected by the transistor short detection unit and the main And a fault data processor for outputting a fault signal based on a clock signal.
KR1020100049137A 2010-05-26 2010-05-26 Fault detection circuit for backlight of liquid crystaldisplay KR101162953B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100049137A KR101162953B1 (en) 2010-05-26 2010-05-26 Fault detection circuit for backlight of liquid crystaldisplay

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100049137A KR101162953B1 (en) 2010-05-26 2010-05-26 Fault detection circuit for backlight of liquid crystaldisplay

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20110129644A KR20110129644A (en) 2011-12-02
KR101162953B1 true KR101162953B1 (en) 2012-07-06

Family

ID=45498730

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100049137A KR101162953B1 (en) 2010-05-26 2010-05-26 Fault detection circuit for backlight of liquid crystaldisplay

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101162953B1 (en)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101924622B1 (en) * 2011-08-22 2018-12-04 엘지디스플레이 주식회사 Liquid Crystal Display Device
KR101876561B1 (en) * 2011-08-26 2018-07-10 엘지디스플레이 주식회사 Liquid Crystal Display Device and Driving Method the same
KR101974218B1 (en) * 2012-05-04 2019-05-02 매그나칩 반도체 유한회사 Led driver apparatus
US9258862B2 (en) 2013-05-08 2016-02-09 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd LED backlight driving circuit, LCD device, and method for driving the LED backlight driving circuit
CN103295547B (en) * 2013-05-08 2015-05-20 深圳市华星光电技术有限公司 LED backlight driving circuit, driving method of LED backlight driving circuit and liquid crystal display device
WO2014204871A1 (en) 2013-06-19 2014-12-24 Dialog Semiconductor Inc. Led driver with comprehensive fault protections
KR102229394B1 (en) * 2014-12-30 2021-03-18 엘지디스플레이 주식회사 Device and method for testing backlight unit of liquid crystal display module
KR102034966B1 (en) * 2018-12-04 2019-10-22 매그나칩 반도체 유한회사 Detecting ciurcuit for open of led array and led driver apparatus having the same in
KR102285564B1 (en) * 2020-04-09 2021-08-04 (주)실리콘인사이드 Fault detectable led back-light unit
CN113470555A (en) * 2021-07-15 2021-10-01 中科芯集成电路有限公司 LED display driving chip open-circuit lamp bead detection method

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100740887B1 (en) 2005-10-25 2007-07-19 한양대학교 산학협력단 Circuit for Detecting Voltage Difference

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100740887B1 (en) 2005-10-25 2007-07-19 한양대학교 산학협력단 Circuit for Detecting Voltage Difference

Also Published As

Publication number Publication date
KR20110129644A (en) 2011-12-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101162953B1 (en) Fault detection circuit for backlight of liquid crystaldisplay
CN102314830B (en) Organic light emitting display device and method for driving the same
JP4241487B2 (en) LED driving device, backlight light source device, and color liquid crystal display device
KR102482034B1 (en) Organic light emitting display device and reparing method thereof
KR102517759B1 (en) Power supply unit and display device including the same
JP2009212082A (en) Method of driving light source, light source device using the same, and display having the light source device
KR19990083648A (en) Fault detection circuit of all-optical display device and display state detection method using same
KR101665306B1 (en) Apparatus and method for driving of light emitting diode, and liquid crystal display device using the same
CN105609024A (en) Testing method and apparatus for display panel
EP2026320A2 (en) Backlight unit, display apparatus comprising the same and control method thereof
KR101341021B1 (en) Apparatus and method of driving light source
US20140055439A1 (en) Backlight unit and a display apparatus having the same
KR20130116126A (en) Led dot matrix having redundancy led and the electric light board device
KR20140093354A (en) Organic light emitting diode display device and test method thereof
JP2005258128A (en) Light emitting display module, electronic apparatus having the same mounted thereon, and method of verifying defective state of the module
KR101974218B1 (en) Led driver apparatus
KR20150006967A (en) Dc-dc converter, organic light emitting diode having the same and method for operating the same
US8179138B2 (en) CRT test system
CN114333665B (en) Light emitting diode driving circuit
KR101891261B1 (en) LCD and method of driving the same
KR101373395B1 (en) Backlight unit and liquid crystal display device having the same
CN102831851B (en) Testing method and testing device of organic light emitting diode (OLED) substrate
KR101977968B1 (en) Liquid Crystal Display Device and Driving Method the same
US9552753B1 (en) Apparatus and method for inspection of display device pixels using photon collection
KR20070079181A (en) Test voltage generator and test system of liquid crystal display apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150625

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160725

Year of fee payment: 5