KR101105891B1 - Ｒｆｉｄ 리더 및 카드 탐지 방법 - Google Patents

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Abstract

소비 전류의 변화를 이용하여 비접촉식 카드의 존재 여부를 탐지할 수 있는 RFID 리더가 제공된다. 상기 RFID 리더는 카드 리더와 비접촉식 카드의 상호 인덕턴스의 변화에 따른 상기 카드 리더의 품질 계수 선택도의 변화에 기초하여 상기 카드 리더에서 소비되는 소비 전류 값을 측정하기 위한 전류 측정부와, 상기 전류 측정부에서 측정된 소비 전류 값에 기초하여 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는지의 여부를 판단하기 위한 MCU(microcontroller unit)를 포함한다.

Description

ＲＦＩＤ 리더 및 카드 탐지 방법{RFID reader and method for detecting a card}
본 발명에 따른 실시 예는 RFID 태그 탐지 기술에 관한 것으로서, 특히 RFID 리더의 내부에서 소비되는 전류 값의 변화에 기초하여 비접촉식 카드의 존재 유무를 판단할 수 있는 RFID 리더 및 비접촉식 카드 탐지 방법에 관한 것이다.
무선 주파수 인식(RFID, Radio Frequency IDentification) 기술은 RF 통신을 이용하여 원거리에서 개체의 정보를 읽는 자동 인식 기술이다. 이 기술은 물리적인 접촉이 없이도 사물의 정보를 빠르게 읽을 수 있으므로 바코드 시스템을 대체하게 될 시스템으로 주목받고 있다. 최근에 이 기술은 물류 시스템, 교통 관리 시스템, 동물 관리 시스템 등에서 사용되고 있다.
일반적으로 IC 카드는 카드 리더(card reader)와의 물리적 접촉 여부에 따라 접촉식 IC 카드와 비접촉식 IC 카드로 분류될 수 있다.
접촉식 IC 카드는 사용자가 대금 결제를 하거나 출입 인증을 받을 때처럼 카드 리더에 접촉식 IC 카드를 삽입하였다가 꺼내야하는 번거로움이 있다. 반면에, 비접촉식 IC 카드는 비접촉 IC 카드 리더에 삽입하지 않고도 비접촉 IC 카드 리더 와 무선으로 정보를 주고받을 수 있다. 따라서, 현재 비접촉식 IC 카드는 버스와 지하철 등의 교통 분야, 직불 카드와 신용 카드 등의 금융 분야, 주차 카드, 건물 출입구 등의 보안 분야에서 널리 사용되고 있다.
일반적으로 비접촉 IC 카드 리더는 일정한 주파수를 갖는 전자파를 계속해서 발생시킨다. 비접촉 IC 카드가 비접촉 IC 카드 리더의 커버리지에 접근하면, 상기 비접촉 IC 카드는 비접촉식 IC 카드 리더로부터 전원 또는 에너지를 공급받고 활성화된다.
본 발명은 상기 기술적 과제를 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명에 따른 실시예는 리더 내부에서 소비되는 소비 전류 값에 기초하여 비접촉식 카드를 탐지할 수 있는 RFID 리더 및 카드 탐지 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위한 비접촉식 카드 탐지 방법은 비접촉식 카드가 카드 리더의 커버리지 내에 존재하지 않을 때 상기 카드 리더에서 소비되는 전류 값을 기준 전류 값으로 설정하는 단계; 상기 카드 리더의 품질 계수 선택도의 변화에 기초하여 전류 값을 측정하는 단계; 및 상기 측정된 전류 값과 상기 설정된 기준 전류 값을 비교하고 비교 결과에 따라 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는지의 여부를 판단하는 단계를 포함한다.
실시 예에 따라 상기 비교 결과에 따라 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리 더의 커버리지 내에 존재하는지의 여부를 판단하는 단계는 상기 측정된 전류 값과 상기 설정된 기준 전류 값이 서로 다를 때 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는 것으로 판단할 수 있다.
따른 실시 예에 따라 상기 비교 결과에 따라 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는지의 여부를 판단하는 단계는 상기 측정된 전류 값과 상기 설정된 기준 전류 값의 차이가 이미 설정된 임계 값을 초과할 때 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는 것으로 판단할 수 있다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 RFID 리더는 카드 리더와 비접촉식 카드의 상호 인덕턴스의 변화에 따른 상기 카드 리더의 품질 계수 선택도의 변화에 기초하여 상기 카드 리더에서 소비되는 소비 전류 값을 측정하기 위한 전류 측정부; 및 상기 전류 측정부에서 측정된 소비 전류 값에 기초하여 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는지의 여부를 판단하기 위한 MCU(microcontroller unit)를 포함한다.
실시 예에 따라 상기 MCU(microcontroller unit)는 상기 카드 리더의 커버리지 내에 상기 비접촉식 카드가 존재하지 않을 때에 상기 전류 측정부에 의하여 측정된 소비 전류 값을 기준 전류 값으로서 설정하고, 상기 전류 측정부에서 측정된 소비 전류 값과 상기 기준 전류 값을 비교하고 두 값들이 다른 경우 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는 것으로 판단할 수 있다.
다른 실시 예에 따라 상기 MCU(microcontroller unit)는 상기 카드 리더의 커버리지 내에 상기 비접촉식 카드가 존재하지 않을 때에 상기 전류 측정부에 의하여 측정된 소비 전류 값을 기준 전류 값으로서 설정하고, 상기 전류 측정부에서 측정된 소비 전류 값과 상기 기준 전류 값을 비교하고 두 값들의 차이가 이미 설정된 임계 값을 초과하는 경우 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는 것으로 판단할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 RFID 리더는 상호 인덕턴스에 따라 가변될 수 있는 내부에서 소비되는 전류 값을 주기적으로 측정하여 기준 전류값과 비교함으로써 커버리지 내에 접근하는 RFID 카드의 존재를 신속하고 효율적으로 판단할 수 있다.
특정한 구조적 내지 기능적 설명들은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시 예를 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로, 본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 형태로 실시될 수 있으며 본 명세서 또는 출원에 설명된 실시 예들에 한정되는 것으로 해석되어서는 아니된다.
본 발명의 개념에 따른 실시 예는 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있으므로 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본 명세서 또는 출원에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시예를 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
제1 및/또는 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 아니된다. 상기 용 어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만, 예컨대 본 발명의 개념에 따른 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채, 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소는 제1 구성요소로도 명명될 수 있다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 설시된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 RFID 시스템(1)의 개략적인 블록도이다. 도 1을 참조하면, RFID 시스템(1)은 RFID 리더(10) 및 비접촉식 카드(20)를 포함할 수 있다. 또한, RFID 리더(10)는 안테나(11), 리더 칩(12), 전류 측정부(13), 전원 공급부(14), MCU(microcontroller unit; 15), 및 ADC(16)를 포함할 수 있다. 비접촉식 카드(20)는 전자 태그, RFID 태그, 또는 트랜스폰더라고도 불릴 수 있다.
로직(logic) 회로로 구현될 수 있는 리더 칩(12)은 RFID 리더(10)의 전반적인 동작, 예컨대 RF 신호의 전송 또는 RF 신호의 수신을 제어하기 위한 컨트롤러 또는 프로세서로서의 기능을 수행하는 부분으로서, 도 1에 도시된 바와 같이 집적 회로로 구현될 수 있다. 또한, 전원 공급부(14)는 리더 칩(12)이 동작할 수 있도록 동작 전원을 공급할 수 있다. 전원 공급부(14)는 MCU(15)에도 동작 전원을 공급할 수 있다.
안테나(11)는 RFID 리더(10)의 내부에서 생성된 신호, 예컨대 RF 신호를 외부로 전송하거나 또는 외부로부터 전송된 신호, 예컨대 RF 신호를 수신할 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 비접촉식 카드(20)가 RFID 리더(10)의 커버리지 내(예컨대, 비접촉식 카드(20)가 RFID 리더(10)로부터 출력된 RF 신호에 반응할 수 있는 영역)에 접근하면, 예컨대 안테나(11)와 비접촉식 카드(20)가 인덕티브 커플링되었을 때 안테나(11)와 비접촉식 카드(20) 사이의 상호 인덕턴스(mutual inductance)의 변화, 예컨대 증가 또는 감소로 인하여 안테나(11) 또는 안테나(11)를 포함하는 RFID 리더(10)의 퀄리티 팩터(quality factor, 또는 품질 계수 선택도; Q) 값이 변화할 수 있다.
예컨대, 비접촉식 카드(20)가 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 접근하면 안테나(11)와 비접촉식 카드(20)의 커플링에 의하여 안테나(11)와 비접촉식 카드(20) 사이의 상호 인덕턴스가 변하게 된다. 이에 따라 상기 상호 인덕턴스는 안테나(11)에 접속된 리더 칩(12)의 임피이던스를 변하게 하므로, 전원 공급부(14)로부터 리더 칩(12)으로 흐르는 전류는 가변, 예컨대 증가 또는 감소하게 된다.
따라서, 전원 공급부(14)로부터 리더 칩(12)으로 공급되는 파워, 예컨대 전압 또는 전류의 양이 변화할 수 있으므로 본 발명에 따른 실시 예에서는 품질 계수 선택도의 변화에 따른 RFID 리더(10) 내부의 상태 변화, 예컨대 전류 값(I)의 변화를 이용하여 비접촉식 카드(20)가 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 존재하는지의 여부를 판단할 수 있다.
보다 구체적으로, 전류 측정부(13)는 전원 공급부(14)와 리더 칩(12) 사이에 흐르는 전류 값(I)을 측정할 수 있다. ADC(16)는 전류 측정부(13)에서 측정된 전류 값(I)에 상응하는 디지털 값을 출력할 수 있다. 따라서 전류 측정부(13)에서 측정 된 전류 값(I)은 MCU(15)로 전달되는데, 이때 전류 측정부(13)와 MCU(15) 사이에는 ADC(16)가 구현되어 전류 측정부(13)에서 측정된 아날로그 전류 값(I)은 디지털 전류 값으로 변환될 수 있다. 실시 예에 따라, ADC(16)는 MCU(15)의 내부에 구현될 수도 있다.
전류 측정부(13)는 두개의 노드들 사이 또는 두개의 블록들 사이에 흐르는 전류를 측정할 수 있는 모든 회로 또는 모든 장치를 의미한다. 도 1에서는 전류 측정부(13)가 리더 칩(12)의 외부에 구현되는 것으로 예시하였으나, 실시 예에 따라 전류 측정부(13)는 리더 칩(12)의 내부에 집적되어 구현될 수도 있다.
동작 초기에 또는 리셋 시에, MCU(15)는 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 비접촉식 카드(20)가 존재하지 않을 경우 전원 공급부(14)로부터 출력된 전류 값(I)에 상응하는 디지털 값을 기준 전류 값으로 저장할 수 있다.
실시예에 따라 전류 측정부(13)는, RFID 리더(10)로 파워가 공급된 후 MCU (15)의 제어 하에 RF 신호가 안테나(11)를 통하여 외부로 전송되는 동안, 전원 공급부(14)로부터 리더 칩(12)으로 흐르는 전류 값(I)을 측정한다. 따라서 MCU(15)는 ADC(16)로부터 출력된 디지털 값에 상응하는 전류 값을 기준 전류 값으로 설정할 수 있다.
기준 전류 값이 설정된 후, MCU(15)는 전류 측정부(13)에서 측정된 전류 값에 상응하는 디지털 값과 설정된 기준 전류 값을 비교하고 두 값들이 서로 상이하면(즉, 전류 값(I)이 변경되면) RFID 리더(10)의 커버리지 내에 비접촉식 카드(20)가 접근한 것 또는 존재하는 것으로 판단할 수 있다.
실시 예에 따라, MCU(15)는 전류 측정부(13)에서 측정된 전류 값에 상응하는 디지털 값과 설정된 기준 전류 값을 비교하교 두 값들의 차이가 이미 설정된 임계 값을 초과하면 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 비접촉식 카드(20)가 접근한 것 또는 존재하는 것으로 판단할 수 있다. 상기 임계 값은 RFID 리더(10)의 커버리지, RFID 리더(10)의 내부 회로 구성, 상기 기준 전류 값 등에 기초하여 적절하게 설정될 수 있다.
RFID 리더(10)의 커버리지 내로 비접촉식 카드(20)가 접근할 경우 안테나(11)와 비접촉식 카드(20)의 커플링에 의하여 RFID 리더(10)의 소비 전류 값(I)은 증가 또는 감소할 수 있다.
MCU(15)는 안테나(11)를 통해 리더 칩(12)으로부터 RF 신호가 주기적으로 출력되도록 제어할 수 있다. 즉, MCU(15)에 의해서 일정 시간 동안만 주기적으로 RF 신호가 출력되고 나머지 시간 동안에는 상기 RF 신호를 출력하지 않음으로써 RFID 리더(10)의 소비 전력은 최소화될 수 있게 된다.
도 2는 도 1에 도시된 시스템(1)의 RFID 리더(10)의 내부에서 소비되는 전류값(I)의 변화를 나타낸 그래프이다. 도 2에는 설명의 편의를 위하여 안테나(11)와 비접촉식 카드(20)의 커플링에 의하여 전류 값(I)이 증가하는 경우를 도시하나 안테나(11)와 비접촉식 카드(20)의 커플링에 의하여 전류 값(I)이 감소할 수 있다.
도 1 및 도 2를 참조하면, MCU(15)의 제어 하에, RFID 리더(10)는 RF 신호를 주기적으로 출력할 수 있다. 예컨대, 상기 RF 신호(RF)는 약 500ms 간격(예컨대, 도 2의 T1, T2, 또는 T3)으로 출력될 수 있다. 이때 상기 RF 신호(RF)는 약 1ms의 듀레이션(duration; 예컨대 도 2의 D1, D2, 또는 D3)을 가질 수 있다. 즉, 약 500ms 간격으로 약 1ms 동안만 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 비접촉식 카드(20)가 존재하는지 여부가 판단될 수 있고, 나머지 기간 동안 RF 신호는 전송되지 않으므로 RFID 리더(10)의 소비 전력이 최소화될 수 있다.
전류 측정부(13)는 RF 신호가 외부로 전송될 때마다 전원 공급부(14)로부터 출력된 전류 값(I)을 측정하고 ADC(16)는 전류 측정부(13)로부터 측정된 전류 값을 디지털 값으로 변환하고, MCU(15)는 ADC(16)로부터 출력된 디지털 값과 기준 전류값을 비교하고 비교 결과에 따라 비접촉식 카드(20)의 접근 여부를 판단할 수 있다.
예컨대, 제1주기(T1)의 듀레이션 동안(D1) 또는 제2주기(T2=T1)의 듀레이션 동안(D2), 전류 측정부(13)에서 측정된 전류 값(I)과 기준 전류 값(Iref)이 서로 동일하면, 좀 더 구체적으로 상기 측정된 전류 값(I)에 해당하는 디지털 값과 기준 전류값(Iref)에 해당하는 디지털 값이 서로 동일하면, MCU(15)는 비교 결과에 따라 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 비접촉식 카드(20)가 존재하지 않는 것으로 판단할 수 있다.
제3주기(T3=T2)의 듀레이션 동안(D3) 전류 측정부(13)에서 측정된 전류 값 (I)과 기준 전류 값(Iref)이 서로 다르면, 좀 더 구체적으로 측정된 전류 값(I)에 해당하는 디지털 값과 기준 전류값(Iref)에 해당하는 디지털 값이 서로 다르면, MCU(15)는 비교 결과에 따라 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 비접촉식 카드(20)가 존재하는 것으로 판단할 수 있다. 또한, 제3주기(T3=T2)의 듀레이션 동안(D3) 전류 측정부(13)에서 측정된 전류 값(I)과 기준 전류 값(Iref)의 차이가 이미 설정된 임계 값을 초과하면, MCU(15)는 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 비접촉식 카드(20)가 존재하는 것으로 판단할 수 있다. RFID 리더(10)의 커버리지 내에 비접촉식 카드 (20)가 존재하는 것으로 판단되면 RFID 리더(10)는 MCU(15)의 제어 하에 비접촉식 카드(20)와 데이터를 주고 받기 위한 동작을 수행할 수 있다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 비접촉식 카드의 탐지 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 전류 측정부(13)는 비접촉식 카드(20)가 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 존재하지 않을 때에 RFID 리더(10)에서 소비되는 전류 값을 측정한다(S310). ADC(16)는 아날로그-디지털 변환 동작을 통하여 전류 측정부 (13)에서 측정된 전류 값에 해당하는 디지털 값을 MCU(15)로 출력한다. MCU(15)는 ADC(16)로부터 출력된 디지털 값 또는 상기 디지털 값에 해당하는 다른 디지털 값을 기준 전류 값으로 설정하고 이를 내부 메모리, 예컨대 레지스터에 저장할 수 있다(S320). 상기 기준 전류 값은 RFID 리더(10)로 파워가 처음으로 공급될 때 또는 초기화 단계에서 측정된 전류 값으로 설정될 수 있다. 따라서, 기준 전류 값은 비접촉식 카드(20)가 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 존재하지 않을 때 측정된 전류로 설정된다.
전류 측정부(13)는 주기적으로, 예컨대 RF 신호가 외부로 전송될 때마다 전원 공급부(14)와 리더 칩(12) 사이에 흐르는 전류 값(I)을 측정하고(S330), ADC(16)는 측정된 전류 값에 해당하는 디지털 값을 MCU(15)로 전송할 수 있다.
MCU(15)는 측정된 전류 값이 기준 전류 값과 동일한지의 여부를 판단하고 (S330), 판단 결과 서로 동일하지 않으면 MCU(15)는 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 비접촉식 카드(20)가 접근한 것 또는 존재하는 것으로 판단할 수 있다(S350).
또한, MCU(15)는 측정된 전류 값과 기준 전류 값의 차이가 이미 설정된 임계값을 초과하는지의 여부를 판단하고, 상기 차이가 상기 임계 값을 초과할 경우 RFID 리더(10)의 커버리지 내에 비접촉식 카드(20)가 접근한 것으로 또는 존재하는 것으로 판단할 수도 있다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 것을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 RFID 시스템의 개략적인 블록도.
도 2는 도 1에 도시된 시스템에서 RF 신호가 온 됨에 따라 RFID 리더의 내부에서 소비되는 전류값의 변화를 나타낸 그래프.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 비접촉식 카드의 탐지 방법을 설명하기 위한 순서도.

Claims (7)

  1. 비접촉식 카드가 카드 리더의 커버리지 내에 존재하지 않을 때 상기 카드 리더에서 소비되는 전류 값을 기준 전류 값으로 설정하는 단계;
    상기 카드 리더의 품질 계수 선택도의 변화에 기초하여 전류 값을 측정하는 단계; 및
    상기 측정된 전류 값과 상기 설정된 기준 전류 값을 비교하고, 비교 결과에 따라 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는지의 여부를 판단하는 단계를 포함하는 비접촉식 카드 탐지 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 비교 결과에 따라 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는지의 여부를 판단하는 단계는,
    상기 측정된 전류 값과 상기 설정된 기준 전류 값이 서로 다를 때 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는 것으로 판단하는 비접촉식 카드 탐지 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 비교 결과에 따라 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는지의 여부를 판단하는 단계는,
    상기 측정된 전류 값과 상기 설정된 기준 전류 값의 차이가 이미 설정된 임계 값을 초과할 때 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하 는 것으로 판단하는 비접촉식 카드 탐지 방법.
  4. 카드 리더와 비접촉식 카드의 상호 인덕턴스의 변화에 따른 상기 카드 리더의 품질 계수 선택도의 변화에 기초하여 상기 카드 리더에서 소비되는 소비 전류 값을 측정하기 위한 전류 측정부; 및
    상기 전류 측정부에서 측정된 소비 전류 값에 기초하여 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는지의 여부를 판단하기 위한 MCU(microcontroller unit)를 포함하는 RFID 리더.
  5. 제4항에 있어서, 상기 MCU(microcontroller unit)는,
    상기 카드 리더의 커버리지 내에 상기 비접촉식 카드가 존재하지 않을 때에 상기 전류 측정부에 의하여 측정된 소비 전류 값을 기준 전류 값으로서 설정하고,
    상기 전류 측정부에서 측정된 소비 전류 값과 상기 기준 전류 값을 비교하고 두 값들이 다른 경우 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는 것으로 판단하는 RFID 리더.
  6. 제4항에 있어서, 상기 MCU(microcontroller unit)는,
    상기 카드 리더의 커버리지 내에 상기 비접촉식 카드가 존재하지 않을 때에 상기 전류 측정부에 의하여 측정된 소비 전류 값을 기준 전류 값으로서 설정하고,
    상기 전류 측정부에서 측정된 소비 전류 값과 상기 기준 전류 값을 비교하고, 두 값들의 차이가 이미 설정된 임계 값을 초과하는 경우 상기 비접촉식 카드가 상기 카드 리더의 커버리지 내에 존재하는 것으로 판단하는 RFID 리더.
  7. 제4항에 있어서, 상기 RFID 리더는,
    상기 전류 측정부에 의하여 측정된 소비 전류 값을 디지털 값으로 변환하여 상기 MCU(microcontroller unit)로 전송하기 위한 아날로그-디지털 변환부를 더 포함하는 RFID 리더.
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