KR101077298B1 - 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법 - Google Patents

터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101077298B1
KR101077298B1 KR1020100059661A KR20100059661A KR101077298B1 KR 101077298 B1 KR101077298 B1 KR 101077298B1 KR 1020100059661 A KR1020100059661 A KR 1020100059661A KR 20100059661 A KR20100059661 A KR 20100059661A KR 101077298 B1 KR101077298 B1 KR 101077298B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electrode
resistance
touch screen
switch
power supply
Prior art date
Application number
KR1020100059661A
Other languages
English (en)
Inventor
이희범
채경수
홍윤기
오용수
이종영
유동식
Original Assignee
삼성전기주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전기주식회사 filed Critical 삼성전기주식회사
Priority to KR1020100059661A priority Critical patent/KR101077298B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101077298B1 publication Critical patent/KR101077298B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/08—Measuring resistance by measuring both voltage and current
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/687—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)

Abstract

본 발명은 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
상기와 같은 본 발명에 따르면, 터치스크린의 투명 기판의 전극에 순차적으로 접속하여 전원을 공급하는 전원 공급부; 상기 전원 공급부에서 전극에 전원이 공급되면 상기 전극에 접속하여 저항을 측정하는 저항 측정부; 및 상기 저항 측정부에서 측정한 전극의 저항값을 저장하는 저항값 저장부를 포함하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치와 그 방법이 제공된다.

Description

터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법{INSPECTION APPARATUS FOR ELECTRODE RESISTANCE OF TOUCH SCREEN AND METHOD THEREOF}
본 발명은 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
현재의 휴대용 단말장치, 예컨대 PDA, PMP, MP3 플레이어, 휴대폰 등은 그 휴대 및 이동이 용이하도록 크기가 점점 소형화되고 있다. 상기 휴대용 단말장치의 소형화가 진행되면서 종래의 키 버튼 입력 방식을 대신하여 사용자가 보다 편리하게 정보 입력 또는 선택을 할 수 있도록 터치 스크린 방식이 채용되고 있다.
상기 터치 스크린 방식은 스크린을 통해 컴퓨터와 인터페이스 하여 직접 정보를 입력 또는 선택할 수 있는 방식으로서, 상기 스크린의 특정 위치에 사람의 손 또는 물체의 접촉이 있으면 그 접촉된 위치의 좌표를 파악한다.
그리고 상기 좌표값을 통해 해당 좌표값에 대응하는 기능이 소프트웨어에 의해 실행된다. 따라서, 상기 터치 스크린은 정보 표시부로서의 기능과 입력부로서의 기능을 함께 제공한다.
이와 같은 터치 스크린은 다양한 방식으로 분류할 수 있는데, 그 동작 원리에 따라 크게 정전 용량 방식, 저항막 방식, 표면 초음파 방식, 적외선 방식 등으로 나누어진다.
이러한 다양한 방식의 터치 스크린은 신호 증폭의 문제, 해상도의 차이, 설계 및 가공 기술의 난이도, 광학적 특성, 전기적 특성, 기계적 특성, 내 환경 특성, 입력 특성, 내구성 및 경제성을 고려하여 전자제품에 채용되는데, 현재 가장 광범위한 분야에서 사용하는 방식은 저항막 방식과 정전 용량 방식이다.
이중, 정전 용량 방식은 높은 투과율과 뛰어난 내구성을 갖추고 있어 최근 가장 각광받고 있는 방식이다.
이와 같은 종래 정전 용량 방식은 센서 전극과 손가락 사이에 발생되는 정전 용량 변화에 의해 흐르는 미세한 전류를 감지하여 위치를 판별하는 방식으로 크게 투명 전도층인 ITO 패널을 한 장 사용하는 싱글 레이어(single layer) 방식과 ITO 패널을 두 장 사용하는 듀얼 레이어(dual layer) 방식이 있다.
한편, 상기 정전 용량 방식에서 있어서 정확한 손가락의 접촉 위치를 판별하기 위해서는 정확한 정전 용량의 측정이 요구된다. 그리고, 이를 위하여 각 구성 요소에 대한 정확한 특성 파악이 필요하다.
특히, 상부 기판 또는 하부 기판에 형성된 전극들은 패턴이 조밀하여 원하는 균일도의 저항 특성을 얻기가 어려우며 전극간에 저항 편차가 발생할 우려가 높다.
따라서, 제품의 제작 단계에서 전극간에 균일한 저항 특성을 얻기 위해 주의를 기울일 필요가 있을 뿐만 아니라 제품이 완성된 이후에도 전극에 대한 면 저항을 용이하게 측정하여 이후 단계에서 그에 따른 저항 보정을 수행할 수 있다면 정확한 정전용량 측정과 그에 따른 정확한 접촉 위치를 판별할 수 있을 것이다.
본 발명은 상기와 같은 필요에 따라 안출된 것으로, 터치 스크린의 전극의 저항을 용이하게 측정할 수 있도록 한 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 터치스크린의 투명 기판의 전극에 순차적으로 접속하여 전원을 공급하는 전원 공급부; 상기 전원 공급부에서 전극에 전원이 공급되면 상기 전극에 접속하여 저항을 측정하는 저항 측정부; 및 상기 저항 측정부에서 측정한 전극의 저항값을 저장하는 저항값 저장부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 터치 스크린의 전극과 전원 공급부의 사이에 위치하여 스위칭 동작에 의해 전극들과 전원 공급부의 전기적 접속을 제공하는 스위치; 및 상기 스위치를 제어하여 스위칭 동작에 의해 전원 공급부에서 공급되는 전원이 전극들에 순차적으로 인가되도록 하는 스위치 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 상기 스위치는 CMOS 스위치, 진공 스위치, 무접점 스위치 및 수은 스위치 중 어느 하나인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 상기 터치 스크린은 상기 전극의 일측의 주변 영역에 형성된 더미 패드; 및 상기 전극과 상기 더미 패드를 연결하는 더미 배선을 더 구비하며, 상기 저항 측정부는 상기 더미 패드에 접속하여 상기 전극의 저항을 측정하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 상기 더미 패드는 구리, 알루미늄, 은, 금, CNT 및 도전성 접착 테이프 중 어느 하나로 형성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 (A) 터치 스크린의 복수의 전극들 중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하는 단계; (B) 복수의 전극들중의 어느 하나가 전원 공급부에 연결되면 저항 측정부는 해당 전극에 대한 저항을 측정하는 단계; 및 (C) 저항값 저장부가 측정된 전극에 대한 저항값을 저장하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 상기 (A) 단계는 스위치 제어부가 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 스위치를 제어하여 터치 스크린의 투명 기판의 일측에서부터 순차적으로 반대측으로 진행하면서 상기 복수의 전극들중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 상기 (C) 단계 이후에, (D) 스위치 컨트롤 시퀀스에서 마지막 전극에 해당하는지를 판단하는 단계; 및 (E) 판단 결과, 마지막 전극에 해당하지 않으면 상기 (A) 단계부터 반복수행하고 마지막 전극에 해당하면 저항 측정을 종료하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이에 앞서 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이고 사전적인 의미로 해석되어서는 아니되며, 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
상기와 같은 본 발명에 따르면, 터치 스크린의 전극의 저항을 용이하게 측정할 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면, 제작 공정에서 전극 패드와 동시에 저항 측정용 더미 패드를 형성하기 때문에 추가적인 공정 없이 용이하게 전극의 저항을 측정할 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면, 측정된 저항에 따라 후속 단계에서 저항 보정을 수행할 수 있어 균일한 전극 저항 특성을 얻을 수가 있다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치의 구성도이다.
도 2 는 도 1을 구성하는 상부 기판의 평면도이다.
도 3은 도 1을 구성하는 하부 기판의 평면도이다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법을 나타내는 흐름도이다.
본 발명의 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 연관되어지는 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예들로부터 더욱 명백해질 것이다. 본 명세서에서 각 도면의 구성요소들에 참조번호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 번호를 가지도록 하고 있음에 유의하여야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치의 구성도이고, 도 2 는 도 1을 구성하는 상부 기판의 평면도이고, 도 3은 도 1을 구성하는 하부 기판의 평면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린(10)의 전극 저항 검사 장치는 전원 공급부(100), 스위치(200), 스위치 제어부(300), 저항 측정부(400), 저항값 저장부(500)를 포함하고 있다.
여기에서, 본 발명에 따른 전극 저항 검사 장치의 저항 검사 대상이 되는 터치 스크린(10)은 접착층(30)를 사이에 두고 상부 기판(20)과 하부 기판(40)이 마주보는 형태로 구성된다.
상기 상부 기판(20)은 센싱 영역(SR) 및 주변 영역(DR)로 구별된다. 상기 상부 기판(20)은 상부 투명 기판(21), 상부 전극(22), 상부 전극 배선(23), 상부 전극 패드(24), 상부 더미 배선(25), 상부 더미 패드(26)로 구성된다.
상기 상부 투명 기판(21)은 투명하며, 절연체로서, 필름기판 또는 유리기판이다. 상기 상부 전극(22)들은 상기 상부 투명 기판(21)에 배치된다. 상기 상부 전극들(22)은 다수 개가 서로 이격되며, Y방향으로 연장된다. 상기 상부 전극들(22)은 투명하며, 도전체이다.
상기 상부 전극들(22)로 사용되는 물질의 예로서는 인듐 틴 옥사이드(induim tinoxide;ITO) 또는 인듐 징크 옥사이드(induim zinc oxide;IZO) 등을 들 수 있다.
상기 상부 전극(22)은 다수 개의 상부 센싱 전극들(22-1) 및 상부 연결부들(22-2)을 포함한다. 상기 상부 센싱 전극들(22-1)은 상기 Y방향으로 일렬로 배치된다. 상기 상부 센싱 전극들(22-1)은 마름모 형상의 평면 형상을 가진다.
여기에서, 상부 센싱 전극들(22-1)은 마름모 형상의 평면 형상을 가지고 있으나, 이에 한정되는 것이 아니며 삼각형, 사각형 등의 다각형 또는 원, 타원등의 다양한 형태로 구성될 수 있다.
상기 상부 연결부들(22-2)은 상기 상부 센싱 전극들(22-1) 사이에 배치된다. 상기 상부 연결부들(22-2)은 상기 상부 센싱 전극들(22-1)을 연결한다. 상기 상부 연결부들(22-2) 및 상기 상부 센싱 전극들(22-1)은 일체로 형성된다.
상기 상부 투명 기판(21)에 투명 도전층이 증착되고, 상기 투명 도전층이 패터닝되어, 상기 상부 전극들(22)이 형성될 수 있다. 즉, 상기 상부 전극(22)들은 상기 상부 투명 기판(21)에 접촉한다.
다음으로, 상기 상부 전극 배선들(23)은 상기 상부 전극들(22)의 일측에 각각 접속되어 있으며, 상기 주변영역에 형성된다. 상기 상부 전극 배선들(23)은 각각 상기 상부 전극들(22) 및 상기 상부 전극 패드들(24)을 연결한다.
상기 상부 전극 패드들(24)의 일측 단자는 상기 상부 전극 배선들(23)을 통하여, 각각 상기 상부 전극들(22)에 연결되어 있고, 다른측 단자는 상기 스위치(200)에 연결되어 있으며, 상기 주변 영역에 형성되어 있다.
상기 상부 전극 배선들(23) 및 상기 상부 전극 패드들(24)은 일체로 형성되며, 저항이 낮은 물질로 형성된다. 상기 상부 전극 배선들(23) 및 상기 상부 전극 패드들(24)은 상기 상부 전극들(22)에 비하여 매우 낮은 저항을 가진다.
상기 상부 전극 배선들(23) 및 상기 상부 전극 패드들(24)로 사용되는 물질의 예로서는 구리, 알루미늄, 은, 금, CNT 및 도전성 접착 테이프 등을 들 수 있다.
그리고, 상기 상부 더미 배선들(25)은 상기 상부 전극들(22)의 상기 상부 전극 배선들(23)이 접속된 다른측에 각각 접속되어 있으며, 상기 주변영역에 형성된다. 상기 상부 더미 배선들(25)은 각각 상기 상부 전극들(22) 및 상기 상부 더미 패드들(26)을 연결한다.
상기 상부 더미 패드들(26)의 일측 단자는 상기 상부 더미 배선들(25)을 통하여, 각각 상기 상부 전극들(22)에 연결되고, 다른측 단자는 저항 측정부(400)에 연결되어 있으며, 상기 주변 영역에 형성되어 있다.
상기 상부 더미 배선들(25) 및 상기 상부 더미 패드들(26)은 일체로 형성되며, 저항이 낮은 물질로 형성된다. 상기 상부 더미 배선들(25) 및 상기 상부 더미 패드들(26)은 상기 상부 전극들(22)에 비하여 매우 낮은 저항을 가진다.
상기 상부 더미 배선들(25) 및 상기 상부 더미 패드들(26)로 사용되는 물질의 예로서는 구리, 알루미늄, 은, 금, CNT 및 도전성 접착 테이프 등을 들 수 있다.
한편, 상기 하부 기판(40)은 상기 상부 기판(20)에 대향하여 배치되며, 상기 하부 기판(40)은 상기 상부 기판(20)과 이격된다. 마찬가지로, 상기 하부 기판(40)도 상기 센싱 영역(SR) 및 상기 주변 영역(DR)으로 구분된다.
상기 하부기판(40)은 하부 투명 기판(41), 다수 개의 하부 전극들(42), 하부 전극 배선들(43), 하부 전극 패드들(44), 하부 더미 배선들(45) 및 하부 더미 패드들(46)을 포함한다. 이러한 하부 기판의 구성요소의 재질과 형상 그리고 특성들은 대응되는 상기 상부 기판(20)의 구성요소와 유사하기 때문에 자세한 설명은 생략한다.
이와 같이 구성되는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치를 구성하는 전원 공급부(100)는 터치 스크린에 전극 저항 검사를 수행할 때 전원을 상부 전극 또는 하부 전극에 인가하기 위한 것으로 하나의 단자가 터치 스크린의 상부 기판 또는 하부 기판에 일정 간격으로 형성된 전극 패드들(24, 44)에 스위치(200)를 통하여 연결되어 있으며, 다른 단자는 저항 측정부(400)에 연결되어 있다.
본 발명에 있어서 상기 전원 공급부(100)가 스위치(200)를 통하여 접속된 전극 패드들(24, 44)에 공급하는 전원은 직류 전원이 바람직하다.
다음으로, 스위치(200)는 터치 스크린의 상부 기판 또는 하부 기판에 일정 간격으로 형성된 전극 패드들(24, 44)과 전원 공급부(100)의 사이에 위치하여 스위칭 동작에 의해 전극 패드들(24, 44)과 전원 공급부(100)의 전기적 접속을 제공한다.
상기 스위치(200)는 트랜지스터를 사용한 CMOS 스위치, 진공 스위치, 무접점 스위치, 수은 스위치 등 도선의 개폐가 가능하고 터치 스크린 장치에 도입할 수 있는 다양한 스위치를 포함한다.
그리고, 스위치 제어부(300)는 스위치(200)를 제어하여 스위칭 동작을 수행하도록 하여 전원 공급부(100)와 전극 패드들(24, 44)의 전기적인 접속을 제공하여 전원 공급부(100)에서 공급되는 전원이 전극 패드들(24,44)에 인가되도록 한다.
상기 스위치 제어부(300)는 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 상기 복수의 전극 패드들(24, 44)을 다양한 조합으로 상기 전원 공급부(100)에 연결되도록 상기 스위치(200)를 제어한다.
상기 스위치 컨트롤 시퀀스는 스위치 제어부(300) 내에 정해진 방식으로 설정될 수 있고, 검사 장치내에 설치된 소프트웨어에 의해 랜덤한 방식으로 설정되도록 할 수도 있다. 상기 스위치 컨트롤 시퀀스는 검사 장치의 사용자에 의해 변경될 수도 있다.
다음으로, 저항 측정부(400)는 터치 스크린의 상부 기판 또는 하부 기판의 더미 패드(26, 46)에 하나의 단자가 연결되어 있고, 다른 단자는 전원 공급부(100)에 접속되어 있어 전원 공급부(100)에서 전압을 전극 패드들(24, 44)에 인가하는 경우에 형성된 전기 루프를 이용하여 상부 전극(22)과 하부 전극(42)의 저항을 측정한다.
그리고, 저항값 저장부(500)는 저항 측정부(400)에서 측정한 저항값을 각 전극별로 테이블로 하여 저장한다.
한편, 이와 같이 구성된 터치 스크린 전극 저항 검사 장치는 상부 기판의 상부 전극과 하부 기판의 하부 전극들에 대하여 순차적으로 저항 검사를 수행할 수 있다. 이를 아래 도 4를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 4는 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법은, 먼저 스위치 제어부가 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 스위치를 제어하여(S100) 상기 복수의 전극(전극 패드)들 중 어느 하나를 전원 공급부에 연결한다(S110).
이때, 스위치 컨트롤 시퀀스는 상부 기판의 일측에서부터 순차적으로 X축 방향으로 진행하면서 복수의 전극(전극 패드)들 중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하도록 형성할 수 있다.
그리고, 이후에 스위치 컨트롤 시퀀스는 하부 기판의 일측에서부터 순차적으로 Y축 방향으로 진행하면서 복수의 전극(전극 패드)들 중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하도록 형성할 수 있다.
다음으로, 스위치 제어부의 스위치 제어에 의해 상부 기판 또는 하부 기판의 복수의 전극(전극 패드)들중의 어느 하나가 전원 공급부에 연결되면 저항 측정부는 해당 상부 전극 또는 하부 전극에 대한 저항을 측정한다(S120).
그리고, 저항 측정부는 측정된 상부 전극 또는 하부 전극에 대한 저항값을 저항값 저장부에 저장한다(S130). 이때, 저항값 저장부는 이후에 사용자등이 저항값 참조를 용이하게 하도록 테이블 형태로 저장할 수 있다.
이후에, 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 상부 기판 또는 하부 기판의 전극에 대한 저항 측정을 계속해서 수행하며 저항 측정을 종료하기 위하여 스위치 컨트롤 시퀀스의 마지막 전극 패드에 도달했는지를 판단한다(S140).
판단 결과, 스위치 컨트롤 시퀀스의 마지막 전극 패드에 도달하지 않았으면 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 전극들 중 다음 전극을 전원 공급부에 연결하는 과정부터 반복하고, 마지막 전극 패드에 도달하였으면 저항 측정을 종료한다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
10 : 터치 스크린 20 : 상부 기판
21 : 상부 투명 기판 22 : 상부 전극
23 : 상부 전극 배선 24 : 상부 전극 패드
25 : 상부 더미 배선 26 : 상부 더미 패드
30 : 접착층 40 : 하부 기판
41 : 하부 투명 기판 42 : 하부 전극
43 : 하부 전극 배선 44 : 하부 전극 패드
45 : 하부 더미 배선 46 : 하부 더미 패드
100 : 전원 공급부 200 : 스위치
300 : 스위치 제어부 400 : 저항 측정부
500 : 저항값 저장부

Claims (8)

  1. 터치스크린의 투명 기판의 전극에 전원을 공급하는 전원공급부;
    상기 전원 공급부에서 전극에 전원이 공급되면 상기 전극에 접속하여 저항을 측정하는 저항 측정부; 및
    상기 저항 측정부에서 측정한 전극의 저항값을 저장하는 저항값 저장부를 포함하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    터치 스크린의 전극과 전원 공급부의 사이에 위치하여 스위칭 동작에 의해 전극들과 전원 공급부의 전기적 접속을 제공하는 스위치; 및
    상기 스위치를 제어하여 스위칭 동작에 의해 전원 공급부에서 공급되는 전원이 전극들에 순차적으로 인가되도록 하는 스위치 제어부를 포함하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 스위치는 CMOS 스위치, 진공 스위치, 무접점 스위치 및 수은 스위치 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 터치 스크린은 상기 전극의 일측의 주변 영역에 형성된 더미 패드; 및
    상기 전극과 상기 더미 패드를 연결하는 더미 배선을 더 구비하며,
    상기 저항 측정부는 상기 더미 패드에 접속하여 상기 전극의 저항을 측정하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 더미 패드는 구리, 알루미늄, 은, 금, CNT 및 도전성 접착 테이프 중 어느 하나로 형성되는 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치.
  6. (A) 터치 스크린의 복수의 전극들 중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하는 단계;
    (B) 복수의 전극들중의 어느 하나가 전원 공급부에 연결되면 저항 측정부는 해당 전극에 대한 저항을 측정하는 단계; 및
    (C) 저항값 저장부가 측정된 전극에 대한 저항값을 저장하는 단계를 포함하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법.
  7. 청구항 6에 있어서,
    상기 (A) 단계는
    스위치 제어부가 스위치 컨트롤 시퀀스에 따라 스위치를 제어하여 터치 스크린의 투명 기판의 일측에서부터 순차적으로 반대측으로 진행하면서 상기 복수의 전극들중 어느 하나를 전원 공급부에 연결하는 것을 특징으로 하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법.
  8. 청구항 6에 있어서,
    상기 (C) 단계 이후에,
    (D) 스위치 컨트롤 시퀀스에서 마지막 전극에 해당하는지를 판단하는 단계; 및
    (E) 판단 결과, 마지막 전극에 해당하지 않으면 상기 (A) 단계부터 반복수행하고 마지막 전극에 해당하면 저항 측정을 종료하는 단계를 포함하는 터치 스크린의 전극 저항 검사 방법.
KR1020100059661A 2010-06-23 2010-06-23 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법 KR101077298B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100059661A KR101077298B1 (ko) 2010-06-23 2010-06-23 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100059661A KR101077298B1 (ko) 2010-06-23 2010-06-23 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101077298B1 true KR101077298B1 (ko) 2011-10-26

Family

ID=45033464

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100059661A KR101077298B1 (ko) 2010-06-23 2010-06-23 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101077298B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101279737B1 (ko) 2012-03-29 2013-06-27 주식회사 에프티랩 스위칭부재를 이용한 정전용량방식 터치스크린패널 검사장치 및 검사방법
CN108803951A (zh) * 2018-05-23 2018-11-13 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种触摸屏及移动终端

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101279737B1 (ko) 2012-03-29 2013-06-27 주식회사 에프티랩 스위칭부재를 이용한 정전용량방식 터치스크린패널 검사장치 및 검사방법
CN108803951A (zh) * 2018-05-23 2018-11-13 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种触摸屏及移动终端
CN108803951B (zh) * 2018-05-23 2020-06-09 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种触摸屏及移动终端

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI387908B (zh) 物體位置偵測裝置與方法及應用該物體位置偵測裝置之影像顯示系統
TWI397006B (zh) 觸控顯示裝置及判斷觸控方式之方法
US9128543B2 (en) Touch pad device and method for determining a position of an input object on the device using capacitive coupling
TWI483170B (zh) 觸控式面板及用於觸控式面板的觸控感應方法
US8803839B2 (en) Capacitive coupling of a capacitive touchscreen to a printed circuit and controller
US9772735B2 (en) Touch sensor and electronic device
TWI566150B (zh) 具多層電極結構之高精確度觸壓感應裝置
US11169643B2 (en) Touch panel and touch panel device
KR20130071518A (ko) 발진 주파수를 이용한 인체의 접촉 감지 패널
JP2013152581A (ja) 検出装置、検出方法、および表示装置
US8872791B2 (en) Touch sensing device and method thereof
KR20170078638A (ko) 기판 검사 장치, 및 기판 검사 방법
TWM570469U (zh) 電子裝置與可無線控制的電子組件
JP6999617B2 (ja) タッチパネル
US20140247236A1 (en) Method of acquiring data from a matrix touch sensor, in particular for a touch screen
KR101077298B1 (ko) 터치 스크린의 전극 저항 검사 장치 및 그 방법
TWM522414U (zh) 具多層電極結構之高精確度觸壓感應裝置
JPWO2017029860A1 (ja) 静電容量式入力装置
CN203444049U (zh) 触控面板检测装置
TWI450171B (zh) 觸控模組及其觸控模組之電子裝置
US20130016051A1 (en) Touch Panel Device Having a Divided ITO layer for Reducing Loading
JP2011076341A (ja) タッチパネル測定治具および測定方法
US20120113048A1 (en) Touch screen panel in resistive type
KR101380801B1 (ko) 자기정전용량 방식의 단일층 정전 터치 패널 장치의 터치 위치 인식 방법
TWM480115U (zh) 投射式電容觸控面板結構

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141001

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee