KR101004625B1 - 자동식 반도체 웨이퍼 검사장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (2)
- 웨이퍼를 고정 안착하는 고정대(5)를 전후, 좌우, 상하 이동 조절하면서 웨이퍼상의 각 칩을 검사하는 것에 었어서.상기 고정대(5)가 스테핑모터에 의해 승하강 제어되는 축부(25)가 설치된 이동대(20)를 일정 크기의 베이스(10) 상부에서 이동작동하도록 설치하되, 상기 베이스(10)와 이동대(20)는 제어부가 기 입력된 프로그램 데이터에 따라 내부에 설치된 전자석의 자력을 제어하는 것에 의해 전후, 좌우로 슬라이드 이동제어하도록 구성되고,상기 고정대(5)의 상부에는 중앙에 개구공(31)을 형성하고, 일측에 탐침부(36)를 갖는 프로브(35), 타측에 현미경(40)이 구비된 검사대(30)와, 상기 검사대상에 웨이퍼상의 각칩을 모니터(46)를 통해 확인할 수 있도록 촬영할 수 있는 CCD 카메라(45)를 설치 구성하여 이루어진 것을 특징으로 하는 자동식 반도체 웨이퍼 검사장치.
- 제1항에 있어서,상기 베이스(10)와 이동대(20)의 제어 작동은 이동대(20)내부와 베이스(10) 내부의 전자석은 다수로 분할되어 각각에 자력을 선택적으로 인가할 수 있도록 함에 따라 N,S 자력에 의해 이동대(20)를 이동하고자 하는 방향으로 밀어 내거나 잡아 당길 수 있도록 N,S극을 동일 또는 대응되는 상태로 반복, 교체 형성하면서 제어하도록 구성되어 이루어진 것을 특징으로 하는 자동식 반도체 웨이퍼 검사장치.
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- 2006-02-23 KR KR1020060017788A patent/KR101004625B1/ko active IP Right Grant
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