KR100945951B1 - 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛 - Google Patents

비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛 Download PDF

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Abstract

본 발명은 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛에 관한 것으로, 본 발명에 의한 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛은, 액정패널에 형성된 복수의 패드에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛에 있어서, 외부 제어에 의해 그로스 신호를 출력하는 그로스 PCB(Flexible Printed Circuit); 상기 그로스 PCB가 연결되며 외부 제어에 의해 비주얼 신호를 출력하는 비주얼 PCB; 상기 비주얼 PCB의 일단에 연결되어 상기 비주얼 PCB의 비주얼 신호를 인가하는 연결부; 상기 비주얼 PCB의 타단에 연결되어 상기 비주얼 PCB의 채널을 인가하는 구동 IC(Integrated Circuit); 상기 연결부 및 구동 IC에 일률적으로 연결되어 비주얼 회로 또는 IC 구동 회로의 각 채널 인가를 전기적으로 스위칭시키는 스위칭부; 및 상기 스위칭부에 연결된 탐침이 다수 배치되는 프로브 블록;을 포함한다.
본 발명에 따르면, 검사 포인트는 동일한 상태에서 비주얼 검사와 그로스 테스트를 하나의 프로브 유닛에서 전기적인 ON/OFF 제어에 따라 선택적으로 수행하여 유닛 구매 비용 절감, 검사 시간 단축 및 차지 공간이 감소하면서 검사시 탐침을 분리하지 않으므로 OLB패드의 손상률이 감소하는 효과가 있다.
액정패널, 프로브 유닛, 비주얼 검사, 그로스 테스트, 겸용

Description

비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛{PROBE UNIT FOR BOTH VISUAL INSPECTION AND GROSS TEST}
본 발명은 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 평판 디스플레이 패널의 검사시 하나의 프로브 유닛에서 비주얼 검사와 그로스 테스트를 겸용으로 수행 가능한 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛에 관한 것이다.
일반적으로, LCD를 비롯한 디스플레이 패널의 제조공정에서 액정패널의 불량 여부를 검사하기 위해 다양한 검사공정이 이루어지고 있고, 각 검사공정을 위한 다양한 장비들이 개발되어 있다.
대표적으로 비주얼 검사(Visual Inspection: V/I)와 그로스 테스트가 있는데, 상기 비주얼 검사는 다수개의 게이트 라인 및/또는 데이터 라인이 연결된 쇼팅바(shorting bar)에 소정의 전압을 인가하여 액정패널에 흑백 상태의 화상을 표시하여 게이트 라인 및/또는 데이터 라인의 불량 여부를 검사하는 공정이다.
여기서, 흑백 상태의 화상은 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 구현될 수 있다. 이와 같이 구현된 흑백 화상은 CCD카메라를 통해 도트(dot), 라인(line), 유니 폼(uniform) 등의 불량 여부를 확인하는 데 이용된다.
그로스 테스트(Gross Test: G/T)는 게이트 및 데이터 구동 IC를 실장하기 전에 백라이트 유닛 및 구동 IC들이 조립된 모듈(module)과 동일한 환경에서 액정패널의 동작 특성 및 도트(dot)/화소(pixel)의 불량 여부를 판단하는 공정으로, 쇼팅바를 제거한 후 모든 개별 화소에 대해 독립적인 신호를 인가하여 완제품과 동일하게 풀 컬러(full color)를 디스플레이되게 한다.
이때, 도 1은 일반적인 액정패널(1)의 구조를 나타낸 것으로서, TFT기판(12)과, 칼라필터기판(14)이 구비되며, 비주얼 검사를 위하여 프로브 유닛의 탐침핀에 접촉되는 검사신호 입력패드(18)와, 그로스 테스트시 접촉되는 OLB패드(18)가 구비되어 있다. 미설명부호 16은 액티브 영역을 나타낸 것이다.
그러나 종래의 프로브 유닛은 비주얼 검사와 그로스 테스트를 독립적인 장비마다 해당 프로브 유닛을 각각 설치한 후 개별적으로 수행하여야 하므로 장비 구매 비용 증가, 검사 시간 증가 및 설치 공간이 확장되어야 하고 탐침의 접촉에 의해 OLB패드의 손상률이 증가하는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 그 목적은 검사 포인트는 동일한 상태에서 비주얼 검사와 그로스 테스트를 하나의 프로브 유닛에서 전기적인 ON/OFF 제어에 따라 선택적으로 수행하여 유닛 구매 비용 절감, 검사 시간 단축 및 차지 공간이 감소하면서 검사시 탐침을 분리하지 않으므로 OLB 패드의 손상률이 감소할 수 있게 한 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛을 제공함에 있다.
상술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 액정패널에 형성된 복수의 패드에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛에 있어서, 외부 제어에 의해 그로스 신호를 출력하는 그로스 PCB(Flexible Printed Circuit); 상기 그로스 PCB가 연결되며 외부 제어에 의해 비주얼 신호를 출력하는 비주얼 PCB; 상기 비주얼 PCB의 일단에 연결되어 상기 비주얼 PCB의 비주얼 신호를 인가하는 연결부; 상기 비주얼 PCB의 타단에 연결되어 상기 비주얼 PCB의 채널을 인가하는 구동 IC(Integrated Circuit); 상기 연결부 및 구동 IC에 일률적으로 연결되어 비주얼 회로 또는 IC 구동 회로의 각 채널 인가를 전기적으로 스위칭시키는 스위칭부; 및 상기 스위칭부에 연결된 탐침이 다수 배치되는 프로브 블록;을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서의 상기 연결부는 일단이 상기 비주얼 PCB에 연결되고 타단은 상기 프로브 블록에 연결된 제1 패턴 필름에 의해 연결되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서의 상기 구동 IC는 상기 비주얼 PCB에 연결된 제1 연결부에 의해 일단이 연결되고 타단은 상기 스위칭부에 연결된 제2 패턴 필름에 의해 연결되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서의 상기 스위칭부는 상기 연결부 그리고 일단이 상기 제2 패턴 필름에 연결되고 타단은 상기 프로브 블록에 연결되는 제1 패턴 필름과 연결 되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서의 상기 연결부 및 제1 연결부는 FPC 인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서의 상기 비주얼 PCB에는 전원공급부가 회로로 연결되어 상기 비주얼 PCB 및 그로스 PCB에 전원을 공통으로 인가하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서의 상기 전원공급부는 릴레이 회로에 의해 상기 비주얼 PCB 또는 상기 그로스 PCB에 전원 ON/OFF가 제어되는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서의 상기 연결부와 상기 구동 IC는 상하 중첩되게 배치되는 것을 특징으로 한다.
이와 같은 본 발명의 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛은, 검사 포인트는 동일한 상태에서 비주얼 검사와 그로스 테스트를 하나의 프로브 유닛에서 전기적인 ON/OFF 제어에 따라 선택적으로 수행하여 유닛 구매 비용 절감, 검사 시간 단축 및 차지 공간이 감소하면서 검사시 탐침을 분리하지 않으므로 OLB패드의 손상률이 감소하는 효과가 있다.
이하, 본 발명의 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛을 첨부도면을 참조하여 일 실시 예를 들어 설명하면 다음과 같다.
본 발명의 바람직한 일 실시 예에 따른 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛은 도 2 내지 도 4에 도시된 바와 같이 그로스 PCB(110), 비주얼 PCB(120), 연결부(130), 구동 IC(140), 스위칭부(150), 제1 패턴 필름(152) 및 프로브 블록(160)을 포함한다.
상기 그로스 PCB(110)는 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board)으로 평판 디스플레이 패널 검사장치의 외부 제어에 의해 그로스 신호(Gross Signal)를 프로브 블록(160)에 선택적으로 출력한다.
이때, 상기 그로스 PCB(110)의 회로 연결은 그로스 PCB(110)를 거쳐 제1 연결부(132), 구동 IC(140), 제2 패턴 필름(142), 스위칭부(150) 및 제1 패턴 필름(152)을 통해 최종인 프로브 블록(160)까지이다.
상기 비주얼 PCB(120)는 그로스 PCB(110)가 상부에 FPC 기판으로 연결되어 신호 전체를 비주얼 PCB(120)로 인가하는 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board)으로 평판 디스플레이 패널 검사장치의 외부 제어에 의해 비주얼 신호(Visual Signal)를 프로브 블록(160)에 선택적으로 출력한다.
이때, 상기 비주얼 PCB(120)의 회로 연결은 비주얼 PCB(120)를 거쳐 연결부(130), 스위칭부(150) 및 제1 패턴 필름(152)을 통해 최종인 프로브 블록(160)까지이다.
상기 비주얼 PCB(120)에는 비주얼 회로 또는 IC 구동 회로의 각 채널과 분리된 상태에서 전원공급부(122)가 비주얼 회로 또는 IC 구동 회로의 각 채널과 분리된 회로 상으로 연결되어 비주얼 PCB(120) 및 그로스 PCB(110)에 전원을 공통으로 인가하며, 전원공급부(122)는 릴레이(Relay) 회로에 의해 비주얼 PCB(120) 또는 그 로스 PCB(110)에 전원 ON/OFF가 제어된다. ( 도 5 참조 )
상기 연결부(130)는 비주얼 PCB(120)의 일단에 일단이 연결되어 비주얼 PCB(120)의 비주얼 신호를 타단에 연결된 프로브 블록(160)에 인가하는 연성 회로(FPC: Flexible Printed Circuit) 기판이다.
즉, 상기 연결부(130)는 일단이 비주얼 PCB(120)의 일단에 연결되고 타단은 프로브 블록(160)에 연결된 제1 패턴 필름(152)의 끝단에 의해 연결된다.
상기 구동 IC(Driver Integrated Circuit: 140)는 비주얼 PCB(120)의 타단에 연결되어 비주얼 PCB(120)의 비주얼 채널을 인가하며, 결국 비주얼 PCB(120)의 일단에 연결된 제1 연결부(132)에 의해 일단이 연결되고 타단은 스위칭부(150)에 연결된 제2 패턴 필름(142)에 의해 연결된다.
여기서, 상기 제1, 2 패턴 필름(Pattern Film: 152, 142)은 신호를 인가하도록 구동 IC(140)와 스위칭부(150) 그리고 스위칭부(150)와 프로브 블록(160)을 상호 연결하며, 특히, 제2 패턴 필름(142)에는 전원공급부(122)와 채널을 모두 집약시켜 완전한 신호 구성 후 액정패널(P)로 인가한다. ( 도 8 참조 )
상기 스위칭부(150)는 도 6 및 도 7a, 7b에 도시된 바와 같이 연결부(130) 및 구동 IC(140)에 일률적으로 연결되어 비주얼 회로 또는 IC 구동 회로의 각 채널 인가를 전기적으로 ON/OFF시키며, 연결부(130)의 도중 그리고 일단이 제2 패턴 필름(142)에 일률적으로 연결되고 타단은 프로브 블록(160)에 연결되는 제1 패턴 필름(152)과 연결된다.
이때, 상기 스위칭부(150)는 아날로그 스위치(Analog switch)로, 연결 부(130)와 제2 패턴 필름(142)의 끝단에 일률적으로 연결되어 비주얼 PCB(120)의 비주얼 회로 또는 구동 IC(140)의 IC 구동 회로에 해당되는 각 채널을 인가하거나 차단하게 된다. 그리고 상기 스위칭부(150)는 평판 디스플레이 패널 검사장치에 구비되는 제어부(도면에 미도시)에 의해 작동이 전기적으로 제어된다.
상기 프로브 블록(Probe block: 160)은 도 2 내지 도 4에 도시된 바와 같이 제1 패턴 필름(152)의 끝단에 설치되어 액정패널(P)에 형성된 복수의 패드(18)에 각각 접촉한 후 검사하도록 적어도 하나의 탐침(162)이 일렬로 배치된다.
더욱이, 상기 연결부(130) 그리고 제1 연결부(132), 구동 IC(140), 제2 패턴 필름(142) 및 스위칭부(150)는 상하에 중첩되도록 배치되어 설치 면적은 축소하면서 공간 활용에 유용하다.
그러므로 본 발명에 의한 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛(100)은 도 2 내지 도 8에 도시된 바와 같이 로딩된 액정패널(P)의 비주얼 검사(V/I) 또는 그로스 테스트(G/T)를 하나의 프로브 유닛(100)에서 선택적으로 가능하다.
이때, 비주얼 검사(V/I)는 액정패널(P)의 입력패드(18)에 프로브 블록(160)의 탐침(162)을 각각 접촉시킨 후 평판 디스플레이 패널 검사장치에서 제어 신호를 스위칭부(150)로 출력하고 스위칭부(150)에서 비주얼 회로가 ON되어 연결부(130) 및 제1 패턴 필름(152)을 통해 비주얼 PCB(120)의 비주얼 채널이 프로브 유닛(160)으로 전달된다.
즉, 상기 평판 디스플레이 패널 검사장치에서 제어 신호를 출력하면 제어 신호에 의해 전원공급부(122)에 전원을 공급하여 스위칭부(150)에서 비주얼 회로가 ON되면 비주얼 PCB(120)에서 비주얼 채널을 동시에 입력하고 연결부(130) 및 제1 패턴 필름(152)을 거쳐 프로브 블록(160)의 탐침(162)으로 출력되므로 액정패널(P)의 비주얼 검사(V/I)를 수행하게 된다.
다음으로, 그로스 테스트(G/T)는 액정패널(P)의 입력패드(18)에 프로브 블록(160)의 탐침(162)을 각각 접촉시킨 후 평판 디스플레이 패널 검사장치에서 제어 신호를 스위칭부(150)로 출력하고 스위칭부(150)에서 구동 IC(140)의 IC 구동 회로가 ON되어 제2 패턴 필름(142) 및 제1 패턴 필름(152)을 통해 구동 IC(140)의 채널을 인가받아 프로브 유닛(160)으로 전달된다.
즉, 상기 평판 디스플레이 패널 검사장치에서 제어 신호를 출력하면 제어 신호에 의해 전원공급부(122)에 전원을 공급하여 스위칭부(150)에서 IC 구동 회로가 ON되면 그로스 PCB(110)에서 제1 연결부(132)를 통해 그로스 채널을 동시에 입력하고 구동 IC(140)의 채널이 제2 패턴 필름(142) 및 제1 패턴 필름(152)을 거쳐 프로브 블록(160)의 탐침(162)으로 출력되므로 액정패널(P)의 그로스 테스트(G/T)를 수행하게 된다.
이상에서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 본 발명의 보호범위는 상기 실시 예에 한정되는 것이 아니며, 해당 기술분야의 통상의 지식을 갖는 자라면 본 발명의 사상 및 기술영역 으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
도 1은 일반적인 액정패널을 개략적으로 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명에 의한 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛의 구성도이다.
도 3 및 도 4는 상기 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛을 도시한 사시도 및 저면 사시도이다.
도 5는 상기 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛에서 전원공급부를 도시한 확대 회로도이다.
도 6은 상기 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛에서 스위칭부를 도시한 사시도 및 회로도이다.
도 7a 및 도 7b는 상기 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛에서 스위칭부의 동작에 따라 그로스 테스트 및 비주얼 검사에 대한 활성화 상태를 도시한 도면이다.
도 8은 상기 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛에서 제1 패턴 필름을 도시한 확대 회로도이다.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
100: 프로브 유닛 110: 그로스 PCB
120: 비주얼 PCB 122: 전원공급부
130: 연결부 132: 제1 연결부
140: 구동 IC 142: 제2 패턴 필름
150: 스위칭부 152: 제1 패턴 필름
160: 프로브 블록 162: 탐침

Claims (8)

  1. 액정패널에 형성된 복수의 패드에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛에 있어서,
    외부 제어에 의해 그로스 신호를 출력하는 그로스 PCB(Flexible Printed Circuit);
    상기 그로스 PCB가 연결되며 외부 제어에 의해 비주얼 신호를 출력하는 비주얼 PCB;
    상기 비주얼 PCB의 일단에 연결되어 상기 비주얼 PCB의 비주얼 신호를 인가하는 연결부;
    상기 비주얼 PCB의 타단에 연결되어 상기 비주얼 PCB의 채널을 인가하는 구동 IC(Integrated Circuit);
    상기 연결부 및 구동 IC에 일률적으로 연결되어 비주얼 회로 또는 IC 구동 회로의 각 채널 인가를 전기적으로 스위칭시키는 아날로그 스위치인 스위칭부; 및
    상기 스위칭부에 연결된 탐침이 다수 배치되는 프로브 블록;을 포함하며,
    상기 비주얼 PCB에는 전원공급부가 회로로 연결되어 상기 비주얼 PCB 및 그로스 PCB에 전원을 공통으로 인가하는 것을 특징으로 하는 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 연결부는 일단이 상기 비주얼 PCB에 연결되고 타단은 상기 프로브 블록 에 연결된 제1 패턴 필름에 의해 연결되는 것을 특징으로 하는 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 구동 IC는 상기 비주얼 PCB에 연결된 제1 연결부에 의해 일단이 연결되고 타단은 상기 스위칭부에 연결된 제2 패턴 필름에 의해 연결되는 것을 특징으로 하는 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 스위칭부는 상기 연결부 그리고 일단이 상기 제2 패턴 필름에 연결되고 타단은 상기 프로브 블록에 연결되는 제1 패턴 필름과 연결되는 것을 특징으로 하는 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 연결부 및 제1 연결부는 FPC(flexible printed circuit) 인 것을 특징으로 하는 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛.
  6. 삭제
  7. 제 1항에 있어서,
    상기 전원공급부는 릴레이 회로에 의해 상기 비주얼 PCB 또는 상기 그로스 PCB에 전원 ON/OFF가 제어되는 것을 특징으로 하는 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛.
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 연결부와 상기 구동 IC는 상하 중첩되게 배치되는 것을 특징으로 하는 비주얼 검사 및 그로스 테스트 겸용 프로브 유닛.
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