KR100912043B1 - 비접촉식 형상 측정 장치 - Google Patents
비접촉식 형상 측정 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100912043B1 KR100912043B1 KR1020070098803A KR20070098803A KR100912043B1 KR 100912043 B1 KR100912043 B1 KR 100912043B1 KR 1020070098803 A KR1020070098803 A KR 1020070098803A KR 20070098803 A KR20070098803 A KR 20070098803A KR 100912043 B1 KR100912043 B1 KR 100912043B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- unit
- measurement object
- light emission
- measurement
- sensing
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9515—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
Claims (6)
- 측정 대상물을 향하여 소정 주파수를 갖는 광을 방출하고 측정 대상물에 의한 반사광을 이용하여 상기 측정 대상물의 형상을 측정하는 장치로서,상기 광을 방출하고 상기 측정 대상물로부터의 상기 반사광에 대응하여 전기 신호를 출력하는 적어도 두 개의 광 방출/감지 센서와, 상기 적어도 두 개의 상기 광 방출/감지 센서를 상기 측정 대상물의 측정 표면에 대하여 서로 다른 높이를 갖도록 탑재하는 지지체로 구성되는 광 방출/감지 유닛;회전 모터 및 상기 회전 모터로부터 연장되어 상기 지지체에 연결된 회전축을 포함하고, 상기 지지체를 회전시킴으로써 적어도 두 개의 상기 광 방출/감지 센서를 상기 측정 대상물의 측정 표면에 대해 평행하게 회전시키는 회전 유닛;상기 광 방출/감지 유닛을 상기 측정 대상물에 대해 상하 이동시키는 상하 이동 유닛;상기 회전 유닛과 상기 광 방출/감지 유닛 및 상기 상하 이동 유닛의 구동을 제어하며, 상기 회전 유닛에 의한 상기 적어도 두 개의 광 방출/감지 센서의 회전 각도와 상기 전기 신호 및 상기 상하 이동 유닛의 이동량에 기초하여 상기 측정 대상물의 형상을 측정하는 형상 측정 제어 유닛;을 포함하는 비접촉식 형상 측정 장치.
- 삭제
- 삭제
- 제1항에 있어서,상기 지지체에 탑재된 적어도 두 개의 상기 광 방출/감지 센서는 상기 회전 유닛의 회전축에 대해 동일 원주 상에 배치되는 것을 특징으로 하는 비접촉식 형상 측정 장치.
- 제4항에 있어서,상기 동일 원주 상에 배치된 상기 적어도 두 개의 광 방출/감지 센서는 동일한 초점거리를 갖는 것을 특징으로 하는 비접촉식 형상 측정 장치.
- 제1, 4, 5항 중 어느 한 항에 있어서,상기 측정 대상물을 상기 광 방출/감지 유닛에 대해 수평으로 이송하는 측정 대상물 이송 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 형상 측정 장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070098803A KR100912043B1 (ko) | 2007-10-01 | 2007-10-01 | 비접촉식 형상 측정 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070098803A KR100912043B1 (ko) | 2007-10-01 | 2007-10-01 | 비접촉식 형상 측정 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090033660A KR20090033660A (ko) | 2009-04-06 |
KR100912043B1 true KR100912043B1 (ko) | 2009-08-12 |
Family
ID=40759865
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070098803A KR100912043B1 (ko) | 2007-10-01 | 2007-10-01 | 비접촉식 형상 측정 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100912043B1 (ko) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100371933B1 (ko) * | 2000-02-01 | 2003-02-11 | 유영기 | 비접촉식 경면물체의 형상측정장치 |
KR100615576B1 (ko) * | 2003-02-06 | 2006-08-25 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원형상 측정장치 |
-
2007
- 2007-10-01 KR KR1020070098803A patent/KR100912043B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100371933B1 (ko) * | 2000-02-01 | 2003-02-11 | 유영기 | 비접촉식 경면물체의 형상측정장치 |
KR100615576B1 (ko) * | 2003-02-06 | 2006-08-25 | 주식회사 고영테크놀러지 | 3차원형상 측정장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20090033660A (ko) | 2009-04-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1750085A2 (en) | Laser tracking interferometer | |
US11061338B2 (en) | High-resolution position encoder with image sensor and encoded target pattern | |
CN102301200A (zh) | 非接触表面形状测量方法及其装置 | |
US20130016338A1 (en) | Scanner with phase and pitch adjustment | |
JP6071042B2 (ja) | 寸法測定装置 | |
JP2015169491A (ja) | 変位検出装置および変位検出方法 | |
JP2021043181A (ja) | レンズ屈折率測定装置およびその測定方法 | |
US20080137061A1 (en) | Displacement Measurement Sensor Using the Confocal Principle | |
TWI486555B (zh) | 焦點位置改變裝置及使用其之共焦光學裝置 | |
JP6288280B2 (ja) | 表面形状測定装置 | |
JP2009526256A (ja) | 結像システムにおける光学要素の位置検出のための方法及び装置 | |
JPH0514217B2 (ko) | ||
JP5517097B2 (ja) | 屈折率測定装置及び屈折率測定方法 | |
CN105046650A (zh) | 基于机器视觉的小模数齿轮检测过程中图像拼接的方法 | |
TWI502170B (zh) | 光學量測系統及以此系統量測線性位移、轉動角度、滾動角度之方法 | |
KR100912043B1 (ko) | 비접촉식 형상 측정 장치 | |
JP2008122349A (ja) | 測定装置 | |
CN103994722B (zh) | 基于自聚焦原理的光栅精密测量结构及测量方法 | |
CN104950583B (zh) | 用于光刻设备的调焦调平*** | |
CN110388875B (zh) | 能提高测量范围的微纳米三维接触式测量探头及控制方法 | |
CN104266583A (zh) | 多自由度测量*** | |
CN203811135U (zh) | 基于自聚焦原理的传感***光学结构 | |
CN104808447B (zh) | 一种垂向位置测量装置 | |
JP3795646B2 (ja) | 位置測定装置 | |
JP2007057424A (ja) | 測距センサの検査装置及び検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130522 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140515 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150903 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160722 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170905 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180528 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190826 Year of fee payment: 11 |