KR100910593B1 - Ｌｅｄ 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치 - Google Patents

Ｌｅｄ 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100910593B1
KR100910593B1 KR1020080126432A KR20080126432A KR100910593B1 KR 100910593 B1 KR100910593 B1 KR 100910593B1 KR 1020080126432 A KR1020080126432 A KR 1020080126432A KR 20080126432 A KR20080126432 A KR 20080126432A KR 100910593 B1 KR100910593 B1 KR 100910593B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
horizontal line
line
vertical line
luminance
led display
Prior art date
Application number
KR1020080126432A
Other languages
English (en)
Inventor
하영재
Original Assignee
(주)동방데이타테크놀러지
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주)동방데이타테크놀러지 filed Critical (주)동방데이타테크놀러지
Priority to KR1020080126432A priority Critical patent/KR100910593B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100910593B1 publication Critical patent/KR100910593B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02—Details
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/3406—Control of illumination source
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836—Fault-finding or characterising
    • G01R31/2837—Characterising or performance testing, e.g. of frequency response

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)

Abstract

본 발명은 LED 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 LED 전광판의 불량 화소 검출방법은 (a) 상기 LED 전광판을 구성하는 화소들을 수평 라인 단위로 점등하고, 상기 각 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값을 측정하는 단계와; (b) 상기 LED 전광판을 구성하는 화소들을 수직 라인 단위로 점등하고, 상기 각 수직 라인에 대한 수직 라인 휘도값을 측정하는 단계와; (c) 상기 측정된 수평 라인 휘도값들 및 상기 측정된 수직 라인 휘도값들이 기 설정된 기준 휘도 범위를 벗어나는지 여부를 판단하는 단계와; (d) 상기 기준 휘도 범위를 벗어나는 수평 라인 휘도값 및 수직 라인 휘도값에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 기준 휘도 범위를 벗어하는 수평 라인 및 수직 라인을 검출하고, 검출된 수평 라인과 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단함으로써, LED 전광판의 각 화소를 구성하는 LED 중 불량이 발생한 불량 화소를 화소 단위로 검출이 가능하게 된다.

Description

ＬＥＤ 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치{FAULTY PIXEL DETECTING METHOD AND FAULTY PIXEL DETECTING SYSTEM FOR LED ELECTRIC SIGN BOARD}
본 발명은 LED 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 LED 전광판의 전체 화면에서 화소 단위로 불량 화소를 검출할 수 있는 LED 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치에 관한 것이다.
LED(Light Emitting Diode)는 빛을 발하는 반도체 소자인 발광 다이오드를 의미하며, 적색, 녹색, 청색, 황색 등의 다양한 색상으로 각종 전자 제품류와 계기판 등의 전자 표시판 등에 널리 사용되고 있다.
이 중 LED 전광판은 다수의 LED를 매트릭스 형태로 배열하고, 매트릭스 형태로 배열된 다수의 LED가 이미지를 표시하기 위한 화소를 형성함으로써, 영상의 표시가 가능하게 된다. 이러한 LED 전광판은 광고나 각종 정보의 전달을 위해 건물 외부나 내부에 다양한 형태로 설치되어 사용되고 있다.
통상적으로 LED 전광판의 전체 화면은, 도 1에 도시된 바와 같이, N×M 개의 화소로 구성되는데, 하나의 화소는 적색 LED, 녹색 LED 및 청색 LED로 구성되어 발광 여부 및 각 LED의 발광 세기에 따라 풀 컬러를 구현하게 된다. 즉, 컴퓨터 등과 같은 영상 소스로부터 인가되는 영상 데이터에 따라 각 화소를 구성하는 LED를 선택적으로 점등시킴으로서, 다양한 문자, 그림 및 동영상 등의 정보를 표시하게 된다.
LED 전광판을 제조 공정 상의 문제나 사용 과정에서 발생하는 LED 자체의 불량이나, 각 LED에 전원을 공급하기 위해 연결되는 전선의 단선이나 단락 등에 불량 화소가 발생할 수 있다. 이와 같은 불량 화소는 LED 전광판의 화질을 떨어뜨리는 요인으로 작용하게 된다. 이러한 불량 화소를 LED 전광판의 제조 과정이나 사용 중에 교체하기 위해서는 LED 전광판의 전체 화면을 구성하는 전체 화소 중 불량 화소를 검출하는 과정이 선행되어야 한다.
한국등록특허 제0815587호는 불량 화소를 검출할 수 있는 발광 다이오드 도트 매트릭스 모듈의 고장 감지 장치를 개시하고 있으며, 상기 한국등록특허에 개시돤 고장 감지 장치는 데이터 및 제어 신호를 출력하는 메인 제어부와, 일반 모드 및 감지 모드를 구비하고 메인 제어부로부터 데이터 및 제어 신호를 받아서 일반 모드 또는 감지 모드로 표시 정보를 출력하도록 발광 다이오드 도트 매트릭스 모듈의 적어도 하나의 발광 다이오드에 오픈/쇼트 이상이 발생하면 각각의 오픈/쇼트 이상에 대응되는 감지 정보를 메인 제어부로 출력하는 감지부를 포함하여, 다양한 동작 모드에 대응하여 발광 다이오드들의 오픈/쇼트 및 정상 상태를 감지함으로써, 현재의 발광 다이오드 및 발광 다이오드 도트 매트릭스 모듈의 동작 상태를 확인할 수 있도록 하고 있다.
그러나, 상기 한국등록특허에 개시된 고장 감지 장치의 경우, LED 전광판에 고장을 감지하기 위해 별도의 회로 구성이 추가된다는 점에서 제조 비용을 증가시키는 단점이 있고, 고장 감지 장치 자체에 고장 등의 오류가 발생하는 경우에는 불량 화소의 검출 자체가 불가능해지는 단점이 있다.
또한, LED 전광판의 제조 공정에서는 n×m, 예컨대 16×16 단위로 LED 모듈을 제작한 후, 복수 개의 LED 모듈을 다시 매트릭스 형태로 배열하여 LED 전광판의 전체 화면을 구성하는데, 불량 화소를 검출하기 위해 LED 모듈 단위로 휘도를 측정하고, 측정된 휘도가 일정 범위를 벗어나는 경우에 이를 불량이 발생한 LED 모듈로 판단한 후, 해당 LED 모듈 내부에서 불량이 발생한 불량 화소를 찾아내는 방식을 사용하고 있다.
여기서, 불량 화소를 검출하는데 화소 단위로 휘도를 측정하는게 보다 정확함에도 불구하고 LED 모듈 단위로 휘도를 측정하는 것은 화소 단위로 휘도를 측정하는데 기술적으로 어렵다는 점과, 소요되는 비용 및 시간이 많다는 점을 고려한 것이다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, LED 전광판 내에 별도의 회로 구성을 추가하지 않으면서도, 불량 화소를 검출할 수 있는 LED 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적은 본 발명에 따라, LED 전광판의 불량 화소 검출방법에 있어서, (a) 상기 LED 전광판을 구성하는 화소들을 수평 라인 단위로 점등하고, 상기 각 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값을 측정하는 단계와; (b) 상기 LED 전광판을 구성하는 화소들을 수직 라인 단위로 점등하고, 상기 각 수직 라인에 대한 수직 라인 휘도값을 측정하는 단계와; (c) 상기 측정된 수평 라인 휘도값들 및 상기 측정된 수직 라인 휘도값들이 기 설정된 기준 휘도 범위를 벗어나는지 여부를 판단하는 단계와; (d) 상기 기준 휘도 범위를 벗어나는 수평 라인 휘도값 및 수직 라인 휘도값에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 전광판의 불량 화소 검출방법에 의해 달성된다.
여기서, 상기 (a) 단계 및 상기 (b) 단계에서 상기 수평 라인 휘도값 및 상기 수직 라인 휘도값은 상기 수평 라인 및 상기 수직 라인 단위로 점등된 상태에서 카메라의 촬영에 의해 획득된 영상 데이터의 휘도값에 따라 측정되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상기 목적은 본 발명의 다른 실시 형태에 따라, LED 전광판의 불량 화소 검출장치에 있어서, 상기 LED 전광판의 화면을 촬상하기 위한 휘도 측정부와; 기준 휘도 범위에 대한 정보가 저장되는 데이터 저장부와; 상기 LED 전광판을 구성하는 화소들이 수평 라인 단위 및 수직 라인 단위로 점멸하도록 제어하고, 상기 LED 전광판이 상기 수평 라인 단위 및 상기 수직 라인 단위로 각각 점등된 상태에서 상기 휘도 측정부가 상기 LED 전광판의 화면을 촬상하도록 제어하고, 상기 휘도 측정부로부터 상기 수평 라인 단위 및 상기 수평 라인 단위로 촬상된 영상 데이터에 기초하여 상기 각 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값과 상기 각 수직 라인에 대한 수직 라인 휘도값을 검출하고, 상기 수평 라인 휘도값 및 상기 수직 라인 휘도값 중 기 설정된 기준 휘도 범위를 벗어하는지 여부를 판단하며, 상기 기준 휘도 범위를 벗어나는 수평 라인 휘도값 및 수직 라인 휘도값에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단하는 불량 화소 검출 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 전광판의 불량 화소 검출장치에 의해서도 달성된다.
여기서, 상기 기준 휘도 범위에 대한 정보와, 상기 기준 휘도 범위를 벗어나는 수평 라인 휘도값 및 수직 라인 휘도값에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인에 대한 불량 라인 정보가 저장되는 데이터 저장부와, 이미지가 표시되는 디스플레이부를 더 포함하며; 상기 불량 화소 검출 제어부는 상기 불량 라인 정보 및 상기 불 량 화소에 대한 정보에 대한 로그 파일을 생성하여 상기 디스플레이부를 통해 표시될 수 있다.
상기 구성에 의해 본 발명에 따르면, LED 전광판 내에 별도의 회로 구성을 추가하지 않고, 기준 휘도 범위를 벗어하는 수평 라인 및 수직 라인을 검출하고, 검출된 수평 라인과 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단하여 검출함으로써, LED 전광판의 제조 공정시나 사용 중에 불량 화소를 용이하게 교체 가능하게 된다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.
본 발명에 따른 LED 전광판(10)의 불량 화소 검출장치(30)는, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 휘도 측정부(31), 디스플레이부(34), 데이터 저장부(33) 및 불량 화소 검출 제어부(32)를 포함할 수 있다. 여기서, 디스플레이부(34), 데이터 저장부(33) 및 불량 화소 검출 제어부(32)는, 도 1에 도시된 바와 같이, 컴퓨터와 같은 정보처리장치 형태로 마련될 수 있다.
휘도 측정부(31)는 LED 전광판(10)의 화면을 촬상하여 화면 상에 표시된 영상의 휘도를 측정한다. 여기서, 휘도 측정부(31)는 CCD 카메라나 CMOS 카메라 형태로 마련되어 LED 전광판(10)의 화면을 촬상하여 획득된 영상에 대한 정보를 불량 화소 검출장치(30)로 전달한다.
데이터 저장부(33)에는 불량 화소의 검출의 기준이 되는 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH, 도 4 및 도 5 참조)에 대한 정보가 저장된다. 디스플레이부(34)는 불량 화소 검출 제어부(32)의 제어에 따라 화면 상에 이미지를 표시하며, 제어부(32)에 의해 생성되는 후술할 로그 파일을 화면 상에 표시함으로써, 불량 화소에 대한 정보를 시각적으로 표시한다.
불량 화소 검출 제어부(32)는 LED 전광판(10)을 구성하는 화소들이 수평 라인 단위 및 수직 라인 단위로 점멸하도록 제어한다. 그리고, 불량 화소 검출 제어부(32)는 LED 전광판(10)이 수평 라인 단위 및 수직 라인 단위로 각각 점등된 상태에서 휘도 측정부(31)가 LED 전광판(10)의 화면을 촬상하도록 제어한다.
도 3을 참조하여 보다 상세히 설명하면, 불량 화소 검출 제어부(32)는 LED 전광판(10)을 구성하는 n개의 수평 라인이, 예컨대 상부에서부터 하부로 순차적으로 점등되도록 LED 전광판(10)을 제어한다. 여기서, 불량 화소 검출 제어부(32)는 특정 수평 라인만이 점등되게 하는 영상신호를 LED 전광판(10)에 인가하는 방식으로 LED 전광판(10)이 수평 라인 단위로 점등되도록 제어할 수 있다.
이와 같은 과정에서, 불량 화소 검출 제어부(32)는 하나의 수평 라인이 점등된 상태에서 휘도 측정부(31)가 LED 전광판(10)의 화면을 촬상하도록 제어하여, 각 수평 라인에 대한 영상 데이터(이하, '수평 영상 데이터'라 함)를 휘도 측정부(31)로부터 전달받는다.
동일한 방법으로, 불량 화소 검출 제어부(32)는 LED 전광판(10)을 구성하는 m개의 수직 라인이, 예컨대 좌측에서부터 우측으로 순차적으로 점등되도록 LED 전광판(10)을 제어한다. 그리고, 불량 화소 검출 제어부(32)는 하나의 수직 라인이 점등된 상태에서 휘도 측정부(31)가 LED 전광판(10)의 화면을 촬상하도록 제어하여, 각 수직 라인에 대한 영상 데이터(이하, '수직 영상 데이터'라 함)를 휘도 측정부(31)로부터 전달받는다.
상기와 같은 방식을 통해 LED 전광판(10)의 각 수평 라인 및 수직 라인에 대한 수평 영상 데이터 및 수직 영상 데이터를 획득하게 되면, 불량 화소 검출 제어부(32)는 수평 영상 데이터 및 수직 영상 데이터에 기초하여 각 수평 라인 및 수직 라인에 대한 휘도값을 검출한다. 여기서, 수평 영상 데이터에 기초하여 검출된 휘도값을 수평 라인 휘도값(HB, 도 4 참조)이라 하고, 수직 영상 데이터에 기초하여 검출된 휘도값을 수직 라인 휘도값(VB, 도 5 참조)이라 정의하여 설명한다.
한편, 불량 화소 검출 제어부(32)는 상기와 같이 LED 전광판(10)의 각 수평 라인 및 수직 라인에 대한 수평 라인 휘도값(HB) 및 수직 라인 휘도값(VB)이 검출되면, 수평 라인 휘도값(HB) 및 수직 라인 휘도값(VB)이 데이터 저장부(33)에 저장된 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는지 여부를 판단하고, 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는 수평 라인 휘도값(HB) 및 수직 라인 휘도값(VB)에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인에 대한 불량 라인 정보를 생성한다. 여기서, 불량 화소 검출 제어부(32)는 불량 라인 정보를 데이터 저장부(33)에 저장할 수 있다.
그리고, 불량 화소 검출 제어부(32)는 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는 수평 라인 휘도값(HB) 및 수직 라인 휘도값(VB)에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단한다.
예를 들어, 도 3을 참조하여 설명하면, 수평 라인 중 3번째 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값(HB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나고, 수직 라인 중 2번째 수직 라인에 대한 수직 라인 휘도값(VB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는 것으로 판단되는 경우, 3번째 수평 라인과 2번째 수직 라인이 교차하는 화소, 즉 m×n 개의 화소 중 위로부터 3번째 및 좌측에서 2번째 화소가 불량 화소로 검출된다.
여기서, 불량 화소 검출 제어부(32)는 불량 라인 정보 및 불량 화소에 대한 정보에 대한 로그 파일을 생성하여 데이터 저장부(33)에 저장할 수 있으며, 생성된 로그 파일을 전술한 바와 같이, 디스플레이부(34)를 통해 표시할 수 있다.
상기와 같은 구성을 통해, LED 전광판(10) 내에 별도의 회로 구성을 추가하지 않고, 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어하는 수평 라인 및 수직 라인을 검출하고, 검출된 수평 라인과 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단하여 검출함으로써, LED 전광판(10)의 제조 공정시나 사용 중에 불량 화소를 용이하게 교체 가능하게 된다.
전술한 실시예에서는 불량 화소 검출 제어부(32)가 전체 수평 라인 및 수직 라인에 대한 수평 라인 휘도값(HB) 및 수직 라인 휘도값(VB)을 검출한 후 기준 휘 도 범위(RBL ~ RBH)와 비교하는 것으로 설명하였으나, 하나의 수평 라인(또는 수직 라인)에 대하여 수평 라인 휘도값(HB)(또는 수직 라인 휘도값(VB))의 검출 및 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)와의 비교를 통한 불량 라인 여부의 검출이 완료된 후 다음 수평 라인(또는 수직 라인)에 대한 검출 및 비교가 진행될 수 있음은 물론이다. 또한, 수평 라인 및 수직 라인의 검출 및 비교 순서가 바뀔 수 있음은 물론이다.
이하에서는, 도 4 및 도 5를 참조하여 본 발명에 따른 LED 전광판(10)의 불량 화소 검출방법에 대해 상세히 설명한다. 여기서, LED 전광판(10)이 m×n 개의 화소로 구성된 것, 즉 n개의 수평 라인과 m개의 수직 라인으로 구성된 것을 일 예로 하여 설명한다.
먼저, 첫 번째 수평 라인이 점등된 상태(S40)에서 첫 번째 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값(HB)이 측정된다(S41). 여기서, 수평 라인 휘도값(HB)의 측정 방식은 상술한 바와 같은 바, 그 상세한 설명은 생략한다.
그런 다음, 측정된 수평 라인 휘도값(HB)이 기 설정된 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내에 포함되는지 여부를 판단하고(S42), 수평 라인 휘도값(HB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내에 포함되는 것으로 판단되면 첫 번째 수평 라인을 소등시킨다(S44).
반면, S42 단계에서 수평 라인 휘도값(HB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는 것으로 판단되는 경우 해당 수평 라인이 불량 라인인 것으로 판단하여(S43), 해당 정보를 데이터 저장부(33)에 저장한 후 첫 번째 수평 라인을 소등시킨다(S44).
그리고, 수평 라인 휘도값(HB)의 측정 및 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내의 포함 여부 판단이 모든 수평 라인에 대해 종료되었는지 여부를 판단하여(S45), 모든 수평 라인에 대해 종료되지 않은 경우에는 다음 차례의 수평 라인만을 점등시킨 후(S46), S41 단계 내지 S45 단계를 수행하여 전체 수평 라인 중 불량 라인을 검출한다.
한편, 상기와 같은 과정을 통해 모든 수평 라인에 대한 불량 라인의 검출이 종료되면(S45), 수직 라인에 대한 불량 라인의 검출이 도 5에 도시된 바와 같이 진행된다.
먼저, 첫 번째 수직 라인이 점등된 상태(S50)에서 첫 번째 수직 라인에 대한 수직 라인 휘도값(VB)이 측정된다(S51). 여기서, 수직 라인 휘도값(VB)의 측정 방식은 상술한 바와 같은 바, 그 상세한 설명은 생략한다.
그런 다음, 측정된 수직 라인 휘도값(VB)이 기 설정된 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내에 포함되는지 여부를 판단하고(S52), 수직 라인 휘도값(VB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내에 포함되는 것으로 판단되면 첫 번째 수직 라인을 소등시킨다(S54).
반면, S52 단계에서 수직 라인 휘도값(VB)이 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)를 벗어나는 것으로 판단되는 경우 해당 수직 라인이 불량 라인인 것으로 판단하여(S53), 해당 정보를 데이터 저장부(33)에 저장한 후 첫 번째 수직 라인을 소등시킨다(S44).
그리고, 수직 라인 휘도값(VB)의 측정 및 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 내의 포함 여부 판단이 모든 수직 라인에 대해 종료되었는지 여부를 판단하여(S55), 모든 수직 라인에 대해 종료되지 않은 경우에는 다음 차례의 수직 라인만을 점등시킨 후(S56), S51 단계 내지 S55 단계를 수행하여 전체 수직 라인 중 불량 라인을 검출한다.
이와 같이 모든 수평 라인 및 수직 라인에 대한 불량 라인의 검출이 종료되면(S55), 불량 라인으로 판단된 수직 라인과 수평 라인이 교차되는 화소를 판단하여(S57), 해당 화소를 불량 화소로 검출하고, 불량 화소에 대한 정보가 디스플레이부(34)에 표시된다(S58).
전술한 실시예에서는 수평 라인 및 수직 라인에 대한 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH)가 동일한 것을 예로 하여 설명하였으나, 그 값이 상이할 수 있음은 물론이다.
또한, 전술한 불량 화소 검출방법에서는 수평 라인에 대한 불량 라인의 검출 후 수직 라인의 불량 화소를 검출하는 것을 예로 하였으나, 그 순서가 바뀔 수 있음은 물론이고, 수평 라인(또는 수직 라인, 이하 동일)에 대해 전체 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값(HB)이 측정된 후 기준 휘도 범위(RBL ~ RBH) 와의 비교가 진행될 수도 있다.
비록 본 발명의 몇몇 실시예들이 도시되고 설명되었지만, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 당업자라면 본 발명의 원칙이나 정신에서 벗어나지 않으면서 본 실시예를 변형할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 별명의 범위는 첨부된 청구항과 그 균등물에 의해 정해질 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 LED 전광판의 불량 화소 검출장치의 구성을 도시한 도면이고,
도 2는 도 1의 불량 화소 검출장치의 제어 블록도이고,
도 3은 본 발명에 따른 LED 전광판의 화소 구성을 도시한 도면이고,
도 4 및 도 5는 LED 전광판의 불량 화소 검출방법을 설명하기 위한 제어흐름도이다.
<도면의 주요 번호에 대한 설명>
10 : LED 전광판 30 : 불량 화소 검출장치
31 : 휘도 측정부 32 : 불량 화소 검출 제어부
33 : 데이터 저장부 34 : 디스플레이부

Claims (4)

  1. LED 전광판의 불량 화소 검출방법에 있어서,
    (a) 상기 LED 전광판을 구성하는 화소들을 수평 라인 단위로 점등하고, 상기 각 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값을 측정하는 단계와;
    (b) 상기 LED 전광판을 구성하는 화소들을 수직 라인 단위로 점등하고, 상기 각 수직 라인에 대한 수직 라인 휘도값을 측정하는 단계와;
    (c) 상기 측정된 수평 라인 휘도값들 및 상기 측정된 수직 라인 휘도값들이 기 설정된 기준 휘도 범위를 벗어나는지 여부를 판단하는 단계와;
    (d) 상기 기준 휘도 범위를 벗어나는 수평 라인 휘도값 및 수직 라인 휘도값에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 전광판의 불량 화소 검출방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 (a) 단계 및 상기 (b) 단계에서 상기 수평 라인 휘도값 및 상기 수직 라인 휘도값은 상기 수평 라인 및 상기 수직 라인 단위로 점등된 상태에서 카메라의 촬영에 의해 획득된 영상 데이터의 휘도값에 따라 측정되는 것을 특징으로 하는 LED 전광판의 불량 화소 검출방법.
  3. LED 전광판의 불량 화소 검출장치에 있어서,
    상기 LED 전광판의 화면을 촬상하기 위한 휘도 측정부와;
    기준 휘도 범위에 대한 정보가 저장되는 데이터 저장부와;
    상기 LED 전광판을 구성하는 화소들이 수평 라인 단위 및 수직 라인 단위로 점멸하도록 제어하고, 상기 LED 전광판이 상기 수평 라인 단위 및 상기 수직 라인 단위로 각각 점등된 상태에서 상기 휘도 측정부가 상기 LED 전광판의 화면을 촬상하도록 제어하고, 상기 휘도 측정부로부터 상기 수평 라인 단위 및 상기 수평 라인 단위로 촬상된 영상 데이터에 기초하여 상기 각 수평 라인에 대한 수평 라인 휘도값과 상기 각 수직 라인에 대한 수직 라인 휘도값을 검출하고, 상기 수평 라인 휘도값 및 상기 수직 라인 휘도값 중 기 설정된 기준 휘도 범위를 벗어하는지 여부를 판단하며, 상기 기준 휘도 범위를 벗어나는 수평 라인 휘도값 및 수직 라인 휘도값에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인이 교차하는 위치의 화소를 불량 화소로 판단하는 불량 화소 검출 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 LED 전광판의 불량 화소 검출장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 기준 휘도 범위에 대한 정보와, 상기 기준 휘도 범위를 벗어나는 수평 라인 휘도값 및 수직 라인 휘도값에 대응하는 수평 라인 및 수직 라인에 대한 불량 라인 정보가 저장되는 데이터 저장부와,
    이미지가 표시되는 디스플레이부를 더 포함하며;
    상기 불량 화소 검출 제어부는 상기 불량 라인 정보 및 상기 불량 화소에 대 한 정보에 대한 로그 파일을 생성하여 상기 디스플레이부를 통해 표시하는 것을 특징으로 하는 LED 전광판의 불량 화소 검출장치.
KR1020080126432A 2008-12-12 2008-12-12 Ｌｅｄ 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치 KR100910593B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080126432A KR100910593B1 (ko) 2008-12-12 2008-12-12 Ｌｅｄ 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080126432A KR100910593B1 (ko) 2008-12-12 2008-12-12 Ｌｅｄ 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100910593B1 true KR100910593B1 (ko) 2009-08-03

Family

ID=41209451

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080126432A KR100910593B1 (ko) 2008-12-12 2008-12-12 Ｌｅｄ 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100910593B1 (ko)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101944276A (zh) * 2010-08-19 2011-01-12 深圳市中庆微科技开发有限公司 一种led屏坏点监测预警方法和***
KR101045689B1 (ko) 2010-02-24 2011-07-01 (주)웨이브스타 엘이디 전광판의 불량 화소 검출장치
KR101182822B1 (ko) * 2011-03-29 2012-09-13 삼성전자주식회사 발광소자 검사장치 및 방법
CN102982765A (zh) * 2012-11-29 2013-03-20 杨夏芳 一种照明方法
CN106409197A (zh) * 2016-11-21 2017-02-15 西安诺瓦电子科技有限公司 Led灯板故障检测方法
CN106409196A (zh) * 2016-11-21 2017-02-15 西安诺瓦电子科技有限公司 Led显示控制卡故障检测方法
KR101958472B1 (ko) * 2018-11-15 2019-03-15 엘아이지넥스원 주식회사 라인 스캔 방식 기반의 불량화소 검출방법 및 장치
KR20190044453A (ko) * 2017-10-20 2019-04-30 국방과학연구소 불량화소 처리장치 및 방법
CN109708845A (zh) * 2018-12-20 2019-05-03 合肥市航嘉电子技术有限公司 一种检测设备
KR102203583B1 (ko) 2020-03-31 2021-01-15 포스텍네트웍스(주) IoT를 이용하여 실시간으로 전광판 제어가 가능한 IoT 기반 전광판 제어시스템
KR102280656B1 (ko) * 2020-11-04 2021-07-21 성기빈 복수의 적외선 열센서 및 전류측정기를 이용한 led디지털사이니지 함체 환경감시 모니터링시스템

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030072491A (ko) * 2002-03-04 2003-09-15 주식회사 쓰리비 시스템 감응식 플랫패널용 광관련판요소의 검사방법과 그 장치
KR20040021401A (ko) * 2002-09-04 2004-03-10 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한검사 방법
KR20050052046A (ko) * 2003-11-29 2005-06-02 주식회사 쓰리비 시스템 플랫패널용 광관련판요소의 라인결함 검출방법
KR20050098704A (ko) * 2004-04-08 2005-10-12 주식회사 팬택앤큐리텔 불량화소 검출/복원이 가능한 카메라폰 및 그 방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030072491A (ko) * 2002-03-04 2003-09-15 주식회사 쓰리비 시스템 감응식 플랫패널용 광관련판요소의 검사방법과 그 장치
KR20040021401A (ko) * 2002-09-04 2004-03-10 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널 검사 시스템 및 이를 이용한검사 방법
KR20050052046A (ko) * 2003-11-29 2005-06-02 주식회사 쓰리비 시스템 플랫패널용 광관련판요소의 라인결함 검출방법
KR20050098704A (ko) * 2004-04-08 2005-10-12 주식회사 팬택앤큐리텔 불량화소 검출/복원이 가능한 카메라폰 및 그 방법

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101045689B1 (ko) 2010-02-24 2011-07-01 (주)웨이브스타 엘이디 전광판의 불량 화소 검출장치
CN101944276A (zh) * 2010-08-19 2011-01-12 深圳市中庆微科技开发有限公司 一种led屏坏点监测预警方法和***
KR101182822B1 (ko) * 2011-03-29 2012-09-13 삼성전자주식회사 발광소자 검사장치 및 방법
CN102982765A (zh) * 2012-11-29 2013-03-20 杨夏芳 一种照明方法
CN106409197A (zh) * 2016-11-21 2017-02-15 西安诺瓦电子科技有限公司 Led灯板故障检测方法
CN106409196A (zh) * 2016-11-21 2017-02-15 西安诺瓦电子科技有限公司 Led显示控制卡故障检测方法
CN106409196B (zh) * 2016-11-21 2020-05-15 西安诺瓦星云科技股份有限公司 Led显示控制卡故障检测方法
KR101988490B1 (ko) 2017-10-20 2019-06-12 국방과학연구소 불량화소 처리장치 및 방법
KR20190044453A (ko) * 2017-10-20 2019-04-30 국방과학연구소 불량화소 처리장치 및 방법
KR101958472B1 (ko) * 2018-11-15 2019-03-15 엘아이지넥스원 주식회사 라인 스캔 방식 기반의 불량화소 검출방법 및 장치
CN109708845A (zh) * 2018-12-20 2019-05-03 合肥市航嘉电子技术有限公司 一种检测设备
KR102203583B1 (ko) 2020-03-31 2021-01-15 포스텍네트웍스(주) IoT를 이용하여 실시간으로 전광판 제어가 가능한 IoT 기반 전광판 제어시스템
KR102280656B1 (ko) * 2020-11-04 2021-07-21 성기빈 복수의 적외선 열센서 및 전류측정기를 이용한 led디지털사이니지 함체 환경감시 모니터링시스템

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100910593B1 (ko) Ｌｅｄ 전광판의 불량 화소 검출방법 및 불량 화소 검출장치
KR101113910B1 (ko) 엘이디전광판의 엘이디화소 검사장치
KR101694899B1 (ko) 불량 검출을 위한 led 전광판 제어장치 및 그 방법
JP2011196685A (ja) 欠陥検出装置、欠陥修復装置、表示パネル、表示装置、欠陥検出方法、プログラム
WO2013175703A1 (ja) 表示装置の検査方法、および表示装置の検査装置
KR102120854B1 (ko) 학습 기반의 led 전광판 자가진단 불량 도트 검출 장치 및 그 방법
KR100975025B1 (ko) 전광판의 고화질 해상도를 구현하기 위한 디지털 영상처리시스템
KR102286470B1 (ko) 원본 영상 정보 및 표출 촬상 정보 유사도 분석을 통한 led 디지털 사이니지 불량 감지 시스템
US7808459B2 (en) Light emitting display device
CN114255232B (zh) Led显示屏显示缺陷检测方法、电子设备及装置
JP2001222259A (ja) 画像表示装置の補正システムおよび補正方法
JP4530429B1 (ja) Ｌｅｄ検査方法及びｌｅｄ検査装置
CN111613157A (zh) 显示面板的Mura修补测试方法、显示面板、显示装置
KR102150351B1 (ko) 불량 모듈 회피 알고리즘 기반 led 디지털 사이니지 동적 표출 시스템
TWI390771B (zh) Test equipment for light emitting diode lights
KR102549786B1 (ko) 디스플레이 장치 및 그 제어 방법
KR101426487B1 (ko) 표시패널의 검사 장치 및 그 방법
CN112748118B (zh) 一种显示面板的检测***和检测方法
JPH11234706A (ja) テレビカメラ映像調整装置
JP5217298B2 (ja) Ｆｐｄドット欠陥検査方法及び装置
JP2009069520A (ja) 表示パネルの検査装置、表示パネルの検査方法、表示パネルの製造方法、プログラム及び記録媒体
TWI502180B (zh) 具背光之裝置的亮度量測方法及系統
JP2011027907A (ja) 輝度ムラ修正用補正データの作成方法及びその作成装置
KR100857182B1 (ko) Ｌｅｄ 전광판 및 ｌｅｄ 전광판 양방향 제어 시스템
JP5317803B2 (ja) 表示機器の検査装置および検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120725

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130708

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20140728

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150512

Year of fee payment: 7

LAPS Lapse due to unpaid annual fee