KR100904597B1 - Method of test MOST electronic equipment in car - Google Patents

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Abstract

본 발명은 차량에 장착된 오디오/비디오/내비게이션 시스템과 같은 MOST(Media Oriented Systems Transport) 제품을 테스트하는 것으로, 상세하게는 모스트를 적용한 제품이 모스트 프로토콜과 모스트 인증에 적합하도록 개발되었는 가를 테스트하고 검증할 수 있는 차량용 모스트 전자기기 테스트 장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명의 장치는 차량에 장착하고 모스트를 적용한 전자기기, 전자기기와 광통신으로 연결되어 명령과 데이터를 상기 전자기기에 송신하고 응답을 수신하며 전자기기의 상태를 체크하여 제공하는 옵토라이저 및 옵토라이저를 제어하여 전자기기의 응답시간 테스트, 넷블럭 응답메시지를 테스트하고 결과를 확인 제공하는 컴퓨터를 포함하는 차량용 모스트 전자기기 테스트 장치이다.The present invention tests a MOST (Media Oriented Systems Transport) product, such as an on-vehicle audio / video / navigation system, specifically testing and verifying that a product with a mock is developed for most protocol and most certification. The present invention relates to a vehicle most recent electronic device testing method and method. The apparatus of the present invention is an opto-raiser and an opto-raiser which is mounted in a vehicle and connected to an electronic device, an electronic device to which the most applied, transmits commands and data to the electronic device, receives a response, and checks and provides a state of the electronic device. It is a vehicle most electronics test device including a computer to control the response time test of the electronic device, the net block response message test and check the results provided.

넷블럭, 프로토콜, 오피타입, 파라메터, 옵토라이저 Netblock, Protocol, Office Type, Parameter, Optoizer

Description

차량용 모스트 전자기기 테스트 방법 {Method of test MOST electronic equipment in car}Test method for vehicle most electronics {Method of test MOST electronic equipment in car}

본 발명은 차량에 장착된 오디오/비디오/내비게이션 시스템과 같은 MOST(Media Oriented Systems Transport) 제품을 테스트하는 것으로, 상세하게는 모스트를 적용한 제품이 모스트 프로토콜과 모스트 인증에 적합하도록 개발되었는 가를 테스트하고 검증할 수 있는 차량용 모스트 전자기기 테스트 방법에 관한 것이다.The present invention tests a MOST (Media Oriented Systems Transport) product, such as an on-vehicle audio / video / navigation system, specifically testing and verifying that a product with a mock is developed for most protocol and most certification. It relates to a vehicle most electronics test method that can be.

일반적으로 고급형 자동차에는 카오디오 시스템이나 AVN(Audio/Video/Navigation) 시스템이 장착된다. 차량용 AVN 시스템은 미디어 시스템에 관련된 네트워크 시스템으로 MOST(Media Oriented Systems Transport) 방식을 사용하고 모스트는 DVD, 라디오, CDP 등 모든 멀티미디어에 관련된 시스템의 제어와 재생되는 영상 및 음향을 제어하며 광케이블을 이용하여 초고속의 영상 및 음성 데이터를 전송 처리한다.High-end cars are typically equipped with car audio systems or AVN (Audio / Video / Navigation) systems. Vehicle AVN system is a network system related to media system and uses MOST (Media Oriented Systems Transport) method.Most controls all multimedia related systems such as DVD, radio, CDP, etc. It transmits and processes high speed video and audio data.

MOST(Media Oriented Systems Transport)는 차량의 각종 멀티미디어 기기인 AV, 내비게이션, DVD, 텔레매틱스, 각종 통신기기간의 통신 규격으로, 음성 및 영상 등의 대용량 멀티미디어 정보를 광섬유를 통해 24.5Mbps의 초고속 통신으로 전송할 수 있는 네트워크 기술이다.MOST (Media Oriented Systems Transport) is a communication standard among various multimedia devices such as AV, navigation, DVD, telematics, and various communication devices, and can transmit large-capacity multimedia information such as voice and video through high speed communication of 24.5Mbps through optical fiber. Network technology.

종래의 차량용 AVN 시스템과 같이 MOST 네트워크를 사용하는 차량용 전자기기를 모스트 프로토콜이나 모스트 인증에 적합하게 생산되었는지 여부를 테스트하기 위한 장치 등은 없었다.There is no device for testing whether a vehicle electronic device using a MOST network has been produced for most protocols and most certifications, as in the conventional vehicle AVN system.

따라서 차량용 모스트 전자기기의 정상 작동 여부를 테스트하기 곤란하므로 불량제품을 차량에 장착하는 경우도 발생될 수 있으며 이로 인하여 고급 차량에 대한 신뢰도가 하락하는 문제를 일으킬 수 있다.Therefore, it is difficult to test whether the vehicle's most electronic device is normally operated, so that a bad product may be installed in the vehicle, which may cause a problem that the reliability of the luxury vehicle is deteriorated.

따라서 차량용 모스트 전자기기의 정상 작동 여부를 간단히 판별할 수 있는 편리하고 성능이 우수한 테스트 장치가 필요하다.Therefore, there is a need for a convenient and high performance test device that can easily determine whether the vehicle most electronic device is in normal operation.

본 발명은 상술한 문제점을 해결한 것으로, 본 발명의 목적은 차량에 사용되는 모스트를 적용한 AVN 시스템이 표준화된 모스트 프로토콜 메시지 통신 규약에 적합하게 생산되었는지 여부를 테스트하여 확인할 수 있어서 제품의 신뢰도가 확보되고 품질력의 향상을 가져오는 차량용 모스트 전자기기 테스트 방법을 제공함에 있다.The present invention solves the above-mentioned problems, an object of the present invention is to verify whether the AVN system to which the most used for the vehicle is produced in accordance with the standardized Most protocol message communication protocol can be tested to ensure the reliability of the product The present invention provides a method for testing a vehicle's most electronic device which brings about an improvement in quality.

또한 본 발명의 목적은 모스트를 적용한 차량용 전자기기가 모스트 메시지 통신 규약을 충족하는지 해당 제품의 응답시간의 체크, 잘못된 파라메터 입력시 동작 확인, 넷블럭(Netblock) 응답메시지의 확인, 오피 타입(Optype)에 대한 응답 확인, 프로토콜 에러 테스트 등을 통하여 해당 전자기기의 모스트 메시지 통신 규약의 충족 여부를 검증하는 차량용 모스트 전자기기 테스트 방법을 제공함에 있다.In addition, an object of the present invention is to check the response time of the corresponding product, whether the vehicle electronics to which the most applied vehicle meets the protocol of most messages, check the operation when the wrong parameter input, check the Netblock response message, Op type (Optype) The present invention provides a vehicle most electronics test method for verifying whether the most message communication protocol of the electronic device is satisfied through a response check and a protocol error test.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 방법은 모스트 전자기기에 설치된 모스트 펑션블럭 파일을 컴퓨터에서 옵토라이저를 통하여 파싱하는 제 1 과정, 컴퓨터에서 상기 파싱한 파일로부터 상기 모스트 전자기기의 테스트 기준을 생성하는 제 2 과정, 컴퓨터에서 상기 모스트 전자기기에 설치된 넷블럭 기본 펑션을 체크하는 제 3 과정, 모스트 전자기기에 장착된 모든 펑션 블록에 대한 응답을 체크하고 파라메터들이 스펙에 규정된 최대, 최소값 반응을 확인하는 오피 타입 테스트를 처리하는 제 4 과정 및 모스트 전자기기에서 에러 메시지의 출력, 프로토콜 에러의 반응, 응답시간을 체크하는 모스트 프로토콜 테스트를 처리하는 제 5 과정을 포함함을 특징으로 한다.The method of the present invention for achieving the above object is a first step of parsing the most function block file installed in the most electronic device through the optolizer in the computer, generating the test criteria of the most electronic device from the parsed file in the computer A second step of checking, the third step of checking a netblock basic function installed in the most electronic device in the computer, a response of all function blocks mounted in the most electronic device, and checking the response of the maximum and minimum values defined in the specification. And a fourth process of processing an op type test for checking and a fifth protocol for checking an output of an error message, a response of a protocol error, and a response time in the most electronic device.

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본 발명은 모스트 통신을 적용하고 고급 차량에 사용되는 전자기기가 모스트 통신 규약에 맞도록 설계되고 동작하는 지 여부를 컴퓨터 단말기와 결합시켜서 테스트하고 결과를 확인할 수 있으므로 모스트 통신을 적용한 전자기기의 성능을 향상시키며, 또한 호환성이 향상되며 모든 모스트 전자기기에 적용할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, it is possible to test whether the electronic device used in the high-class vehicle and the high-end vehicle is designed and operated in accordance with the most communication protocol and to check the results by combining the computer terminal. It also improves compatibility and has an effect that can be applied to all most electronic devices.

이하, 본 발명의 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

하기의 설명에서는 본 발명에 따른 동작을 이해하는데 필요한 부분만이 설명되며 그 이외 부분의 설명은 생략될 것이라는 것을 유의하여야 한다.It should be noted that in the following description, only parts necessary for understanding the operation according to the present invention will be described, and descriptions of other parts will be omitted.

본 발명은 차량에 장착된 모스트를 적용한 AV 시스템과 같은 전자기기가 표준화된 모스트 프로토콜 메시지 통신 규약에 적합하게 생산되었는지 여부를 테스트하고 검증할 수 있으며 제품의 신뢰도, 품질력의 향상, 호환성의 향상을 기대할 수 있는 차량용 모스트 전자기기 테스트 방법이다.The present invention can test and verify whether or not an electronic device such as an AV system equipped with a vehicle mounted vehicle is produced in accordance with a standardized Most Protocol message communication protocol, and is expected to improve product reliability, quality improvement, and compatibility. Automotive most electronics test method.

도 1은 본 발명의 모스트 전자기기를 확인하는 기능 테스트 장치의 개략도이다.1 is a schematic diagram of a functional test apparatus for identifying the most electronic device of the present invention.

본 발명의 모스트 전자기기 테스트 장치는 도 1과 같이 컴퓨터(10), 옵토라이저(optolyzer)(20)와 테스트를 받는 모스트 전자기기(30)를 포함하여 구성된다.Most electronic device test apparatus of the present invention comprises a computer 10, an optolyzer (20) and the most tested electronic device 30 as shown in FIG.

컴퓨터(10)와 옵토라이저(optolyzer)(20) 사이는 비동기 직렬 통신을 처리하는 UART(universal asynchronous receiver/transmitter)로 연결되고, 옵토라이저(optolyzer)(20)와 모스트 전자기기(30) 사이는 광통신으로 연결되어 데이터와 제어명령을 송수신한다. The computer 10 and the optolyzer 20 are connected by a universal asynchronous receiver / transmitter (UART) that handles asynchronous serial communication, and between the optolyzer 20 and the most electronic device 30. It is connected by optical communication to send and receive data and control commands.

옵토라이저(optolyzer)(20)는 모스트 전자기기를 모니터링하고 상태를 체크하는 기기이며, 컴퓨터(10)의 제어에 따라 모스트 전자기기(30)의 테스트의 제어와 데이터를 제공한다.The optolyzer 20 is a device that monitors and checks the state of the most electronic devices, and provides data and control of the test of the most electronic devices 30 under the control of the computer 10.

모스트 전자기기(30)는 옵토라이저(optolyzer)(20)와 테스트 데이터 등을 송수신할 수 있도록 광통신으로 연결되고, 컴퓨터(10)는 모스트 전자기기(30)에 전원을 제공한다.The most electronic device 30 is optically connected to transmit and receive an optolyzer 20 and test data, and the computer 10 provides power to the most electronic device 30.

본 발명의 컴퓨터(10)에는 모스트 테스트 소프트웨어 설치되고, 테스트할 모듈의 xml 파일(function Block)을 파싱(import)하여, xml 파일을 통해서 테스트 기준 정의, 테스트 실시 및 리포트 자동 생성 등을 처리한다.In the computer 10 of the present invention, most test software is installed, and an xml file (function block) of a module to be tested is imported and processes test criteria definition, test execution and report generation through an xml file.

본 발명은 컴퓨터(10)에서 모스트 테스트 관련 제어를 처리하며 모스트 전자기기(30)에 전원공급부(15)를 통하여 전원을 제공하고, 옵토라이저(20)는 컴퓨터(10)와 연결되어 광통신으로 연결된 모스트 전자기기(30)의 상태 모니터링과 측정값 등을 체크하여 제공한다.The present invention processes the control related to the most test in the computer 10 and provides power to the most electronic device 30 through the power supply unit 15, the optoizer 20 is connected to the computer 10 is connected by optical communication Check and provide the state monitoring and measured values of the most electronic device (30).

본 발명은 모스트를 적용한 차량용 전자기기가 모스트 메시지 통신 규약을 충족하는지 해당 제품의 응답시간의 체크, 잘못된 파라메터 입력시 동작 확인, 넷블럭(Netblock) 응답메시지의 확인, 오피 타입(Optype)에 대한 응답 확인, 프로토콜 에러 테스트 등을 통하여 모스트 전자기기의 모스트 메시지 통신 규약을 충족 여부를 검증한다.The present invention checks the response time of the corresponding product, whether the vehicle electronics applied the most meets the most message communication protocol, check the operation when the wrong parameter input, check the Netblock response message, response to the optype (Optype) Verification, protocol error test, etc., verify that the most message communication protocol of most electronic devices is met.

본 발명의 표준화된 MOST 프로토콜 메시지를 평가하는 방법은 MOST 에디터(editor)를 이용해서 MOST 펑션블럭(Fuction Block)을 작성하고 xml 파일을 생성한다. 다음에 작성된 xml파일을 파싱하여 MOST 메시지 테스트 기준 규격으로 사용한다.The method for evaluating the standardized MOST protocol message of the present invention creates a MOST function block and generates an xml file using a MOST editor. Parse the xml file created next and use it as MOST message test standard.

PC 베이스 테스트 프로그램으로 xml 파일을 파싱(parsing)하여 테스트 기준 규격을 설정한다.Set up the test standard by parsing the xml file with a PC-based test program.

본 발명에서 모스트 전자기기의 테스트 중점 항목으로는 넷블록 테스트(netblock test), 오피타입 테스트(optype test), 프로토콜 테스트(protocol test), 에러 테스트(Error test)이다.In the present invention, the test focus item of the most electronic device is a netblock test, an optype test, a protocol test, and an error test.

본 발명에서 모스트 전자기기(30)의 넷블록 테스트(netblock test), 오피타입 테스트(optype test), 프로토콜 테스트(protocol test), 에러 테스트(Error test)를 처리하는 것은 모스트 스펙으로 규정한 표준으로 처리한다.In the present invention, a netblock test, an optype test, a protocol test, and an error test of the most electronic device 30 are standard defined by the most specification. Process.

따라서 본 발명은 모스트 스펙을 기준으로 설명한다.Therefore, the present invention will be described based on most specifications.

넷블록 테스트(netblock test)는 기본 함수가 바르게 구성되었는지를 체크하고, 펑션에 상응하는 응답이 정확한지 파악, 로우레벨 리트라이(Lowlevelretry)와 CM4의 모스트 칩 레지스터의 값을 체크, 응답시간을 체크한다.The netblock test checks whether the basic function is correctly configured, checks if the response corresponding to the function is correct, checks the low level retry and the value of the last chip register of the CM4, and checks the response time. .

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 넷블럭 테스트를 처리하는 동작 순서도이다.2 is an operation flowchart of processing a netblock test according to an embodiment of the present invention.

단계 100에서 모스트 전자기기(30)의 넷블럭을 테스트하기 위해서는 도 1과 같이 컴퓨터(10), 옵토라이저(optolyzer)(20), 모스트 전자기기(30)가 연결된다.In order to test the netblock of the most electronic device 30 in step 100, the computer 10, the optolyzer 20, and the most electronic device 30 are connected as shown in FIG. 1.

단계 102에서 모스트 전자기기(30)에 설치된 펑션블럭(Fuction block)은 어떠한 것들이 있는지 이를 나타내는 펑션블럭(Fbolcks) 정보를 수집한다.In step 102, a function block installed in the most electronic device 30 collects function block information indicating what is present.

단계 104에서는 동일한 펑션블럭을 구별하는 동작이 적정한지를 체크하는 것으로 InstID를 증가시키고, 단계 106에서 InstID를 동일한 펑션블럭에 설정(set)한다.In step 104, the InstID is increased by checking whether the operation for distinguishing the same function block is appropriate, and InstID is set in the same function block in step 106.

단계 108에서 동일한 펑션블럭에 설정(set)한 InstID 정보를 수집하고, 단계 110으로 진행하여 InstID가 설정한 데로 적정하게 증가되었는지 여부를 확인하고 단계 112에서 InstID가 증가되지 않은 경우에는 에러 메시지를 표시한다.Collect the InstID information set in the same function block in step 108, proceed to step 110 to check whether the InstID has been properly increased as set, and display an error message if the InstID is not increased in step 112 do.

InstID는 모스트 전자기기(30)에 예를 들어 동일한 두 개의 DVDC(digital video disk changer) 디바이스가 설치된 경우 이를 01, 02와 같이 구별하는 함수로, 두 개의 디바이스를 구별하는 동작이 적정한지 체크한다.InstID is a function that distinguishes two digital video disk changer (DVDC) devices, for example, 01 and 02 when the same electronic device 30 is installed, and checks whether an operation for distinguishing two devices is appropriate.

상술한 단계 110에서 InstID가 적정하게 증가된 경우에는 다음 단계 114로 진행하여 DeviceInfoID를 체크하고 단계 116에서는 설치된 DeviceInfoID 체크 요청에 대한 응답(response)이 맞는지 확인하고, 단계 118 에서는 응답이 맞지 않는 경우 에러 메시지를 표시한다.If the InstID is appropriately increased in the above-described step 110, proceed to the next step 114 to check the DeviceInfoID, and in step 116 to check whether the response to the installed DeviceInfoID check request is correct, and in step 118 an error if the response is not correct Display a message.

DeviceInfoID 체크 요청에 대한 응답(response)이 맞으면, 단계 120으로 진 행하여 모스트 전자기기(30)에 장착된 디바이스(Device)의 노드 포지션 어드레스 정보를 요청하고 파악된 노드 포지션 어드레스 정보가 맞지 않은 경우에는 단계 122에서 에러 메시지를 디스플레이 한다.If the response to the DeviceInfoID check request is correct, proceed to step 120 to request node position address information of a device mounted in the most electronic device 30, and if the determined node position address information does not match, An error message is displayed at 122.

도 2를 참조하여 디바이스의 노드 포지션 어드레스 정보가 적정한 경우에는 단계 124에서 모스트 전자기기에 장착된 디바이스(Device)의 로지컬 노드 어드레스 정보를 확인하고 디바이스의 로지컬 노드 어드레스가 맞지 않은 경우에는 단계 126에서 에러 메시지를 디스플레이 한다.Referring to FIG. 2, if the node position address information of the device is appropriate, the logical node address information of the device mounted in the most electronic device is checked in step 124. If the logical node address of the device is not correct, the error is detected in step 126. Display a message.

디바이스(Device)의 로지컬 노드 어드레스 정보를 체크한 후에는 단계 128에서는 모스트 전자기기에 장착된 디바이스의 그룹 어드레스 정보를 확인하고 디바이스의 그룹 어드레스 정보가 맞지 않은 경우에는 단계 130에서 에러 메시지를 디스플레이 한다.After checking the logical node address information of the device, in step 128, the group address information of the device installed in the most electronic device is checked. If the group address information of the device does not match, an error message is displayed in step 130.

디바이스의 그룹 어드레스 정보가 맞는 경우 단계 132로 진행하여 모스트 전자기기에 장착된 디바이스의 네트워크에 대한 웨이크업(Wake up) 여부를 결정하는 어빌리티투웨이크(Abilitytowake)를 오피타입 겟(Get)을 이용하여 정보를 확인하고, 정보가 맞지 않은 경우에는 단계 134에서 에러 메시지를 디스플레이 한다.If the group address information of the device is correct, the process proceeds to step 132 in which an Abilitytowake, which determines whether to wake up the network of the device mounted on the most electronic device, is obtained by using the optype get. The information is checked, and if the information is not correct, an error message is displayed in step 134.

단계 136에서는 모스트 전자기기에 어빌리티투웨이크(Abilitytowake)를 오피타입 셋겟(SetGet)을 이용하여 정보를 확인하고, 정보가 맞지 않은 경우에는 단계 138에서 에러 메시지를 디스플레이 한다.In step 136, the Abilitytowake is checked on the most electronic device using an optype setget, and if the information is not correct, an error message is displayed in step 138.

단계 140에서는 모스트 전자기기에 장착된 디바이스가 특정한 때에 특별한 연결을 처리하는 소스핸들(SourceHandle) 함수의 정보를 확인하고, 리턴값이 맞지 않은 경우에는 단계 142에서 에러 메시지를 디스플레이 한다.In step 140, the device mounted in the most electronic device checks information of a source handle function that handles a special connection at a specific time, and displays an error message in step 142 when the return value is not correct.

단계 144에서는 셧 다운 리퀘스트(shut down request)동안의 처리에 대한 정보를 확인하고, 리턴값이 맞지 않은 경우에는 단계 146에서 에러 메시지를 디스플레이 한다.In step 144, information about the processing during the shut down request is checked, and if the return value is not correct, an error message is displayed in step 146.

단계 148에서는 옵토라이저(20)를 셧다운하고, 단계 150에서는 상술한 단계에서 처리한 다양한 펑션블럭에 대한 넷블럭 테스트 결과를 디스플레이 한다.In step 148, the optoizer 20 is shut down, and in step 150, the netblock test results for the various function blocks processed in the above-described steps are displayed.

상술한 본 발명의 도 2는 모스트 전자기기(30)에 설치되는 공통적인 펑션블럭의 설치와 동작의 정상작동 여부를 체크한다.2 of the present invention described above checks whether the installation and operation of the common function block is installed in the most electronic device 30, the normal operation.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 오피타입 테스트를 처리하는 동작 순서도이다.3 is an operation flowchart of processing an optype test according to an embodiment of the present invention.

먼저 단계 200에서 모스트 전자기기(30)의 오피타입 테스트를 위해 도 2의 경우 같이 컴퓨터(10), 옵토라이저(optolyzer)(20), 모스트 전자기기(30)가 연결된다.First, in step 200, the computer 10, the optolyzer 20, and the most electronic device 30 are connected to the op type test of the most electronic device 30 as shown in FIG. 2.

단계 202~204에서 모스트 전자기기(30)에 설치된 Fbolcks 정보를 수집한다.In operation 202 to 204, information on the Fbolcks installed in the most electronic device 30 is collected.

다음으로 단계 206에서 모스트 전자기기(30)에 설치된 FktID 정보를 수집한다.Next, in step 206, FktID information installed in the most electronic device 30 is collected.

단계 208에서는 첫번째 FktID, 오피타입, 파라메터의 정보를 수집한다.In step 208, the information of the first FktID, op type, and parameters are collected.

단계 210은 상술한 단계들에서 수집된 정보를 기준으로 테스트 메시지를 생성한다.Step 210 generates a test message based on the information collected in the above-described steps.

단계 212에서는 단계 210에서 생성한 테스트 메시지를 송부하여 응답값을 요 청한다.In step 212, the test message generated in step 210 is sent to request a response value.

단계 214에서 모스트 전자기기(30)에서 리턴한 테스트 메시지가 적정한지를 확인하고 그렇지 않은 경우 단계 216에서 에러 메시지를 표시한다.In step 214, it is checked whether the test message returned from the most electronic device 30 is appropriate. Otherwise, an error message is displayed in step 216.

단계 218에서는 테스트할 파라메터가 있는지 확인하고 없는 경우에는 다음 단계 222로 진행하고, 테스트할 파라메터가 있는 경우에는 단계 220에서 설정된 최소값에서 최대값 사이를 테스트하고, 최소값 이하나, 최대값 이상의 값을 지정하여 단계 210으로 피드백하여 새로운 테스트 메시지를 생성하도록 한다.In step 218, if there is a parameter to test, if not, proceed to the next step 222; if there is a parameter to test, test between the minimum value and the maximum value set in step 220, and specify a value below the minimum value or the maximum value. In step 210, a new test message is generated.

단계 210으로 피드백하여 새로운 테스트 메시지가 생성되면, 단계 212~216으로 진행하여 새로운 테스트 메시지는 재송부 되고 수신되는 테스트 결과에 따라서 정상동작 여부를 판별 할 수 있다.When a new test message is generated by feeding back to step 210, the process proceeds to steps 212 to 216 where the new test message is resent and it is possible to determine whether the normal operation is performed according to the received test result.

상술한 단계 218~220은 설정된 파라메터에 대한 최대값 이상의 값이나 최소값 이하의 값을 입력한 경우에 적정한 에러 메시지를 정확히 출력하는지 확인할 수 있다.Steps 218 to 220 may check whether an appropriate error message is correctly output when a value greater than or equal to a maximum value or less than or equal to a minimum value is input.

단계 222에서는 테스트할 오피타입이 있는지 확인하고 없는 경우에는 다음 단계 226으로 진행하고, 테스트할 오피타입이 있는 경우에는 최대치 이상을 가지는 오피타입을 입력시켜서 단계 210으로 피드백하여 새로운 테스트 메시지를 생성하도록 한다.In step 222, if there is an optype to be tested, and if there is not, proceed to step 226. If there is an optype to be tested, input an optype having a maximum value or more and feed back to step 210 to generate a new test message. .

단계 210으로 피드백하여 새로운 테스트 메시지가 생성되면, 단계 212~216으로 진행하여 새로운 테스트 메시지는 재송부 되고 수신되는 테스트 결과에 따라서 정상동작 여부를 판별 할 수 있다.When a new test message is generated by feeding back to step 210, the process proceeds to steps 212 to 216 where the new test message is resent and it is possible to determine whether the normal operation is performed according to the received test result.

상술한 단계 222~224는 설정된 오피타입에 대한 최대치 이상의 값을 입력한 경우에 적정한 에러 메시지를 출력하는지를 확인하여 정상 동작 여부를 체크한다.Steps 222 to 224 described above check whether a proper error message is output when a value greater than or equal to the maximum value for the set op type is input and checks whether it is in normal operation.

단계 226에서는 테스트할 FktID가 있는지 확인하고 없는 경우에는 다음 단계 230으로 진행하고, 테스트할 FktID가 있는 경우에는 단계 228에서 잘못된 펑션 아이디를 입력하도록 하고 단계 210으로 피드백하여 새로운 테스트 메시지를 생성하도록 한다.In step 226, if there is an FktID to be tested, and if there is no FktID, the process proceeds to step 230, and if there is an FktID to be tested, an incorrect function ID is input in step 228, and feedback is sent to step 210 to generate a new test message.

단계 210으로 피드백하여 새로운 테스트 메시지가 생성되면, 단계 212~216으로 진행하여 새로운 테스트 메시지는 재송부 되고 수신되는 테스트 결과에 따라서 정상동작 여부를 판별 할 수 있다.When a new test message is generated by feeding back to step 210, the process proceeds to steps 212 to 216 where the new test message is resent and it is possible to determine whether the normal operation is performed according to the received test result.

상술한 단계 226~228은 설정된 FktID의 동작이 적정하고, 잘못된 펑션 아이디를 입력시에는 적정한 에러를 표시하는지를 체크하여 정상 동작 여부를 확인한다.In the above-described steps 226 to 228, the operation of the set FktID is appropriate, and when an incorrect function ID is input, a proper error is displayed to check whether the operation is normal.

또한 마지막으로 단계 230에서는 테스트할 FblockID가 있는지 확인하고 테스트할 FblockID가 있는 경우에는 단계 232에서 잘못된 펑션블럭 아이디가 입력되도록 하고, 단계 210으로 피드백하여 새로운 테스트 메시지를 생성하도록 한다.Finally, in step 230, the controller checks whether there is an FblockID to be tested, and if there is an FblockID to be tested, an invalid function block ID is input in step 232, and feedback to step 210 generates a new test message.

단계 210으로 피드백하여 새로운 테스트 메시지가 생성되면, 단계 212~216으로 진행하여 새로운 테스트 메시지는 모스트 전자기기에 재송부 되고 수신되는 테스트 결과에 따라서 정상동작 여부를 판별 할 수 있다.When a new test message is generated by feeding back to step 210, the process proceeds to steps 212 to 216 where the new test message is resent to the most electronic device and the normal test operation can be determined according to the received test result.

상술한 단계 230~232는 설정된 펑션 블록 아이디의 동작이 적정한지 확인하고, 잘못된 펑션 블록 아이디를 입력시에는 적정한 에러를 표시하는지를 체크하여 정상 동작 여부를 확인한다.Steps 230 to 232 described above confirm whether the operation of the set function block ID is appropriate, and when inputting the wrong function block ID, a proper error is checked to check whether it is in normal operation.

단계 234는 본 발명의 오피타입 테스트를 종료하고 옵토라이저(optolyzer)를 셧다운하고 단계 236에서 테스트 결과 정리 및 리포트를 출력하고 마친다.Step 234 terminates the opitype test of the present invention, shuts down the optolyzer and outputs and finishes the test result cleanup and report in step 236.

도 3은 본 발명의 파라메터의 설정된 최대값, 최소값을 벗어나는 값을 입력하는 경우에 적정한 에러를 출력하는지를 판별하여 정상 설치 여부를 판별할 수 있고, 모든 펑션 블록에 대한 응답을 체크. 응답시간 체크, 오피타입, 펑션블럭 아이디, 펑션 아이디의 설정치 내의 값과 설정치 이외의 값을 입력시켜서 정상 동작 여부를 정확히 판별할 수 있다.Figure 3 can determine whether or not the normal installation by outputting the appropriate error in the case of inputting a value outside the set maximum value, the minimum value of the parameter of the present invention, and checks the response to all function blocks. It is possible to accurately determine whether or not normal operation is performed by inputting a value within the set value of the response time check, op type, function block ID, and function ID and values other than the set value.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로토콜 에러 테스트를 처리하는 동작 순서도이다.4 is an operational flowchart of processing a protocol error test according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 프로토콜 에러 테스트는 잘못된 메시지를 적용하여 테스트하고, 리턴값이 에러 메시지를 출력하면 정상 작동이고, 에러 메시지를 출력하지 않는 경우 비정상 작동으로 판별하여 모스트 프로토콜이 모스트 전자기기에 적절하게 설치되고 동작하는지를 테스트한다.The protocol error test of the present invention is applied by testing the wrong message, and if the return value outputs an error message, it is normal operation. If the error message is not outputted, it is determined that it is abnormal operation. Test if it works

먼저 단계 300에서 모스트 전자기기(30)의 프로토콜 테스트를 위해서는 도 2, 3의 경우 같이 컴퓨터(10), 옵토라이저(optolyzer)(20), 모스트 전자기기(30)가 연결된다.First, for the protocol test of the most electronic device 30 in step 300, the computer 10, the optolyzer 20, and the most electronic device 30 are connected as shown in FIGS. 2 and 3.

단계 302~304에서 모스트 전자기기(30)에 설치된 FBlocks 정보를 GetFBlocks를 이용하여 수집한다.In steps 302 to 304, FBlocks information installed in the most electronic device 30 is collected using GetFBlocks.

단계 306에서는 잘못된 Fblock ID를 모스트 전자기기(30)에 제공하고, 이에 대한 리턴값이 단계 308과 같이 잘못된 Fblock ID를 수신하였음을 나타내면 Fblock ID에 대한 모스트 프로토콜 테스트가 정상이며 단계 312로 진행한다.In step 306, if the wrong Fblock ID is provided to the most electronic device 30, and the return value indicates that the wrong Fblock ID is received as in step 308, the most protocol test for the Fblock ID is normal, and the process proceeds to step 312.

단계 310은 Fblock ID에 대한 모스트 전자기기(30)의 모스트 프로토콜 테스트가 실패한 경우이다.Step 310 is a case where the most protocol test of the most electronic device 30 for the Fblock ID has failed.

단계 312에서는 잘못된 Inst ID를 모스트 전자기기(30)에 제공하고 이에 대한 리턴값이 단계 314와 같이 잘못된 instID를 수신하였음을 나타내면 instID에 대한 모스트 프로토콜 테스트가 정상이며 단계 318로 진행한다.In step 312, if the wrong Inst ID is provided to the most electronic device 30, and the return value indicates that the wrong instID is received as shown in step 314, the most protocol test for the instID is normal, and the flow proceeds to step 318.

단계 316은 instID에 대한 모스트 전자기기(30)의 모스트 프로토콜 테스트가 실패한 경우이다.Step 316 is when the most protocol test of the most electronic device 30 for instID fails.

단계 318에서는 잘못된 FktID를 모스트 전자기기(30)에 제공하고 이에 대한 리턴값이 단계 320과 같이 잘못된 FktID를 수신하였음을 나타내면 FktID에 대한 모스트 프로토콜 테스트 결과는 정상임을 나타내는 것이다.In step 318, if the wrong FktID is provided to the most electronic device 30, and the return value indicates that the wrong FktID is received as in step 320, the result of the most protocol test for the FktID is normal.

단계 322는 FktID에 대한 모스트 전자기기(30)의 모스트 프로토콜 테스트가 실패한 경우이다.Step 322 is a case where the most protocol test of the most electronic device 30 for the FktID fails.

다음으로 단계 324는 잘못된 오피타입(OP type)을 모스트 전자기기(30)에 제공하고 이에 대한 리턴값이 단계 326과 같이 잘못된 오피타입(OP type)을 수신하였음을 나타내면 오피타입(OP type)에 대한 모스트 프로토콜 테스트 결과는 정상임을 나타내는 것이다.Next, in step 324, if the wrong OP type is provided to the most electronic device 30, and the return value thereof indicates that the wrong OP type is received as in step 326, the OP type is returned to the OP type. Most protocol test results are indicative of normal.

단계 328은 오피타입(OP type)에 대한 모스트 전자기기(30)의 모스트 프로토콜 테스트가 실패한 경우이다.Step 328 is when the most protocol test of the most electronic device 30 for the OP type has failed.

단계 330은 잘못된 파라메터와 명령어를 모스트 전자기기(30)에 제공하고 이에 대한 리턴값이 단계 332와 같이 잘못된 파라메터를 수신하였음을 나타내면 잘못된 파라메터에 대한 모스트 프로토콜 테스트 결과는 정상임을 나타내는 것이다.In step 330, if the wrong parameter and command are provided to the most electronic device 30, and the return value indicates that the wrong parameter is received as in step 332, the result of the most protocol test on the wrong parameter is normal.

단계 334와 같이 에러를 표시하는 경우에는 잘못된 파라메터에 대한 모스트 전자기기(30)의 모스트 프로토콜 테스트가 실패한 경우이다.If the error is displayed as shown in step 334, the most protocol test of the most electronic device 30 for the wrong parameter has failed.

또한 단계 336에서는 더 테스트할 파라메터가 있으면 단계 338로 진행하여 파라메터를 증가시키고 상술한 단계 330으로 피드백 하여 프로토콜 테스트를 실시하도록 한다.In addition, in step 336, if there are parameters to be tested further, the process proceeds to step 338 to increase the parameters and feed back to the aforementioned step 330 to perform a protocol test.

단계 340에서는 더 테스트할 오피 타입이 있으면 단계 342로 진행하여 오피타입을 증가시키고 상술한 단계 324로 피드백 하여 프로토콜 테스트를 실시하도록 한다.In step 340, if there is an op type to be tested further, the process proceeds to step 342 to increase the op type and feedback to step 324 described above to perform a protocol test.

단계 344는 더 테스트할 FktID가 있는 경우에는 단계 346으로 진행하여 FktID를 증가시키고 상술한 단계 318로 피드백 하여 프로토콜 테스트를 실시하도록 한다.In step 344, if there is an FktID to be tested further, the flow proceeds to step 346 to increase the FktID and feed back to the above-described step 318 to perform a protocol test.

단계 348은 더 테스트할 FBlock이 있는 경우에는 단계 350으로 진행하여 FBlock을 증가시키고 상술한 단계 318로 피드백 하여 프로토콜 테스트를 실시한다.In step 348, if there is an FBlock to be tested further, the process proceeds to step 350 to increase the FBlock and feed back to the above-described step 318 to perform a protocol test.

단계 352는 본 발명의 프로토콜 테스트의 종료 단계는 옵토라이저를 셧다운하고, 단계 354에서는 상술한 단계에서 처리한 다양한 모스트 프로토콜 테스트 결과를 디스플레이 한다.In step 352, the termination of the protocol test of the present invention shuts down the optolizer, and in step 354, the various most protocol test results processed in the above-described steps are displayed.

도 4에 나타낸 프로토콜 에러 테스트는 상응하는 에러(Error) 메세지를 발생 하는지를 체크, FBlockID, InstID, FktID, 오피타입(OPtype), 길이(length), 파라메터 타입(parameter type)에 관계된 프로토콜 에러 확인과 응답시간을 체크한다.The protocol error test shown in FIG. 4 checks whether a corresponding error message is generated, and checks and responds to protocol error related to FBlockID, InstID, FktID, OPtype, length, and parameter type. Check the time.

본 발명은 모스트 전자기기(30)가 차량용 MOST 메시지 통신 규약대로 구현되었는지 여부를 검증하는 것으로, 메시지 테스트 중점 사항으로는 응답 시간 체크(100ms), 넷블럭(Netblock) 응답 메시지 확인, 오피타입(OP type)에 따라 정확한 메시지로 응답하는지 여부, 파라메터 최소값, 최대값에 따라 올바른 메시지로 응답 유무. 잘못된 파라메터 수신은 에러 코드를 올바르게 생성하는지 유무 등을 중점적으로 테스트한다.The present invention verifies whether the most electronic device 30 is implemented according to the vehicle MOST message communication protocol, the message test focusing on the response time check (100ms), Netblock (Netblock) response message confirmation, OP type (OP) whether to respond with the correct message according to the type), whether to respond with the correct message according to the parameter minimum and maximum values. Receiving incorrect parameters will mainly test whether the error code is generated correctly.

본 발명을 구현하기 위한 필요 기술로는 옵토라이저(optolyzer) 장치 제어 기술(UART), 상위 어플리케이션을 이용한 xml파일 파싱 기술, 모스트 프로토콜(MOST Protocol)과 메시지 제어 기술, 전원 공급 장치 제어 기술, PC 기반 상위 어플리케이션 HMI 기술 및 리포트 기술 등이 필요하다.Necessary techniques for implementing the present invention include optolyzer device control technology (UART), xml file parsing technology using higher level applications, MOST protocol and message control technology, power supply control technology, and PC-based technology. Advanced application HMI technology and report technology are required.

지금까지 본 발명의 실시 예의 구성 및 동작에 대해 설명하였다. 본 발명은 상술한 실시 예에 한정되지 않으며, 본 발명의 범위를 벗어나지 않는 한도 내에서 다양한 변형을 가할 수 있다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며 특허청구범위뿐만 아니라 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.So far, the configuration and operation of the embodiment of the present invention have been described. The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be defined not only by the claims but also by the equivalents of the claims.

도 1은 본 발명의 모스트 전자기기를 확인하는 기능테스트 장치의 개략도.1 is a schematic diagram of a functional test apparatus for identifying the most electronic device of the present invention.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 넷블럭 테스트를 처리하는 동작 순서도.2 is an operational flowchart of processing a netblock test according to an embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 오피타입 테스트를 처리하는 동작 순서도.3 is an operational flowchart of processing an opitype test according to an embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 프로토콜 에러 테스트를 처리하는 동작 순서도.4 is an operational flowchart of processing a protocol error test according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요부호에 대한 설명><Description of Major Symbols in Drawing>

10 : 컴퓨터 15 : 전원공급부 10: computer 15: power supply

20 : 옵토라이저(optolyzer) 30 : 모스트 전자기기20: optolyzer 30: Most electronic device

30 : 모스트 전자기기30: Most electronic device

Claims (8)

삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete 모스트 전자기기에 설치된 모스트 펑션블럭 파일을 컴퓨터에서 옵토라이저를 통하여 파싱하는 제 1 과정;A first step of parsing a most function block file installed in the most electronic device through an optolizer in a computer; 상기 컴퓨터에서 상기 파싱한 파일로부터 상기 모스트 전자기기의 테스트 기준을 생성하는 제 2 과정;Generating a test criterion of the most electronic device from the file parsed by the computer; 상기 컴퓨터에서 상기 모스트 전자기기에 설치되는 넷블럭 기본 펑션을 체크하는 제 3 과정;A third step of checking a netblock basic function installed in the most electronic device in the computer; 모스트 전자기기에 장착된 펑션 블록에 대한 응답을 체크하고 파라메터들의 최대, 최소값 반응을 확인하는 오피 타입 테스트를 처리하는 제 4 과정; 및A fourth step of checking an answer to a function block mounted to the most electronic device and processing an opi type test for checking maximum and minimum value responses of parameters; And 상기 모스트 전자기기에서 에러 메시지의 출력, 프로토콜 에러의 반응, 응답시간을 체크하는 모스트 프로토콜 테스트를 처리하는 제 5 과정을 포함함을 특징으로 하는 차량용 모스트 전자기기 테스트 방법.And a fifth process of processing a most protocol test for checking an output of an error message, a response of a protocol error, and a response time in the most electronic device. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 넷블럭 기본함수를 체크하는 것은,Checking the netblock basic function, 모스트 전자기기에 설치된 펑션블럭(Fuction block)은 어떠한 것이 있는지 펑션블럭(Fbolcks) 정보를 수집하는 단계;Collecting a function block information of a function block installed in the most electronic device; InstID의 증가, 설정과 확인을 하고 DeviceInfoID를 체크하고 응답이 맞는지 확인하는 단계;Increasing, setting, and checking the InstID, checking the DeviceInfoID, and confirming that the response is correct; 상기 모스트 전자기기에 장착된 디바이스의 노드 포지션 어드레스 정보를 체크 확인하는 단계;Checking and confirming node position address information of a device mounted in the most electronic device; 상기 모스트 전자기기에 장착된 디바이스의 로지컬 노드 어드레스 정보를 체크 확인하는 단계;Checking and verifying logical node address information of a device mounted on the most electronic device; 상기 모스트 전자기기에 장착된 디바이스의 그룹 어드레스 정보를 체크 확인하는 단계;Checking and checking group address information of a device mounted in the most electronic device; 상기 모스트 전자기기에 장착된 디바이스의 네트워크에 대한 어빌리티투웨이크(Abilitytowake) 정보를 체크 확인하는 단계;Checking and checking Ability to wake information on a network of a device mounted on the most electronic device; 상기 모스트 전자기기에 장착된 디바이스의 소스핸들(SourceHandle) 정보를 체크 확인하는 단계; 및Checking and checking source handle information of a device mounted on the most electronic device; And 셧 다운 리퀘스트(shut down request)동안의 처리에 대한 정보를 확인하고, 다양한 펑션블럭에 대한 넷블럭 테스트 결과를 확인하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 차량용 모스트 전자기기 테스트 방법. Verifying information on processing during a shut down request and verifying the netblock test results for the various function blocks. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 오피 타입 테스트를 처리하는 것은,Handling the op type test is 상기 모스트 전자기기에 설치된 펑션블럭(Fbolcks) 정보를 수집하고 FktID 정보, 오피타입, 파라메터의 정보를 수집하는 단계;Collecting function block (Fbolcks) information installed in the most electronic device and collecting information of FktID information, office type, and parameters; 상기 수집된 정보를 기준으로 테스트 메시지를 생성하고 상기 테스트 메시지를 송부하여 응답값을 요청하는 단계;Generating a test message based on the collected information and requesting a response value by sending the test message; 상기 모스트 전자기기에서 리턴한 테스트 메시지가 적정한지를 체크 확인하고 단계;Checking and checking whether a test message returned from the most electronic device is appropriate; 테스트할 파라메터가 있는 경우 최소값 이하나, 최대값 이상의 값을 지정하여 새로운 테스트 메시지를 생성하고 송부하여 응답값을 수신 체크하는 단계;Receiving and checking response values by generating and sending a new test message by specifying a value less than the minimum value or more than the maximum value when there is a parameter to be tested; 상기 테스트할 오피타입이 있는 경우에는 최대치 이상을 가지는 상기 오피타입을 지정하여 상기 새로운 테스트 메시지를 생성하고 송부하여 응답값을 수신 체크하는 단계; 및If there is an opitype to be tested, specifying the opitype having a maximum value or more to generate and send the new test message to check and receive a response value; And 테스트할 FktID와 테스트할 FblockID에 대하여도 상기 새로운 테스트 메시지를 생성하고 송부하여 응답값을 수신 체크하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 차량용 모스트 전자기기 테스트 방법.And generating and sending the new test message for the FktID to be tested and the FblockID to be tested to receive and check the response value. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 모스트 프로토콜 테스트를 처리하는 것은,To handle most protocol tests, 모스트 전자기기에 설치된 펑션블럭(Fuction block) 정보를 수집하는 단계;Collecting function block information installed in the most electronic device; 비정상적인 Fblock ID를 상기 모스트 전자기기에 제공하고 응답을 수신하여 정상여부를 체크하는 단계;Providing an abnormal Fblock ID to the most electronic device and receiving a response to check whether it is normal; 비정상적인 Inst ID를 상기 모스트 전자기기에 제공하고 응답을 수신하여 정상여부를 체크하는 단계;Providing an abnormal Inst ID to the most electronic device and receiving a response to check whether it is normal; 비정상적인 FktID를 상기 모스트 전자기기에 제공하고 응답을 수신하여 정상여부를 체크하는 단계;Providing an abnormal FktID to the most electronic device and receiving a response to check whether it is normal; 비정상적인 오피타입(OP type)을 상기 모스트 전자기기에 제공하고 응답을 수신하여 정상여부를 체크하는 단계;Providing an abnormal OP type to the most electronic device and receiving a response to check whether it is normal; 비정상적인 파라메터를 상기 모스트 전자기기에 제공하고 응답을 수신하여 정상여부를 체크하는 단계; 및Providing an abnormal parameter to the most electronic device and receiving a response to check whether it is normal; And 더 테스트할 파라메터, 오피 타입, FktID, FblockID가 있는 경우 상기 비정상적인 값을 적용하여 정상 작동 여부를 체크하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 차량용 모스트 전자기기 테스트 방법.And if there are parameters to be tested, opi type, FktID, and FblockID, checking whether or not normal operation is performed by applying the abnormal value.
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