KR100891303B1 - Latency controlling circuit of semiconductor memory device - Google Patents

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KR100891303B1
KR100891303B1 KR1020070135571A KR20070135571A KR100891303B1 KR 100891303 B1 KR100891303 B1 KR 100891303B1 KR 1020070135571 A KR1020070135571 A KR 1020070135571A KR 20070135571 A KR20070135571 A KR 20070135571A KR 100891303 B1 KR100891303 B1 KR 100891303B1
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주용석
조주환
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주식회사 하이닉스반도체
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Abstract

A latency control circuit of a semiconductor memory device is provided to count clocks for CAS latency after delay corresponding to additive latency to delay a delayed signal corresponding to the CAS latency again and remove an unnecessary count operation before additive latency to reduce current consumption. An additive latency control unit(20) delays an input signal used for data access control correspondingly to preset additive latency to output a delay input signal. A CAS latency command controller(30) counts clock signals from the point of time when the delay input signal is inputted. The delay input signal up to a signal corresponding to the preset CAS latency among the counted signals is delayed to output the delay output signal. A CAS latency controller is comprised of an edge-trigger type counter unit, a toggling controller, and a CAS latency counter unit.

Description

반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로{LATENCY CONTROLLING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE}LATENCY CONTROLLING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE}

본 발명은 반도체 메모리 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 애디티브 레이턴시와 카스 레이턴시를 제어하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor memory device, and more particularly, to a latency control circuit of a semiconductor memory device that controls additive latency and cascade latency.

일반적으로, 반도체 메모리 장치는 커맨드가 인가된 후 몇 클럭 이후에 데이터를 내보낼 것인가를 규정하는 카스 레이턴시(CAS Latency : CL)와, 데이터 버스의 효율을 높이기 위하여 tRCD_min(Minimun Ras to Cas Delay) 이전에도 리드/라이트 커맨드 및 어드레스가 인가될 수 있도록 규정하는 애디티브 레이턴시(Additive Latency : AL)를 채택하고 있다.In general, the semiconductor memory device has a CAS latency (CL) that defines how many clocks after the command is applied, and even before tRCD_min (Minimun Ras to Cas Delay) to improve the efficiency of the data bus. Additive Latency (AL) is adopted to specify that read / write commands and addresses can be applied.

특히, DDR2 스펙(Specification)에서는 도 1의 (a)에 도시된 바와 같이, 라이트 동작시 라이트 커맨드 WT가 입력된 후 'AL+CL-1' 이후에 데이터 입력(DATA IN)이 이루어지고, 도 1의 (b)에 도시된 바와 같이, 리드 동작시 리드 커맨드 RD가 입력된 후 'AL+CL' 이후에 데이터가 출력(DATA OUT)되도록 규정되어 있다.In particular, in the DDR2 specification, as shown in (a) of FIG. 1, after the write command WT is input during the write operation, data input DATA IN is performed after 'AL + CL-1'. As shown in 1 (b), data is outputted after "AL + CL" after the read command RD is input during the read operation.

즉, 라이트 커맨드 WT가 입력되면, 반도체 메모리 장치의 내부에서는 'AL+CL-1'의 클럭 CLK 토글링(Toggling) 시간 동안 현재 입력 신호, 예를 들어, 어드레스 및 커맨드 등이 유지되고 있다가, 'AL+CL-1'이 된 시점에서 상기 유지된 신호가 데이터 입력과 같이 사용된다.That is, when the write command WT is input, the current input signal, for example, an address and a command, is held in the semiconductor memory device during the clock CLK toggle time of 'AL + CL-1'. At the time point 'AL + CL-1', the held signal is used together with the data input.

이러한 라이트 동작을 위해, 일반적인 반도체 메모리 장치에는 애디티브 레이턴시에 대응되게 클럭 CLK을 카운트하기 위한 카운터와 카스 레이턴시에 대응되게 클럭 CLK을 카운트하기 위한 카운터가 구비된다. 참고로, 리드 동작시 카스 레이턴시는 라이트 동작과 달리 출력 인에이블 신호에 의해 제어되므로, 이러한 카스 레이턴시를 위한 카운터 동작이 불필요하다.For such a write operation, a general semiconductor memory device includes a counter for counting the clock CLK corresponding to the additive latency and a counter for counting the clock CLK corresponding to the cas latency. For reference, unlike the write operation, the cas latency is controlled by the output enable signal, so that the counter operation for the cas latency is unnecessary.

이때, 카스 레이턴시를 위한 카운터는 애디티브 레이턴스에 대응되게 지연된 커맨드 또는 어드레스가 입력되는 시점부터 기설정된 카스 레이턴시만큼만 클럭 CLK을 카운트하면 된다.In this case, the counter for cas latency needs to count the clock CLK only by a preset cas latency from the time when the delayed command or address corresponding to the additive latency is input.

하지만, 종래의 카스 레이턴시를 위한 카운터는 아무런 제어 없이 클럭 CLK이 계속 토글링하는 것에 대응하여 라이트 커맨드 또는 어드레스가 입력된 시점부터 계속 클럭 CLK을 카운트하므로 전류 소모가 큰 문제점이 있다..However, the conventional counter for cas latency has a large current consumption because the clock CLK continues to count from the time when the write command or address is input in response to the clock CLK continuously toggling without any control.

본 발명은 소정 신호를 애디티브 레이턴시에 대응되게 지연시킨 이후에 카스 레이턴시를 위한 클럭 카운트를 수행함으로써 전류 소모가 줄어든 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로를 제공한다.The present invention provides a latency control circuit of a semiconductor memory device in which current consumption is reduced by performing a clock count for cas latency after delaying a predetermined signal corresponding to the additive latency.

또한, 본 발명은 카스 레이턴시를 위하여 반도체 메모리 장치가 지원하는 최대 카스 레이턴시만큼만 클럭을 카운트함으로써 전류 소모가 줄어든 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로를 제공한다.In addition, the present invention provides a latency control circuit of a semiconductor memory device in which current consumption is reduced by counting a clock only by the maximum cas latency supported by the semiconductor memory device for cascade latency.

본 발명의 일면에 따른 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로는, 데이터 액세스 제어에 이용되는 입력 신호를 기설정된 애디티브 레이턴시에 대응되게 지연시켜 지연 입력 신호로 출력하는 애디티브 레이턴시 제어부; 및 클럭 신호를 상기 지연 입력 신호가 입력된 시점부터 카운트하고, 상기 카운트된 신호들 중 기설정된 카스 레이턴시에 대응되는 신호까지 상기 지연 입력 신호를 지연시켜 지연 출력 신호로 출력하는 카스 레이턴시 제어부;를 포함함을 특징으로 한다.According to an aspect of an exemplary embodiment, a latency control circuit of a semiconductor memory device may include an additive latency controller configured to delay an input signal used for data access control to correspond to a predetermined additive latency and output the delayed input signal as a delayed input signal; And a cas latency controller that counts a clock signal from a time point at which the delay input signal is input and delays the delay input signal to a signal corresponding to a preset cas latency among the counted signals and outputs the delayed output signal as a delayed output signal. It is characterized by.

여기서, 상기 입력 신호는 커맨드 신호와 어드레스 신호 중 어느 하나임이 바람직하다.The input signal may be any one of a command signal and an address signal.

상기 카스 레이턴시 제어부는, 상기 지연 입력 신호가 입력되는 상기 클럭 신호의 에지에서 소정 시점까지 상기 클럭 신호를 카운트하는 에지 트리거형 카운터부; 상기 클럭 신호를 입력받아서, 상기 지연 입력 신호가 입력되는 시점부터 상 기 소정 시점에 대응되게 카운트된 신호가 발생하는 시점까지 상기 클럭 신호를 토글링시키는 토글링 제어부; 및 상기 클럭 토글링 제어부에서 토글링 구간이 제어된 클럭을 카운트하고, 상기 카운트된 신호들 중 상기 기설정된 카스 레이턴시에 대응되는 신호까지 상기 지연 입력 신호를 지연시켜 상기 지연 출력 신호로 출력하는 카스 레이턴시 카운터부;를 포함함이 바람직하다.The cas latency controller may include: an edge triggered counter unit configured to count the clock signal from an edge of the clock signal to which the delay input signal is input to a predetermined time point; A toggle control unit for receiving the clock signal and toggling the clock signal from a time point at which the delay input signal is input to a time point at which a signal counted corresponding to the predetermined time point is generated; And a clock latency in which the clock toggle control unit counts a clock whose toggling period is controlled and delays the delay input signal to a signal corresponding to the preset cas latency among the counted signals and outputs the delayed output signal as the delayed output signal. It is preferable to include a counter.

여기서, 상기 소정 시점은 상기 클럭 신호를 반도체 메모리 장치가 지원하는 최대 카스 레이턴시에 대응됨이 바람직하다.The predetermined time may correspond to a maximum cas latency in which the clock signal is supported by a semiconductor memory device.

상기 카스 레이턴시 제어부의 구성에서, 상기 에지 트리거형 카운터부는, 상기 지연 입력 신호의 입력에 대응하여 리셋 신호를 발생하는 에지 트리거부; 및 상기 리셋 신호가 발생하는 상기 클럭 신호의 에지에서부터 상기 클럭 신호를 카운트하는 카운터부;를 포함함이 바람직하다.In the configuration of the cas latency controller, the edge trigger type counter includes: an edge trigger for generating a reset signal in response to the input of the delay input signal; And a counter unit for counting the clock signal from an edge of the clock signal at which the reset signal is generated.

그리고, 상기 토글링 제어부는, 상기 지연 입력 신호의 입력에 대응하여 인에이블되고 상기 소정 시점에 대응되게 카운트된 신호의 입력에 대응하여 디스에이블되는 클럭 제어 신호를 발생하는 클럭 제어 신호 발생부; 및 상기 클럭 제어 신호의 인에이블 구간 동안 상기 클럭 신호를 토글링시켜 출력하는 클럭 출력부;를 포함함이 바람직하다.The toggling control unit may further include a clock control signal generation unit configured to generate a clock control signal enabled in response to the input of the delayed input signal and disabled in response to the input of a signal counted corresponding to the predetermined time point; And a clock output unit which toggles the clock signal and outputs the clock signal during the enable period of the clock control signal.

상기 토글링 제어부의 구성에서, 상기 클럭 제어 신호 발생부는, 상기 지연 입력 신호에 응답하여 풀 다운 구동하고 상기 최대 카스 레이턴시만큼 카운트된 신호에 응답하여 풀 다운 구동하는 구동부; 및 상기 구동부의 출력을 래치하여 상기 클럭 제어 신호로 출력하는 래치부;를 포함함이 바람직하다.In the configuration of the toggling control unit, the clock control signal generation unit, a pull-down driving in response to the delay input signal and a pull-down driving in response to the signal counted by the maximum cascade latency; And a latch unit for latching an output of the driver to output the clock control signal.

또한, 상기 클럭 출력부는 상기 클럭 제어 신호와 상기 클럭 신호를 논리 조합하여 상기 클럭 제어 신호가 인에이블 상태인 동안 상기 클럭 신호와 동일한 논리 레벨을 갖는 클럭을 출력함이 바람직하다.The clock output unit may logically combine the clock control signal and the clock signal to output a clock having the same logic level as the clock signal while the clock control signal is in an enabled state.

본 발명의 다른 일면에 따른 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로는, 클럭 신호를 반도체 메모리 장치가 지원하는 최대 카스 레이턴시만큼 카운트하고, 데이터 액세스 제어에 이용되는 입력 신호와 상기 최대 카스 레이턴시에 대응되게 카운트된 신호로써 상기 클럭 신호의 토글링을 제어하는 클럭 제어부; 및 상기 클럭 제어부에서 토글링이 제어된 상기 클럭 신호를 카운트하고, 상기 카운트된 신호들 중 기설정된 카스 레이턴시에 대응되는 신호까지 상기 입력 신호를 지연시켜 지연 출력 신호로 출력하는 카스 레이턴시 카운터부;를 포함함을 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, a latency control circuit of a semiconductor memory device may count a clock signal by a maximum cas latency supported by the semiconductor memory device, and count the clock signal corresponding to an input signal used for data access control and the maximum cas latency. A clock controller which controls the toggling of the clock signal as a signal; And a cas latency counter that counts the clock signal controlled by the clock controller and delays the input signal to a signal corresponding to a preset cas latency among the counted signals and outputs the delayed output signal as a delay output signal. It is characterized by including.

여기서, 상기 입력 신호는 커맨드 신호와 어드레스 신호 중 어느 하나임이 바람직하다.The input signal may be any one of a command signal and an address signal.

그리고, 상기 커맨드 신호는 외부에서 입력된 커맨드가 기설정된 애디티브 레이턴시에 대응하여 지연된 신호이고, 상기 어드레스 신호는 외부에서 입력된 어드레스가 상기 기설정된 애디티브 레이턴시에 대응하여 지연된 신호임이 바람직하다.The command signal may be a signal in which an externally input command is delayed in response to a preset additive latency, and the address signal is a signal in which an externally input address is delayed in response to the preset additive latency.

상기 클럭 제어부는, 상기 입력 신호가 입력되는 상기 클럭 신호의 에지에서 상기 최대 카스 레이턴시만큼 상기 클럭 신호를 카운트하는 에지 트리거형 카운터부; 및 상기 클럭 신호를 입력받아서, 상기 입력 신호가 입력되는 시점부터 상기 최대 카스 레이턴시에 대응되게 카운트된 신호가 발생하는 시점까지 상기 클럭 신호를 토글링시키는 토글링 제어부;를 포함함이 바람직하다.The clock control unit may include: an edge triggered counter unit for counting the clock signal by the maximum cas latency at an edge of the clock signal to which the input signal is input; And a toggle control unit for receiving the clock signal and toggling the clock signal from a time point at which the input signal is input to a time point at which a signal counted corresponding to the maximum cas latency occurs.

상기 클럭 제어부의 구성에서, 상기 에지 트리거형 카운터부는, 상기 입력 신호의 입력에 대응하여 리셋 신호를 발생하는 에지 트리거부; 및 상기 리셋 신호가 발생하는 상기 클럭 신호의 에지에서부터 상기 최대 카스 레이턴시만큼 상기 클럭 신호를 카운트하는 카운터부;를 포함함이 바람직하다.In the configuration of the clock control unit, the edge trigger type counter unit, an edge trigger unit for generating a reset signal in response to the input of the input signal; And a counter unit for counting the clock signal by the maximum cas latency from an edge of the clock signal where the reset signal is generated.

그리고, 상기 토글링 제어부는, 상기 입력 신호의 입력에 대응하여 인에이블되고 상기 최대 카스 레이턴시만큼 카운트된 신호의 입력에 대응하여 디스에이블되는 클럭 제어 신호를 발생하는 클럭 제어 신호 발생부; 및 상기 클럭 제어 신호의 인에이블 구간 동안 상기 클럭 신호를 토글링시켜 출력하는 클럭 출력부;를 포함함이 바람직하다.The toggling control unit may further include a clock control signal generation unit configured to generate a clock control signal that is enabled in response to an input of the input signal and is disabled in response to an input of a signal counted by the maximum cascade latency; And a clock output unit which toggles the clock signal and outputs the clock signal during the enable period of the clock control signal.

상기 토글링 제어부의 구성에서, 상기 클럭 제어 신호 발생부는, 상기 입력 신호에 응답하여 풀 다운 구동하고 상기 최대 카스 레이턴시만큼 카운트된 신호에 응답하여 풀 다운 구동하는 구동부; 및 상기 구동부의 출력을 래치하여 상기 클럭 제어 신호로 출력하는 래치부;를 포함함이 바람직하다.In the configuration of the toggling control unit, the clock control signal generation unit, a pull-down driving in response to the input signal and a pull-down driving in response to the signal counted by the maximum cascade latency; And a latch unit for latching an output of the driver to output the clock control signal.

또한, 상기 클럭 출력부는 상기 클럭 제어 신호와 상기 클럭 신호를 논리 조합하여 상기 클럭 제어 신호가 인에이블 상태인 동안 상기 클럭 신호와 동일한 논리 레벨을 갖는 클럭을 출력함이 바람직하다.The clock output unit may logically combine the clock control signal and the clock signal to output a clock having the same logic level as the clock signal while the clock control signal is in an enabled state.

본 발명은 소정 신호가 애디티브 레이턴시에 대응되게 지연된 이후에 카스 레이턴시를 위한 클럭 카운트를 수행하여 상기 지연된 신호를 카스 레이턴시에 대응되게 다시 지연시킴으로써, 애디티브 레이턴시 이전의 불필요한 카운트 동작을 제거하여 전류 소모가 줄어들 수 있는 효과가 있다.The present invention performs a clock count for cas latency after the predetermined signal is delayed corresponding to the additive latency, and delays the delayed signal again to correspond to the cas latency, thereby eliminating unnecessary count operation before the additive latency. There is an effect that can be reduced.

또한, 본 발명은 소정 신호를 카스 레이턴시에 대응되게 지연시킬 때, 반도체 메모리 장치가 지원하는 최대 카스 레이턴시까지만 클럭을 카운트함으로써, 카스 레이턴시 이후 불필요한 카운트 동작을 제거하여 전류 소모가 줄어들 수 있는 효과가 있다.In addition, when the predetermined signal is delayed corresponding to the cas latency, the clock is counted only up to the maximum cas latency supported by the semiconductor memory device, thereby eliminating unnecessary count operations after the cas latency, thereby reducing current consumption. .

본 발명은 소정 신호가 애디티브 레이턴시에 대응되게 지연된 이후 반도체 메모리 장치가 지원하는 최대 카스 레이턴시만큼 클럭 신호를 카운트하고, 상기 카운트된 신호들 중 기설정된 카스 레이턴시에 대응되는 신호까지 상기 지연된 신호를 다시 지연시키는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로를 개시한다.According to an embodiment of the present invention, after a predetermined signal is delayed corresponding to an additive latency, the clock signal is counted by the maximum cas latency supported by the semiconductor memory device, and the delayed signal is returned to a signal corresponding to a preset cas latency among the counted signals. A latency control circuit of a semiconductor memory device for delaying is disclosed.

구체적으로, 본 발명에 따른 반도체 메모리 장치는, 도 2에 도시된 바와 같이, 커맨드 디코더(10), 애디티브 레이턴시 커맨드 제어부(20), 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30), 애디티브 레이턴시 어드레스 제어부(40), 카스 레이턴시 어드레스 제어부(50), 스테이트 머신(60), 및 메모리 셀부(70)를 포함한다.Specifically, as shown in FIG. 2, the semiconductor memory device according to the present invention includes the command decoder 10, the additive latency command controller 20, the cascade latency command controller 30, and the additive latency address controller 40. ), The CAS latency address control unit 50, the state machine 60, and the memory cell unit 70.

커맨드 디코더(10)는 데이터 액세스 제어를 위해 외부에서 입력되는 커맨드 CMD를 디코딩하며, 외부 커맨드 CMD가 라이트 커맨드인 경우 라이트 커맨드 신호 WT_CMD로 출력한다.The command decoder 10 decodes a command CMD input externally for data access control, and outputs the write command signal WT_CMD when the external command CMD is a write command.

그리고, 애디티브 레이턴시 커맨드 제어부(20)는 커맨드 디코더(10)에서 출 력된 라이트 커맨드 신호 WT_CMD를 입력받아서, 라이트 커맨드 신호 WT_CMD가 입력된 클럭 신호 CLK의 에지를 기준으로 기설정된 애디티브 레이턴시 AL에 대응되게 라이트 커맨드 신호 WT_CMD를 지연시켜 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL로 출력한다.The additive latency command control unit 20 receives the write command signal WT_CMD output from the command decoder 10 and corresponds to the additive latency AL preset based on the edge of the clock signal CLK to which the write command signal WT_CMD is input. The write command signal WT_CMD is delayed and output as the delayed write command signal WT_AL.

이를 위해, 애디티브 레이턴시 커맨드 제어부(20)는 클럭 신호 CLK를 카운트하고, 상기 카운트된 신호들 중 기설정된 애디티브 레이턴시 AL에 대응되는 신호에 동기되게 라이트 커맨드 신호 WT_CMD를 지연시켜 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL로 출력한다.To this end, the additive latency command control unit 20 counts the clock signal CLK and delays the write command signal WT_CMD in synchronization with a signal corresponding to a predetermined additive latency AL of the counted signals to delay the write command signal WT_AL. Will output

그리고, 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30)는 애디티브 레이턴시 커맨드 지연부(20)에서 출력된 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL를 입력받아서, 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL가 입력된 클럭 신호 CLK의 에지를 기준으로 기설정된 카스 레이턴시 CL에 대응되게 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL를 지연시켜 지연 라이트 커맨드 신호 WT_D로 출력한다. 여기서, 기설정된 카스 레이턴시 CL는 라이트 동작시 'CL-1'에 대응됨이 바람직하다.The CAS latency command control unit 30 receives the delay write command signal WT_AL output from the additive latency command delay unit 20, and the CAS pre-set based on the edge of the clock signal CLK to which the delay write command signal WT_AL is input. The delay write command signal WT_AL is delayed and output as the delay write command signal WT_D corresponding to the latency CL. Here, it is preferable that the preset CAS latency CL corresponds to 'CL-1' during the write operation.

이를 위해, 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30)는 클럭 신호 CLK를 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL가 입력된 시점부터 소정 시점까지 카운트하고, 상기 카운트된 신호들 중 기설정된 카스 레이턴시 CL에 대응되는 신호에 동기되게 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL를 지연시켜 지연 라이트 커맨드 신호 WT_D로 출력한다. 여기서, 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30)는 반도체 메모리 장치가 지원하는 최대 카스 레이턴시까지 클럭 신호 CLK를 카운트함이 바람직하다.To this end, the CAS latency command controller 30 counts the clock signal CLK from a time point at which the delay write command signal WT_AL is input to a predetermined time point, and delays the clock signal CLK in synchronization with a signal corresponding to a preset CAS latency CL among the counted signals. The write command signal WT_AL is delayed and output as the delayed write command signal WT_D. Here, it is preferable that the cas latency command controller 30 counts the clock signal CLK until a maximum cas latency supported by the semiconductor memory device.

한편, 애디티브 레이턴시 어드레스 제어부(40)는 데이터 액세스 제어에 이용되는 어드레스 신호 ADDR를 입력받아서, 어드레스 신호 ADDR가 입력된 클럭 신호 CLK의 에지를 기준으로 기설정된 애디티브 레이턴시 AL에 대응되게 어드레스 신호 ADDR를 지연시켜 지연 어드레스 신호 ADDR_AL로 출력한다. 여기서, 애디티브 레이턴시 어드레스 제어부(40)는 입력받는 신호만 다르고 애디티브 레이턴시 커맨드 제어부(20)와 동일한 구성 및 동작을 갖는다.On the other hand, the additive latency address control unit 40 receives the address signal ADDR used for data access control, and the address signal ADDR corresponds to the additive latency AL preset based on the edge of the clock signal CLK to which the address signal ADDR is input. Delay to output the delay address signal ADDR_AL. Here, the additive latency address control unit 40 differs only from an input signal and has the same configuration and operation as the additive latency command control unit 20.

그리고, 카스 레이턴시 어드레스 제어부(50)는 지연 어드레스 신호 ADDR_AL를 입력받아서, 지연 어드레스 신호 ADDR_AL가 입력된 클럭 신호 CLK의 에지를 기준으로 기설정된 카스 레이턴시 CL에 대응되게 지연 어드레스 신호 ADDR_AL를 지연시켜 지연 어드레스 신호 ADDR_D로 출력한다. 여기서, 카스 레이턴시 어드레스 제어부(40)는 입력받는 신호만 다르고 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30)와 동일한 구성 및 동작을 갖는다.The cascade latency address control section 50 receives the delay address signal ADDR_AL, and delays the delay address signal ADDR_AL corresponding to the cascade latency CL preset based on the edge of the clock signal CLK to which the delay address signal ADDR_AL is input. Output with the signal ADDR_D. Here, the CAS latency address controller 40 is different from the received signal and has the same configuration and operation as the CAS latency command controller 30.

이와 같이 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30)에서 출력된 지연 라이트 커맨드 신호 WT_D와 카스 레이턴시 어드레스 제어부(50)에서 출력된 지연 어드레스 신호 ADDR_D는 데이터 DATA와 함께 스테이트 머신(60)으로 입력되고, 스테이트 머신(60)는 이들 WT_D, ADDR_D, DATA을 이용하여 내부 제어 신호 CTRL를 생성한다. 여기서, 내부 제어 신호 CTRL는 내부 명령 신호, 로우 어드레스, 컬럼 어드레스, 입력 스트로브 신호, 파이프 입력 스트로브 신호, 및 파이프 출력 제어 신호 등을 포함한 신호이다.In this manner, the delay write command signal WT_D output from the cas latency command controller 30 and the delay address signal ADDR_D output from the cas latency command controller 50 are input to the state machine 60 together with the data DATA, and the state machine 60 ) Generates internal control signals CTRL using these WT_D, ADDR_D, and DATA. Here, the internal control signal CTRL is a signal including an internal command signal, a row address, a column address, an input strobe signal, a pipe input strobe signal, a pipe output control signal, and the like.

그리고, 메모리 셀부(70)에서는 스테이트 머신(60)에서 생성된 제어 신호 CTRL에 의해 데이터가 메모리 셀에 저장하거나, 메모리 셀에 저장된 데이터가 출력되는 등의 메모리 동작이 이루어진다.The memory cell unit 70 performs a memory operation such that data is stored in the memory cell or data stored in the memory cell is output by the control signal CTRL generated by the state machine 60.

이러한 구성을 갖는 본 발명에 따른 반도체 메모리 장치는 라이트 동작시 라이트 커맨드 신호 WT_CMD와 어드레스 신호 ADDR를 기설정된 애디티브 레이턴시 및 카스 레이턴시, 즉, 'AL+CL-1'에 대응되게 지연시켜 스테이트 머신(60)으로 제공하며, 이때 카스 레이턴시를 위해 클럭 신호 CLK를 카운트할 때 클럭 신호 CLK의 소정 구간에서만 카운트하여 전류 소모를 줄이는 효과가 있다.According to the semiconductor memory device having the above-described configuration, the write command signal WT_CMD and the address signal ADDR may be delayed to correspond to a predetermined additive latency and a cascade latency, that is, 'AL + CL-1' during a write operation. 60). In this case, when the clock signal CLK is counted for cas latency, the current signal is reduced only by counting only a predetermined section of the clock signal CLK.

이러한 카스 레이턴시 제어는 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30)와 카스 레이턴시 어드레스 제어부(50)를 통하여 이루어지며, 그 구성을 도 3을 참조하여 구체적으로 살펴보면 아래와 같다. 참고로, 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30)와 카스 레이턴시 어드레스 제어부(50)는 서로 동일한 구성을 가지므로, 설명의 편의상 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30)의 구성만 상세히 살펴보기로 한다.The CAS latency control is performed through the CAS latency command controller 30 and the CAS latency address controller 50. The configuration thereof will be described below with reference to FIG. 3. For reference, since the CAS latency command controller 30 and the CAS latency address controller 50 have the same configuration, only the configuration of the CAS latency command controller 30 will be described in detail for convenience of description.

도 3을 참조하면, 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30)는 클럭 제어부(300)와 카스 레이턴시 카운터부(400)를 포함하여 구성될 수 있다.Referring to FIG. 3, the CAS latency command controller 30 may include a clock controller 300 and a CAS latency counter 400.

클럭 제어부(300)는 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL가 입력되는 시점부터 소정 시점까지 클럭 신호 CLK를 카운트하고, 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL와 상기 소정 시점에 대응되게 카운트된 신호 CLK_CNT(이하, 카운트 신호 CLK_CNT라고 정의한다.)로써 클럭 신호 CLK의 토글링을 제어한다. 여기서, 상기 소정 시점은 반도체 메모리 장치가 지원하는 최대 카스 레이턴시에 대응됨이 바람직하다.The clock control unit 300 counts the clock signal CLK from a time point at which the delay write command signal WT_AL is input to a predetermined time point, and defines the delayed write command signal WT_AL and the signal CLK_CNT counted corresponding to the predetermined time point (hereinafter, referred to as a count signal CLK_CNT). Control the toggling of the clock signal CLK. The predetermined time point may correspond to a maximum cas latency supported by the semiconductor memory device.

이러한 클럭 제어부(300)는 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL가 입력되는 클럭 신호 CLK의 에지에서 상기 소정 시점까지 클럭 신호 CLK를 카운트하는 에지 트리거형 카운터부(310)와, 클럭 신호 CLK를 입력받아서 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL가 입력되는 시점부터 카운트 신호 CLK_CNT가 발생하는 시점까지 클럭 신호 CLK를 토글링시키는 토글링 제어부(320)를 포함하여 구성될 수 있다.The clock control unit 300 receives an edge trigger type counter unit 310 that counts the clock signal CLK from the edge of the clock signal CLK to which the delay write command signal WT_AL is input to the predetermined point of time, and a delay write command by receiving the clock signal CLK. And a toggling control unit 320 to toggle the clock signal CLK from the time point at which the signal WT_AL is input to the time point at which the count signal CLK_CNT occurs.

에지 트리거형 카운터부(310)는 에지 트리거부(311)와 카운터부(312)를 포함하며, 에지 트리거부(311)는 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL의 입력에 대응하여 리셋 신호 RESETB를 발생하고, 카운터부(312)는 리셋 신호 RESETB가 발생하는 클럭 신호 CLK의 에지에서부터 상기 소정 시점까지 클럭 신호 CLK를 카운트한다.The edge trigger type counter 310 includes an edge trigger 311 and a counter 312. The edge trigger 311 generates a reset signal RESETB in response to the input of the delay write command signal WT_AL. The unit 312 counts the clock signal CLK from the edge of the clock signal CLK where the reset signal RESETB occurs to the predetermined time point.

그리고, 토글링 제어부(320)는 클럭 제어 신호 발생부(321)와 클럭 출력부(322)를 포함한다.The toggling control unit 320 includes a clock control signal generator 321 and a clock output unit 322.

여기서, 클럭 제어 신호 발생부(321)는 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL의 입력에 대응하여 인에이블되고 카운트 신호 CLK_CNT의 입력에 대응하여 디스에이블되는 클럭 제어 신호 CLK_CON를 발생한다.Here, the clock control signal generator 321 generates a clock control signal CLK_CON that is enabled in response to the input of the delay write command signal WT_AL and is disabled in response to the input of the count signal CLK_CNT.

이러한 클럭 제어 신호 발생부(321)는 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL에 응답하여 풀 다운 구동하고 카운트 신호 CLK_CNT에 응답하여 풀 다운 구동하는 구동부와, 상기 구동부의 출력을 래치하여 클럭 제어 신호 CLK_CON로 출력하는 래치부를 포함한다. 여기서, 상기 구동부는 카운트 신호 CLK_CNT에 응답하여 풀 업 구동하는 PMOS 트랜지스터(PM)와, 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL에 응답하여 풀 다운 구동하는 NMOS 트랜지스터(NM)를 포함하며, 상기 래치부는 상기 구동부의 출력단과 클럭 제어 신호 CLK_CON가 출력되는 출력단 사이에 래치 구조로 연결된 두 인버 터(INV1,INV2)를 포함한다.The clock control signal generator 321 pulls down the drive in response to the delay write command signal WT_AL and pulls down the drive in response to the count signal CLK_CNT, and a latch for latching the output of the drive and outputting the clock control signal CLK_CON. Contains wealth. Here, the driving unit includes a PMOS transistor (PM) for driving pull-up in response to the count signal CLK_CNT, and an NMOS transistor (NM) for pull-down driving in response to the delay write command signal WT_AL, the latch unit output terminal of the driving unit And two inverters INV1 and INV2 connected in a latch structure between the output terminal and the output terminal to which the clock control signal CLK_CON is output.

그리고, 클럭 출력부(322)는 클럭 제어 신호 CLK_CON의 인에이블 구간 동안 클럭 신호 CLK를 토글링시켜 카스 레이턴시용 클럭 CLK_CL로 출력하며, 특히, 클럭 제어 신호 CLK_CON와 클럭 신호 CLK를 논리 조합하여 클럭 제어 신호 CLK_CON가 인에이블 상태인 동안 클럭 신호 CLK와 동일한 논리 레벨을 갖는 카스 레이턴시용 클럭 CLK_CL을 출력하는 구성을 가질 수 있다.The clock output unit 322 toggles the clock signal CLK during the enable period of the clock control signal CLK_CON and outputs the clock signal CLK_CL. In particular, the clock control signal CLK_CON and the clock signal CLK are logically combined to control the clock. While the signal CLK_CON is in the enabled state, the clock signal CLK_CL having the same logic level as the clock signal CLK may be output.

이러한 클럭 출력부(322)는 클럭 신호 CLK와 클럭 제어 신호 CLK_CON를 낸드 조합하는 낸드 게이트(NAND)와, 낸드 게이트(NAND)의 출력을 반전하여 카스 레이턴시용 클럭 CLK_CL으로 출력하는 인버터(INV3)를 포함한다.The clock output unit 322 outputs a NAND gate NAND that NAND combines the clock signal CLK and the clock control signal CLK_CON, and an inverter INV3 that inverts the output of the NAND gate to the cas latency clock CLK_CL. Include.

한편, 카스 레이턴시 카운터부(400)는 카스 레이턴시용 클럭 CLK_CL을 카운트하고, 카운트된 신호들 중 기설정된 카스 레이턴시 CL에 대응되는 신호까지 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL를 지연시켜 지연 라이트 커맨드 신호 WT_D로 출력한다.Meanwhile, the cas latency counter 400 counts the cas latency clock CLK_CL, delays the delay write command signal WT_AL to a signal corresponding to the preset cas latency CL among the counted signals, and outputs the delay write command signal WT_D as the delay write command signal WT_D. .

이러한 구성을 갖는 본 발명에 따른 반도체 메모리 장치의 동작을 도 4 및 도 5를 참조하여 살펴보면 다음과 같다.The operation of the semiconductor memory device according to the present invention having such a configuration will now be described with reference to FIGS. 4 and 5.

일 예로, 도 4에 도시된 바와 같이, 클럭 신호 CLK의 소정 라이징 에지에 동기되어 라이트 커맨드 WT가 입력되면, 커맨드 디코더(10)에서 출력된 라이트 커맨드 신호 WT_CMD가 애디티브 레이턴시 커맨드 제어부(20)에 의해 기설정된 애디티브 레이턴시 AL에 대응되게 지연되어 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL로 출력된다.For example, as illustrated in FIG. 4, when the write command WT is input in synchronization with a predetermined rising edge of the clock signal CLK, the write command signal WT_CMD output from the command decoder 10 is transmitted to the additive latency command controller 20. By the delay corresponding to the predetermined additive latency AL is output as the delay write command signal WT_AL.

그리고, 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL는 에지 트리거부(311)로 입력되어 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL의 라이징 에지에 동기되는 리셋 신호 RESETB가 발 생한다.The delay write command signal WT_AL is input to the edge trigger unit 311 to generate a reset signal RESETB synchronized with the rising edge of the delay write command signal WT_AL.

리셋 신호 RESETB가 발생함에 따라 카운터부(312)는 클럭 신호 CLK를 카운트하기 시작하여 소정 시점에서 카운트된 신호 CLK_CNT를 출력한다. 이때, 카운터부(312)는 반도체 메모리 장치가 지원하는 최대 카스 레이턴시만큼 클럭 신호 CLK를 카운트함이 바람직하다.As the reset signal RESETB occurs, the counter unit 312 starts counting the clock signal CLK and outputs the signal CLK_CNT counted at a predetermined time. In this case, it is preferable that the counter unit 312 counts the clock signal CLK by the maximum cas latency supported by the semiconductor memory device.

한편, 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AD는 클럭 제어 신호 발생부(321)로 입력되어 클럭 제어 신호 CLK_CON를 발생시키고, 이러한 클럭 제어 신호 CLK_CON는 카운트 신호 CLK_CNT가 입력되기 전까지 인에이블 상태로 래치되었다가 카운트 신호 CLK_CNT가 입력될 때 디스에이블된다.On the other hand, the delay write command signal WT_AD is input to the clock control signal generator 321 to generate the clock control signal CLK_CON. The clock control signal CLK_CON is latched in the enabled state until the count signal CLK_CNT is input, and then the count signal CLK_CNT. Is disabled when is input.

그리고, 클럭 제어 신호 CLK_CON는 클럭 신호 CLK와 함께 클럭 출력부(322)로 입력되어 클럭 신호 CLK가 클럭 제어 신호 CLK_CON의 인에이블 구간 동안만 토글링되도록 제어된다.The clock control signal CLK_CON is input to the clock output unit 322 together with the clock signal CLK to control the clock signal CLK to be toggled only during the enable period of the clock control signal CLK_CON.

이와 같이 토글링이 제어된 클럭, 즉, 카스 레이턴시용 클럭 CLK_CL은 카스 레이턴시 카운터부(400)로 입력되어 기설정된 카스 레이턴시 CL에 대응되게 지연 라이트 커맨드 신호 WT_AL가 지연되도록 제어하는데 이용된다.The clock toggling controlled as described above, that is, the cas latency clock CLK_CL is input to the cas latency counter 400 and used to control the delay write command signal WT_AL to be delayed corresponding to the preset cas latency CL.

다른 동작 예로, 도 5에 도시된 바와 같이, 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30)의 카운트 동작 중, 즉, 클럭 제어 신호 CLK_CON가 디스에이블되기 전에 다시 라이트 커맨드 WT가 인가되는 경우, 에지 트리거부(311)에서 발생하는 리셋 신호 RESETB에 의해 카운트 동작이 리셋되므로, 리셋된 시점부터 원하는 카스 레이턴시만큼 다시 카운트될 수 있다.As another operation example, as shown in FIG. 5, when the write command WT is applied again during the counting operation of the cascade latency command control unit 30, that is, before the clock control signal CLK_CON is disabled, the edge trigger unit 311. Since the count operation is reset by the reset signal RESETB generated at s, the count operation can be counted again by the desired cas latency from the time of reset.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명에 따른 반도체 메모리 장치는 라이트 커맨드가 발생하는 경우 라이트 커맨드 신호가 애디티브 레이턴시에 대응되게 지연된 시점부터 카스 레이턴시용 클럭 CLK_CL이 인에이블되고, 소정 시간(최대 'CL+AL') 이후에 자동으로 카스 레이턴시용 클럭 CLK_CL이 디스에이블된다.As described above, in the semiconductor memory device according to the present invention, when the write command is generated, the CAS latency clock CLK_CL is enabled from a time point at which the write command signal is delayed corresponding to the additive latency, and a predetermined time (maximum 'CL +'). After AL '), the CAS latency clock CLK_CL is automatically disabled.

따라서, 카스 레이턴시용 클럭 CLK_CL을 입력받는 카스 레이턴시 카운터부(400)는 카스 레이턴시용 클럭 CLK_CL이 인에이블되는 동안만 카운트하므로, 애디티브 레이턴시에 대응되는 지연 이전에 불필요하게 클럭 신호 CLK를 토글링하지 않아 전류 소모가 줄어들 수 있는 효과가 있다.Therefore, since the CAS latency counter 400 receiving the CAS latency clock CLK_CL counts only while the CAS latency clock CLK_CL is enabled, it does not need to toggle the clock signal CLK unnecessarily before the delay corresponding to the additive latency. As a result, current consumption can be reduced.

또한, 본 발명은 반도체 메모리 장치가 지원하는 최대 카스 레이턴시까지만 클럭 신호 CLK를 카운트하므로, 불필요한 카운트 동작을 줄여 전류 소모가 줄어들 수 있는 효과가 있다.In addition, since the clock signal CLK is counted only up to the maximum cas latency supported by the semiconductor memory device, the current count can be reduced by reducing unnecessary count operations.

도 1은 일반적인 반도체 메모리 장치의 리드 또는 라이트 동작시 데이터 입출력 시점을 설명하기 위한 파형도.1 is a waveform diagram illustrating a data input / output point in time during a read or write operation of a general semiconductor memory device.

도 2는 본 발명에 따른 레이턴시 제어 회로를 포함하는 반도체 메모리 장치를 나타내는 블럭도.2 is a block diagram illustrating a semiconductor memory device including a latency control circuit according to the present invention.

도 3은 도 2의 카스 레이턴시 커맨드 제어부(30)의 상세 구성을 나타내는 회로 블럭도.FIG. 3 is a circuit block diagram showing the detailed configuration of the CAS latency command control unit 30 of FIG. 2.

도 4는 라이트 커맨드 입력시 본 발명에 따른 레이턴시 제어 회로의 동작을 설명하기 위한 파형도.4 is a waveform diagram illustrating an operation of a latency control circuit according to the present invention when a write command is input.

도 5는 라이트 커맨드가 연속적으로 입력될 때 본 발명에 따른 레이턴시 제어 회로의 동작을 설명하기 위한 파형도.Fig. 5 is a waveform diagram for explaining the operation of the latency control circuit according to the present invention when the write commands are continuously input.

Claims (16)

데이터 액세스 제어에 이용되는 입력 신호를 기설정된 애디티브 레이턴시에 대응되게 지연시켜 지연 입력 신호로 출력하는 애디티브 레이턴시 제어부; 및An additive latency controller for delaying an input signal used for data access control to correspond to a predetermined additive latency and outputting the delayed input signal; And 클럭 신호를 상기 지연 입력 신호가 입력된 시점부터 카운트하고, 상기 카운트된 신호들 중 기설정된 카스 레이턴시에 대응되는 신호까지 상기 지연 입력 신호를 지연시켜 지연 출력 신호로 출력하는 카스 레이턴시 제어부를 구비하며,And a cas latency controller which counts a clock signal from a time point at which the delay input signal is input and delays the delay input signal to a signal corresponding to a preset cas latency among the counted signals and outputs the delayed output signal as a delay output signal. 상기 카스 레이턴시 제어부는,The cas latency controller, 상기 지연 입력 신호가 입력되는 상기 클럭 신호의 에지에서 소정 시점까지 상기 클럭 신호를 카운트하는 에지 트리거형 카운터부;An edge trigger type counter unit for counting the clock signal from an edge of the clock signal to which the delay input signal is input to a predetermined time point; 상기 클럭 신호를 입력받아서, 상기 지연 입력 신호가 입력되는 시점부터 상기 소정 시점에 대응되게 카운트된 신호가 발생하는 시점까지 상기 클럭 신호를 토글링시키는 토글링 제어부; 및A toggle control unit which receives the clock signal and toggles the clock signal from a time point at which the delay input signal is input to a time point at which a signal counted corresponding to the predetermined time point is generated; And 상기 토글링 제어부에서 토글링 구간이 제어된 클럭을 카운트하고, 상기 카운트된 신호들 중 상기 기설정된 카스 레이턴시에 대응되는 신호까지 상기 지연 입력 신호를 지연시켜 상기 지연 출력 신호로 출력하는 카스 레이턴시 카운터부를 구비하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.The casing latency counter unit counts a clock whose toggling period is controlled by the toggling control unit and delays the delay input signal to a signal corresponding to the preset cas latency among the counted signals and outputs the delayed output signal as the delayed output signal. A latency control circuit for a semiconductor memory device. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 입력 신호는 커맨드 신호와 어드레스 신호 중 어느 하나인 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And the input signal is any one of a command signal and an address signal. 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 소정 시점은 상기 클럭 신호를 반도체 메모리 장치가 지원하는 최대 카스 레이턴시에 대응되는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And the predetermined time point corresponds to a maximum cas latency in which the clock signal is supported by the semiconductor memory device. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 에지 트리거형 카운터부는,The edge trigger type counter unit, 상기 지연 입력 신호의 입력에 대응하여 리셋 신호를 발생하는 에지 트리거부; 및An edge trigger unit for generating a reset signal in response to an input of the delay input signal; And 상기 리셋 신호가 발생하는 상기 클럭 신호의 에지에서부터 상기 클럭 신호를 카운트하는 카운터부;를 포함하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And a counter unit for counting the clock signal from an edge of the clock signal at which the reset signal is generated. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 토글링 제어부는,The toggling control unit, 상기 지연 입력 신호의 입력에 대응하여 인에이블되고 상기 소정 시점에 대응되게 카운트된 신호의 입력에 대응하여 디스에이블되는 클럭 제어 신호를 발생하는 클럭 제어 신호 발생부; 및A clock control signal generator configured to generate a clock control signal enabled in response to the input of the delayed input signal and disabled in response to the input of a signal counted corresponding to the predetermined time point; And 상기 클럭 제어 신호의 인에이블 구간 동안 상기 클럭 신호를 토글링시켜 출력하는 클럭 출력부;를 포함하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And a clock output unit configured to toggle the clock signal during the enable period of the clock control signal and to output the clock signal. 제 6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 클럭 제어 신호 발생부는,The clock control signal generator, 상기 지연 입력 신호에 응답하여 풀 다운 구동하고 최대 카스 레이턴시만큼 카운트된 신호에 응답하여 풀 다운 구동하는 구동부; 및A driving unit which pulls down in response to the delay input signal and pulls down in response to a signal counted by a maximum cas latency; And 상기 구동부의 출력을 래치하여 상기 클럭 제어 신호로 출력하는 래치부;를 포함하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And a latch unit configured to latch an output of the driver to output the clock control signal. 제 6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 클럭 출력부는 상기 클럭 제어 신호와 상기 클럭 신호를 논리 조합하여 상기 클럭 제어 신호가 인에이블 상태인 동안 상기 클럭 신호와 동일한 논리 레벨을 갖는 클럭을 출력하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And the clock output unit logically combines the clock control signal and the clock signal to output a clock having the same logic level as the clock signal while the clock control signal is in an enabled state. 클럭 신호를 반도체 메모리 장치가 지원하는 최대 카스 레이턴시만큼 카운트하고, 데이터 액세스 제어에 이용되는 입력 신호와 상기 최대 카스 레이턴시에 대응되게 카운트된 신호로써 상기 클럭 신호의 토글링을 제어하는 클럭 제어부; 및A clock controller which counts a clock signal by a maximum cas latency supported by the semiconductor memory device and controls the toggling of the clock signal as an input signal used for data access control and a signal counted corresponding to the maximum cas latency; And 상기 클럭 제어부에서 토글링이 제어된 상기 클럭 신호를 카운트하고, 상기 카운트된 신호들 중 기설정된 카스 레이턴시에 대응되는 신호까지 상기 입력 신호를 지연시켜 지연 출력 신호로 출력하는 카스 레이턴시 카운터부;를 포함함을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And a cas latency counter that counts the clock signal controlled by the clock controller and delays the input signal to a signal corresponding to a preset cas latency among the counted signals and outputs the delayed output signal as a delay output signal. And a latency control circuit of the semiconductor memory device. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 입력 신호는 커맨드 신호와 어드레스 신호 중 어느 하나인 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And the input signal is any one of a command signal and an address signal. 제 10 항에 있어서,The method of claim 10, 상기 커맨드 신호는 외부에서 입력된 커맨드가 기설정된 애디티브 레이턴시에 대응하여 지연된 신호이고, 상기 어드레스 신호는 외부에서 입력된 어드레스가 상기 기설정된 애디티브 레이턴시에 대응하여 지연된 신호인 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.The command signal is a signal in which an externally input command is delayed in response to a preset additive latency, and the address signal is a latency control of a semiconductor memory device in which an externally input address is a delay in response to the preset additive latency. Circuit. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 클럭 제어부는,The clock control unit, 상기 입력 신호가 입력되는 상기 클럭 신호의 에지에서 상기 최대 카스 레이턴시만큼 상기 클럭 신호를 카운트하는 에지 트리거형 카운터부; 및An edge trigger type counter unit counting the clock signal by the maximum cas latency at the edge of the clock signal to which the input signal is input; And 상기 클럭 신호를 입력받아서, 상기 입력 신호가 입력되는 시점부터 상기 최대 카스 레이턴시에 대응되게 카운트된 신호가 발생하는 시점까지 상기 클럭 신호 를 토글링시키는 토글링 제어부;를 포함하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And a toggle control unit configured to receive the clock signal and toggle the clock signal from a time point at which the input signal is input to a time point at which a signal counted corresponding to the maximum cas latency occurs. Circuit. 제 12 항에 있어서,The method of claim 12, 상기 에지 트리거형 카운터부는,The edge trigger type counter unit, 상기 입력 신호의 입력에 대응하여 리셋 신호를 발생하는 에지 트리거부; 및An edge trigger unit generating a reset signal in response to an input of the input signal; And 상기 리셋 신호가 발생하는 상기 클럭 신호의 에지에서부터 상기 최대 카스 레이턴시만큼 상기 클럭 신호를 카운트하는 카운터부;를 포함하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And a counter unit for counting the clock signal by the maximum cas latency from an edge of the clock signal at which the reset signal is generated. 제 12 항에 있어서,The method of claim 12, 상기 토글링 제어부는,The toggling control unit, 상기 입력 신호의 입력에 대응하여 인에이블되고 상기 최대 카스 레이턴시만큼 카운트된 신호의 입력에 대응하여 디스에이블되는 클럭 제어 신호를 발생하는 클럭 제어 신호 발생부; 및A clock control signal generator configured to generate a clock control signal that is enabled in response to the input of the input signal and is disabled in response to the input of the signal counted by the maximum cas latency; And 상기 클럭 제어 신호의 인에이블 구간 동안 상기 클럭 신호를 토글링시켜 출력하는 클럭 출력부;를 포함하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And a clock output unit configured to toggle the clock signal during the enable period of the clock control signal and to output the clock signal. 제 14 항에 있어서,The method of claim 14, 상기 클럭 제어 신호 발생부는,The clock control signal generator, 상기 입력 신호에 응답하여 풀 다운 구동하고 상기 최대 카스 레이턴시만큼 카운트된 신호에 응답하여 풀 다운 구동하는 구동부; 및A driving unit which pulls down in response to the input signal and pulls down in response to a signal counted by the maximum cas latency; And 상기 구동부의 출력을 래치하여 상기 클럭 제어 신호로 출력하는 래치부;를 포함하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And a latch unit configured to latch an output of the driver to output the clock control signal. 제 14 항에 있어서,The method of claim 14, 상기 클럭 출력부는 상기 클럭 제어 신호와 상기 클럭 신호를 논리 조합하여 상기 클럭 제어 신호가 인에이블 상태인 동안 상기 클럭 신호와 동일한 논리 레벨을 갖는 클럭을 출력하는 반도체 메모리 장치의 레이턴시 제어 회로.And the clock output unit logically combines the clock control signal and the clock signal to output a clock having the same logic level as the clock signal while the clock control signal is in an enabled state.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030078134A (en) * 2002-03-28 2003-10-08 주식회사 하이닉스반도체 Synchronous semiconductor memory device
KR20050011942A (en) * 2003-07-24 2005-01-31 주식회사 하이닉스반도체 Semiconductor memory device having additive latency
KR20050035637A (en) * 2003-10-14 2005-04-19 주식회사 하이닉스반도체 Semiconductor memory device for reducing current consumption
KR100605572B1 (en) 2005-06-30 2006-07-31 주식회사 하이닉스반도체 Semiconductor memory device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030078134A (en) * 2002-03-28 2003-10-08 주식회사 하이닉스반도체 Synchronous semiconductor memory device
KR20050011942A (en) * 2003-07-24 2005-01-31 주식회사 하이닉스반도체 Semiconductor memory device having additive latency
KR20050035637A (en) * 2003-10-14 2005-04-19 주식회사 하이닉스반도체 Semiconductor memory device for reducing current consumption
KR100605572B1 (en) 2005-06-30 2006-07-31 주식회사 하이닉스반도체 Semiconductor memory device

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