KR100842929B1 - 모듈 아이씨 테스트 핸들러 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 테스트 핸들러에 관한 것으로, 테스트할 메모리 모듈 트레이를 엘리베이터에 적재하고 이 적재된 메모리 모듈을 순차적으로 테스트를 실시하며, 상기 테스트된 메모리 모듈을 테스트 결과에 따라 양품의 등급별 또는 불량으로 구분하여 테스트 핸들러 내부 별도의 보관장소를 만들어 적재하거나 외부 배출하는 것을 특징하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러에 관한 것이다.
테스트 핸들러

Description

모듈 아이씨 테스트 핸들러{Module IC test handler}
도 1은 종래의 모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러의 사시도.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러의 사시도.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러의 정면도.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러의 측면도.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러의 평면도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
51 : 테스트 사이트부 52 : 로딩 버퍼부
53,56 : 리젝트 박스 54 : 로딩 엘리베이터부
55 : 언로딩 엘리베이터부 57 : 언로딩 버퍼부
58 : 로딩 대기부 59 : 언로딩 대기부
82 : 이동 로봇
본 발명은 테스트 핸들러에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 테스트할 메모리 모듈 트레이를 엘리베이터에 적재하고 이 적재된 메모리 모듈을 순차적으로 테스트를 실시하며, 테스트된 메모리 모듈을 테스트 결과에 따라 양품의 등급별 또는 불량으로 구분하여 테스트 핸들러 내부에 별도의 보관장소를 만들어 적재하거나 외부로 배출하는 모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러에 관한 것이다.
일반적으로, 모듈 아이씨는 복수개의 아이씨(IC) 및 기타 소자를 하나의 기판상에 납땜 고정하여 독립적인 회로를 구성한 것으로, 이러한 모듈 아이씨(IC)는 컴퓨터의 마더보드에 실장되는 여러 가지의 부품들 중에서 매우 중요한 역할을 하기 때문에 생산 후 출하 전에 반드시 그의 이상상태를 점검하는 과정을 거치게 된다.
모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러는 이러한 모듈 아이씨(Module IC)들을 테스터(Tester)라고 하는 테스트 장비의 소켓에 자동으로 접속시켜 테스트를 행하고, 그 테스트 결과에 따라 분류(sorting)하는 작업을 수행하는 장비이다.
도 1은 종래의 모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러의 사시도이다.
도 1에서 도시된 바와 같이, 종래의 모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러는 테스트할 모듈 아이씨(IC)들을 투입하는 로딩 적치부(33)와, 모듈 아이씨(IC) 안착하여 테스트하기 위한 테스트 사이트부(31)와, 상기 로딩 적치부(33)에서 이송되어 트레 이에서 모듈 아이씨(IC)를 집어내기 위해 배치된 로딩 버퍼부(32)와, 상기 트레이 사이트부(31)에서 테스트한 후 불량을 적재하기 위한 리젝트 박스(36)와, 상기 테스트 사이트부(31)에서 테스트 완료된 모듈 아이씨(IC)들을 트레이에 집어 넣기 위해 배치된 언로딩 버퍼부(35)와, 상기 언로딩 버퍼부(35)로부터 이송된 모듈 아이씨(IC)들을 외부로 배출 대기하는 언로딩 적치부(34), 및 상기 로딩 적치부(33), 테스트 사이트부(31), 로딩 버퍼부(32), 리젝트 박스(36), 언로딩 버퍼부(35), 언로딩 적치부(34) 사이에서 모듈 아이씨(IC)들을 이송하는 로봇(미도시)으로 구성되어 있다.
이러한, 상기 리젝트 박스(36)는 테스트 사이트부(31)에서 테스트 완료한 모듈 아이씨(IC)를 2차원 근접 측면의 소정 공간에 적재된다. 이때, 상기 테스트 사이트부(31)와 리젝트 박스(36)의 공간 협소로 인하여 테스트할 모듈 아이씨(IC)의 수 증가에 따라 테스트 핸들러의 사이즈 또한 커진다는 문제점이 있다.
그러나, 최근 들어 테스트 기술의 발달로 한번에 테스트할 수 있는 모듈 아이씨의 수가 4개(4para)에서 8개(8para) 또는 그 이상으로 증가하는 추세에 있는 바, 제한된 범위내에서 구조적 변경을 하지 않고는 보다 더 많은 양을 테스트하지 못한다는 문제점이 있다. 그렇다고 테스트 핸들러의 전체적인 크기를 달리하면 전후 공정에 설비를 모두 재설치 해야 하는 문제점이 있다.
또한, 종래의 핸들러는 테스트 사이트의 크기가 작아 한번에 테스트할 수 있는 모듈 아이씨(IC)의 수가 적은 문제점이 있다.
본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로써, 모듈 아이씨(IC)의 테스트 공간과 양품의 등급별 및 불량을 보다 더 확대하여 모듈 아이씨의 크기 및 용량 증가시에도 효과적으로 테스트할 수 있는 모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러를 제공함에 그 목적이 있다.
상기의 목적을 달성하기 위해 안출된 본 발명의 모듈 아이씨 테스트 핸들러는, 테스트할 모듈 아이씨(IC)들을 일정 개씩 테스트 트레이에 넣어 투입 적재하여 상하 엘리베이팅되는 로딩 엘리베이터부와;
상기 로딩 엘리베이터부에서 테스트 트레이를 인계 받아 투입 대기하는 로딩 대기부와;
상기 로딩 대기부에서 이송된 테스트할 모듈 아이씨(IC)들을 테스트 트레이에서 개별 픽킹(Picking)하여 집어내기 위해 배치된 로딩 버퍼부와;
상기 로딩 버퍼부에서 개별 모듈 아이씨(IC)들을 순차적으로 인계 받아 안착하며 복수개의 테스트 소켓이 설치된 테스트 헤드부를 두어 테스트할 모듈 아이씨(IC)에 전기적으로 접속하기 위해 배치된 테스트 사이트부와;
상기 테스트 사이트부에서 테스트한 모듈 아이씨(IC)들 중 불량을 적재하기 위해 로딩/언로딩 엘리베이터부의 상단 또는 하단에 구성된 리젝트 박스와;
상기 테스트 사이트부에서 테스트 완료된 모듈 아이씨(IC)들을 등급별로 테스트 트레이에 담기 위해 배치된 언로딩 버퍼부와;
상기 언로딩 버퍼부에서 테스트 트레이를 인계 받아 외부로 배출하기 위해 대기하는 언로딩 대기부와;
상기 언로딩 대기부에서 이송된 테스트 트레이를 적재하여 상하 엘리베이팅되는 언로딩 엘리베이터부; 및
상기 모듈 아이씨(IC)들을 일정 순서에 의거하여 순차적으로 이송하는 이송로봇;을 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.
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삭제
바람직하게는, 상기 로딩/언로딩 엘리베이터부는 각 수납 공간을 양품의 등급별 또는 불량별로 적재하는 리젝트 박스화하여 사용하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 리젝트 박스는 로딩/언로딩 엘리베이터부의 상단 내지 하단에 모듈 아이씨(IC)의 양품을 등급별 또는 불량별로 적재하거나, 상기 로딩/언로딩 엘리베이터부의 상단면 별도의 공간에 양품의 등급별 또는 불량별로 적재하기 위해 배치된 것을 특징으로 한다.
이와 같은 특징을 갖는 본 발명은 그에 따른 바람직한 실시 예를 통해 보다 명확히 설명될 수 있을 것이다. 이하에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면에 의거하여 상세히 설명하도록 한다.
도 2, 도 3 내지 도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러의 사시도, 정면도, 측면도 및 평면도를 각각 나타낸 것이다.
도 2 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 모듈 아이씨(IC)들을 일정 개씩 테스트 트레이에 넣어 로딩 엘리베이터부(54)에 투입 적재한다. 이때, 상기 로딩 엘리베이터부(54)를 상승시켜 이송로봇(82)이 픽킹(Picking)할 수 있는 위치로 상승 엘리베이팅하게 된다. 또한, 핸들러 가동시 일정 주기로 로딩 엘리베이터부(54)를 상승 또는 하강시키며 테스트 트레이를 투입 공급하게 된다.
여기서, 상기 이송로봇(82)은 상기 로딩 엘리베이터부(54), 로딩 대기부(58), 로딩 버퍼부(52), 테스트 사이트부(51), 리젝트 박스(53,56), 언로딩 버퍼부(57), 언로딩 대기부(59)와 언로딩 엘리베이터부(55) 사이에서 테스트 트레이나 모듈 아이씨(IC)들을 일정 순서에 의거하여 순차적으로 이송한다.
여기서, 상기 이송로봇(82)은 테스트 트레이를 픽킹(Picking)하여 로딩 엘리베이터부(54)에서 로딩 대기부(58)로 이송하며, 상기 로딩 대기부(58)에서 인계 받은 테스트 트레이에서 로딩 버퍼부(52)에서 모듈 아이씨(IC)들을 개별 픽킹(Picking)하여 집어낸다. 또한, 상기 이송로봇(82)은 집어낸 모듈 아이씨(IC)들을 테스트 사이트부(51)에 순차적으로 안착하며, 테스트 헤드부(미도시)에 의해 전기적으로 접속된다. 이때, 상기 테스트 사이트부(51)는 복수개의 테스트소켓(미도시)이 설치되어 있고, 테스트할 모듈을 집고 이동하는 이송로봇(82)에 의해 모듈 아이씨(IC)를 안착시키거나 집고 빼낸다.
여기서, 상기 이송로봇(82)은 테스트 사이트부(51)에서 테스트한 모듈 아이씨(IC)들 중 불량을 리젝트 박스(53,56)에 적재한다. 이때, 상기 리젝트 박스(53,56)는 로딩/언로딩 엘리베이터부(54,55) 상단 또는 하단에 구성한다. 또한, 상기 이송로봇(82)은 모듈 아이씨(IC)의 테스트 결과에 따라 양품을 등급별로 적재하는 언로딩 버퍼부(57)에 놓고 불량은 리젝트 박스(53,56)에 분리 적치한다. 또한, 상기 이송로봇(82)은 모듈 아이씨(IC)의 테스트 결과에 따라 리젝트 박스(53,56)로 이송 횟수를 달리한다. 즉, 모듈 아이씨(IC)의 테스트 결과에 따라 불량만 리젝트 박스(53,56)에 적재하는 방식이다.
여기서, 상기 리젝트 박스(53,56)는 로딩/언로딩 엘리베이터부(54,55)의 상단 내지 하단에 모듈 아이씨(IC)를 양품 등급별 또는 불량별로 적재하거나 상기 로딩/언로딩 엘리베이터부(54,55)의 상단면 별도의 공간에 양품 등급별 또는 불량별로 적재하기 위해 배치한다.
여기서, 상기 이송로봇(82)은 테스트 사이트부(51)에서 테스트 완료된 모듈 아이씨(IC)들을 언로딩 버퍼부(57)에 등급별로 테스트 트레이에 담아 적치하고, 모듈 아이씨(IC)를 다시 테스트 사이트부(51)에 넣어 재 테스트를 한다.
여기서, 상기 테스트 사이트부(51)는 로딩/언로딩 버퍼부(52,57)를 조합한 영역의 크기로 형성한다. 바람직하게는 상기 테스트 사이트부(51)는 로딩/언로딩 버퍼부(52,57)를 합한 정도의 크기로 형성한다.
여기서, 상기 테스트 트레이는 언로딩 버퍼부(57)에서 언로딩 대기부(59)와 언로딩 엘리베이터부(55)로 인계되어 외부로 배출 적재된다. 이때, 상기 언로딩 엘리베이터부(55)는 이송된 테스트 트레이를 적재하여 하강 엘리베이팅된다. 또한, 일정 주기로 언로딩 엘리베이터부(55)를 상승하거나 하강시키며 테스트 트레이를 외부로 배출하게 된다.
아울러, 상기 로딩/언로딩 엘리베이터부(54,55)는 각 수납 공간을 양품 등급별 또는 불량별로 적재하는 리젝트 박스화하여 사용된다.
전술한 바와 같이 불량만을 적재하는 리젝트 박스(53,56)를 로딩/언로딩 엘리베이터(54,55)의 상단, 중앙 또는 하단에 임의의 수납공간을 두어 테스트 사이트(51)를 보다 더 확장시켜 복수개 이상의 모듈 아이씨(IC)를 한 번에 효과적으로 테스트할 수 있다.
본 발명은 상기 실시 예에 한정되지 않으며, 많은 변형이 본 발명의 사상 내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 가능함은 물론이다.
이상에서와 같이, 본 발명에 따르면 테스트 핸들러의 리젝트 박스를 로딩/언로딩 엘리베이터의 상단 및 하단 임의의 수납공간을 두어 테스트 사이트를 보다 더 확장시켜 복수개 이상의 모듈 아이씨(IC)를 한번에 다량의 모듈 아이씨(IC)를 테스트할 수 있는 이점이 있다.

Claims (5)

  1. 테스트할 모듈 아이씨(IC)들을 일정 개씩 테스트 트레이에 넣어 투입 적재하여 상하 엘리베이팅되는 로딩 엘리베이터부와;
    상기 로딩 엘리베이터부에서 테스트 트레이를 인계 받아 투입 대기하는 로딩 대기부와;
    상기 로딩 대기부에서 이송된 테스트할 모듈 아이씨(IC)들을 테스트 트레이에서 개별 픽킹(Picking)하여 집어내기 위해 배치된 로딩 버퍼부와;
    상기 로딩 버퍼부에서 개별 모듈 아이씨(IC)들을 순차적으로 인계 받아 안착하며 복수개의 테스트 소켓이 설치된 테스트 헤드부를 두어 테스트할 모듈 아이씨(IC)에 전기적으로 접속하기 위해 배치된 테스트 사이트부와;
    상기 테스트 사이트부에서 테스트한 모듈 아이씨(IC)들 중 불량을 적재하기 위해 로딩/언로딩 엘리베이터부의 상단 또는 하단에 구성된 리젝트 박스와;
    상기 테스트 사이트부에서 테스트 완료된 모듈 아이씨(IC)들을 등급별로 테스트 트레이에 담기 위해 배치된 언로딩 버퍼부와;
    상기 언로딩 버퍼부에서 테스트 트레이를 인계 받아 외부로 배출하기 위해 대기하는 언로딩 대기부와;
    상기 언로딩 대기부에서 이송된 테스트 트레이를 적재하여 상하 엘리베이팅되는 언로딩 엘리베이터부; 및
    상기 모듈 아이씨(IC)들을 일정 순서에 의거하여 순차적으로 이송하는 이송로봇;을 포함하는 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 로딩/언로딩 엘리베이터부는 각 수납 공간을 양품 등급별 또는 불량별로 적재하는 리젝트 박스화하여 사용되는 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 리젝트 박스는 로딩/언로딩 엘리베이터부의 상단 내지 하단에 모듈 아이씨(IC)를 양품 등급별 또는 불량별로 적재하거나, 상기 로딩/언로딩 엘리베이터부의 상단면 별도의 공간에 양품 등급별 또는 불량별로 적재하기 위해 배치된 것을 특징하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러.
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