KR100842929B1 - 모듈 아이씨 테스트 핸들러 - Google Patents
모듈 아이씨 테스트 핸들러 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100842929B1 KR100842929B1 KR1020060113671A KR20060113671A KR100842929B1 KR 100842929 B1 KR100842929 B1 KR 100842929B1 KR 1020060113671 A KR1020060113671 A KR 1020060113671A KR 20060113671 A KR20060113671 A KR 20060113671A KR 100842929 B1 KR100842929 B1 KR 100842929B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- loading
- unit
- test
- module
- unloading
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
- G01R31/2867—Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Description
Claims (5)
- 테스트할 모듈 아이씨(IC)들을 일정 개씩 테스트 트레이에 넣어 투입 적재하여 상하 엘리베이팅되는 로딩 엘리베이터부와;상기 로딩 엘리베이터부에서 테스트 트레이를 인계 받아 투입 대기하는 로딩 대기부와;상기 로딩 대기부에서 이송된 테스트할 모듈 아이씨(IC)들을 테스트 트레이에서 개별 픽킹(Picking)하여 집어내기 위해 배치된 로딩 버퍼부와;상기 로딩 버퍼부에서 개별 모듈 아이씨(IC)들을 순차적으로 인계 받아 안착하며 복수개의 테스트 소켓이 설치된 테스트 헤드부를 두어 테스트할 모듈 아이씨(IC)에 전기적으로 접속하기 위해 배치된 테스트 사이트부와;상기 테스트 사이트부에서 테스트한 모듈 아이씨(IC)들 중 불량을 적재하기 위해 로딩/언로딩 엘리베이터부의 상단 또는 하단에 구성된 리젝트 박스와;상기 테스트 사이트부에서 테스트 완료된 모듈 아이씨(IC)들을 등급별로 테스트 트레이에 담기 위해 배치된 언로딩 버퍼부와;상기 언로딩 버퍼부에서 테스트 트레이를 인계 받아 외부로 배출하기 위해 대기하는 언로딩 대기부와;상기 언로딩 대기부에서 이송된 테스트 트레이를 적재하여 상하 엘리베이팅되는 언로딩 엘리베이터부; 및상기 모듈 아이씨(IC)들을 일정 순서에 의거하여 순차적으로 이송하는 이송로봇;을 포함하는 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러.
- 삭제
- 삭제
- 제1항에 있어서,상기 로딩/언로딩 엘리베이터부는 각 수납 공간을 양품 등급별 또는 불량별로 적재하는 리젝트 박스화하여 사용되는 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러.
- 제1항에 있어서,상기 리젝트 박스는 로딩/언로딩 엘리베이터부의 상단 내지 하단에 모듈 아이씨(IC)를 양품 등급별 또는 불량별로 적재하거나, 상기 로딩/언로딩 엘리베이터부의 상단면 별도의 공간에 양품 등급별 또는 불량별로 적재하기 위해 배치된 것을 특징하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060113671A KR100842929B1 (ko) | 2006-11-17 | 2006-11-17 | 모듈 아이씨 테스트 핸들러 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060113671A KR100842929B1 (ko) | 2006-11-17 | 2006-11-17 | 모듈 아이씨 테스트 핸들러 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080044931A KR20080044931A (ko) | 2008-05-22 |
KR100842929B1 true KR100842929B1 (ko) | 2008-07-02 |
Family
ID=39662590
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060113671A KR100842929B1 (ko) | 2006-11-17 | 2006-11-17 | 모듈 아이씨 테스트 핸들러 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100842929B1 (ko) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101031340B1 (ko) * | 2008-10-23 | 2011-04-29 | 세크론 주식회사 | 트레이 이송 방법 및 이를 적용한 테스트 핸들러 |
KR101142393B1 (ko) * | 2010-05-19 | 2012-05-11 | 엘엠에스 주식회사 | Led모듈 자동 광학 측정 장치 |
CN106267667B (zh) * | 2016-08-24 | 2019-07-30 | 中信重工开诚智能装备有限公司 | 消防机器人本体及远程控制箱功能测试仪 |
KR102249307B1 (ko) | 2019-08-12 | 2021-05-07 | 주식회사 아테코 | 메모리 실장 테스트 장치 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000021708A (ko) * | 1998-09-30 | 2000-04-25 | 윤종용 | 테스트 핸들러 |
KR20010081820A (ko) * | 2000-02-19 | 2001-08-29 | 윤종용 | 모듈 테스트 핸들러 |
KR20020031462A (ko) * | 2000-10-20 | 2002-05-02 | 정문술 | 핸들러용 트레이 다중 적재장치 |
KR20020080129A (ko) * | 2001-04-11 | 2002-10-23 | 미래산업 주식회사 | 핸들러의 멀티스택커 제어방법 |
KR20030023214A (ko) * | 2001-09-12 | 2003-03-19 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트용 핸들러 |
KR20030049833A (ko) * | 2001-12-17 | 2003-06-25 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 이송장치의 작업위치인식방법 |
KR100674416B1 (ko) | 2005-07-28 | 2007-01-29 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 소팅장치 |
-
2006
- 2006-11-17 KR KR1020060113671A patent/KR100842929B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000021708A (ko) * | 1998-09-30 | 2000-04-25 | 윤종용 | 테스트 핸들러 |
KR20010081820A (ko) * | 2000-02-19 | 2001-08-29 | 윤종용 | 모듈 테스트 핸들러 |
KR20020031462A (ko) * | 2000-10-20 | 2002-05-02 | 정문술 | 핸들러용 트레이 다중 적재장치 |
KR20020080129A (ko) * | 2001-04-11 | 2002-10-23 | 미래산업 주식회사 | 핸들러의 멀티스택커 제어방법 |
KR20030023214A (ko) * | 2001-09-12 | 2003-03-19 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트용 핸들러 |
KR20030049833A (ko) * | 2001-12-17 | 2003-06-25 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 이송장치의 작업위치인식방법 |
KR100674416B1 (ko) | 2005-07-28 | 2007-01-29 | 미래산업 주식회사 | 반도체 소자 소팅장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20080044931A (ko) | 2008-05-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5186370B2 (ja) | 電子部品移送方法および電子部品ハンドリング装置 | |
JP5628371B2 (ja) | 半導体素子ハンドリングシステム | |
KR101327455B1 (ko) | 테스트 핸들러 및 그 반도체 소자 공급 배출 방법 | |
CN107533102B (zh) | 元件处理器 | |
KR100842929B1 (ko) | 모듈 아이씨 테스트 핸들러 | |
KR100652417B1 (ko) | 인-트레이(In-tray) 상태의 반도체 패키지 검사장치및 검사방법 | |
KR20060041454A (ko) | 칩 외관 자동검사 장치 | |
KR20060127633A (ko) | 반도체 패키지 자동 외관 검사 장치 | |
KR100361810B1 (ko) | 모듈램 실장 테스트 핸들러 및 이를 이용한 모듈램 테스트 방법 | |
KR20020083742A (ko) | 반도체 소자 검사장치 | |
KR102156154B1 (ko) | 트레이 이송장치 및 전자부품 테스트 핸들러 | |
JP5137965B2 (ja) | 搬送装置および電子部品ハンドリング装置 | |
KR100909208B1 (ko) | 번인 소터 및 그 동작 방법 | |
KR20060008844A (ko) | 모듈 아이씨(ic)의 외관검사 방법 및 그 장치 | |
KR100899559B1 (ko) | 에스에스디(ssd) 테스트 핸들러 | |
KR100560727B1 (ko) | 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 작동방법 | |
KR100200592B1 (ko) | 집적 회로 소자의 검사 시스템 | |
KR100402313B1 (ko) | 테스트 핸들러 및 그 제어방법 | |
KR100893141B1 (ko) | 테스트 핸들러 | |
KR100957557B1 (ko) | 반도체 소자들의 소팅 방법 | |
KR100835999B1 (ko) | Ic 소팅 핸들러 및 그 제어방법 | |
KR20040078244A (ko) | 반도체 번인 공정의 반도체 디바이스 추출/삽입 및 자동분류 장치 | |
KR100408984B1 (ko) | 번인과 pc 실장 테스트 겸용 테스트 기판 | |
KR101469507B1 (ko) | 전자부품 검사 지원장치에서의 캐리어보드 순환방법 및 이송방법 | |
KR101469439B1 (ko) | 전자부품 검사 지원장치에서의 캐리어보드 순환방법 및 이송방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130510 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140710 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151020 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160610 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170609 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180611 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190610 Year of fee payment: 12 |