KR100829739B1 - A apparatus and a method for detecting shorted electrodes of a flat display device - Google Patents

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KR100829739B1 KR1020020030621A KR20020030621A KR100829739B1 KR 100829739 B1 KR100829739 B1 KR 100829739B1 KR 1020020030621 A KR1020020030621 A KR 1020020030621A KR 20020030621 A KR20020030621 A KR 20020030621A KR 100829739 B1 KR100829739 B1 KR 100829739B1
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Abstract

본 발명은, 평판표시소자의 전극들 간의 단락유무에 대한 정확한 검출결과가 도출될 수 있고, 다른 간격을 갖는 전극들의 단락유무를 검사하기 위하여 별도의 부품을 준비할 필요가 없으며, 매우 좁은 간격의 전극들 간의 단락도 검출할 수 있는 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법을 제공하기 위하여,According to the present invention, accurate detection results for the presence or absence of short circuits between the electrodes of the flat panel display device can be derived, and there is no need to prepare a separate component for inspecting the presence or absence of short circuits for the electrodes having different spacings. In order to provide an electrode short detection device and an electrode short detection method of a flat panel display device capable of detecting a short circuit between electrodes,

두 개의 탐침, 이 탐침들을 지지하며 승강시킬 수 있는 홀더, 이 홀더를 지지하며 전후진시킬 수 있는 전후진 이동수단을 포함하는 도전성측정수단;Conductivity measuring means including two probes, a holder for supporting and elevating the probes, and a forward and backward moving means for supporting the holder and moving forward and backward;

상기 전후진부재 위치센서, 제 1 탐침, 및 제 2 탐침과 연결되고, 이들로부터 전극의 위치를 검출할 수 있으며, 또한 검출된 전극의 위치를 이용하여 단락된 전극의 위치를 검출할 수 있는 위치검출수단;A position connected to the forward and backward member position sensor, the first probe, and the second probe, from which the position of the electrode can be detected, and the position of the shorted electrode can be detected using the detected position of the electrode Detection means;

상기 단락된 전극의 위치를 표시하는 정보표시수단; 및Information display means for displaying a position of the shorted electrode; And

상기 홀더승강액튜에이터와 전후진 이동수단의 작동을 지시할 수 있는 작동지시수단; 을 포함하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치를 제공한다.Operation instructing means for instructing operation of the holder lifting actuator and the forward and backward moving means; It provides an electrode short detection device of a flat panel display device comprising a.

Description

평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법 {A apparatus and a method for detecting shorted electrodes of a flat display device}A device and a method for detecting shorted electrodes of a flat display device}

도 1 은 종래의 전극단락 검출장치를 도시하는 개략도이고,1 is a schematic diagram showing a conventional electrode short detection device;

도 2 는 다른 종래의 전극단락 검출장치를 도시하는 개략도이고,2 is a schematic diagram showing another conventional electrode short detection device;

도 3 은 본 발명에 따른 전극단락 검출장치의 외관을 도시하는 사시도이고,3 is a perspective view showing the appearance of an electrode short detection device according to the present invention;

도 4 는 도전성측정수단을 도시하는 사시도이고,4 is a perspective view showing conductivity measuring means;

도 5 는 본 발명에 따른 전극단락 검출장치의 신호전달관계를 도시하는 블록도이고,5 is a block diagram showing a signal transfer relationship of an electrode short detection device according to the present invention;

도 6 은 본 발명에 따른 전극단락 검출방법을 도시하는 블록도이고,6 is a block diagram showing the electrode short detection method according to the present invention;

도 7 은 탐침들이 동일 전극에 접촉하도록 정렬된 상태를 도시하는 평면도이고,7 is a plan view showing a state in which the probes are aligned to contact the same electrode,

도 8 은 탐침들이 서로 다른 전극들에 각각 접촉하도록 정렬된 상태를 도시하는 평면도이고,8 is a plan view showing a state in which the probes are aligned to respectively contact different electrodes;

도 9 는 본 발명에 의한 불량률의 감소를 도시하는 그래프이다.9 is a graph showing the reduction of the defective rate according to the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10: 평판표시소자 30: 전후진 이동수단10: flat panel display element 30: forward and backward moving means

40: 전후진부재 50: 홀더지지부재 40: forward and backward member 50: holder support member                 

60: 홀더 61: 홀더승강액튜에이터60: holder 61: holder lifting actuator

71: 제 1 승강부재 72: 제 2 승강부재71: first lifting member 72: second lifting member

81: 제 1 전후진부재 82: 제 2 전후진부재81: first forward and backward member 82: second forward and backward member

91: 제 1 탐침 92: 제 2 탐침91: first probe 92: second probe

100: 화상포착수단 110: 위치검출수단100: image capture means 110: position detection means

120: 정보표시수단 130: 작동지시수단120: information display means 130: operation instruction means

140: 도전성 측정수단 140: conductivity measurement means

본 발명은 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법에 관한 것이며, 더 상세하게는 두 개의 탐침을 이용하여 평판표시소자의 전극 간의 단락유무를 검출하기 위한 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an electrode short detection device and an electrode short detection method of a flat panel display device, and more particularly, to a device and method for detecting the presence or absence of a short circuit between the electrodes of the flat panel display device using two probes.

도 1 에는 한국 공개특허공보 특2001-0087833호에 개시된 평판표시소자의 전극단락 검출장치가 도시되어 있다. 이 전극단락 검출장치는 소정의 길이를 갖는 탐침을 소정의 간격으로 수개 배열한 탐침어레이(2) 및 패턴신호발생기를 구비한다. 상기 전극단락 검출장치에 있어서는, 상기 탐침어레이(2)를 검사대상기판(1)에 가까이 위치시킨 후에 패턴신호발생기에 의하여 발생된 패턴신호를 상기 검사대상기판(1)에 전송하고, 이 때 터널링효과에 의한 상기 검사대상기판(1)의 전극과 상기 탐침어레이(2)의 탐침간의 전기적 전위차를 검출함으로서 각 전극들 간의 단락유무 를 검출할 수 있다. 그러나 이와 같은 전극단락 검출장치는 터널링효과에 의하여 단락유무를 검출하기 때문에 직접적인 접촉에 의한 검출방식보다는 상대적으로 부정확한 검출결과가 도출될 수 있으며, 탐침어레이(2)에 배열된 탐침들 간의 간격이 고정되어 있어서 다른 간격을 갖는 전극들의 단락유무를 검사하기 위하여는 별도의 탐침어레이(2)를 준비해야 한다는 문제점이 있다.1 illustrates an electrode short detection device of a flat panel display device disclosed in Korean Laid-Open Patent Publication No. 2001-0087833. The electrode short detection device includes a probe array 2 and a pattern signal generator in which several probes having a predetermined length are arranged at predetermined intervals. In the electrode short detection device, after positioning the probe array (2) close to the inspection target plate (1), the pattern signal generated by the pattern signal generator is transmitted to the inspection target plate (1). By detecting the electrical potential difference between the electrode of the inspection target plate (1) and the probe of the probe array (2) by the effect it is possible to detect the presence or absence of a short circuit between each electrode. However, since the electrode short detection device detects the presence of a short circuit due to the tunneling effect, a relatively inaccurate detection result may be obtained rather than a direct contact detection method, and a gap between the probes arranged in the probe array 2 may be reduced. There is a problem in that it is necessary to prepare a separate probe array (2) in order to check the presence or absence of a short circuit of electrodes having different intervals.

도 2 에는 다른 종래의 전극단락 검출장치가 도시되어 있다. 이 전극단락 검출장치는 도전성고무(6)와 비도전성고무(7)가 교대로 결합된 지브라(5) 및 상기 지브라와 직접 접촉되는 일련의 전극(9)들을 구비한 PCB기판(8)을 포함한다. 이 전극단락 검출장치에 있어서는, 소정의 간격으로 도전성고무(6)가 배치된 지브라(5)를 평판표시소자(1)의 전극(4)들과 PCB기판(8)의 전극(9)들 사이에 넣고 이들을 직접 접촉시킨 후, 도전성 검사기(도시되지 않음)를 이용하여 상기 PCB기판의 전극(9)들 간의 도전성을 측정함으로써 상기 평판표시소자(1)의 전극(4)들의 도전성, 즉 단락유무를 검출한다. 그러나 이와 같은 전극단락 검출장치에 있어서는, 지브라(5)의 도전성고무(6)들의 간격이 평판표시소자(1)의 간격과 같거나 그보다 작아야 하고, PCB기판의 전극(9)들의 간격이 상기 지브라(5)의 도전성고무(6)들의 간격과 같거나 그보다 작아야 한다는 조건이 따르며, 상기와 같은 조건을 충족시키는 지브라(5) 및 PCB기판(8)을 제작하는 데에는 기술적 또는 경제적 한계가 있다는 문제점이 있다.2 shows another conventional electrode short detection device. The electrode short detection device includes a zebra 5 having alternating conductive rubber 6 and non-conductive rubber 7 and a PCB substrate 8 having a series of electrodes 9 in direct contact with the zebra. do. In the electrode short detection device, a zebra 5 having conductive rubbers 6 arranged at predetermined intervals is placed between the electrodes 4 of the flat panel display device 1 and the electrodes 9 of the PCB substrate 8. And contacting them directly, and then measuring the conductivity between the electrodes 9 of the PCB substrate using a conductivity checker (not shown) to check the conductivity of the electrodes 4 of the flat panel display device 1 Detect. However, in such an electrode short detection device, the distance between the conductive rubbers 6 of the zebra 5 should be equal to or less than that of the flat panel display element 1, and the distance between the electrodes 9 of the PCB substrate should be equal to or less than that of the zebra 5. The condition that the thickness of the conductive rubbers (6) is equal to or less than that of the conductive rubbers (6) is followed, and there is a problem that there is a technical or economic limitation in manufacturing the zebra (5) and the PCB substrate (8) that meet the above conditions. have.

상기 문제를 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 평판표시소자의 전극들 간의 단락유무에 대한 정확한 검출결과가 도출될 수 있고, 다른 간격을 갖는 전극들의 단락유무를 검사하기 위하여 별도의 부품을 준비할 필요가 없으며, 매우 좁은 간격의 전극들 간의 단락도 검출할 수 있는 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법을 제공하는 데에 있다.An object of the present invention for solving the above problems, the accurate detection result of the presence or absence of the short circuit between the electrodes of the flat panel display device can be derived, and to prepare a separate component to check the presence or absence of the short circuit of the electrodes having different intervals There is a need to provide an electrode short detection device and an electrode short detection method of a flat panel display element which can detect a short circuit between electrodes of very narrow intervals.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은:In order to achieve the above object, the present invention is:

제 1 탐침, 제 2 탐침, 상기 제 1 탐침 및 제 2 탐침을 지지하는 홀더, 상기 홀더를 승강시키는 홀더승강액튜에이터, 상기 홀더를 지지하는 전후진부재, 및 상기 전후진부재를 전후진시킬 수 있고 전후진부재의 위치를 측정할 수 있는 전후진부재 위치센서를 포함하는 전후진 이동수단을 구비하는 도전성측정수단;A first probe, a second probe, a holder for supporting the first and second probes, a holder elevating actuator for elevating the holder, an advancing member for supporting the holder, and the advancing and advancing member; Conductivity measuring means having forward and backward moving means including a forward and backward position sensor capable of measuring the position of the forward and backward member;

상기 전후진부재 위치센서, 제 1 탐침, 및 제 2 탐침과 연결되고, 이들로부터 전극의 위치를 검출할 수 있으며, 또한 검출된 전극의 위치를 이용하여 단락된 전극의 위치를 검출할 수 있는 위치검출수단;A position connected to the forward and backward member position sensor, the first probe, and the second probe, from which the position of the electrode can be detected, and the position of the shorted electrode can be detected using the detected position of the electrode Detection means;

상기 단락된 전극의 위치를 표시하는 정보표시수단; 및Information display means for displaying a position of the shorted electrode; And

상기 홀더승강액튜에이터와 전후진 이동수단의 작동을 지시할 수 있는 작동지시수단; 을 포함하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치를 제공한다.Operation instructing means for instructing operation of the holder lifting actuator and the forward and backward moving means; It provides an electrode short detection device of a flat panel display device comprising a.

상기 전후진 이동수단은: 상기 전후진부재를 안내하는 가이드 바아; 및 상기 가이드 바아를 따라서 전후진부재를 전후진 시키는 전후진 액튜에이터; 를 포함하는 것이 바람직하다.The forward and backward moving means includes: a guide bar for guiding the forward and backward members; And forward and backward actuators for advancing forward and backward members along the guide bar. It is preferable to include.

또한, 상기 도전성측정수단은 상기 탐침들의 화상을 포착하는 화상포착수단 을 더 포함하고, 상기 포착된 화상은 상기 정보표시수단에 의하여 표시되는 것이 바람직하다.Further, the conductivity measuring means further comprises image capturing means for capturing the images of the probes, wherein the captured image is displayed by the information display means.

나아가, 상기 제 1 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 1 승강부재 및 제 1 승강부재에 의하여 지지되며 제 1 승강부재에 대하여 전후진가능한 제 1 전후진부재를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되며, 상기 제 2 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 2 승강부재 및 제 2 승강부재에 의하여 지지되며 제 2 승강부재에 대하여 전후진가능한 제 2 전후진부재를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되는 것이 바람직하다.Further, the first probe is provided by: a first lifting member supported by a holder and capable of lifting up and down with respect to the holder and via a first forward and backward member supported and movable forward and backward with respect to the first lifting member. Supported by a holder, the second probe comprising: a second lifting member supported by the holder and supported by a second lifting member and a second lifting member that can be lifted relative to the holder and capable of moving forward and backward relative to the second lifting member. It is preferable that it is supported by the said holder.

또한 상기 홀더는, 전후진부재에 의하여 지지되며 전후진부재에 대하여 좌우로 이동가능한 홀더지지부재를 매개로 해서 상기 전후진부재에 지지되는 것이 바람직하다.In addition, the holder is preferably supported by the forward and backward members via a holder support member which is supported by the forward and backward members and movable left and right with respect to the forward and backward members.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 평판표시소자의 전극단락 검출방법으로서, 본 발명은:As an electrode short detection method of a flat panel display device for achieving the above object, the present invention provides:

제 1 탐침및 제 2 탐침을 하나의 전극과 동시에 접촉하도록 배치하는 제 1 탐침배치단계, 및 전후진 이동수단이 상기 탐침들을 일련의 전극들과 연속적으로 접촉하도록 이동시킴과 동시에 위치검출수단이 상기 탐침들 간의 도전성을 측정하여 전극들의 위치를 검출하는 전극위치 검출단계, 및 검출된 전극의 위치에 관한 정보를 저장하는 전극위치 저장단계를 구비한 전극위치 측정단계; 및A first probe placement step of placing the first probe and the second probe into contact with one electrode at the same time, and the forward and backward moving means move the probes into continuous contact with the series of electrodes and at the same time the position detecting means An electrode position measuring step including an electrode position detecting step of detecting the positions of the electrodes by measuring conductivity between the probes, and an electrode position storing step of storing information on the position of the detected electrode; And

제 1 탐침을 일 전극과 접촉하도록 배치하고 제 2 탐침을 타 전극과 접촉하도록 배치하는 제 2 탐침배치단계, 전후진 이동수단이 상기 탐침들을 일련의 전극 들과 연속적으로 접촉하도록 이동시킴과 동시에 위치검출수단이 상기 탐침들 간의 도전성을 측정함으로써 얻어진 정보를 상기 전극들의 위치정보와 비교함으로써 단락된 전극의 위치를 검출하는 단락위치 검출단계, 및 상기와 같이 검출된 단락된 전극의 위치정보를 정보표시수단으로 표시하는 단락위치 표시단계를 구비한 단락위치 측정단계; 를 포함하는 평판표시소자의 전극단락 검출방법을 제공한다.
A second probe positioning step in which the first probe is placed in contact with one electrode and the second probe is placed in contact with the other electrode, and the forward and backward moving means moves the probes so as to continuously contact the series of electrodes. A short-circuit position detecting step of detecting the position of the shorted electrode by comparing the information obtained by measuring the conductivity between the probes with the positional information of the electrodes, and displaying the positional information of the shorted electrode detected as described above. A short circuit position measuring step having a short circuit position display step displayed by means; It provides a method for detecting the electrode short of the flat panel display device comprising a.

이어서, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3 에는 본 발명에 따른 평판표시소자의 전극단락 검출장치의 외관이 도시되어 있으며, 이는 위치검출수단(110), 정보표시수단(120), 작동지시수단(130), 및 도전성측정수단(140)을 포함한다. 도 4 는 상기 도전성 측정수단(140)을 상세하게 도시하고 있고, 도 5 에 도시된 블록도는 전극단락 검출장치에 포함되는 각 구성요소의 연결관계를 도시하고 있다.Figure 3 shows the appearance of the electrode short detection device of the flat panel display device according to the present invention, which is a position detecting means 110, information display means 120, operation instruction means 130, and conductivity measurement means 140 ). 4 illustrates the conductivity measuring means 140 in detail, and the block diagram illustrated in FIG. 5 illustrates a connection relationship between components included in the electrode short detection apparatus.

작업테이블(20)은 평판표시소자(10)를 고정시키는 기능을 하며, 평판표시소자(10)를 지지하는 편평한 면과 기준격자(21)를 포함하는 것이 일반적이다. 도 3 에는 상기 작업테이블(20)이 도전성측정수단(140)에 포함되는 것으로서 도시되었으나, 작업테이블(20)은 독립적으로 제작되어 사용될 수 있으며, 경우에 따라서는 평판표시소자(10)의 전극단락검출이 별도의 작업테이블(20)이 아닌 임의의 편평한 면 위에서 수행될 수도 있다.The work table 20 functions to fix the flat panel display device 10, and generally includes a flat surface and a reference grid 21 for supporting the flat panel display device 10. In FIG. 3, the work table 20 is illustrated as being included in the conductivity measuring means 140. However, the work table 20 may be manufactured and used independently. In some cases, the electrode short of the flat panel display device 10 may be used. Detection may be performed on any flat surface rather than a separate worktable 20.

제 1 탐침(91)은 평판표시소자(10)의 전극(11)과 직접 접촉하여 전극의 도전성을 측정하는 구성요소이다. 상기 제 1 탐침(91)의 단부가 전극(11)의 표면과 직 접 접촉하면서 그 표면을 손상시키지 않도록 하기 위하여, 그 단부는 전극(11)의 폭보다 얇으면서도 다소 둥글게 형성되는 것이 바람직하다. 상기 제 1 탐침(91)은 제 1 탐침신호전송선(85)에 의하여 위치검출수단(110)과 전기적으로 연결된다.The first probe 91 is a component that directly contacts the electrode 11 of the flat panel display device 10 to measure the conductivity of the electrode. In order to prevent the end of the first probe 91 from directly in contact with the surface of the electrode 11 and to damage the surface thereof, the end of the first probe 91 is preferably thinner than the width of the electrode 11 but somewhat rounded. The first probe 91 is electrically connected to the position detecting means 110 by a first probe signal transmission line 85.

제 1 전후진부재(81)는 상기 제 1 탐침(91)을 지지하면서 전후로 미세하게 전후진시키는 기능을 한다. 상기 제 1 탐침(91)은 제 1 탐침고정노브(89)에 의하여 제 1 전후진부재(81)에 고정된다. 상기 제 1 전후진부재(81)가 도전성 재료로서 형성되는 경우에는, 상기 제 1 탐침(91)과 제 1 전후진부재(81)를 절연시키기 위하여 이들 사이에 플라스틱과 같은 절연성재료로서 형성된 제 1 절연부재(87)을 개재시키는 것이 바람직하며, 상기 제 1 탐침고정노브(89)도 절연성 재료로 형성되는 것이 바람직하다. 상기 제 1 전후진부재(81)는 스크류가 형성된 제 1 전후진노브(83)를 회전시킴에 따라서 제 1 승강부재(71)에 대하여 전후진되는데, 필요에 따라서는 상기 제 1 전후진노브(83)를 별도의 모터 등과 같은 액튜에이터(도시되지 아니함)로서 구동할 수 있도록 구성할 수도 있고 이 경우에는 그 액튜에이터를 작동지시수단(130)에 의하여 제어하는 것이 바람직하다.The first forward and backward member 81 functions to finely forward and backward back and forth while supporting the first probe 91. The first probe 91 is fixed to the first forward and backward member 81 by the first probe fixing knob 89. When the first forward and backward member 81 is formed as a conductive material, a first formed as an insulating material such as plastic therebetween to insulate the first probe 91 and the first forward and backward member 81. Preferably, the insulating member 87 is interposed, and the first probe fixing knob 89 is also formed of an insulating material. The first forward and backward member 81 moves forward and backward with respect to the first elevating member 71 as the screw rotates the first forward and backward knob 83 formed therein. 83) may be configured to be driven as an actuator (not shown) such as a separate motor, and in this case, it is preferable to control the actuator by the operation instruction means 130.

제 1 승강부재(71)는 상기 제 1 전후진부재(81)을 지지하면서 상하로 미세하게 승강시키는 기능을 하며, 스크류가 형성된 제 1 승강노브(73)를 회전시킴에 따라서 홀더(60)에 대하여 승강된다. 필요에 따라서는 상기 제 1 승강노브(73)를 별도의 모터 등과 같은 액튜에이터(도시되지 아니함)로서 구동할 수 있도록 구성할 수도 있는데, 이 경우에는 그 액튜에이터를 작동지시수단(130)에 의하여 제어하는 것이 바람직하다. The first elevating member 71 functions to elevate up and down finely while supporting the first forward and backward member 81, and rotates the first elevating knob 73 in which the screw is formed to the holder 60. Is raised and lowered. If necessary, the first lifting knob 73 may be configured to be driven as an actuator (not shown), such as a separate motor. In this case, the actuator is controlled by the operation instruction means 130. It is preferable.                     

제 2 탐침(92), 제 2 탐침고정노브(90), 제 2 전후진부재(82), 제 2 절연부재(88), 제 2 탐침신호전송선(86), 제 2 전후진노브(84), 제 2 승강부재(72), 및 제 2 승강노브(74) 는, 상기 제 1 탐침(91), 제 1 탐침고정노브(89), 제 1 전후진부재(81), 제 1 절연부재(87), 제 1 탐침신호전송선(85), 제 1 전후진노브(83), 제 1 승강부재(71), 및 제 1 승강노브(73)와 동일한 구성 및 기능을 갖는다.The second probe 92, the second probe fixing knob 90, the second forward and backward member 82, the second insulating member 88, the second probe signal transmission line 86, the second forward and backward knob 84 , The second elevating member 72, and the second elevating knob 74 may include the first probe 91, the first probe fixing knob 89, the first forward and backward member 81, and the first insulating member ( 87, the first probe signal transmission line 85, the first forward and backward knob 83, the first elevating member 71, and the first elevating knob 73 has the same configuration and function.

홀더(60)는, 제 1 승강부재(71) 및 제 2 승강부재(72)를 지지하는 승강부재지지부(64), 및 홀더지지부재(50)에 대하여 승강하는 것을 가이드하는 홀더승강가이드부재(63)를 포함한다. 도 4 에서는 상기 승강부재지지부(64)가 소정의 피치를 갖는 톱니열로서 도시되었으나 이에 한정되는 것은 아니다.The holder 60 includes an elevating member support 64 for supporting the first elevating member 71 and the second elevating member 72, and a holder elevating guide member for guiding the elevating with respect to the holder supporting member 50 ( 63). In FIG. 4, the lifting member support 64 is shown as a tooth row having a predetermined pitch, but is not limited thereto.

홀더승강액튜에이터(61)는 작동지시수단(130)의 제어를 받아서 홀더(60)를 홀더지지부재(50)에 대해 승강시키는 기능을 한다. 홀더승강액튜에이터(61)는 상기 승강부재들(71, 72)들보다 탐침들을 상하로 이동시킬 수 있는 폭이 크다. 비록 도 4 에서는 상기 홀더승강액튜에이터(61)가 홀더(60)에 장착된 것으로 도시되었으나 이에 한정되는 것은 아니고 홀더지지부재(50)에 장착될 수도 있다. 상기 홀더승강액튜에이터(61)는 홀더승강액튜에이터 구동케이블(62)에 의하여 작동지시수단(130)에 연결되고 이에 의하여 제어되는 것이 바람직하다.The holder elevating actuator 61 serves to elevate the holder 60 with respect to the holder supporting member 50 under the control of the operation instruction means 130. The holder elevating actuator 61 is larger in width than the elevating members 71 and 72 to move the probes up and down. Although the holder lifting actuator 61 is illustrated as being mounted on the holder 60 in FIG. 4, the holder lifting actuator 61 is not limited thereto and may be mounted on the holder supporting member 50. The holder lifting actuator 61 is preferably connected to and controlled by the operation indicating means 130 by the holder lifting actuator drive cable 62.

홀더지지부재(50)는 상기 홀더(60)를 승강가능하게 지지하는 기능을 한다.The holder supporting member 50 functions to support the holder 60 in a liftable manner.

전후진부재(40)는 상기 홀더지지부재(50)를 좌우로 이동가능하게 지지하는 기능을 한다. 상기 홀더지지부재(50)는 스크류가 형성된 홀더지지부재 고정노브(51)를 회전시킴에 따라서 전후진부재(40)에 대하여 좌우로 이동된다. 필 요에 따라서는 상기 홀더지지부재 고정노브(51)를 별도의 모터 등과 같은 액튜에이터(도시되지 아니함)로서 구동할 수 있도록 구성할 수도 있는데, 이 경우에는 그 액튜에이터를 작동지시수단(130)에 의하여 제어하는 것이 바람직하다.The fore and aft member 40 functions to support the holder supporting member 50 so as to be movable from side to side. The holder supporting member 50 is moved left and right with respect to the forward and backward member 40 as the holder supporting member fixing knob 51 with a screw is rotated. If necessary, the holder supporting member fixing knob 51 may be configured to be driven as an actuator (not shown), such as a separate motor. In this case, the actuator may be operated by the operation indicating means 130. It is desirable to control.

전후진 이동수단(30)은 상기 전후진부재(40)를 전후진시키기 위한 수단 및 전후진부재의 위치를 측정하기 위한 수단을 구비한다. 전후진부재(40)를 전후진시키기 위한 수단으로서는 상기 전후진부재(40)를 안내하는 가이드 바아(33), 및 상기 가이드 바아(33)를 따라서 전후진부재(40)를 전후진 시키는 전후진 액튜에이터(31)를 포함하는데, 이 전후진 액튜에이터(31)는 도 4 에 도시된 바와 같이 스크류방식을 이용한 것일 수도 있고, 공압실린더나 유압실린더일 수도 있다. 상기 전후진 액튜에이터(31)는 전후진 액튜에이터 구동케이블(34)에 의하여 작동지시수단(130)에 연결되고 이에 의하여 제어되는 것이 바람직하다. 또한, 비록 도 4 에 도시되지는 아니하였으나 상기 전후진 이동수단(30)은 전후진부재(40)의 위치를 측정할 수 있는 전후진부재 위치센서를 포함하는데, 그 전후진부재 위치센서로는, 상기 스크류방식의 액튜에이터로서 사용되는 모터의 회전축에 일련의 슬릿을 구비한 원판을 고정시키고 그 슬릿 사이로 적외선을 투과시켜서 적외선의 깜빡거리는 횟수를 측정함으로써 위치를 측정하는 포토커플링방식의 위치센서나, 초음파를 상기 전후진부재(40)에 대하여 발진하고 초음파가 반향되어 되돌아오는 시간을 측정하여 거리를 측정하는 초음파 위치센서일 수도 있다. 상기 전후진 이동수단(30)은 작동지시수단(130)에 의하여 입력되는 제어명령에 따라서 작동될 수 있으며, 필요에 따라서는 전후진부재(40)을 이동시키는 거리나 속도 등을 제어하는 소정의 연산 장치를 거쳐서 전후진 이동수단(30)에 연결될 수 있다. 또한 상기 전후진부재 위치센서에 의하여 감지된 위치정보는 위치검출수단(110)으로 전송되고, 위치검출수단(110)은 이 정보를 이용하여 평판표시소자(10)의 특정 전극(11)들의 단락유무를 검출하기도 하며, 그 정보를 적절히 변형시켜서 사용자가 인식할 수 있도록 정보표시수단(120)으로 전송할 수도 있다. 상기 위치검출수단(110)은 상기 연산장치와 일체로 구성될 수도 있다.The forward and backward moving means 30 is provided with means for advancing the forward and backward members 40 and means for measuring the position of the forward and backward members. As a means for advancing the forward and backward member 40, the guide bar 33 for guiding the forward and backward member 40, and the forward and backward forward and backward movements of the forward and backward member 40 along the guide bar 33 are performed. An actuator 31 is included, and the forward and backward actuators 31 may be of a screw type as shown in FIG. 4 or may be a pneumatic cylinder or a hydraulic cylinder. The forward and backward actuator 31 is preferably connected to and controlled by the operation instruction means 130 by the forward and backward actuator drive cable 34. In addition, although not shown in Figure 4, the forward and backward movement means 30 includes a forward and backward member position sensor that can measure the position of the forward and backward member 40, the forward and backward member position sensor The photocoupling type position sensor measures the position by fixing a disc having a series of slits on the rotational axis of the motor used as the screw type actuator and transmitting infrared rays between the slits to measure the number of blinks of the infrared rays. In addition, the ultrasonic wave sensor may be an ultrasonic position sensor for measuring the distance by oscillating the ultrasonic wave with respect to the forward and backward members 40 and measuring the time when the ultrasonic wave is reflected back. The forward and backward movement means 30 may be operated according to a control command input by the operation instructing means 130, and if necessary, a predetermined distance or speed for moving the forward and backward members 40 may be controlled. It may be connected to the forward and backward moving means 30 via the computing device. In addition, the position information detected by the forward and backward member position sensor is transmitted to the position detecting means 110, the position detecting means 110 using this information to short-circuit the specific electrode 11 of the flat panel display element 10 The presence or absence thereof may be detected, and the information may be appropriately modified to be transmitted to the information display means 120 so that the user can recognize it. The position detecting means 110 may be integrally formed with the computing device.

상기 도전성측정수단(140)은 상기 탐침들(91, 92)의 화상을 포착하는 화상포착수단(100)을 더 포함할 수 있다. 상기 화상포착수단(100)은 포착한 화상을 다른 형태로 변환시키지 않고 그대로 전송하는 것일 수도 있고 포착한 화상을 디지털화된 코드의 형식 등으로 변환해서 전송하는 것일 수도 있다. 상기 포착된 화상은 화상전송케이블(101)을 통하여 전송되고 궁극적으로는 상기 정보표시수단(120)에 의하여 표시된다. 상기 화상포착수단(100)은 상기 탐침들(91, 92)과 함께 이동하는 것이 유리하므로, 도 4 에 도시된 바와 같이 상기 전후진부재(40)와 함께 이동하도록 지지되는 것이 바람직하다. 도 4 에서는, 화상포착수단 지지부재(43)가 화상포착수단 지지부재 수용부(41)에 수용되고, 화상포착수단 지지부재 고정노브(42)를 조임에 의하여 상기 화상포착수단 지지부재(43)를 전후진부재에 고정할 수 있으며, 화상포착수단(100)은 화상포착수단 고정노브(44)에 의하여 상기 화상포착수단 지지부재에 고정되는 것으로 도시되었으나, 화상포착수단(100)을 전후좌우로 이동시킬 필요가 없는 경우에는 이들 중의 일부 구성을 생략할 수도 있다. 또한 상기 화상포착수단 지지부재(43)는, 이를 수동으로 전후진시켜서 이를 적절한 위치에 배치시킨 후에 상기 지지부재 고정노브(42)를 조임으로써 고정하고, 화상포착수단(100)을 화상포착수단 지지부재(43)에 대하여 좌우로 이동가능하게 고정시키는 화상포착수단 고정노브(44)도 수동으로 조작되는 것으로 도시되었으나, 이들의 구성이 이에 한정되는 것은 아니고 소정의 액튜에이터를 이용하여 이들을 작동지시수단(130)에 의하여 제어하는 것도 가능하다. 상기 화상포착수단(100)은, 탐침들(91,92)의 단부를 평판표시소자의 전극(11)과 적절히 접촉시키기 위하여 탐침들(91,92)의 배치상태를 육안으로 인식할 때 필요한 것이나, 간격이 넓은 전극(11)의 전극단락유무를 검사하기 위하여 단부가 비교적 굵은 탐침들을 이용하는 경우에는 불필요할 수도 있다.The conductivity measuring means 140 may further include an image capturing means 100 for capturing images of the probes 91 and 92. The image capturing means 100 may transmit the captured image as it is without converting the captured image into another form, or may convert the captured image into a digitized code or the like and transmit the captured image. The captured image is transmitted via the image transmission cable 101 and ultimately displayed by the information display means 120. Since the image capturing means 100 is advantageously moved together with the probes 91 and 92, it is preferable that the image capturing means 100 is supported to move together with the forward and backward members 40 as shown in FIG. In FIG. 4, the image capturing means supporting member 43 is accommodated in the image capturing means supporting member receiving portion 41, and the image capturing means supporting member 43 is tightened by tightening the image capturing means supporting member fixing knob 42. In FIG. It can be fixed to the forward and backward member, the image capture means 100 is shown to be fixed to the image capture means support member by the image capture means fixing knob 44, the image capture means 100 to If there is no need to move, some of these configurations may be omitted. In addition, the image capturing means supporting member 43 is fixed to the image capturing means 100 by tightening the support member fixing knob 42 after the front and rear of the image capturing means are manually moved forward and backward. Although the image capturing means fixing knob 44, which is fixed to the member 43 so as to be movable to the left and right, is also shown to be manually operated, the configuration thereof is not limited thereto, and the operation instruction means (see FIG. It is also possible to control by 130). The image capturing means 100 is necessary for visually recognizing the arrangement of the probes 91 and 92 in order to properly contact the ends of the probes 91 and 92 with the electrodes 11 of the flat panel display device. In the case of using probes having a relatively thick end to inspect the presence or absence of an electrode short of the electrode 11 having a wide interval, it may be unnecessary.

상기 위치검출수단(110)은 상기 전후진부재 위치센서에 의하여 감지된 위치정보를 전송받고, 제 1 탐침신호전송선(85) 및 제 2 탐침신호전송선(86)에 의하여 제 1 탐침(91) 및 제 2 탐침과 각각 전기적으로 연결되어 이 탐침들간의 도전성을 측정할 수 있으므로, 평판표시소자(10)의 특정 전극(11)들간의 단락유무를 검출할 수 있다. 또한 상기 위치정보와 특정 전극(11)의 단락유무에 관한 정보를 적절히 변형시켜서 사용자가 인식할 수 있도록 정보표시수단(120)으로 전송할 수도 있다. 나아가 전후진부재(40)을 이동시키는 거리나 속도 등을 제어하는 소정의 연산장치가 있는 경우에는, 상기 위치검출수단(110)이 이 연산장치와 일체로 구성될 수도 있다.The position detecting means 110 receives the position information detected by the forward and backward member position sensor, the first probe 91 and the first probe signal transmission line 85 and the second probe signal transmission line 86 Since the conductivity between the probes can be measured by being electrically connected to the second probe, respectively, the presence or absence of a short circuit between the specific electrodes 11 of the flat panel display device 10 can be detected. In addition, the position information and the information on the presence or absence of a short circuit of the specific electrode 11 may be appropriately modified and transmitted to the information display means 120 so that the user can recognize it. Further, when there is a predetermined computing device that controls the distance, speed, and the like for moving the front and rear members 40, the position detecting means 110 may be integrated with the computing device.

상기 정보표시수단(120)은 CRT, LCD, PDP 등과 같이 시각적 인식을 가능하게 하는 수단을 통칭한다. 상기 도전성측정수단(140)이 상기 탐침들의 화상을 포착하는 화상포착수단을 포함하는 경우에는 그 포착된 화상을 상기 정보표시수단(120)에 의하여 표시할 수 있다. 사용자는 표시된 화상을 보면서 상기 탐침들(91, 92)을 배치할 수 있다. 또한 상기 전후진부재 위치센서에 의하여 감지된 위치정보가 상기 정보표시수단(120)에 표시될 수도 있다. 나아가 상기 정보표시수단(120)은, 동일한 전극(11)에 접촉되도록 배치된 탐침들(91, 92)에 의한 도전성 측정 결과를 이용하여 얻어진 정보, 예를 들면 각 전극(11)의 위치, 간격, 폭 등을 표시할 수도 있으며, 서로 다른 전극에 접촉되도록 배치된 탐침들(91, 92)에 의한 도전성 측정 결과로부터 얻어진 단락유무에 관한 정보도 표시할 수 있다.The information display means 120 collectively means means for enabling visual recognition, such as CRT, LCD, PDP. When the conductivity measuring means 140 includes image capturing means for capturing images of the probes, the captured image may be displayed by the information display means 120. The user can place the probes 91 and 92 while viewing the displayed image. In addition, the position information detected by the forward and backward member position sensor may be displayed on the information display means 120. Further, the information display means 120 is obtained by using conductivity measurement results by the probes 91 and 92 arranged to contact the same electrode 11, for example, the position and spacing of each electrode 11. , Width, etc. may be displayed, and information regarding the presence or absence of a short circuit obtained from the result of conductivity measurement by the probes 91 and 92 arranged to contact different electrodes may be displayed.

상기 작동지시수단(130)은 키보드의 형태를 갖춘 것이 통상적으로 사용되나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 상기 전후진 이동수단(30)과 홀더승강액튜에이터(61)는 사용자가 작동지시수단(130)을 이용하여 입력하는 제어명령에 따라서 작동되며, 전술된 바와 같이 필요에 따라서 장착될 수 있는 각종의 액튜에이터들도 상기 작동지시수단(130)을 이용하여 입력되는 제어명령에 따라서 작동될 수 있다.
The operation instructing means 130 is generally used in the form of a keyboard, but is not necessarily limited thereto. The forward and backward movement means 30 and the holder lifting actuator 61 are operated in accordance with a control command input by the user using the operation instruction means 130, and various actuators that can be mounted as necessary as described above. These can also be operated according to the control command input by using the operation command means 130.

이하에서는 도 6을 참조하여 평판표시소자(10)의 전극단락 검출방법에 대하여 설명한다.Hereinafter, a method of detecting an electrode short of the flat panel display device 10 will be described with reference to FIG. 6.

전극단락 검출방법은 크게 초기화단계, 평판표시소자 투입단계, 전극부 위치설정단계, 전극위치 측정단계, 단락위치 측정단계 및 다른 평판표시소자의 전극단락을 검출하기 위한 후속단계들을 포함한다.The electrode short detection method largely includes an initialization step, a flat panel display element input step, an electrode part positioning step, an electrode position measuring step, a short circuit position measuring step, and subsequent steps for detecting an electrode short of another flat panel display element.

상기 초기화단계는 전극단락 검출장치를 미리 설정된 초기상태로 설정하는 단계인데, 구체적으로는 도전성 측정수단(140)에 포함되는 전후진부재(40), 홀더(60), 그밖의 액튜에이터들을 각각 소정의 초기위치로 이동시키는 단계이다. 초기화단계는 위치검출수단(110), 및 정보표시수단(120) 각각이 보유하고 있는 정보를 소정의 상태로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.The initializing step is a step of setting the electrode short detection device to a predetermined initial state, specifically, the forward and backward members 40, the holder 60, and other actuators included in the conductivity measuring means 140 are respectively predetermined. This step moves to the initial position. The initializing step may include setting the information held by the position detecting means 110 and the information display means 120 to a predetermined state.

상기 평판표시소자 투입단계는 측정의 대상이 되는 평판표시소자(10)를 작업테이블(20)에 배치하는 단계이다. 정확한 측정을 위하여는 상기 평판표시소자(10)를 정확한 위치에 고정하여야 하는데, 도 4 에 도시된 기준격자(21)에 밀착시킴으로서 정확하게 위치시키는 것이 가능하다.In the flat panel display device input step, the flat panel display device 10 to be measured is disposed on the work table 20. For accurate measurement, the flat panel display element 10 should be fixed at the correct position. The flat display element 10 can be accurately positioned by bringing it into close contact with the reference grid 21 shown in FIG.

상기 전극부 위치설정단계는 평판표시소자(10) 중에 전극(11)들이 배열된 부분인 전극부 위에 상기 제 1 탐침(91) 및 제 2 탐침(92)을 위치시키는 단계이다. 구체적으로는 상기 전극배열의 일단에 위치한 일 전극 위에 상기 탐침들(91,92)을 배치되도록, 상기 전후진부재(40) 및 홀더(60)를 이동시키는 단계이다.In the positioning of the electrode unit, the first probe 91 and the second probe 92 are positioned on the electrode unit, which is a portion in which the electrodes 11 are arranged in the flat panel display device 10. Specifically, the front and rear members 40 and the holder 60 are moved to arrange the probes 91 and 92 on one electrode positioned at one end of the electrode array.

상기 전극위치 측정단계는 제 1 탐침배치단계, 전극위치 검출단계, 및 전극위치 저장단계를 포함한다. 제 1 탐침배치단계는 제 1 탐침(91) 및 제 2 탐침(92)을 하나의 전극(11)과 동시에 접촉하도록 배치하는 단계인데, 도 4 에 도시된 승강노브들(73, 74) 및 전후진노브들(83, 84)을 미세하게 조정하여 탐침들(91, 92)이 도 7 에 도시된 바와 같이 일 전극과 접촉하도록 배치한다. 전극위치 검출단계는 상기와 같이 배치된 탐침들(91, 92)이 일련의 전극(11)들과 연속적으로 접촉하도록 이동시키는 단계이다. 이와 같이 탐침들(91, 92)을 이동시키면서 도전성을 측정하고 이와 동시에 위치검출수단(110)에 의하여 탐침들(91, 92)의 위치를 측정하면, 이들 탐침들이 전극(11)과 접촉하는 것이 감지되므로 각 전극(11)의 위치, 폭, 간 격 등을 알 수 있다. 이와 같이 전극(11)의 위치을 검출하는 것이 종료된 후에는, 홀더(60)을 상승시켜서 상기 탐침들(91, 92)을 평판표시소자(10)로부터 이격시킨 후에, 전후진 이동수단(30)을 구동하여 상기 탐침들을 제 1 탐침배치단계가 종료되었을 때의 위치로 이동시킨다. 전극위치 저장단계에서는 상기와 같이 얻어진 전극(11)에 관한 정보를 위치검출수단(110)에 포함되는 정보저장수단에 저장시킨다. 필요에 따라서는 이 정보를 정보표시수단(120)으로 전송하여 사용자로 하여금 인식할 수 있도록 한다.The electrode position measuring step includes a first probe placement step, an electrode position detection step, and an electrode position storage step. The first probe placement step is to arrange the first probe 91 and the second probe 92 to be in contact with one electrode 11 at the same time, and the lifting knobs 73 and 74 shown in FIG. The fine knobs 83 and 84 are finely adjusted so that the probes 91 and 92 are in contact with one electrode as shown in FIG. In the electrode position detecting step, the probes 91 and 92 arranged as described above are moved to continuously contact the series of electrodes 11. As such, when the conductivity is measured while the probes 91 and 92 are moved, and the position of the probes 91 and 92 is measured by the position detecting means 110, it is possible that these probes come into contact with the electrode 11. Since it is sensed, the position, width and interval of each electrode 11 can be known. After the detection of the position of the electrode 11 is completed in this way, the holder 60 is raised to separate the probes 91 and 92 from the flat panel display element 10, and then the forward and backward moving means 30 Is driven to move the probes to the position when the first probe placement step is complete. In the electrode position storing step, information on the electrode 11 obtained as described above is stored in the information storing means included in the position detecting means 110. If necessary, this information is transmitted to the information display means 120 so that the user can recognize it.

상기 단락위치 측정단계는 제 2 탐침배치단계, 단락위치 검출단계, 및 단락위치 표시단계를 포함한다. 상기 제 2 탐침배치단계에서는 승강노브들(73, 74)을 이용하여 상기 탐침들(91, 92)을 미세하게 상승시키고, 제 1 탐침(91) 과 제 2 탐침(92)을 전후진노브들(83, 84)을 이용하여 도 8 에 도시된 바와 같이 서로 인접한 다른 전극들 위에 각각 배치시킨 후, 다시 승강노브들(73, 74)을 이용하여 상기 탐침들을 하강시켜서 각각의 탐침들이 서로 인접한 전극(11)들에 각각 접촉하도록 한다. 단락위치 검출단계에서는, 상기 전후진부재를 이동시켜서 상기 탐침들 (91, 92) 이 일련의 전극(11)들과 연속적으로 접촉하도록 하고, 이와 동시에 위치검출수단(110)은 상기 탐침들(91, 92)간의 도전성을 측정하며, 이렇게 측정되는 도전성에 관한 정보를 상기 전극위치 검출단계에 의하여 저장된 전극(11)들에 관한 정보와 비교함으로써 단락된 전극(11)의 위치를 검출한다. 이와 같이 전극(11)의 단락을 검출하는 것이 종료된 후에는, 홀더(60)을 상승시켜서 상기 탐침들을 평판표시소자(10)로부터 이격시킨 후에, 전후진 이동수단(30)을 구동하여 탐침들을 제 2 탐침배치단계가 종료되었을 때의 위치로 이동시킨다. 단락위치 표시단계에서는 상기와 같이 검출된 단락된 전극(11)의 위치를 정보표시수단(120)으로 전송하여 표시함으로써 사용자가 시각적으로 인식할 수 있도록 한다.The short circuit position measuring step includes a second probe placement step, a short circuit position detection step, and a short circuit position display step. In the second probe placement step, the probes 91 and 92 are slightly raised using the lifting knobs 73 and 74, and the first and second probes 91 and 92 are moved forward and backward. 8 are disposed on the other electrodes adjacent to each other as shown in FIG. 8, and then the probes are lowered again using the lifting knobs 73 and 74 so that the respective probes are adjacent to each other. Make contact with each of (11). In the short-circuit position detecting step, the forward / backward member is moved so that the probes 91 and 92 are in continuous contact with the series of electrodes 11, and at the same time, the position detecting means 110 is connected to the probes 91. And 92, and the position of the shorted electrode 11 is detected by comparing the information about the measured conductivity with the information on the electrodes 11 stored by the electrode position detecting step. After the detection of the short circuit of the electrode 11 is completed, the holder 60 is raised to separate the probes from the flat panel display device 10, and then the forward and backward movement means 30 is driven to drive the probes. Move to the position when the second probe placement step is finished. In the short-circuit position display step, the position of the short-circuited electrode 11 detected as described above is transmitted to the information display means 120 and displayed so that the user can visually recognize it.

상기와 같이 일 평판표시소자의 전극(11)들에 관한 단락검출이 종료되면 다른 평판표시소자에 대한 전극단락검출을 계속할 것인가를 결정하는데, 계속하지 않는다면 그것으로서 평판표시소자의 전극단락 검출방법은 종료되며, 계속한다면 평판표시소자를 교체하고 전극단락의 검출을 계속한다. 전극단락의 검출을 계속하는 경우에, 교체된 평판표시소자가 동일하지 않은 것이라면 상기 전극부 위치설정단계부터 진행되어야 하고, 동일한 것이라면 전극부의 위치는 물론 각 전극들의 위치 등에 관한 정보도 이전의 평판표시소자와 동일하므로 단락위치 측정단계부터 진행한다.As described above, when the short-circuit detection of the electrodes 11 of one flat panel display element is completed, it is determined whether the electrode short detection of the other flat panel display element is to be continued. If it continues, replace the flat panel display element and continue detecting the electrode short. In the case where the detection of the electrode short is continued, if the replaced flat panel display elements are not the same, the electrode part positioning step should be proceeded. Since it is the same as the device, proceed from the short-circuit measurement step

본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.Although the present invention has been described with reference to one embodiment shown in the drawings, this is merely exemplary, and those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.

두 개의 탐침을 이용하여 이들간의 도전성을 측정하는 장치 및 방법이 제공된 바, 이로서 평판표시소자의 전극들 간의 단락유무에 대한 정확한 검출결과가 도출될 수 있고, 다른 간격을 갖는 전극들의 단락유무를 검사하기 위하여 별도의 부 품을 준비할 필요가 없으며, 매우 좁은 간격의 전극들 간의 단락도 검출할 수 있는 평판표시소자의 전극단락 검출장치 및 전극단락 검출방법이 제공된다.Apparatus and method for measuring the conductivity between them using two probes are provided, whereby an accurate detection result of the short circuit between the electrodes of the flat panel display device can be derived, and the short circuit of the electrodes having different spacings is examined. There is no need to prepare a separate component for the purpose, and there is provided an electrode short detection device and an electrode short detection method of a flat panel display device capable of detecting short circuits between electrodes of very narrow intervals.

Claims (8)

제 1 탐침, 제 2 탐침, 상기 제 1 탐침 및 제 2 탐침을 지지하는 홀더, 상기 홀더를 승강시키는 홀더승강액튜에이터, 상기 홀더를 지지하는 전후진부재, 및 상기 전후진부재를 전후진시킬 수 있고 전후진부재의 위치를 측정할 수 있는 전후진부재 위치센서를 포함하는 전후진 이동수단을 구비하는 도전성측정수단;A first probe, a second probe, a holder for supporting the first and second probes, a holder elevating actuator for elevating the holder, an advancing member for supporting the holder, and the advancing and advancing member; Conductivity measuring means having forward and backward moving means including a forward and backward position sensor capable of measuring the position of the forward and backward member; 상기 전후진부재 위치센서, 제 1 탐침, 및 제 2 탐침과 연결되고, 이들로부터 전극의 위치를 검출할 수 있으며, 또한 검출된 전극의 위치를 이용하여 단락된 전극의 위치를 검출할 수 있는 위치검출수단;A position connected to the forward and backward member position sensor, the first probe, and the second probe, from which the position of the electrode can be detected, and the position of the shorted electrode can be detected using the detected position of the electrode Detection means; 상기 단락된 전극의 위치를 표시하는 정보표시수단; 및Information display means for displaying a position of the shorted electrode; And 상기 홀더승강액튜에이터와 전후진 이동수단의 작동을 지시할 수 있는 작동지시수단;을 포함하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치로서,An electrode short detection device of a flat panel display device comprising: an operation instructing means for instructing the operation of the holder lifting actuator and the forward and backward moving means. 상기 전후진 이동수단은: 상기 전후진부재를 안내하는 가이드 바아; 및 상기 가이드 바아를 따라서 전후진부재를 전후진 시키는 전후진 액튜에이터;를 포함하는, 평판표시소자의 전극단락 검출장치.The forward and backward moving means includes: a guide bar for guiding the forward and backward members; And a forward and backward actuator for forward and backward moving the forward and backward members along the guide bar. 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 도전성측정수단은 상기 탐침들의 화상을 포착하는 화상포착수단을 더 포함하고, 상기 포착된 화상은 상기 정보표시수단에 의하여 표시되는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.And said conductivity measuring means further comprises image capturing means for capturing images of said probes, said captured image being displayed by said information display means. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 1 승강부재; 및 제 1 승강부재에 의하여 지지되며 제 1 승강부재에 대하여 전후진가능한 제 1 전후진부재; 를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되며,The first probe comprises: a first elevating member supported by a holder and capable of elevating with respect to the holder; And a first forward and backward member supported by the first elevating member and capable of forward and backward with respect to the first elevating member; Supported by the holder via 상기 제 2 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 2 승강부재; 및 제 2 승강부재에 의하여 지지되며 제 2 승강부재에 대하여 전후진가능한 제 2 전후진부재; 를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.The second probe includes: a second lifting member supported by the holder and capable of lifting up and down with respect to the holder; And a second forward and backward member supported by the second elevating member and capable of forward and backward with respect to the second elevating member; An electrode short detection device of a flat panel display device, characterized in that supported by the holder via a medium. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 제 1 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 1 승강부재; 및 제 1 승강부재에 의하여 지지되며 제 1 승강부재에 대하여 전후진가능한 제 1 전후진부재; 를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되며,The first probe comprises: a first elevating member supported by a holder and capable of elevating with respect to the holder; And a first forward and backward member supported by the first elevating member and capable of forward and backward with respect to the first elevating member; Supported by the holder via 상기 제 2 탐침은: 홀더에 의하여 지지되며 홀더에 대하여 승강가능한 제 2 승강부재; 및 제 2 승강부재에 의하여 지지되며 제 2 승강부재에 대하여 전후진가 능한 제 2 전후진부재; 를 매개로 해서 상기 홀더에 지지되는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.The second probe includes: a second lifting member supported by the holder and capable of lifting up and down with respect to the holder; And a second forward and backward member supported by the second elevating member and capable of forward and backward with respect to the second elevating member; An electrode short detection device of a flat panel display device, characterized in that supported by the holder via a medium. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 홀더는, 전후진부재에 의하여 지지되며 전후진부재에 대하여 좌우로 이동가능한 홀더지지부재를 매개로 해서 상기 전후진부재에 지지되는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.And the holder is supported by the forward and backward member via a holder support member which is supported by the forward and backward member and movable left and right with respect to the forward and backward member. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 홀더는, 전후진부재에 의하여 지지되며 전후진부재에 대하여 좌우로 이동가능한 홀더지지부재를 매개로 해서 상기 전후진부재에 지지되는 것을 특징으로 하는 평판표시소자의 전극단락 검출장치.And the holder is supported by the forward and backward member via a holder support member which is supported by the forward and backward member and movable left and right with respect to the forward and backward member. 제 1 탐침 및 제 2 탐침을 하나의 전극과 동시에 접촉하도록 배치하는 제 1 탐침배치단계, 및 전후진 이동수단이 상기 탐침들을 일련의 전극들과 연속적으로 접촉하도록 이동시킴과 동시에 위치검출수단이 상기 탐침들 간의 도전성을 측정하여 전극들의 위치를 검출하는 전극위치 검출단계, 및 검출된 전극의 위치에 관한 정보를 저장하는 전극위치 저장단계를 구비한 전극위치 측정단계; 및A first probe placement step of placing the first probe and the second probe into contact with one electrode at the same time, and the forward and backward moving means move the probes into continuous contact with the series of electrodes and at the same time the position detecting means An electrode position measuring step including an electrode position detecting step of detecting the positions of the electrodes by measuring conductivity between the probes, and an electrode position storing step of storing information on the position of the detected electrode; And 제 1 탐침을 일 전극과 접촉하도록 배치하고 제 2 탐침을 타 전극과 접촉하도록 배치하는 제 2 탐침배치단계, 전후진 이동수단이 상기 탐침들을 일련의 전극 들과 연속적으로 접촉하도록 이동시킴과 동시에 위치검출수단이 상기 탐침들 간의 도전성을 측정함으로써 얻어진 정보를 상기 전극들의 위치정보와 비교함으로써 단락된 전극의 위치를 검출하는 단락위치 검출단계, 및 상기와 같이 검출된 단락된 전극의 위치정보를 정보표시수단으로 표시하는 단락위치 표시단계를 구비한 단락위치 측정단계; 를 포함하는 평판표시소자의 전극단락 검출방법.A second probe positioning step in which the first probe is placed in contact with one electrode and the second probe is placed in contact with the other electrode, and the forward and backward moving means moves the probes so as to continuously contact the series of electrodes. A short-circuit position detecting step of detecting the position of the shorted electrode by comparing the information obtained by measuring the conductivity between the probes with the positional information of the electrodes, and displaying the positional information of the shorted electrode detected as described above. A short circuit position measuring step having a short circuit position display step displayed by means; Electrode short circuit detection method of a flat panel display device comprising a.
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CN106841990B (en) * 2017-02-16 2019-06-11 京东方科技集团股份有限公司 Display screen detection device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR940015570A (en) * 1992-12-30 1994-07-21 이헌조 Electrode pattern inspection device of liquid crystal display device
JPH1078469A (en) * 1996-09-03 1998-03-24 Opt Syst:Kk Tracing inspecting apparatus for liquid crystal board
KR980013587A (en) * 1996-07-18 1998-04-30 김광호 Probe apparatus for electric conduction test of printed circuit board (Probe apparatus for electric conduction test of PCB)
KR20010011257A (en) * 1999-07-27 2001-02-15 김순택 Inspection apparatus for PDP

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR940015570A (en) * 1992-12-30 1994-07-21 이헌조 Electrode pattern inspection device of liquid crystal display device
KR980013587A (en) * 1996-07-18 1998-04-30 김광호 Probe apparatus for electric conduction test of printed circuit board (Probe apparatus for electric conduction test of PCB)
JPH1078469A (en) * 1996-09-03 1998-03-24 Opt Syst:Kk Tracing inspecting apparatus for liquid crystal board
KR20010011257A (en) * 1999-07-27 2001-02-15 김순택 Inspection apparatus for PDP

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