KR100825226B1 - 정밀 고도 측정 방법 및 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
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- 고도 측정 방법으로서,로컬 대기압을 측정하는 압력 센서(14)와 로컬 온도를 측정하는 온도 센서(16)를 통해 감지한 대기압 및 온도 정보를 이용하여 제 1 고도 감지 데이터를 생성하는 단계(120)와;지면과의 거리를 측정하는 초음파 센서(18)를 통해 감지한 거리 정보를 이용하여 제 2 고도 감지 데이터를 생성하는 단계(130)와;상기 초음파 센서(18)로부터의 데이터를 기준으로 상기 압력 센서(14)와 온도 센서(16)로부터의 데이터를 퍼지화하고 보정하는 단계(140, 150, 160)를포함하여 고도를 산출하는 것을 특징으로 하는 정밀 고도 측정 방법.
- 제 1 항에 있어서, 10 m를 초과하는 고도에서는 압력 센서(14)와 온도 센서(16)로부터의 제 1 고도 감지 데이터만을 이용하여 고도 산출을 하며, 10 m 이하의 고도에서만 상기 초음파 센서(18)로부터의 제 2 고도 감지 데이터를 이용하여 퍼지화하는 보정 단계를 거쳐 고도 산출을 하는 것을 특징으로 하는 정밀 고도 측정 방법.
- 고도 측정 장치로서,로컬 대기압을 측정하는 압력 센서(14)와;로컬 온도를 측정하는 온도 센서(16)와;지면과의 거리를 측정하는 초음파 센서(18)와;상기 센서들(14, 16, 18)로부터의 감지 데이터를 가공하여 고도 데이터를 출력하는 마이크로프로세서(1284)를포함하며, 여기서 상기 마이크로프로세서(1284)는, 상기 압력 센서(14)와 온도 센서(16)를 통해 감지한 대기압 및 온도 정보를 이용하여 제 1 고도 감지 데이터를 생성하고, 상기 초음파 센서(18)를 통해 감지한 거리 정보를 이용하여 제 2 고도 감지 데이터를 생성하며, 상기 초음파 센서(18)로부터의 데이터를 기준으로 상기 압력 센서(14)와 온도 센서(16)로부터의 데이터를 퍼지화하고 보정하는 단계(140, 150, 160)를 거쳐 고도를 산출하도록 동작하는것을 특징으로 하는 정밀 고도 측정 장치.
- 제 3 항에 있어서, 상기 마이크로프로세서(1284)는 10 m를 초과하는 고도에서는 압력 센서(14)와 온도 센서(16)로부터의 제 1 고도 감지 데이터만을 이용하여 고도 산출을 하며, 10 m 이하의 고도에서만 상기 초음파 센서(18)로부터의 제 2 고도 감지 데이터를 이용하여 퍼지화하는 보정 단계를 거쳐 고도 산출을 하도록 동작하는 것을 특징으로 하는 정밀 고도 측정 장치.
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---|---|---|---|---|
JPH03289520A (ja) * | 1989-12-20 | 1991-12-19 | Westinghouse Electric Corp <We> | 流体レベル測定方法及び装置 |
JPH07159221A (ja) * | 1993-12-07 | 1995-06-23 | Toshiba Corp | 超音波レベル測定装置 |
JPH07159532A (ja) * | 1993-12-06 | 1995-06-23 | Nippon Steel Corp | 連続鋳造用モールドレベル計 |
US5764541A (en) | 1995-12-22 | 1998-06-09 | Hermann Finance Corporation Ltd. | Microprocessor controlled sensor signal conditioning circuit |
-
2006
- 2006-09-11 KR KR1020060087379A patent/KR100825226B1/ko active IP Right Grant
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US5764541A (en) | 1995-12-22 | 1998-06-09 | Hermann Finance Corporation Ltd. | Microprocessor controlled sensor signal conditioning circuit |
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