KR100822895B1 - 어레이 테스트 장치용 모듈레이터 - Google Patents
어레이 테스트 장치용 모듈레이터 Download PDFInfo
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Abstract
Description
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- 기판에 형성된 전극의 전기적 결함 여부를 검사하는 어레이 테스트 장치에 구비된 것으로,고정 블록의 하면에 승강 가능하도록 결합된 것으로, 상기 기판 전극들과의 사이에 전기장을 형성하는 모듈레이터 전극부와, 상기 전기장의 세기에 따라서 특정 물성치가 변경되는 물성 변경부를 구비하는 모듈레이터 본체; 및상기 모듈레이터 본체의 외곽에 배치되어 상기 모듈레이터 본체와 상기 기판과의 간격을 조절하는 간격 조절부;를 구비하며,상기 간격 조절부는: 외부로부터 압력을 공급받는 챔버부와, 상기 챔버부와 연통 결합되며 상기 챔버부로부터의 압력을 다수의 미세 구멍으로 통하여 상기 기판 방향으로 제공하는 다공성(多孔性) 물질부로 이루어진 다공 유닛들;을 구비하는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제1항에 있어서,상기 다공 유닛들은:상기 모듈레이터 본체의 일측 외곽 및 타측 외곽에 상기 모듈레이터 본체의 중앙부를 중심으로 한 가상 삼각형의 각 꼭짓점을 중심으로 배치된 저압용 다공성 물질부와, 상기 각각의 저압용 다공성 물질부와 연통하는 저압용 챔버부를 구비하는 저압용 다공 유닛들과;상기 모듈레이터 본체의 일측 외곽 및 타측 외곽에 상기 모듈레이터 본체의 중앙부를 중심으로 한 가상 역삼각형의 각 꼭짓점을 중심으로 배치된 고압용 다공성 물질부와, 상기 각각의 고압용 다공성 물질부와 연통하는 고압용 챔버부들을 구비하는 고압용 다공 유닛들;을 구비하는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제1항에 있어서,상기 다공 유닛들은:상기 모듈레이터 본체를 중심으로 일방향으로 서로 이격 배치된 고압용 다공성 물질부와, 상기 각각의 고압용 다공성 물질부와 연통하는 고압용 챔버부들을 구비하는 고압용 다공 유닛들과;상기 모듈레이터 본체를 중심으로 상기 고압용 다공성 물질부와 교차하는 방향으로 서로 이격 배치된 저압용 다공성 물질부와, 상기 각각의 저압용 다공성 물질부와 연통하는 저압용 챔버부를 구비하는 저압용 다공 유닛들을 구비하는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제2항 또는 제3항에 있어서,상기 모듈레이터 본체와 기판이 상대 운동을 하는 경우에는 상기 고압용 다공 유닛 및 저압용 다공 유닛으로부터 압력이 기판 방향으로 공급되고,상기 모듈레이터가 기판에 접근하거나 어레이 테스트를 실시하는 경우에는 상기 고압용 다공 유닛으로부터는 압력이 기판 방향으로 공급되지 않고, 상기 저압용 다공 유닛으로부터 압력이 기판 방향으로 공급되는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제1항에 있어서,상기 간격 조절부에 구비된 상기 다공 유닛들은, 상기 모듈레이터 본체를 중심으로 서로 대향 배치되고,상기 간격 조절부는, 상기 다공 유닛에 인접하여 상기 다공 유닛마다 대응되도록 배치된 적어도 하나의 정압 제공 관 유닛들을 더 구비하며,상기 정압 제공 관 유닛 각각은: 외부로부터 일정한 정압을 공급받아서, 그 출구를 통해 기판 방향으로 정압을 분출하는 정압 공급관;을 구비하는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제1항에 있어서,상기 간격 조절부에 구비된 상기 다공 유닛들은, 상기 모듈레이터 본체를 중심으로 서로 대향 배치되고,상기 간격 조절부는, 상기 다공 유닛을 관통하는 정압 제공 관 유닛들을 더 구비하며,상기 정압 제공 관 유닛들 각각은: 외부로부터 일정한 정압을 공급받아서, 그 출구를 통해 기판 방향으로 정압을 분출하는 정압 공급관;을 구비하는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제5항 또는 제6항에 있어서,상기 정압 제공 관 유닛은 상기 다공 유닛보다 상대적으로 고압을 제공하고,상기 모듈레이터 본체와 기판이 상대 운동을 하는 경우에는 상기 다공 유닛 및 정압 제공 관 유닛으로부터 압력이 기판 방향으로 공급되도록 하며,상기 모듈레이터가 기판에 접근 및 어레이 테스트를 실시하는 경우에는 상기 정압 제공 관 유닛으로부터는 압력이 기판 방향으로 공급되지 않고, 상기 다공 유닛으로부터 압력이 기판 방향으로 공급되는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제5항 또는 제6항에 있어서,상기 정압 제공 관 유닛들은 각각, 상기 모듈레이터 본체의 중앙부를 중심으로 한 가상 삼각형의 각 꼭짓점에 배치되는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제5항 또는 제6항에 있어서,상기 간격 조절부는, 상기 다공 유닛을 관통하는 부압 제공 관 유닛들을 더 구비하며,상기 부압 제공 관 유닛들 각각은: 외부로부터 부압(負壓) 또는 진공압을 공급받아서, 그 출구를 통해 기판 방향으로 진공압 또는 부압을 제공하는 부압 공급관;을 구비하는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제9항에 있어서,상기 부압 제공 관 유닛은, 상기 모듈레이터 본체가 기판에 접근하거나, 어레이 테스트를 실시하는 경우 압력을 기판 방향으로 공급하는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제9항에 있어서,상기 부압 제공 관 유닛들은 각각, 상기 모듈레이터 본체의 중앙부를 중심으로 한 가상 역삼각형의 각 꼭짓점에 배치되며,상기 정압 제공 관 유닛들은 각각, 상기 모듈레이터 본체의 중앙부를 중심으로 한 가상 삼각형의 각 꼭짓점에 배치되는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제5항 또는 제6항에 있어서,상기 간격 조절부는, 상기 다공 유닛에 인접하여 상기 다공 유닛마다 대응되도록 배치된 적어도 하나의 부압 제공 관 유닛들을 더 구비하며,상기 부압 제공 관 유닛 각각은: 외부로부터 부압 또는 진공압을 공급받아서, 그 출구를 통해 기판 방향으로 진공압 또는 부압을 공급하는 부압 공급관;을 구비하는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제12항에 있어서,상기 부압 제공 관 유닛은, 상기 모듈레이터 본체가 기판에 접근 또는 어레이 테스트를 실시하는 경우 압력을 기판 방향으로 공급하는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
- 제12항에 있어서,상기 부압 제공 관 유닛들은 각각, 상기 모듈레이터 본체의 중앙부를 중심으로 한 가상 역삼각형의 각 꼭짓점에 배치되며,상기 정압 제공 관 유닛들은 각각, 상기 모듈레이터 본체의 중앙부를 중심으로 한 가상 삼각형의 각 꼭짓점에 배치되는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치용 모듈레이터.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020070100585A KR100822895B1 (ko) | 2007-10-05 | 2007-10-05 | 어레이 테스트 장치용 모듈레이터 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070100585A KR100822895B1 (ko) | 2007-10-05 | 2007-10-05 | 어레이 테스트 장치용 모듈레이터 |
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Family
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Family Applications (1)
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---|---|---|---|
KR1020070100585A KR100822895B1 (ko) | 2007-10-05 | 2007-10-05 | 어레이 테스트 장치용 모듈레이터 |
Country Status (1)
Country | Link |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101288457B1 (ko) | 2011-11-08 | 2013-07-26 | 주식회사 탑 엔지니어링 | 어레이 테스트 장치 |
KR101470591B1 (ko) * | 2008-08-04 | 2014-12-11 | 주식회사 탑 엔지니어링 | 어레이 테스트 장치 |
KR101857955B1 (ko) * | 2011-11-30 | 2018-05-16 | 주식회사 탑 엔지니어링 | 도포장치 |
Citations (3)
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JPH11271800A (ja) | 1998-03-25 | 1999-10-08 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 液晶駆動基板の検査装置及びその検査方法 |
KR20030049486A (ko) * | 2001-12-15 | 2003-06-25 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시장치 검사용 모듈레이터 |
KR20050043046A (ko) * | 2003-11-04 | 2005-05-11 | 세심광전자기술(주) | 능동소자기판 검사방법 및 그 검사장치 |
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2007
- 2007-10-05 KR KR1020070100585A patent/KR100822895B1/ko active IP Right Grant
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