KR100815244B1 - ICT:in-circuit tester using compensation of internal resistance of switches for it and measurement methods thereof - Google Patents

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KR100815244B1
KR100815244B1 KR1020060088500A KR20060088500A KR100815244B1 KR 100815244 B1 KR100815244 B1 KR 100815244B1 KR 1020060088500 A KR1020060088500 A KR 1020060088500A KR 20060088500 A KR20060088500 A KR 20060088500A KR 100815244 B1 KR100815244 B1 KR 100815244B1
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Abstract

본 발명은 아이씨티 및 아이씨티를 이용한 측정 방법이다. The present invention is a measuring method using IC and IC.

본 발명에 의한 아이씨티는, 측정하고자 측정 소자를 선택하는 스위치매트릭스부; 측정 소자의 일단에 연결되고 각각의 스위치 소자를 갖는 제 1 신호선과 제 2 신호선 및, 측정 소자의 타단에 연결되고 스위치 소자를 갖는 제 3 신호선을 포함함으로써 스위치매트릭스부와 연결되어 직류의 전류 또는 전압을 측정하는 측정부; 스위치매트릭스부의 선별 구동 및 상기 측정부의 구동, 측정, 및 계산 등을 제어하는 제어부; 및 상기 제어부의 제어 순서 및 측정 결과를 저장하는 메모리부를 구비하며, 측정부는 제 1 신호선을 통하여 직류 또는 교류의 정전압원 또는 정전류원을 인가함으로써, 제 1 신호선, 측정 소자, 및 제 3 신호선을 따라 흐르는 전류를 측정하고, 측정 소자와 제 3 신호선을 포함하는 양단의 전압을 전압을 제 2 신호선 및 제 3 신호선을 통하여 측정하며, 제어부는 측정된 결과를 참조하여 측정 소자의 저항값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위해 연산을 수행하는 것을 특징으로 한다. ICT according to the present invention, the switch matrix unit for selecting the measurement element to be measured; A first signal line and a second signal line connected to one end of the measurement element and having respective switch elements, and a third signal line connected to the other end of the measurement element and having a switch element so as to be connected to the switch matrix part to provide a current or voltage of direct current. Measuring unit for measuring; A control unit controlling selection drive of a switch matrix unit and driving, measurement, and calculation of the measurement unit; And a memory unit for storing the control sequence and the measurement result of the control unit, wherein the measurement unit applies a DC or AC constant voltage source or a constant current source through the first signal line, thereby following the first signal line, the measuring element, and the third signal line. Measures the current flowing through the voltage, and measures the voltage across the measurement element and the third signal line through the second signal line and the third signal line, and the control unit refers to the resistance value of the measurement element and the switch element with reference to the measured result. It is characterized by performing an operation to calculate the resistance value.

아이씨티, 직류전압측정, 직류전류측정, 교류전압측정, 교류전류측정 IC, DC voltage measurement, DC current measurement, AC voltage measurement, AC current measurement

Description

스위치 내부저항 보상을 이용한 아이씨티 및 이를 이용한 측정 방법{ICT:(in-circuit tester) using compensation of internal resistance of switches for it and measurement methods thereof}ICT using switch internal resistance compensation and measuring method using same {ICT: (in-circuit tester) using compensation of internal resistance of switches for it and measurement methods

도 1은 본 발명의 적용 대상인 아이씨티(ICT)의 구성도이다.1 is a block diagram of ICT (ICT) to which the present invention is applied.

도 2는 본 발명에 의한 아이씨티의 직류 측정의 회로도이다. 2 is a circuit diagram of DC measurement of IC according to the present invention.

도 3은 본 발명에 의한 아이씨티의 교류 측정의 회로도이다. 3 is a circuit diagram of AC measurement of IC according to the present invention.

도 4는 본 발명에 의한 아이씨티를 이용한 직류 측정 방법을 설명하기 위한 플로우차트이다. 4 is a flowchart for explaining a DC measurement method using an IC according to the present invention.

도 5는 본 발명에 의한 아이씨티를 이용한 교류 측정 방법을 설명하기 위한 플로우차트이다. Fig. 5 is a flowchart for explaining an AC measuring method using ICT according to the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

200: 인쇄 회로 기판, 211: 측정 저항 소자, 230: 스위치매트릭스부, 234: 제 1 신호선, 235: 제 2 신호선, 236: 제 3 신호선, 240: 측정부 200: printed circuit board, 211: measurement resistance element, 230: switch matrix unit, 234: first signal line, 235: second signal line, 236: third signal line, 240: measuring unit

본 발명은, 아이씨티 및 아이씨티를 이용한 측정 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 3선만을 이용한 아이씨티 및 아이씨티를 이용한 측정 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a measuring method using ICT and ICT, and more particularly to a measuring method using ICT and ICT using only three wires.

아이씨티(ICT)는 전자제품 제조공정에 있어서 부품이 실장된 인쇄회로기판의 불량 유무를 판별하는 자동측정장치로써, 불량 보드의 조기 판별을 통하여 생산성 향상에 기여하는 측정장치이다. 측정원리는 인쇄회로기판에 실장된 각각의 수동소자들의 값을 측정하기 위하여 탐침(Probe)을 접촉시켜서 직류 또는 교류 측정을 한 후 각 소자값을 측정하는 것이며, 이를 통하여 측정하는 인쇄회로기판의 불량 유무를 판별한다.ICT (ICT) is an automatic measuring device that determines whether a printed circuit board on which a component is mounted is defective in an electronic product manufacturing process, and is a measuring device that contributes to productivity improvement through early identification of a defective board. The principle of measurement is to measure the value of each element after making direct current or alternating current by contacting probe to measure the value of each passive element mounted on the printed circuit board. Determine the presence or absence.

도 1은 본 발명의 적용 대상인 아이씨티(ICT)의 구성도이다. 도 1에 도시한 바와 같이, 측정하고자 하는 인쇄회로기판(Printed Circuit Board, 10)에 탐침의 집합체(Bed of nails, 20)를 접촉시킨다. 인쇄회로기판(10) 내의 측정하고자 하는 소자는 스위치 매트릭스(Switch matrix, 30)에 의하여 선택되어 측정 모듈(Measurement module, 40)에 연결된다. 스위치 매트릭스(30)는 측정할 인쇄회로기판(10)의 측정에 필요한 총 N개의 탐침에 대하여 3개의 신호 선으로 연결할 수 있도록 3xN의 매트릭스로 구성된다. 1 is a block diagram of ICT (ICT) to which the present invention is applied. As shown in FIG. 1, the assembly of the probes 20 is contacted with a printed circuit board 10 to be measured. The element to be measured in the printed circuit board 10 is selected by the switch matrix 30 and connected to the measurement module 40. The switch matrix 30 is composed of a 3 × N matrix so that three signal lines can be connected to a total of N probes required for the measurement of the printed circuit board 10 to be measured.

측정 모듈(40)은 전압 또는 전류원을 인쇄회로기판(10) 내의 측정할 소자에 인가하고, 이에 따른 전류 또는 전압을 측정한다. 이와 같이 스위치 매트릭스(30)의 선별 구동, 측정 모듈(40)의 구동 및 측정 동작 등은 컴퓨터(50)에 의하여 제어되며, 이러한 제어 순서 및 측정결과는 메모리(60)에 저장된다.The measurement module 40 applies a voltage or current source to the device to be measured in the printed circuit board 10 and measures the current or voltage accordingly. In this way, the selective drive of the switch matrix 30, the drive of the measurement module 40, the measurement operation, and the like are controlled by the computer 50, and the control procedure and the measurement result are stored in the memory 60.

아이씨티(ICT)에서는 측정하고자 하는 인쇄회로기판의 임의의 소자를 선택하 여 측정부와 연결시키는 행렬형태의 스위치부가 존재한다. 이 스위치 소자들로써 리드 릴레이(reed-relay) 또는 아날로그 스위치(analog switch) 등을 사용하는데, 이 스위치 소자들에 내부저항성분이 존재하여 측정오차를 유발한다. In ICT, there is a matrix switch that selects an arbitrary element of a printed circuit board to be measured and connects it to the measurement unit. As the switch elements, a reed-relay or an analog switch is used. An internal resistance component is present in these switch elements to cause a measurement error.

아이씨티(ICT)의 정확도 향상을 위하여 여러 특허가 발표되었다. Several patents have been published to improve the accuracy of ICT.

대한민국공개특허 특1996-0018591 "인-서큐트 테스터기의 전류/전압 측정회로"에 의하면 전압 디지털 변환부, 전류 디지털 변환부 각각에 다수의 특징이 다른 A/D 변환기를 사용하여 정확도를 높이는 방안을 제시하였다. According to Korean Patent Application Publication No. 1996-0018591 "Current / Voltage Measurement Circuit of In-Circuit Tester", a method of improving the accuracy by using an A / D converter having a number of characteristics different from each of the voltage digital converter and the current digital converter is provided. Presented.

대한민국 공개 실용신안 실1994-0005691 "에이티비(ATB)의 자동측정장치"에 의하면, 보정용 소자들을 사용하여 시스템 보드의 성능시험 및 보정을 신속 정확히 수행할 수 있는 자동보정에 관한 특허로써, 아이씨티(ICT)의 정확도 향상을 어느 정도 기할 수 있다.According to Republic of Korea Utility Model No. 1994-0005691 "ATB automatic measuring device", a patent for automatic calibration that can quickly and accurately perform the performance test and calibration of the system board using the calibration elements, (ICT) can improve the accuracy to some extent.

대한민국 공개특허 특1992-0021996 "멀티플라이어를 이용한 RC 또는 RL 병렬회로의 분리측정장치"에 의하면, 하드웨어 멀티플라이어(hardware multiplier)를 사용하여 RC 또는 RL 병렬회로의 분리측정장치에 대한 것이다. 그러나 상기 공개 특허에 의하면, 멀티플라이어, 실효치 검출기 등의 고가의 아날로그 회로와 A/D 변환기 등을 사용한 방식으로써, 가격이 저렴하지 않고, 각 부분의 정밀 튜닝의 필요성 등이 요구되는 문제점이 있다.According to Korean Patent Laid-Open No. 1992-0021996 "Separate Measurement Device for RC or RL Parallel Circuits Using a Multiplier", it relates to a separate measurement device for an RC or RL parallel circuit using a hardware multiplier. However, according to the above-mentioned patent, a method using expensive analog circuits such as a multiplier and an effective value detector, an A / D converter, and the like has a problem in that the price is not low and the necessity of precise tuning of each part is required.

대한민국 공개특허 특1994-0020124 "교류신호의 크기 및 위상 측정장치"에 의하면, 교류 신호의 크기 및 위상 측정을 위하여 위상 초퍼 방식과 SCF(Switched Capacitor Filter)를 사용한 교류 위상 측정 회로를 제안하였다. 그러나 상기 공개 특허에 의하면, 아날로그와 디지털이 혼합된 고가의 측정 모듈이 필요한 문제점이 있다. According to the Republic of Korea Patent Publication 1994-0020124 "AC signal magnitude and phase measurement device", an AC phase measurement circuit using a phase chopper method and a switched capacitor filter (SCF) to measure the magnitude and phase of the AC signal. However, according to the published patent, there is a problem that an expensive measurement module in which analog and digital are mixed.

미국특허 5126953 "Printed Circuit Board Assembly Tester" 특허에서는 기존의 guarding 방식과 달리 4선 식의 guarding이 필요 없는 켈빈 방식의 3회 측정방식을 제안하였다. 그러나 상기 특허에 의하면, 하나의 소자에 대하여 3회의 측정이 요구되어, 측정 시간이 길어지는 문제점이 있다.In the US Patent 5126953 "Printed Circuit Board Assembly Tester" patent, unlike the existing guarding method proposed a three-time measurement method of the Kelvin method that does not require 4-wire guarding. However, according to the above patent, three measurements are required for one element, and thus there is a problem that the measurement time is long.

상기한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 수동소자의 정밀측정 시스템의 경제적 구현이 가능하도록, 3선만을 사용하고 간단한 연산을 활용하여 스위치 소자의 영향을 보상하여 스위치 소자의 영향을 최소화하는 아이씨티 및 이를 이용한 측정 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다. An object of the present invention for solving the above problems of the prior art, by using only three wires and by using a simple operation to compensate for the effect of the switch element to enable economic implementation of the precision measurement system of the passive element effect of the switch element It is an object of the present invention to provide an IC and a measuring method using the same.

상기한 본 발명의 기술적 과제를 이루기 위한 본 발명에 의한 아이씨티는, 측정하고자 측정 소자를 선택하는 스위치매트릭스부; 상기 측정 소자의 일단에 연결되고 각각의 스위치 소자를 갖는 1 신호선과 제 2 신호선 및, 상기 측정 소자의 타단에 열결되고 스위치 소자를 갖는 제 3 신호선을 포함함으로써 상기 스위치매트릭스부와 연결되어 직류의 전류 또는 전압을 측정하는 측정부; 상기 스위치매트릭스부의 선별 구동 및 상기 측정부의 구동, 측정, 및 계산 등을 제어하는 제어부; 및 상기 제어부의 제어 순서 및 측정 결과를 저장하는 메모리부를 구비하며, 상기 측정부는 상기 제 1 신호선을 통하여 직류 정전압원 또는 정전류원을 인가함으로 써, 상기 제 1 신호선, 상기 측정 소자, 및 제 3 신호선을 따라 흐르는 전류를 측정하고, 상기 측정 소자와 상기 제 3 신호선을 포함하는 양단의 전압을 제 2 신호선 및 제 3 신호선을 통하여 측정하며, 상기 제어부는 상기 측정된 결과를 참조하여 상기 측정 소자의 저항값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위해 연산을 수행하는 것을 특징으로 한다. ICT according to the present invention for achieving the technical problem of the present invention, the switch matrix unit for selecting the measurement element to be measured; A direct current connected to the switch matrix part by including a first signal line and a second signal line connected to one end of the measuring element and having respective switch elements, and a third signal line connected to the other end of the measuring element and having a switch element. Or a measuring unit measuring a voltage; A control unit controlling selection drive of the switch matrix unit and driving, measurement, and calculation of the measurement unit; And a memory unit for storing the control sequence and the measurement result of the control unit, wherein the measurement unit applies the direct current constant voltage source or the constant current source through the first signal line, thereby providing the first signal line, the measuring element, and the third signal line. Measuring a current flowing along the signal, and measuring a voltage between both ends of the measurement element and the third signal line through a second signal line and a third signal line, wherein the controller refers to the resistance of the measurement element with reference to the measured result; A calculation is performed to calculate a value and a resistance value of the switch element.

상기 연산 수행을 수학식

Figure 112006066092328-pat00001
,
Figure 112006066092328-pat00002
,
Figure 112006066092328-pat00003
, 및
Figure 112006066092328-pat00004
의 계산을 통해 하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 할 수 있다. Equation to perform the operation
Figure 112006066092328-pat00001
,
Figure 112006066092328-pat00002
,
Figure 112006066092328-pat00003
, And
Figure 112006066092328-pat00004
It can be characterized by that through the calculation of.

상기한 본 발명의 기술적 과제를 이루기 위한 본 발명에 의한 아이씨티는, 측정하고자 측정 소자를 선택하는 스위치매트릭스부; 상기 측정 소자의 일단에 연결되고 각각의 스위치 소자를 갖는 1 신호선과 제 2 신호선 및, 상기 측정 소자의 타단에 열결되고 스위치 소자를 갖는 제 3 신호선을 포함함으로써 상기 스위치매트릭스부와 연결되어 교류의 전류 또는 전압을 측정하는 측정부; 상기 스위치매트릭스부의 선별 구동 및 상기 측정부의 구동, 측정, 및 계산 등을 제어하는 제어부; 및 상기 제어부의 제어 순서 및 측정 결과를 저장하는 메모리부를 구비하며, 상기 측정부는 상기 제 1 신호선을 통하여 교류 정전압원 또는 정전류원을 인가함으로써, 상기 제 1 신호선, 상기 측정 소자, 및 상기 제 3 신호선을 따라 흐르는 전류의 크기 및 위상을 측정하고, 상기 측정 소자와 상기 제 3 신호선을 포함하는 양단 의 전압의 크기 및 위상을 상기 제 2 신호선 및 제 3 신호선을 통하여 측정하며, 상기 제어부는 상기 측정된 결과를 참조하여 상기 측정 소자의 임피던스 값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위해 연산을 수행하는 것을 특징으로 한다. ICT according to the present invention for achieving the technical problem of the present invention, the switch matrix unit for selecting the measurement element to be measured; A first signal line and a second signal line connected to one end of the measurement element and having a respective switch element, and a third signal line connected to the other end of the measurement element and having a switch element, thereby being connected to the switch matrix part to provide an alternating current. Or a measuring unit measuring a voltage; A control unit controlling selection drive of the switch matrix unit and driving, measurement, and calculation of the measurement unit; And a memory unit for storing the control sequence and the measurement result of the controller, wherein the measurement unit applies the AC constant voltage source or the constant current source through the first signal line, thereby providing the first signal line, the measuring element, and the third signal line. The magnitude and phase of the current flowing along the signal is measured, and the magnitude and phase of the voltage at both ends including the measuring element and the third signal line are measured through the second signal line and the third signal line, and the controller measures the measured The calculation is performed to calculate the impedance value of the measurement device and the resistance value of the switch device with reference to the result.

상기 연산 수행을 수학식

Figure 112006066092328-pat00005
,
Figure 112006066092328-pat00006
,
Figure 112006066092328-pat00007
, 및
Figure 112006066092328-pat00008
의 계산을 통해 하는 것을 특징으로 할 수 있다. Equation to perform the operation
Figure 112006066092328-pat00005
,
Figure 112006066092328-pat00006
,
Figure 112006066092328-pat00007
, And
Figure 112006066092328-pat00008
It can be characterized by the calculation through.

상기 측정 소자들이 병렬회로를 구성하는 경우, 각각의 소자의 임피던스 값 연산 수행을 수학식

Figure 112006066092328-pat00009
및
Figure 112006066092328-pat00010
계산을 통해 하는 것을 특징으로 할 수 있다. When the measurement elements constitute a parallel circuit, the impedance value calculation of each device may be performed by the following equation.
Figure 112006066092328-pat00009
And
Figure 112006066092328-pat00010
It may be characterized by the calculation.

상기한 본 발명의 기술적 과제를 이루기 위한 본 발명에 의한 측정 방법은, 아이씨티 측정 모듈에서 상기 측정 소자의 타단에 연결되어 스위치 소자를 갖는 제 1, 2 신호선 및, 상기 측정 소자의 말단에 연결되어 스위치 소자를 갖는 제 3 신호선을 이용한 직류 신호를 측정하여 저항을 측정하는 직류 측정 방법으로, (a) 상기 측정 소자의 일단에 연결된 제 1 신호선을 통하여 상기 측정 소자에 직류 정전압원 또는 정전류원을 인가하는 단계; (b) 상기 제 1 신호선, 측정 소자, 및 상기 측정 소자의 타 단에 연결된 제 3 신호선을 따라 흐르는 전류를 측정하고, 상기 측정 소 자와 상기 제 3 신호선을 따라 흐르는 전압을 상기 제 2 신호선 및 제 3 신호선을 통하여 측정하고 저장하는 단계; 및 (c) 상기 측정된 결과를 참조하여 상기 측정 소자의 저항값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위해 연산을 수행하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다. The measuring method according to the present invention for achieving the technical problem of the present invention, is connected to the other end of the measuring element in the IC measurement module, the first and second signal lines having a switch element, and is connected to the end of the measuring element A direct current measurement method for measuring resistance by measuring a direct current signal using a third signal line having a switch element, the method comprising: (a) applying a direct current constant voltage source or a constant current source to the measurement element through a first signal line connected to one end of the measurement element; Doing; (b) measuring a current flowing along the first signal line, the measurement element, and a third signal line connected to the other end of the measurement element, and measuring the voltage flowing along the measurement element and the third signal line; Measuring and storing via a third signal line; And (c) performing calculation to calculate the resistance value of the measurement device and the resistance value of the switch device with reference to the measured result.

상기 (c) 단계는, 상기 연산 수행은 수학식

Figure 112006066092328-pat00011
,
Figure 112006066092328-pat00012
,
Figure 112006066092328-pat00013
, 및
Figure 112006066092328-pat00014
에 의해 수행하는 것을 특징으로 할 수 있다. In the step (c), performing the operation is
Figure 112006066092328-pat00011
,
Figure 112006066092328-pat00012
,
Figure 112006066092328-pat00013
, And
Figure 112006066092328-pat00014
It can be characterized by performing by.

상기한 본 발명의 기술적 과제를 이루기 위한 본 발명에 의한 측정 방법은, 아이씨티 측정 모듈에서 상기 측정 소자의 말단에 연결되어 스위치 소자를 갖는 제 1, 2 신호선 및, 상기 측정 소자의 타단에 연결되어 스위치 소자를 갖는 제 3 신호선을 이용한 교류 신호를 측정하여 임피던스를 측정하는 교류 측정 방법으로, (a) 상기 제 1 신호선을 통하여 상기 측정 소자에 교류 정전압원 또는 정전류원을 인가하는 단계; (b) 상기 제 1 신호선, 측정 소자, 및 상기 제 3 신호선을 따라 흐르는 전류의 크기 및 위상을 측정하고, 상기 측정 소자와 상기 제 3 신호선을 포함하는 양단의 전압의 크기 및 위상을 상기 제 2 신호선 및 제 3신호선을 통하여 측정하고 저장하는 단계; 및 (c) 상기 측정된 결과를 참조하여 상기 측정 소자의 임피던스값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위한 연산 수행하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 한다. The measuring method according to the present invention for achieving the technical problem of the present invention is connected to the first and second signal lines having a switch element connected to the end of the measuring element in the IC measurement module, and the other end of the measuring element An AC measurement method for measuring impedance by measuring an AC signal using a third signal line having a switch element, the method comprising: (a) applying an AC constant voltage source or a constant current source to the measurement element through the first signal line; (b) measuring the magnitude and phase of a current flowing along the first signal line, the measurement element, and the third signal line, and measuring the magnitude and phase of voltages at both ends including the measurement element and the third signal line; Measuring and storing through a signal line and a third signal line; And (c) performing calculations for calculating impedance values of the measurement device and resistance values of the switch device with reference to the measured result.

상기 (c) 단계는 상기 연산 수행은 수학식

Figure 112006066092328-pat00015
,
Figure 112006066092328-pat00016
,
Figure 112006066092328-pat00017
, 및
Figure 112006066092328-pat00018
에 의해 수행하는 것을 특징으로 할 수 있다. In the step (c), the operation is performed by
Figure 112006066092328-pat00015
,
Figure 112006066092328-pat00016
,
Figure 112006066092328-pat00017
, And
Figure 112006066092328-pat00018
It can be characterized by performing by.

상기 (c) 단계는 상기 측정 소자들이 병렬회로를 구성하는 경우, 각각의 소자의 임피던스 값 연산 수행은 수학식

Figure 112006066092328-pat00019
및
Figure 112006066092328-pat00020
에 의해 하는 것을 특징으로 할 수 있다. In the step (c), when the measuring elements form a parallel circuit, the impedance value calculation of each element is performed by the following equation.
Figure 112006066092328-pat00019
And
Figure 112006066092328-pat00020
It can be characterized by.

이하, 본 발명의 구성 및 작용을 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 각 도면에 도시된 동일한 참조 부호는 동일한 기능을 수행하는 구성 요소를 의미한다. 본 발명에 의한 아이씨티는, 스위치매트릭스부, 측정부, 제어부, 및 메모리부를 구비한다. 스위치매트릭스부는 측정 소자를 선택하며, 측정부는 측정 소자에 연결되어 전류 및 전압을 측정한다. 제어부는 스위치매트릭스부의 선별 구동 및 측정부의 구동, 측정, 및 계산을 제어한다. 그리고 메모리부는 제어부의 제어 순서 및 측정 결과를 저장한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, the configuration and operation of the present invention will be described in detail. Like reference numerals in the drawings denote components that perform the same function. An IC according to the present invention includes a switch matrix unit, a measuring unit, a control unit, and a memory unit. The switch matrix unit selects a measurement element, and the measurement unit is connected to the measurement element to measure current and voltage. The control unit controls the selection drive of the switch matrix unit and the drive, measurement, and calculation of the measurement unit. The memory unit stores the control sequence and the measurement result of the controller.

도 2는 본 발명에 의한 아이씨티의 직류 측정의 회로도로 3선 식 직류 측정의 경우 스위치 보상을 위한 회로의 연결을 나타내고 있다. Figure 2 is a circuit diagram of the DC measurement of the IC according to the present invention shows the connection of the circuit for switch compensation in the case of three-wire direct current measurement.

인쇄회로기판(200) 내부의 선택된 측정할 수동 저항소자(211)의 구동 및 측정을 위하여, 측정부(240)로부터 제 1 신호선 F(Force, 234), 제 2 신호선 G(Gurad, 235), 제 3 신호선 S(sense, 236)이 스위치 매트릭스(230)를 통하여 탐침의 집합체의 특정한 두 탐침 Pi(221) 및 Pk(222)에 의하여 연결된다. In order to drive and measure the selected passive resistance element 211 to be measured in the printed circuit board 200, the first signal line F (Force 234), the second signal line G (Gurad, 235), The third signal line S (sense, 236) is connected via switch matrix 230 by two specific probes P i 221 and P k 222 of the collection of probes.

즉, 제 1 신호선 F(234)과 제 2 신호선 G(235)는 탐침 Pi(221)를 통하여 측정 소자(211)의 일단에 연결되고, 제 3 신호선 S(236)는 탐침 Pk(222)를 통하여 측정 소자(211)의 타단에 연결된다. 이 경우, 제 1, 2, 3 신호선(234, 235, 236)은 스위치매트릭스부(230) 내부에서 각각의 스위치 소자를 갖는다. That is, the first signal line F 234 and the second signal line G 235 are connected to one end of the measuring element 211 through the probe P i 221, and the third signal line S 236 is connected to the probe P k 222. Is connected to the other end of the measuring element 211. In this case, the first, second, and third signal lines 234, 235, and 236 have respective switch elements inside the switch matrix unit 230.

스위치매트릭스부(230) 내부의 각 스위치 소자의 내부저항을 rij 라고 나타내면, 도 2의 231, 232, 233은 스위치매트릭스(230)의 해당 스위치 소자의 내부저항을 나타내며, 각각 r1j, r2i, r3k의 값을 갖는다. 스위치 소자의 내부 저항값은 거의 일정하고, 소자 간의 편차는 상당히 적으므로, 스위치 소자의 내부저항 값이 r1i=r2i=r3k=r로 동일하다고 가정할 수 있다. When the internal resistance of each switch element in the switch matrix unit 230 is represented by r ij , 231, 232, and 233 in FIG. 2 represent internal resistances of the corresponding switch element of the switch matrix 230, and r 1j and r 2i , respectively. , r 3k . Since the internal resistance value of the switch element is almost constant and the deviation between the elements is quite small, it can be assumed that the internal resistance value of the switch element is equal to r 1i = r 2i = r 3k = r.

측정부(240)에서 크기 V0인 직류정전압원(Constant DC voltage source, 241)을 제 1 신호선 F(234)와 제 3 신호선 S(236) 사이에 인가한다. 제 3 신호선 S(236)에서 직류전류측정(243)을 수행하여 그 값을 i라고 하면, 인가전압 V0에 대한 측정 전류 i는 제 1 신호선 F(234)의 스위치(231), 측정 소자(211), 및 제 3 신호선 S(235)의 스위치(233)을 통하여 흐르므로 수학식 1의 관계가 성립한다. The measurement unit 240 applies a constant DC voltage source 241 having a size V 0 between the first signal line F 234 and the third signal line S 236. When the DC current measurement 243 is performed on the third signal line S 236 and its value is i, the measurement current i with respect to the applied voltage V 0 is determined by the switch 231 of the first signal line F 234 and the measurement element ( 211 and the switch 233 of the third signal line S 235, the relationship of equation (1) is established.

Figure 112006066092328-pat00021
Figure 112006066092328-pat00021

따라서, 제 1 및 제 3 신호선 F 및 S(234, 236)만을 이용하여 소자 값(V0/i)을 계산하면 실제 값 R의 저항에 대하여 측정값은 (R+2r)이 되어, (2r)만큼의 오차가 발생한다. 특히, R의 값이 작을 경우, 또는 스위치 소자에 아날로그 스위치(analog switch)를 사용하여 그 내부저항 r의 값이 작지 않을 경우에 오차가 커지게 된다. Therefore, when the device value V 0 / i is calculated using only the first and third signal lines F and S (234, 236), the measured value becomes (R + 2r) for the resistance of the actual value R, and (2r ) Error occurs. In particular, the error becomes large when the value of R is small or when the value of the internal resistance r is not small by using an analog switch in the switch element.

제 2 신호선 G(235)를 이용하여 이러한 스위치 소자 내부저항에 의한 오차를 보상하는 방법을 설명한다. A method of compensating for an error caused by the internal resistance of the switch element using the second signal line G 235 will be described.

제 1 신호선 F를 통하여 전압을 인가한 상태에서 제 2 신호선 G(235)와 제 3 신호선 S(236) 사이에서 직류전압측정(242)을 동시에 수행하여 그 값을 V1 이라 하면, 제 2 신호선 G(235)에서 측정한 전압 V1은 제 2 신호선 G(235)가 갖는 스위치 소자(232)에는 전류가 흐르지 않으므로 수학식 2의 관계가 성립한다. If the DC voltage measurement 242 is simultaneously performed between the second signal line G 235 and the third signal line S 236 while a voltage is applied through the first signal line F, and the value is V 1 , the second signal line Since the voltage V 1 measured by G 235 does not flow current in the switch element 232 of the second signal line G 235, the relationship of Equation 2 is established.

Figure 112006066092328-pat00022
Figure 112006066092328-pat00022

상기, 수학식 1 및 수학식 2로부터 측정할 소자의 저항값 R과 스위치 소자의 내부저항 r을 수학식 3과 수학식 4와 같이 구할 수 있다.From the above Equations 1 and 2, the resistance value R of the device to be measured and the internal resistance r of the switch element can be obtained as in Equation 3 and Equation 4.

Figure 112006066092328-pat00023
Figure 112006066092328-pat00023

Figure 112006066092328-pat00024
Figure 112006066092328-pat00024

따라서, 상기 수학식 3 내지 4의 계산을 통해서 측정 소자의 저항값을 구할 수 있음은 물론 및 스위치 소자의 저항값도 구할 수 있다. 이 경우, 연산의 수행은 제어부에 의해 수행된다. Therefore, the resistance value of the measurement element can be obtained through the calculation of Equations 3 to 4 as well as the resistance value of the switch element. In this case, the operation is performed by the controller.

본 측정방식의 장점은 단지 3선의 신호만을 사용하고, 전압 V1 및 전류 i를 측정함으로써, 측정할 소자의 저항값 및 스위치 소자의 내부저항을 측정할 수 있다는 것이다. 켈빈 방식의 측정을 위하여는, 탐침이 N개인 경우 스위치 매트릭스에 총 4N개의 스위치 소자가 필요하지만, 본 3선 방식의 경우 총 3N개의 스위치 소자만이 필요하게 되어 보다 경제적으로 정확도가 높은 직류측정 시스템을 구현할 수 있다는 점이다.The advantage of this measurement method is that by using only three-wire signals and measuring voltage V 1 and current i, the resistance value of the device to be measured and the internal resistance of the switch element can be measured. For the Kelvin measurement, a total of 4N switch elements are required in the switch matrix for N probes, but only 3N switch elements are required for the three-wire method. Can be implemented.

이러한 3선 측정을 직류정전류원(Constant DC current source)을 사용하여도 가능하다. 도 2에서 직류정전압원 대신 직류정전류원을 사용하고, F 및 G 신호 선에서 전압을 측정하는 경우에도 동일한 수학식 3 내지 4가 적용된다.This 3-wire measurement can also be done using a constant DC current source. In FIG. 2, the same equations 3 to 4 are applied to the use of the DC constant current source instead of the DC constant voltage source, and to measure the voltage in the F and G signal lines.

도 3은 본 발명에 의한 아이씨티의 교류 측정의 회로도로 3선 식 교류 측정의 경우 스위치 보상을 위한 회로의 연결을 나타내고 있다. 도 3에 의해 설명되는 아이씨티도, 측정 소자를 선택하는 스위치매트릭스부, 측정 소자에 연결되어 전류 및 전압을 측정하는 측정부, 스위치매트릭스부의 선별 구동 및 측정부의 구동, 측정, 및 계산을 제어하는 제어부, 그리고 제어 순서 및 측정 결과를 저장하는 메모리부를 구비한다. Figure 3 is a circuit diagram of the AC measurement of the IC according to the present invention shows the connection of the circuit for switch compensation in the case of three-wire AC measurement. An IC described by FIG. 3, a switch matrix unit for selecting a measurement element, a measurement unit connected to the measurement element for measuring current and voltage, a selective driving of the switch matrix unit, and controlling the driving, measurement, and calculation of the measurement unit And a memory unit for storing the control sequence and the measurement result.

도 3을 참조하면, 인쇄회로기판(300) 내부의 저항 R, 인덕터 L, 캐패시터 C 중에서 선택된 측정할 수동소자(311)의 임피던스(impedance) Z를 측정하기 위하여, 측정부(340)로부터 3개의 선인 제 1 신호선 F(331), 제 2 신호선 G(332), 제 3 신호선 S(333)가 스위치매트릭스(330)를 통하여 탐침의 집합체의 특정한 두 탐침 Pi(321) 및 Pk(322)에 의하여 연결된다. 이 경우, 제 1, 2, 3 신호선(334, 335, 336)은 스위치매트릭스부(330) 내부에 각각의 스위치 소자를 갖는다. Referring to FIG. 3, in order to measure the impedance Z of the passive element 311 to be measured selected from the resistance R, the inductor L, and the capacitor C inside the printed circuit board 300, three measurements from the measurement unit 340 are performed. The first signal line F 331, the second signal line G 332, and the third signal line S 333, which are lines, connect two specific probes P i 321 and P k 322 of the assembly of probes via the switch matrix 330. Is connected. In this case, the first, second, and third signal lines 334, 335, and 336 have respective switch elements inside the switch matrix unit 330.

스위치 매트릭스부(330) 내부의 각 스위치 소자의 내부저항을 rij 라고 나타내면, 도 3의 331, 332, 333은 소위치 매트릭스부(330)의 해당 스위치 소자의 내부저항을 나타내며, 각각 r1i, r2i, r3k의 값을 갖는다. Represents the internal resistance of each switch element within the switch matrix 330 that r ij, 331, 332, 333 of Figure 3 shows the internal resistance of the switching element a predetermined location matrix 330, r 1i, respectively, r 2i , r 3k .

도 2와 같이 스위치 내부저항의 값이 r1i=r2i=r3k=r로 동일하다고 가정한다. 측정 모듈(340)에서 크기 V0, 위상 0도인 교류정전압원(Constant AC voltage source, 341)을 제 1 신호선 F(334)와 제 3신호선 S(336)사이에 인가하고, 제 3 신호선 S(336)에서 교류전류측정(343)을 수행하여 그 크기를 I, 위상을 qi 라 하며, '

Figure 112006066092328-pat00025
' 를 위상을 나타내는 기호로 사용하기로 한다. 2, it is assumed that the value of the switch internal resistance is the same as r 1i = r 2i = r 3k = r. In the measurement module 340, a constant AC voltage source 341 having a size V 0 and a phase 0 degree is applied between the first signal line F 334 and the third signal line S 336, and the third signal line S ( AC current measurement (343) is performed in 336) and the magnitude is I and the phase is q i ,
Figure 112006066092328-pat00025
'Is used as a symbol for phase.

이 경우 인가전압

Figure 112006066092328-pat00026
에 대한 측정 전류
Figure 112006066092328-pat00027
는 제 1 신호선이 갖는 스위치 소자(331), 측정 소자(311), 제 3 신호선이 갖는 스위치 소자(333)를 통하여 흐르므로 수학식 5와 같은 관계가 성립한다. In this case
Figure 112006066092328-pat00026
Measured current for
Figure 112006066092328-pat00027
Is flowed through the switch element 331 of the first signal line, the measurement element 311, and the switch element 333 of the third signal line, so that a relation as shown in Equation 5 is established.

Figure 112006066092328-pat00028
Figure 112006066092328-pat00028

또한, 제 2 신호선 G(335)와 제 3 신호선 S(336) 사이에서 교류전압측정(342)을 동시에 수행하여 그 값을

Figure 112006066092328-pat00029
이라 하면, 제 2 신호선 G(335)에서 측정한 교류전압
Figure 112006066092328-pat00030
은 제 2 신호선 G(335)가 갖는 스위치 소자(332)에는 전류가 흐르지 않으므로, 수학식 6의 관계가 성립한다. In addition, the AC voltage measurement 342 is simultaneously performed between the second signal line G 335 and the third signal line S 336 to obtain a value.
Figure 112006066092328-pat00029
In this case, the AC voltage measured by the second signal line G (335)
Figure 112006066092328-pat00030
Since no current flows through the switch element 332 of the second signal line G 335, the relation of Equation 6 is established.

Figure 112006066092328-pat00031
Figure 112006066092328-pat00031

수학식 5 및 6으로부터 측정할 소자의 임피던스값 Z와 스위치 소자의 내부 저항 r을 수학식 7과 수학식 8과 같이 구할 수 있다. 이 경우, 연산의 수행은 제어부에 의해 수행된다.  From the equations 5 and 6, the impedance value Z of the device to be measured and the internal resistance r of the switch device can be obtained as shown in Equations 7 and 8. In this case, the operation is performed by the controller.

Figure 112006066092328-pat00032
Figure 112006066092328-pat00032

Figure 112006066092328-pat00033
Figure 112006066092328-pat00033

본 발명에 의한 아이씨티의 장점은 단지 3선의 신호만을 사용하고, 전압

Figure 112006066092328-pat00034
및 전류
Figure 112006066092328-pat00035
를 측정함으로써, 측정할 소자의 임피던스 값 및 스위치 소자의 내부저항을 측정할 수 있다. 본 3선 방식의 경우 총 3N개의 스위치 소자만이 필요하게 되어 보다 경제적으로 정확도가 높은 교류측정시스템을 구현할 수 있다.Advantages of IC according to the present invention is to use only three-wire signal, voltage
Figure 112006066092328-pat00034
And current
Figure 112006066092328-pat00035
By measuring the impedance value of the device to be measured and the internal resistance of the switch device can be measured. In the case of this 3-wire system, only 3N switch elements are required in total, thereby enabling a more economical and accurate AC measurement system.

상기 교류측정에서 측정할 소자가 저항 R일 경우 수학식 7에 의한 임피던스 Z의 값은 위상이 0도인 값이 나온다. 측정할 소자가 인덕터 L 또는 캐패시터 C의 경우 위상이 각각 90도 또는 -90도의 결과가 나온다. When the element to be measured in the AC measurement is the resistance R, the value of the impedance Z according to Equation 7 is a value having a phase of 0 degrees. If the device to be measured is an inductor L or a capacitor C, the result will be 90 degrees or -90 degrees, respectively.

한편, 측정할 소자가 RL 병렬회로의 경우에는 어드미턴스(Admittance: 임피던스의 역수)의 관계식인 수학식 9에 의해 에서 R, L 각각의 값을 수학식 10과 같이 구할 수 있다. 여기서 Re, Im 은 각각 실수부분, 허수부분을 나타낸다.On the other hand, when the device to be measured is an RL parallel circuit, the values of R and L in Equation 9, which is a relation of admittance (inverse of impedance), can be obtained as in Equation 10. Where Re and Im represent real and imaginary parts, respectively.

Figure 112006066092328-pat00036
Figure 112006066092328-pat00036

Figure 112006066092328-pat00037
Figure 112006066092328-pat00037

또한, 측정할 소자가 RC 병렬회로의 경우에는 수학식 7로부터 Z를 구하고, 어드미턴스의 관계식인 수학식 11로부터 R, C 각각의 값을 수학식 12에 의해 구할 수 있다. In the case where the element to be measured is an RC parallel circuit, Z may be obtained from Equation 7, and each of R and C may be obtained from Equation 11, which is an admittance relational equation.

Figure 112006066092328-pat00038
Figure 112006066092328-pat00038

Figure 112006066092328-pat00039
.
Figure 112006066092328-pat00039
.

따라서, 측정할 소자가 R, L, C 단독의 경우는 물론 RC, RL 병렬회로의 경우에도 3선 식 교류측정에 의해 각 소자값의 측정이 가능하다. Therefore, even when the elements to be measured are R, L, and C alone as well as RC and RL parallel circuits, each element value can be measured by three-wire AC measurement.

이러한 3선 교류측정을 교류정전류원(Constant AC current source)을 사용하여도 가능하다. 도 4에서 교류정전압원 대신 교류정전류원을 사용하고, F 및 G 신호 선에서 전압을 측정하는 경우에도 동일한 수학식 7-12가 적용된다.This 3-wire AC measurement can also be performed using a constant AC current source. In the case of using an AC constant current source instead of an AC constant voltage source in FIG. 4 and measuring voltage on the F and G signal lines, the same Equation 7-12 is applied.

도 4는 본 발명에 의한 아이씨티를 이용한 직류 측정 방법을 설명하기 위한 플로우차트로, 도 2와 같은 아이씨티 측정 모듈에서 각각의 스위치 소자를 갖는 제 1, 2, 3 신호선을 이용한 직류 신호를 측정하여 저항을 측정하는 직류 측정 방법을 나타내고 있다. FIG. 4 is a flowchart illustrating a DC measurement method using IC according to the present invention, and measuring DC signals using first, second and third signal lines having respective switch elements in the IC measurement module as shown in FIG. 2. The direct current measuring method for measuring the resistance is shown.

먼저, 측정 소자의 일단에 연결된 제 1 신호선을 통하여 측정 소자에 직류 정전압원 또는 정전류원을 인가한다(S100).First, a DC constant voltage source or a constant current source is applied to the measurement element through the first signal line connected to one end of the measurement element (S100).

다음에, 제 1 신호선, 측정 소자, 및 제 3 신호선을 따라 흐르는 전류를 측정하고, 측정 소자와 제 3 신호선을 포함하는 양단의 전압을 제 2 신호선 및 제 3 신호선을 통하여 측정하고 저장한다(S102). Next, the current flowing along the first signal line, the measuring element, and the third signal line is measured, and the voltages at both ends including the measuring element and the third signal line are measured and stored through the second signal line and the third signal line (S102). ).

다음에, 측정된 결과를 참조하여 측정 소자의 저항값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위해 연산을 수행한다(S104). 이 경우, 연산의 수행은 상기 도 2에서 설명한 수학식 3`-4에 의해 수행될 수 있으며, 그 증명 과정은 이미 설명한 것과 동일하다. Next, an operation is performed to calculate the resistance value of the measurement device and the resistance value of the switch device with reference to the measured result (S104). In this case, the operation may be performed by Equation 3′-4 described with reference to FIG. 2, and the proof process is the same as that described above.

도 5는 본 발명에 의한 아이씨티를 이용한 교류 측정 방법을 설명하기 위한 플로우차트로, 도 3과 같은 아이씨티 측정 모듈에서 각각의 스위치 소자를 갖는 제 1, 2, 3 신호선을 이용한 교류 신호를 측정하여 임피던스를 측정하는 교류 측정 방법을 나타내고 있다. FIG. 5 is a flowchart illustrating an AC measuring method using IC according to the present invention, and measuring AC signals using first, second and third signal lines having respective switch elements in the IC measuring module as shown in FIG. 3. The AC measurement method for measuring impedance is shown.

먼저, 측정 소자의 일단에 연결된 제 1 신호선을 통하여 측정 소자에 교류 정전압원 또는 정전류원을 인가한다(S200).First, an AC constant voltage source or a constant current source is applied to the measurement element through the first signal line connected to one end of the measurement element (S200).

다음에, 제 1 신호선, 측정 소자, 및 측정 소자의 타 단에 연결된 제 3 신호선을 따라 흐르는 전류의 크기 및 위상을 측정하고, 상기 측정 소자와 상기 제 3 신호선을 포함하는 전압의 크기 및 위상을 제 2 신호 및 제 3 신호선을 통하여 측정하고 저장한다(S202).Next, the magnitude and phase of the current flowing along the first signal line, the measurement element, and the third signal line connected to the other end of the measurement element are measured, and the magnitude and phase of the voltage including the measurement element and the third signal line are measured. Measurement and storage are performed through the second signal and the third signal line (S202).

다음에, 측정된 결과를 참조하여 측정 소자의 임피던스값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위해 연산을 수행한다(S204). 이 경우, 연산의 수행은 상기 도 3에서 설명한 수학식 7-8에 의해 수행될 수 있으며, 그 증명 과정은 이미 설명한 것과 동일하다. Next, an operation is performed to calculate the impedance value of the measurement element and the resistance value of the switch element with reference to the measured result (S204). In this case, the operation may be performed by Equation 7-8 described with reference to FIG. 3, and the proof process is the same as that described above.

한편, S204 단계에서, 측정 소자들이 병렬 회로를 구성하는 경우, 각각의 소자의 임피던스 값 연산을 수학식 10 및 12에 의해 수행할 수 있으며, 그 증명 과정은 이미 설명한 것과 동일하다. On the other hand, in step S204, when the measurement elements constitute a parallel circuit, the calculation of the impedance value of each device can be performed by the equations (10) and (12), and the proof process is the same as described above.

이상 도면과 명세서에서 최적 실시 예들이 개시되었다. 여기서 특정한 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 개재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 고안의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다. The best embodiments have been disclosed in the drawings and specification. Although specific terms have been used herein, they are used only for the purpose of describing the present invention and are not used to limit the scope of the present invention as defined in the meaning or the claims. Therefore, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible. Therefore, the true technical protection scope of the present invention should be defined by the technical spirit of the appended claims.

본 고안에 의한 아이씨티 및 이를 이용한 측정 방법은, 스위치매트릭스를 3선 방식을 사용하여 켈빈 방식의 4선 방식보다 경제적으로 구현이 가능하면서도, 스위치 소자의 내부 저항을 보상하여 정확한 측정이 가능한 측정 방식을 제안함으로써, 경제적이고 고성능의 아이씨티 및 이를 이용한 측정 방법을 제공하는 효과가 있다.The IC and the measuring method using the present invention can implement the switch matrix more economically than the Kelvin type 4-wire method by using the 3-wire method, but can compensate for the internal resistance of the switch element to make accurate measurement. By suggesting, there is an effect of providing an economical and high performance IC and a measuring method using the same.

또한, 정전압원 및 정전류원을 모두 인가할 수 있고, 직류 및 교류 모두를 측정할 수 있는 아이씨티 및 이를 이용한 측정 방법을 제공하는 효과가 있다.In addition, it is possible to apply both a constant voltage source and a constant current source, there is an effect of providing an IC and a measuring method using the same to measure both direct current and alternating current.

또한, 교류 측정의 경우, R, L, C 등의 단독 소자의 측정은 물론 RL, RC 등 의 병렬 회로의 각각의 소자의 값을 교류 전압 및 전류의 크기 및 위상 측정으로부터 간단히 계산해 낼 수 있는 아이씨티 및 이를 이용한 측정 방법을 제공하는 효과가 있다. In the case of alternating current measurement, an eye that can easily calculate the values of individual elements of parallel circuits such as RL and RC as well as the measurement of single elements such as R, L, and C from the magnitude and phase measurements of alternating voltage and current It is effective to provide Citi and a measuring method using the same.

Claims (10)

인쇄회로기판 내부에 구비된 수동 저항소자,Passive resistance element provided inside the printed circuit board, 상기 수동 저항 소자중에서 측정하고자하는 소자인 측정 소자를 선택하는 스위치매트릭스부;A switch matrix unit which selects a measurement element which is a device to be measured among the passive resistance elements; 상기 측정 소자의 일단에 연결되고 각각의 스위치 소자를 갖는 제 1 신호선과 제 2 신호선 및, 상기 측정 소자의 타단에 열결되고 스위치 소자를 갖는 제 3 신호선을 포함함으로써 상기 스위치매트릭스부와 연결되어 직류의 전류 또는 전압을 측정하는 측정부;A first signal line and a second signal line connected to one end of the measurement element and having respective switch elements, and a third signal line connected to the other end of the measurement element and having a switch element, thereby connecting to the switch matrix part to provide direct current. A measuring unit measuring current or voltage; 상기 스위치매트릭스부의 선별 구동 및 상기 측정부의 구동, 측정, 및 계산 등을 제어하는 제어부; 및 A control unit controlling selection drive of the switch matrix unit and driving, measurement, and calculation of the measurement unit; And 상기 제어부의 제어 순서 및 측정 결과를 저장하는 메모리부를 구비하며,A memory unit for storing a control sequence and a measurement result of the controller; 상기 측정부는 상기 제 1 신호선을 통하여 직류 정전압원 또는 정전류원을 인가함으로써, 상기 제 1 신호선, 상기 측정 소자, 및 제 3 신호선을 따라 흐르는 전류를 측정하고, 상기 측정 소자와 상기 제 3 신호선을 포함하는 양단의 전압을 제 2 신호선 및 제 3 신호선을 통하여 측정하며,The measuring unit measures a current flowing along the first signal line, the measuring element, and the third signal line by applying a DC constant voltage source or a constant current source through the first signal line, and includes the measuring element and the third signal line. The voltage at both ends of the signal is measured through the second signal line and the third signal line, 상기 제어부는 상기 측정된 결과를 참조하여 상기 측정 소자의 저항값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위해 연산을 수행하는 것을 특징으로 하는 아이씨티(ICT:In-Circuit Tester).The control unit performs an operation for calculating the resistance value of the measurement element and the resistance value of the switch element with reference to the measured result (ICT: In-Circuit Tester). 청구항 1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 제어부는 상기 측정 소자의 저항값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위한 연산 수행을 수학식
Figure 112007076216676-pat00067
, 및
Figure 112007076216676-pat00068
의 계산을 통해 하는 것을 특징으로 하는 아이씨티(ICT:In-Circuit Tester)(단 V0 는 제 1 신호선과 제 3 신호선 사이에 인가된 전압, V1은 제 2 신호선과 제 3 신호선 사이에서 측정된 전압, i는 제 3 신호선에서 측정된 전류,R = 측정소자의 저항값, r= 스위치 소자의 내부저항값)The controller performs calculation to calculate the resistance value of the measurement element and the resistance value of the switch element.
Figure 112007076216676-pat00067
, And
Figure 112007076216676-pat00068
In-Circuit Tester (ICT), wherein V0 is the voltage applied between the first signal line and the third signal line, and V1 is the voltage measured between the second signal line and the third signal line. , i is the current measured on the third signal line, R = resistance of the measuring element, r = internal resistance of the switch element) 인쇄회로기판 내부에 구비된 수동 저항소자,Passive resistance element provided inside the printed circuit board, 상기 수동 저항 소자중에서 측정하고자하는 소자인 측정 소자를 선택하는 스위치매트릭스부;A switch matrix unit which selects a measurement element which is a device to be measured among the passive resistance elements; 상기 측정 소자의 일단에 연결되고 각각의 스위치 소자를 갖는 1 신호선과 제 2 신호선 및, 상기 측정 소자의 타단에 열결되고 스위치 소자를 갖는 제 3 신호선을 포함함으로써 상기 스위치매트릭스부와 연결되어 교류의 전류 또는 전압을 측정하는 측정부;A first signal line and a second signal line connected to one end of the measurement element and having a respective switch element, and a third signal line connected to the other end of the measurement element and having a switch element, thereby being connected to the switch matrix part to provide an alternating current. Or a measuring unit measuring a voltage; 상기 스위치매트릭스부의 선별 구동 및 상기 측정부의 구동, 측정, 및 계산 등을 제어하는 제어부; 및 A control unit controlling selection drive of the switch matrix unit and driving, measurement, and calculation of the measurement unit; And 상기 제어부의 제어 순서 및 측정 결과를 저장하는 메모리부를 구비하며,A memory unit for storing a control sequence and a measurement result of the controller; 상기 측정부는 상기 제 1 신호선 및 제 3 신호선을 통하여 교류 정전압원 또는 정전류원을 인가함으로써, 상기 제 1 신호선, 상기 측정 소자, 및 제 3 신호선을 따라 흐르는 전류의 크기 및 위상을 측정하고, 상기 측정 소자와 상기 제 3 신호선을 포함하는 양단의 전압의 크기 및 위상을 제 2 신호선 및 제 3 신호선을 통하여 측정하며,The measuring unit measures an amplitude and a phase of a current flowing along the first signal line, the measuring element, and the third signal line by applying an AC constant voltage source or a constant current source through the first signal line and the third signal line, and measuring The magnitude and phase of the voltage at both ends of the device and the third signal line are measured through the second signal line and the third signal line. 상기 제어부는 상기 측정된 결과를 참조하여 상기 측정 소자의 임피던스 값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위해 연산을 수행하는 것을 특징으로 하는 아이씨티(ICT:In-Circuit Tester).The control unit performs an operation for calculating the impedance value of the measurement element and the resistance value of the switch element with reference to the measured result (ICT: In-Circuit Tester). 청구항 제 3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 제어부는 상기 측정 소자의 임피던스 값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위한 연산 수행을 수학식,
Figure 112007076216676-pat00069
, 및
Figure 112007076216676-pat00070
의 계산을 통해 하는 것을 특징으로 하는 아이씨티(ICT:In-Circuit Tester)(단
Figure 112007076216676-pat00071
는 제 1 신호선과 제 3 신호선 사이에 인가된 전압의 크기 및 위상,
Figure 112007076216676-pat00072
은 제 2 신호선과 제 3 신호선 사이에서 측정된 전압의 크기 및 위상
Figure 112007076216676-pat00073
는 제 3 신호선에서 측정된 전류의 크기 및 위상 ,r= 스위치 소자의 내부저항값, Z=측정할 소자의 임피던스값). The control unit performs an operation for calculating the impedance value of the measurement element and the resistance value of the switch element,
Figure 112007076216676-pat00069
, And
Figure 112007076216676-pat00070
In-Circuit Tester (ICT), characterized in that through the calculation of
Figure 112007076216676-pat00071
Is the magnitude and phase of the voltage applied between the first signal line and the third signal line,
Figure 112007076216676-pat00072
Is the magnitude and phase of the voltage measured between the second signal line and the third signal line.
Figure 112007076216676-pat00073
Is the magnitude and phase of the current measured on the third signal line, r = internal resistance of the switch element, Z = impedance value of the element to be measured). 청구항 제 3항에 있어서, The method of claim 3, wherein 상기 제어부는 상기 측정 소자들이 병렬회로를 구성하는 경우, 각 소자의 임피던스값 연산 수행을 RL 회로의 경우 수학식
Figure 112007076216676-pat00074
, RC 회로의 경우
Figure 112007076216676-pat00075
의 계산을 통해 하는 것을 특징으로 하는 아이씨티(ICT:In-Circuit Tester)(단 R = 소자의 저항값, Z=측정할 소자의 임피던스값, w= 주파수, Re= 실수부분, Im=허수부분). The control unit performs an impedance value calculation of each device when the measurement devices form a parallel circuit.
Figure 112007076216676-pat00074
For RC circuits
Figure 112007076216676-pat00075
ICT (ICT: In-Circuit Tester) (where R = resistance value of device, Z = impedance value of device to be measured, w = frequency, Re = real part, Im = imaginary part) ). 아이씨티 측정 모듈에서 측정 소자의 일단에 연결되어 각각의 스위치 소자를 갖는 제 1, 2 신호선 및, 상기 측정 소자의 타단에 연결되어 스위치 소자를 갖는 제 3 신호선을 이용한 직류 신호를 측정하여 저항을 측정하는 직류 측정 방법에 있어, In the IC measurement module, resistance is measured by measuring a DC signal using first and second signal lines connected to one end of the measuring element and having respective switch elements, and a third signal line connected to the other end of the measuring element and having a switch element. In the DC measurement method to do, (a) 상기 측정 소자의 일단에 연결된 제 1 신호선을 통하여 상기 측정 소자에 직류 정전압원 또는 정전류원을 인가하는 단계; (a) applying a DC constant voltage source or a constant current source to the measurement element via a first signal line connected to one end of the measurement element; (b) 상기 제 1 신호선, 측정 소자, 및 상기 제 3 신호선을 따라 흐르는 전류를 측정하고, 상기 측정 소자와 상기 제 3 신호선을 포함하는 양단의 전압을 상기 제 2 신호선 및 제 3 신호선을 통하여 측정하고 저장하는 단계; 및 (b) measuring a current flowing along the first signal line, the measurement element, and the third signal line, and measuring a voltage at both ends including the measurement element and the third signal line through the second signal line and the third signal line; And storing; And (c) 상기 측정된 결과를 참조하여 상기 측정 소자의 저항값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위해 연산을 수행하는 단계를 구비하는 특징으로 하는 측정 방법. (c) performing a calculation to calculate the resistance value of the measurement element and the resistance value of the switch element with reference to the measured result. 청구항 6항에 있어서, 상기 (c) 단계는 The method of claim 6, wherein step (c) 상기 연산 수행을 수학식
Figure 112007076216676-pat00076
,
Figure 112007076216676-pat00077
,
Figure 112007076216676-pat00078
, 및
Figure 112007076216676-pat00079
에 의해 수행하는 것을 특징으로 하는 측정 방법(단 V0는 제 1 신호선 및 제 3신호선 사이에 인가된 전압, V1은 제 2 신호선과 제 3 신호선 사이에서 측정된 전압, i는 제 3 신호선에서 측정된 전류, R = 측정소자의 저항값, r= 스위치 소자의 내부저항값). Equation to perform the operation
Figure 112007076216676-pat00076
,
Figure 112007076216676-pat00077
,
Figure 112007076216676-pat00078
, And
Figure 112007076216676-pat00079
Measuring method, wherein V0 is the voltage applied between the first signal line and the third signal line, V1 is the voltage measured between the second signal line and the third signal line, and i is measured at the third signal line. Current, R = resistance of the measuring element, r = internal resistance of the switch element). 아이씨티 측정 모듈에서 측정 소자의 일단에 연결되어 각각의 스위치 소자를 갖는 제 1, 2 신호선 및, 상기 측정 소자의 타단에 연결되어 스위치 소자를 갖는 제 3 신호선을 이용한 교류 신호를 측정하여 임피던스를 측정하는 교류 측정 방법에 있어, In the IC measurement module, an impedance is measured by measuring an AC signal using first and second signal lines connected to one end of a measuring element and having respective switch elements, and a third signal line connected to the other end of the measuring element and having a switch element. In the flow measurement method to say, (a) 상기 측정 소자의 일단에 연결된 제 1 신호선을 통하여 상기 측정 소자에 교류 정전압원 또는 정전류원을 인가하는 단계; (a) applying an alternating current constant voltage source or constant current source to the measurement element via a first signal line connected to one end of the measurement element; (b) 상기 제 1 신호선, 측정 소자, 및 상기 3 신호선을 따라 흐르는 전류의 크기 및 위상을 측정하고, 상기 측정 소자와 상기 제 3 신호선을 포함하는 양단의 전압의 크기 및 위상을 상기 제 2 신호선 및 제 3 신호선을 통하여 측정하고 저장하는 단계; 및 (b) measuring the magnitude and phase of a current flowing along the first signal line, the measurement element, and the three signal lines, and measuring the magnitude and phase of voltages at both ends including the measurement element and the third signal line; Measuring and storing through a third signal line; And (c) 상기 측정된 결과를 참조하여 상기 측정 소자의 임피던스값 및 스위치 소자의 저항값 계산을 위해 연산을 수행하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 측정 방법. (c) performing a calculation to calculate an impedance value of the measurement element and a resistance value of the switch element with reference to the measured result. 청구항 8항에 있어서, 상기 (c) 단계는 The method of claim 8, wherein step (c) 상기 연산 수행을 수학식
Figure 112007076216676-pat00080
,
Figure 112007076216676-pat00081
,
Figure 112007076216676-pat00082
, 및
Figure 112007076216676-pat00083
에 의해 수행하는 것을 특징으로 하는 측정 방법(단 V0는 제 1 신호선 및 제 3신호선 사이에 인가된 전압, V1은 제 2 신호선과 제 3 신호선 사이에서 측정된 전압
Figure 112007076216676-pat00084
는 제 3 신호선에서 측정된 전류의 크기 및 위상 , r= 스위치 소자의 내부저항값, Z=측정할 소자의 임피던스값). Equation to perform the operation
Figure 112007076216676-pat00080
,
Figure 112007076216676-pat00081
,
Figure 112007076216676-pat00082
, And
Figure 112007076216676-pat00083
Measuring method, wherein V0 is the voltage applied between the first signal line and the third signal line, and V1 is the voltage measured between the second signal line and the third signal line.
Figure 112007076216676-pat00084
Is the magnitude and phase of the current measured on the third signal line, r = internal resistance of the switch element, Z = impedance of the element to be measured). 청구항 8항에 있어서, 상기 (c) 단계는 The method of claim 8, wherein step (c) 상기 측정 소자들이 병렬회로를 구성하는 경우, 각각의 소자의 임피던스 값 연산 수행을 RL회로의 경우 수학식
Figure 112007076216676-pat00085
, RC회로의 경우
Figure 112007076216676-pat00086
에 의해 하는 것을 특징으로 하는 측정 방법(단 R = 소자의 저항값, Z=측정할 소자의 임피던스값, w= 주파수, Re= 실수부분, Im=허수부분). When the measuring elements form a parallel circuit, the impedance value calculation of each element is performed in the case of an RL circuit.
Figure 112007076216676-pat00085
, For RC circuit
Figure 112007076216676-pat00086
Measuring method (where R = resistance value of element, Z = impedance value of element to be measured, w = frequency, Re = real part, Im = imaginary part).
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