KR100684624B1 - System and method for measuring a big size panel - Google Patents

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KR100684624B1
KR100684624B1 KR1020050131826A KR20050131826A KR100684624B1 KR 100684624 B1 KR100684624 B1 KR 100684624B1 KR 1020050131826 A KR1020050131826 A KR 1020050131826A KR 20050131826 A KR20050131826 A KR 20050131826A KR 100684624 B1 KR100684624 B1 KR 100684624B1
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김성한
박영준
박진형
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삼성중공업 주식회사
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Abstract

A system and a method for measuring big size panels are provided to identify an arrangement state and dimensions of a plurality of arranged panels to manufacture the big size panels. In a system(100) for measuring a big size panel(103), a target(110) is installed on each of edges of the big size panel. A specific shape or an identifier is formed on the target. A plurality of panels(101) forms the big size panel. A vision device(120) is fixedly mounted on a plurality of target sight devices(140) to recognize the target formed thereon the specific shape or the identifier. The plurality of the target sight devices calculates a rotation angle rotated from a reference coordinate and a reference axis by a rotation device(130). A measurement device(150) drives the vision device of the target sight devices and the rotation device and calculates each of the target coordinates installed at each edge of the big size panel. And, the measurement device calculates a length, a width, and a diagonal length of the big size panel and outputs an arrangement state of the arranged panels to manufacture the big size panel.

Description

대면적 판넬 계측 시스템 및 방법{System and Method for measuring a big size panel}System and Method for measuring a big size panel

도 1은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 대면적 판넬 계측 시스템을 개략적으로 나타낸 구성도.1 is a schematic view showing a large area panel measurement system according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 계측기를 나타낸 구성도.2 is a block diagram showing a measuring instrument according to an embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 계측기의 모듈 구성도.3 is a module configuration diagram of a measuring instrument according to an embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 대면적 판넬을 계측하는 절차를 나타낸 흐름도.4 is a flow chart illustrating a procedure for measuring a large area panel in accordance with one preferred embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>                       <Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

100…대면적 판넬 계측 시스템 101…판넬100... Large area panel measurement system 101... panel

103…대면적 판넬 110…타켓103... Large area panel 110... Target

120…비전 장치 122…줌 렌즈120... Vision device 122... Zoom lens

124…씨씨디 카메라 130…회전 장치124... CD camera 130... Rotator

140…타켓 조준기 150…계측기140... Target aimer 150... Instrument

본 발명은 대면적 판넬 계측 시스템 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to large area panel metrology systems and methods.

기존의 대면적 판넬의 계측 작업은 작업자에 의해 줄자 등을 이용한 수동 계측에 의존하고 있다. 최근 들어, 작업자가 대면적 판넬에 대한 더욱 정확한 계측이 필요하다고 판단이 되면, 측량용 장비의 일종인 토탈 스테이션(Total Station)을 이용하여 판넬을 정확히 계측하고 있다. 여기서 상기 토탈 스테이션은 피측정물에 대한 측정 각도나 측정 거리를 정밀하게 측정하는데 사용되며, 전자파 거리 측정기와 데오돌라이트(Theodolite) 기능이 합쳐져 임의 지점간의 3차원 위치 좌표를 결정할 수 있다.Existing large-area panel measurement work relies on manual measurement by a tape measure by an operator. Recently, when a worker determines that a more accurate measurement of a large area panel is necessary, the panel is accurately measured using a total station, a kind of surveying equipment. Here, the total station is used to precisely measure the measurement angle or the measurement distance with respect to the object to be measured, and the electromagnetic range finder and theodolite function are combined to determine three-dimensional position coordinates between arbitrary points.

그러나 이러한 상기 토탈 스테이션을 이용하기 위해서는 전문적으로 교육을 받은 작업 기사에 의해 장비가 조작되어야 하므로 특수한 경우를 제외하고 현장에서 이러한 장비를 이용하여 대면적의 판넬을 계측하는 것은 상당한 어려움을 가지고 있다. However, in order to use such a total station, the equipment must be operated by a professionally trained worker, so there is a considerable difficulty in measuring a large area panel using such equipment in the field except in special cases.

현재 대면적 판넬을 제작하는 판계 공정에서는 대면적 판넬의 가로, 세로 및 대각선 길이를 계측하여 각각의 판넬들의 정렬 상태를 확인하는 과정이 필수적이고 작업자들의 노력이 상당히 많이 요구된다. 만약 상기 대면적 판넬을 제작하는 판계 공정에서 대면적 판넬의 각 판넬의 정렬이 잘못되면, 정렬되는 판넬의 오차가 많이 발생하여 후 공정 처리에서 이를 정정 처리하기 위한 비용과 시간이 많이 소요되는 문제점을 가질 수 있다. In the current panel-based process of manufacturing large-area panels, it is necessary to measure the horizontal, vertical and diagonal lengths of large-area panels to check the alignment of each panel, and much effort of the workers is required. If the alignment of each panel of the large-area panel is wrong in the sheet-based process of manufacturing the large-area panel, the error of the panel to be aligned occurs a lot of cost and time to correct this in the post-processing process Can have

실제로 상기 대면적 판넬을 제작하는 판계 공정에서는 상기와 같은 판넬의 정렬을 확인하는 과정이 작업자에 의해 여러 번 되풀이되어 대면적 판넬을 위한 판넬이 수동으로 정렬되어짐으로써 대면적 판넬의 생산성 효율을 떨어뜨리는 문제점을 가지고 있다.In fact, in the plate-based process of manufacturing the large-area panel, the process of checking the panel alignment as described above is repeated several times by the operator, thereby reducing the productivity efficiency of the large-area panel by manually aligning the panel for the large-area panel. I have a problem.

본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 대면적 판넬을 제작하기 위해 정렬된 복수개 판넬의 정렬 상태와 복수개의 판넬로 정렬된 대면적 판넬의 외형 치수(dimension)를 확인할 수 있는 대면적 판넬 계측 시스템 및 방법을 제공하는 것이다.The present invention is to solve the above problems, an object of the present invention is to determine the alignment of the plurality of panels aligned in order to produce a large area panel and the external dimensions of the large area panel aligned with the plurality of panels. It is to provide a large area panel measurement system and method.

상술한 목적들을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 특정한 형태 혹은 식별자가 형성되고 복수개의 판넬로 정렬된 대면적 판넬의 모서리마다 각각 설치되는 타켓, 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓을 인식하도록 형성된 비전 장치와 상기 비전 장치를 고정 탑재하고, 상기 고정 탑재된 비전 장치가 상기 타겟에 정 조준하도록 회전되는 회전 장치를 이용하여 사전에 정해진 기준 좌표계의 기준 축으로부터 상기 회전 장치가 회전된 회전 각도를 산출하는 복수개의 타켓 조준기 및 상기 타켓 조준기의 비전 장치와 회전 장치를 구동시키고, 상기 복 수개의 타켓 조준기로부터 산출된 상기 회전 각도를 수신하여 상기 대면적 판넬의 모서리마다 설치된 각각의 타켓 좌표를 산출하며, 상기 산출된 각각의 타켓 좌표를 이용하여 상기 복수개의 판넬로 정렬된 대면적 판넬의 가로, 세로, 대각 길이를 산출하고, 상기 대면적 판넬의 제작을 위해 정렬된 판넬의 정렬 상태를 출력하는 계측기를 포함하는 대면적 판넬 계측 시스템을 제공할 수 있다.In order to achieve the above objects, according to an aspect of the present invention, a target is formed in each of the corners of a large area panel formed with a specific shape or identifier and arranged in a plurality of panels, recognize the target with the specific shape or identifier is formed A rotation angle in which the rotation device is rotated from a reference axis of a predetermined reference coordinate system by using a vision device configured to be fixed to the vision device and the rotation device to which the fixed mounted vision device is aimed at the target. Driving a plurality of target aimers and a vision device and a rotating device of the target aimers, and receiving the rotation angles calculated from the plurality of target aimers to calculate respective target coordinates installed for each corner of the large area panel. And using the calculated target coordinates, A large-area panel metrology system can be provided that includes a measuring device that calculates the horizontal, vertical and diagonal lengths of a large-area panel arranged in several panels and outputs the alignment status of the aligned panels for the production of the large-area panel. have.

바람직한 실시 예에서, 상기 타켓 조준기의 비전 장치는 씨씨디(CCD) 카메라 및 줌 렌즈를 이용하여 촬영된 영상 정보를 상기 계측기로 전송함으로써 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓이 인식되도록 형성된 것을 특징으로 할 수 있다. 또한, 상기 타켓 조준기의 회전 장치는 상기 계측기로부터 미세 조정 요청 신호를 전송받아 상기 비전 장치가 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓에 정 조준되도록 동작되어지는 것을 특징으로 할 수 있다.In a preferred embodiment, the vision device of the target aimer is configured to recognize the target having the specific shape or identifier by transmitting image information photographed using a CCD camera and a zoom lens to the measuring instrument. Can be. In addition, the rotating device of the target collimator may be operated to receive a fine adjustment request signal from the measuring device so that the vision device is aimed at the target having the specific shape or identifier.

본 발명에 다른 측면에 따르면, 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓, 복수개의 타켓 조준기 및 계측기를 이용하여 대면적 판넬를 계측하는 계측 방법에 있어서, 상기 복수개의 타켓 조준기를 이용하여 상기 대면적 판넬의 모서리마다 설치된 타켓을 검색하는 단계, 상기 검색된 타켓을 정 조준하기 위해 상기 복수개의 타켓 조준기를 미세 조정하여 상기 타켓을 정 조준시키는 단계, 상기 타켓에 정 조준된 복수개의 타켓 조준기를 이용하여 사전에 정해진 기준 좌표계의 기준 축으로부터 상기 복수개의 타켓 조준기가 회전된 회전 각도를 산출하는 단계, 상기 산출된 회전 각도를 이용하여 상기 타켓이 위치한 타켓 좌표를 산출하는 단계 및 상기 산출된 타켓 좌표를 이용하여 상기 복수개의 판넬로 정렬된 대면적 판넬의 가로, 세 로, 대각 길이를 산출하고, 상기 대면적 판넬의 제작을 위해 정렬된 판넬의 정렬 상태를 출력하는 단계를 포함하는 대면적 판넬 계측 방법을 제공할 수 있다.According to another aspect of the present invention, in a measuring method for measuring a large area panel using a target, a plurality of target aimers and a measuring instrument having a specific shape or identifier, each corner of the large area panel using the plurality of target aimers Searching for an installed target; finely aiming the target by finely adjusting the plurality of target aimers to precisely aim the searched target; using a predetermined target collimator using a plurality of target aimers aimed at the target Calculating a rotation angle at which the plurality of target sights are rotated from a reference axis of the target axis; calculating target coordinates at which the target is located using the calculated rotation angle; and using the calculated target coordinates Calculate the width, length, and diagonal lengths of large area panels , And it can provide a large-sized panel measuring comprises the step of outputting the alignment of the aligned panels for the production of the large area panel.

이어서, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. Next, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 바람직한 일 실시 예에 따른 대면적 판넬 계측 시스템을 개략적으로 나타낸 구성도이다.1 is a schematic view showing a large area panel measurement system according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 대면적 판넬 계측 시스템(100)은 측정하고자 하는 지점을 나타내기 위한 타켓(110), 상기 타켓(110)을 인식 및 추적하기 위한 타켓 조준기(140), 상기 타켓 조준기(140)를 이용하여 타켓(110)이 위치한 타켓 좌표를 산출하고 대면적 판넬(103)의 제작을 위해 정렬된 판넬(101)의 정렬 상태를 출력하기 위한 계측기(150)를 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 1, a large area panel measurement system 100 according to the present invention includes a target 110 for indicating a point to be measured, a target aimer 140 for recognizing and tracking the target 110, and Comprising a measuring instrument 150 for calculating the target coordinates where the target 110 is located using the target aimer 140 and outputting the alignment state of the panel 101 aligned for the production of the large-area panel 103. do.

타켓(110)은 복수개의 판넬(101)로 정렬된 대면적 판넬(103)에 측정하고자 하는 지점을 표시하는 기능을 수행한다. 상기 타켓(110)은 특정한 형태 혹은 식별자가 형성되고, 복수개의 판넬(101)로 정렬된 대면적 판넬(103)의 모서리마다 각각 설치된다.The target 110 performs a function of displaying a point to be measured on a large area panel 103 arranged in a plurality of panels 101. The target 110 has a specific shape or identifier, and is installed at each corner of the large-area panel 103 arranged in a plurality of panels 101.

타켓 조준기(140)는 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓(110)을 인식하기 위한 비전(Vision) 장치(120)와 상기 비전 장치(120)가 상기 타켓(110)에 정조준되도록 회전시키기 위한 회전 장치(130)를 포함하며 복수 개로 구성된다. 상기 복수 개의 타켓 조준기(140)는 상기 비전 장치(120) 및 상기 회전 장치(130)를 이 용하여 사전에 정해진 기준 좌표계의 기준 축으로부터 상기 회전 장치(130)가 회전된 회전 각도를 산출하는 기능을 수행한다. The target aimer 140 may include a vision device 120 for recognizing the target 110 having a specific shape or identifier and a rotation device for rotating the vision device 120 to be aimed at the target 110. 130) and consists of a plurality. The plurality of target collimators 140 calculates a rotation angle of the rotation device 130 rotated from a reference axis of a predetermined reference coordinate system using the vision device 120 and the rotation device 130. Perform.

여기서 상기 복수 개의 타켓 조준기(140)는 상기 대면적 판넬(103)의 모서리마다 각각 설치된 타켓(110)의 위치 지점을 서로 연결하여 만들 수 있는 가상의 직선상에 놓이지 않도록 설치된다. 바람직하게는 정확한 회전 각도를 측정하기 위해 상기 타켓 조준기(140)가 피측정물인 대면적 판넬(103)의 양쪽 측면에 일정한 거리를 두고 각각 설치될 수 있다.Here, the plurality of target collimators 140 are installed so as not to lie on a virtual straight line which can be made by connecting the position points of the targets 110 installed at each corner of the large area panel 103. Preferably, the target aimer 140 may be installed at a predetermined distance on both sides of the large-area panel 103 to be measured in order to measure an accurate rotation angle.

상기 비전 장치(120)는 상기 특정한 형태 혹은 색깔, 표시 등과 같은 식별자가 형성된 타켓(110)을 인식하는 기능을 수행한다. 상기 비전 장치(120)는 씨씨디(CCD) 카메라(122) 및 줌 렌즈(124)를 이용하여 촬영된 영상 정보를 출력하고, 상기 출력된 영상 정보를 본 발명에 따른 계측기(150)로 전송할 수 있다. 상기 비전 장치(120)를 통해 영상 정보를 수신한 계측기(150)는 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓(110)의 영상 정보를 수신하여 대면적 판넬(103)의 모서리마다 각각 설치된 타켓(110)을 인식할 수 있다.The vision device 120 performs a function of recognizing the target 110 having an identifier such as the specific shape, color, and display. The vision device 120 may output image information photographed using the CCD camera 122 and the zoom lens 124, and transmit the output image information to the measuring instrument 150 according to the present invention. have. The measuring instrument 150 receiving the image information through the vision device 120 receives the image information of the target 110 having a specific shape or identifier and targets the target 110 installed at each corner of the large-area panel 103. I can recognize it.

상기 회전 장치(130)는 상기 비전 장치(120)가 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓(110)에 정조준되도록 회전하는 기능을 수행한다. 상기 회전 장치(130)는 상기 비전 장치(120)를 고정 탑재하고, 상기 고정 탑재된 비전 장치(120)가 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓(110)에 정조준되도록 회전 및 미세 조정될 수 있다.The rotating device 130 performs a function of rotating the vision device 120 to be aimed at the target 110 having the specific shape or identifier. The rotating device 130 may be fixedly mounted to the vision device 120, and may be rotated and finely adjusted such that the fixed mounted vision device 120 is aimed at the target 110 having the specific shape or identifier.

계측기(150)는 상기 타켓 조준기(140)를 이용하여 타켓(110)이 위치한 타켓 좌표를 산출하고, 대면적 판넬(103)의 제작을 위해 정렬된 판넬(101)의 정렬 상태를 출력하는 기능을 수행한다. 상기 계측기(150)는 상기 타켓 조준기(140)의 비전 장치(120)와 회전 장치(130)를 구동시키고, 상기 복수개의 타켓 조준기(140)를 타켓(110)에 정 조준시켜 산출된 회전 각도를 수신함으로써 상기 대면적 판넬(103)의 모서리마다 설치된 각각의 타켓(110)이 위치한 타켓 좌표를 산출할 수 있다. 또한, 상기 계측기(150)는 상기 산출된 각각의 타켓 좌표를 이용하여 상기 복수개의 판넬(101)로 정렬된 대면적 판넬(103)의 가로, 세로, 대각 길이를 산출하고, 상기 대면적 판넬(103)의 제작을 위해 정렬된 판넬(101)의 정렬 상태를 확인하여 이를 출력할 수 있다.The measuring instrument 150 calculates target coordinates at which the target 110 is located by using the target collimator 140 and outputs an alignment state of the panel 101 aligned for manufacturing the large area panel 103. Perform. The measuring instrument 150 drives the vision device 120 and the rotating device 130 of the target collimator 140, and aims the plurality of target collimators 140 at the target 110 to calculate a rotation angle. By receiving it, it is possible to calculate the target coordinates in which each target 110 is installed at each corner of the large area panel 103. In addition, the measuring instrument 150 calculates the horizontal, vertical and diagonal lengths of the large area panel 103 arranged in the plurality of panels 101 by using the calculated target coordinates, and the large area panel ( Checking the alignment state of the aligned panel 101 for the production of 103 can be output.

여기서 상기 계측기(150)는 하나의 타켓 조준기(140)로부터 산출된 회전 각도와 사전에 저장된 상기 타켓 조준기(140)의 위치 좌표를 이용하여 상기 타켓 조준기(140)로부터 하나의 타켓(110)을 향한 가상의 직선을 만들 수 있다. 또한, 상기 계측기(150)는 같은 방법으로 다른 타켓 조준기(140)로부터 상기 하나의 타켓(110)을 향한 다른 하나의 가상 직선을 만들어 복수개의 직선이 교차하는 교점의 좌표를 산출할 수 있다.Here, the measuring instrument 150 is directed toward one target 110 from the target collimator 140 by using the rotation angle calculated from one target collimator 140 and the position coordinates of the target collimator 140 stored in advance. You can create a virtual straight line. In addition, the measuring instrument 150 may calculate coordinates of an intersection point at which a plurality of straight lines intersect by creating another virtual straight line from another target collimator 140 toward the one target 110 in the same manner.

상기 계측기(150)는 하나의 타켓(110) 중심에서 교차하는 상기 교점의 좌표를 통해 타켓 좌표를 산출할 수 있고, 각 모서리에 설치된 다른 타켓 좌표도 상기와 같은 방법을 반복하여 산출할 수 있다.The measuring unit 150 may calculate target coordinates through coordinates of the intersection crossing at the center of one target 110, and may also calculate other target coordinates installed at each corner by repeating the above method.

이후, 상기 계측기(150)는 상기 산출된 각각의 타켓 좌표를 이용하여 계측하고자 하는 대면적 판넬(103)의 가로, 세로 및 대각선 거리를 산출할 수 있다. 또 한, 상기 계측기(150)는 상기 대면적 판넬(103)의 가로, 세로 및 대각선 거리를 수학식 피타고라스 정리에 적용시켜 상기 대면적 판넬(103)의 정렬 상태를 확인할 수 있다. Thereafter, the measuring instrument 150 may calculate the horizontal, vertical and diagonal distances of the large area panel 103 to be measured using the calculated target coordinates. In addition, the measuring instrument 150 may check the alignment state of the large area panel 103 by applying the horizontal, vertical and diagonal distances of the large area panel 103 to the equation Pythagorean theorem.

여기서 상기 대면적 판넬(103)의 가로 제곱과 세로 제곱의 합이 상기 대면적 판넬(103)의 대각선의 거리 제곱과 같을 경우, 상기 계측기(150)는 상기 대면적 판넬(103)의 정렬 상태가 바람직한 직사각형임을 출력할 수 있다.Here, when the sum of the horizontal and vertical squares of the large-area panel 103 is equal to the square of the distance of the diagonal of the large-area panel 103, the measuring unit 150 may be aligned with the large-area panel 103. It can output that it is a preferable rectangle.

이와 같은 구성을 통해 본 발명에 따른 대면적 판넬 계측 시스템(100)은 비전 장치(120) 및 회전 장치(130)가 설치된 타켓 조준기(140)를 이용하여 대면적 판넬(103)을 제작하기 위한 판계 공정의 합판 과정에서 각 판넬(101)을 정확하게 정렬시킬 수 있도록 판넬(101)의 정렬 상태를 확인할 수 있다.Through such a configuration, the large-area panel measurement system 100 according to the present invention is a panel system for manufacturing the large-area panel 103 using the target collimator 140 in which the vision device 120 and the rotation device 130 are installed. In the plywood process of the process it is possible to check the alignment of the panel 101 so that each panel 101 can be accurately aligned.

도 2는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 계측기를 나타낸 구성도이다.2 is a block diagram showing a measuring instrument according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 계측기는 메모리 시스템(220), 여기에 결합되어 고속 동작을 수행하는 적어도 하나의 중앙 처리 장치(Central Processing Unit: CPU: 210), 입력 장치(230) 및 통신 장치(240)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, an instrument according to the present invention may include a memory system 220, at least one central processing unit (CPU) 210, an input device 230, and communication coupled thereto to perform high-speed operation. Device 240 may be included.

중앙 처리 장치(210)는 계산을 수행하기 위한 ALU(Arithmetic Logic Unit: 212), 데이터 및 명령어의 일시적인 저장을 위한 레지스터(214) 및 시스템 관리 서버의 동작을 제어하기 위한 컨트롤러(216)를 포함한다. 상기 중앙 처리 장치(210)는 디지털(Digital) 사의 알파(Alpha), MIPS 테크놀로지, NEC, IDT, 지멘스(Siemens) 등의MIPS, 인텔(Intel)과 사이릭스(Cyrix), AMD 및 넥스젠(Nexgen)을 포 함하는 회사의 x86 및 IBM과 모토롤라(Motorola)의 파워PC(PowerPC)와 같이 다양한 아키텍쳐(Architecture)를 갖는 프로세서일 수 있다.The central processing unit 210 includes an Arithmetic Logic Unit (ALU) 212 for performing calculations, a register 214 for temporary storage of data and instructions, and a controller 216 for controlling the operation of the system management server. . The central processing unit 210 is a digital (Alpha), MIPS technology, MIPS, such as NEC, IDT, Siemens (Intel) and Intel (Cyrix), AMD and Nexgen (Nexgen) It can be a processor with a variety of architectures, including the company's x86 and IBM's and Motorola's PowerPC.

메모리 시스템(220)은 일반적으로 RAM(Random Access Memory)과 ROM(Read Only Memory) 같은 저장 매체 형태인 고속의 메인 메모리(222)와 플로피 디스크, 하드 디스크, 테이프, CD-ROM, 플래시 메모리 등의 장기(long-term) 저장 매체 형태의 보조 메모리(224) 및 전기, 자기, 광학이나 그 밖의 저장 매체를 이용하여 데이터를 저장하는 장치를 포함한다. 또한, 메인 메모리(222)는 디스플레이 장치를 통하여 이미지를 출력하는 비디오 디스플레이 메모리를 포함할 수 있다.The memory system 220 generally includes a high speed main memory 222, a floppy disk, a hard disk, a tape, a CD-ROM, a flash memory, and the like, which are a storage medium such as random access memory (RAM) and read only memory (ROM). Auxiliary memory 224 in the form of a long-term storage medium and a device for storing data using electrical, magnetic, optical or other storage media. In addition, the main memory 222 may include a video display memory for outputting an image through the display device.

또한, 입력 장치(230)는 키보드, 마우스 등을 포함한다. 마우스는 예컨대 터치 스크린 또는 마이크로폰과 같은 물리적 변환기(Physical transducer) 등을 포함할 수 있다.In addition, the input device 230 includes a keyboard, a mouse, and the like. The mouse may include, for example, a physical transducer such as a touch screen or a microphone.

통신 장치(240)는 타켓 조준기의 비전 장치 및 회전 장치 등과 통신을 수행하기 위한 통신 인터페이스를 포함한다.The communication device 240 includes a communication interface for communicating with a vision device and a rotating device of the target collimator.

도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 계측기의 모듈 구성도이다.3 is a module configuration diagram of a measuring instrument according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 계측기는 타켓 조준기의 비전 장치 및 회전 장치 등과의 유, 무선 통신을 처리하기 위한 송수신 처리 모듈(332), 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓을 인식하는 비전 장치를 관리하는 비전 장치 관리 모듈(334), 상기 비전 장치를 고정 탑재하고 상기 고정 탑재된 비전 장치가 상기 타켓에 정 조준되도록 회전하는 회전 장치를 관리하는 회전 장치 관리 모듈(336), 대면적 판넬의 모서리마다 설치된 타켓이 위치한 각각의 타켓 좌표를 산출하며, 상기 산출된 각각의 타켓 좌표를 이용하여 대면적 판넬의 정렬 상태를 출력하는 계측 처리 모듈(338)을 포함할 수 있다. 이러한 응용 모듈을 통하여 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 계측기의 전체적인 구성을 살펴보면 다음과 같다.Referring to FIG. 3, a measuring device according to the present invention includes a transmission / reception processing module 332 for processing wired and wireless communication with a vision device and a rotating device of a target collimator, a vision device for recognizing a target having a specific form or identifier. Vision device management module 334 to manage, the rotation device management module 336 to securely mount the vision device and rotate the rotating device so that the fixed mounted vision device is aimed at the target, the edge of the large area panel It may include a measurement processing module 338 for calculating the target coordinates each target is installed for each installed, and outputs the alignment state of the large-area panel using the calculated target coordinates. Looking at the overall configuration of the measuring instrument according to an embodiment of the present invention through such an application module as follows.

계측기는 다양한 OS(Operating System)를 시스템의 OS로서 사용할 수 있다. 이러한 OS는 API(Application Program Interface: 300)에 하이 레벨 명령어를 제공하여 각 응용 모듈(330)의 동작을 제어한다.The instrument can use various operating systems (OS) as the OS of the system. The OS provides a high level command to an application program interface (API) 300 to control the operation of each application module 330.

계측기는 API(300)로부터 제공되는 하이 레벨 명령어에 따라 대응하는 각 응용 모듈(330)을 식별하고, 하이 레벨 명령어를 디코딩하여 해당하는 곳으로 제공하는 하이 레벨 명령어 처리부(310)를 포함한다. 응용 모듈 제어부(320)는 하이 레벨 명령어 처리부(310)로부터 제공된 명령어에 따라 응용 모듈(330)의 동작을 제어한다. 즉, 하이 레벨 명령어 처리부(310)는 API(300)를 통하여 제공된 하이 레벨 명령어에 따라 여기에 대응하는 응용 모듈(330)이 존재하는지를 식별하고, 대응되는 응용 모듈(330)이 존재하는 경우에 해당하는 응용 모듈(330)에서 인식할 수 있는 명령어로 디코딩하여 해당하는 매핑부에 전송한다. 여기서 응용 모듈(330)은 송수신 처리 모듈(332), 비전 장치 관리 모듈(334), 회전 장치 관리 모듈(336), 계측 처리 모듈(338)을 포함한다. 응용 모듈 제어부(320)는 각 응용 모듈에 대한 매핑부(321, 323, 325, 327)와 인터페이스부(322, 324, 326, 328)를 각각 포함한다.The instrument includes a high level instruction processor 310 for identifying each corresponding application module 330 according to a high level instruction provided from the API 300, decoding the high level instruction, and providing the decoded high level instruction to a corresponding place. The application module controller 320 controls the operation of the application module 330 according to the command provided from the high level command processor 310. That is, the high level command processor 310 identifies whether there is an application module 330 corresponding thereto according to the high level command provided through the API 300, and corresponds to the case where the corresponding application module 330 exists. The decoded command is recognized by the application module 330 and transmitted to the corresponding mapping unit. The application module 330 may include a transmission / reception processing module 332, a vision device management module 334, a rotation device management module 336, and a measurement processing module 338. The application module controller 320 includes mapping units 321, 323, 325, and 327 and interface units 322, 324, 326, and 328 for each application module, respectively.

송수신 처리 모듈 매핑부(321)는 하이 레벨 명령어 처리부(310)로부터 타켓 조준기의 비전 장치 혹은 회전 장치 등과의 유, 무선 통신을 수행하기 위한 하이 레벨 명령어를 제공받아, 송수신 처리 모듈(332)에서 처리할 수 있는 디바이스 레벨 명령어로 매핑시키고, 그것을 송수신 처리 모듈 인터페이스부(322)를 통하여 송수신 처리 모듈(332)로 제공한다.The transmission / reception processing module mapping unit 321 receives a high-level command for performing wired / wireless communication with the vision device or the rotating device of the target collimator from the high-level command processing unit 310, and is processed by the transmission / reception processing module 332. The device maps to a device level command, and provides it to the transmission / reception processing module 332 through the transmission / reception processing module interface unit 322.

비전 장치 관리 모듈(334)은 씨씨디(CCD) 카메라 및 줌 렌즈를 이용하여 촬영된 영상 정보를 계측기로 전송함으로써 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓을 인식하는 비전 장치를 관리하는 기능을 수행한다. 즉, 비전 장치 관리 모듈 매핑부(323)는 하이 레벨 명령어 처리부(310)로부터 비전 장치를 관리하기 위한 하이 레벨 명령어를 제공받아, 비전 장치 관리 모듈(334)이 인식할 수 있는 디바이스 레벨 명령어로 매핑시키고, 그것을 비전 장치 관리 모듈 인터페이스부(324)를 통하여 비전 장치 관리 모듈(334)로 제공한다.The vision device management module 334 manages a vision device that recognizes a target having a specific shape or identifier by transmitting image information photographed using a CCD camera and a zoom lens to a measuring instrument. That is, the vision device management module mapping unit 323 receives a high level command for managing the vision device from the high level command processor 310 and maps the device level command to be recognized by the vision device management module 334. And provide it to the vision device management module 334 through the vision device management module interface 324.

회전 장치 관리 모듈(336)은 회전 장치에 고정 탑재된 비전 장치가 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓을 정 조준하도록 회전하는 회전 장치를 관리하는 기능을 수행한다. 즉, 회전 장치 관리 모듈 매핑부(325)는 하이 레벨 명령어 처리부(310)로부터 회전 장치를 관리하기 위한 하이 레벨 명령어를 제공받아, 회전 장치 관리 모듈(336)이 인식할 수 있는 디바이스 레벨 명령어로 매핑시키고, 그것을 회전 장치 관리 모듈 인터페이스부(326)를 통하여 회전 장치 관리 모듈(336)로 제공한다.The rotating device management module 336 manages the rotating device so that the vision device fixedly mounted to the rotating device may aim at the target having the specific shape or identifier. That is, the rotation device management module mapping unit 325 receives a high level command for managing the rotation device from the high level command processing unit 310 and maps the device level command to be recognized by the rotation device management module 336. And provide it to the rotating device management module 336 through the rotating device management module interface 326.

계측 처리 모듈(338)은 복수개의 타켓 조준기를 타켓에 정 조준시켜 산출된 회전 각도를 수신함으로써 상기 대면적 판넬의 모서리마다 설치된 각각의 타켓 좌표를 산출하는 기능을 수행한다. 또한, 상기 계측 처리 모듈(338)은 상기 산출된 각각의 타켓 좌표를 이용하여 상기 대면적 판넬의 제작을 위해 정렬된 판넬의 정렬 상태를 출력하는 기능을 수행한다. 즉, 계측 처리 모듈 매핑부(327)는 하이 레벨 명령어 처리부(310)로부터 대면적 판넬을 계측 처리하기 위한 하이 레벨 명령어를 제공받아, 계측 처리 모듈(338)이 인식할 수 있는 디바이스 레벨 명령어로 매핑시키고, 그것을 계측 처리 모듈 인터페이스부(328)를 통하여 계측 처리 모듈(338)로 제공한다.The measurement processing module 338 performs a function of calculating respective target coordinates installed at each corner of the large area panel by receiving a rotation angle calculated by precisely aiming a plurality of target collimators on the target. In addition, the measurement processing module 338 performs a function of outputting an alignment state of the panels aligned for manufacturing the large area panel by using the calculated target coordinates. That is, the measurement processing module mapping unit 327 receives a high level command for measuring the large area panel from the high level command processing unit 310 and maps the device level command that the measurement processing module 338 can recognize. The measurement processing module 338 is provided to the measurement processing module 338 through the measurement processing module interface 328.

도 4는 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 대면적 판넬을 계측하는 절차를 나타낸 흐름도이다.4 is a flowchart illustrating a procedure for measuring a large area panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 계측기는 먼저 복수개의 타켓 조준기를 이용하여 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓을 검색한다(S401). 여기서 상기 타켓은 사용자에 의해 사전에 복수개의 판넬이 정렬된 대면적 판넬의 모서리에 놓여진다.Referring to FIG. 4, the measuring apparatus according to the present invention first searches for a target in which a specific shape or identifier is formed using a plurality of target collimators (S401). Here, the target is placed at the edge of a large area panel in which a plurality of panels are arranged in advance by a user.

상술한 바와 같이, 상기 타켓은 특정한 형태 혹은 식별자가 형성되고 복수개의 판넬로 정렬된 대면적 판넬의 모서리마다 각각 설치되어 측정하고자 하는 지점을 표시하는 기능을 수행한다. 또한, 상기 타켓 조준기는 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓을 인식하기 위한 비전 장치와 상기 비전 장치가 상기 타켓에 정 조준되도록 회전시키기 위한 회전 장치를 포함하며 복수개로 구성된다.As described above, the target performs a function of indicating a point to be measured by being installed at each corner of a large area panel in which a specific shape or identifier is formed and arranged in a plurality of panels. In addition, the target aiming device includes a vision device for recognizing a target having a specific shape or identifier, and a rotation device for rotating the vision device to be aimed at the target, and is configured in plural.

이후, 상기 계측기는 상기 타켓 조준기의 비전 장치로부터 영상 정보를 수신하여 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓의 존재 유무를 확인한다(S403). 상술한 바와 같이, 상기 타켓 조준기의 비전 장치는 씨씨디 카메라 및 줌 렌즈를 이용하여 촬영된 영상 정보를 상기 계측기로 전송함으로써 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓을 인식할 수 있다.Thereafter, the measuring instrument receives image information from the vision device of the target collimator and checks whether a target having the specific form or identifier is present (S403). As described above, the vision device of the target sight may recognize the target having the specific shape or identifier by transmitting image information photographed using the CD camera and the zoom lens to the measuring instrument.

상기 타켓 조준기의 비전 장치로부터 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓의 존재를 확인하지 못한 경우, 상기 계측기는 타켓 조준기의 비전 장치로 줌 렌즈의 배율 조절을 지시하여 영상 정보를 확대시킨 후, 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓을 검색하는 단계 401로 되돌아가 상기 타켓을 다시 검색시킬 수 있다(S405).If it is not possible to confirm the existence of the target having the specific shape or identifier from the target device of the target aimer, the measuring instrument instructs the vision device of the target aimer to enlarge the image information to enlarge the image information, and then In step 401, the target is searched for the target on which the identifier is formed, and the target may be searched again.

상기 타켓 조준기의 비전 장치로부터 상기 특정한 형태 혹은 타켓의 존재를 확인한 경우, 상기 계측기는 확인된 타켓을 정 조준하기 위해 타켓 조준기의 회전 장치의 미세 조정을 실시한다(S407). 여기서 상기 타켓 조준기의 회전 장치는 상기 계측기로부터 미세 조정 요청 신호를 전송받아 상기 비전 장치가 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓에 정 조준되도록 동작될 수 있다.When the specific shape or the presence of the target is confirmed from the vision device of the target aimer, the measuring device finely adjusts the rotating device of the target aimer in order to aim the identified target (S407). The rotating device of the target collimator may be operated to receive a fine adjustment request signal from the measuring device so that the vision device is aimed at a target having a specific shape or identifier.

이후, 상기 계측기는 타켓 조준기의 비전 장치로부터 인식된 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓이 화면의 정중앙에 위치하도록 정 조준되었는지 확인한다(S409). 만일 상기 타켓이 정 조준되지 아니함을 확인한 경우, 상기 계측기는 타켓 조준기의 회전 장치를 미세 조정하는 단계 S407로 되돌아가 다시 미세 조정을 실시시킨다.Thereafter, the measuring instrument checks whether the target having a specific shape or identifier recognized from the target device of the target sight is aimed at the center of the screen (S409). If it is confirmed that the target is not aimed correctly, the measuring instrument returns to step S407 of fine-tuning the rotating device of the target collimator to fine-tune again.

상기 타켓이 정 조준되었음을 확인한 경우, 상기 계측기는 상기 타켓에 정 조준된 타켓 조준기를 이용하여 사전에 정해진 기준 좌표계의 기준 축으로부터 상 기 복수개의 타켓 조준기의 회전 장치가 회전된 회전 각도를 산출한다(S411).When the target is confirmed that the target has been aimed precisely, the measuring instrument calculates a rotation angle at which the rotating devices of the plurality of target collimators are rotated from a reference axis of a predetermined reference coordinate system by using a target collimator precisely aimed at the target ( S411).

이후 상기 계측기는 상기 산출된 회전 각도를 이용하여 상기 타켓이 위치한 타켓 좌표를 산출한다(S413). 상술한 바와 같이, 상기 계측기는 상기 타켓 조준기로부터 산출된 회전 각도 및 상기 타켓 조준기가 위치한 위치 좌표를 이용하여 상기 타켓 조준기로부터 하나의 타켓을 향한 가상의 직선을 만들 수 있다. 또한, 상기 계측기는 같은 방법으로 다른 타켓 조준기로부터 상기 하나의 타켓을 향한 다른 하나의 가상 직선을 만들어 복수개의 직선이 교차하는 교점의 좌표를 산출함으로써 상기 타켓이 위치한 타켓 좌표를 획득할 수 있다.Thereafter, the measuring unit calculates the target coordinates at which the target is located using the calculated rotation angle (S413). As described above, the measuring instrument may create a virtual straight line from the target aimer to one target by using the rotation angle calculated from the target aimer and the position coordinate where the target aimer is located. In addition, the measuring instrument may obtain target coordinates at which the target is located by calculating coordinates of an intersection where a plurality of straight lines intersect by creating another virtual straight line toward the target from another target collimator in the same manner.

이후, 상기 계측기는 대면적 판넬의 모서리마다 설치된 4개의 타켓이 위치한 타켓 좌표가 모두 산출되었는지 확인한다(S415). 만일 상기 4개의 타켓 좌표가 모두 산출되지 아니한 경우, 상기 계측기는 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓을 검색하는 단계 401로 되돌아가 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 다른 타켓을 검색시킬 수 있다.Thereafter, the measuring instrument checks whether all target coordinates at which four targets are installed at each corner of the large area panel are calculated (S415). If the four target coordinates are not calculated, the measuring instrument may return to step 401 of searching for a target having a specific shape or identifier and search for another target having a specific shape or identifier.

상기 4개의 타켓 좌표가 모두 산출된 경우, 상기 계측기는 상기 4개의 타켓 좌표를 이용하여 상기 타켓간의 거리, 즉 상기 대면적 판넬의 가로, 세로 및 대각선 길이를 산출한다(S417). 이후, 상기 타켓간의 거리를 산출한 계측기는 상기 대면적 판넬의 가로, 세로 및 대각선 거리를 수학식 피타고라스 정리에 적용시켜 상기 대면적 판넬의 정렬 상태를 확인하고, 상기 확인된 대면적 판넬의 정렬 상태를 출력시킨다(S419).When all four target coordinates are calculated, the measuring unit calculates the distance between the targets, that is, the horizontal, vertical and diagonal lengths of the large area panel, using the four target coordinates (S417). Then, the measuring device for calculating the distance between the target to apply the horizontal, vertical and diagonal distance of the large-area panel to the equation Pythagorean theorem to check the alignment of the large-area panel, the alignment state of the identified large-area panel To output (S419).

상술한 바와 같이, 상기 계측기는 상기 대면적 판넬의 가로 제곱과 세로 제 곱의 합이 상기 대면적 판넬의 대각선의 거리 제곱과 같을 경우, 상기 대면적 판넬의 정렬 상태가 바람직한 직사각형임을 출력시킬 수 있다.As described above, when the sum of the horizontal square and the vertical square of the large area panel is equal to the square of the distance of the diagonal of the large area panel, the measuring unit may output that the alignment state of the large area panel is a preferable rectangle. .

한편, 본 명세서와 도면에 개시된 본 발명의 실시예들은 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시 예들 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형 예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.On the other hand, the embodiments of the present invention disclosed in the specification and drawings are merely presented specific examples to aid understanding, and are not intended to limit the scope of the present invention. It is apparent to those skilled in the art that other modifications based on the technical idea of the present invention can be carried out in addition to the embodiments disclosed herein.

본 발명에 의하면 대면적 판넬을 제작하기 위해 정렬된 복수개 판넬의 정렬 상태와 복수개의 판넬로 정렬된 대면적 판넬의 외형 치수(dimension)를 확인할 수 있는 대면적 판넬 계측 시스템 및 방법을 제공할 수 있다.According to the present invention, it is possible to provide a large area panel measurement system and method capable of checking the alignment of a plurality of panels aligned to produce a large area panel and the external dimensions of the large area panels aligned with the plurality of panels. .

Claims (4)

특정한 형태 혹은 식별자가 형성되고 복수개의 판넬로 정렬된 대면적 판넬의 모서리마다 각각 설치되는 타켓;A target formed with a specific shape or identifier and installed at each corner of a large area panel arranged in a plurality of panels; 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓을 인식하도록 형성된 비전 장치와 상기 비전 장치를 고정 탑재하고, 상기 고정 탑재된 비전 장치가 상기 타겟에 정 조준하도록 회전되는 회전 장치를 이용하여 사전에 정해진 기준 좌표계의 기준 축으로부터 상기 회전 장치가 회전된 회전 각도를 산출하는 복수개의 타켓 조준기; 및A reference of a predetermined reference coordinate system using a vision device formed to recognize the target having the specific shape or identifier and the vision device fixedly mounted, and a rotation device that is fixed so that the fixed mounted vision device is aimed at the target. A plurality of target aimers for calculating an angle of rotation from which the rotary device is rotated; And 상기 타켓 조준기의 비전 장치와 회전 장치를 구동시키고, 상기 복수개의 타켓 조준기로부터 산출된 상기 회전 각도를 수신하여 상기 대면적 판넬의 모서리마다 설치된 각각의 타켓 좌표를 산출하며, 상기 산출된 각각의 타켓 좌표를 이용하여 상기 복수개의 판넬로 정렬된 대면적 판넬의 가로, 세로, 대각 길이를 산출하고, 상기 대면적 판넬의 제작을 위해 정렬된 판넬의 정렬 상태를 출력하는 계측기를 포함하는 대면적 판넬 계측 시스템.Driving the vision device and the rotating device of the target collimator, receiving the rotation angles calculated from the plurality of target collimators, calculating respective target coordinates installed for each corner of the large area panel, and calculating the respective target coordinates. A large-area panel measurement system including a measuring instrument for calculating the horizontal, vertical, and diagonal lengths of the large-area panels aligned with the plurality of panels, and outputting the alignment of the aligned panels for the production of the large-area panels; . 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 타켓 조준기의 비전 장치는 씨씨디(CCD) 카메라 및 줌 렌즈를 이용하여 촬영된 영상 정보를 상기 계측기로 전송함으로써 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓이 인식되도록 형성된 것을 특징으로 하는 대면적 판넬 계측 시스템.The vision apparatus of the target sight is a large-area panel measurement system, characterized in that the target is formed to recognize the target having the specific shape or identifier by transmitting the image information photographed using a CD (CCD) camera and a zoom lens to the measuring instrument . 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 타켓 조준기의 회전 장치는 상기 계측기로부터 미세 조정 요청 신호를 전송받아 상기 비전 장치가 상기 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓에 정 조준되도록 동작되어지는 것을 특징으로 하는 대면적 판넬 계측 시스템.The target apparatus for rotating the target area is a large-area panel measuring system, characterized in that the vision device receives the fine adjustment request signal from the measuring instrument is operated so as to aim at the target having the specific shape or identifier. 특정한 형태 혹은 식별자가 형성된 타켓, 복수개의 타켓 조준기 및 계측기를 이용하여 대면적 판넬를 계측하는 계측 방법에 있어서,In a measuring method for measuring a large area panel using a target, a plurality of target aimers and measuring instruments having a specific shape or identifier, 상기 복수개의 타켓 조준기를 이용하여 상기 대면적 판넬의 모서리마다 설치된 타켓을 검색하는 단계;Searching for a target installed at each corner of the large area panel by using the plurality of target collimators; 상기 검색된 타켓을 정 조준하기 위해 상기 복수개의 타켓 조준기를 미세 조정하여 상기 타켓을 정 조준시키는 단계;Finely aiming the target by finely adjusting the plurality of target collimators to aim the searched target; 상기 타켓에 정 조준된 복수개의 타켓 조준기를 이용하여 사전에 정해진 기준 좌표계의 기준 축으로부터 상기 복수개의 타켓 조준기가 회전된 회전 각도를 산출하는 단계;Calculating a rotation angle at which the plurality of target collimators are rotated from a reference axis of a predetermined reference coordinate system using a plurality of target collimators aimed at the target; 상기 산출된 회전 각도를 이용하여 상기 타켓이 위치한 타켓 좌표를 산출하는 단계; 및Calculating target coordinates at which the target is located using the calculated rotation angle; And 상기 산출된 타켓 좌표를 이용하여 상기 복수개의 판넬로 정렬된 대면적 판넬의 가로, 세로, 대각 길이를 산출하고, 상기 대면적 판넬의 제작을 위해 정렬된 판넬의 정렬 상태를 출력하는 단계를 포함하는 대면적 판넬 계측 방법.Calculating the horizontal, vertical, and diagonal lengths of the large area panels aligned with the plurality of panels using the calculated target coordinates, and outputting an alignment state of the aligned panels for manufacturing the large area panels. Large area panel measurement method.
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