상술한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 화상 표시부에서 각 데이터선에 접속된 화소들로 구성된 복수의 화소 라인 중 하나의 화소 라인을 구동하는 제 1 단계, 상기 하나의 화소 라인에 공급되는 전류를 측정하는 제 2 단계, 상기 복수의 화소 라인 중 나머지 화소 라인에 대하여 순차적으로 상기 제 1 및 제 2 단계를 반복 수행하는 제 3 단계 및 상기 하나의 화소 라인에서 측정한 전류값에서 나머지 화소 라인 중 어느 한 화소 라인에서 측정한 전류값을 뺀 값을 상기 복수의 화소 라인에서 각각 측정한 전류의 평균값으로 나눈 값의 절대값을 상기 화소 라인별로 비교하는 제 4 단계를 포함하는 라인 무라 검출방법을 제공한다.
바람직하게, 제1 단계는 화상표시부의 모든 주사선에 동시에 주사 신호를 공급하고 하나의 화소 라인이 접속되어 있는 데이터선에 정해진 레벨의 데이터 신호를 공급하면서 하나의 화소 라인이 접속되어 있는 전원선을 통해 화소전원이 공급되도록 평판 표시 장치를 제어하는 단계를 포함한다.
또한, 제1 단계는 하나의 화소 라인의 특정 일부분을 구동하는 단계를 포함한다.
또한, 제1 단계는 하나의 화소 라인을 복수의 구간으로 나누고 각 구간을 순차적으로 구동하는 단계를 포함한다.
또한, 제2 단계는 하나의 화소 라인에 화소전원을 공급하는 평판 표시 장치의 전원공급부에서 전류를 측정하는 단계를 포함한다.
또한, 제2 단계는 하나의 화소 라인에 화소전원을 공급하는 라인 무라 검출 시스템의 전원생성부에서 전류를 측정하는 단계를 포함한다.
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본 발명의 다른 측면에 따르면, 하나의 화소를 이루는 적어도 적색 부화소, 녹색 부화소 및 청색 부화소로 구성된 복수의 부화소 라인 중 하나의 부화소 라인을 구동하는 제 1 단계, 상기 하나의 부화소 라인에 접속되어 있는 전원선에 공급되는 전류를 측정하는 제 2 단계, 상기 복수의 부화소 라인 중 나머지 부화소 라인에 대하여 순차적으로 상기 제 1 및 제 2 단계를 반복 수행하는 제 3 단계 및 상기 하나의 부화소 라인에서 측정한 전류값에서 나머지 부화소 라인 중 어느 한 부화소 라인에서 측정한 전류값을 뺀 값을 상기 복수의 부화소 라인에서 각각 측정한 전류의 평균값으로 나눈 값의 절대값을 상기 부화소 라인별로 비교하는 제 4 단계를 포함하는 라인 무라 검출 방법을 제공한다.
이하, 본 발명의 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 도면에서 본 발명과 관계없는 부분은 본 발명의 설명을 명확하게 하기 위하여 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 라인 무라 검출 방법을 구현하기 위한 시스템에 대한 개략적인 블록도이다.
도 2를 참조하면, 시스템(100)은 라인 무라 결함을 검출하기 위한 장치로서, 평판 표시 장치(200)의 라인 무라 결함을 검출한다. 이를 위해, 시스템(100)은 프로세서(110), 메모리 시스템(120), 입출력 장치(130), 시스템 버스(140) 및 전류 측정부(150)를 포함한다. 프로세서(110), 메모리 시스템(120), 입출력 장치(130) 및 시스템 버스(140)는 통상의 컴퓨터 구성 요소를 대표적으로 나타낸 것이다.
프로세서(110)는 각종 연산 장치나 이미지 프로세싱 프로세서를 포함한다. 또한, 프로세서(110)는 메모리 시스템(120)에 저장된 프로그램에 의해 평판 표시 장치(200)에 제어 신호를 전송하며 평판 표시 장치(200)의 특정 화소 라인이 순차적으로 활성화되도록 평판 표시 장치를 제어한다. 그리고, 활성화된 특정 화소 라인에 공급되는 전류를 측정하도록 전류 측정부(150)을 제어한다. 또한, 각 화소 라인에서 측정한 전류값을 정해진 비교 방법으로 비교한다.
메모리 시스템(120)은 랜덤 액세스 메모리(RAM)를 포함한다. 또한, 메모리 시스템(120)은 본 발명에 따른 라인 무라 결함을 검출하기 위한 매커니즘에 따라 작성된 소정의 프로그램을 저장한다. 또한, 전류 측정부(150)에서 측정한 전류값을 저장한다.
입출력 장치(130)는 작업자나 다른 시스템이 본 시스템(100)에 접근할 수 있도록 기능한다. 또한, 입출력 장치(130)는 키보드, 카드 리더, 생체 인식 장치 등의 각종 입력 장치와 모니터, 프린터 등의 각종 출력 장치를 포함한다. 또한 입출력 장치(130)는 모뎀 등과 같은 통신 장치를 포함할 수 있다.
시스템 버스(140)는 PCI 버스, VME 버스 등을 포함하며, 프로세서(110), 메모리 시스템(120), 입출력 장치(130), 전류 측정부(150) 및 평판 표시 장치(200)를 연결한다.
전류 측정부(150)는 프로세서(110)의 제어 신호에 따라 평판 표시 장치(200)의 특정 화소 라인에 접속되어 있는 전원선 상의 전류를 측정한다. 이때, 전류 측정부(150)는 평판 표시 장치(200) 내의 전원공급부에서 특정 화소 라인에 공급하는 전류를 측정한다.
예를 들면, 전류 측정부(150)는 각 화소에 화소전원(ELVDD)를 전달하기 위해 전원공급부로서 평판 표시 장치(200)에 탑재된 직류-직류 변환기(DC-DC convertor)에 접속된 연성 회로 기판(FPC) 상의 전원선에서 특정 화소 라인에 공급되는 전류를 측정할 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 무라 검출 방법을 구현하는 시스템 및 평판 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 3을 참조하면, 본 실시예의 라인 무라 검출 시스템(100)은 화상표시부(210), 주사 구동부(230) 및 데이터 구동부(240)를 구비한 평판 표시 장치(200)를 제어하여 복수의 화소 라인 중에서 선택된 화소 라인 상에 발생되는 라인 무라 결함을 검출한다. 화소 라인은 각 데이터선에 접속된 화소들의 그룹을 나타낸다. 그리고 화소는 복수의 부화소(220)를 포함한다.
예를 들면, 화소는 적색을 표시하는 적색 부화소(red subpixel), 녹색을 표시하는 녹색 부화소(green subpixel) 및 청색을 표시하는 청색 부화소(blue subpixel)를 포함하며, 백색을 표시하는 백색 부화소(white subpixel)를 더 포함할 수 있다. 하나의 화소 라인은 화상표시부(210)의 소정 방향, 예를 들어, 화상표시부(210)의 수직 방향으로 연장되는 서로 인접한 적색, 녹색, 청색 및 백색 부화소 라인을 포함한다. 적색, 녹색, 청색 및 백색 부화소 라인 내의 각 적색, 녹색, 청색 및 백색 부화소는 하나의 화소를 형성한다.
또한, 시스템(100)은 도 2를 참조한 상세한 설명에서 언급한 컴퓨터 구성 요 소와 전류 측정부(150) 이외에 전원 생성부(160)를 더 포함할 수 있다. 이러한 구성에 의해, 본 시스템(100)은 평판 표시 장치(200)의 특정 화소 라인에 직접 화소전원을 공급한다. 따라서, 본 시스템(100)에서는 시스템 내의 전원생성부(160)에서 특정 화소 라인에 화소전원을 공급하면서 그 때의 전류를 측정할 수 있다. 여기서, 화소전원은 평판 표시 장치가 유기 발광 표시 장치인 경우, 유기 발광 소자를 구동하기 위한 제1 화소전원(ELVDD) 및 제2 화소전원(ELVSS) 중 제1 화소전원(ELVDD)를 나타낸다.
이하, 본 발명에 따른 라인 무라 검출 방법에 관하여 상세히 설명한다. 도 4는 본 발명의 일 실시에에 따른 라인 무라 검출 방법을 나타내는 순서도이다. 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 무라 검출 방법을 이용하여 평판 표시 장치의 라인 무라 결함을 검출하는 과정을 보여주는 도면이다. 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 무라 검출 방법에 의해 검출된 각 화소 라인의 전류값을 나타내는 그래프이다.
도 4를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 무라 결함을 검출하는 방법을 설명하면 다음과 같다. 먼저 라인 무라 결함을 검출하기 위한 시스템은 평판 표시 장치에 연결되며, 평판 표시 장치의 화상표시부의 복수의 화소 라인 중 하나의 화소 라인을 구동시킨다(310, 제1 단계). 시스템은 도 5에 도시한 바와 같이 평판 표시 장치(200)의 화상표시부(210)에서 적색(R), 녹색(G) 및 청색(B) 부화소 라인을 포함하는 복수의 화소 라인들 중에서 하나의 화소 라인을 구동시킨다. 각 화 소 라인은 화상표시부의 수직 방향으로 형성되는 일련의 화소들을 포함하며, 각 화소는 적색, 녹색 및 청색의 부화소(220)를 포함한다. 화소 라인은 백색의 부화소로 이루어지는 백색 부화소 라인을 포함할 수 있다.
상술한 제1 단계에서, 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 무라 검출 방법을 수행하는 시스템은, 평판 표시 장치가 화상표시부의 모든 주사선에 동시에 주사 신호를 공급하고 선택된 하나의 화소 라인이 접속되어 있는 데이터선에 정해진 레벨의 데이터 신호를 공급하면서 선택된 하나의 화소 라인이 접속되어 있는 전원선을 통해 화소전원을 공급하도록 평판 표시 장치를 제어한다. 이때, 제1 단계(310)에서 선택된 하나의 화소 라인이 정상적인 범위 내의 화소 라인이라면, 선택된 하나의 화소 라인은 정해진 계조를 표시할 것이며, 비정상적인 화소 라인이라면, 선택된 하나의 화소 라인은 정해진 계조보다 낮거나 높은 계조를 표시할 것이다.
다음, 제1 단계(310)에서 선택된 하나의 화소 라인에 접속되어 있는 전원선을 통해 하나의 화소 라인에 공급되는 전류를 측정한다(320). 이 제2 단계(320)는 시스템 내의 전류 측정부에서 선택된 하나의 화소 라인에 공급되는 전류를 측정하는 단계를 포함한다. 이때, 전류 측정부는 평판 표시 장치 내의 전원공급부로부터 선택된 화소 라인에 공급되는 전류를 연성 회로 기판 상의 전원선에서 측정하거나 라인 무라 검출 시스템 내의 전원생성부로부터 선택된 화소 라인에 공급되는 전류를 전원생성부에서 직접 측정할 수 있다.
다음, 라인 무라 검출 시스템은 복수의 화소 라인에 대하여 앞서 수행한 제1 단계(310) 및 제2 단계(320)를 반복적으로 수행한다(330, 제3 단계). 이로써, 시스 템은 평판 표시 장치의 화상표시부 내의 모든 화소 라인 각각에 대하여 전류를 측정한다. 이때, 시스템은 각 화소 라인에서 측정한 전류를 시스템 내의 소정의 메모리 또는 저장 장치에 저장한다.
다음, 모든 화소 라인에 대하여 전류 측정을 수행하였다고 판단하면, 라인 무라 검출 시스템은 각 화소 라인에 대하여 측정된 전류값을 비교한다(340, 제4 단계).
예를 들면, 도 6에 도시한 바와 같이 라인 무라 검출 시스템은 측정된 모든 전류의 평균값에 대하여 특정 화소 라인(n)으로부터 측정한 전류값에서 바로 다음의 화소 라인(n+1)으로부터 측정한 전류값을 뺀 값의 절대값을 서로 비교할 수 있다. 다시 말해서, 상술한 방법에 의하면, 복수의 화소 라인 중 첫번째 화소 라인(n)에 화소전원을 공급하는 전원선상에서 측정한 제1 전류값에서 나머지 화소 라인(n+1, n+2, n+3, …, n+7, n+8, …) 중 어느 한 화소 라인에 동일한 화소전원을 공급하는 동일한 전원선상에서 측정한 제2 전류값을 뺀 소정 값을 복수의 화소 라인에 대하여 각각 측정한 전류의 평균값으로 나눈 값의 절대값을 서로 비교하는 방법으로 라인 무라 결함을 검출할 수 있다.
또한, 라인 무라 검출 시스템은 인접한 화소 라인의 합에서 다른 인접한 화소 라인의 합을 뺀 값의 절대값을 전체 화소 라인에서 측정한 전류의 평균값으로 나눈 값을 서로 비교하는 방법으로 각 화소 라인에서 측정한 전류를 비교할 수 있다. 이러한 방법은 다음과 같이 수학식 1로 간략하게 나타낼 수 있다.
여기서, In, I(n+1), I(n+2), I(n+3)은 첫번째, 두번째, 세번째, 네번째 화소 라인에서 각각 측정한 전류값이고, Iave는 각 화소 라인에서 측정한 전류값의 평균값이다.
또한, 라인 무라 검출 시스템은 상술한 비교 방법 이외에 다양한 비교 방법을 통해 각 화소 라인에서 측정한 전류값을 비교할 수 있다. 예를 들면, 특정 화소 라인과 나머지 다른 화소 라인에서 측정한 전류의 차이를 비교하거나 각 화소 라인에서 측정한 전류값 간의 차이를 비교할 수 있다.
도 7a 내지 도 7c는 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 무라 검출 방법의 변형예를 이용하여 평판 표시 장치의 라인 무라 결함을 검출하는 과정을 보여주는 도면이다. 도 7a 및 도 7b에 도시된 화소 라인에는 백색 부화소 라인이 포함되어 있다.
도 7a 내지 도 7c를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 무라 검출 방법을 구현하는 시스템은 복수의 화소 라인 중 하나의 화소 라인을 구동시킬 때, 선택한 하나의 화소 라인을 전부 구동시키지 않고 그 일부분만을 구동시킬 수 있다.
예를 들면, 도 7a에 도시한 바와 같이, 선택한 하나의 화소 라인의 대략 1/3 의 상단부에 해당하는 부분을 선택할 수 있다. 이때, 시스템은 각 화소 라인의 대략 1/3의 상단부를 순차적으로 구동시키면서 각 화소 라인의 대략 1/3에 공급되는 전류를 측정하여 비교한다.
상술한 경우, 시스템은 평판 표시 장치가 화상표시부의 상단부 대략 1/3의 주사선에 동시에 주사 신호를 공급하고 선택된 하나의 화소 라인이 접속되어 있는 데이터선에 정해진 레벨의 데이터 신호를 공급하면서 선택된 화소 라인이 접속되어 있는 전원선을 통해 화소전원을 공급하도록 평판 표시 장치를 제어한다. 그리고, 시스템은 전류측정부를 통해 선택된 화소 라인의 대략 1/3 상단부에 공급되는 전류를 측정하고, 측정한 전류를 비교하여 부분적인 라인 무라 결함을 검출한다.
또 예를 들면, 시스템은 각 화소 라인의 대략 1/3의 상단부에 대한 각각의 전류를 모두 측정한 후에, 도 7b에 도시한 바와 같이, 각 화소 라인의 대략 1/3의 중간부에 대한 각각의 전류를 측정하여 비교한다. 이때, 각 화소 라인의 대략 1/3의 중간부에 대하여 전류를 측정하는 방법은 앞서 설명한 각 화소 라인의 대략 1/3의 상단부의 경우와 동일한 방법으로 구현될 수 있다.
또 예를 들면, 시스템은 각 화소 라인의 대략 1/3의 중간부에 대한 각각의 전류를 모두 측정한 후에, 도 7c에 도시한 바와 같이, 각 화소 라인의 대략 1/3의 하단부에 대한 각각의 전류를 측정하여 비교한다. 이때, 각 화소 라인의 대략 1/3의 하단부에 대하여 각각의 전류를 측정하는 방법은 앞서 설명한 각 화소 라인의 대략 1/3의 상단부의 경우와 동일한 방법으로 구현될 수 있다.
각 화소 라인의 상단부, 중간부 및 하단부에서 각각 측정한 전류를 비교하는 방법은 앞서 도 6 등을 참조하여 설명한 상세한 설명과 동일하다. 따라서, 본 실시예에서는 설명의 중복을 피하기 위해 그에 대한 설명은 생략한다.
이처럼, 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 무라 검출 방법을 구현하는 시스템은 평판 표시 장치의 화상표시부에서 각 화소 라인의 특정 일부분만을 선택하여 구동시키고, 그때 화소 라인에 공급되는 전류를 측정하여 비교할 수 있다. 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 무라 검출 방법은 평판 표시 장치의 부분적인 라인 무라 결함을 검출하도록 구현될 수 있다.
한편, 본 발명은 상술한 실시예에서와 같이 화상표시부의 각 화소 라인을 대략 3등분하고 각 부분에 대한 전류를 각각 측정하여 각각 비교하는 방법 이외에, 각 화소 라인을 2등분하거나 4등분 이상으로 구분하여 부분적인 라인 무라 결함을 검출하도록 구현될 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 무라 검출 방법의 변형예를 나타내는 순서도이다.
도 8을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 무라 결함을 검출하는 방법을 설명하면 다음과 같다. 먼저 라인 무라 결함을 검출하기 위한 시스템은 평판 표시 장치에 연결되며, 평판 표시 장치의 화상표시부의 복수의 부화소 라인 중 하나의 부화소 라인을 구동시킨다(410, 제1 단계).
예를 들면, 시스템은, 평판 표시 장치가 화상표시부의 모든 주사선에 동시에 주사 신호를 공급하고 선택된 하나의 부화소 라인이 접속되어 있는 데이터선에 정 해진 레벨의 데이터 신호를 공급하면서 선택된 하나의 부화소 라인이 접속되어 있는 전원선을 통해 화소전원을 공급하도록 평판 표시 장치를 제어한다. 이때, 제1 단계(310)에서 선택된 하나의 부화소 라인이 정상적인 부화소 라인이라면, 선택된 하나의 부화소 라인은 정해진 계조를 표시할 것이며, 비정상적인 부화소 라인이라면, 선택된 하나의 부화소 라인은 정해진 계조보다 낮거나 높은 계조를 표시할 것이다.
다음, 제1 단계(310)에서 선택된 하나의 부화소 라인에 접속되어 있는 전원선을 통해 하나의 부화소 라인에 공급되는 전류를 측정한다(320). 이 제2 단계(320)는 시스템 내의 전류 측정부에서 선택된 하나의 부화소 라인에 공급되는 전류를 측정하는 단계를 포함한다. 이때, 전류 측정부는 평판 표시 장치 내의 전원공급부로부터 선택된 하나의 부화소 라인에 공급되는 전류를 연성 회로 기판 상의 전원선에서 측정하거나 또는 라인 무라 검출 시스템 내의 전원생성부로부터 선택된 하나의 부화소 라인에 공급되는 전류를 전원생성부에서 직접 측정할 수 있다.
다음, 라인 무라 검출 시스템은 복수의 부화소 라인에 대하여 앞서 수행한 제1 단계(310) 및 제2 단계(320)를 반복적으로 수행한다(330, 제3 단계). 이로써, 시스템은 평판 표시 장치의 화상표시부 내의 모든 부화소 라인 각각에 대하여 전류를 측정한다. 이때, 시스템은 각 부화소 라인에서 측정한 전류를 시스템 내의 소정의 메모리 또는 저장 장치에 저장한다.
다음, 모든 부화소 라인에 대하여 전류 측정을 수행하였다고 판단하면, 라인 무라 검출 시스템은 각 부화소 라인에 대하여 측정된 전류값을 비교한다(340, 제4 단계). 이때, 측정된 전류값을 비교하는 방법은 앞서 도 6 등을 참조하여 설명한 상세한 설명과 동일하다. 따라서, 본 실시예에서는 설명의 중복을 피하기 위해 그에 대한 설명은 생략한다.
한편, 본 변형예는 각 부화소 라인을 구동시킬 때, 각 부화소 라인의 일부분을 선택하여 구동시키는 것을 포함한다. 이러한 구성은 도 7a 내지 도 7c를 참조한 상세한 설명과 유사하다. 따라서, 그에 대한 상세한 설명은 생략한다.
이상, 본 발명의 바람직한 실시예를 들어 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 기술적 사상의 범위내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러 가지 변형이 가능하다.