KR100646777B1 - Liquid crystal display device having static electricity protection circuit and display inspection method using static electricity protection circuit - Google Patents
Liquid crystal display device having static electricity protection circuit and display inspection method using static electricity protection circuit Download PDFInfo
- Publication number
- KR100646777B1 KR100646777B1 KR1019980020792A KR19980020792A KR100646777B1 KR 100646777 B1 KR100646777 B1 KR 100646777B1 KR 1019980020792 A KR1019980020792 A KR 1019980020792A KR 19980020792 A KR19980020792 A KR 19980020792A KR 100646777 B1 KR100646777 B1 KR 100646777B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- ground
- data line
- line
- diodes
- data
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136204—Arrangements to prevent high voltage or static electricity failures
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136254—Checking; Testing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
데이터선의 양쪽 끝단에 다이오드가 각각 순방향 및 역방향으로 연결되어 있고, 데이터선의 위쪽 끝에서 순방향으로 연결된 다이오드와 데이터선의 아래쪽 끝에서 역방향으로 연결된 다이오드는 하나의 접지선에 의해 연결되어 있다. 또한, 다른 나머지 접지선에 의해 데이터선 위쪽 끝에서 역방향으로 연결된 다이오드와 아래쪽 끝에서 순방향으로 연결된 다이오드가 연결되어 있다.Diodes are connected to both ends of the data line in the forward and reverse directions, respectively, and diodes connected in the forward direction at the upper end of the data line and diodes connected in the reverse direction at the lower end of the data line are connected by one ground line. In addition, the diode connected in the reverse direction at the upper end of the data line and the diode connected in the forward direction at the lower end are connected by the other ground line.
두 접지선에 각각 0V와 10V의 전압을 인가하면, 데이터선의 한쪽 끝에서는 순방향 및 역방향의 다이오드 사이에서 전위차가 발생하여 데이터선에 검사를 위한 전압이 인가된다. 이때, 데이터선의 나머지 한쪽 끝에 연결된 다이오드 사이에서는 전위차가 발생하지 않아 검사 전압은 한 방향으로만 인가된다.When voltages of 0V and 10V are respectively applied to the two ground lines, a potential difference occurs between the diodes in the forward and reverse directions at one end of the data line, and a voltage for inspection is applied to the data line. At this time, a potential difference does not occur between the diodes connected to the other end of the data line, so the test voltage is applied in only one direction.
Description
이 발명은 정전기 보호 회로를 가지는 액정 표시 장치 및 보호 회로를 이용한 표시 검사 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device having an electrostatic protection circuit and a display inspection method using the protection circuit.
평판 표시 장치의 일종인 액정 표시 장치는 전압에 따라 빛의 투과도가 변하는 액정의 특성을 이용한 것으로써, 낮은 전압으로 구동이 가능하고 전력의 소모가 작아서 널리 이용되고 있다.A liquid crystal display device, which is a kind of flat panel display device, utilizes the characteristics of a liquid crystal whose light transmittance changes according to a voltage, and is widely used because it can be driven at a low voltage and power consumption is small.
이러한 액정 표시 장치의 제작 공정의 대부분은 유리 기판(glass) 위에서 수행된다. 유리 기판은 부도체이므로 순간적으로 발생하는 전하가 기판 아래로 분산될 수 없어서 정전기에 매우 취약하다. 따라서 유리 기판에 형성된 절연막이나 소자 등이 정전기에 의해 손상될 가능성이 높아서, 결국 액정 표시 장치의 불량을 일으키게 된다.Most of the manufacturing process of such a liquid crystal display device is performed on a glass substrate (glass). Because glass substrates are insulators, instantaneous charges cannot be dispersed below the substrate, making them very susceptible to static electricity. Therefore, an insulating film, an element, or the like formed on the glass substrate is likely to be damaged by static electricity, resulting in a defect of the liquid crystal display device.
이와 같은 정전기에 의한 문제를 해결하기 위하여 유리 기판 위의 모든 금속 배선을 쇼팅바를 형성하여 묶어주거나, 비선형 소자를 이용한 정전기 방지 회로가 널리 사용되고 있다. 한편, 쇼팅바 및 비선형 소자는 불량 패널을 검출하기 위한 검사에 이용되기도 한다. In order to solve the problem caused by static electricity, all metal wires on the glass substrate are formed by forming a shorting bar, or an antistatic circuit using a nonlinear element is widely used. On the other hand, shorting bars and non-linear elements are also used for inspection for detecting defective panels.
그러면, 종래의 액정 표시 장치의 정전기 보호 회로와 정전기 방지 방법 및 검사 방법에 대하여 도 1 및 도 2를 참고로 설명한다.Next, an electrostatic protection circuit, an antistatic method, and an inspection method of a conventional liquid crystal display will be described with reference to FIGS. 1 and 2.
도 1은 종래의 액정 표시 기판의 배선도로서, 쇼팅바 구조를 보여준다.1 is a wiring diagram of a conventional liquid crystal display substrate, and shows a shorting bar structure.
도 1에서와 같이, 정전기를 방지하기 위해 기판(10) 위에 게이트선(gate line)(20)과 데이터선(data line)(30)이 가로 및 세로 방향으로 다수개 형성되어 있으며, 이들은 기판(10)의 한쪽 가장자리에서 쇼팅바(shorting bar)(40, 41)에 의해 모두 연결되어 있다. 이 때, 데이터선(30)을 연결하는 쇼팅바(40)와 게이트선(20)을 연결하는 쇼팅바(41)를 함께 연결(42)하기도 한다. 쇼팅바(40)의 끝에는 검사 신호인가를 위한 검사용 패드(60)가 연결되어 있다.As shown in FIG. 1, a plurality of gate lines 20 and data lines 30 are formed on the substrate 10 in the horizontal and vertical directions to prevent static electricity. At one edge of 10) they are all connected by shorting bars 40 and 41. In this case, the shorting bar 40 connecting the data line 30 and the shorting bar 41 connecting the gate line 20 may be connected 42 together. At the end of the shorting bar 40, a test pad 60 for applying a test signal is connected.
액정 표시 기판의 제조 과정 중에는 쇼팅바(40)를 접지시켜 데이터선(30) 또는 게이트선(20)에서 발생한 정전기를 쇼팅바(40)를 통해 분산시킴으로써 정전기에 의한 피해를 줄인다.During the manufacturing process of the liquid crystal display substrate, the shorting bar 40 is grounded to dissipate static electricity generated in the data line 30 or the gate line 20 through the shorting bar 40, thereby reducing damage caused by static electricity.
이러한 쇼팅바(40)는 액정 표시 기판 내의 표시 결함 등을 검사하는데에도 사용될 수 있다. The shorting bar 40 may also be used to inspect display defects and the like in the liquid crystal display substrate.
즉, 쇼팅바(40, 41)에 일정한 신호를 인가하면 모든 화소가 동시에 온 상태가 되는데, 데이터선(30), 게이트선(20) 또는 박막 트랜지스터에 결함이 있는 화소로는 신호가 전달되지 않아 화소가 검게 나타난다.That is, when a predetermined signal is applied to the shorting bars 40 and 41, all the pixels are turned on at the same time. However, the signals are not transmitted to the defective pixel in the data line 30, the gate line 20, or the thin film transistor. The pixels appear black.
한편, 정전기를 효과적으로 방전하기 위해 각각의 배선(20, 30)에 정전기 보호용 다이오드(diode)(50)를 데이터선(30) 또는 게이트선(20)의 한쪽단 또는 양쪽단에 추가적으로 접속할 수 있다.On the other hand, in order to effectively discharge static electricity, an electrostatic protection diode 50 may be additionally connected to one or both ends of the data line 30 or the gate line 20 on each of the wirings 20 and 30.
도 2는 도 1에 형성되어 있는 정전기 보호용 다이오드를 도시한 회로도로서, 정전기 보호용 다이오드의 접지선과 연결된 상태가 상세히 도시되어 있다.FIG. 2 is a circuit diagram illustrating the electrostatic protection diode formed in FIG. 1, and the state connected to the ground line of the electrostatic protection diode is shown in detail.
도 1 및 도 2에서와 같이, 각각의 데이터선(30) 및 게이트선(20)에 대해 순방향과 역방향으로 다이오드(D1, D2)가 연결되어 있고, 이러한 다이오드(50)는 동일한 접지선(51)에 연결되어 있다. 따라서, 다이오드(D1, D2) 뿐 아니라 데이터 쇼팅바(40) 및 게이트 쇼팅바(41)가 서로 연결된다.1 and 2, diodes D1 and D2 are connected to the data lines 30 and the gate lines 20 in the forward and reverse directions, and the diodes 50 are connected to the same ground line 51. Is connected to. Therefore, the data shorting bar 40 and the gate shorting bar 41 as well as the diodes D1 and D2 are connected to each other.
정전기 보호용 다이오드(50)가 더 형성되어 있는 이러한 액정 표시 기판에서, 임의의 한 데이터선(30)에서 정전기가 발생할 경우 데이터선(30)에 연결된 다이오드(D1)가 턴 온(turn on)되면서 전하가 접지선(51) 쪽으로 이동하고, 접지선(51)을 따라 이동한 전하는 인접 데이터선(30)의 다이오드(D2)를 턴 온 시켜 인접 데이터선(30)을 타고 이동한다. 국부적으로 발생한 전하들은 이러한 방식으로 다른 곳으로 이동하면서 점차 소멸된다.In such a liquid crystal display substrate in which an electrostatic protection diode 50 is further formed, when a static electricity occurs in any one data line 30, the diode D1 connected to the data line 30 is turned on while being charged. Moves toward the ground line 51, and the charge moved along the ground line 51 turns on the diode D2 of the adjacent data line 30 to move along the adjacent data line 30. Locally generated charges gradually disappear as they move away in this manner.
기판 상의 표시 검사는 앞서 언급한 동일한 방식으로 이루어진다.Marking inspection on the substrate is done in the same manner as mentioned above.
액정 표시 검사를 마친 후, 기판(10)의 가장자리에 형성되어 있는 쇼팅바(40, 41)는 절단선(C/L)을 따라 그라인딩(grinding)으로 제거한다. 그러나, 집적 회로(integrated circuit:IC)가 기판(10) 위에 형성되는 COG(chip on glass)방식의 경우, 쇼팅바(40, 41)가 집적 회로의 반대편에 형성되므로 쇼팅바(40, 41)를 그라인딩이 아닌 커팅 공정으로 제거하여야 하므로 공정이 증가한다.After completion of the liquid crystal display inspection, the shorting bars 40 and 41 formed at the edge of the substrate 10 are removed by grinding along the cutting line C / L. However, in the case of a chip on glass (COG) method in which an integrated circuit (IC) is formed on the substrate 10, the shorting bars 40 and 41 are formed on the opposite side of the integrated circuit. Process is increased because it is to be removed by cutting rather than grinding.
또한, 쇼팅바를 이용하여 표시 검사를 실시하는 경우에는 액정 모듈 공정 이전 단계에 대해서만 가능하며, 데이터선의 단선 또는 화소간의 단락 결함은 검사하기 어렵다.In addition, in the case of performing the display inspection using the shorting bar, only the step before the liquid crystal module process is possible, and disconnection of the data line or short-circuit defect between pixels is difficult to inspect.
본 발명의 과제는 공정의 전 단계에 걸쳐 기판 불량 검사가 가능한 액정 표시 장치를 구현하는 것이다.An object of the present invention is to implement a liquid crystal display device capable of inspecting substrate defects throughout all stages of the process.
본 발명의 다른 과제는 배선의 선결함 또는 화소 단락 결함 등에 대한 검출력을 높이는 것이다.Another object of the present invention is to increase the detection power against wiring defects or pixel short circuit defects.
이러한 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 한 특징에 따른 액정 표시 장치는, 투명한 절연 기판, 상기 기판 위에 세로로 형성된 다수의 데이터선, 상기 데이터선의 양 끝단인 제1 및 제2 끝단 쪽과 동시에 중첩하는 제1 및 제2 접지선, 상기 제1 접지선과 연결되며 상기 데이터선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 순방향 및 역방향으로 각각 연결되어 있는 제1 및 제2 다이오드, 상기 제2 접지선과 연결되며 상기 데이터선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 역방향 및 순방향으로 각각 연결되어 있는 제3 및 제4 다이오드, 그리고 상기 제1 접지선 및 상기 제2 접지선의 한쪽 끝에 각각 연결되어 있는 제1 패드 및 제2 패드를 포함한다.In order to achieve the above object, the liquid crystal display according to an aspect of the present invention, a transparent insulating substrate, a plurality of data lines formed vertically on the substrate, and the first and second end sides of both ends of the data line at the same time overlap First and second ground lines connected to the first and second ground lines, the first and second diodes connected to the data lines in the forward and reverse directions near the first and second ends of the data line, respectively; Third and fourth diodes connected to the data line in a reverse direction and a forward direction, respectively, near the first and second ends of the data line, and connected to one end of the first ground line and the second ground line, respectively. And a first pad and a second pad.
이러한 액정 표시 장치는 상기 순방향 다이오드와 역방향 다이오드가 서로 병렬로 연결되어 있으며 상기 제1 접지선과 상기 제2 접지선 사이에 삽입되어 있는 회로를 더 포함할 수 있으며, 상기 제1 다이오드 내지 상기 제4 다이오드는 각각 두 개 이상의 다이오드가 직렬로 연결되어 있을 수 있다.The liquid crystal display may further include a circuit in which the forward diode and the reverse diode are connected in parallel to each other and are inserted between the first ground line and the second ground line. Each of two or more diodes may be connected in series.
또한, 액정 표시 장치는, 투명한 절연 기판, 상기 기판 위에 세로로 형성된 다수의 데이터선, 상기 데이터선의 양 끝단인 제1 및 제2 끝단 쪽과 동시에 중첩하는 제1 내지 제4 접지선, 상기 제1 접지선과 연결되며 상기 데이터선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 순방향 및 역방향으로 각각 연결되어 있는 제1 및 제2 다이오드, 상기 제2 접지선과 연결되며 상기 데이터선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 역방향 및 순방향으로 각각 연결되어 있는 제3 및 제4 다이오드, 상기 제3 접지선과 연결되며 상기 데이터선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 순방향 및 역방향으로 각각 연결되어 있는 제5 및 제6 다이오드, 상기 제4 접지선과 연결되며 상기 데이터선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 역방향 및 순방향으로 각각 연결되어 있는 제7 및 제8 다이오드, 그리고 상기 제1 내지 제4 접지선의 한쪽 끝에 각각 연결되어 있는 제1 내지 4 패드를 포함하며, 상기 제1 내지 제4 다이오드는 홀수 번째 데이터선에 연결되어 있고, 상기 제5 내지 제8 다이오드는 짝수 번째 데이터선에 연결되어 있다.In addition, the liquid crystal display includes a transparent insulating substrate, a plurality of data lines vertically formed on the substrate, first to fourth ground wires overlapping the first and second end sides of both ends of the data lines, and the first ground line. First and second diodes connected to the data lines in the forward and reverse directions with the data lines adjacent to the first and second ends of the data lines, respectively; and the first and second ends of the data lines. Third and fourth diodes connected to the data line in a reverse direction and a forward direction, and connected to the third ground line, respectively, and connected to the data line in a forward and reverse direction near the first and second ends of the data line, respectively. Fifth and sixth diodes connected to the fourth ground line and inverse to the data line near the first and second ends of the data line. A seventh and eighth diodes connected in a direction and a forward direction, respectively, and first to fourth pads connected to one end of the first to fourth ground lines, respectively, wherein the first to fourth diodes are odd-numbered data. The fifth to eighth diodes are connected to an even data line.
이 때, 순방향 다이오드와 역방향 다이오드가 서로 병렬 연결되어 있으며 상기 제1 접지선과 상기 제2 접지선 사이, 그리고 상기 제3 접지선과 상기 제4 접지선 사이에 각각 삽입되어 있는 제1 및 제2 회로를 더 포함할 수 있다.At this time, the forward diode and the reverse diode is connected to each other in parallel and further includes a first and a second circuit is inserted between the first ground line and the second ground line, and between the third ground line and the fourth ground line, respectively. can do.
한편, 본 발명의 한 특징에 따라, 투명한 절연 기판, 상기 기판 위에 세로로 형성된 다수의 데이터선, 상기 데이터선의 양 끝단인 제1 및 제2 끝단 쪽과 동시에 각각 중첩하는 제1 및 제2 접지선, 상기 제1 접지선과 연결되며 상기 데이터선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 순방향 및 역방향으로 각각 연결되어 있는 제1 및 제2 다이오드, 그리고 상기 제2 접지선과 연결되며 상기 데이터 선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 역방향 및 순방향으로 각각 연결되어 있는 제3 및 제4 다이오드, 그리고 상기 제1 및 제2 접지선에 각각 연결되어 있는 제1 및 제2 패드를 포함하는 액정 표시 장치의 검사 방법은, 상기 제1 및 제2 패드에 서로 다른 전압을 인가하여 상기 제1 다이오드와 상기 제3 다이오드 사이에 전위차를 형성하여 상기 데이터선의 단선 불량을 검출한다.Meanwhile, according to an aspect of the present invention, a transparent insulating substrate, a plurality of data lines vertically formed on the substrate, first and second ground wires respectively overlapping the first and second end sides, which are both ends of the data lines, respectively, First and second diodes connected to the first ground line and forward and reversely connected to the data line in the vicinity of the first and second ends of the data line, and the second ground line and connected to the second ground line. A liquid crystal display including third and fourth diodes respectively connected in the reverse and forward directions with the data lines near first and second ends thereof, and first and second pads connected to the first and second ground lines, respectively; In the inspection method, a potential difference is formed between the first diode and the third diode by applying different voltages to the first and second pads. And it detects the disconnection of the line defect data.
또한, 본 발명의 다른 특징에 따라, 투명한 절연 기판, 상기 기판 위에 세로로 형성된 다수의 데이터선, 상기 데이터선의 양 끝단인 제1 및 제2 끝단 쪽과 동시에 중첩되는 제1 내지 제4 접지선, 상기 제1 접지선과 연결되며 상기 데이터선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 순방향 및 역방향으로 각각 연결되어 있는 제1 및 제2 다이오드, 상기 제2 접지선과 연결되며 상기 데이터선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 역방향 및 순방향으로 각각 연결되어 있는 제3 및 제4 다이오드, 상기 제3 접지선과 연결되며 상기 데이터선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 순방향 및 역방향으로 각각 연결되어 있는 제5 및 제6 다이오드, 상기 제4 접지선과 연결되며 상기 데이터선의 상기 제1 및 제2 끝단 부근에서 상기 데이터선과 역방향 및 순방향으로 각각 연결되어 있는 제7 및 제8 다이오드, 그리고 상기 제1 내지 제4 접지선의 한쪽 끝에 각각 연결되어 있는 제1 내지 4 패드를 포함하는 액정 표시 장치의 검사 방법은, 상기 제1 패드와 상기 제2 패드 중 어느 하나와 상기 제3 패드와 상기 제4 패드 중 어느 하나에 서로 다른 전압을 인가하여 배선의 단락을 검사한다.In addition, according to another feature of the present invention, a transparent insulating substrate, a plurality of data lines formed vertically on the substrate, the first to fourth ground wires overlapping with the first and second end sides which are both ends of the data line, First and second diodes connected to a first ground line and connected to the data line in the forward and reverse directions near the first and second ends of the data line, respectively, and to the second ground line and the first and second ends of the data line. Third and fourth diodes connected to the data line in a reverse direction and a forward direction, respectively, near a second end thereof, and connected to the third ground line, respectively, in a forward and a reverse direction of the data line near the first and second ends of the data line, respectively. The fifth and sixth diodes connected to the fourth ground line and the data near the first and second ends of the data line. The inspection method of the liquid crystal display including the seventh and eighth diodes connected to the line in the reverse direction and the forward direction, respectively, and the first to fourth pads connected to one end of the first to fourth ground lines, respectively. Different voltages are applied to any one of the pad and the second pad, and the third pad and the fourth pad to check for a short circuit.
또한, 상기 제1 내지 제4 다이오드는 각각 두 개 이상의 다이오드를 직렬로 연결하여 사용할 수 있다.In addition, each of the first to fourth diodes may be used by connecting two or more diodes in series.
이처럼, 본 발명에서는 데이터선 단선 및 인접 화소간의 단락 등이 검출 가능하다.As described above, in the present invention, data line disconnection and short circuit between adjacent pixels can be detected.
그러면, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 따른 정전기 방전 회로를 가지는 액정 표시 장치 및 표시 검사 방법에 대하여 본 발명에 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세하게 설명한다.Then, the liquid crystal display and the display inspection method having an electrostatic discharge circuit according to an embodiment of the present invention with reference to the accompanying drawings so that those of ordinary skill in the art can be easily carried out in detail Explain.
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 정전기 보호 회로를 도시한 배선도이고, 도 4는 도 3의 정전기 보호 회로를 자세히 나타낸 회로도이다.3 is a wiring diagram illustrating an electrostatic protection circuit of the liquid crystal display according to the first exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a circuit diagram showing the electrostatic protection circuit of FIG. 3 in detail.
도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이, 기판(10) 위에 게이트선(20)과 데이터선(30)이 가로 및 세로 방향으로 다수개 형성되어 있고, 게이트선(20)과 데이터선(30)에 게이트 신호 및 데이터 신호를 인가하는 구동 소자(70)가 COG 실장 방식으로 형성되어 게이트선(20)과 데이터선(30)에 각각 연결되어 있다.3 and 4, a plurality of gate lines 20 and data lines 30 are formed on the substrate 10 in horizontal and vertical directions, and the gate lines 20 and data lines 30 are formed on the substrate 10. A driving element 70 for applying a gate signal and a data signal to the gate line 20 and the data line 30 is formed in a COG mounting manner.
정전기로부터 소자를 보호하기 위하여 게이트선(20)과 데이터선(30)에는 정전기 보호용 다이오드(D1, D2)가 각각 순방향 및 역방향으로 연결되어 있는데, 각각의 게이트선(20) 또는 데이터선(30)에 연결되어 있는 정전기 보호용 다이오드는 1개 이상 직렬 연결되어 있을 수도 있다.In order to protect the device from static electricity, the gate lines 20 and the data lines 30 are connected to the diodes D1 and D2 in the forward and reverse directions, respectively, and the gate lines 20 or the data lines 30 are respectively connected. One or more electrostatic protection diodes connected to may be connected in series.
게이트선(20) 및 데이터선(30)에 순방향 및 역방향으로 연결된 다이오드(D1, D2)는 각각 별도의 접지선(52, 53)으로 묶여 있으며, 접지선(52, 53)의 끝단에 패드(520, 530)가 형성되어 있다.The diodes D1 and D2 connected to the gate line 20 and the data line 30 in the forward and reverse directions are bundled with separate ground lines 52 and 53, respectively. The pads 520, 530 is formed.
도 4에서와 같이, 순방향 다이오드(D3, D4)와 역방향 다이오드(D5, D6)를 병렬로 연결하여, 접지선(52, 53) 사이에 삽입할 수 있다. 이와 같이 접지선(52, 53) 사이에 쌍방향으로 병렬 연결된 다이오드(D3-D6)를 접속함으로써, 두 개의 접지선(52, 53)이 서로 연결되어 정전기 방지 성능이 증가된다. 즉, 임의의 한 데이터선(30)에 정전기가 발생하면, 데이터선(30)에 순방향으로 묶여 있는 순방향 다이오드(D1)를 거쳐 접지선(53)으로 전하가 이동한 다음, 접지선(52, 53) 사이에 병렬로 연결된 다이오드 중 순방향으로 묶여진 다이오드(D3, D4)를 통해 다른 접지선(52)으로 이동하고, 이 접지선(52)과 연결되어 있는 다이오드(D2) 등을 통해 모든 데이터선(30)으로 퍼지다가 소멸된다.As shown in FIG. 4, the forward diodes D3 and D4 and the reverse diodes D5 and D6 may be connected in parallel to be inserted between the ground lines 52 and 53. As such, by connecting the diodes D3-D6 connected in parallel in the bidirectional direction between the ground lines 52 and 53, the two ground lines 52 and 53 are connected to each other to increase the antistatic performance. That is, when static electricity is generated in any one of the data lines 30, the charge is transferred to the ground line 53 through the forward diode D1, which is tied in the forward direction to the data line 30, and then the ground lines 52 and 53. Of the diodes connected in parallel between them, the diodes D3 and D4, which are bundled in the forward direction, move to another ground line 52, and all the data lines 30 through the diode D2 connected to the ground line 52, and the like. Spreads and disappears.
이처럼, 전하가 이동할 수 있는 경로가 충분히 길어지는데다가 데이터선(30)과 접지선(52, 53)이 겹지는 부분에서 커패시턴스(capacitance)가 형성되므로, 종래의 쇼팅바 구조 없이도 정전기를 효과적으로 방지할 수 있다.As such, the path through which the charge can move is sufficiently long, and capacitance is formed at the portion where the data line 30 and the ground lines 52 and 53 overlap, so that static electricity can be effectively prevented without a conventional shorting bar structure. have.
또한, 이러한 접지선(52, 53)의 패드(520, 530)에 다른 신호를 인가하여 별도의 쇼팅바없이 액정 표시 장치 모듈의 조립 전에 액정 패널의 표시 검사를 수행할 수 있다. 즉, 접지선(52, 53) 사이에 일정 전위를 형성하여 데이터선(30)에 검사 신호를 인가하고, 액정 패널의 표시 상태를 검사하여 액정 패널의 불량 여부를 판별할 수 있다.In addition, by applying different signals to the pads 520 and 530 of the ground lines 52 and 53, display inspection of the liquid crystal panel may be performed before assembling the liquid crystal display module without a separate shorting bar. That is, a predetermined potential is formed between the ground lines 52 and 53 to apply a test signal to the data line 30, and the display state of the liquid crystal panel may be inspected to determine whether the liquid crystal panel is defective.
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 배선도로서, 정전기 보호용 다이오드가 기판의 상·하부에 이중으로 형성되어 있다.FIG. 5 is a wiring diagram of a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention, in which an electrostatic protection diode is formed on the upper and lower portions of a substrate.
이처럼, 다이오드(50)가 기판(10)의 상·하부에 형성되어 있는 경우에는 정전기가 빠르게 소멸될 수 있으므로 정전기 방지 기능이 강화된다.As described above, when the diode 50 is formed on the upper and lower portions of the substrate 10, the static electricity may quickly disappear, thereby enhancing the antistatic function.
단, 상·하측 다이오드를 통해 데이터선(30)의 위·아래로부터 신호가 인가되므로, 데이터선(30)의 단선 결함을 발견하기 어렵다.However, since a signal is applied from above and below the data line 30 through the upper and lower diodes, it is difficult to find the disconnection defect of the data line 30.
도 6은 이러한 문제를 해결하기 위해 접지선에 대해 상측과 하측에서 다이오드의 방향을 다르게 연결한 구조의 회로도로서, 접지선에 신호를 인가하여 데이터선 단선 결함을 검출하는 원리를 보여준다.FIG. 6 is a circuit diagram of a structure in which diode directions are differently connected at the upper side and the lower side with respect to the ground line, and a principle of detecting a data line disconnection defect by applying a signal to the ground line is shown.
도 6에 도시한 바와 같이, 하측 정전기 보호용 다이오드(D7, D8)는 데이터선(30)의 한쪽 끝단에 각각 순방향 및 역방향으로 연결되어 있고, 순방향으로 연결된 다이오드(D7)는 0V가 인가되는 접지선(53)에 묶여 있으며, 역방향으로 연결된 다이오드(D8)는 10V가 인가되는 접지선(53)에 묶여 있다. 또한, 상측 정전기 방지용 다이오드(D9, D10)는 데이터선(30)의 다른 한쪽 끝단에 각각 순방향 및 역방향으로 연결되어 있고, 순방향으로 연결되어 있는 다이오드(D9)는 10V가 인가되는 접지선(52)에, 역방향으로 연결되어 있는 다이오드(D10)는 0V가 인가되는 접지선(53)에 연결되어 있다.As shown in FIG. 6, the lower electrostatic protection diodes D7 and D8 are connected to one end of the data line 30 in the forward and reverse directions, respectively, and the diode D7 connected in the forward direction is connected to the ground line to which 0V is applied. 53, the diode D8 connected in the reverse direction is tied to the ground line 53 to which 10V is applied. In addition, the upper antistatic diodes D9 and D10 are connected to the other end of the data line 30 in the forward and reverse directions, respectively, and the diode D9 connected in the forward direction is connected to the ground line 52 to which 10V is applied. The diode D10 connected in the reverse direction is connected to the ground line 53 to which 0V is applied.
데이터선(30)의 단선 결함을 검사하기 위해, 하나의 접지선(52)에는 10V의 전압을 인가하고 나머지 접지선(53)에는 0V의 전압을 인가하면, 데이터선(30)에 대해 순방향과 역방향으로 연결되어 있는 하부의 다이오드(D7, D8)가 턴온이 되며 다이오드(D7, D8) 사이에 5V의 전위차가 발생한다. 따라서, 5V에 의한 전류가 각각의 데이터선(30)의 한쪽 끝으로부터 인가된다. 단, 상부의 다이오드(D9, D10)는 하부의 다이오드(D7, D8)가 접지선(52, 53)에 연결된 방향과 다른 방향으로 연결되어 있어 턴온 되지 않기 때문에 데이터선(30)의 반대쪽 끝으로부터는 전압이 인가되지 않는다.In order to check for disconnection defects in the data line 30, when a voltage of 10 V is applied to one ground line 52 and a voltage of 0 V is applied to the other ground line 53, the data line 30 is forward and reverse to the data line 30. Connected lower diodes D7 and D8 turn on and a potential difference of 5V occurs between the diodes D7 and D8. Thus, a current of 5V is applied from one end of each data line 30. However, since the upper diodes D9 and D10 are connected in a direction different from the direction in which the lower diodes D7 and D8 are connected to the ground lines 52 and 53, the diodes D9 and D10 are not turned on from the opposite end of the data line 30. No voltage is applied.
즉, 검사를 위한 신호 전압이 데이터선(30)의 한쪽 방향에서만 인가되므로, 데이터선(30)의 단선 발생 지점(P) 건너편으로는 신호가 전달되지 않아 용이하게 데이터선(30) 단선 결함을 검출할 수 있다.That is, since the signal voltage for inspection is applied only in one direction of the data line 30, the signal is not transmitted across the disconnection generation point P of the data line 30, thereby easily eliminating the disconnection defect of the data line 30. Can be detected.
도 7은 데이터선의 홀수번째 선과 짝수번째 선으로 서로 나누어 다이오드를 연결한 구조를 보여준다.7 illustrates a structure in which diodes are connected to each other by odd-numbered and even-numbered lines of the data line.
도 7에 도시한 바와 같이, 네 개의 접지선(53, 54, 55, 56)이 데이터선(31, 32) 및 게이트선(20)의 끝단 부근에서 중첩되도록 형성되어 있고, 도 3 내지 도 6에서 언급한 방식으로 다이오드가 데이터선(31, 32)에 연결되어 있다. 단, 짝수번째 데이터선(32)은 제1 및 제2 접지선(52, 53)에 연결되어 있고, 홀수번째 데이터선(31)은 제3 및 제4 접지선(54, 55)에 연결되어 있으며, 각 제1 내지 제4 접지선(52-55)의 끝에는 제1 내지 제4 패드(520-550)가 연결되어 있다.As shown in FIG. 7, four ground lines 53, 54, 55, and 56 are formed to overlap in the vicinity of the ends of the data lines 31 and 32 and the gate line 20. In the manner mentioned, a diode is connected to the data lines 31 and 32. However, the even-numbered data line 32 is connected to the first and second ground lines 52 and 53, and the odd-numbered data line 31 is connected to the third and fourth ground lines 54 and 55. First to fourth pads 520 to 550 are connected to ends of the first to fourth ground wires 52 to 55.
이러한 구조에서는 인접한 데이터선(31, 32)에 검사 신호 전압을 다르게 인가할 수 있어서 인접 화소 사이의 단락 등의 결함을 검출할 수 있다. 예를 들어, 두 패드(540, 550) 중 제3 패드에는 앞서 예를 든 10V와 같은 고전압을 인가하고 두 패드(520, 530) 중 제2 패드(530)에는 접지 전압과 같은 저전압을 인가하여 홀수 번째 데이터선(31)과 짝수 번째 데이터선(32)에 전압을 인가한다. 이에 따라, 화소 또는 배선에 단락이 생기는 경우에 그 지점에서 인가한 두 전압의 중간 전압에 가까운 전압을 나타내므로 단락 여부를 검사할 수 있다.In such a structure, the test signal voltage can be differently applied to the adjacent data lines 31 and 32 to detect a defect such as a short circuit between adjacent pixels. For example, a high voltage, such as 10V, is applied to the third pad of the two pads 540 and 550, and a low voltage such as ground voltage is applied to the second pad 530 of the two pads 520 and 530. Voltage is applied to the odd-numbered data lines 31 and the even-numbered data lines 32. As a result, when a short circuit occurs in the pixel or the wiring, a voltage close to the middle voltage of the two voltages applied at the point is displayed, and thus a short circuit can be checked.
앞서 설명한 모든 실시예에서의 정전기 보호 회로 및 접지선은 다른 배선들과 마찬가지로 따로 제거되지 않으므로 어느 단계에서라도 액정 기판의 불량 검사를 실시할 수 있다.Since the electrostatic protection circuit and the ground line in all the above-described embodiments are not removed separately like other wirings, the defect inspection of the liquid crystal substrate can be performed at any stage.
이상에서와 같이, 본 발명에 따른 액정 표시 장치는 정전기 보호 효과가 뛰어나고, 기판의 제조 공정의 어느 단계에서라도 표시 검사를 실시할 수 있으며, 불량 검출력도 향상된다.As described above, the liquid crystal display device according to the present invention is excellent in the electrostatic protection effect, the display inspection can be performed at any stage of the manufacturing process of the substrate, and the defect detection power is also improved.
도 1은 종래의 액정 표시 장치의 쇼팅 바 및 정전기 보호 회로를 도시한 배선도이고,1 is a wiring diagram illustrating a shorting bar and an electrostatic protection circuit of a conventional liquid crystal display device.
도 2는 도 1의 정전기 보호 회로 부분을 상세히 도시한 회로도이고,FIG. 2 is a circuit diagram illustrating a portion of the static electricity protection circuit of FIG. 1 in detail;
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 액정 표시 장치의 배선도이고,3 is a wiring diagram of a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention;
도 4는 도 3의 정전기 보호 회로 부분을 상세히 도시한 회로도이고,4 is a circuit diagram illustrating in detail a portion of the static electricity protection circuit of FIG. 3;
도 5는 본 발명의 제2 실시예에 따른 액정 표시 장치의 배선도이고,5 is a wiring diagram of a liquid crystal display according to a second exemplary embodiment of the present invention.
도 6은 도 5의 정전기 보호 회로의 연결 상태를 보여주는 회로도이고,FIG. 6 is a circuit diagram illustrating a connection state of the static electricity protection circuit of FIG. 5.
도 7은 본 발명의 제3 실시예에 따른 정전기 보호 회로를 도시한 회로도이다.7 is a circuit diagram illustrating a static electricity protection circuit according to a third embodiment of the present invention.
Claims (8)
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019980020792A KR100646777B1 (en) | 1998-06-05 | 1998-06-05 | Liquid crystal display device having static electricity protection circuit and display inspection method using static electricity protection circuit |
| US09/160,186 US5936687A (en) | 1997-09-25 | 1998-09-25 | Liquid crystal display having an electrostatic discharge protection circuit and a method for testing display quality using the circuit |
| JP27175898A JP4260250B2 (en) | 1997-09-25 | 1998-09-25 | Liquid crystal display device having electrostatic protection circuit and display inspection method using this circuit |
| TW087115974A TW446831B (en) | 1997-09-25 | 1998-09-25 | Liquid crystal display having an electrostatic discharge protection circuit and a method for testing display quality using the circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019980020792A KR100646777B1 (en) | 1998-06-05 | 1998-06-05 | Liquid crystal display device having static electricity protection circuit and display inspection method using static electricity protection circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20000000877A KR20000000877A (en) | 2000-01-15 |
| KR100646777B1 true KR100646777B1 (en) | 2007-02-05 |
Family
ID=19538411
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019980020792A KR100646777B1 (en) | 1997-09-25 | 1998-06-05 | Liquid crystal display device having static electricity protection circuit and display inspection method using static electricity protection circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100646777B1 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20170079570A (en) * | 2015-12-30 | 2017-07-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | Array substrate and display device having the same |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20060086178A (en) | 2005-01-26 | 2006-07-31 | 삼성전자주식회사 | Liquid crystal display |
| KR101129438B1 (en) * | 2005-06-10 | 2012-03-27 | 삼성전자주식회사 | Display substrate and apparatus and method for testing display panel with the same |
| KR100990144B1 (en) | 2007-03-05 | 2010-10-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor device and operation method thereof |
| JP7415423B2 (en) * | 2019-10-15 | 2024-01-17 | セイコーエプソン株式会社 | Inspection methods for electro-optical devices, electronic equipment, and electro-optical devices |
| KR20230166218A (en) | 2022-05-30 | 2023-12-07 | 주식회사 파이브에이치 | smoked charcoal roaster |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH032838A (en) * | 1989-05-31 | 1991-01-09 | Matsushita Electron Corp | Production of liquid crystal display device |
| JPH03276187A (en) * | 1990-03-26 | 1991-12-06 | Victor Co Of Japan Ltd | Display part driving circuit |
| JPH1010493A (en) * | 1996-06-24 | 1998-01-16 | Hitachi Ltd | Liquid crystal display device and liquid crystal display substrate |
| KR19990026578A (en) * | 1997-09-25 | 1999-04-15 | 윤종용 | Liquid crystal display device with static electricity protection circuit |
-
1998
- 1998-06-05 KR KR1019980020792A patent/KR100646777B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH032838A (en) * | 1989-05-31 | 1991-01-09 | Matsushita Electron Corp | Production of liquid crystal display device |
| JPH03276187A (en) * | 1990-03-26 | 1991-12-06 | Victor Co Of Japan Ltd | Display part driving circuit |
| JPH1010493A (en) * | 1996-06-24 | 1998-01-16 | Hitachi Ltd | Liquid crystal display device and liquid crystal display substrate |
| KR19990026578A (en) * | 1997-09-25 | 1999-04-15 | 윤종용 | Liquid crystal display device with static electricity protection circuit |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20170079570A (en) * | 2015-12-30 | 2017-07-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | Array substrate and display device having the same |
| KR102485431B1 (en) * | 2015-12-30 | 2023-01-04 | 엘지디스플레이 주식회사 | Array substrate and display device having the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20000000877A (en) | 2000-01-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4260250B2 (en) | Liquid crystal display device having electrostatic protection circuit and display inspection method using this circuit | |
| KR100192193B1 (en) | Lcd panel having a plurality of shunt buses | |
| CN102053437B (en) | Display panel | |
| CN100541282C (en) | Array base palte and have the main substrate and the liquid crystal indicator of described array base palte | |
| KR100353955B1 (en) | Liquid Crystal Display for Examination of Signal Line | |
| CN111123591A (en) | Array substrate, display panel and display device | |
| KR101031713B1 (en) | Thin film transistor substrate and manufactruing method thereof | |
| US7724019B2 (en) | Active device array substrate | |
| KR100800330B1 (en) | Liquid crystal panel for testing signal line of line on glass type | |
| US10475398B2 (en) | Display device and manufacturing method thereof | |
| KR100528697B1 (en) | Method and Apparatus for Testing Liquid Crystal Display | |
| US9869915B2 (en) | Array substrate and liquid crystal display panel including the same | |
| KR100576629B1 (en) | TFT array substrate of LCD device and method for testing the same | |
| KR100646777B1 (en) | Liquid crystal display device having static electricity protection circuit and display inspection method using static electricity protection circuit | |
| US20060284642A1 (en) | Method of inspecting array substrate and method of manufacturing array substrate | |
| KR100552299B1 (en) | Liquid crystal display and inspection method thereof | |
| KR100495810B1 (en) | LCD display with static electricity protection circuit | |
| KR100299686B1 (en) | Liquid crystal display device having static electricity preventing function and manufacturing method thereof | |
| KR100529563B1 (en) | Panel for liquid crystal display | |
| JPH11119683A (en) | Method of inspecting liquid crystal display panel | |
| JP3192236B2 (en) | Electronic imaging device | |
| JP3087730B2 (en) | Manufacturing method of liquid crystal display device | |
| KR100930423B1 (en) | TFT array panel structure for log line disconnection test | |
| KR20080034315A (en) | Array substrate of liquid crystal display device | |
| KR100965095B1 (en) | Liquid crystal display device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121015 Year of fee payment: 7 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131031 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141030 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151030 Year of fee payment: 10 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |