KR100633450B1 - 반도체 소자의 실장 테스트를 위한 소켓 인터페이스 - Google Patents
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Abstract
Description
270: 소켓 지지부 300: 기준 전자 장치
320: 접촉 수단 배열
Claims (9)
- 반도체 소자의 실장 테스트를 위한 소켓 인터페이스에 있어서,테스트될 반도체 소자의 복수 개의 핀과 각각 접촉하는 복수 개의 핀을 포함하는 소켓과,복수 개의 소켓 접촉단과 복수 개의 연결 블록 접촉단을 포함하며 상기 복수 개의 소켓 접촉단은 상기 소켓의 복수 개의 핀과 각각 접촉하며 상기 복수 개의 연결 블록 접촉단은 상기 복수 개의 소켓 접촉단과 내부 배선을 통하여 각각 연결되는 것인 테스트 인터페이스 보드와,상기 복수 개의 연결 블록 접촉단에 접촉하는 복수 개의 포고(POGO) 핀을 포함하며 상기 복수 개의 포고 핀은 각각 실장 테스트가 수행될 기준 전자 장치의 접촉 수단에 접촉되는 것인 연결 블록을 포함하는 반도체 소자의 실장 테스트를 위한 소켓 인터페이스.
- 제1항에 있어서,반도체 소자의 삽입 또는 배출시 상기 소켓 인터페이스에 가해지는 스트레스를 줄이기 위한 소켓 지지부를 더 포함하고,상기 소켓 지지부는 상기 연결 블록 또는 상기 기준 전자장치에 고정되는 것인 반도체 소자의 실장 테스트를 위한 소켓 인터페이스.
- 제1항에 있어서,상기 소켓 접촉단은 리셉터클(receptacle)인 것인 반도체 소자의 실장 테스트를 위한 소켓 인터페이스.
- 제1항에 있어서,상기 연결 블록 접촉단은 패드(pad)인 것인 반도체 소자의 실장 테스트를 위한 소켓 인터페이스.
- 제1항에 있어서,상기 연결 블록은 반도체 소자의 삽입 또는 배출시 정렬에 대한 기준이 되는 정렬 구멍을 포함하는 것인 반도체 소자의 실장 테스트를 위한 소켓 인터페이스.
- 제1항에 있어서,상기 테스트 인터페이스 보드는 임피던스 정합에 대해서 검증된 PCB인 것인 반도체 소자의 실장 테스트를 위한 소켓 인터페이스.
- 제1항에 있어서, 상기 복수 개의 연결 블록 접촉단은,상기 복수 개의 소켓 접촉단의 배열 방향과 동일한 방향으로 배열되는 것인 반도체 소자의 실장 테스트를 위한 소켓 인터페이스.
- 제1항에 있어서, 상기 복수 개의 연결 블록 접촉단은,상기 복수 개의 소켓 접촉단의 배열 방향과 직교 방향으로 배열되는 것인 반도체 소자의 실장 테스트를 위한 소켓 인터페이스.
- 반도체 소자의 실장 테스트 장치로서,제1항 내지 제8항중 어느 한 항에 기재된 소켓 인터페이스를 사용하여 테스트될 반도체 소자와 실장 테스트를 수행할 기준 전자 장치의 접속을 수행하는 반도체 소자의 실장 테스트 장치.
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KR1020040078152A KR100633450B1 (ko) | 2004-10-01 | 2004-10-01 | 반도체 소자의 실장 테스트를 위한 소켓 인터페이스 |
Applications Claiming Priority (1)
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KR100633450B1 true KR100633450B1 (ko) | 2006-10-16 |
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JP2001083207A (ja) | 1999-09-03 | 2001-03-30 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | テストソケット、チェンジキット及びテスト装置 |
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2004
- 2004-10-01 KR KR1020040078152A patent/KR100633450B1/ko active IP Right Grant
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