KR100606384B1 - Apparatus for measuring light-reflective ratio of liquid crystal display - Google Patents

Apparatus for measuring light-reflective ratio of liquid crystal display Download PDF

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Abstract

컴퓨터용 LCD모니터 또는 각종 LCD 액정화면의 표면이 갖는 반사율을 자동으로 측정하여 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있도록 하는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치가 개시되어 있다. 외부로부터 빛이 차단된 암실에 설치되고, 서로 다른 높이를 갖는 제1선반과 제2선반으로 이루어지는 하우징; 상기 하우징의 제1선반에 회전 및 상하이동이 가능하도록 설치되고, 반사율을 측정하는 대상인 액정화면이 놓여지는 측정지지대; 상기 측정지지대의 상부에 위치하며, 상기 측정지지대에 놓여지는 액정화면으로부터 반사되는 빛을 감지하는 계측기; 상기 하우징의 제1선반보다 높은 위치에 형성되는 직사각형의 형상을 갖는 제2선반의 상면에 설치되고, 상기 계측기가 엑스축방향과 와이축방향으로 왕복이동을 하도록 장착되는 슬라이딩부; 상기 측정지지대의 상부에 설치되어 측정지지대에 놓여지는 액정화면의 표면에 빛을 주사하는 조명장치; 그리고 상기 측정지지대구동부, 슬라이딩부, 카메라 및 조명장치의 동작을 제어하면서 계측기로부터 인가되는 영상데이터를 분석하여 액정화면으로부터 반사되는 빛의 반사율을 산출하는 메인컨트롤러를 제공한다.An apparatus for measuring the light reflectance of a liquid crystal display, which automatically improves the reliability of a product by automatically measuring the reflectance of the surface of a computer LCD monitor or various LCD liquid crystal displays. A housing which is installed in a dark room where light is blocked from the outside and comprises a first shelf and a second shelf having different heights; A measuring support installed on the first shelf of the housing so as to be rotatable and movable, and having a liquid crystal screen on which a reflectance is measured; A measuring instrument positioned on an upper portion of the measuring support and sensing light reflected from an LCD screen placed on the measuring support; A sliding part installed on an upper surface of a second shelf having a rectangular shape formed at a position higher than the first shelf of the housing and mounted to reciprocate in the X-axis direction and the Y-axis direction; An illumination device installed on an upper portion of the measurement support to scan light onto the surface of the LCD screen; And it provides a main controller for calculating the reflectance of the light reflected from the LCD screen by analyzing the image data applied from the measuring instrument while controlling the operation of the measuring support unit, the sliding unit, the camera and the lighting device.

액정화면, 계측기, 측정지지대, 메인컨트롤러 LCD screen, measuring instrument, measuring support, main controller

Description

액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치{APPARATUS FOR MEASURING LIGHT-REFLECTIVE RATIO OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY}A device for measuring the light reflectance of an LCD screen {APPARATUS FOR MEASURING LIGHT-REFLECTIVE RATIO OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY}

도 1은 본 발명에 따른 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 개략적으로 나타낸 사시도이다.1 is a perspective view schematically showing an apparatus for measuring light reflectance of a liquid crystal display according to the present invention.

도 2는 본 발명에 따른 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 개략적으로 나타낸 정면도이다.2 is a front view schematically showing an apparatus for measuring light reflectance of a liquid crystal display according to the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치의 부분확대도이다.3 is a partially enlarged view of an apparatus for measuring light reflectance of a liquid crystal display according to the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 계측기의 동작예를 개략적으로 나타낸 도면이다.4 is a view schematically showing an operation example of a measuring instrument according to the present invention.

도 5는 본 발명에 따른 계측기가 액정화면을 측정하는 각도를 일예로 나타낸 도면이다.5 is a diagram illustrating an angle at which a measuring instrument according to the present invention measures an LCD screen as an example.

도 6은 본 발명에 따른 계측기와 액정화면과의 측정각도의 변화를 나타낸 도면이다.6 is a view showing a change in the measurement angle between the measuring instrument and the liquid crystal display according to the present invention.

도 7은 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 개략적으로 나타낸 블럭도이다.7 is a block diagram schematically illustrating an apparatus for measuring light reflectance of a liquid crystal display.

도 8은 본 발명에 따른 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치의 동작흐름을 나타낸 흐름도이다.8 is a flowchart illustrating an operation of an apparatus for measuring light reflectance of a liquid crystal display according to the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

10 ; 암실 12 : 제1선반10; Darkroom 12: First Shelf

14 : 제2선반 16 : 측정지지대14: Second lathe 16: Measuring support

18 : 액정화면 20 : 조명장치18: LCD screen 20: lighting device

22 : 카메라 24 : 계측기22: camera 24: instrument

26 : 제1슬라이딩부 28 : 제2슬라이딩부26: first sliding portion 28: second sliding portion

30 : 착탈브라케트 32 : 회전휠30: removable bracket 32: rotating wheel

34 : 메인컨트롤러 36 : 모니터34: main controller 36: monitor

38 : 마우스 40 : 회전모터 38: mouse 40: rotation motor

본 발명은 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 컴퓨터용 LCD모니터 또는 각종 LCD 액정화면의 표면이 갖는 반사율을 자동으로 측정하여 제품의 신뢰성을 향상시킬 수 있도록 하는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for measuring the light reflectance of a liquid crystal screen, and more particularly, to a liquid crystal screen to improve the reliability of the product by automatically measuring the reflectance of the surface of the computer LCD monitor or various LCD liquid crystal screen It relates to a device for measuring the light reflectance of the.

일반적으로 텔레비전이나 컴퓨터등에 적용되는 LCD화면이나 또는 각종 휴대용 단말기에 적용되는 LCD화면의 표면에는 외부의 충격으로부터 화면의 표면을 보호하기 위한 보호필름이 코팅되거나 또는 화면에 디스플레이되는 영상상태를 향상시키기 위한 반사방지용 필름이 코팅되어 사용되고 있다. 이러한 LCD의 경우 LCD 자체보다 밝은 빛을 만나면 반사가 일어나 잘 보이지 않습니다. 거의 모든 LCD화면을 적용하는 제품의 경우 표면이 빛에 의해 반사되어 화면의 영상이 잘 보이지 않는 문제점을 지니고 있다. 이에 대한 해결방안은 별 수 없이 빛의 방향과 LCD와의 각도를 조절해 주면서 사용해야하는 불편함이 있다. 상기 LCD화면에 반사방지용 필름을 코팅하여도 빛에 의한 난반사에 의해 화면의 선명도가 떨어지므로 최근에는 LCD화면의 반사율을 체크함으로써 LCD화면으로부터 반사되는 빛의 반사율을 최소화시킴으로서 제품의 신뢰성을 향상시키는데 많은 연구가 진행되고 있다. In general, the surface of the LCD screen applied to a television or computer, or the LCD screen applied to various portable terminals is coated with a protective film to protect the surface of the screen from external impact or to improve the image state displayed on the screen. Anti-reflection film is coated and used. In such LCDs, reflections are difficult to see when they encounter light that is brighter than the LCD itself. In the case of products that apply almost all LCD screens, the surface is reflected by light, which makes the image of the screen difficult to see. The solution to this problem is inconvenient to use while adjusting the direction of light and the angle of the LCD. Even if the anti-reflection film is coated on the LCD screen, the sharpness of the screen is reduced due to the diffuse reflection of light. In recent years, the reflectance of the LCD screen is checked to minimize the reflectance of the light reflected from the LCD screen. Research is ongoing.

본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 LCD화면의 표면이 갖는 반사율을 자동으로 측정하기 위한 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an apparatus for measuring the light reflectance of the LCD screen for automatically measuring the reflectance of the surface of the LCD screen.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 외부로부터 빛이 유입되지 않는 암실에 설치되고, 서로 다른 높이를 갖는 제1선반과 제2선반으로 이루어지는 하우징; 상기 하우징의 제1선반에 회전 및 상하이동이 가능하도록 설치되고, 반사율을 측정하는 대상인 액정화면이 놓여지는 측정지지대; 상기 하우징의 제1선반보다 높은 위치에 형성되는 직사각형의 형상을 갖는 제2선반의 상면에 설치되는 제1슬라이딩부; 상기 제1슬라이딩부의 상부면에 상호 직교하도록 착설되고, 상기 제1슬라이딩부의 상부면을 따라 길이방향으로 왕복이동하는 제2슬라이딩부; 상기 측정지지대로부터 일정거리의 높이에 위치하도록 제2슬라이딩부의 측면에 설치되며, 상기 제2슬라이딩부의 길이방향으로 왕복이동을 하면서 암실의 일측 상부에 설치된 조명장치의 빛 이 액정화면의 표면으로부터 반사되는 빛의 양을 검출하는 계측기; 상기 제2슬라이딩부에 슬라이딩가능하도록 설치되고, 상기 착설된 계측기를 좌우로 회전가능하도록 회전구동수단을 내부에 구비하는 착탈브라케트; 그리고 상기 계측기로부터 전송되는 검출된 빛의 양을 분석하여 액정회면의 표면으로부터 반사되는 반사량을 모니터에 표시하는 메인컨트롤러로 이루어지는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention is installed in a dark room in which light is not introduced from the outside, the housing consisting of a first shelf and a second shelf having different heights; A measuring support installed on the first shelf of the housing so as to be rotatable and movable, and having a liquid crystal screen on which a reflectance is measured; A first sliding part installed on an upper surface of a second shelf having a rectangular shape formed at a position higher than the first shelf of the housing; A second sliding part installed so as to be perpendicular to an upper surface of the first sliding part, and reciprocating in the longitudinal direction along the upper surface of the first sliding part; Is installed on the side of the second sliding portion so as to be located at a height of a predetermined distance from the measuring support, and the light of the lighting device installed on one side of the dark room is reflected from the surface of the LCD screen while reciprocating in the longitudinal direction of the second sliding portion A meter for detecting the amount of light; A detachable bracket which is installed to be slidable in the second sliding part and has a rotation driving means therein so as to be rotatable from side to side; And it provides a device for measuring the light reflectance of the liquid crystal screen comprising a main controller for analyzing the amount of light transmitted from the measuring instrument to display the amount of reflection reflected from the surface of the liquid crystal display on the monitor.

상기 암실의 일측 상부에 설치되어 측정지지대의 상면에 놓여진 액정화면을 촬영하여 메인컨트롤러에 인가하는 카메라; 그리고 상기 메인컨트롤러에 구비되며, 상기 메인컨트롤러가 모니터에 카메라로부터 전송되는 액정화면의 영상을 디스플레이시키면 모니터에 디스플레이된 액정화면의 영상에 반사량을 측정할 지점인 측정점을 다수개 표시하는 마우스를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 제공한다. A camera installed at an upper portion of one side of the dark room and photographing an LCD screen placed on an upper surface of a measuring support and applying the same to a main controller; The main controller may further include a mouse configured to display a plurality of measurement points, which are points for measuring a reflection amount, on the image of the LCD screen displayed on the monitor when the main controller displays an image of the LCD screen transmitted from the camera. Provided is an apparatus for measuring the light reflectance of a liquid crystal display.

상기 측정지지대는 저면부 중심에 회전축이 구비되고, 상기 회전축의 일단부에는 원형의 외주면에 웜휠이 형성되는 웜휠플레이트가 착설되며, 상기 웜휠플레이트의 웜휠에는 회전모터에 착설되어 웜휠에 회전력을 인가하는 웜이 결합되어 회전모터가 회전을 하면 웜 및 웜휠로 이루어지는 웜기어가 구동을 하여 회전축을 회전시킴으로써 회전축에 착설된 측정지지대가 회전을 하는 것을 특징으로 하는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 제공한다.The measuring support is provided with a rotation shaft at the center of the bottom surface, and a worm wheel plate on which a worm wheel is formed on a circular outer circumferential surface is installed at one end of the rotation shaft, and a worm wheel of the worm wheel plate is installed on a rotation motor to apply rotational force to the worm wheel. When the rotating motor is rotated by the combination of worms, a worm gear consisting of a worm and a worm wheel is driven to rotate the rotating shaft, thereby providing an apparatus for measuring the light reflectance of the LCD screen, wherein the measuring support mounted on the rotating shaft rotates. .

상기 제1선반의 중심부에는 외주면에 기어가 형성된 상하이동축이 수직으로 착설되고, 상기 상하이동축의 상단부는 웜기어 및 회전모터를 지지하는 고정틀의 하부플레이트의 저면중심부에 착설되며, 상기 상하이동축의 외주면에 형성되는 기어는 제1선반에 장착되는 상하구동부에 결합되므로써 상기 회전휠의 회전에 의해 상하이동축이 회전하여 측정지지대 및 고정틀을 함께 상하로 이동시키는 것을 특징으로 하는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 제공한다. Shanghai coaxial with gears formed on the outer circumferential surface is installed vertically in the center of the first shelf, the upper end of the Shanghai coaxial is installed on the bottom center of the lower plate of the fixed frame for supporting the worm gear and the rotating motor, The formed gear is coupled to an up-and-down drive unit mounted on the first shelf, so that the Shanghai coaxial is rotated by the rotation of the rotary wheel to move the measuring support and the fixing frame up and down together. To provide.

상기 메인컨트롤러에는 계측기, 제1슬라이딩부, 제2슬라이딩부, 착탈브라케트, 회전모터 및 조명장치가 접속되며, 상기 계측기, 제1슬라이딩부, 제2슬라이딩부, 착탈브라케트, 회전모터 및 조명장치의 동작을 제어하면서 계측기로부터 인가되는 빛의 검출량을 분석하여 액정화면으로부터 반사되는 빛의 반사율을 산출하는 것을 특징으로 하는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 제공한다. The main controller is connected to a measuring instrument, a first sliding portion, a second sliding portion, a detachable bracket, a rotating motor, and a lighting device, and the measuring instrument, a first sliding portion, a second sliding portion, a removable bracket, a rotating motor, and an illumination device. The present invention provides a device for measuring the light reflectance of a liquid crystal screen, wherein the amount of light reflected from the liquid crystal display is calculated by analyzing the detection amount of light applied from the measuring device while controlling the operation of the device.

상기 메인컨트롤러는 측정지지대의 상면에 액정화면이 위치되었는가를 확인하는 초기단계(S100); 액정화면의 표면에 조명장치를 이용하여 빛을 조사시키는 단계(S110); 상기 단계(S110) 다음에 카메라를 통해 촬영된 액정화면에 해당하는 영상을 획득하여 모니터에 디스플레이시키는 단계(S120); 마우스를 이용하여 반사율을 측정할 지점인 측정점을 모니터에 디스플레이된 액정화면의 영상에 다수개를 선택하여 표시하는 단계(S130); 반사율을 측정하는 시작모드로 전환하는 단계(S140); 측정할 측정점이 존재하는가를 판단하는 단계(S150); 측정하지 않은 측정점이 존재하면 제1슬라이딩부 및 제2슬라이딩부를 제어하여 계측기를 측정할 측정점의 수직 상부지점까지 이동시키는 단계(S160); 상기 측정지지대를 회전시키면서 계측기가 측정점의 수직 상부지점에서 측정점으로부터 반사되는 빛을 검출하여 메인컨트롤러에 검출된 빛의 양에 해당하는 데이터를 전송하는 단계(S170); 상기 계측기로부터 전송된 빛의 양을 분석하여 반사율을 산출한 후 모니터에 표시하는 단계(S180); 상기 단계(S180) 다음에 측정점의 수직 상부지점으로부터 벗어난 설정된 다른 위치에서 모두 측정하였는가를 판단하는 단계(S190); 상기 단계(S190)에서 계측기가 측정점의 수직 상부지점으로부터 벗어난 설정된 다른 위치에서 모두 측정하였으면 단계(S150)를 반복실행하고, 상기 단계(S190)에서 계측기가 측정점의 수직 상부지점으로부터 벗어난 설정된 다른 위치에서 모두 측정하지 않았으면 계측기를 설정된 다른 위치로 이동시킨 후 회전구동부를 제어하여 계측기를 회전시킴으로써 계측기가 측정점을 향하도록 하는 단계(S200); 그리고 상기 단계(S200) 다음에 단계(S170)를 반복실행하는 것을 특징으로 한다. The main controller is an initial step (S100) to determine whether the liquid crystal display is located on the upper surface of the measurement support; Irradiating light onto the surface of the LCD screen using an illumination device (S110); Obtaining an image corresponding to the LCD screen captured by the camera and displaying the image on a monitor (S120); Selecting and displaying a plurality of measuring points on the image of the liquid crystal screen displayed on the monitor by using a mouse (S130); Switching to a start mode in which reflectance is measured (S140); Determining whether a measurement point to be measured exists (S150); If there is a measurement point not measured, controlling the first sliding unit and the second sliding unit to move the measuring instrument to a vertical upper point of the measurement point to be measured (S160); Measuring the light reflected from the measuring point at a vertical upper point of the measuring point while rotating the measuring support, and transmitting data corresponding to the detected amount of light to the main controller (S170); Analyzing the amount of light transmitted from the measuring instrument to calculate a reflectance and then displaying the reflected light on the monitor (S180); Determining whether all measurements are made at different set positions deviating from the vertical upper point of the measuring point after the step (S180) (S190); In step S190, if the measuring device has measured all at different set positions away from the vertical upper point of the measuring point, step S150 is repeated, and in step S190, the measuring instrument is set at different setting positions away from the vertical upper point of the measuring point. If not measuring all the steps to move the measuring instrument to another set position by controlling the rotary drive to rotate the measuring instrument to the measuring point toward the measuring point (S200); Then, step S200 is repeated, followed by step S170.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 개략적으로 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 발명에 따른 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 개략적으로 나타낸 정면도이고, 도 3은 본 발명에 따른 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치의 부분확대도이고, 도 4는 본 발명에 따른 계측기의 동작예를 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 5는 본 발명에 따른 계측기가 액정화면을 측정하는 각도를 일예로 나타낸 도면이고, 도 6은 본 발명에 따른 계측기와 액정화면과의 측정각도의 변화를 나타낸 도면이고, 도 7은 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치를 개략적으로 나타낸 블럭도이고, 도 8은 본 발명에 따른 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치의 동작흐름을 나타낸 흐름도이다.1 is a perspective view schematically showing an apparatus for measuring light reflectance of a liquid crystal display according to the present invention, FIG. 2 is a front view schematically showing an apparatus for measuring light reflectance of a liquid crystal display according to the present invention, and FIG. 4 is a partially enlarged view of an apparatus for measuring light reflectance of a liquid crystal display according to the present invention, and FIG. 4 is a view schematically showing an example of an operation of the measuring instrument according to the present invention, and FIG. FIG. 6 is a view showing angles as an example, and FIG. 6 is a view showing a change in measuring angle between a measuring instrument and a liquid crystal display according to the present invention, and FIG. 7 is a block diagram schematically showing an apparatus for measuring light reflectance of a liquid crystal display. 8 is a flowchart illustrating an operation of an apparatus for measuring light reflectance of a liquid crystal display according to the present invention.

도 1 내지 도 8을 참조하여 설명하면, 먼저, 외부로부터 빛이 유입되는 것이 차단되는 암실(10)에는 제1선반(12)과 제2선반(14)을 구비하는 하우징이 설치된다. 상기 하우징의 제1선반(12)보다 제2선반(14)이 높은 위치에 위치하고, 상기 제1선반(12)의 중심부에는 제1중심관통홀(도시안됨)이 형성되고, 상기 제1중심관통홀을 중심으로 네개의 가이드관통홀(50)이 형성된다. 상기 가이드관통홀(50)에 삽입되는 네개의 메인지지대(52)의 상단부에는 상부플레이트(46)가 착설되고, 상기 상부플레이트(46)의 저면부에는 네개의 서브지지대(54)와 함께 하부플레이트(48)가 착설된다. Referring to FIGS. 1 to 8, first, a housing having a first shelf 12 and a second shelf 14 is installed in a dark room 10 through which light is prevented from flowing from the outside. The second shelf 14 is located at a higher position than the first shelf 12 of the housing, and a first center through hole (not shown) is formed in the center of the first shelf 12, and the first center through Four guide through holes 50 are formed around the holes. The upper plate 46 is installed at the upper end of the four main support 52 inserted into the guide through hole 50, and the lower plate together with the four sub support 54 at the bottom of the upper plate 46. 48 is installed.

상기 상부플레이트(46)의 중심부에는 제2중심관통홀(도시안됨)이 형성되고, 상기 제2중심관통홀에는 회전축(62)이 삽입된다. 상기 회전축(62)의 상단부는 측정지지대(16)의 저면중심부가 착설되고, 상기 회전축(62)의 하단부에는 웜휠플레이트(44)가 착설된다. 상기 웜휠플레이트(44)의 외주면에는 웜휠이 형성되어 있고, 상기 웜휠플레이트(44)의 외주면에 형성된 웜휠에는 웜(42)이 장착됨으로써 웜기어를 이루게 된다. 상기 웜(42)은 메인지지대측에 설치된 회전모터(40)에 결합되어 회전모터(40)의 회전동작시 웜(42)은 웜휠플레이트(44)에 회전력을 전달하게 되고, 상기 웜휠플레이트(44)가 회전을 함으로써 웜휠플레이트(44)에 회전축(62)을 통해 결합된 측정지지대(16)가 회전을 한다. A second center through hole (not shown) is formed at the center of the upper plate 46, and a rotation shaft 62 is inserted into the second center through hole. An upper end of the rotating shaft 62 is mounted with a bottom center of the measuring support 16, and a worm wheel plate 44 is installed at a lower end of the rotating shaft 62. A worm wheel is formed on an outer circumferential surface of the worm wheel plate 44, and a worm 42 is mounted on a worm wheel formed on an outer circumferential surface of the worm wheel plate 44 to form a worm gear. The worm 42 is coupled to the rotary motor 40 installed on the main support side, the worm 42 to transmit the rotational force to the worm wheel plate 44 during the rotation operation of the rotary motor 40, the worm wheel plate 44 The rotation of the measuring support 16 coupled to the worm wheel plate 44 through the rotating shaft 62 is rotated.

상기 하부플레이트(48)의 저면부 중심에는 상하이동축(60)의 상단부가 착설되고, 상기 상하이동축(60)의 외주면에는 기어가 형성된다. 상기 상하이동축(60)의 외주면에 형성된 기어에는 제1선반(12)에 고정되는 상하구동부(도시 안됨)가 결합 되고, 상기 상하구동부(도시안됨)는 상하이동축(60)의 일측부에 결합되어 회전휠(32)의 회전력을 상하이동축(60)에 전달함으로써 상하이동축(60)이 회전동작을 하도록하여 상하이동축(60)이 상승 또는 하강동작을 하도록 한다. 상기 상하이동축(60)의 상단부에 체결되는 하부플레이트(48)도 상하이동축(60)의 상승 또는 하강동작시 함께 상승 및 하강동작을 하게 된다. 상기 하부플레이트(48)는 상부플레이트(46)와 서브지지대(54)를 통해 일체로 형성되어 있고, 상기 상부플레이트(46)에 체결되는 메인지지대(52)는 가이드관통홀(50)에 삽입된 상태에서 하부플레이트(48), 상부플레이트, 및 측정지지대(16) 등이 일체로 상승 또는 하강동작을 원활하게 하도록 가이드하게 된다.An upper end of the Shanghai coaxial 60 is installed at the center of the bottom of the lower plate 48, and a gear is formed on the outer circumferential surface of the Shanghai coaxial 60. The gears formed on the outer circumferential surface of the Shanghai coaxial 60 are coupled to a vertical driving part (not shown) fixed to the first shelf 12, and the vertical driving part (not shown) is coupled to one side of the Shanghai coaxial 60. By transmitting the rotational force of the rotary wheel 32 to the Shanghai coaxial 60 to cause the Shanghai coaxial 60 to rotate so that the Shanghai coaxial 60 moves up or down. The lower plate 48 which is fastened to the upper end of the shankhai coaxial 60 is also raised and lowered together when the shank coaxial 60 is raised or lowered. The lower plate 48 is integrally formed through the upper plate 46 and the sub support 54, and the main support 52 fastened to the upper plate 46 is inserted into the guide through hole 50. In the state, the lower plate 48, the upper plate, the measuring support 16, and the like are guided to smoothly move up or down.

상기 측정지지대(16)의 상면에는 반사율을 측정하는 대상인 액정화면(18)이 놓여지도록 일정한 넓이의 원형의 판재형상을 갖는다. 상기 측정지지대(16)로부터 일정한 높이의 위치에는 계측기(24)가 위치하며, 상기 계측기(24)는 측정지지대(16)에 놓여지는 액정화면(18)으로부터 반사되는 빛을 검출하게 된다. 상기 하우징의 제1선반(12)보다 높은 위치에 형성되는 직사각형의 형상을 갖는 제2선반(14)의 상면에는 제1슬라이딩부(26)가 설치되고, 상기 제1슬라이딩부(26)의 상부면에는 상호 직교하도록 제2슬라이딩부(28)가 장착된다. 상기 제2슬라이딩부(28)의 일측부는 제1슬라이딩부(26)의 상부면에 슬라이딩이 가능하도록 착설되고, 상기 제2슬라이딩부(28)의 측면부에는 착탈브라케트(30)가 장착된다. 상기 제1슬라이딩부(26) 및 제2슬라이딩부(28)는 외부의 제어신호에 따라 자동으로 슬라이딩 이동을 하는 로봇의 기능을 하고, 상기 착탈브라케트(30)도 제2슬라이딩부(28)의 측면에 장착되어 외부 로부터 인가되는 제어신호에 따라 자동으로 제2슬라이딩부(28)의 길이방향을 따라 왕복이동을 한다. 즉, 상기 제1슬라이딩부(26)는 외부의 제어신호에 따라 제2슬라이딩부(28)가 제1슬라이딩부(26)의 길이방향을 따라 이동하도록 하고, 상기 제2슬라이딩부(28)는 외부의 제어신호에 따라 착탈브라케트(30)가 제2슬라이딩부(28)의 길이방향을 따라 이동하도록 한다.The upper surface of the measuring support 16 has a circular plate shape of a predetermined width so that the liquid crystal display 18 as a target for measuring reflectance is placed. The measuring instrument 24 is positioned at a predetermined height from the measuring support 16, and the measuring instrument 24 detects the light reflected from the liquid crystal display 18 placed on the measuring support 16. The first sliding part 26 is installed on an upper surface of the second shelf 14 having a rectangular shape formed at a position higher than the first shelf 12 of the housing, and the upper part of the first sliding part 26. The second sliding part 28 is mounted on the surface to be orthogonal to each other. One side portion of the second sliding portion 28 is installed to be slidable on the upper surface of the first sliding portion 26, and a detachable bracket 30 is mounted on the side portion of the second sliding portion 28. The first sliding portion 26 and the second sliding portion 28 function as a robot that automatically moves according to an external control signal, and the removable bracket 30 also has a second sliding portion 28. It is mounted on the side of the reciprocating movement along the longitudinal direction of the second sliding unit 28 automatically in accordance with the control signal applied from the outside. That is, the first sliding unit 26 causes the second sliding unit 28 to move along the longitudinal direction of the first sliding unit 26 according to an external control signal, and the second sliding unit 28 The detachable bracket 30 moves in the longitudinal direction of the second sliding part 28 according to an external control signal.

상기 착탈브라케트(30)에는 계측기(24)가 착설되고, 상기 착탈브라케트(30)에는 회전구동부(64)가 구비되어 외부의 제어신호에 따라 계측기(24)를 좌우로 회전시키게 된다. The detachable bracket 30 has a measuring instrument 24 installed therein, and the detachable bracket 30 is provided with a rotation driving unit 64 to rotate the measuring instrument 24 left or right according to an external control signal.

상기 제1슬라이딩부(26)가 엑스축(또는 와이축)이 되면 제2슬라이딩부(28)는 와이축(또는 엑스축)이 된다. 상기 제2슬라이딩부(28)의 측면에는 착탈브라케트(30)가 슬라이딩이 가능하도록 장착되고, 상기 착탈브라케트(30)에 부착되는 계측기(24)는 제2슬라이딩부(28)의 길이방향을 따라 왕복이동이 가능하고, 동시에 상기 제1슬라이딩부(26)의 길이방향을 따라 왕복이동이 가능하므로 계측기(24)는 엑스축방향과 와이축방향으로 이동이 가능하다. When the first sliding part 26 becomes the X axis (or the Y axis), the second sliding part 28 becomes the Y axis (or the X axis). The detachable bracket 30 is mounted on the side of the second sliding part 28 to be slidable, and the measuring instrument 24 attached to the detachable bracket 30 is in the longitudinal direction of the second sliding part 28. Since the reciprocating movement is possible and at the same time the reciprocating movement is possible along the longitudinal direction of the first sliding portion 26, the measuring instrument 24 is movable in the X-axis direction and the Y-axis direction.

상기 측정지지대(16)의 상부에는 조명장치(20)가 설치되고, 상기 조명장치(20)는 측정지지대(16)에 놓여지는 액정화면의 표면에 빛을 주사하여 액정화면(18)의 표면으로부터 반사되게 한다. 상기 조명장치(20)의 근접부에는 카메라(22)가 설치되어 측정지지대(16)의 상면에 놓여진 액정화면(18)을 촬영하게 된다.An illumination device 20 is installed above the measurement support 16, and the illumination device 20 scans light from the surface of the liquid crystal display 18 placed on the measurement support 16 from the surface of the liquid crystal display 18. Let it reflect. The camera 22 is installed in the vicinity of the lighting device 20 to photograph the LCD screen 18 placed on the upper surface of the measuring support 16.

상기 계측기(24), 제1슬라이딩부(26), 제2슬라이딩부(28), 착탈브라케트(30)에 구비되는 회전구동부(64), 회전모터(40) 및 조명장치(20)가 메인컨트롤러(34)에 접속되며, 상기 메인컨트롤러(34)는 계측기(24), 제1슬라이딩부(26), 제2슬라이딩부(28), 착탈브라케트(30)에 구비되는 회전구동부(64), 회전모터(40) 및 조명장치(20)를 제어하면서 계측기(24)로부터 인가되는 빛의 양을 분석하여 액정화면(18)의 임의의 측정점으로부터 반사되는 빛의 반사율을 산출하게 된다. The measuring device 24, the first sliding part 26, the second sliding part 28, and the rotation driving part 64, the rotation motor 40, and the lighting device 20 provided in the detachable bracket 30 are main. Is connected to the controller 34, the main controller 34 is a rotary drive unit 64 provided in the measuring instrument 24, the first sliding unit 26, the second sliding unit 28, the removable bracket 30 The amount of light applied from the measuring device 24 is analyzed while controlling the rotating motor 40 and the lighting device 20 to calculate a reflectance of light reflected from an arbitrary measurement point of the liquid crystal display 18.

도 5 및 도 6에 도시된 바와같이, 상기 계측기(24)는 측정점(P)을 기준으로 좌우로 이동하면서 측정점으로부터 반사되는 빛을 검출하게 된다. 즉, 상기 계측기(24)가 부착되는 착탈브라케트(30)에 구비되는 회전구동부(64)는 메인컨트롤러(34)의 제어에 따라 좌우로 회전되어 계측기(24)가 임의의 위치에서도 측정점(P)을 향하도록 한다. 도 5의 (a)는 메인컨트롤러(34)가 제1슬라이딩부(26) 및 제2슬라이딩부(28)를 제어하여 계측기(24)를 측정점(P)의 수직 상부에 위치하도록 하여 수직 상부에서 측정점(P)으로부터 반사되는 빛을 검출하는 예를 나타낸 것이고, (b) 및 (c)는 메인컨트롤러(34)가 제1슬라이딩부(26) 및 제2슬라이딩부(28)를 제어하여 계측기(24)를 측정점(P)의 수직 상부로부터 이탈된 지역에 위치시킨 후 회전구동부(64)를 제어하여 계측기(24)가 측정점(P)을 향하도록 하여 측정점(P)으로부터 반사되는 빛을 검출하는 예를 나타낸 것이다.5 and 6, the measuring instrument 24 detects light reflected from the measuring point while moving from side to side with respect to the measuring point P. FIG. That is, the rotary drive unit 64 provided in the detachable bracket 30 to which the measuring instrument 24 is attached is rotated left and right under the control of the main controller 34 so that the measuring unit 24 can measure the measuring point P at any position. ). FIG. 5A shows that the main controller 34 controls the first sliding portion 26 and the second sliding portion 28 so that the measuring instrument 24 is positioned at the vertical upper portion of the measuring point P. An example of detecting light reflected from the measuring point P is illustrated, and (b) and (c) indicate that the main controller 34 controls the first sliding unit 26 and the second sliding unit 28 to measure the measuring instrument ( 24 is positioned in a region deviated from the vertical upper portion of the measuring point P, and then the rotary drive unit 64 is controlled so that the measuring instrument 24 faces the measuring point P to detect light reflected from the measuring point P. An example is shown.

도 6에서 나타낸 바와 같이, 계측기(24)가 측정점(P)으로부터 h의 높이의 수직 상부로부터 x의 거리만큼 이동하면 계측기(24)와 측정점(P)과의 사이에는 θ의 각도가 발생하게 된다. 이를 수식으로 나타내면 " x= htan(θ) " 가 된다. 따라서, 상기 수식에서 나타낸 바와같이, 임의의 특정 방향에서 측정점(P)로부터 반사되는 빛을 검출하기 위해서는 계측기(24)를 x의 거리만큼 이동시키고, 상기 계측기(24) 를 x의 거리만큼 이동시키면 회전구동부(64)를 제어하여 θ의 각도만큼 계측기(24)를 회전시켜 계측기(24)가 측정점(P)을 향하도록 한 후 측정지지대(16)를 회전시키면서 측정을 하여야 한다.As shown in FIG. 6, when the measuring instrument 24 moves by a distance of x from the vertical upper portion of the height of h from the measuring point P, an angle of θ occurs between the measuring instrument 24 and the measuring point P. FIG. . If this is expressed as an expression, "x = htan (θ)" is obtained. Therefore, as shown in the above equation, in order to detect the light reflected from the measuring point P in any particular direction, the measuring instrument 24 is moved by the distance of x, and the measuring instrument 24 is moved by the distance of x. The measuring unit 16 should be measured while rotating the measuring support 16 by controlling the rotary drive unit 64 to rotate the measuring instrument 24 by an angle of θ so that the measuring instrument 24 faces the measuring point P.

좀더 상세하게 설명하면, 반사율을 측정할 액정화면(18)을 측정지지대(16)의 상면에 위치시킨 후 조명장치(20)를 이용하여 빛이 액정화면(18)의 표면에 조사되도록 한다. 상기 액정화면(18)에 빛이 조사되는 동안 카메라(22)가 액정화면(18)을 촬영하여 모니터(36) 및 마우스(38)를 구비하는 컴퓨터인 메인컨트롤러(34)에 인가한다. 상기 메인컨트롤러(34)는 모니터(36)에 카메라(22)로부터 인가되는 액정화면(18)의 영상데이터를 디스플레이시켜 액정화면(18)이 모니터(36)에 나타나도록 한다. In more detail, the liquid crystal display 18 to measure the reflectance is positioned on the upper surface of the measuring support 16, and then the light is irradiated onto the surface of the liquid crystal display 18 using the illumination device 20. While light is irradiated onto the LCD screen 18, the camera 22 photographs the LCD screen 18 and applies it to the main controller 34, which is a computer having a monitor 36 and a mouse 38. The main controller 34 displays the image data of the liquid crystal screen 18 applied from the camera 22 on the monitor 36 so that the liquid crystal screen 18 appears on the monitor 36.

상기 메인컨트롤러(34)에 접속되는 마우스(38)를 이용하여 모니터(36)에 디스플레이된 액정화면의 영상에 액정화면(18)의 반사율을 측정할 지점인 측정점을 선택하여 표시하게 된다. 상기 측정점은 원하는 갯수만큼 선택하여 지정할 수 있다. 상기 마우스(38)를 이용하여 측정점을 모두 선택하여 표시한 후 액정화면(18)의 반사율을 측정하라는 시작신호를 메인컨트롤러(34)에 입력하게 된다. By using the mouse 38 connected to the main controller 34, a measurement point, which is a point at which the reflectance of the LCD screen 18 is to be measured, is displayed on an image of the LCD screen displayed on the monitor 36. The measuring point can be selected and specified as desired. After selecting and displaying all the measurement points using the mouse 38, a start signal for measuring the reflectance of the LCD screen 18 is input to the main controller 34.

상기 메인컨트롤러(34)에 반사율을 측정하라는 시작신호를 입력하게 되면 자동으로 첫 번째로 반사율을 측정할 임의의 측정점을 정하게 된다. 상기 측정점이 정해지면 메인컨트롤러(34)가 제1슬라이딩부(26) 및 제2슬라이딩부(28)를 제어하여 계측기(24)를 측정점의 수직 상방향 지점에 위치시킨다. 상기 계측기(24)가 측정점의 수직 상방향에 위치하게 되면 메인컨트롤러(34)는 회전모터(40)를 제어하여 측 정지지대(16)를 일정한 방향으로 회전시키면서 계측기(24)가 해당 측정점으로부터 반사되는 빛의 양을 검출하도록 하고, 상기 계측기(24)는 측정점으로부터 반사되는 빛을 검출하여 메인컨트롤러(34)에 인가한다. When the start signal for measuring the reflectance is input to the main controller 34, an arbitrary measuring point for measuring the reflectance is automatically determined first. When the measuring point is determined, the main controller 34 controls the first sliding part 26 and the second sliding part 28 to position the measuring instrument 24 at a vertically upward point of the measuring point. When the measuring instrument 24 is positioned vertically upward of the measuring point, the main controller 34 controls the rotating motor 40 to rotate the side stop zone 16 in a predetermined direction while the measuring instrument 24 reflects from the measuring point. In order to detect the amount of light, the measuring instrument 24 detects the light reflected from the measurement point and applies it to the main controller 34.

상기 메인컨트롤러(34)는 계측기(24)가 측정점으로부터 반사되는 빛을 검출하여 인가한 빛의 양을 분석하여 측정점으로부터 반사되는 빛의 반사량을 모니터(36)에 디스플레이시킨다. 상기 메인컨트롤러(34)는 측정점의 수직 상부지점에서 빛의 반사량을 검출하였으면 다시 제1슬라이딩부(26), 제2슬라이딩부(28) 및 회전구동부(64)를 제어하여 계측기(24)가 다른 방향에서 측정점으로부터 반사되는 빛을 계측하여 메인컨트롤러(34)에 인가하도록 한다. 상기 메인컨트롤러(34)는 다수개의 방향에서 측정점(P)으로부터 반사되는 빛을 계측기(24)가 검출하도록 한 후 모든 설정된 방향에서 측정점으로부터 반사되는 빛을 계측기(24)가 검출하였으면 제1슬라이딩부(26) 및 제2슬라이딩부(28)를 제어하여 다른 측정점으로 계측기(24)를 이동시켜 다시 반복적으로 여러 지점에서 측정점으로부터 반사되는 빛을 계측기(24)가 검출하도록 한다. 상기 계측기(24)가 여러지점에서 측정점으로부터 반사되는 빛을 검출하는동안 메인컨트롤러(34)는 회전모터(40)를 구동시켜 측정지지대(16)를 회전시켜 측정지지대(16)와 함께 액정화면(18)이 회전하도록 한다. The main controller 34 detects the light reflected from the measuring point by the measuring instrument 24 and analyzes the amount of light applied to the monitor 36 to display the amount of light reflected from the measuring point. When the main controller 34 detects the reflection amount of light at the vertical upper point of the measurement point, the main controller 34 again controls the first sliding part 26, the second sliding part 28, and the rotation driving part 64 so that the measuring instrument 24 is different from the other. The light reflected from the measuring point in the direction is measured and applied to the main controller 34. The main controller 34 allows the measuring instrument 24 to detect light reflected from the measuring point P in a plurality of directions, and then measures the first reflecting unit when the measuring instrument 24 detects the light reflected from the measuring point in all set directions. 26 and the second sliding unit 28 are controlled to move the measuring instrument 24 to another measuring point so that the measuring instrument 24 detects light reflected from the measuring point repeatedly at various points. While the measuring instrument 24 detects the light reflected from the measuring point at various points, the main controller 34 drives the rotating motor 40 to rotate the measuring support 16 so that the measuring support 16 together with the liquid crystal display ( 18) to rotate.

상기 측정지지대(16)가 회전을 하면 자동으로 액정화면(18)도 회전을 함으로써 계측기(24)가 임의의 한 지점에서 측정점을 향해 빛을 검출하여도 액정화면(18)의 회전반경에 해당하는 위치에서는 액정화면(18)의 표면으로부터 반사되는 모든 빛의 반사율을 검출할수 있게 된다.When the measuring support 16 is rotated, the LCD screen 18 is also automatically rotated so that the measuring device 24 corresponds to the rotation radius of the LCD screen 18 even when the measuring instrument 24 detects light toward a measuring point at an arbitrary point. At this position, the reflectance of all the light reflected from the surface of the liquid crystal display 18 can be detected.

일 실시예를 통해 본 발명을 설명하면, 암실(10)에 구비되는 측정지지대(16)의 상면에 반사율을 측정할 대상인 액정화면(18)을 위치시킨다(S100). 상기 단계(S100)에서 측정지지대(16)의 상면에 액정화면(18)을 위치시킨 후 조명장치(20)를 이용하여 액정화면(18)에 빛을 조사시킨다(S110). 상기 액정화면(18)의 표면에 조명장치(20)를 이용하여 빛을 조사시킨 상태에서 카메라(22)를 통해 촬영된 측정지지대(16)의 상면에 위치된 액정화면(18)에 해당하는 영상을 획득하여 모니터(36)에 디스플레이시킨다(S120). 상기 단계(S120) 다음에 액정화면(18)에 해당하는 영상이 디스플레이되는 모니터(36)에 마우스(38)를 이용하여 반사율을 측정할 지점인 측정점을 모니터(36)에 디스플레이된 액정화면(18)의 영상에 다수개(예, 10개)를 선택하여 표시한다(S130). Referring to the present invention through an embodiment, the liquid crystal screen 18 to be measured for reflectance is positioned on the upper surface of the measurement support 16 provided in the dark room 10 (S100). In step S100, the LCD screen 18 is positioned on the upper surface of the measuring support 16, and then light is irradiated onto the LCD screen 18 using the lighting device 20 (S110). Image corresponding to the liquid crystal screen 18 positioned on the upper surface of the measuring support 16 photographed through the camera 22 in the state of irradiating light using the illumination device 20 on the surface of the liquid crystal screen 18 Is obtained and displayed on the monitor 36 (S120). After the step (S120), the measurement point, which is a point at which the reflectance is to be measured by using the mouse 38, on the monitor 36 on which the image corresponding to the LCD screen 18 is displayed, is displayed on the monitor 36. A plurality of images (eg, 10) are selected and displayed (S130).

상기 마우스(38)를 이용하여 측정점을 다수개를 선택한 후 액정화면(18)의 표면에서 빛이 반사되는 반사율을 측정하기 위하여 메인컨트롤러(34)를 시작모드로 전환시킨다(S140). 상기 메인컨트롤러(34)가 시작모드로 전환되면 측정할 측정점이 존재하는가를 판단한다(S150). 상기 모니터(36)에 디스플레이되는 액정화면(18)의 영상에 표시된 측정점중에서 측정하지 않은 측정점이 존재하면 제1슬라이딩부(26) 및 제2슬라이딩부(28)를 제어하여 계측기(24)를 측정할 측정점의 수직 상부지점까지 이동시킨다(S160). After selecting a plurality of measuring points using the mouse 38, the main controller 34 is switched to the start mode in order to measure the reflectance of the light reflected from the surface of the LCD screen 18 (S140). When the main controller 34 is switched to the start mode, it is determined whether a measurement point to be measured exists (S150). If a measurement point that is not measured is present among the measurement points displayed on the image of the LCD screen 18 displayed on the monitor 36, the first sliding unit 26 and the second sliding unit 28 are controlled to measure the measuring instrument 24. Move to a vertical upper point of the measurement point (S160).

상기 계측기(24)가 측정점의 수직 상부지점까지 이동하였으면 계측기(24)가 검출할 측정점의 수직 상부지점에서 액정화면(18)으로부터 반사되는 빛을 감지 및 검출하여 메인컨트롤러(34)에 감지 및 검출된 빛의 양에 해당하는 데이터를 전송한 다(S170). 상기 메인컨트롤러(34)는 계측기(24)로부터 전송된 빛의 양을 분석하여 반사율을 산출한 후 모니터(36)에 표시한다(S180). 상기 계측기(24)가 측정점으로부터 반사되는 빛을 검출하는 동안 메인컨트롤러(34)는 회전모터(40)를 구동시켜 측정지지대(16)를 회전시킴으로써 액정화면(18)이 회전하도록 한다.When the measuring instrument 24 moves to the vertical upper point of the measuring point, the measuring instrument 24 detects and detects the light reflected from the LCD screen 18 at the vertical upper point of the measuring point to be detected, and detects and detects the main controller 34. The data corresponding to the amount of light is transmitted (S170). The main controller 34 analyzes the amount of light transmitted from the measuring instrument 24 to calculate a reflectance and then displays it on the monitor 36 (S180). While the meter 24 detects the light reflected from the measuring point, the main controller 34 drives the rotating motor 40 to rotate the measuring support 16 so that the LCD screen 18 rotates.

상기 계측기(24)가 측정점의 수직 상부지점에서 액정화면(18)으로부터 반사되는 빛을 검출하여 산출된 반사율을 모니터(36)에 표시한 후 측정점의 수직 상부지점으로부터 벗어난 설정된 다른 위치에서 모두 측정하였는가를 판단한다(S190). 상기 단계(S190)에서 계측기(24)가 측정점의 수직 상부지점으로부터 벗어난 설정된 다른 위치에서 모두 측정하였으면 단계(S150)를 반복실행한다.Is the measuring instrument 24 detecting light reflected from the liquid crystal display 18 at the vertical upper point of the measuring point and displaying the calculated reflectance on the monitor 36, and then measuring all of the measuring points at other positions that deviate from the vertical upper point of the measuring point? Determine (S190). In step S190, if the measuring instrument 24 measures all of the other positions set away from the vertical upper point of the measuring point, step S150 is repeated.

또한, 상기 단계(S190)에서 계측기(24)가 측정점의 수직 상부지점으로부터 벗어난 설정된 다른 위치에서 모두 측정하지 않았으면 제1슬라이딩부(26) 및/또는 제2슬라이딩부(28)를 제어하여 계측기(24)를 계측기(24)가 측정점의 수직 상부지점으로부터 벗어난 설정된 다른 위치로 이동시킨 후 회전구동부(64)를 제어하여 계측기(24)를 회전시킴으로써 계측기(24)가 측정점을 향하도록 한다(S200).In addition, if the measuring device 24 does not measure at all other positions set apart from the vertical upper point of the measuring point in step S190, the measuring device controls the first sliding part 26 and / or the second sliding part 28. After moving the measuring instrument 24 to another set position away from the vertical upper point of the measuring point, the control unit 24 rotates the measuring instrument 24 so that the measuring instrument 24 faces the measuring point (S200). ).

상기 단계(S200) 다음에 단계(S170)를 반복실행함으로써 하나의 측정점으로부터 반사되는 빛을 여러 각도에서 검출하여 반사량을 정확하게 산출할 수 있다. 상기 단계(S150)을 반복실행함으로써 마우스(38)에 의해 선택된 모든 측정점으로부터 반사되는 빛을 검출하게 되므로 액정화면(18)의 선택된 여러 부위에서 각각 빛의 반사량을 검출하여 산출함으로써 액정화면(18)의 표면으로부터 반사되는 빛의 반사량을 정확하게 확인할 수 있다.By repeating step S170 after step S200, the amount of reflection can be accurately calculated by detecting light reflected from one measurement point at various angles. Since the light reflected from all the measurement points selected by the mouse 38 is detected by repeating the above step S150, the liquid crystal display 18 is obtained by detecting and calculating the amount of reflection of the light at various selected portions of the liquid crystal display 18, respectively. The amount of reflection of light reflected from the surface of can be accurately identified.

이상 설명에서 알 수 있는 바와 같이, 본 발명은 액정화면의 표면으로부터 반사되는 빛의 반사량을 측정하기 위하여 암실에 별도의 측정지지대를 설치하고 상기 측정지지대에 액정화면을 위치시킨 상태에서 측정지지대를 회전시키면서 선택된 액정화면의 측정점을 액정화면의 상부에서 여러각도로 측정함으로써 액정화면의 표면으로부터 반사되는 빛의 반사량을 신속하고 정확하게 측정할 수 있다. As can be seen from the above description, the present invention is to install a separate measuring support in the dark room in order to measure the amount of reflection of the light reflected from the surface of the liquid crystal display and to rotate the measuring support in the state in which the liquid crystal display is placed on the measuring support By measuring the measurement point of the selected liquid crystal screen at various angles on the upper part of the liquid crystal screen, the amount of reflection of light reflected from the surface of the liquid crystal screen can be measured quickly and accurately.

Claims (6)

외부로부터 빛이 유입되지 않는 암실에 설치되고, 서로 다른 높이를 갖는 제1선반과 제2선반으로 이루어지는 하우징; 상기 하우징의 제1선반에 회전 및 상하이동이 가능하도록 설치되고, 반사율을 측정하는 대상인 액정화면이 놓여지는 측정지지대; 상기 하우징의 제1선반보다 높은 위치에 형성되는 직사각형의 형상을 갖는 제2선반의 상면에 설치되는 제1슬라이딩부; 상기 제1슬라이딩부의 상부면에 상호 직교하도록 착설되고, 상기 제1슬라이딩부의 상부면을 따라 길이방향으로 왕복이동하는 제2슬라이딩부; 상기 측정지지대로부터 일정거리의 높이에 위치하도록 제2슬라이딩부의 측면에 설치되며, 상기 제2슬라이딩부의 길이방향으로 왕복이동을 하면서 암실의 일측 상부에 설치된 조명장치의 빛이 액정화면의 표면으로부터 반사되는 빛의 양을 검출하는 계측기; 상기 제2슬라이딩부에 슬라이딩가능하도록 설치되고, 상기 착설된 계측기를 좌우로 회전가능하도록 회전구동수단을 내부에 구비하는 착탈브라케트; 그리고 상기 계측기로부터 전송되는 검출된 빛의 양을 분석하여 액정회면의 표면으로부터 반사되는 반사량을 모니터에 표시하는 메인컨트롤러로 이루어지는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치.A housing made of a first shelf and a second shelf having a different height and installed in a dark room where light does not flow from the outside; A measuring support installed on the first shelf of the housing so as to be rotatable and movable, and having a liquid crystal screen on which a reflectance is measured; A first sliding part installed on an upper surface of a second shelf having a rectangular shape formed at a position higher than the first shelf of the housing; A second sliding part installed so as to be perpendicular to an upper surface of the first sliding part, and reciprocating in the longitudinal direction along the upper surface of the first sliding part; Is installed on the side of the second sliding portion so as to be located at a height of a predetermined distance from the measuring support, and the light of the lighting device installed on one side of the dark room is reflected from the surface of the LCD screen while reciprocating in the longitudinal direction of the second sliding portion A meter for detecting the amount of light; A detachable bracket which is installed to be slidable in the second sliding part and has a rotation driving means therein so as to be rotatable from side to side; And a main controller configured to analyze a detected amount of light transmitted from the measuring instrument and display a reflected amount reflected from the surface of the liquid crystal display on a monitor. 제 1 항에 있어서, 상기 암실의 일측 상부에 설치되어 측정지지대의 상면에 놓여진 액정화면을 촬영하여 메인컨트롤러에 인가하는 카메라; 그리고 상기 메인컨트롤러에 구비되며, 상기 메인컨트롤러가 모니터에 카메라로부터 전송되는 액정화 면의 영상을 디스플레이시키면 모니터에 디스플레이된 액정화면의 영상에 반사량을 측정할 지점인 측정점을 다수개 표시하는 마우스를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치.The camera of claim 1, further comprising: a camera installed at an upper portion of one side of the dark room and photographing an LCD screen on an upper surface of a measurement support and applying the same to a main controller; When the main controller displays an image of the liquid crystal screen transmitted from the camera to the monitor, the mouse further displays a plurality of measuring points, which are points for measuring the reflection amount, on the image of the LCD screen displayed on the monitor. Apparatus for measuring the light reflectance of the liquid crystal display, characterized in that it comprises. 제 1 항에 있어서, 상기 측정지지대는 저면부 중심에 회전축이 구비되고, 상기 회전축의 일단부에는 원형의 외주면에 웜휠이 형성되는 웜휠플레이트가 착설되며, 상기 웜휠플레이트의 웜휠에는 회전모터에 착설되어 웜휠에 회전력을 인가하는 웜이 결합되어 회전모터가 회전을 하면 웜 및 웜휠로 이루어지는 웜기어가 구동을 하여 회전축을 회전시킴으로써 회전축에 착설된 측정지지대가 회전을 하는 것을 특징으로 하는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치.According to claim 1, wherein the measuring support is provided with a rotating shaft at the center of the bottom surface, a worm wheel plate is formed on the outer peripheral surface of the circular circumference at one end of the rotating shaft is installed, the worm wheel of the worm wheel plate is installed on the rotary motor When the rotating motor rotates with the worm applying the rotational force to the worm wheel, the worm gear consisting of the worm and the worm wheel is driven to rotate the rotating shaft so that the measuring support mounted on the rotating shaft rotates. Measuring device. 제 1 항에 있어서, 상기 제1선반의 중심부에는 외주면에 기어가 형성된 상하이동축이 수직으로 착설되고, 상기 상하이동축의 상단부는 웜기어 및 회전모터를 지지하는 고정틀의 하부플레이트의 저면중심부에 착설되며, 상기 상하이동축의 외주면에 형성되는 기어는 제1선반에 장착되는 상하구동부에 결합되므로써 상기 회전휠의 회전에 의해 상하이동축이 회전하여 측정지지대 및 고정틀을 함께 상하로 이동시키는 것을 특징으로 하는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치.According to claim 1, wherein the central shaft of the first shelf is installed in the Shanghai coaxial gear is formed on the outer peripheral surface vertically, the upper end of the Shanghai coaxial is installed in the bottom center of the lower plate of the fixing frame for supporting the worm gear and the rotating motor, The gear formed on the outer circumferential surface of the Shanghai coaxial is coupled to the vertical drive unit mounted on the first shelf, so that the Shanghai coaxial rotates by the rotation of the rotating wheel to move the measuring support and the fixing frame together up and down. Device for measuring light reflectance. 제 1 항에 있어서, 상기 메인컨트롤러에는 계측기, 제1슬라이딩부, 제2슬라이딩부, 착탈브라케트, 회전모터 및 조명장치가 접속되며, 상기 계측기, 제1슬라이 딩부, 제2슬라이딩부, 착탈브라케트, 회전모터 및 조명장치의 동작을 제어하면서 계측기로부터 인가되는 빛의 검출량을 분석하여 액정화면으로부터 반사되는 빛의 반사율을 산출하는 것을 특징으로 하는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치.According to claim 1, wherein the main controller is connected to the measuring instrument, the first sliding portion, the second sliding portion, the removable bracket, the rotating motor and the lighting device, the measuring instrument, the first sliding portion, the second sliding portion, removable bra An apparatus for measuring the light reflectance of a liquid crystal display, characterized by calculating the reflectance of light reflected from the liquid crystal display by analyzing the detection amount of light applied from the measuring device while controlling the operation of the ket, the rotating motor, and the lighting device. 제 5 항에 있어서, 상기 메인컨트롤러는 측정지지대의 상면에 액정화면이 위치되었는가를 확인하는 초기단계(S100); 액정화면의 표면에 조명장치를 이용하여 빛을 조사시키는 단계(S110); 상기 단계(S110) 다음에 카메라를 통해 촬영된 액정화면에 해당하는 영상을 획득하여 모니터에 디스플레이시키는 단계(S120); 마우스를 이용하여 반사율을 측정할 지점인 측정점을 모니터에 디스플레이된 액정화면의 영상에 다수개를 선택하여 표시하는 단계(S130); 반사율을 측정하는 시작모드로 전환하는 단계(S140); 측정할 측정점이 존재하는가를 판단하는 단계(S150); 측정하지 않은 측정점이 존재하면 제1슬라이딩부 및 제2슬라이딩부를 제어하여 계측기를 측정할 측정점의 수직 상부지점까지 이동시키는 단계(S160); 상기 측정지지대를 회전시키면서 계측기가 측정점의 수직 상부지점에서 측정점으로부터 반사되는 빛을 검출하여 메인컨트롤러에 검출된 빛의 양에 해당하는 데이터를 전송하는 단계(S170); 상기 계측기로부터 전송된 빛의 양을 분석하여 반사율을 산출한 후 모니터에 표시하는 단계(S180); 상기 단계(S180) 다음에 측정점의 수직 상부지점으로부터 벗어난 설정된 다른 위치에서 모두 측정하였는가를 판단하는 단계(S190); 상기 단계(S190)에서 계측기가 측정점의 수직 상부지점으로부터 벗어난 설정된 다른 위치에서 모두 측정하였으면 단계(S150)를 반복실행하고, 상기 단계(S190)에서 계측기가 측정점의 수직 상부지점으로부터 벗어난 설정된 다른 위치에서 모두 측정하지 않았으면 계측기를 설정된 다른 위치로 이동시킨 후 회전구동부를 제어하여 계측기를 회전시킴으로써 계측기가 측정점을 향하도록 하는 단계(S200); 그리고 상기 단계(S200) 다음에 단계(S170)를 반복실행하는 것을 특징으로 하는 액정화면의 광 반사율을 측정하는 장치.The method of claim 5, wherein the main controller comprises: an initial step (S100) of checking whether the liquid crystal display is positioned on the upper surface of the measuring support; Irradiating light onto the surface of the LCD screen using an illumination device (S110); Obtaining an image corresponding to the LCD screen captured by the camera and displaying the image on a monitor (S120); Selecting and displaying a plurality of measuring points on the image of the liquid crystal screen displayed on the monitor by using a mouse (S130); Switching to a start mode in which reflectance is measured (S140); Determining whether a measurement point to be measured exists (S150); If there is a measurement point not measured, controlling the first sliding unit and the second sliding unit to move the measuring instrument to a vertical upper point of the measurement point to be measured (S160); Measuring the light reflected from the measuring point at a vertical upper point of the measuring point while rotating the measuring support, and transmitting data corresponding to the detected amount of light to the main controller (S170); Analyzing the amount of light transmitted from the measuring instrument to calculate a reflectance and then displaying the reflected light on the monitor (S180); Determining whether all measurements are made at different set positions deviating from the vertical upper point of the measuring point after the step (S180) (S190); In step S190, if the measuring device has measured all at different set positions away from the vertical upper point of the measuring point, step S150 is repeated, and in step S190, the measuring instrument is set at different setting positions away from the vertical upper point of the measuring point. If not measuring all the steps to move the measuring instrument to another set position by controlling the rotary drive to rotate the measuring instrument to the measuring point toward the measuring point (S200); And repeating step (S170) followed by step (S200).
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