KR100551708B1 - Optical laser extensometer by using the laser displacement sensor - Google Patents

Optical laser extensometer by using the laser displacement sensor Download PDF

Info

Publication number
KR100551708B1
KR100551708B1 KR1020030041229A KR20030041229A KR100551708B1 KR 100551708 B1 KR100551708 B1 KR 100551708B1 KR 1020030041229 A KR1020030041229 A KR 1020030041229A KR 20030041229 A KR20030041229 A KR 20030041229A KR 100551708 B1 KR100551708 B1 KR 100551708B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
light
laser displacement
displacement sensor
specimen
Prior art date
Application number
KR1020030041229A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20050000730A (en
Inventor
박기환
노지환
라종필
Original Assignee
광주과학기술원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 광주과학기술원 filed Critical 광주과학기술원
Priority to KR1020030041229A priority Critical patent/KR100551708B1/en
Publication of KR20050000730A publication Critical patent/KR20050000730A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100551708B1 publication Critical patent/KR100551708B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/16Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/026Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/32Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring the deformation in a solid
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B2210/00Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
    • G01B2210/54Revolving an optical measuring instrument around a body

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터에 관한 것으로, 빛을 발생하는 광원과, 광원으로부터의 빛을 집광시키는 집광 렌즈와, 집광된 빛을 원하는 방향으로 스프리터 시키는 빔 스프리터와, 빔 스프리터를 통해 반사된 빛을 집광하는 포토 다이오드와, 스프리터된 빛을 이용하여 시편을 스캔하도록 제어하되, 시편 내 난반사 테잎이 존재할 경우 빛을 반사시켜 빔 스프러터에 제공하며 시편 내 난반사 테잎이 존재하지 않을 경우 빛이 반사되지 않아 포토 다이오드에 빛이 집광되지 않도록 하는 회전 양면 거울과, 회전 양면 거울에 의해 스캔된 신호를 감지하며, 샘플 앤 홀드의 결과 신호를 감지하는 레이저 변위 센서를 포함한다. 본 발명에 의하면, 난반사 테이프 사이의 거리를 정확하게 측정할 수 있으며, 장비의 소형화를 실현시켜 가격적이 측면에서 매우 경제적인 효과가 있다. The present invention relates to an optical laser extensometer using a laser displacement sensor, comprising: a light source for generating light, a condenser lens for condensing light from the light source, a beam splitter for splitting the condensed light in a desired direction, A photodiode that condenses the light reflected through the beam splitter and the splitter are controlled to scan the specimen. If there are diffuse reflection tapes in the specimen, the light is reflected to the beam sputter and provided to the beam sputter. If not, it includes a rotating double-sided mirror that prevents light from being reflected to the photodiode, and a laser displacement sensor that senses the signal scanned by the rotating double-sided mirror and detects the resultant signal of the sample and hold. According to the present invention, it is possible to accurately measure the distance between the diffuse reflection tape, to realize the miniaturization of the equipment has a very economical effect in terms of price.

Description

레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터{OPTICAL LASER EXTENSOMETER BY USING THE LASER DISPLACEMENT SENSOR}OPTICAL LASER EXTENSOMETER BY USING THE LASER DISPLACEMENT SENSOR}

도 1은 기존 옵틱컬 레이저 익스텐소미터를 도시한 사시도,1 is a perspective view showing a conventional optical laser extensometer,

도 2는 기존 옵틱컬 레이저 익스텐소미터의 신호 처리 그래프,2 is a signal processing graph of a conventional optical laser extensometer,

도 3은 본 발명에 따른 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터를 도시한 사시도,3 is a perspective view illustrating an optical laser extensometer using a laser displacement sensor according to the present invention;

도 4는 본 발명에 따른 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터의 신호 처리 그래프. 4 is a signal processing graph of an optical laser extensometer using a laser displacement sensor according to the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

11 : 광원 12, 14 : 집광 렌즈11: light source 12, 14 condensing lens

13 : 빔 스프리터 15 : 포토 다이오드13: beam splitter 15: photodiode

17 : 시편 18 : 난반사 테잎17: Psalm 18: diffuse reflection tape

19 : 레이저 변위 센서 20 : 회전 양면 거울19: laser displacement sensor 20: rotating double-sided mirror

21 : 레이터 변위 센서의 광원21: light source of the radar displacement sensor

본 발명은 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터에 관한 것으로, 특히 레이저 변위 센서를 이용하여 난반사 테이프 사이의 거리를 정확하게 측정할 수 있도록 하는 익스텐소미터에 관한 것이다.The present invention relates to an optical laser extensometer using a laser displacement sensor, and more particularly, to an extensometer for accurately measuring a distance between diffuse reflection tapes using a laser displacement sensor.

통상적으로, 익스텐소미터는 인장 실험 시, 도 1에 도시된 시편(5)의 변형된 길이를 측정하는 장치로서, 그 종류를 접촉식 및 비접촉식으로 구분한다. Typically, an extensometer is a device for measuring the deformed length of the specimen 5 shown in FIG. 1 in a tensile test, and classifies the type into contact and non-contact type.

이중, 접촉식 익스텐소미터는 스트레인 게이지를 이용하는 것으로, 이는 측정 부분이 너무 작아서 인장 시험기에 부착하기가 어렵고, 시편(5)이 일정하게 인장되지 않아 인장 길이 측정이 불가능하다는 결점을 갖고 있다. Among these, the contact extensometer uses a strain gauge, which has the drawback that the measurement portion is too small to be attached to the tensile tester, and that the specimen 5 is not uniformly tensioned so that the tensile length cannot be measured.

반면에, 비접촉식 익스텐소미터는 레이저를 사용하는 것으로, 접촉식 익스텐소미터 보다 고온에서 사용가능하고, 또한, 그 사용 방법이 편리하며, 전자기파의 간섭에 의한 영향을 받지 않아 접촉식에서 발생되는 결점을 해결할 수는 있으며, 빛이 시편에 스캔되어지는 선형 속도와 반사되어온 시간으로 결정되지만, 그 변화량에 있어서 선형 속도를 일정하게 유지하기가 어렵다는 문제점을 갖고 있다. On the other hand, the non-contact extensometer uses a laser, which can be used at a higher temperature than the contact extensometer, and the method of use thereof is convenient, and it is not affected by the interference of electromagnetic waves, which is generated in the contact type. The defect can be solved, but it is determined by the linear speed at which the light is scanned on the specimen and the reflected time, but it is difficult to keep the linear speed constant in the amount of change.

도 1을 참조하면, 기존 옵틱컬 레이저 익스텐소미터를 도시한 사시도로서, 광원(1)에서 나온 빛이 회전 거울(2)에 의해 반사된다. Referring to FIG. 1, a perspective view of a conventional optical laser extensometer, in which light from a light source 1 is reflected by a rotating mirror 2.

회전 거울(2)로 인하여 빛은 시편(5)으로 빛(3)이 입사되며, 입사된 빛(3)을 이용하여 스캔하며, 스캔되는 빛(10)은 시편(5)의 난반사 테잎(4)이 붙여진 부분과 난반사 테잎(4)이 붙여지지 않은 곳을 지나게 된다.The light is incident on the specimen 5 by the rotating mirror 2, and the light 3 is scanned using the incident light 3, and the scanned light 10 is a diffuse reflection tape 4 of the specimen 5. Passed the part where the) and the diffuse reflection tape (4) are not attached.

즉, 난반사 테잎(4)이 붙여진 부분을 스캔할 경우, 난반사 테잎(4)으로부터 반사된 빛(6)이 생겨나며, 이 반사된 빛(6)은 필터(7)를 통하고 렌즈(8)에 의해 집 광되어 포토 다이오드(9)에 빛이 도달하게 된다.That is, when scanning the portion where the diffuse reflection tape 4 is attached, light 6 reflected from the diffuse reflection tape 4 is generated, and the reflected light 6 passes through the filter 7 to the lens 8. By condensation, light reaches the photodiode 9.

반면에, 난반사 테잎(4)이 붙여지지 않은 부분을 스캔할 경우, 스캔된 빛(6)이 반사되지 않아 포토 다이오드(9)에 빛이 도달하지 않게 된다.On the other hand, when scanning the portion where the diffuse reflection tape 4 is not attached, the scanned light 6 is not reflected so that the light does not reach the photodiode 9.

그 결과, 포토 다이오드(9)에서는 도 2에 도시된 바와 같이, 포토 다이오드 신호(22)를 얻게 되며, 이 포토 다이오드 신호(22)를 미분하여 "0"보다 작은 값을 제거시킨 신호(23)를 얻을 수 있으며, "0"보다 작은 값을 제거시킨 신호(23)에서 두 펄스 사이의 시간(t)과, 시편(5)의 스캔 속도(v)를 구해낼 수 있다. 여기서, 두 펄스 사이의 시간(t)과 스캔 속도(v)를 곱하면, 난반사 테잎 사이의 거리(d)를 구해낼 수 있다.As a result, in the photodiode 9, as shown in FIG. 2, a photodiode signal 22 is obtained, and the signal 23 obtained by differentiating the photodiode signal 22 to remove a value smaller than " 0 " The time t between two pulses and the scan speed v of the specimen 5 can be obtained from the signal 23 from which the value smaller than "0" is removed. Here, multiplying the time (t) between the two pulses and the scan speed (v), it is possible to find the distance (d) between the diffuse reflection tape.

이와 같이, 스캔 속도(v)를 등속으로 유지하기가 어렵다, 다시 말해서, 등속으로 유지하려는 이유는 난반사 테이프 사이의 거리(d)가 스캔 속도(v)에 영향을 받기 때문이다.As such, it is difficult to maintain the scan speed v at a constant speed, that is, the reason for maintaining at a constant speed is that the distance d between the diffuse reflection tapes is affected by the scan speed v.

다시 말해서, 회전 거울(2)을 회전시키는 모터의 회전 속도가 일정하게 유지된다고 하더라도 시편(5)에 스캔되는 직선 방향 속도는 일정하게 유지되지 않아 스캔 속도(v)를 등속으로 유지할 수 없게 되는 문제점을 갖고 있다. In other words, even if the rotational speed of the motor for rotating the rotating mirror 2 is kept constant, the linear speed scanned on the specimen 5 is not kept constant so that the scanning speed v cannot be maintained at constant speed. Have

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 레이저 변위 센서를 이용하여 스캔 속도(v)가 등속으로 유지하도록 하여 난반사 테이프 사이의 거리를 정확하게 측정할 수 있도록 하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터를 제공함에 그 목적이 있다.The present invention is to solve the above-described problems, the optical laser blade using a laser displacement sensor to accurately measure the distance between the diffuse reflection tape to maintain the scan speed (v) at a constant speed by using a laser displacement sensor Its purpose is to provide a stenometer.

이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 빛을 발생하는 광원과, 상기 광원으로부터의 빛을 집광시키는 집광 렌즈와, 상기 집광된 빛을 원하는 방향으로 스프리터 시키는 빔 스프리터와, 상기 빔 스프리터를 통해 반사된 빛을 집광하는 포토 다이오드와, 상기 스프리터된 빛을 이용하여 시편을 스캔하도록 제어하되, 상기 시편 내 난반사 테잎이 존재할 경우 빛을 반사시켜 상기 빔 스프러터에 제공하며 상기 시편 내 난반사 테잎이 존재하지 않을 경우 빛이 반사되지 않아 상기 포토 다이오드에 빛이 집광되지 않도록 하는 회전 양면 거울과, 상기 회전 양면 거울에 의해 스캔된 신호를 감지하며, 샘플 앤 홀드의 결과 신호를 감지하는 레이저 변위 센서를 포함하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터를 제공한다.According to a preferred embodiment of the present invention for achieving this object, a light source for generating light, a condensing lens for condensing light from the light source, a beam splitter for splitting the focused light in a desired direction, and the beam A photodiode for condensing the light reflected through the splitter and the splitter are controlled to scan the specimen. If there is a diffuse reflection tape in the specimen, the light is reflected and provided to the beam sputter and the diffuse reflection in the specimen. Rotating double-sided mirror to prevent light from being reflected on the photodiode when no tape is present, and a laser displacement that detects a signal scanned by the rotating double-sided mirror and detects the resultant signal of sample and hold. Optical laser extender using laser displacement sensor The.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성 및 동작에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the configuration and operation of the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터를 도시한 사시도로서, 빛을 제공하는 광원(11)과, 광원(11)에서 나온 빛을 집광하는 집광 렌즈(12)와, 집광 렌즈(12)에서 집광된 빛을 원하는 방향으로 스프리터하는 빔 스프리터(13)와, 빔 스프리터(13)에 의해 스프리터된 빛을 집광하는 집광 렌즈(14)와, 집광 렌즈(14)에 의해 집광된 빛을 얻는 포토다이오드(15)와, 빛에 의해 스캔되는 시편(17)과, 레이저 변위를 감지하며, 정현파와 같은 샘플 앤 홀드의 결과 신호를 얻게되는 레이저 변위 센서(19)와, 빔 스프리터(13)에 의해 스프리터된 빛을 이용하여 시편(17)을 스캔하도록 제어하며, 시편(17)내 난반사 테잎(18)이 존재할 경우 빛(16)을 반사시켜 빔 스프러터(13)를 거쳐 포토 다이오드(15)에 집광되도록 하며, 시편(17)내 난반사 테잎(18)이 존재하지 않을 경우, 빛이 반사되지 않아 포토 다이오드(15)에 빛이 집광되지 않도록 하는 스캔회전 양면 거울(20)과, 레이저 변위를 감지하는 레이저 변위 센서의 광원(21)을 포함한다. 3 is a perspective view showing an optical laser extensometer using a laser displacement sensor according to the present invention, a light source 11 for providing light, and a condenser lens 12 for condensing the light emitted from the light source 11 And a beam splitter 13 for splitting the light condensed by the condenser lens 12 in a desired direction, a condenser lens 14 for condensing the light split by the beam splitter 13, and a condenser lens 14. A photodiode 15 for obtaining the light condensed by the light, a specimen 17 scanned by the light, a laser displacement sensor 19 for detecting the laser displacement and obtaining a resultant signal of a sample and hold such as a sine wave, The beam splitter 13 controls the scan of the specimen 17 using the light split by the beam splitter 13. When the diffuse reflection tape 18 is present in the specimen 17, the beam 16 is reflected by reflecting the light 16. To be condensed on the photodiode (15), and the diffuse reflection tape (18) in the specimen (17) If not present, it comprises a light source 21 of the scanning rotary two-sided mirror 20 and the laser displacement sensor for sensing displacement of the laser so that the light does not reflect light is not focused on the photodiode 15.

상술한 구성을 바탕으로, 본 발명에 따른 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터의 동작 흐름에 대하여 도 4의 그래프를 참조하면서 보다 상세하게 설명한다.Based on the above-described configuration, the operation flow of the optical laser extensometer using the laser displacement sensor according to the present invention will be described in more detail with reference to the graph of FIG. 4.

먼저, 광원(11)에서 빛이 나오며, 나온 빛은 집광 렌즈(12)를 통해 집광되어 빔 스프리터(13)에 전달된다. First, light is emitted from the light source 11, and the emitted light is collected through the condenser lens 12 and transmitted to the beam splitter 13.

빔 스프리터(13)는 집광 렌즈(12)에서 집광된 빛을 원하는 방향, 즉 회전 양면 거울(20)에 전달한다. The beam splitter 13 transmits the light collected by the condenser lens 12 to the desired direction, that is, the rotating double-sided mirror 20.

회전 양면 거울(20)은 시편(17)내 난반사 테잎(18)이 존재할 경우, 빛(16)을 반사시켜 빔 스프러터(13) 및 집광 렌즈(14)를 거쳐 포토 다이오드(15)에 집광되도록 하며, 시편(17)내 난반사 테잎(18)이 존재하지 않을 경우, 빛을 반사시키지 않아 포토 다이오드(15)에 빛이 집광되지 않도록 한다. 그리고, 빔 스프리터(13)에 의해 스프리터된 빛을 이용하여 시편(17)을 스캔하며, 스캔된 신호는 레이저 변위 센서(19)에서 스캔된 신호를 감지한다. The rotating double-sided mirror 20 reflects light 16 when the diffuse reflection tape 18 is present in the specimen 17 so as to be focused on the photodiode 15 via the beam sputter 13 and the condenser lens 14. In addition, when the diffuse reflection tape 18 in the specimen 17 does not exist, the light is not reflected to prevent the light from being focused on the photodiode 15. Then, the specimen 17 is scanned using the light split by the beam splitter 13, and the scanned signal detects the signal scanned by the laser displacement sensor 19.

보다 상세하게 설명하면, 레이저 변위 센서(19)에 의해 감지된 신호는 도 4에 도시된 바와 같이, 스프리터된 빛이 시편(17)의 중심에서 왼쪽 난반사 테잎(18)을 오른쪽 에지에서 왼쪽 에지로 스캔할 때, 도 4의 포토 다이오드(15) 신호(24)에서 첫 번째 펄스가 발생된다.In more detail, the signal sensed by the laser displacement sensor 19 shows that, as shown in FIG. 4, the splittered light moves the left diffuse reflection tape 18 from the right edge to the left edge at the center of the specimen 17. When scanning, the first pulse is generated in the photodiode 15 signal 24 of FIG.

그리고, 빔 스프리터(13)에 의해 스프리터된 빛이 시편(17)의 왼쪽 끝에서 왼쪽 난반사 테잎(18)을 왼쪽 에지에서 오른쪽 에지로 스캔할 때, 도 4의 포토 다이오드(15) 신호(24)에서 두 번째 펄스가 발생된다. 여기서, 세 번째와 네 번째 펄스도 상술한 원리를 이용하여 오른쪽 난반사 테잎(18)에 의해 발생되는 것이다. Then, when the light split by the beam splitter 13 scans the left diffuse reflection tape 18 from the left edge to the right edge at the left end of the specimen 17, the photodiode 15 signal 24 of FIG. At the second pulse is generated. Here, the third and fourth pulses are also generated by the right diffuse reflection tape 18 using the above-described principle.

이후, 포토 다이오드(15) 신호(24)를 T-플립플롭(도시되지 않음)에 입력시키면, T-플립플롭을 거친 신호(25)를 얻게 되며, 이 신호(25)를 시간에 대하여 미분하고, "0"보다 작은 신호를 제거하면, "0"보다 작은 값이 제거된 신호(26)를 얻게 된다.Then, inputting photodiode 15 signal 24 to a T-flip-flop (not shown) yields a signal 25 that has gone through a T-flip-flop, which is differentiated over time. If the signal less than " 0 " is removed, a signal 26 with a value less than " 0 "

다음으로, 신호(26)를 신호(26)중에서 홀수 번째 펄스, 예를 들면 포토 다이오드(15) 신호(24)에서 첫 번째, 세 번째 펄스만 빼낸 신호(27)와, 신호(26)중에서 짝수 번째 펄스, 예를 들면 포토 다이오드(15) 신호(24)에서 두 번째, 네 번째 펄스만 빼낸 신호(28)로 나누게 된다. Next, the signal 26 is an odd number of pulses in the signal 26, for example, a signal 27 obtained by extracting only the first and third pulses from the photodiode 15 signal 24, and an even number in the signal 26. The second pulse, for example, the signal of the photodiode 15 signal 24, is divided by the signal 28, which is the second and fourth pulse only.

이때, 홀수 번째 펄스만 빼낸 신호(27)에 의해서 레이저 변위 신호(29)가 샘플과 홀드 될 경우, 이 레이저 변위 신호(29)의 V1에 해당되는 직류 전압 신호를 얻게 된다. 그리고, 짝수 번째 펄스만 빼낸 신호(28)에 의해서 레이저 변위 신호(29)가 샘플과 홀드 될 경우, 레이저 변위 신호(29)의 V2에 해당되는 직류 전압 신호를 얻게 된다.At this time, when the laser displacement signal 29 is held with the sample by the signal 27 from which only the odd pulse is extracted, a DC voltage signal corresponding to V1 of the laser displacement signal 29 is obtained. When the laser displacement signal 29 is held with the sample by the signal 28 from which only the even pulse is extracted, a DC voltage signal corresponding to V2 of the laser displacement signal 29 is obtained.

여기서, V1에 해당되는 직류 전압 신호는 한쪽의 난반사 테잎(18) 에지와 시편(17)의 중앙 사이 거리에 비례한 전압 신호이며, V2에 해당되는 직류 전압 신호는 다른 한쪽의 난반사 테잎(18)의 에지와 시편의 중앙 사이 거리에 비례한 전압 신호이다. Here, the DC voltage signal corresponding to V1 is a voltage signal proportional to the distance between one edge of the diffuse reflection tape 18 and the center of the specimen 17, and the DC voltage signal corresponding to V2 is the other diffuse reflection tape 18 on the other side. The voltage signal is proportional to the distance between the edge of the specimen and the center of the specimen.

따라서, V1에서 V2를 빼주면 두 난반사 테잎(18) 에지 사이의 거리에 비례한 전압 신호를 얻게 된다. 즉, V1에서 V2를 뺀 값에 비례 상수(k)를 곱하면 난반사 테잎(18) 에지 사이의 거리(d)를 수학식 1과 같이 구할 수 있다. 여기서, 비례 상수(k)는 시편(17), 회전 양면 거울(20), 레이저 변위 센서(19) 사이의 거리에 의해 결정된다. Therefore, subtracting V2 from V1 yields a voltage signal proportional to the distance between the two diffuse reflection tapes 18 edges. That is, by multiplying the value of V1 minus V2 by the proportional constant (k), the distance d between the edges of the diffuse reflection tape 18 can be obtained as in Equation 1. Here, the proportional constant k is determined by the distance between the specimen 17, the rotating double-sided mirror 20, and the laser displacement sensor 19.

d=k(V1-V2)d = k (V1-V2)

또한, 시편(17)의 스트레인(ε)은 수학식 2에 의해 구해질 수 있다.In addition, the strain ε of the specimen 17 can be obtained by Equation 2.

Figure 112003022637018-pat00001
여기서, 스트레인(ε)은 V1과 V2 만의 함수인 것이다.
Figure 112003022637018-pat00001
Here, strain ε is a function of only V1 and V2.

상기와 같이 설명한 본 발명은 레이저 변위 센서를 이용하여 스캔 속도(v)가 등속으로 유지하도록 함으로써, 난반사 테이프 사이의 거리를 정확하게 측정할 수 있으며, 또한, 장비의 소형화를 실현시켜 가격적이 측면에서 매우 경제적인 효과가 있다. According to the present invention described above, by using the laser displacement sensor to maintain the scan speed v at a constant speed, the distance between the diffuse reflection tapes can be accurately measured, and the size of the equipment can be miniaturized to achieve a very low cost. It has an economic effect.

Claims (11)

삭제delete 빛을 발생하는 광원과,A light source for generating light, 상기 광원으로부터의 빛을 집광시키는 집광 렌즈와,A condenser lens for condensing light from the light source; 상기 집광된 빛을 원하는 방향으로 스프리터 시키는 빔 스프리터와,A beam splitter for splitting the focused light in a desired direction; 상기 빔 스프리터를 통해 반사된 빛을 집광하는 포토 다이오드와,A photodiode for condensing light reflected by the beam splitter; 상기 스프리터된 빛을 이용하여 시편을 스캔하도록 제어하되, 상기 시편 내 난반사 테잎이 존재할 경우 빛을 반사시켜 상기 빔 스프러터에 제공하며 상기 시편 내 난반사 테잎이 존재하지 않을 경우 빛이 반사되지 않아 상기 포토 다이오드에 빛이 집광되지 않도록 하는 회전 양면 거울과,The splitter is controlled to scan the specimen by using the split light, but if the diffuse reflection tape in the specimen is present, the light is reflected and provided to the beam sputter. If the diffuse reflection tape is not present in the specimen, the light is not reflected and thus the photo is not reflected. A rotating double-sided mirror to prevent light from being focused on the diode, 빛을 발생하는 레이저 변위 센서의 광원과,The light source of the laser displacement sensor for generating light, 상기 레이저 변위 센서의 광원으로부터의 빛을 수렴하여 상기 회전 양면 거울에 의해 스캔된 신호를 감지하며, 샘플 앤 홀드의 결과 신호를 감지하는 레이저 변위 센서A laser displacement sensor that detects a signal scanned by the rotating double-sided mirror by converging light from a light source of the laser displacement sensor and detects a result signal of a sample and hold. 를 포함하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터.Optical laser extensometer using a laser displacement sensor comprising a. 제 2 항에 있어서, The method of claim 2, 상기 회전 양면 거울은, 상기 빔 스프리터에 의해 스프리터된 빛을 이용하여 상기 시편을 스캔하며, 상기 스캔된 신호는 상기 레이저 변위 센서에서 감지하는 것을 특징으로 하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터.The rotating double-sided mirror scans the specimen using the light split by the beam splitter, and the scanned signal is detected by the laser displacement sensor. Meter. 제 2 항에 있어서, The method of claim 2, 상기 레이저 변위 센서에 의해 감지된 신호는, 상기 스프리터된 빛이 상기 시편의 중심에서 왼쪽 난반사 테잎을 오른쪽 에지에서 왼쪽 에지로 스캔할 때, 상기 포토 다이오드를 통해 첫 번째 펄스가 발생되며, 상기 스프리터된 빛이 상기 시편의 왼쪽 끝에서 왼쪽 난반사 테잎을 왼쪽 에지에서 오른쪽 에지로 스캔할 때, 상기 포토 다이오드를 통해 두 번째 펄스가 발생되는 것을 특징으로 하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터.The signal sensed by the laser displacement sensor is such that when the splitter scans the left diffuse reflection tape from the right edge to the left edge at the center of the specimen, a first pulse is generated through the photodiode. And a second pulse is generated through the photodiode when light scans the left diffuse reflection tape from the left edge to the right edge at the left end of the specimen. 제 4 항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 포토 다이오드 신호를 T-플립플롭에 입력시켜 상기 T-플립플롭을 거친 제 1 신호를 구하고, 상기 제 1 신호를 시간에 대하여 미분하여 "0"보다 작은 신호를 제거함으로써 "0"보다 작은 값이 제거된 제 2 신호를 구하는 것을 특징으로 하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터.A value smaller than "0" by inputting the photodiode signal to a T-flip-flop to obtain a first signal that has passed through the T-flip-flop, and differentiating the first signal over time to remove a signal smaller than "0" An optical laser extensometer using a laser displacement sensor, characterized by obtaining the removed second signal. 제 5 항에 있어서, The method of claim 5, 상기 제 2 신호를 상기 제 2 신호 중에서 홀수 번째 펄스만 빼낸 제 3 신호와 상기 제 2 신호 중에서 짝수 번째 펄스만 빼낸 제 4 신호로 나누는 것을 특징으로 하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터.An optical laser extensometer using a laser displacement sensor, wherein the second signal is divided into a third signal from which only odd pulses are extracted from the second signal and a fourth signal from which only even pulses are extracted from the second signal . 제 6 항에 있어서, The method of claim 6, 상기 제 3 신호에 의해서 레이저 변위 신호가 샘플과 홀드 될 경우에 상기 레이저 변위 신호의 제 1 직류 전압 신호(V1)가 구해지며, 상기 제 4 신호에 의해서 상기 레이저 변위 신호가 샘플과 홀드 될 경우에 상기 레이저 변위 신호의 제 2 직류 전압 신호(V2)가 구해지는 것을 특징으로 하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터.When the laser displacement signal is held with the sample by the third signal, the first DC voltage signal V1 of the laser displacement signal is obtained, and when the laser displacement signal is held with the sample by the fourth signal. And a second DC voltage signal (V2) of the laser displacement signal. The optical laser extensometer using the laser displacement sensor. 제 7 항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 제 1 직류 전압 신호(V1)는 한쪽의 난반사 테잎 에지와 시편의 중앙 사이 거리에 비례한 전압 신호이며, 상기 제 2 직류 전압 신호(V2)는 다른 한쪽의 난반사 테잎의 에지와 시편의 중앙 사이 거리에 비례한 전압 신호인 것을 특징으로 하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터.The first DC voltage signal V1 is a voltage signal proportional to the distance between one of the diffuse reflection tape edges and the center of the specimen, and the second DC voltage signal V2 is between the edge of the other diffuse reflection tape and the center of the specimen. Optical laser extensometer using a laser displacement sensor, characterized in that the voltage signal proportional to the distance. 제 8 항에 있어서, The method of claim 8, 상기 한쪽 및 다른 한쪽의 난반사 테잎의 에지 사이의 거리(d)에 비례한 전압 신호는 상기 제 1 직류 전압 신호(V1)에서 상기 제 2 직류 전압 신호(V2)를 감산함으로써 구해지며, 상기 한쪽 및 다른 한쪽의 난반사 테잎의 에지 사이의 거리(d)는 상기 제 1 직류 전압 신호(V1)에서 상기 제 2 직류 전압 신호(V2)를 감산한 값에 비례 상수(k)를 곱하여 구해지는 것을 특징으로 하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터.The voltage signal proportional to the distance d between the edges of the one and the other diffuse reflection tape is obtained by subtracting the second DC voltage signal V2 from the first DC voltage signal V1. The distance d between the edges of the other diffuse reflection tape is calculated by multiplying the value obtained by subtracting the second DC voltage signal V2 from the first DC voltage signal V1 by a proportional constant k. Optical laser extensometer using a laser displacement sensor. 제 9 항에 있어서, The method of claim 9, 상기 비례 상수(k)는 상기 시편, 상기 회전 양면 거울, 상기 레이저 변위 센서 사이의 거리에 의해 결정되는 것을 특징으로 하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터.The proportional constant (k) is an optical laser extensometer using a laser displacement sensor, characterized in that determined by the distance between the specimen, the rotating double-sided mirror, the laser displacement sensor. 제 9 항에 있어서, The method of claim 9, 상기 시편의 스트레인(ε)은 수학식
Figure 712005001907125-pat00002
에 의해 구해지는 것을 특징으로 하는 레이저 변위 센서를 이용한 옵틱컬 레이저 익스텐소미터.
Strain (ε) of the specimen is
Figure 712005001907125-pat00002
Optical laser extensometer using a laser displacement sensor, characterized in that obtained by.
KR1020030041229A 2003-06-24 2003-06-24 Optical laser extensometer by using the laser displacement sensor KR100551708B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030041229A KR100551708B1 (en) 2003-06-24 2003-06-24 Optical laser extensometer by using the laser displacement sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020030041229A KR100551708B1 (en) 2003-06-24 2003-06-24 Optical laser extensometer by using the laser displacement sensor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20050000730A KR20050000730A (en) 2005-01-06
KR100551708B1 true KR100551708B1 (en) 2006-02-13

Family

ID=37216637

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020030041229A KR100551708B1 (en) 2003-06-24 2003-06-24 Optical laser extensometer by using the laser displacement sensor

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100551708B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100996294B1 (en) 2008-05-23 2010-11-23 조선대학교산학협력단 extensometer using michelson interferometer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100996294B1 (en) 2008-05-23 2010-11-23 조선대학교산학협력단 extensometer using michelson interferometer

Also Published As

Publication number Publication date
KR20050000730A (en) 2005-01-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1293535C (en) Apparatus for monitoring bloodstream
Hamilton et al. Surface profile measurement using the confocal microscope
CN103175837B (en) Method and device for detecting defect in matrix
US7179227B2 (en) Skin condition observation apparatus
EP0576004A1 (en) Electronic levelling apparatus and levelling staff used with the same
US20030210405A1 (en) Dual-spot phase-sensitive detection
JP2007248448A (en) Internal structure inspecting method and internal structure inspecting device for pearl or precious stones
US4222262A (en) Hardness testing apparatus
EP1388004B1 (en) Hand-held automatic refractometer
CA1046152A (en) Apparatus for determining the position of a surface
CA2434442C (en) Reflection-photometric analytical system
US5012090A (en) Optical grating sensor and method of monitoring having a multi-period grating
KR960013676B1 (en) Method of measuring a minute displacement
US4255966A (en) Hardness testing apparatus
JP4215220B2 (en) Surface inspection method and surface inspection apparatus
KR100551708B1 (en) Optical laser extensometer by using the laser displacement sensor
US4869110A (en) Laser strain extensometer for material testing
KR940022056A (en) Distance measuring method and device
EP0481387B1 (en) Photosensor device
GB2247749A (en) Sensor utilising surface plasmon resonance
EP1476740B1 (en) Method and apparatus for validating the operation of an optical scanning device
EP3803267B1 (en) Method and device for evaluating a mechanical property of a material
EP0410404B1 (en) Improvements to electroreflectance spectroscopy systems
Slazas Non‐contact optical displacement sensing
JPS6088349A (en) Hardness tester

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
J201 Request for trial against refusal decision
E90F Notification of reason for final refusal
B701 Decision to grant
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20121211

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131211

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141218

Year of fee payment: 10

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151217

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee