KR100449515B1 - Panel test apparatus of liquid crystal display, especially moving probe unit up and down using air cylinder - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 LCD 패널 게이트 라인 테스트 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 프로브 블록(Probe Block) 세팅 시간을 절약하기 위해서 프로브 유닛에 프로브 블록을 고정시켜 프로브 유닛만을 이동시켜 세팅 시간을 감소시킨 LCD 패널 테스트장치에 관한 것이다.The present invention relates to an LCD panel gate line test apparatus, and more particularly, to an LCD panel gate line test apparatus, in which a probe block is fixed to a probe unit in order to save a setting time of a probe block, ≪ / RTI >
일반적으로 테스트란 생산하는 제품에 대한 전기적 특성 및 전기 광학적 특성을 평가하여 양품인지 불량품인지를 선별하는 작업으로 제품을 정확히 판정하여 생산 원가를 절감하고 품질개선을 추구하는 것을 의미한다.In general, a test is a process of evaluating the electrical and electro-optical characteristics of a manufactured product to select whether it is a good product or a defective product, thereby accurately determining the product to reduce the production cost and seek quality improvement.
LCD 패널의 게이트 라인 테스트 방법은 LCD 패널에 프로브 블록의 테스트 핀을 접속시킨 후에 프로브 블록에 약 25V의 직류신호를 순차적으로 인가하여 인접라인간의 전류를 측정하여 저항 값을 계산한다. 여기서 측정된 저항 값이 최대 허용범위 값보다 클 때를 오픈이라 하고, 측정된 저항 값이 최소 허용범위 값보다 작을 때에는 쇼트가 발생한 경우이다.The test method of the gate line of the LCD panel is as follows. After connecting the test pin of the probe block to the LCD panel, a DC voltage of about 25 V is sequentially applied to the probe block to measure the current between the adjacent lines. When the measured resistance value is larger than the maximum permissible range value is referred to as open, and when the measured resistance value is smaller than the minimum permissible range value, a short circuit occurs.
도 1은 종래의 LCD 패널의 테스트 장치를 개략적으로 나타낸 분해 사시도이다.1 is an exploded perspective view schematically showing a conventional test apparatus for an LCD panel.
종래의 테스트 장치는 LCD 패널(2)을 테스트할 수 있도록 소정 면적을 갖는 사각 평판 형상의 프로브 베이스(1)와, 프로브 베이스(1) 하부에 LCD 패널(2)이 놓여지며 상하로 이동하는 스테이지(3)로 구성되어 있다.The conventional test apparatus includes a probe base 1 in the form of a rectangular flat plate having a predetermined area so that the LCD panel 2 can be tested and a stage 2 in which the LCD panel 2 is placed under the probe base 1, (3).
여기서, 프로브 베이스(1)의 중앙부에는 사각형상의 개구부(5)가 형성되어 있고, 프로브 베이스(1) 상부면의 세로변 일측에는 제1 프로브 유닛(7)이 고정되어 있고, 타측에는 제2 프로브 유닛(8)이 고정되어 있다.The first probe unit 7 is fixed to one side of the longitudinal side of the upper surface of the probe base 1 and the second probe unit 7 is fixed to the other side of the probe base 1, The unit 8 is fixed.
또한, 제1 프로브 유닛(7)과, 제2 프로브 유닛(8)의 상부면에는 일정간격으로 5개의 프로브 블록들(9)이 설치되어 있고, 상기 프로브 블록들(9)은 상기 프로브 유닛(7)(8)을 매개로 60°회전할 수 있도록 힌지되어 있으며, 각각의 프로브 블록들(9)에는 LCD 패널의 게이트 라인과 접속되는 240개의 테스트 핀(11)이 형성되어 있다.5 probe blocks 9 are provided on the upper surfaces of the first probe unit 7 and the second probe unit 8 at regular intervals and the probe blocks 9 are connected to the probe unit 7) 8, and 240 test pins 11 connected to the gate lines of the LCD panel are formed in the probe blocks 9, respectively.
이와 같이 구성된 종래의 테스트 장치의 작용을 설명하면 다음과 같다.The operation of the conventional test apparatus configured as described above will be described below.
예를 들어 제1 프로브 유닛(7)은 10.4 인치 LCD 패널 테스트용이고, 제2 프로브 유닛(8)은 12.1 인치 LCD 패널 테스용이라고 할 경우, 10.4 인치의 LCD 패널을 테스트 하고난 후에 12.1 인치의 LCD 패널을 테스트할 경우에 대해서 설명하면 다음과 같다.For example, if the first probe unit 7 is for a 10.4 inch LCD panel test and the second probe unit 8 is for a 12.1 inch LCD panel test, then after testing a 10.4 inch LCD panel, The following describes the case of testing the LCD panel.
먼저, 작업자는 제1 프로브 유닛(7)에 힌지되어 있는 프로브 블록(9)을 작업자는 수작업을 통하여 60°회전시켜 위로 올리고, 스테이지(3)를 하강시켜 스테이지(3)에 놓여있는 10.4 인치의 LCD 패널(2)을 빼낸 후에 12.1인치의 LCD 패널을 스테이지(3)에 올려놓는다. 이후, 10.4 인치 LCD 패널을 테스트하기 위해서 위로 상승시켰던 제2 프로브 유닛(8)에 형성되어 있는 프로브 블록(9)을 작업자는 하나씩 경계라인까지 내린 후에 현미경을 이용하여 각각의 프로브 블록(9)에 형성되어 있는 미세한 테스트 핀(11)의 위치가 모두 동일한 위치에 놓여지도록 세팅하기 위해서 각각의 프로브 블록(9)을 조정한다. 이때 각각의 프로브 블록(9)이 세팅된 높이는 동일한 것이 바람직하나 작업자의 수작업에 의해 프로브 블록(9)이 셋팅됨으로써 ± 10㎛까지의 오차가 허용된다.First, the operator rotates the probe block 9 hinged to the first probe unit 7 by manually rotating the probe block 9 by 60 ° manually, descends the stage 3, After removing the LCD panel (2), place a 12.1-inch LCD panel on the stage (3). After the operator has lowered the probe block 9 formed on the second probe unit 8, which has been lifted upward to test the 10.4-inch LCD panel, to the boundary line one by one, the probe block 9 The respective probe blocks 9 are adjusted so as to set the positions of the fine test pins 11 to be formed at the same positions. At this time, it is preferable that the set height of each probe block 9 is the same, but an error up to +/- 10 mu m is allowed by setting the probe block 9 by the manual operation of the operator.
이후, 스테이지(3)를 상승시켜 LCD 패널의 게이트 라인용 접속 단자와 테스트 핀(11)을 접속시킨 상태에서 게이트 라인을 테스트한다.Thereafter, the stage 3 is raised to test the gate line in a state in which the gate line connection terminal of the LCD panel is connected to the test pin 11.
그러나, 작업자가 현미경을 이용하여 프로브 블록을 세팅할 경우, 여러개의 프로브 블록을 동일한 위치에 맞추는데 있어서 한 개의 프로브 블록을 세팅하는데 약 30분의 시간이 소요된다. 따라서, 5개의 프로브 블록을 동일한 위치에 세팅하는데는 약 150 분이 소요됨으로 작업의 능률이 저하되었고, 또한, 작업자가 수작업으로 각각의 프로브 블록을 동일한 위치에 세팅하는데 따른 불안정 세팅으로 테스트 핀이 손상되거나 테스트 핀의 충격으로 인해 LCD 패널이 손상되는 등 설비의 수명이 단축되는 문제점이 있었고, LCD 패널 양쪽에 게이트 라인을 형성한 LCD 패널은 테스트할 수 없는 또 다른 문제점이 있었다.However, when the operator sets the probe block using a microscope, it takes about 30 minutes to set one probe block in order to align the plurality of probe blocks in the same position. Therefore, it takes about 150 minutes to set the five probe blocks to the same position, and the efficiency of the operation is lowered. Further, the unstable setting caused by the operator manually setting each probe block to the same position causes damage There has been a problem that the life of the equipment is shortened due to the damage of the LCD panel due to the impact of the test pin and there is another problem that the LCD panel having the gate line formed on both sides of the LCD panel can not be tested.
따라서, 본 발명은 이와 같은 종래의 문제점을 감안하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 여러 개의 프로브 블록을 프로브 유닛에 고정시킨 후, 프로브 유닛만을 움직여 프로브 블록을 세팅함으로써 세팅 시간을 감소시킨 LCD 패널 테스트 장치를 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made in view of the above problems occurring in the prior art, and it is an object of the present invention to provide an LCD panel in which setting time is reduced by fixing a plurality of probe blocks to a probe unit, And a test apparatus.
본 발명의 또 다른 목적은 특수한 목적으로 제작된 LCD 패널을 테스트하기 위해서 프로브 유닛이 이동할 수 있는 가이드 홈을 형성하여 세팅 시간을 감소시킨 LCD 패널 테스트 장치를 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide an LCD panel test apparatus in which setting time is reduced by forming a guide groove through which a probe unit can be moved to test an LCD panel manufactured for a specific purpose.
도 1은 종래의 LCD 패널 테스트 장치를 개략적으로 나타낸 구성도이다.1 is a schematic diagram showing a conventional LCD panel test apparatus.
도 2는 본 발명에 의한 LCD 패널 테스트 장치를 개략적으로 나타낸 구성도이다.2 is a block diagram schematically showing an LCD panel testing apparatus according to the present invention.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>Description of the Related Art
21 : 프로브 베이스 25 : 개구부21: probe base 25: opening
26, 27, 28, 29 : 프로브 유닛 31 : 가이드 홈26, 27, 28, 29: probe unit 31: guide groove
33 : 프로브 블록 35 : 테스트 핀33: Probe block 35: Test pin
40 : 에어 실린더 41 : 피스톤부40: air cylinder 41: piston part
43 : 연결부 45 : 제어부43: connection part 45: control part
47 : 솔레노이드 밸브 49 : 에어 밸브47: Solenoid valve 49: Air valve
이와 같은 목적을 달성하기 위한 LCD 패널 테스트 장치는 중앙에 개구부가 형성되며, 상기 개구부를 사이에 두고 서로 대향하는 양측에 가이드 홈이 형성되는 프로브 베이스와, 상기 프로브 베이스의 상부면 중 상기 개구부와 인접한 사면에 각각 형성되며, 이중 서로 대향하는 한 쌍은 상기 가이드 홈과 결합되는 다수의 프로브 유닛과, 상기 프로브 유닛들 각각에 연결되어 각각의 상기 프로브 유닛을 상기 프로브 베이스의 상부면을 기준으로 수직 방향으로 이동시키는 다수의 구동수단과, 상기 구동수단들을 제어하는 제어수단과, 상기 프로브 유닛들 각각에 형성되는 다수의 프로브 블록, 및 상기 프로브 블록들 각각에 형성되는 다수의 테스트 핀을 포함한다.An LCD panel testing apparatus for achieving the above object is provided with a probe base having an opening at the center and having guide grooves formed on opposite sides of the opening to face each other, A plurality of probe units, each of which is coupled to the probe unit, and each of the probe units is coupled to the probe unit, and each of the probe units is connected to the probe unit in a vertical direction A plurality of probe blocks formed on each of the probe units, and a plurality of test pins formed on each of the probe blocks.
이하 본 발명에 의한 LCD 패널 테스트 장치를 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an LCD panel testing apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG.
본 발명에 의한 테스트 장치는 LCD 패널(22)을 테스트할 수 있도록 형성된 사각형의 프로브 베이스(21)와, 프로브 베이스(21)의 하부에 LCD 패널(22)이 놓여지고 상하로 이동되는 스테이지(23)로 구성되어 있다.The test apparatus according to the present invention includes a rectangular probe base 21 formed to test the LCD panel 22 and a stage 23 on which the LCD panel 22 is placed under the probe base 21 and is moved up and down ).
여기서, 프로브 베이스(21)에는 사각형상의 개구부(25)가 형성되어 있고, 개구부(25) 주위의 사면에는 4개의 프로브 유닛(26),(27),(28),(29)이 형성되어 있고, 상기 4개의 프로브 유닛(26),(27),(28),(29)중 가로변에 형성되어 있는 2개의 프로브 유닛(26),(28), 즉 제1 프로브 유닛(26)과 제3 프로브 유닛(28)의 하부에는 프로브 유닛(26)(28)을 좌우로 이동시키기 위한 가이드 홈(31)이 형성되어 있다.The probe base 21 is provided with a square opening 25 and four probe units 26, 27, 28, 29 are formed on the slopes around the opening 25 The two probe units 26 and 28 formed on the side of the four probe units 26, 27, 28 and 29, that is, the first probe unit 26 and the third probe unit 26, A guide groove 31 for moving the probe units 26 and 28 to the left and right is formed in the lower portion of the probe unit 28. [
또한, 각각의 프로브 유닛들(26),(27),(28),(29)의 상부면에는 프로브 유닛(26),(27),(28),(29)에 고정되어 있는 5개의 프로브 블록들(33)이 고정되며, 각각의 프로브 블록들(33)에는 LCD 패널(22)의 게이트 라인과 접속되는 240개의 테스트 핀(35)이 형성되어 있다.Further, on the upper surface of each of the probe units 26, 27, 28, 29, five probes 26, 27, 28, 29 fixed to the probe units 26, Blocks 33 are fixed and 240 test pins 35 connected to the gate lines of the LCD panel 22 are formed in each of the probe blocks 33.
또한, 각각의 프로브 유닛들(26),(27),(28),(29)은 상하로 이동시키기 위한에어 실린더들(40)과 연결된다. 각각의 에어 실린더들(40)은 프로브 베이스(21) 영역 외측에 형성되어 있고, 각각의 에어 실린더들(40)의 상부면 중앙에는 공기압에 의해 상하로 이동되는 피스톤부들(41)이 형성되어 있으며, 상기 피스톤부들(41)의 상부에는 피스톤부(41)와 일체로 연결되어 각각의 프로브 유닛들(26),(27),(28),(29)을 상하로 이동시켜주는 연결부들(43)이 형성되어 있다. 상기 연결부들(43)은 "ㄷ"자 형상으로 양쪽으로 분기되어 있으며 연결부들(43)의 말단은 프로브 유닛들(26),(27),(28),(29)의 상부면 양쪽끝단에 각각 고정되어 있어 프로브 유닛(26),(27),(28),(29)이 한쪽으로 기울어지는 것을 방지한다.Further, each of the probe units 26, 27, 28, 29 is connected to the air cylinders 40 for moving up and down. Each of the air cylinders 40 is formed outside the region of the probe base 21. Piston portions 41 are vertically formed at the center of the upper surface of each of the air cylinders 40 to be moved up and down by air pressure And piston portions 41 are integrally connected to the piston portion 41 to connect the probe units 26, 27, 28, 29 up and down. Is formed. The ends of the connection portions 43 are branched at both ends of the upper surface of the probe units 26, 27, 28, 29 26, 27, 28, 29 are prevented from being tilted to one side.
또한, 에어 실린더들(40)은 각각의 에어 실린더들(40)의 구동을 제어하는 제어부(45)와 연결되며, 제어부(45)와 에어 실린더들(40) 사이에는 제어부(45)로부터 출력되는 제어신호에 의해서 개폐되는 솔레노이드 밸브들(47)과 솔레노이드 밸브들(47)의 구동에 의해 개폐되는 에어 밸브들(49)이 형성되어 있다.The air cylinders 40 are connected to a control unit 45 for controlling the driving of each of the air cylinders 40 and between the control unit 45 and the air cylinders 40, Solenoid valves 47 opened and closed by a control signal and air valves 49 opened and closed by driving solenoid valves 47 are formed.
이와 같이 구성된 본 발명에 의한 테스트 장치의 작용을 설명하면 다음과 같다.The operation of the test apparatus according to the present invention will now be described.
예를 들어, 제1 프로브 유닛(26)과 제3 프로브 유닛(28)은 특수한 목적으로 제작된 LCD 패널 테스트용이고, 제2 프로브 유닛(27)은 10.4 인치 LCD 패널 테스트용이고, 제4 프로브 유닛(29)은 12.1 인치 LCD 패널 테스트용이라고 할 경우, 10.4 인치의 LCD 패널을 테스트 하고난 후에 12.1 인치의 LCD 패널을 테스트할 경우에 대해서 설명하면 다음과 같다.For example, the first probe unit 26 and the third probe unit 28 are for a specially designed LCD panel test, the second probe unit 27 is for a 10.4 inch LCD panel test, Unit 29 is a 12.1-inch LCD panel test unit. The following describes the case of testing a 12.1-inch LCD panel after testing a 10.4-inch LCD panel.
먼저, 10.4 인치의 LCD 패널을 테스트하기 위해 하강시킨 제2 프로브유닛(27)을 올리기 위해 제어부(45)는 출력되는 전압을 조절하여 솔레노이드 밸브(47)에 전달하면, 제어부(45)의 출력신호에 대응하여 솔레노이드 밸브(47)가 폐쇄되게 되고, 에어 밸브(49)는 솔레노이드 밸브(47)의 폐쇄에 대응하여 에어 실린더(40)의 아웃터 튜브(미도시)에 공기를 공급하여 제2 프로브 유닛(27)을 상승시킨다. 이후, 10.4 인치 LCD 패널이 놓여져 있는 스테이지(23)를 하강시켜 LCD 패널을 빼낸다.The control unit 45 adjusts the voltage to be outputted to the solenoid valve 47 in order to raise the second probe unit 27 that has been lowered to test the 10.4 inch LCD panel, The air valve 49 supplies air to the outer tube (not shown) of the air cylinder 40 in response to the closing of the solenoid valve 47, (27). Thereafter, the stage 23 on which the 10.4 inch LCD panel is placed is lowered to pull out the LCD panel.
이어서, 12.1 인치의 LCD 패널을 스테이지(23)에 올려놓은 다음, 10.4 인치 LCD 패널을 테스트하기 위해서 위로 상승시켰던 제4 프로브 유닛(29)을 하강시키기 위해서 제어부(45)는 출력되는 전압을 조절하여 솔레노이드 밸브(47)에 전달하면, 제어부(45)의 출력신호에 대응하여 솔레노이드 밸브(47)가 개방되고, 이에 따라 에어 밸브(49)는 솔레노이드 밸브(47)의 개방에 대응하여 에어 실린더(40)의 인너 튜브(미도시)에 공기를 공급하면, 제4 프로브 유닛(29)이 하강하여 12.4인치의 LCD 패널을 테스트할 수 있도록 세팅된다.Subsequently, a 12.1-inch LCD panel is placed on the stage 23, and then the controller 45 adjusts the output voltage so as to lower the fourth probe unit 29 that has been lifted upward to test the 10.4-inch LCD panel The solenoid valve 47 is opened in response to the output signal of the control unit 45 so that the air valve 49 is opened in response to the opening of the solenoid valve 47, (Not shown), the fourth probe unit 29 is set to be lowered to test the 12.4-inch LCD panel.
이후 스테이지(23)를 상승시켜 LCD 패널의 게이트 라인과 테스트 핀(35)을 접속시킨 상태에서 게이트 라인을 테스트한다.Thereafter, the stage 23 is raised to test the gate line with the gate line of the LCD panel and the test pin 35 connected.
또한, LCD 패널 양쪽에 게이트 라인이 형성되도록 특수 제작된 LCD 패널을 테스트하기 위해서는 제2 프로브 유닛(27)과 제4 프로브 유닛(29)을 위로 상승시킨 후에 LCD 패널 크기에 맞도록 제1 프로브 유닛(26)과 제3 프로브 유닛(28)을 좌우로 이동시켜 세팅한 후에 위에서 설명한 방법과 동일한 방법으로 제1 프로브 유닛(26)과 제3 프로브 유닛(28)을 하강시켜 LCD 패널을 테스트한다.In order to test a specially manufactured LCD panel in which gate lines are formed on both sides of the LCD panel, the second probe unit 27 and the fourth probe unit 29 are lifted up and then the first probe unit After the first probe unit 26 and the third probe unit 28 are set to move to the left and right, the first probe unit 26 and the third probe unit 28 are lowered in the same manner as described above to test the LCD panel.
이와 같이 테스트 핀(35)이 형성된 각각의 프로브 블록(33)을 동일한 위치가 되도록 설치하여 프로브 유닛(26),(27),(28),(29)에 고정시키고, 에어 실린더(40)를 구동시켜 프로브 유닛(26),(27),(28),(29)만을 상하로 이동시킴으로서 LCD 패널 테스트 세팅시간을 현저하게 줄일 수 있고, 각각의 프로브 블록(33)이 동일한 위치에 형성되어 있어 정확한 세팅을 할 수 있다. 또한, 일부 프로브 유닛(26),(28)을 좌우 이동될 수 있도록 가이드 홈(31)을 형성함으로 특수 제작된 LCD 패널도 테스트할 수 있다.Each of the probe blocks 33 on which the test pins 35 are formed is installed at the same position to be fixed to the probe units 26, 27, 28, 29 and the air cylinders 40 Only the probe units 26, 27, 28, and 29 are moved up and down so that the LCD panel test setting time can be remarkably reduced, and the probe blocks 33 are formed at the same position You can make the correct settings. In addition, a specially manufactured LCD panel can be tested by forming the guide grooves 31 so that the probe units 26 and 28 can be moved to the left and right.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 프로브 유닛에 프로브 블록을 고정시킨 후, 에어 실린더를 이용하여 프로브 유닛을 상하로 이동시킴으로써 세팅시간을 현저하게 줄일 수 있고, 여러 개의 프로브 블록을 모두 동일한 위치에 정확히 세팅할 수 있어 설비의 수명을 증가시킬 수 있는 효과가 있다.As described above, according to the present invention, the probe block is fixed to the probe unit, and then the probe unit is moved up and down using an air cylinder, so that the setting time can be remarkably reduced. There is an effect that the lifetime of the equipment can be increased.
또한, 일정 프로브 유닛을 좌우로 이동시킬 수 있는 가이드 홈을 형성함으로서 특수 제작된 LCD 패널을 테스트할 수 있는 효과가 있다.In addition, it is possible to test a specially manufactured LCD panel by forming a guide groove for moving the constant probe unit to the left and right.
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| JPH02138883A (en) * | 1988-11-18 | 1990-05-28 | Tokyo Electron Ltd | Probing apparatus |
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1996
- 1996-09-25 KR KR1019960042610A patent/KR100449515B1/en not_active IP Right Cessation
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR19980023172A (en) | 1998-07-06 |
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