KR100418126B1 - 스터드핀 경사각 측정장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 패널의 스커트부에 소정의 경사각을 가지고 융착된 스터드핀의 경사각을 측정하는 스터드핀 경사각 측정장치에 관한 것으로서, 베이스플레이트와; 상기 베이스플레이트 상에 마련되어 소정의 경사각을 가지고 배치되는 경사부와; 적어도 일단부에 상기 스터드핀을 일시 수용하는 핀수용부를 가지고 상기 패널의 상기 스터드핀을 척킹하는 척킹부와; 상기 척킹부의 일측 단부영역에 마련되어 상기 스터드핀이 상기 핀수용부에 수용되었을 때, 상기 척킹부의 척킹위치를 측정하는 적어도 하나의 측정부재와; 상기 척킹부 및 상기 측정부재가 결합고정되며, 상기 경사부에 경사지지되는 측정블럭과; 상기 측정부재의 측정값에 기초하여 상기 스터드핀의 경사각을 산출하는 경사각산출부를 포함하며, 상기 척킹부와 상기 측정부재 간의 거리값을 H라고 할 때 상기 경사각산출부에 의해 측정되는 상기 스터드핀의 경사각 θ는, θ= SIN-1(H/25)의 수학식에 의해 산출되는 것을 특징으로 한다. 이에 의하여, 패널의 스커트부에 융착된 스터드핀의 경사각을 측정할 수 있도록 한 스터드핀 경사각 측정장치가 제공된다.
Description
본 발명은, 스터드핀 경사각 측정장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 패널의 스커트부에 융착된 스터드핀의 경사각을 측정할 수 있도록 한 스터드핀 경사각 측정장치에 관한 것이다.
일반적으로 음극선관은 화상이 투사되는 전방에 위치한 패널과, 패널의 배후에 결합되는 깔때기 형상의 펀넬과, 전자총을 구비하여 펀넬의 노우즈부에 결합되는 넥크를 가진다.
패널은 화상이 투사되는 페이스부와, 페이스부의 둘레방향을 따라 절곡형성되는 스커트부로 구성되어 있으며, 패널의 페이스부의 내면에는 형광체가 도포되고 스커트부의 내면에는 새도우마스크가 결합된 프레임이 장착될 수 있도록 복수의 스터드핀이 융착되게 된다. 이 때, 스터드핀들은 주로 스커트부의 평면에 대하여 수직방향으로 융착되게 된다.
그러나, 사용자의 요구 혹은 새도우마스크의 결합조건 등에 따라 스터드핀이 스커트부의 판면에 대하여 소정의 각도, 예를 들어, 수평축선에 대하여 약 33°의 기울기를 가지고 경사지게 융착되어야 할 경우가 발생하게 된다.
따라서, 이와 같이 스커트부의 판면에 대해 스터드핀을 경사지게 융착시킬 경우에는 각 스터드핀이 소정의 허용범위 내에서 소정의 경사각을 가지고 정확하게 융착되었는지를 측정하는 별도의 스터드핀 경사각 측정장치가 요구되게 된다.
따라서, 본 발명의 목적은, 패널의 스커트부에 융착된 스터드핀의 경사각을 측정할 수 있도록 한 스터드핀 경사각 측정장치를 제공하는 것이다.
도 1은 본 발명에 따른 스터드핀 경사각 측정장치의 개략적인 측면도,
도 2는 도 1의 요부확대도,
도 3은 경사각 측정방법에 대해 부가적으로 도시한 도면이다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
10 : 패널 14 : 스터드핀
23 : 베이스플레이트 37 : 포스트
50 : 측정블럭 54,55,57 : 슬라이더블럭
65 : 측정부재 73 : 척킹부
상기 목적은, 본 발명에 따라, 패널의 스커트부에 소정의 경사각을 가지고 융착된 스터드핀의 경사각을 측정하는 스터드핀 경사각 측정장치에 있어서, 베이스플레이트와; 상기 베이스플레이트 상에 마련되어 소정의 경사각을 가지고 배치되는 경사부와; 적어도 일단부에 상기 스터드핀을 일시 수용하는 핀수용부를 가지고 상기 패널의 상기 스터드핀을 척킹하는 척킹부와; 상기 척킹부의 일측 단부영역에 마련되어 상기 스터드핀이 상기 핀수용부에 수용되었을 때, 상기 척킹부의 척킹위치를 측정하는 적어도 하나의 측정부재와; 상기 척킹부 및 상기 측정부재가 결합고정되며, 상기 경사부에 경사지지되는 측정블럭과; 상기 측정부재의 측정값에 기초하여 상기 스터드핀의 경사각을 산출하는 경사각산출부를 포함하며, 상기 척킹부와 상기 측정부재 간의 거리값을 H라고 할 때 상기 경사각산출부에 의해 측정되는 상기 스터드핀의 경사각 θ는, θ= SIN-1(H/25)의 수학식에 의해 산출되는 것을 특징으로 하는 스터드핀 경사각 측정장치에 의해 달성된다.
여기서, 상기 척킹부를 공간좌표상에서 X축, Y축 및 Z축으로 선형이동시키는 선형이동수단을 더 포함하는 것이 유리하다.
이하에서는 첨부도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 스터드핀 경사각 측정장치의 개략적인 측면도이고, 도 2는 도 1의 요부확대도이다. 이들 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 스터드핀 경사각 측정장치는, 프레임(16)과, 프레임(16)의 상단에 수평축선을 가지고 배치되는 판상의 베이스플레이트(23)와, 베이스플레이트(23) 상에 배치되는 다수의 측정블럭(50)을 갖는다.
프레임(16) 내에는, 베이스플레이트(23)의 상측으로 연장되어 측정될 패널(10)이 로딩되는 로딩부(미도시)를 승강구동시키기 위한 도시 않은 승강구동수단이 구비되어 있으며, 프레임(16)의 저부에는, 지지평면에 대하여 프레임(16)의 높이를 조절할 수 있도록 높이조절스크루(18)가 장착된 푸트부재(21)가 마련되어 있다.
각 측정블럭(50)은, 베이스플레이트(23)상에 소정의 경사각을 가지고 배치된 경사부(72)에 의해 안착지지되어 있으며, 본 실시 예에서, 측정블럭(50)은 패널(10)의 네 스커트부(12)에 각각 하나씩 배치되도록 구성되어 있다. 그리고, 각 측정블럭(50)의 상측에는 패널(10)을 정렬시키는 다수의 포스트(37)가 마련되어 있다.
측정블럭(50)은 경사부(23) 상에 고정되며, 후술할 각 슬라이더블럭(54, 55,57)의 일부영역이 수용가능하도록 소정의 함몰부(53)를 갖는 지지부(51)와, 지지부(51)상에 마련되어 좌우방향으로의 위치이동가능한 좌우슬라이더블럭(54)과, 지지부(51)에 대하여 전후방향으로의 위치이동가능한 전후슬라이더블럭(55)과, 지지부(51)에 대해 상하 승강가능한 상하슬라이더블럭(57)을 갖는다.
상하슬라이더블럭(57)의 일측에는, 소정의 회동축(75)에 회동지지되는 척킹부(73)가 마련되어 있다. 척킹부(73)는 스커트부(12)를 향한 단부측에 스터드핀(14)을 일시 수용하는 핀수용부(59)를 가지며, 타측에 측정부재(65)의 측정팁(69)이 접촉되는 접촉부(77)를 갖는다. 여기서, 핀수용부(59)는 소정의 스터드핀(14)의 경사각과 동일한 경사각, 예를 들어 수평축선에 대하여 대략 33°정도의 기울기를 가지고 형성되어 있으며, 각 슬라이더블럭(54,55,57)은 각 지지부(51) 상에서 도시 않은 실린더장치에 의해 선형이동가능한 로드(63)에 각각 부속되어 있다.
또한, 척킹부(73)의 단부측에 마련된 접촉부(77)의 하부에는 접촉부(77)에 대해 축선방향으로 배치된 측정부재(65)가 마련되어 있다. 여기서, 측정부재(65)는, 선형이동가능한 선형차동트랜스포머(LVDT)로 사용하게 된다.
측정부재(65)는, 본체(67)와, 본체(67) 내에 슬라이딩 가능하게 접촉지지되며, 소정의 측정대상체에 접촉 및 이탈되는 측정팁(69)과, 측정팁(69)을 스커트부(12)의 판면을 향해 탄성적으로 미는 작동유체공급부(미도시)와, 작동유체공급부에 작동유체의 공급이 중단되었을 때, 측정팁(69)을 본체(67)를 향해 철회시키는 탄성부재(71)를 갖는다.
이러한 구성에 의해, 본 발명에 따른 스터드핀 경사각 측정장치의 작동과정을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 측정대상의 패널(10)은 각 포스트(37)에 의해 지지되어 베이스플레이트(23)의 상측 소정의 기준 위치에 안착된다. 패널(10)의 위치설정이 완료되면, 본 발명에 따른 측정블럭(50) 내에 마련된 각 슬라이더블럭(54,55,57)들을 소정거리 이동시키면서, 척킹부(73)의 핀수용부(59)가 스커트부(12)에 융착된 스터드핀(14)에 대응될 수 있도록 한다. 이 때, 척킹부(73)는 회동축(75)을 중심으로 소정 거리 회동하면서 스터드핀(14)의 대응위치에 배치되게 된다.
이처럼, 스터드핀(14)이 척킹부(73)의 핀수용부(59)에 삽입되면, 척킹부(73)의 접촉부(77) 하부에 배치된 측정부재(65)가 작동되어 측정부재(65)와 접촉부(77) 사이의 거리를 측정하게 된다. 이 같은, 측정원리를 간략하게 부가설명하면 다음과 같다.
소위, LVDT라 일컫는 선형차동트랜스포머는, 내부로 작동유체의 공급에 의해 단부에 마련된 측정팁(69)이 소정길이 팽창됨으로써 내부의 전기저항값의 변화에 의해 측정대상체의 두께 및 길이를 측정하는 부재이다. 일반적으로, 측정팁(69)의 팽창길이는 약 10㎜인데, 예를 들어, 측정팁(69)의 팽창길이의 5㎜인 지점을 기준점(이를 제로세팅한다고 함)으로 하고, 측정팁(69)의 전방에 측정대상체를 배치시켰을 경우, 만일 측정팁(69)이 측정대상체에 접촉된 팽창길이가 5㎜이면 측정대상체의 측정 길이 및 두께는 정확하게 이루어진 것이다. 그러나, 측정팁(69)이 측정대상체에 접촉된 팽창길이가 4㎜이면 측정대상체는 정해진 길이 및 두께보다 +1㎜가 길거나 두꺼운 것이며, 이와는 반대로 측정대상체에 접촉된 팽창길이가 6㎜이면 측정대상체는 정해진 길이 및 두께보다 -1㎜가 짧거나 얇은 것이 된다.
따라서, 이 같은 원리를 본 건에 적용하게 되면, 공간좌표내에 척킹부(73)의 소정의 회동각을 최초 기준값으로 설정해 놓게 되면, 측정대상의 스터드핀(14)이 삽입될 수 있도록 척킹부(73)가 회동했을 경우, 척킹부(73)의 회동각도는 최초 설정값과 같거나 다를 수 있게 된다. 이 때, 측정부재(65)의 측정팁(69)이 팽창하여 접촉부(77)에 접촉하게 되면, 최초 기준값과 측정팁(69)의 이동거리에 따른 오차값이 산출된다. 따라서, 이 같이, 산출된 오차값은 측정부재(65)와 접촉부(77) 사이의 거리값으로 환산되게 되고, 이 값은 도시 않은 경사각산출부로 전송되어 최종적으로 스터드핀(14)의 경사각이 측정되게 된다. 이 때, 환산된 거리값은 다음의 수학식에 의해 측정대상의 스터드핀(14) 경사각으로 산출될 수 있게 된다.
[수학식]
θ= SIN-1(H/25)
여기서, θ는 경사각이며, H는 척킹부(73)의 접촉부(77)와 측정부재(65) 간의 거리값이다.
예를 들어, 도 4에서와 같이, H 값이 0.3447일 경우, 즉, 척킹부(73)의 접촉부(77)와 측정부재(65) 간의 거리값이 0.3447일 경우에는, 스터드핀(14)의 경사각(θ)은 상기의 수학식에 의해 0.79°로 산출될 수 있게 된다.
이와 같이, 본 발명에서는, 소정의 척킹부(73)와 측정부재(65)로 인해 스커트부(12)에 경사지게 융착된 스터드핀(14)의 경사각을 정확하게 산출할 수 있게 된다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 패널의 스커트부에 융착된 스터드핀의 경사각을 측정할 수 있도록 한 스터드핀 경사각 측정장치가 제공된다.
Claims (4)
- 패널의 스커트부에 소정의 경사각을 가지고 융착된 스터드핀의 경사각을 측정하는 스터드핀 경사각 측정장치에 있어서,베이스플레이트와;상기 베이스플레이트 상에 마련되어 소정의 경사각을 가지고 배치되는 경사부와;적어도 일단부에 상기 스터드핀을 일시 수용하는 핀수용부를 가지고 상기 패널의 상기 스터드핀을 척킹하는 척킹부와;상기 척킹부의 일측 단부영역에 마련되어 상기 스터드핀이 상기 핀수용부에 수용되었을 때, 상기 척킹부의 척킹위치를 측정하는 적어도 하나의 측정부재와;상기 척킹부 및 상기 측정부재가 결합고정되며, 상기 경사부에 경사지지되는 측정블럭과;상기 측정부재의 측정값에 기초하여 상기 스터드핀의 경사각을 산출하는 경사각산출부를 포함하며,상기 척킹부와 상기 측정부재 간의 거리값을 H라고 할 때 상기 경사각산출부에 의해 측정되는 상기 스터드핀의 경사각 θ는,θ= SIN-1(H/25)의 수학식에 의해 산출되는 것을 특징으로 하는 스터드핀 경사각 측정장치.
- 제 1항에 있어서,상기 척킹부를 공간좌표상에서 X축, Y축 및 Z축으로 선형이동시키는 선형이동수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스터드핀 경사각 측정장치.
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