KR100367843B1 - Small punch creep test device with small specimen - Google Patents
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Abstract
본 발명은 고온 및 응력에 의한 여러 가지 금속의 조직적인 변화에 의한 기계적 성질의 재질열화를 연구하고 평가하는데 있어서, 미소시험편의 산화를 완벽하게 방지할 수 있어서 보다 정확한 실험치를 얻을 수 있는 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치를 제공한다.The present invention is to study and evaluate the material deterioration of the mechanical properties due to the systematic change of various metals due to high temperature and stress, the micro test piece can be obtained to prevent the oxidation of the micro test piece completely to obtain a more accurate experimental value Provided is a small punch creep test apparatus.
그 크리프 시험장치는 미소시험편에 하중을 주기위한 상ㆍ하부 고정구(10, 11); 상기 상ㆍ하부 고정구(10, 11)와 접촉하여 미소시험편에 하중을 전달하며 미소시험편을 고정시키는 소형펀치 지그(21); 상기 소형펀치 지그(21)를 둘러싸서 대기와의 접촉을 차단하는 수정관(32); 상기 수정관(32)안에 미소시험편의 산화를 방지하기 위하여 산소와 수분이 제거된 불활성가스를 주입시키기 위한 불활성가스 주입강관(36); 상기 수정관(32) 내를 일정한 온도로 유지시키기 위한 고주파 가열장치(48); 및 상기 수정관내의 미소시험편 주위의 온도를 측정하기 위한 열전대가 삽입되는 열전대 삽입강관(34); 으로 구성된다.The creep test apparatus includes upper and lower fasteners 10 and 11 for applying a load to micro test pieces; A small punch jig 21 for contacting the upper and lower fasteners 10 and 11 to transfer the load to the micro test piece and to fix the micro test piece; A crystal tube 32 surrounding the small punch jig 21 to block contact with the atmosphere; An inert gas injection steel pipe 36 for injecting an inert gas from which oxygen and moisture have been removed to prevent oxidation of the micro test piece in the crystal tube 32; A high frequency heating device (48) for maintaining the inside of the crystal tube (32) at a constant temperature; And a thermocouple insertion steel tube 34 into which a thermocouple for measuring a temperature around the micro test piece in the crystal tube is inserted. It consists of.
Description
본 발명은 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치에 관한 것으로서,The present invention relates to a small punch creep test apparatus using a micro test piece,
보다 상세하게는 고온 및 응력에 의한 여러 가지 금속의 조직적인 변화에 의한 기계적 성질의 재질열화를 연구하고 평가하는데 있어서, 미소시험편의 산화를 완벽하게 방지할 수 있어서 보다 정확한 실험치를 얻을 수 있는 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치에 관한 것이다.More specifically, in studying and evaluating the material deterioration of mechanical properties due to the systematic change of various metals due to high temperature and stress, the micro test piece can be obtained more accurately because the oxidation of the micro test piece can be completely prevented. It relates to a small punch creep test apparatus using.
일반적으로 어떤 재료에 일정 온도하에서 일정 응력 혹은 일정 하중이 작용할 때, 변형이 시간에 따라 함께 증가하는 현상이 나타나게 되는데, 이와 같은 현상을 '크리프' 라고 하며 주로 고온에서 일어나는 현상이다. 재료의 특성을 연구하는 시험에 있어서, 상온 시험은 짧은 시간에 실험이 끝나게 되어 시편에 온도, 대기, 및 압력에 의한 영향을 거의 무시할 수 있으나, 고온하에서 장시간동안의 하중을 받게되는 크리프 실험의 경우, 짧게는 수십시간에서부터 길게는 수백시간동안 500℃ 정도의 온도에서 100∼200㎏/㎠ 의 하중을 받는 상태를 유지하게 된다.Generally, when a certain stress or a certain load is applied to a material at a certain temperature, the deformation increases with time. This phenomenon is called 'creep' and is mainly a phenomenon at high temperature. In the study of the properties of the material, the room temperature test is completed in a short time, so that the effect of temperature, atmosphere, and pressure on the specimen can be almost neglected. For example, it is kept under a load of 100 to 200 kg / cm 2 at a temperature of about 500 ° C. for as short as tens of hours to hundreds of hours.
이와 같은 크리프 실험을 수행하기 위하여 현재에는 일반적으로 인장시험기나 크리프 전용시험장치를 이용하고 있다. 하중이 가해지는 시편 고정구에 시편을 고정하여 일정한 응력 혹은 하중이 작용하도록 하고, 여기에 일정 온도로 상승시켜 유지하기 위한 가열장치로 가열로나 고주파 가열장치가 사용되고 있다. 시편이 고온에서 장시간 노출되면 대기에 있는 산소와 수분에 의하여 상온에서보다 산화가 잘 일어나서, 시편의 표면이나 파면 부위에 산화스케일이 발생하게 된다. 이로 인하여 파면부위나 그 조직을 관찰할 수 없게 되어 실험의 효과가 없어진다. 따라서 이러한 산화를 방지하기 위하여 가열로를 밀봉하여 불활성 가스를 주입하거나, 진공 상태에서 가열로를 사용하는 방법등을 취하고 있다.In order to perform such creep test, in general, a tensile tester or a creep tester is generally used. A heating furnace or a high frequency heating apparatus is used as a heating apparatus for fixing a specimen to a specimen fixture that is subjected to a load so that a constant stress or load is applied, and raising and maintaining it at a constant temperature. When the specimen is exposed to high temperature for a long time, oxidation occurs more easily than at room temperature by oxygen and moisture in the atmosphere, and the scale of oxidation is generated on the surface or wavefront of the specimen. This makes it impossible to observe the wavefront or the tissue, and the effect of the experiment is lost. Therefore, in order to prevent such oxidation, a method of sealing the furnace and injecting an inert gas or using a furnace in a vacuum state is adopted.
그러나 이러한 종래의 방법에는 여러 가지 문제점이 있다. 가열로를 밀봉하는것은 매우 힘들고, 산화를 방지하기 위하여 불활성 가스인 아르곤이나 질소를 주입하여 대기와 접촉하지 못하도록 하나 불활성 가스내에는 고순도의 가스를 제외하고는 수분이 포함되어 있어서, 완전하게 산화를 방지하지 못하는 문제점이 있다.However, there are various problems with this conventional method. It is very difficult to seal the furnace, and in order to prevent oxidation, inert gas such as argon or nitrogen is injected to prevent contact with the atmosphere, but the inert gas contains moisture except high purity gas, so that oxidation is completely prevented. There is a problem that cannot be prevented.
또한 진공상태를 유지하기 위해서는 진공펌프 외에 여러 가지의 설비가 필요하게 되어 그만큼 설비에 대한 비용이 증가하게 된다. 일반적인 가열로나 진공가열로를 사용하더라도 소량의 공기와 수분이 새어들어가면 산화가 발생되어 시편의파단면이나 표면을 관찰하고 분석하는데에는 많은 어려움이 따르는 문제점이 있다.In addition, in order to maintain the vacuum state, various facilities other than the vacuum pump are required, and thus the cost for the facility increases. Even in the case of using a general heating furnace or a vacuum heating furnace, a small amount of air and moisture are leaked, so that oxidation occurs, which causes a lot of difficulties in observing and analyzing the fracture surface or surface of the specimen.
이에 본 발명은 상술된 문제점들을 해결하기 위하여 발명된 것으로서, 본 발명의 목적은 미소시험편이 대기에 노출되지 않게 밀봉되고, 산소 및 수분 제거기를 사용하여 수정관내로 유입되는 불활성 가스내에 포함된 미소량의 산소와 수분을 제거할 수 있어서 미소시험편의 산화를 완벽하게 방지할 수 있는 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치를 제공하는데 있다.Accordingly, the present invention has been invented to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to prevent the micro test pieces from being exposed to the atmosphere and to contain the minute amount contained in the inert gas introduced into the crystal tube using oxygen and moisture remover. The present invention provides a small punch creep test apparatus using micro test pieces that can remove oxygen and moisture, thereby completely preventing oxidation of micro test pieces.
본 발명의 다른 목적은 고주파 가열장치와 열전대의 사용으로 일정한 온도를 유지할 수 있으며, 최소한의 공간을 차지하는 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치를 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a small punch creep test apparatus using a micro test piece that can maintain a constant temperature by using a high frequency heating device and a thermocouple, and occupies a minimum space.
도 1은 본 발명에 따른 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치의1 is a small punch creep test apparatus using a micro test piece according to the present invention
개념도Conceptual diagram
도 2는 본 발명에 따른 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치의2 is a small punch creep test apparatus using a micro test piece according to the present invention
전체 조립 단면도Full assembly section
도 3은 본 발명에 따른 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치의3 is a small punch creep test apparatus using a micro test piece according to the present invention
부품 및 분해도Parts and exploded views
도 4a 내지 4d는 본 발명에 따른 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치에 적용되는 밀봉 및 고정판 부품들의 평면도4A to 4D are plan views of sealing and fixing plate parts applied to a small punch creep test apparatus using a micro test piece according to the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
10 : 상부 고정구 11 : 하부 고정구10: upper fixture 11: lower fixture
12 : 상부 밀봉판 13 : 하부 밀봉판12: upper sealing plate 13: lower sealing plate
14 : 상부 고정판 15 : 하부 고정판14: upper fixing plate 15: lower fixing plate
16 : 상부 고정볼트 17 : 하부 고정볼트16: upper fixing bolt 17: lower fixing bolt
18 : 상부 테프론 밀봉링 19 : 하부 테프론 밀봉링18: upper teflon sealing ring 19: lower teflon sealing ring
20 : 지지대 21 : 소형펀치 지그20: support 21: small punch jig
22 : 상부 고무 밀봉링 23 : 하부 고무 밀봉링22: upper rubber sealing ring 23: lower rubber sealing ring
24 : 펀치 누름대 26 : 펀치24: Punch Press 26: Punch
28 : 미소시험편 고정덮개 29 : 미소시험편 고정대28: micro test piece fixing cover 29: micro test piece fixing stand
30 : 미소시험편 고정대 받침대 32 : 수정관30: micro test specimen holder base 32: quartz tube
34 : 열전대 삽입강관 36 : 불활성가스 주입강관34: thermocouple insertion steel pipe 36: inert gas injection steel pipe
38 : 커넥터 40 : 불활성가스 주입관38 connector 40 inert gas injection tube
42 : 상부 고정너트 44 : 높이 조절너트42: upper fixing nut 44: height adjustment nut
46 : 하부 조정너트 48 : 고주파 가열장치46: lower adjustment nut 48: high frequency heating device
50 : 산소 제거기 52 : 수분 제거기50: oxygen remover 52: moisture remover
이 같은 목적은 고온 및 응력에 의한 여러 가지 금속의 조직적인 변화에 의한 기계적 성질의 재질열화를 연구하는 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치에 있어서,This purpose is to provide a small punch creep test apparatus using micro test pieces to study the material degradation of mechanical properties due to the systematic change of various metals due to high temperature and stress.
미소시험편에 하중을 주기위한 상ㆍ하부 고정구; 상기 상ㆍ하부 고정구와 접촉하여 미소시험편에 하중을 전달하며 미소시험편을 고정시키는 소형펀치 지그; 상기 소형펀치 지그를 둘러싸서 대기와의 접촉을 차단하는 수정관; 상기 수정관안에 불활성가스를 주입시켜 미소시험편의 산화를 방지하기 위한 불활성가스 주입강관; 상기 수정관 내를 일정한 온도로 유지시키기 위한 고주파 가열장치; 및 상기 수정관내의 미소시험편 주위의 온도를 측정하기 위한 열전대가 삽입되는 열전대 삽입강관; 을 포함하는 것을 특징으로 하는 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치에 의하여 달성될 수 있다.Upper and lower fixtures for applying load to the micro test pieces; A small punch jig for contacting the upper and lower fasteners to transfer a load to the micro test piece and to fix the micro test piece; A quartz tube surrounding the small punch jig to block contact with the atmosphere; An inert gas injection steel pipe for injecting an inert gas into the crystal tube to prevent oxidation of the micro test piece; A high frequency heating device for maintaining the inside of the quartz tube at a constant temperature; And a thermocouple insertion steel tube into which a thermocouple for measuring a temperature around the micro test piece in the crystal tube is inserted. It can be achieved by a small punch creep test apparatus using a micro test piece, characterized in that it comprises a.
이하 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조로 하여 상세히 설명한다. 후술되는 설명에 표시된 방향성 용어들은 본 발명을 단지 예시적으로 보여주는 첨부도면을 정면에서 투시할 때 설정된 용어일 뿐이며, 본 기술분야의 당업자라면, 이와 같은 방향성 용어에 의해 본 발명이 한정되지 않음을 자명하게 이해할 수 있을 것이다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Directional terms indicated in the following description are merely terms set when the front view of the accompanying drawings illustrating the present invention by way of example only, it will be apparent to those skilled in the art that the present invention is not limited by such directional terms. Will understand.
먼저, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치의 개념을 보여주는 도 1 및 전체 조립 단면도를 보여주는 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 크리프 시험장치는 기본적으로 미소시험편에 응력 또는 하중을 가하는 상ㆍ하부 고정구(10, 11)를 포함한다. 상부 고정구(10)에는 펀치 누름대(24)가 끼워져 미소 시험편에 응력 또는 하중을 가하는 기능을 하게된다.First, referring to Figure 1 showing the concept of a small punch creep test apparatus using a micro test piece according to a preferred embodiment of the present invention and Figure 2 showing the entire assembly cross-sectional view, the creep test apparatus according to the present invention is basically a micro test piece Upper and lower fasteners 10 and 11 that apply stress or load are included. A punch presser 24 is fitted to the upper fixture 10 to serve to apply stress or load to the micro test piece.
하부 고정구(11)에는 미소시험편 고정대 받침대(30)가 단단하게 고정되어 설치되며 하부 밀봉판(13)이 미소시험편 고정대 받침대(30)에 연통하여 하부 고정구(11)의 상단면과 접촉하여 위치한다. 이 때 하부 밀봉판(13)의 내부에는 하부 고무 밀봉링(23)이 내삽되어 미소시험편 고정대 받침대(30)와 더불어 불활성 가스의 누설을 막는 역할을 하게된다. 하부 밀봉판(13)의 위에는 하부 고정판(15)이 끼워지고 3개의 하부 고정볼트(17)에 의하여 서로 체결된다.The micro test piece holder pedestal 30 is firmly installed on the lower fixture 11, and the lower sealing plate 13 communicates with the micro test piece holder pedestal 30 so as to be in contact with the upper surface of the lower fixture 11. . At this time, the lower rubber sealing ring 23 is inserted into the lower sealing plate 13 to serve to prevent leakage of the inert gas together with the micro test piece holder pedestal 30. The lower fixing plate 15 is fitted on the lower sealing plate 13 and fastened to each other by three lower fixing bolts 17.
또한 상부 고정판(14)을 설치하기 위해서는 120°각도로 위치해 있는 3개의 하부 고정판(15)의 구멍에 각각 3개의 지지대(20)가 설치되며 이들 3개의지지대(20)는 하부 고정너트(46)에 의하여 하부 고정판(15)과 체결된다. 지지대(20)의 양쪽은 모두 너트를 이용하여 고정할 수 있는데, 하부 보다는 상부쪽의 나사산이 길게 되어 있어, 높이 조절너트(44)에 의하여 상부 고정판(14)과 하부 고정판(15)의 간격을 조절할 수 있도록 되어있다.In addition, in order to install the upper fixing plate 14, three supports 20 are installed in the holes of the three lower fixing plates 15 which are positioned at an angle of 120 °, and these three supports 20 are the lower fixing nuts 46. By the lower fixing plate 15 is fastened. Both sides of the support 20 can be fixed using a nut, and the upper thread is longer than the lower side, so that the gap between the upper fixing plate 14 and the lower fixing plate 15 is adjusted by the height adjusting nut 44. It is adjustable.
상부 고정판(14)의 상단면에는 상부 밀봉판(12)이 내삽되어지는데 이들은 상부 고정볼트(16)에 의하여 서로 체결된다. 이와 같이 조립된 상부 밀봉판(12)과 상부 고정판(14)은 3개의 지지대(20)의 상부쪽에 연결되기 전에 상부 밀봉판(12)의 내부에 상부 고무 밀봉링(22)이 내삽되는데 역시 불활성 가스의 누설을 막는 역할을 하게 되며, 상부 고정구(10)와 조립된 펀치 누름대(24)가, 상부 밀봉판(12)과 상부 고정판(14)에 연통되어 끼워져야 한다.The upper sealing plate 12 is inserted into the upper surface of the upper fixing plate 14, which is fastened to each other by the upper fixing bolt (16). The upper sealing plate 12 and the upper fixing plate 14 thus assembled are inserted into the upper rubber sealing ring 22 inside the upper sealing plate 12 before being connected to the upper side of the three supports 20. It serves to prevent the leakage of gas, and the punch presser 24 assembled with the upper fixture 10, the upper sealing plate 12 and the upper fixing plate 14 should be fitted in communication.
한편, 소형펀치 지그(21)는 미소시험편 고정대(29) 위에 미소시험편이 위치하도록 되어 있으며, 그 위에 미소시험편 고정덮개(28)로 미소시험편을 고정한 다음 2.4mm 볼을 넣고 펀치(26)가 그 홈에 끼워지도록 되어있는 구조로 구성된다. 이렇게 구성된 소형펀치 지그(21)는 미소시험편 고정대 받침대(30)에 고정된다.On the other hand, the small punch jig 21 is a micro test piece is positioned on the micro test piece holder 29, the micro test piece is fixed with a micro test piece fixing cover 28, and then put a 2.4mm ball and punch 26 It is composed of a structure that is fitted into the groove. The small punch jig 21 configured as described above is fixed to the micro test piece holder pedestal 30.
하부 밀봉판(13)에는 열전대 삽입강관(34)이 연통하여 설치되며 열전대를 집어넣어 미소시험편에 아주 근접하게 설치하고 열전대 삽입강관(34)의 끝을 실리콘으로 밀봉한다. 열전대는 커넥터(38)로 연결하여 장치 해제시 열전대와 연결된 장비가 해제되기 용이하도록 한다. 반대쪽에는 불활성 가스 주입강관(36)이 연통하여 설치되며 이 또한 커넥터(38)를 이용하여 불활성가스 주입관(40)과 연결된다.The thermocouple insert steel pipe 34 is installed in communication with the lower sealing plate 13, and the thermocouple is inserted in close proximity to the micro test piece, and the end of the thermocouple insert steel pipe 34 is sealed with silicon. The thermocouple is connected to the connector 38 to facilitate the release of equipment connected to the thermocouple when the device is released. On the opposite side, an inert gas injection steel pipe 36 is installed in communication with the inert gas injection pipe 40 using the connector 38.
불활성가스 주입관(40)의 앞에는 산소 제거기(50)와 수분 제거기(52)를 설치하여 불활성 가스인 아르곤 가스에 포함된 산소와 수분을 완전히 제거하여 산화요인을 모두 제거할 수 있도록 한다.An oxygen remover 50 and a water remover 52 are installed in front of the inert gas injection tube 40 to completely remove oxygen and moisture contained in the argon gas, which is an inert gas, so that all of the oxidizing factors can be removed.
이제, 소형펀치 지그(21) 위로 수정관(32)을 덮기전에 하부 밀봉판(13)에 하부 테프론 밀봉링(19)을 끼우고 수정관(32)을 덮는다. 상부 밀봉판(12)에 상부 테프론 밀봉링(18)을 끼우고, 조립된 상부 고정구(10), 상부 밀봉판(12) 및 상부 고정판(14)을 3개의 지지대(20)와 상부 고정판(14)의 3개의 구멍이 일치되로록, 수정관이 상부 밀봉판(12)과 정확히 일치되도록, 펀치 누름대(24)가 펀치(26)에 거의 접촉하도록 서서히 내린 다음 높이조절 너트(44)를 고정하고 상부 고정너트(42)를 조여 장치 전체를 고정한다. 테프론 밀봉링(18, 19)과 수정관(32)은 약간의 힘을 주어 신축성이 있는 테프론 밀봉링과 수정관이 밀착하도록 한다.Now, the lower teflon sealing ring 19 is inserted into the lower sealing plate 13 and the quartz tube 32 is covered before covering the quartz tube 32 over the small punch jig 21. The upper teflon sealing ring 18 is inserted into the upper sealing plate 12, and the assembled upper fixture 10, the upper sealing plate 12, and the upper fixing plate 14 are provided with three supports 20 and the upper fixing plate 14. To match the three holes of), slowly lower the punch presser 24 to almost contact the punch 26 so that the quartz tube exactly matches the upper seal plate 12 and then secure the height adjustment nut 44. Tighten the upper fixing nut 42 to fix the whole device. The Teflon sealing rings 18 and 19 and the fertilization tube 32 exert some force to bring the elastic Teflon sealing ring and the fertilization tube into close contact.
고주파 가열장치(48)는 도 1에서 보여지는 바와 같이 수정관(32)의 외부에 위치하게 되며 미소시험편을 이용한 크리프 시험장치의 설치가 완료된다.The high frequency heating device 48 is located outside the quartz tube 32 as shown in FIG. 1 and the installation of the creep test device using the micro test piece is completed.
이하 본 발명에 따른 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치의 작동 및 그 작용모드에 대하여 상세히 설명하고자 한다.Hereinafter will be described in detail the operation and mode of operation of the small punch creep test apparatus using a micro test piece according to the present invention.
실험자는 우선 실험하고자 하는 재료의 미소시험편을 준비한다. 소형펀치에 사용되는 미소시험편의 크기는 10mm×10mm×두께0.5mm 혹은 직경6mm×두께0.5mm 를 사용한다. 이 미소시험편을 미소시험편 고정대(29)에 올려 놓고 그 위를 미소시험편 고정덮개(28)로 덮는다. 이후, 위에서 기술한 방법에 의하여 본 발명에 의한 크리프 시험장치의 설치를 완료시킨다.The experimenter first prepares a micro test piece of the material to be tested. The size of the micro test piece used for the small punch is 10mm × 10mm × 0.5mm in thickness or 6mm in diameter × 0.5mm in thickness. Place this micro test piece on the micro test piece holder 29 and cover it with the micro test piece fixing cover 28. Thereafter, the installation of the creep test apparatus according to the present invention is completed by the method described above.
초기에 수정관(32) 안에는 공기가 존재할 수 밖에 없는데, 이 공기를 불어내기 위하여 불활성 가스인 아르곤 가스를 일정시간 주입하여 공기를 모두 제거한 후에 실험을 실시한다. 수정관(32) 내로 유입되는 아르곤 가스는 실험 내내 산소 제거기(50)와 수분 제거기(52)를 거친후에 수정관 안으로 유입되기 때문에 장시간의 실험에도 완벽하게 미소시험편의 산화를 방지할 수 있다.Initially, air must exist in the crystal tube 32. In order to blow out the air, argon gas, which is an inert gas, is injected for a certain time to remove all the air before the experiment. Argon gas introduced into the crystal tube 32 is introduced into the crystal tube after the oxygen remover 50 and the water remover 52 throughout the experiment, it is possible to completely prevent the oxidation of the micro test piece even in a long time experiment.
이제 실험자는 상ㆍ하부 고정구(10, 11)로 소형펀치 지그(21)내의 미소시험편에 원하는 하중을 가하고, 고주파 가열장치(48)를 사용하여 원하는 실험온도로 수정관(32) 내부를 가열한다. 수정관(32) 내부의 미소시험편 부근의 온도는 열전대 삽입강관(34)을 통하여 미소시험편에 아주 근접하게 설치된 열전대에 의하여 알 수 있다.The experimenter now applies the desired load to the micro test pieces in the small punch jig 21 with the upper and lower fixtures 10 and 11, and heats the inside of the quartz tube 32 using the high frequency heating device 48 to the desired experimental temperature. The temperature in the vicinity of the micro test piece in the crystal tube 32 can be determined by a thermocouple installed in close proximity to the micro test piece through the thermocouple insertion steel pipe 34.
아주 높은 고온 상태에서 이루어지는 크리프 시험의 경우에는 고온에서 견딜 수 있는 수정관(32)을 사용하고 수정관(32)과 시편 고정구를 밀봉하기 위하여 역시 고온에서 견딜 수 있는 테프론 패킹을 만들어 상하에 설치하여 누설을 방지할 수 있다.In the case of the creep test performed at a very high temperature, a crystal tube 32 that can withstand high temperature is used, and a Teflon packing that can withstand high temperature is also made to seal the crystal tube 32 and the specimen fixture, and installed at the top and bottom to prevent leakage. You can prevent it.
결과적으로, 본 발명에 따른 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치에 의하면, 미소시험편이 대기에 노출되지 않게 밀봉되고, 산소 및 수분 제거기를 사용하여 수정관내로 유입되는 불활성 가스내에 포함된 미소량의 산소와 수분을 제거할 수 있어서 미소시험편의 산화를 완벽하게 방지할 수 있는 효과가 있다.As a result, according to the small punch creep test apparatus using the micro test piece according to the present invention, the micro test piece is sealed so as not to be exposed to the atmosphere, and the amount of the minute amount contained in the inert gas introduced into the crystal tube using the oxygen and water remover is used. Oxygen and water can be removed, which can completely prevent the oxidation of micro test pieces.
또한 고주파 가열장치와 열전대의 사용으로 일정한 온도를 유지할 수 있으며, 최소한의 공간을 차지하는 미소시험편을 이용한 소형펀치 크리프 시험장치를얻을 수 있다.In addition, it is possible to maintain a constant temperature by using a high frequency heating device and a thermocouple, and to obtain a small punch creep test device using micro test pieces that occupy a minimum space.
이상에서 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 대해 설명하였지만, 본 기술분야의 당업자라면 첨부된 특허청구범위를 벗어남이 없이 다양한 변형예 및 수정예를 실시할 수 있을 것으로 이해된다.While preferred embodiments of the present invention have been described above, it will be understood by those skilled in the art that various modifications and changes can be made without departing from the scope of the appended claims.
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KR101177429B1 (en) * | 2011-06-27 | 2012-08-28 | 안동대학교 산학협력단 | Small punch testing apparatus under |
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Families Citing this family (5)
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CN109444029A (en) * | 2018-09-30 | 2019-03-08 | 山东省分析测试中心 | A kind of fatigue test environment simulator |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101198392B1 (en) | 2010-07-27 | 2012-11-07 | 케이.엘.이.에스 주식회사 | Creep tester of small punch type |
KR101177429B1 (en) * | 2011-06-27 | 2012-08-28 | 안동대학교 산학협력단 | Small punch testing apparatus under |
KR20160006851A (en) * | 2014-07-09 | 2016-01-20 | 한국표준과학연구원 | Determinating Apparatus, Determinating Method, Analysis System, Analysis Method and Recording Medium of Ultimate Tensile Strength through a Small Punch Test |
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