KR100353864B1 - 표면 검사 장치 및 그 방법 - Google Patents

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Abstract

1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
본 발명은 표면 검사 장치 및 그 방법에 관한 것임.
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
본 발명은 피검사체 표면의 명도가 비균일한 상태 또는 피검사체의 표면에 무늬가 있는 상태에서도 얼룩이나 이물질 등을 검출할 수 있는 표면 검사 장치 및 그 방법과 상기 방법을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 제공하는데 그 목적이 있음.
3. 발명의 해결방법의 요지
본 발명은, 피검사체의 표면 영상을 획득하기 위한 영상 획득 수단; 및 획득된 피검사체의 표면 영상에 대한 명도 변화 크기와 명도 변화 방향을 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 대칭성을 강조하여 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하기 위한 제어 수단을 포함한다.
4. 발명의 중요한 용도
본 발명은 피검사체의 표면 검사 등에 이용됨.

Description

표면 검사 장치 및 그 방법{Surface inspection method and system}
본 발명은 영상 처리 기법을 이용한 시각 검사(visual inspection) 기술에 관한 것으로, 특히 피검사체의 표면 영상을 취득하여 피검사체의 표면에 존재하는 얼룩이나 이물질 등의 자체 내부 대칭성을 이용하여 표면의 명도 변화나 표면의 무늬에 관계없이 얼룩이나 이물질 등을 검출하는 표면 검사 장치 및 그 방법과 상기 방법을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 관한 것이다.
종래에는 입력된 영상에 대해 이치화 기법을 적용하여 얼룩을 검출하는 방법과, 한 화소를 기준으로 하여 그 화소의 명도 값과 이웃 화소들의 명도 값들의 평균값을 기준 화소에 대입하는 평탄화 공간 필터링 기법과 한 화소의 명도와 이웃 화소들의 명도 차이를 부각시키는 공간 필터링 기법을 순차적으로 적용하여 얼룩을 검출하는 방법 등이 있었다.
그러나, 상기와 같은 종래의 얼룩 검출 방법들은 하나의 기준 화소의 명도와 이웃 화소들의 명도의 차이를 기반으로 하여 얼룩을 검출하는 방법들이므로, 피검사체의 표면의 명도가 균일하고 배경에 무늬가 없는 대상에 대해서만 적용이 가능하다. 즉, 종래 방법은 피검사체 표면의 명도가 비균일한 상태(표면 명도가 변화하는 상태)이거나 또는 피검사체 표면에 무늬가 있는 경우에는 적용할 수 없는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로, 피검사체 표면의 명도가 비균일한 상태(표면 명도가 변화하는 상태) 또는 피검사체의 표면에 무늬가 있는 상태에서도 얼룩이나 이물질 등을 검출할 수 있는 표면 검사 장치 및 그 방법과 상기 방법을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 제공하는데 그 목적이 있다.
즉, 본 발명은, 하나의 기준 화소의 명도와 이웃 화소들의 명도의 차이를 기반으로 하여 얼룩을 검출하는 종래의 방법과 달리, 입력된 영상의 화소들의 명도 변화 방향과 명도 변화 크기를 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 자체 내부 대칭성을 강조하여, 피검사체 표면의 명도가 비균일한 상태 또는 피검사체의 표면에 무늬가 있는 상태에서도 얼룩이나 이물질 등을 검출할 수 있는 표면 검사 장치 및 그 방법과 상기 방법을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1 은 본 발명에 따른 표면 검사 장치의 일실시예 구성도.
도 2 는 본 발명에 따른 표면 검사 방법에 대한 일실시예 전체 흐름도.
도 3 은 본 발명에 따른 화소의 명도 변화 크기와 명도 변화 방향을 얻는 과정에 대한 일실시예 상세 흐름도.
도 4 는 본 발명에 따른 얼룩이나 이물질 자체의 대칭성이 부각된 대칭도 맵을 얻는 과정에 대한 일실시예 상세 흐름도.
도 5 는 본 발명에 따른 피검사체 표면의 얼룩 또는 이물질 검출에 사용되는 대칭성에 대한 설명도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
11 : X-Y 테이블 12 : 모터
13 : 얼룩 또는 이물질 14 : 광학적 입력부
15 : 영상 처리부 16 : 주 제어부
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 장치는, 피검사체의 표면을 검사하기 위한 표면 검사 장치에 있어서, 상기 피검사체의 표면 영상을 획득하기 위한 영상 획득 수단; 및 상기 획득된 피검사체의 표면 영상에 대한 명도 변화 크기(the magnitude of the intensity gradient)와 명도 변화 방향(the orientation of the intensity gradient)을 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 대칭성을 강조하여 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하기 위한 제어 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 방법은, 표면 검사 장치에 적용되는 표면 검사 방법에 있어서, 피검사체의 표면 영상을 입력받아 경사 연산자(gradient operator)를 이용하여 화소(pixel)의 명도 변화 크기(the magnitude of the intensity gradient)와 화소의 명도 변화 방향(the orientation of the intensity gradient)을 획득하는 제 1 단계; 상기 제 1 단계에서 획득한 명도 정보를 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 대칭성이 부각된 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 획득하는 제 2 단계; 및 상기 제 2 단계에서 획득한 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 이용하여 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하는 제 3 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 대용량 프로세서를 구비한 표면 검사 장치에, 피검사체의 표면 영상을 입력받아 경사 연산자(gradient operator)를 이용하여 화소(pixel)의 명도 변화 크기(the magnitude of the intensity gradient)와 화소의 명도 변화 방향(the orientation of the intensity gradient)을 획득하는 제 1 기능; 상기 제 1 기능에서 획득한 명도 정보를 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 대칭성이 부각된 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 획득하는 제 2 기능; 및 상기 제 2 기능에서 획득한 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 이용하여 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하는 제 3 기능을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 제공한다.
상술한 목적, 특징들 및 장점은 첨부된 도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통하여 보다 분명해 질 것이다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 일실시예를 상세히 설명한다.
도 1 은 본 발명에 따른 표면 검사 장치의 일실시예 구성도이다.
본 발명에 따른 표면 검사 장치는, 주 제어부(16)의 제어에 따라 구동되어 구동력을 제공하는 모터(motor)(12), 상기 모터(12)에 의해 움직이면서 피검사체의 위치를 이동시키는 X-Y 테이블(Table)(11), 상기 X-Y 테이블(11) 상에 위치하는 피검사체의 표면을 촬영하여 2차원 영상을 얻는 광학적 입력부(14), 상기 광학적 입력부(14)를 통하여 입력되는 영상을 처리하여 상기 주 제어부(16)로 전달하는 영상 처리부(15) 및 피검사체의 표면 영상을 입력받아 경사 연산자(gradient operator)를 이용하여 각 화소(pixel)의 명도 변화 크기(the magnitude of the intensity gradient)와 화소의 명도 변화 방향(the orientation of the intensity gradient)을 얻은 후에, 상기 두 가지 정보를 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 자체 내부 대칭성이 부각된 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 얻어, 얼룩이나 이물질 등을 검출하는 주 제어부(16)를 포함한다.
여기서, 상기 X-Y 테이블(11)은 피검사체의 표면 영상을 한 장의 영상으로 모두 입력받지 못할 경우에, 필요한 해상도의 전체 표면 영상을 입력받기 위해 필요한 수단이다. 즉, 피검사체를 일축 또는 이축으로 이동시키면서 전체 표면 영역을 여러 구역으로 나누어 여러 장의 표면 영상으로 입력받을 수 있도록 함으로써, 고해상도의 전체 표면 영상을 입력받을 수 있도록 해준다.
그리고, 상기 표면 검사 장치의 상세한 동작은 후술되는 도 2 이하를 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 2 는 본 발명에 따른 표면 검사 방법에 대한 일실시예 전체 흐름도이다.
먼저, X-Y 테이블(11)과 광학적 입력부(14)와 영상 처리부(15)를 통하여 피검사체의 표면 영상을 입력받아(21), 경사 연산자(gradient operator)를 이용하여 각 화소(pixel)의 명도 변화 크기(the magnitude of the intensity gradient)와 화소의 명도 변화 방향(the orientation of the intensity gradient)을 획득한다(22).
이후, 상기 획득한 두 가지 명도 정보를 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 자체 내부 대칭성이 부각된 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 획득한다(23).
이때, 얼룩이나 이물질 등은 어떠한 형태이던지 배경 영역에 비해 높은 대칭성을 가지므로, 상기와 같은 과정을 통해 얻은 대칭도 맵에서 높은 대칭도가 존재하는 영역이 얼룩이나 이물질이 존재하는 위치를 나타낸다. 따라서, 상기 획득한 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 존재 유무를 검출하여 출력한다(24).
도 3 은 본 발명에 따른 화소의 명도 변화 크기와 명도 변화 방향을 얻는 과정(22)에 대한 일실시예 상세 흐름도이다.
먼저, 한 화소를 기준으로 하여 그 기준 화소의 옆쪽에 존재하는 화소의 명도 차이 값(x 방향 명도 변화 값)과 상기 기준 화소의 아래쪽 또는 위쪽에 존재하는 화소의 명도 차이 값(y 방향 명도 변화 값)의 평균제곱근(root mean square)을 취하여 화소의 명도 변화 크기를 구한다(31).
그리고, 상기 두 개의 명도 차이 값(x 방향 및 y 방향 명도 변화 값)을 2차원 공간 상에서 벡터로 표현하였을 때, 상기 두 벡터의 곱으로 구해지는 새로운 벡터의 방향을 화소의 명도 변화 방향으로 취한다(32).
상기와 같은 과정을 통하여 얻어진 표면 영상의 각 화소의 명도 변화 크기와 명도 변화 방향은 한 화소를 중심으로 형성되는 대칭도를 측정하는 기본 자료로 사용되어 진다.
도 4 는 본 발명에 따른 얼룩이나 이물질 자체의 대칭성이 부각된 대칭도 맵을 얻는 과정(23)에 대한 일실시예 상세 흐름도이다.
먼저, 각 화소를 기준으로 하여 찾고자 하는 얼룩이나 이물질의 최대 크기 만큼의 일정 영역 안에서 대칭 위치에 존재하는 화소들, 즉 대칭 쌍(pair)들의 대칭 기여도(symmetry contribution)를 누적하여 그 화소를 중심으로 한 영역의 대칭도(symmetry magnitude)를 측정하고(41), 이러한 각 화소에 대한 대칭도를 2차원 영상 좌표에 사상(mapping)시켜 대칭도 맵을 획득한다(42).
이러한 대칭도 맵을 얻는 과정을 통하여 표면에 존재하는 얼룩이나 이물질 등의 대칭성을 부각시켜 주어서 그들의 존재 여부와 좌표를 알려줄 수 있다.
한편, 상기 대칭 쌍에 의한 대칭 기여도(symmetry contribution)는 아래의 5개 항의 곱으로써 구할 수 있다.
첫 번째 항은 거리 가중 함수(distance weight function) 역할을 하는 것으로서, 대칭 쌍의 두 화소의 거리가 멀수록 작은 값을 가지고, 두 화소의 거리가 가까울수록 큰 값을 가진다. 다음의 (수식식 1)은 이와 같은 역할을 할 수 있는 하나의 예를 나타낸다.
상기 (수학식 1)에서 pi와 pj는 위치 (xi, yi)와 (xj,yj)에서의 화소 명도 변화 크기를, σ2은 누적시키고자 하는 영역의 크기를 의미한다.
두 번째 항은 위상 가중 함수(phase weight function)의 역할을 하는 것으로서, 대칭 쌍의 두 화소의 명도 변화 방향이 서로 반대 방향일수록 높은 값을 가지고, 명도 변화 방향이 비슷할수록 낮은 값을 가진다. 제일 큰 값을 가질 때는 대칭 쌍의 두 화소의 명도 변화 방향이 정확히 반대 방향일 때이며, 명도 변화 방향이 완전히 일치할 때 0의 값을 가진다. 다음의 (수식식 2)는 이와 같은 역할을 할 수 있는 하나의 예를 나타낸다.
상기 (수학식 2)에서 θi와 θj는 화소 pi와 pj의 명도 변화 방향을, αij는 화소 pi와 pj를 연결하는 직선이 수평선과 이루는 각도를 의미한다.
세 번째 항은 대칭 쌍의 두 화소의 명도 변화 크기의 곱이다.
네 번째 항과 다섯 번째 항은 화소의 명도 변화 방향을 이용하여 배경 무늬가 존재하는 영역에서 무늬에 의한 대칭 기여도가 나타나지 않도록 하기 위한 항이다.
네 번째 항은 대칭 쌍의 화소의 명도 변화 방향이 서로 수렴하는 방향이면 a, 서로 발산하는 방향이면 -a 값을 가진다. 여기서, a라고 하는 것은 임의의 실수를 의미한다.
다섯 번째 항은 대칭 쌍의 화소의 명도 변화 방향이 같은 방향이면 α, 다른 방향이면 β값을 가진다. 단, β 〉2α를 만족해야 한다.
상기 첫 번째 항, 두 번째 항 및 세 번째 항의 역할은, 대칭 쌍의 두 화소의 명도 변화 방향이 대칭일수록, 두 화소의 거리가 가까울수록, 두 화소의 명도 변화 크기가 클수록 큰 값을 가지게 된다. 대부분의 얼룩이나 이물질 등은 대칭성이 강하므로, 즉 얼룩이나 이물질 등의 내부점에서 높은 대칭도가 나타나므로 이러한 대칭점을 구함으로써 얼룩이나 이물질 등을 검출할 수 있게 된다.
그러나, 이와 같은 세 개의 항만을 이용할 때에는 배경의 명도가 변하는 경우에도 얼룩이나 이물질 등을 검출할 수 있지만, 배경에 무늬결이 존재하는 경우에는 무늬결에 의한 대칭 기여도가 누적되어 얼룩이나 이물질만을 검출할 수 없게 된다.
따라서, 다음과 같은 네 번째 항과 다섯 번째 항의 동작 특성을 이용하여야 한다. 도 5 에서 무늬를 가지는 배경 영역(301과 302로 이루어지는 영상)에서는 배경 무늬결들은 인접하여 존재하고, 하나의 무늬 영역을 기준으로 생각할 때(예로써309와 310에 해당되는 영역), 무늬결 내부에서의 화소의 명도 변화 방향은 바깥으로 발산하는 방향(310)이며, 인접한 무늬결 영역에 해당하는 화소의 명도 변화 방향은 수렴하는 방향(309)이므로, 두 개의 대칭 쌍에 의한 대칭 기여도는 부호가 다르게 되어 대칭도에는 누적되지 않는다. 따라서, 배경 영역의 무늬결을 얼룩이나 이물질 등으로 검출하지 않게 된다.
그에 반해, 얼룩이나 이물질 영역(303, 304)에서는 화소의 명도 변화 방향이 배경보다 어두운 경우(303)에는 얼룩이나 이물질 내부로 수렴(305, 306)하는 방향이며, 배경보다 밝은 경우에는 외부로 발산(307, 308)하는 방향이다. 따라서, 얼룩이나 이물질 영역에서는 대칭 기여도가 계속 누적되어 높은 대칭도를 가지게 되어 얼룩이나 이물질 등의 존재 유무가 검출되게 된다.
이처럼 상기 다섯 개의 항을 모두 곱하여 대칭 기여도를 구하게 되면 배경의 명도 변화에 상관없이 그리고 배경의 무늬결이 존재하는 경우에도 얼룩이나 이물질 등을 검출할 수 있게 된다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
상기와 같은 본 발명은, 피검사체 표면의 명도가 균일하지 않거나 무늬를 가지는 피검사체에 대해서도 표면에 존재하는 얼룩이나 이물질 등을 검출할 수 있는 효과가 있다.
이에 따라 본 발명은, 엘시디(LCD) 판넬뿐만 아니라 그의 뒤에서 발광하는 백 라이트 유닛(Back Light Unit) 등과 같은 부품에 대해서도 표면 시각 검사를 할 수 있게 되어, 종래의 방법보다 다양한 피검사체에 대해서 적용 가능하다.

Claims (11)

  1. 피검사체의 표면을 검사하기 위한 표면 검사 장치에 있어서,
    상기 피검사체의 표면 영상을 획득하기 위한 영상 획득 수단; 및
    상기 획득된 피검사체의 표면 영상에 대한 명도 변화 크기(the magnitude of the intensity gradient)와 명도 변화 방향(the orientation of the intensity gradient)을 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 대칭성을 강조하여 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하기 위한 제어 수단
    을 포함하는 표면 검사 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어 수단은,
    상기 피검사체의 표면 영상을 입력받아 경사 연산자(gradient operator)를 이용하여 각 화소(pixel)의 명도 변화 크기와 화소의 명도 변화 방향을 획득한 후에, 상기 획득한 두 가지 명도 정보를 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 자체 내부 대칭성이 부각된 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 얻어 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하는 것을 특징으로 하는 표면 검사 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 제어 수단이 명도 변화 크기와 명도 변화 방향을 획득하는 과정은,
    소정의 화소를 기준으로 하여 그 기준 화소의 옆쪽에 존재하는 화소의 명도 차이 값과 상기 기준 화소의 아래쪽 또는 위쪽에 존재하는 화소의 명도 차이 값의 평균제곱근(root mean square)을 취하여 화소의 명도 변화 크기를 구한 후에, 상기 두 개의 명도 차이 값의 벡터 곱으로 구해지는 새로운 벡터의 방향을 화소의 명도 변화 방향으로 취하는 것을 특징으로 하는 표면 검사 장치.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 제어 수단이 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 획득하는 과정은,
    대칭 쌍(pair)들의 대칭 기여도(symmetry contribution)를 누적하여 대칭도(symmetry magnitude)를 측정하고, 각 화소에 대한 상기 대칭도를 영상 좌표에 사상(mapping)시켜 대칭도 맵을 획득하는 것을 특징으로 하는 표면 검사 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 대칭 기여도는,
    배경의 명도 변화나 배경 무늬에 상관없이 얼룩이나 이물질 등에 의한 대칭 기여도만이 누적되도록 하기 위하여, 거리 가중 함수(distance weightingfunction), 위상 가중 함수(phase weighting function), 대칭 쌍의 두 화소의 명도 변화 크기의 곱, 대칭 쌍의 화소의 명도 변화 방향이 수렴하는지 발산하는지에 대한 값 및 대칭 쌍의 화소의 명도 변화 방향이 동일방향인지 타방향인지에 대한 값을 곱하여 구하는 것을 특징으로 하는 표면 검사 장치.
  6. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 영상 획득 수단은,
    상기 제어 수단의 제어에 따라 구동되어 구동력을 제공하기 위한 구동력 제공 수단;
    상기 구동력 제공 수단에 의해 움직이면서 상기 피검사체의 위치를 이동시키기 위한 이동 수단;
    상기 이동 수단 상에 위치하는 상기 피검사체의 표면을 촬영한 영상을 입력하기 위한 영상 입력 수단; 및
    상기 영상 입력 수단을 통하여 입력되는 영상을 전처리하기 위한 영상 처리 수단
    을 포함하는 표면 검사 장치.
  7. 표면 검사 장치에 적용되는 표면 검사 방법에 있어서,
    피검사체의 표면 영상을 입력받아 경사 연산자(gradient operator)를 이용하여 화소(pixel)의 명도 변화 크기(the magnitude of the intensity gradient)와 화소의 명도 변화 방향(the orientation of the intensity gradient)을 획득하는 제 1 단계;
    상기 제 1 단계에서 획득한 명도 정보를 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 대칭성이 부각된 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 획득하는 제 2 단계; 및
    상기 제 2 단계에서 획득한 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 이용하여 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하는 제 3 단계
    를 포함하는 표면 검사 방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 제 1 단계는,
    상기 피검사체의 표면 영상을 입력받는 제 4 단계;
    소정의 한 화소를 기준으로 하여 그 기준 화소의 옆쪽에 존재하는 화소의 명도 차이 값과 상기 기준 화소의 아래쪽 또는 위쪽에 존재하는 화소의 명도 차이 값의 평균제곱근(root mean square)을 취하여 화소의 명도 변화 크기를 구하는 제 5 단계; 및
    상기 제 5 단계에서 구한 두 개의 명도 차이 값의 벡터 곱으로 구해지는 새로운 벡터의 방향을 화소의 명도 변화 방향으로 취하는 제 6 단계
    를 포함하는 표면 검사 방법.
  9. 제 7 항 또는 제 8 항에 있어서,
    상기 제 2 단계는,
    상기 소정의 화소를 기준으로 하여 찾고자 하는 얼룩이나 이물질의 최대 크기 만큼의 일정 영역 안에서 대칭 위치에 존재하는 화소들인 대칭 쌍(pair)들의 대칭 기여도(symmetry contribution)를 누적하여 상기 기준 화소를 중심으로 한 영역의 대칭도(symmetry magnitude)를 측정하는 제 7 단계; 및
    각 화소에 대한 대칭도를 영상 좌표에 사상(mapping)시켜 대칭도 맵을 획득하는 제 8 단계
    를 포함하는 표면 검사 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 대칭 기여도는,
    배경의 명도 변화나 배경 무늬에 상관없이 얼룩이나 이물질 등에 의한 대칭 기여도만이 누적되도록 하기 위하여, 거리 가중 함수(distance weighting function), 위상 가중 함수(phase weighting function), 대칭 쌍의 두 화소의 명도 변화 크기의 곱, 대칭 쌍의 화소의 명도 변화 방향이 수렴하는지 발산하는지에 대한 값 및 대칭 쌍의 화소의 명도 변화 방향이 동일방향인지 타방향인지에 대한 값을 곱하여 구하는 것을 특징으로 하는 표면 검사 방법.
  11. 대용량 프로세서를 구비한 표면 검사 장치에,
    피검사체의 표면 영상을 입력받아 경사 연산자(gradient operator)를 이용하여 화소(pixel)의 명도 변화 크기(the magnitude of the intensity gradient)와 화소의 명도 변화 방향(the orientation of the intensity gradient)을 획득하는 제 1 기능;
    상기 제 1 기능에서 획득한 명도 정보를 이용하여 얼룩이나 이물질 등의 대칭성이 부각된 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 획득하는 제 2 기능; 및
    상기 제 2 기능에서 획득한 대칭도 맵(symmetry magnitude map)을 이용하여 상기 얼룩이나 이물질 등을 검출하는 제 3 기능
    을 실현시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체.
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