KR100317638B1 - Polysilicon-thin film transister device and A method of fabricating the same - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체층이 폴리실리콘으로 형성된 스위치소자에 관한 것으로 더욱 상세히 설명하면, 반도체층인 폴리실리콘층 표면의 미세구조를 평탄하게 형성한 박막트랜지스터에 관한 것이다.The present invention relates to a switch device in which the semiconductor layer is formed of polysilicon. In more detail, the present invention relates to a thin film transistor in which the microstructure of the surface of the polysilicon layer, which is the semiconductor layer, is formed flat.
상기 박막트랜지스터는 폴리실리콘층을 반도체층으로 형성하는데 있어서, 상기 폴리실리콘층을 구성하는 그레인과 그레인바운더리 중 그레인에 비해 평탄하지 않은 그레인바운더리부분을 선택적으로 식각함에 있어서, 상기 그레인바운더리부분의 하부 절연층을 소정 깊이만큼 더욱 식각함으로써 홈을 형성하여, 바운더리부분이 식각된 폴리실리콘층을 레이저 멜팅하여 재 어닐링하는 과정에서 형성되는 그레인바운더리 부분이 상기 홈에 함몰되어 형성되기 때문에 평탄하게 결정화된 폴리실리콘층을 얻을 수 있다.In the thin film transistor, in forming the polysilicon layer as a semiconductor layer, in the selective etching of the grain boundary portion that is not flat compared to the grains of the grain and the grain boundary constituting the polysilicon layer, the lower insulation of the grain boundary portion The grooves are formed by further etching the layer by a predetermined depth, so that the grain boundary portion formed in the process of laser melting and re-annealing the polysilicon layer in which the boundary portion is etched is formed in the groove so that the polysilicon is crystallized smoothly. A layer can be obtained.
따라서, 반도체층과 절연막간의 계면에 생길 수 있는 계면 부정합에 의한 전자의 트랩준위를 제거함으로써 소자의 개선된 동작특성을 얻을 수 있고, 평탄하지않은 표면으로 인해 소자의 동작특성을 저해하는 백채널효과를 줄일수 있다.Therefore, the improved operating characteristics of the device can be obtained by eliminating the trapping level of electrons due to the interface mismatch that may occur at the interface between the semiconductor layer and the insulating film, and the back channel effect that hinders the operating characteristics of the device due to the uneven surface. Can be reduced.
또한, 평탄하지 않은 반도체층의 표면에 의해 발생할 수 있는 절연층의 전기적인 파괴로 인한 소자의 쇼트를 방지하여 제품의 수율을 높일 수 있는 효과가 있다.In addition, there is an effect that can prevent the short circuit of the device due to the electrical breakdown of the insulating layer that can be caused by the surface of the uneven semiconductor layer to increase the yield of the product.
Description
본 발명은 폴리실리콘으로 형성한 활성층을 갖는 박막트랜지스터에 관한 것으로, 특히 박막트랜지스터의 반도체층을 흐르는 전하의 전계효과 이동도를 향상시킬 뿐만 아니라, 오프커런트 특성을 낮추고 백 채널효과(back channel effect)를 줄일 수 있는 박막트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a thin film transistor having an active layer formed of polysilicon. In particular, the present invention not only improves the field effect mobility of the charge flowing through the semiconductor layer of the thin film transistor, but also reduces the off-current characteristics and the back channel effect. It relates to a thin film transistor and a method for manufacturing the same can be reduced.
일반적으로, 박막트랜지스터(Thin Film Transistor ; 이하, TFT라고 칭함)를 구성하는 요소중 활성층(Active layer)인 반도체층은 결정 격자의 주기성이 없는 수소를 포함한 비정질 실리콘을 사용하거나, 다결정 고체인 폴리실리콘을 사용한다.In general, the semiconductor layer, which is an active layer among the elements constituting a thin film transistor (hereinafter, referred to as TFT), uses amorphous silicon containing hydrogen having no periodicity of crystal lattice, or polysilicon which is a polycrystalline solid. Use
이때, 스위치소자의 반도체층을 수소를 포함한 비정질 실리콘을 사용할 경우에 특히 빛에 노출된다면 광전변환에 의해 포토 커런트가 발생하여 스위치소자의 동작에 치명적인, 오프상태에서의 누설전류로써 작용을 하게 된다.In this case, in the case of using amorphous silicon containing hydrogen as the semiconductor layer of the switch element, especially when exposed to light, photocurrent is generated by photoelectric conversion, which acts as a leakage current in the off state, which is fatal to the operation of the switch element.
그러나, 반도체층이 빛에 노출되지 않도록 하여도 비정질 실리콘 특유의 비 주기적 격자특성인 댕글링 본드(Dangling bond)와 같은 디펙트(defect)가 많이 형성되고 전자의 흐름이 원활하지 못하여 소자의 동작특성이 좋지 않다.However, even when the semiconductor layer is not exposed to light, many defects such as dangling bonds, which are peculiar to amorphous silicon, are formed. This is not good.
이에 반해 상기 비정질 실리콘에 비해 표면에 디펙트가 적은 폴리실리콘을 반도체층으로 사용할 경우 박막트랜지스터의 동작속도는 상기 비정질 실리콘의 반도체층에 비해 약 100 ∼200배 빠르다.In contrast, when polysilicon having fewer defects on the surface of the silicon is used as the semiconductor layer, the operating speed of the thin film transistor is about 100 to 200 times faster than that of the semiconductor layer of the amorphous silicon.
이러한 폴리실리콘층을 반도체층으로 사용한 스위치 박막트랜지스터는 굉장히 빠른 동작특성을 보임으로 외부의 고속구동 집적회로와 연동 하여 충분히 동작할 수 있음으로 대면적의 액정표시소자와 같은 실시간의 화상정보를 표시하는 장치에 알맞은 스위치 소자가 될 것이다.The switch thin film transistor using the polysilicon layer as a semiconductor layer exhibits extremely fast operation characteristics and can operate in conjunction with an external high-speed driving integrated circuit to display real-time image information such as a large area liquid crystal display device. It will be a suitable switch element for the device.
이러한 폴리실리콘층은 일반적으로 비정질 실리콘을 레이저로 결정화하여 형성하며, 그레인과 그레인바운더리로 구성된다.Such a polysilicon layer is generally formed by crystallizing amorphous silicon with a laser, and is composed of grain and grain boundaries.
도 1a 내지 도 1c는 종래의 반도체층을 폴리실리콘으로 형성한 박막트랜지스터의 제조공정을 나타낸 단면도이다.1A to 1C are cross-sectional views illustrating a manufacturing process of a thin film transistor in which a conventional semiconductor layer is formed of polysilicon.
기판(21)위에 실리콘산화막(SiO2), 실리콘질화막(SiNX), 알루미늄 산화막 (Al2O3)의 절연물질 중 하나가 선택되고 증착되어 얇은 절연층을 형성한다.One of an insulating material of a silicon oxide film (SiO 2 ), a silicon nitride film (SiN X ), and an aluminum oxide film (Al 2 O 3 ) is selected and deposited on the substrate 21 to form a thin insulating layer.
상기 절연층은 기판과 추후 형성될 반도체층과의 완충역할을 하여 기판과 반도체층사이의 비균일성 접촉에 의해 발생할 수 있는 뒤틀림 등을 방지하는 기능을 한다.The insulating layer functions as a buffer between the substrate and the semiconductor layer to be formed later, thereby preventing warpage or the like, which may occur due to non-uniform contact between the substrate and the semiconductor layer.
도 1a에 도시한 바와 같이 상기 절연층(미도시)을 증착한 후 수소를 포함한 비정질 실리콘을 증착하고 반도체층(23)을 형성한다.As shown in FIG. 1A, after depositing the insulating layer (not shown), amorphous silicon including hydrogen is deposited to form a semiconductor layer 23.
이때, 스위치소자로 사용되는 박막트랜지스터의 반도체층(23)은 일반적으로 비정질 실리콘의 결정화에 의해 폴리실리콘이 형성됨으로써 반도체층(23)이 만들어 지게 된다.In this case, in the semiconductor layer 23 of the thin film transistor used as the switch element, polysilicon is generally formed by crystallization of amorphous silicon, thereby forming the semiconductor layer 23.
상기 비정질 실리콘을 증착한 후, 비정질 실리콘을 폴리실리콘으로 결정화하기위해 소정의 단계와 방법을 거쳐 비정질 실리콘이 폴리실리콘으로 결정화 된다.After depositing the amorphous silicon, the amorphous silicon is crystallized into polysilicon through predetermined steps and methods to crystallize the amorphous silicon into polysilicon.
상기 폴리실리콘은 그레인과 그레인바운더리로 구성된 다수개의 실리콘결정이 연속적으로 형성된 결과이다.The polysilicon is a result of the continuous formation of a plurality of silicon crystals composed of grain and grain boundaries.
전술한 바와같이, 반도체층(23)을 형성하고 이를 다시 아일랜드 형태로 패터닝한 후 도 1b에 도시한 바와같이, 반도체층(23)과 추후 형성될 도전성 막과의 접촉저항을 낮추기 위해 n+비정질 실리콘 또는 p+비정질 실리콘을 증착하고 패터닝하여 옴익콘택층(미도시)을 형성한다.As described above, after forming the semiconductor layer 23 and patterning it again in an island form, as shown in FIG. 1B, in order to lower contact resistance between the semiconductor layer 23 and the conductive film to be formed later, n + amorphous silicon. Or p + amorphous silicon is deposited and patterned to form an ohmic contact layer (not shown).
상기 옴익콘택층(미도시)을 형성한 후, 알루미늄(Al), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo), 니켈(Ni), 탄탈륨(Ta)등의 도전성 금속을 증착하고 패터닝하여 상기 옴익콘택층(미도시)과 평면적으로 겹쳐지고, 소정의 간격으로 대응되어 형성되도록 소스전극(25a)과 드레인전극(25b)을 형성한다.After forming the ohmic contact layer (not shown), the ohmic contact layer is formed by depositing and patterning a conductive metal such as aluminum (Al), tungsten (W), molybdenum (Mo), nickel (Ni), and tantalum (Ta). The source electrode 25a and the drain electrode 25b are formed so as to overlap the plane (not shown) and correspond to each other at predetermined intervals.
상기 소스전극(25a)과 드레인전극(25b)을 형성한 후, 상기 소스/드레인전극 (25a)(25b)과 상기 소스전극(25a)과 드레인전극(25b)사이에 노출된 반도체층(23)위에 실리콘산화막(SiO2), 실리콘질화막(SiNX), 알루미늄 산화막(AlO2)의 절연물질 중 하나를 선택하고 증착하여 절연층(27)을 형성한다.After the source electrode 25a and the drain electrode 25b are formed, the semiconductor layer 23 exposed between the source / drain electrodes 25a and 25b and the source electrode 25a and the drain electrode 25b. The insulating layer 27 is formed by selecting and depositing one of insulating materials of a silicon oxide film (SiO 2 ), a silicon nitride film (SiN X ), and an aluminum oxide film (AlO 2 ).
상기 절연층(27)을 형성한 후, 도 2c에 도시한 바와 같이 알루미늄(Al), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo), 니켈(Ni), 탄탈륨(Ta)등의 도전성 금속을 증착하고 패터닝하여 상기 소스전극(25a)과 드레인전극(25b)사이에 노출된 반도체층(23)의 상부에게이트전극(29)을 형성한다.After the insulating layer 27 is formed, conductive metals such as aluminum (Al), tungsten (W), molybdenum (Mo), nickel (Ni), and tantalum (Ta) are deposited and patterned as shown in FIG. 2C. The gate electrode 29 is formed on the semiconductor layer 23 exposed between the source electrode 25a and the drain electrode 25b.
한편, 도 2는 전술한 상기 도 1c의 A부분을 확대한 확대도로서 비정질 실리콘이 폴리실리콘으로 결정화된 반도체층(23)과 상기 절연층(27)과의 계면(Interface)을 도시한 것이다.FIG. 2 is an enlarged view of the above-described portion A of FIG. 1C and illustrates an interface between the semiconductor layer 23 in which amorphous silicon is crystallized from polysilicon and the insulating layer 27.
결과적으로, 평탄하게 성장되는 그레인(24)에 비해 그레인바운더리(26)는 위로 솟은 모양으로 형성되며, 이와 같이 그레인바운더리(26)의 미세하게 돌출된 형상은 전자의 흐름을 방해하는 트랩준위가 되어 반도체층에서 전류의 손실이 발생하게 되고, 또한 이러한 형태의 반도체층(23)위에 절연층(27)을 증착하게 된다면 폴리실리콘 위에 형성된 절연층(27)의 두께는 일정하지 않게 형성된다.As a result, the grain boundary 26 is formed to have a shape that rises upwardly compared to the grain 24 growing flat, and thus the finely projected shape of the grain boundary 26 becomes a trap level that prevents the flow of electrons. If a current loss occurs in the semiconductor layer, and the insulating layer 27 is deposited on the semiconductor layer 23 of this type, the thickness of the insulating layer 27 formed on the polysilicon is not constant.
따라서, 절연막의 부분 중 얇게 증착된 부분은 작은 전류값에도 쉽게 절연파괴를 일으킬 것이고, 결과적으로 소자내에서 쇼트(short)가 발생하여 소자가 파괴되는 원인이 된다.Therefore, a thinly deposited portion of the insulating film will easily cause breakdown even at a small current value, and as a result, a short occurs in the device and causes the device to be destroyed.
또한, 절연층(27)을 얇게 성장시킬 경우 상기 그레인바운더리(26)부분은 절연물질이 증착되지 않게되고, 이러한 상황에서 전류를 흘려 준다면 소자의 전기적인 파괴는 쉽게 예상 할 수 있다.In addition, when the insulating layer 27 is thinly grown, the grain boundary 26 is not deposited with an insulating material, and in such a situation, if electric current is passed, electrical destruction of the device can be easily expected.
더우기, 폴리실리콘의 결정화동안 상기 그레인바운더리(26)의 형상은 제어하기 어렵기 때문에 종래에는 그레인바운더리(26)로 인해 소자가 파괴되는 것을 막고, 절연층(27)의 표면을 평탄화 하기 위해 절연층을 두껍게 증착하는 방법을 사용하고 있다.Furthermore, since the shape of the grain boundary 26 is difficult to control during the crystallization of polysilicon, the insulating layer is conventionally used to prevent the device from being destroyed by the grain boundary 26 and to planarize the surface of the insulating layer 27. The thick deposition method is used.
그러나, 종래의 방법은 절연파괴로 인한 소자의 불량을 막을수는 있으나, 그레인바운더리에 의한 전자의 트랩준위 문제나, 절연층과 반도체층간의 평탄화 문제또는 두껍게 쌓아올린 절연층에 의한 소자의 동작특성 저하 등이 문제점으로 남아있다.However, the conventional method can prevent the failure of the device due to breakdown, but the problem of trap level of electrons due to grain boundary, planarization between the insulating layer and the semiconductor layer, or deterioration of the operation characteristics of the device due to a thick stacked insulating layer Etc. remains a problem.
따라서, 본 발명은 반도체층과 절연층의 계면을 평탄화함으로써, 절연층의 두께를 줄이고 반도체층에 흐르는 전자에 대한 트랩준위를 제거하여 소자의 신뢰성을 높이고 개선된 동작특성을 얻는데 그 목적이 있다.Accordingly, an object of the present invention is to planarize the interface between the semiconductor layer and the insulating layer, thereby reducing the thickness of the insulating layer and eliminating trap levels for electrons flowing through the semiconductor layer, thereby increasing the reliability of the device and obtaining improved operating characteristics.
도 1a 내지 1c는 종래의 박막트랜지스터 제조공정을 나타낸 단면도이고,1A to 1C are cross-sectional views illustrating a conventional thin film transistor manufacturing process.
도 2는 도 1c의 A부분을 확대한 확대도이고,2 is an enlarged view illustrating an enlarged portion A of FIG. 1C;
도 3은 박막트랜지스터의 부분적인 공정단면도이고,3 is a partial cross-sectional view of a thin film transistor,
도 4a는 폴리실리콘표면의 평면도이고,4A is a plan view of a polysilicon surface,
도 4b는 폴리실리콘표면의 단면도이고,4B is a cross-sectional view of the polysilicon surface,
도 5a는 본 발명에 따른 폴리실리콘 표면의 식각상태를 나타낸 평면도이고,Figure 5a is a plan view showing the etching state of the surface of the polysilicon according to the present invention,
도 5b는 본 발명에 따른 폴리실리콘 표면의 식각상태를 나타낸 단면도이고,5B is a cross-sectional view illustrating an etching state of a polysilicon surface according to the present invention;
도 5c는 본 발명에 따라 평탄화된 폴리실리콘의 단면도이고,5C is a cross sectional view of a planarized polysilicon in accordance with the present invention;
도 6은 박막트랜지스터의 단면도이다.6 is a cross-sectional view of a thin film transistor.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
119 : 그레인바운더리 123 : 각 그레인바운더리의 접합부119: grain boundary 123: junction of each grain boundary
113 : 반도체층113: semiconductor layer
전술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 반도체소자의 제조방법은 기판을 구비하는 단계와; 상기 기판 위에 절연물질을 증착하고 절연층을 형성하는 단계와; 상기 절연층 위에 비정질 실리콘을 증착하는 단계와; 상기 비정질 실리콘을 어닐링하여 그레인과 그레인바운더리로 구성되는 폴리실리콘으로 결정화 하는 단계와; 상기 그레인바운더리 부분과 그 하부 절연층의 소정의 깊이까지 식각하여 홈을 형성하는 단계와; 상기 그레인바운더리 부분이 식각된 폴리실리콘을 소정의 수단으로 멜팅하고 상기 식각된 홈으로 그레인바운더리부분이 함몰하여 표면이 평탄한 폴리실리콘층인 반도체층이 형성되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a method of manufacturing a semiconductor device according to the present invention comprises the steps of providing a substrate; Depositing an insulating material on the substrate and forming an insulating layer; Depositing amorphous silicon on the insulating layer; Annealing the amorphous silicon to crystallize it into polysilicon composed of grain and grain boundaries; Etching a portion of the grain boundary and a lower insulating layer to form a groove; And melting the polysilicon etched by the grain boundary portion by a predetermined means and forming a semiconductor layer which is a polysilicon layer having a flat surface by recessing the grain boundary portion into the etched groove.
바람직하게는, 상기 비정질 실리콘을 폴리실리콘으로 결정화하는 단계에서탈 수소화과정을 더욱 포함하는것을 특징으로 한다Preferably, the method further comprises dehydrogenation in the step of crystallizing the amorphous silicon with polysilicon.
바람직하게는 상기 비정질 실리콘을 폴리실리콘으로 결정화 하는 수단과 폴리실리콘을 멜팅하고 식각된 홈으로 그레인바운더리 부분이 함몰하여 표면을 평타s화 하는 수단은 이온빔 방법, 레이저어닐링방법 중 하나인 것을 특징으로 한다.Preferably, the means for crystallizing the amorphous silicon with polysilicon and the means for melting the polysilicon and recessing the grain boundary into the etched groove to flatten the surface are one of an ion beam method and a laser annealing method. .
바람직하게는 상기 그레인바운더리 부분을 식각할 때 사용하는 에칭용액은 소정의 비율로 희석된 써틀, 데쉬, 세코, 쉐멜, 젠킨슨 중 하나인 것을 특징으로 한다.Preferably, the etching solution used to etch the grain boundary portion is characterized in that it is one of a circle, a dash, a saco, a chemistry, a Jenkinson diluted in a predetermined ratio.
본 발명의 다른 특징에 따른 박막트랜지스터 제조방법은 기판을 구비하는 단계와; 상기 기판 위에 절연물질을 증착하고 제 1 절연층을 형성하는 단계와; 상기 절연층 위에 비정질 실리콘을 증착하는 단계와; 상기 비정질 실리콘을 어닐링하여 그레인과 그레인바운더리로 구성되는 폴리실리콘으로 결정화 하는 단계와; 상기 그레인바운더리 부분과 그 하부 절연층의 소정의 깊이까지 식각하여 홈을 형성하는 단계와; 상기 그레인바운더리 부분이 식각된 폴리실리콘을 소정의 수단으로 멜팅하고 상기 식각된 홈으로 그레인바운더리부분이 함몰하여 표면이 평탄한 폴리실리콘층으로 재 결정화 하는 단계와; 상기 폴리실리콘층을 패터닝하고 아일랜드 형태로 식각하여 반도체층을 형성하는 단계와; 상기 반도체층 위에 절연물질을 증착하여 0제 2 절연층을 형성하는 단계와; 상기 제 2 절연층 위에 도전성 금속을 증착하여 금속전극층을 형성하는 단계와; 상기 제 2 절연층과 금속전극층을 동시에 패터닝하여 상기 반도체층의 양측이 서로 이격되어 노출되도록 식각하여 게이트절연층과 게이트전극을 형성하는 단계와; 상기 서로 이격되어 노출된 반도체층의 양측에 n형또는 p형의 반도전성물질을 이온도핑하여 소스영역과 드레인영역을 형성하는 단계와; 상기 소스영역과 게이트전극과 드레인영역 위에 절연물질을 증착하여 제 3 절연층을 형성하고 상기 소스영역상부와 드레인영역상부의 제 3 절연층에 제 1 콘택홀과 제 2 콘택홀을 각각 형성하는 단계와; 상기 제 1 콘택홀과 제 2 콘택홀이 형성된 제 3 절연층 위에 도전성 금속을 증착하고 패터닝하여 상기 제 1 콘택홀을 통해 상기 소스영역과 전기적으로 접촉하는 소스전극을 형성하고 상기 소스전극과 이격되고 상기 제 2 콘택홀을 통해 상기 드레인전극과 전기적으로 접촉되는 드레인전극을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a thin film transistor, comprising: providing a substrate; Depositing an insulating material on the substrate and forming a first insulating layer; Depositing amorphous silicon on the insulating layer; Annealing the amorphous silicon to crystallize it into polysilicon composed of grain and grain boundaries; Etching a portion of the grain boundary and a lower insulating layer to form a groove; Melting polysilicon in which the grain boundary portion is etched by a predetermined means, and recessing the grain boundary portion into the etched groove to recrystallize the polysilicon layer having a flat surface; Patterning the polysilicon layer and etching the island to form a semiconductor layer; Depositing an insulating material on the semiconductor layer to form a zero second insulating layer; Depositing a conductive metal on the second insulating layer to form a metal electrode layer; Simultaneously patterning the second insulating layer and the metal electrode layer to etch the both sides of the semiconductor layer so as to be spaced apart from each other to form a gate insulating layer and a gate electrode; Forming a source region and a drain region by ion doping an n-type or p-type semiconductive material on both sides of the semiconductor layer spaced apart from each other; Depositing an insulating material on the source region, the gate electrode, and the drain region to form a third insulating layer, and forming a first contact hole and a second contact hole in the third insulating layer on the source region and on the drain region, respectively. Wow; Depositing and patterning a conductive metal on a third insulating layer having the first contact hole and the second contact hole to form a source electrode in electrical contact with the source region through the first contact hole, and spaced apart from the source electrode And forming a drain electrode in electrical contact with the drain electrode through the second contact hole.
이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시 예를 설명하도록 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
- 실시 예-Example
본 발명에 따른 박막트랜지스터는 반도체층을 폴리실리콘으로 형성하며, 이러한 폴리실리콘층은 실리콘결정의 그레인바운더리 부분과 동시에 그 하부의 절연층을 소정깊이만큼 선택적으로 식각하고, 그레인바운더리부분과 그 하부절연층이 소정의 깊이로 식각된 폴리실리콘층을 어닐링(Annealing)하고 재결정화하는 방법으로 표면을 평탄화하여 형성한다.In the thin film transistor according to the present invention, the semiconductor layer is formed of polysilicon, and the polysilicon layer selectively etches the grain boundary portion of the silicon crystal at the same time as a predetermined depth, and the grain boundary portion and the lower insulation thereof. The layer is formed by planarizing the surface by annealing and recrystallizing the polysilicon layer etched to a predetermined depth.
더 상세히 설명하면, 본 발명에 따른 박막트랜지스터는 먼저 기판(111)위에 소정의 절연물질로 제 1 절연층(112)을 형성한다.In more detail, the thin film transistor according to the present invention first forms the first insulating layer 112 on the substrate 111 with a predetermined insulating material.
이와 같은 제 1 절연층(112)은 기판(111)과 추후 형성될 도전성막과의 완충역할을 하여 기판과 반도체층 사이의 비균일성 접촉에 의해 발생할 수 있는 뒤틀림등을 방지한다.The first insulating layer 112 acts as a buffer between the substrate 111 and the conductive film to be formed later to prevent warpage or the like that may occur due to non-uniform contact between the substrate and the semiconductor layer.
도 3에 도시한 바와 같이 상기 제 1 절연층(112)위에 비정질 실리콘을 증착하여 반도체층(113)을 형성한다.As shown in FIG. 3, amorphous silicon is deposited on the first insulating layer 112 to form a semiconductor layer 113.
상기 반도체층(113)을 형성한 후, 폴리실리콘으로 결정화 하기에 앞서, 상기 비정질 실리콘에 수소가 포함되어 있다면 수소를 제거하기 위한 탈 수소화 과정을 거쳐야 한다.After the semiconductor layer 113 is formed, prior to crystallization with polysilicon, if hydrogen is included in the amorphous silicon, the hydrogen must be dehydrogenated to remove hydrogen.
만약 탈수소화 과정을 거치지 않은 비정질 실리콘을 어닐링할 경우, 어닐링동안 수소가 날아가는 반응이 일어나고 수소가 날아간 자리는 보이드(void)로 남게되어 소자의 전기적인 특성을 악화시키는 원인이 된다.When annealing amorphous silicon that has not undergone dehydrogenation, hydrogen flies during the annealing reaction and hydrogen flies remain voids, causing deterioration of the electrical characteristics of the device.
따라서, 어닐링(Annealing)하기전에 미리 수소를 날려버리는 탈 수소화 과정이 필요하며 이때 탈 수소화는 전기로(Furnance) 또는 레이저(Laser)를 이용하여 소정의 온도에서 이루어진다.Therefore, a dehydrogenation process is required in which hydrogen is blown in advance before annealing, wherein dehydrogenation is performed at a predetermined temperature by using a furnace or a laser.
전술한 바와 같이, 비정질 실리콘의 탈 수소화 과정이 끝난 후, 비정질 실리콘을 엑시머레이저(Excimer laser), 아르곤레이저(Argon laser), 이온빔 방법 (Ion beam methode)등의 수단을 이용하여 결정화하며, 이때 폴리실리콘결정은 그레인과 그레인바운더리로 이루어진 수많은 실리콘결정들의 연속적인 형성으로 이루어진다.As described above, after the dehydrogenation process of the amorphous silicon is finished, the amorphous silicon is crystallized by means of an excimer laser, an argon laser, an ion beam method, and the like. Silicon crystals consist of a continuous formation of numerous silicon crystals consisting of grain and grain boundaries.
이때, 그레인크기는 비정질 실리콘을 폴리실리콘으로 결정화하는 수단에 의해 제어가 가능하다.At this time, the grain size can be controlled by means of crystallizing amorphous silicon into polysilicon.
예를 들어, 결정화 수단의 하나인 레이저어닐방법에 있어서 그레인의 성장은 레이저빔의 모양과 에너지 밀도와 기판의 온도와 그리고 냉각속도에 의해 제어할수 있다.For example, in the laser annealing method, which is one of the crystallization means, grain growth can be controlled by the shape and energy density of the laser beam, the temperature of the substrate, and the cooling rate.
일반적으로 엑시머레이저일 경우 240∼330mJ/㎠사이의 에너지밀도에서 비교적 우수한 실리콘결정을 얻을 수 있다는 연구결과도 나온 바 있다.In general, excimer lasers have shown that relatively good silicon crystals can be obtained at energy densities between 240 and 330 mJ / cm 2.
그레인크기와 에너지밀도의 관계에 대해 더욱 상세히 설명하면, 그레인의 크기는 에너지 밀도에 따라 크게 세가지 영역으로 나뉘어 결정화를 설명할 수 있다.More specifically, the relationship between grain size and energy density can be explained by crystal grain size divided into three regions according to energy density.
즉, 저 에너지밀도 영역인 부분 멜팅 영역(Low energy density regime-Partial melting regime), 측면성장 영역인 완전한 멜팅에 가까운 영역 (Near complete melting regime - Super lateral growth regime), 고 에너지 밀도 영역인 완전 멜팅영역 (High energy density rgime - Compelete melting regime)으로 나눌 수 있으며, 상기 저에너지 밀도 영역에서 실리콘표면의 상태는 멜팅 깊이가 실리콘 두께보다 적은 상태이며, 경쟁적으로 그레인의 접촉성장이 일어나며 주로 세로축 성장을 하고, 그레인의 크기가 아주 작아서 그레인의 직경이 반도체층의 막두께보다도 작은 상태인 영역이다.That is, a low energy density regime-partial melting regime, a near complete melting regime-super lateral growth regime, and a high energy density region (High energy density rgime-Compelete melting regime), the state of the silicon surface in the low energy density region is a state in which the melting depth is less than the silicon thickness, the contact growth of grain occurs competitively, mainly the longitudinal axis growth, grain Is a region where the size of grain is very small and the grain diameter is smaller than the film thickness of the semiconductor layer.
그리고, 거의 완전 멜팅영역(near complete melting regime)은 반도체층의 실리콘 막이 거의 다 녹은 상태이며, 실리콘결정이 [111]방향으로 우선방향성을 가지고 측면성장을 하는 단계로서 측면성장을 하는 각 결정이 충돌하기 바로 전의 상태라 할 수 있다.The near complete melting regime is a state in which the silicon film of the semiconductor layer is almost completely melted, and the silicon crystals have a preferential direction in the [111] direction and are laterally grown. It can be said that the state just before.
세번째로 고 에너지밀도 영역(high energy density regime)에서 급냉은 빙정형성과 고체의 성장을 가져오고, 낮은 기판의 온도때문에 그레인사이즈가 작아지며, 얇은 막에서는 무정형(無定形)이 관찰된다.Thirdly, in the high energy density regime, quenching leads to ice crystal formation and solid growth, low grain size due to low substrate temperature, and amorphousness in thin films.
결과적으로, 고 에너지 밀도에서는 그레인사이즈가 온도와는 독립적이다.As a result, grain size is independent of temperature at high energy densities.
따라서, 이와 같은 레이저빔의 에너지밀도와 냉각속도를 고려하여 그레인의 크기는 어느정도 제어가 가능하다.Therefore, the grain size can be controlled to some extent in consideration of the energy density and cooling speed of the laser beam.
도 4a에 도시한 바와같이, 상기 탈 수소화된 비정질 실리콘은 그레인(117)과 그레인바운더리(119)로 구성되는 균일한(Uniform)한 실리콘결정으로 형성한다.As shown in FIG. 4A, the dehydrogenated amorphous silicon is formed of a uniform silicon crystal composed of grain 117 and grain boundary 119.
상기 실리콘결정의 각 그레인바운더리(119)가 접해있는 부분(123)은 도 4b에 도시한 바와 같이 서로 충돌하여 뾰족히 솟은 모양(119)으로 형성된다.The portions 123 in which the grain boundaries 119 of the silicon crystal contact each other are formed in a shape 119 that collides with each other as shown in FIG. 4B.
반도체표면에서 이러한 미세결함은 앞서 설명한 바와 같이 전자에 대한 트랩준위로 작용하여 반도체층에서 전류손실의 원인이 되며, 또한 추후에 절연층을 형성할 경우 반도체층 위에 절연물질이 고르게 쌓이지 않기 때문에 절연층의 두께는 일률적이지 않다. 만약 얇게 증착된 부분에 전류가 흐를 경우, 이 부분을 통해 소자의 절연파괴가 발생하고, 이로 인한 박막트랜지스터의 전기적인 결함은 액정표시소자에서는 점 결함의 원인이 되기도 한다.This microdefect on the semiconductor surface acts as a trapping level for electrons as described above, which causes current loss in the semiconductor layer, and when the insulating layer is formed later, the insulating material does not evenly accumulate on the semiconductor layer. The thickness of is not uniform. If a current flows in a thinly deposited portion, insulation breakdown of the device occurs through this portion, and electrical defects of the thin film transistor may cause point defects in the liquid crystal display device.
도 4b는 도 4a의 I-I를 따라 절단한 단면도로서, 전술한 바와 같은 결함을 제거하기 위해 도시한 바와 같이, 뾰족히 솟은 그레인바운더리(119)의 접합부(123)와 그 하부의 절연층(125)의 소정깊이만큼을 [표 1]에 나타낸 에칭용액(Etchant) 중 하나를 이용하여 소정의 너비와 높이로 식각해 준다.FIG. 4B is a cross-sectional view taken along II of FIG. 4A and shows the junction 123 of the pointed grain boundary 119 and the insulating layer 125 thereunder, as shown in order to remove the defect as described above. A predetermined depth of is etched into a predetermined width and height using one of the etching solutions shown in [Table 1].
[표 1]TABLE 1
[표 1]에서 나타낸 것 중, 본 실시 예에서는 불산(HF)과 크롬산(Cr2O3)을 소정의 비율로 희석한 세코 애칭용액(Etchant)을 사용한다.Among those shown in Table 1, in this embodiment, a Seko etching solution (Etchant) in which hydrofluoric acid (HF) and chromic acid (Cr 2 O 3 ) are diluted at a predetermined ratio is used.
전술한 바와같이, 그레인바운더리를 선택적으로 식각할 수 있는 이유는 실리콘의 결정화가 진행되는 동안 불순물이 결정의 표면으로 밀려나면서 조밀하게 성장하는 그레인에 비해 그레인바운더리는 불순물이 많이 함유되어 있고 밀도가 낮아 그레인에 비해 쉽게 식각되기 때문이다.As mentioned above, the reason for selectively etching the grain boundary is that the grain boundary contains a lot of impurities and has a lower density than the grains that grow densely as impurities are pushed to the surface of the crystal during the crystallization of silicon. It is easier to etch than grain.
도 5a는 전술한 바와같이 그레인바운더리((119) : 도 4b 참조)부분과 그 하부의 소정깊이의 절연층(112)이 식각된 실리콘결정의 부분평면도이고, 도 5b는 그레인바운더리부분(123)과 그하부의 절연층(125)의 소정깊이 까지 식각된 절연층과 폴리실리콘 반도체층의 단면도를 도시한 것이다.FIG. 5A is a partial plan view of a silicon crystal in which the grain boundary ((119): see FIG. 4B) portion and the insulating layer 112 at a predetermined depth below is etched as described above, and FIG. 5B is the grain boundary portion 123. And a cross-sectional view of the insulating layer and the polysilicon semiconductor layer etched to a predetermined depth of the insulating layer 125 below.
도시한 바와 같이, 그레인바운더리 뿐 아니라 그 하부에 형성된 버퍼층인 절연층의 소정깊이까지 식각하여 그루브(125)(groove : '홈')를 형성한다.As shown, grooves 125 are formed by etching not only grain boundaries but also a predetermined depth of an insulating layer, which is a buffer layer formed under the grain boundary.
전술한 바와 같이, 각 그레인바운더리의 접합부분(123)과 그 하부 절연층(112)의 소정 깊이까지 식각한 후, 엑시머레이저, 아르곤레이저, 이온빔방법등을 사용하여 멜팅(melting)된 실리콘은 상기 식각된 그레인바운더리부분(123)과 그하부의 절연층(112)의 소정의 깊이까지 식각되어 형성된 홈(125)을 채우면서 결정화 된다.As described above, after etching to a predetermined depth of the junction portion 123 of each grain boundary and the lower insulating layer 112, the silicon melted using an excimer laser, an argon laser, an ion beam method, or the like. Crystallization is performed while filling the groove 125 formed by etching the grain boundary portion 123 and the lower portion of the insulating layer 112.
도 5c는 소정의 방법에 의해 멜팅된 폴리실리콘이 멜팅되어 재결정화된 상태의 단면을 도시한 것으로서, 도시한 바와 같이 그레인바운더리(119)가 상기 홈(125)에 함몰하여 형성되기 때문에 뾰족하게 솟은 부분이 없는 평탄한 폴리실리콘층을 형성할 수 있게 된다.5C is a cross-sectional view of a state in which polysilicon melted by a predetermined method is melted and recrystallized. As illustrated, the grain boundary 119 is formed by recessing the groove 125 so as to rise sharply. It is possible to form a flat polysilicon layer having no portion.
도 6에 도시한 바와 같이, 표면이 평탄한 반도체층(113)을 구성한 후 반도체층(113)위에 실리콘옥사이드(SiO2), 알루미늄옥사이드(Al2O3), 탄탈옥사이드(TaOX)등을 증착하여 제 2 절연층(126)을 형성한다.As shown in FIG. 6, after forming the semiconductor layer 113 having a flat surface, silicon oxide (SiO 2 ), aluminum oxide (Al 2 O 3 ), tantalum oxide (TaO X ), and the like are deposited on the semiconductor layer 113. The second insulating layer 126 is formed.
다음으로, 상기 제 2 절연층(126)과 반도체층(113)을 동시에 아일랜드 형태로 패터닝한 후, 상기 제 2 절연층(126)위에 알루미늄(Al), 니켈(Ni), 몰리브덴(Mo), 텅스텐(W)등의 도전성 금속을 증착하여 금속전극층을 형성한다.Next, after patterning the second insulating layer 126 and the semiconductor layer 113 in an island form at the same time, on the second insulating layer 126, aluminum (Al), nickel (Ni), molybdenum (Mo), A conductive metal such as tungsten (W) is deposited to form a metal electrode layer.
상기 금속전극층을 패터닝하여 게이트전극(127)을 형성하는 과정에서 상기 제 2 절연층(126)과 동시에 식각하여 상기 반도체층의 양측이 소정 노출되도록 한다.In the process of forming the gate electrode 127 by patterning the metal electrode layer, the metal electrode layer is etched simultaneously with the second insulating layer 126 so that both sides of the semiconductor layer are exposed.
상기 소정 노출된 반도체층의 양측표면에 n+ 또는 p+의 반도전성 물질을 이온도핑하여 소스영역(115a)과 드레인영역(115b)을 형성한다.The source region 115a and the drain region 115b are formed by ion doping n + or p + semiconductive materials on both surfaces of the exposed semiconductor layer.
상기 소스영역(115a)과 드레인영역(115b)과 상기 게이트전극(127)위에 전술한 절연물질을 증착하여 제 3 절연층(129)을 형성한후 상기 소스영역(115a)과 드레인영역(115b)상부의 제 3 절연층(129)에 각각 소스콘택홀(131a)과 드레인 콘택홀(131b)을 형성한다.The third insulating layer 129 is formed by depositing the above-described insulating material on the source region 115a, the drain region 115b, and the gate electrode 127, and then the source region 115a and the drain region 115b. Source contact holes 131a and drain contact holes 131b are formed in the third insulating layer 129, respectively.
다음으로, 상기 소스콘택홀(131a)과 드레인콘택홀(131b)이 형성된 제 3 절연층(129)위에 전술한 바와 같은 도전성금속을 증착하고 패터닝하여 상기 소스콘택 홀(131a)을 통해 상기 소스영역(115a)과 전기적으로 접촉되는 소스전극(133a)과 , 소스전극과 소정의 거리를 두고 형성되고 상기 드레인콘택홀(131b)을 통해 상기 드레인영역(115b)과 전기적으로 접촉되는 드레인전극(133b)을 형성한다.Next, the conductive metal as described above is deposited and patterned on the third insulating layer 129 having the source contact hole 131a and the drain contact hole 131b formed thereon, and the source region through the source contact hole 131a. A source electrode 133a in electrical contact with the 115a and a drain electrode 133b formed at a predetermined distance from the source electrode and in electrical contact with the drain region 115b through the drain contact hole 131b. To form.
전술한 바와 같이 본 실시 예에서는 박막트랜스터를 형성하는 구조의 하나인 코플라나형 박막트랜지스터의 제조방법을 예를 들어 설명하였으나, 기판 위에 소스전극과 드레인전극이 소정간격 대응되어 형성되고, 연속으로 반도체층, 절연층, 게이트전극, 보호층이 형성되는 스태거드형(Staggered type)박막트랜지스터에도 적용가능하다.As described above, in the present embodiment, a method of manufacturing a coplanar thin film transistor, which is one of the structures for forming a thin film transistor, has been described as an example. However, a source electrode and a drain electrode are formed on a substrate to correspond to a predetermined interval, and continuously The present invention is also applicable to a staggered type thin film transistor in which a semiconductor layer, an insulating layer, a gate electrode, and a protective layer are formed.
또한, 전술한 바와같은 반도체층 표면의 평탄화방법은 박막트랜지스터 이외에도 폴리실리콘을 반도체층으로 사용하고 폴리실리콘층과 절연층이 연속적으로 형성되며, 이러한 반도체층과 절연층의 계면에서 전도채널이 형성되는 반도체소자에 적용 가능하다.In addition, in the planarization method of the surface of the semiconductor layer as described above, in addition to the thin film transistor, polysilicon is used as the semiconductor layer, and the polysilicon layer and the insulating layer are continuously formed, and the conductive channel is formed at the interface between the semiconductor layer and the insulating layer. Applicable to semiconductor devices.
따라서, 본 발명의 정신을 벗어나지 않고 다양한 형태로 변형이 가능할 것이고, 변형된 실시 예들은 본 권한의 권리범위에 속하게 됨은 첨부된 특허청구범위에 의해 명확하게 알 수 있다.Accordingly, various modifications may be made without departing from the spirit of the invention, and the modified embodiments may be clearly understood by the appended claims that belong to the scope of the present rights.
본 발명은 폴리실리콘을 반도체층으로 사용하는 박막트랜지스터에 있어서, 실리콘결정을 구성하는 그레인과 그레인바운더리 중 평탄한 그레인에 비해 뾰족히 솟아 형성된 그레인바운더리 부분과 그 하부의 절연층을 소정깊이로 식각하여 홈을형성한 후 상기 폴리실리콘층을 재 어닐링하여 상기 폴리실리콘의 그레인바운더리부분이 상기 홈으로 함몰하여 형성함으로써 폴리실리콘층의 미세표면을 평탄화하여, 전술한 바와 같은 그레인바운더리에 의해 야기될 수 있는 전자의 트랩준위나, 절연층의 파괴로 인한 소자의 쇼트 등을 막을 수 있어 소자의 동작특성을 개선함고 동시에 제품의 수율을 향상시키는 효과가 있다.According to the present invention, in a thin film transistor using polysilicon as a semiconductor layer, the grain boundary and the insulating layer underneath are etched to a predetermined depth from the grains and grain boundaries constituting the silicon crystal compared to the flat grains. After forming the polysilicon layer, the polysilicon layer is re-annealed so that the grain boundary portion of the polysilicon is formed by recessing the groove to planarize the microsurface of the polysilicon layer, and the electrons may be caused by the grain boundary as described above. It is possible to prevent the short circuit of the device due to the trap level and the breakdown of the insulating layer, thereby improving the operating characteristics of the device and at the same time improve the yield of the product.
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