KR100314266B1 - 액정표시소자의화면표시품위검사방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 TFT-LCD 의 테스트방법에 관한 것으로서, 하나의 게이트라인에 대하여 데이타신호를 R, G, B 칼라화소별로 동시에 입력시켜 줌으로써 데이타구동용 PCB의 한 TAB에 대해 테스트콘택 포인트를 6개로 줄여 미스콘택방지 및 신호처리의 간소화를 얻을 수 있는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법에 관한 것이다. 이를 위한 본 발명의 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법은 다수개의 R,G,B 화소와 다수개의 게이트 라인 및 데이타 라인을 구비한 LCD 패널과, 상기 게이트 라인에 접속된 각각의 트랜지스터를 구동하기 위한 다수개의 게이트 구동용 드라이버 IC가 장착되고, 각 게이트 구동용 드라이버 IC의 패드가 상기 LCD 패널의 게이트 패드에 TAB(Tape Automated Bonding) 되어 있는 게이트 구동용 PCB와, 상기 데이타 라인을 구동하기 위한 다수개의 데이타 구동용 드라이버 IC 가 장착되고, 각 데이타 구동용 PCB를 포함하는 액정표시소자의 화면품위를 검사하는 방법에 있어서, 1프레임동안 각각의 스캐닝시간마다 상기 게이트 구동용 PCB 로부터 상기 LCD 패널로 게이트구동신호를 순차적으로 인가하여 구동시키고, 각 스캐닝시간동안 하나의 게이트라인에 대응하는 모든 R, G, B 데이타 라인에 R, G, B 데이타 입력신호를 상기 데이타 구동용 PCB 로부터 LCD 패널로 인가하여 하나의 게이트 라인에 대응하는 모든 데이타 라인을 일괄구동하는 것을 특징으로 한다.

Description

액정표시소자의 화면표시 품위검사방법{METHOD FOR TESTING DISPLAY QUALITY OF LCD}

본 발명은 액정표시소자의 테스트방법에 관한 것으로서, R, G, B 일괄구동방식을 이용하여 미스콘택(miscontact)을 방지하고 신호처리를 간소화할 수 있는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법에 관한 것이다.

현재 TFT-LCD 의 화면표시 품위검사방법으로는 풀콘택(full contact) 방식으로서, 모듈 드라이빙(module driving) 방식이 화면표시 품위검사에 여전히 사용되고 있다.

이러한 풀콘택방식은 도 1에 도시된 바와같이 데이타 입력신호 및 게이트 입력신호가 각각의 라인단위로 입력되어 실제 모듈과 같이 화면을 표시할 수 있었다. 즉, 1프레임동안 각각의 스캐닝시간마다 각각의 게이트 라인에 게이트입력신호가 순차적으로 인가되고, 각 스캐닝시간동안 각각의 데이타 라인에 데이타 입력신호가 인가된다.

따라서, 화소구동용 TFT 는 R, G, B 화소단위로 스캐닝시간동안 턴온되고, 홀딩시간(프레임시간-스캐닝시간)동안 턴오프된다. 따라서, 데이타 입력신호의 경우 한 스캐닝시간동안 데이타 라인의 수만큼의 정보가 필요하므로, 데이타 라인수이상의 클럭주파수가 필요하게 된다.

도 2에서 보는 바와같이 액정표시소자는 액정패널(10)과 액정패널의 게이트구동용 PCB(20) 그리고 액정패널(10)과 액정패널의 데이타 구동용 PCB(30)로 이루어진다. 게이트 구동용 PCB(20)에는 액정패널(10)의 게이트 라인을 구동하기 위한 게이트구동신호(스캐닝신호)를 인가하기 위한 드라이버 IC(21-24)가 장착되고, 데이타 구동용 PCB(30)에는 액정패널(10)의 데이타 라인에 데이타 입력신호를 인가하기 위한 드라이버 IC(31-38)가 장착되어 있다.

상기와 같은 구조를 갖는 액정표시소자를 도 1에서와 같은 파형을 인가하여 풀콘택방식으로 화면표시 품위검사를 하는 경우에는, 액정패널(10)의 패드와 게이트 구동용 PCB(20)의 드라이버 IC(21-24) 및 데이타 구동용 드라이버 IC(31-38)의 패드가 풀콘택되어 TAB(Tape Automated Bonding)되어 있다.

하나의 TAB 에 대한 패드를 보면, 풀콘택방식을 이용하여 화면표시 품위검사를 하기 때문에 도 3에 도시된 바와같이 각각의 패드마다 드라이버 IC 의 패드와 접촉시켜 주기위한 콘택포인트가 존재한다.

상기한 바와같은 풀콘택 방식을 이용하면 실제 모듈과 같이 화면을 표시할 수는 있지만, 점차적으로 고해상도 실현을 위해 고주파수의 클럭주파수가 필요하므로 연결 케이블이 길어져 노이즈가 발생하는 문제점이 있었다. 또한, 패드간의 피치가 좁아 패널과의 콘택시 미스 콘택이 발생하는 문제점과 그에 따라 검사결과에 대한 신뢰성이 저하되는 문제점이 있으며, 풀콘택 방식의 기술상의 어려움으로 테스트 툴(tool)의 비용이 많이 드는 문제점이 있었다.

본 발명은 상기한 바와같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서,R, G, B 데이타를 일괄구동방식으로 인가하여 화면표시 품위검사를 함으로써 미스콘택을 방지하고 신호처리를 간소화할 수 있는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.

도 1은 종래의 풀콘택(full-contact)방식을 이용한 액정표시소자의 화면표시 품위검사시 액정패널에 인가되는 신호의 파형도

도 2는 도 1과 같은 풀콘택방식을 이용하는 경우에 있어서, 액정패널과 드라이버 IC 간의 콘택상태를 도시한 도면

도 3은 종래의 풀콘택방식을 이용한 화면품위 테스트시 액정패널의 하나의 TAB 에 대한 패드상태를 도시한 도면

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 R, G, B 일괄구동방식을 이용한 액정표시소자의 화면품위 테스트시, 액정패널에 인가되는 신호의 파형도

도 5는 도 4와 같은 본 발명의 R, G, B 일괄구동방식을 이용하는 경우에 있어서, 액정패널과 드라이버 IC 간의 콘택상태를 도시한 도면

도 6은 본 발명의 R, G, B 일괄구동방식을 이용한 화면품위 테스트시 액정패널의 하나의 TAB 에 대한 패드상태를 도시한 도면,

(도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명)

10 : LCD 패널 20 : 게이트 구동용 PCB

30 : 데이타 구동용 PCB 21-24 : 게이트 드라이버 IC

31-38 : 데이타 드라이버 IC

상기한 본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 액정표시소자의 화면 표시 품위검사방법은,

다수개의 R,G,B 화소와 다수개의 게이트 라인 및 데이타 라인을 구비한 LCD 패널과, 상기 게이트 라인에 접속된 각각의 트랜지스터를 구동하기 위한 다수개의 게이트 구동용 드라이버 IC가 장착되고, 각 게이트 구동용 드라이버 IC의 패드가 상기 LCD 패널의 게이트 패드에 TAB(Tape Automated Bonding)되어 있는 게이트 구동용 PCB와, 상기 데이타 라인을 구동하기 위한 다수개의 데이타 구동용 드라이버 IC가 장착되고, 각 데이타 구동용 드라이버 IC의 패드가 상기 LCD 패널의 데이타 패드에 TAB되어 있는 데이타 구도용 PCB를 포함하는 액정표시소자의 화면 품위를 검사하는 방법에 있어서,

1프레임동안 각각의 스캐닝시간마다 상기 게이트 구동용 PCB로부터 상기 LCD패널로 게이트 구동 신호를 순차적으로 인가하여 구동시키고, 각 스캐닝시간동안 하나의 게이트 라인에 대응하는 모든 R,G,B 데이타 라인에 R,G,B 데이타 입력신호를 상기 데이타 구동용 PCB로부터 상기 LCD 패널로 인가하여 하나의 게이트 라인에 대응하는 모든 데이타 라인을 일괄구동하는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 실시예에 있어서, 상기 LCD 패널의 패드와 TAB 되어 있는 상기 게이트 구동용 PCB 의 각 드라이버 IC 의 패드는 풀콘택되어 있는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 실시예에 있어서, 상기 LCD 패널의 패드와 TAB 되어 있는 상기 데이타 구동용 PCB 의 각 드라이버 IC 의 패드는 2등분되어 2등분된 R, G, B 패드를 각각 모두 쇼트시키고, 나머지 2등분된 R, G, B 패드를 각각 모두 쇼트시켜, 상기 데이타 구동용 PCB 의 각 드라이버 IC 의 패드는 2등분된 R, G, B 패드 3개와 나머지 2등분된 R, G, B 패드 3개만이 상기 LCD 패널의 패드와 TAB 되어 있는 것을 특징으로 한다.

본 발명의 실시예에 있어서, 각 스캐닝시간동안 총 TAB 의 수의 2배에 해당하는 데이타를 액정표시소자로 인가하는 것을 특징으로 한다.

도 4은 본 발명의 실시예에 따른 TFT-LCD 의 R, G, B 일괄구동을 위해 액정패널에 인가되는 신호의 파형도를 도시한 것이다. 본 발명의 R, G, B 일괄구동방식을 이용한 화면품위검사방법은 풀콘택방식과 마찬가지로 1프레임동안 각각의 스캐닝시간마다 각각의 게이트 라인에 게이트입력신호가 순차적으로 인가되지만, 각 스캐닝시간동안 모든 R, G, B 데이타 라인에 R, G, B 데이타 입력신호가 동시에 인가되어, 하나의 게이트 라인에 대하여 모든 R, G, B 데이타 라인이 일괄구동된다.

따라서, 화소구동용 TFT 는 동일 게이트 라인의 R, G, B 화소단위로 스캐닝시간동안 턴온되고 홀딩시간동안 턴오프된다. 그러므로, R, G, B 일괄구동방식에 있어서, 데이타입력신호의 경우 한 스캐닝시간동안 1TABx2 의 정보만이 필요하므로, 1TABx2 이상의 클럭주파수만이 필요하다.

도 4에서 보는 바와같이 액정표시소자는 도 2에서와 마찬가지로 액정패널(10)과 액정패널의 게이트 구동용 PCB(20) 그리고 액정패널(10)과 액정패널의 데이타 구동용 PCB(30)로 이루어진다. 게이트 구동용 PCB(20)에는 액정패널(10)의 게이트 라인을 구동하기 위한 게이트구동신호(스캐닝신호)를 인가하기 위한 드라이버 IC(21-24)가 장착되고, 데이타 구동용 PCB(30)에는 액정패널(10)의 데이타 라인에 데이타 입력신호를 인가하기 위한 드라이버 IC(31-38)가 장착되어 있다.

상기와 같은 구조를 갖는 액정표시소자의 화면표시품위검사시, 본 발명에서는 도 4와 같은 파형을 인가하는 R, G, B 일괄구동방식을 이용하므로, 액정패널(10)의 패드와 데이타 구동용 드라이버 IC(31-38)의 패드를 TAB(Tape Automated Bonding)할 때, 하나의 TAB을 2등분하고, 2등분된 TAB 의 모든 R 데이타 인가용 패드, 모든 G 데이타 인가용 패드 및 모든 B 인가용 패드를 각각 쇼트시키고, 나머지 2등분된 TAB의 모든 R 데이타 인가용 패드, 모든 G 데이타 인가용 패드 및 모든 B 데이타 인가용 패드를 각각 쇼트시킨다.

따라서, 한 스캐닝시간동안 하나의 게이트 라인에 대한 모든 R, G, B 데이타 라인에 R, G, B 데이타를 동시에 인가하여 일괄구동한다.

본 발명에서는 계조표현을 위해 하나의 TAB을 이등분하여 일괄구동하는데, 도 6에 도시된 바와같이, 하나의 TAB 에 대한 패드를 보면, 패드를 2등분하여 2등분된 R, G, B 패드를 상기에서 설명한 바와같이 쇼트시켜 준다. 따라서, 데이타 드라이버용 PCB(30)에서 각각의 TAB 구조를 보면, 도 6에서와 같이 2등분된 패드에R, G, B 데이타를 인가하기 위한 6개의 데이타 라인만이 LCD 패널(10)의 패드와 TAB 되게 된다.

이때, 게이트 라인의 경우에는 패드의 피치(pitch)가 넓기 때문에 풀콘택에 문제점이 없으므로 종래와 마찬가지로 드라이버 IC(21-24)를 이용한 풀콘택방식을 그대로 사용한다.

도 4의 파형도를 참조하면, 본 발명의 화면품위검사방식은 하나의 게이트라인, 예를 들면, Y1 에 대하여 스캐닝신호가 인가되어 구동되면, 게이트 라인(Y1)이 구동되는 시간동안 데이타 라인에는 도 5 및 6에서 보는 바와같이 R, G, B 데이타가 일괄구동된다. 이때, 하나의 TAB 이 2등분하여 각각의 TAB 에 2가지 정보를 입력한다. 따라서, 게이트 라인(Y1)을 구동하는 동안 총 TAB 의 수 X 2 의 정보를 입력하고, 다시 게이트 라인(Y2)을 구동하는 동안 총 TAB 의 수 X 2의 또다른 정보를 입력할 수 있다. 이와 같이 하면, 횡방향으로는 TABx2 의 정보를, 종방향으로는 게이트 라인의 수만큼에 해당하는 정보를 입력할 수 있으므로, 풀콘택방식의 실제 디스플레이에서처럼 영상화면의 구현은 불가능하지만, 패널의 화면품위를 검사하는 데에는 아무런 문제가 없다.

이상에서 자세히 설명된 바와 같이, 본 발명의 TFT-LCD 의 화면표시 품위검사방법은 R, G, B 일괄구동방식으로 콘택포인트의 수를 감소시킬 수 있으므로, 미스콘택의 감소에 따라 데이타의 신뢰성을 향상시킬 뿐만 아니라 택트타임(tact time)을 감소시켜 생산능력을 향상시킬 수 있다.

또한, 테스트툴의 단가감소에 의한 생산단가를 감소시킬 수 있을 뿐만 아니라 검사용 모듈을 단순화할 수 있는 이점이 있다. 기타, 본 발명은 그 요지를 일탈하지 않는 범위에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다.

Claims (5)

1. 다수개의 R,G,B 화소와 다수개의 게이트 라인 및 데이타 라인을 구비한 LCD 패널과, 상기 게이트 라인에 접속된 각각의 트랜지스터를 구동하기 위한 다수개의 게이트 구동용 드라이버 IC가 장착되고, 각 게이트 구동용 드라이버 IC의 패드가 상기 LCD 패널의 게이트 패드에 TAB(Tape Automated Bonding) 되어 있는 게이트 구동용 PCB와, 상기 데이타 라인을 구동하기 위한 다수개의 데이타 구동용 드라이버 IC가 장착되고, 각 데이타 구동용 드라이버 IC의 패드가 상기 LCD 패널의 데이타 패드에 TAB되어있는 데이타 구동용 PCB를 포함하는 액정표시소자의 화면품위를 검사하는 방법에 있어서,

   1프레임동안 각각의 스캐닝시간마다 상기 게이트 구동용 PCB로부터 상기 LCD 패널로 게이트구동신호를 순차적으로 인가하여 구동시키고, 각 스캐닝시간동안 하나의 게이트라인에 대응하는 모든 R, G, B 데이타 라인에 R, G, B 데이타 입력신호를 상기 데이타 구동용 PCB로부터 상기 LCD 패널로 인가하여 하나의 게이트 라인에 대응하는 모든 데이타라인을 일괄구동하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법.
2. 제1항에 있어서,

   상기 LCD 패널의 패드와 TAB 되어 있는 상기 게이트 구동용 PCB 의 각 드라이버 IC 의 패드는 풀콘택되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 화면표시품위검사방법.
3. 제1항에 있어서,

   상기 LCD 패널의 패드와 TAB 되어 있는 상기 데이타 구동용 PCB 의 각 드라이버 IC의 패드는 2등분되어 2등분된 R, G, B 패드를 각각 모두 쇼트시키고, 나머지 2등분된 R, G, B 패드를 각각 모두 쇼트시키는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법.
4. 제3항에 있어서,

   상기 데이타 구동용 PCB 의 각 드라이버 IC 의 패드는 2등분된 R, G, B 패드 3개와 나머지 2등분된 R, G, B 패드 3개만이 상기 LCD 패널의 패드와 TAB 되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법.
5. 제4항에 있어서,

   상기 각 스캐닝시간동안 총 TAB 의 수의 2배에 해당하는 데이타를 액정표시소자로 인가하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 화면표시 품위검사방법.