KR100310049B1 - device for feeding tray retest in module I.C handler - Google Patents
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Abstract
본 발명은 테스트 완료된 모듈 IC를 테스트 결과에 따라 분류하는 언로딩 공정시 양품인지 불량품인지 판단하기 곤란한 모듈 IC를 트레이(Tray)에 담아 별도의 장소에 보관하였다가 로딩측 엘리베이터에 위치된 모듈 IC의 테스트가 완료된 상태에서 리테스트(Retest)를 실시할 때 모듈 IC가 담겨진 트레이를 리테스트 포지션으로 이송시키는 모듈 아이씨 핸들러의 리테스트용 트레이 공급장치에 관한 것으로, 언로딩측 엘리베이터에 위치된 모듈 IC의 테스트가 완료되면 모듈 IC의 리테스트작업이 자동으로 이루어질 수 있도록 한 것이다.The present invention stores the module IC, which is difficult to determine whether it is a good or defective product in the unloading process of classifying the tested module IC according to the test result, in a tray and stored in a separate place, Retest tray supply device for module IC handler which transfers tray containing module IC to retest position when test is completed. When the test is completed, the module ICs can be automatically retested.
이를 위해, 로딩 포지션(6)과 언로딩 포지션(13)의 직하방에 위치된 설치판(20)상의 풀리(21a)(21b)에 감겨져 모터(22)의 구동에 따라 일정궤도를 이송하는 벨트(23)와, 상기 벨트사이에 위치되어 리테스트 포지션(16)의 직하방으로 승강운동하면서 리테스트용 트레이(17)를 벨트(23)의 상면에 얹어 놓거나, 벨트에 얹혀진 리테스트용 트레이(17)를 리테스트 포지션(16)으로 노출시키는 엘리베이터판(24)과, 상기 엘리베이터판의 양측에 위치되게 설치판(20)에 설치되어 벨트(23)에 얹혀진 리테스트용 트레이(17)의 이송을 제어하는 제 1, 2 스토퍼(25)(26)와, 상기 제 1, 2 스토퍼를 개별 구동하는 실린더(27)(28)와, 상기 벨트의 양 끝단이 위치되는 설치판(20)에 고정되어 벨트에 얹혀진 트레이가 추락하는 것을 방지하는 제 3, 4 스토퍼(29)(30)로 구성된 것이다.To this end, a belt is wound around the pulleys 21a and 21b on the mounting plate 20 positioned directly below the loading position 6 and the unloading position 13 to transfer a fixed trajectory according to the driving of the motor 22. A tray for retesting 17 placed on the upper surface of the belt 23, or being placed between the belt 23 and the belt while being moved up and down under the retesting position 16; Transfer of the elevator tray 24 exposing the retest position 16 to the retest position 16 and the tray for retest 17 installed on the mounting plate 20 positioned on both sides of the elevator plate and mounted on the belt 23. Fixed to the first and second stoppers 25 and 26 for controlling the pressure, the cylinders 27 and 28 for individually driving the first and second stoppers, and the mounting plate 20 at which both ends of the belt are located. And the third and fourth stoppers 29 and 30 which prevent the fall of the tray on the belt.
Description
본 발명은 생산 완료된 모듈 아이씨를 캐리어(Carrier)에 담아 공정간 이송시키면서 모듈 아이씨의 내열성을 테스트하는 모듈 아이씨 핸들러(Moudle IC Handler)에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 테스트 완료된 모듈 IC를 테스트 결과에 따라 분류하는 언로딩 공정시 양품인지 불량품인지 판단하기 곤란한 모듈 IC를 트레이(Tray)에 담아 별도의 장소에 보관하였다가 로딩측 엘리베이터에 위치된 모듈 IC의 테스트가 완료된 상태에서 리테스트(Retest)를 실시할 때 모듈 IC가 담겨진 트레이를 리테스트 포지션으로 이송시키는 모듈 아이씨 핸들러의 리테스트용 트레이 공급장치에 관한 것이다.The present invention relates to a module IC handler for testing the heat resistance of the module IC while transporting the produced module IC in a carrier, and more specifically, the tested module IC to the test results During the unloading process, the module ICs, which are difficult to determine whether they are good or defective, are stored in a tray and stored in a separate place.The test is then performed when the module ICs located in the loading elevator are completed. A tray feeder for a retest of a module IC handler which transfers a tray containing a module IC to a retest position when performing.
일반적으로 모듈 아이씨(이하 "모듈 IC"라 함)란 기판의 일측면 또는 양측면에 복수개의 아이씨(IC) 및 부품을 납땜 고정하여 독립적으로 회로를 구성한 것으로, 메인기판에 실장되어 용량을 확장시키는 기능을 갖는다.In general, a module IC (hereinafter referred to as a "module IC") is a circuit formed independently by soldering and fixing a plurality of ICs and components on one side or both sides of a board, which is mounted on a main board to expand its capacity. Has
이러한 모듈 IC는 생산 완료된 IC를 낱개로 판매하는 것보다 고부가 가치를 갖게 되므로 IC 생산업체에서 주력상품으로 개발하여 판매하고 있다.Since these module ICs have higher added value than selling finished ICs individually, IC manufacturers develop and sell them as flagship products.
제조공정을 거쳐 조립 생산된 모듈 IC는 가격이 비싸므로 인해 제품의 신뢰성 또한 매우 중요하여 엄격한 품질검사를 통해 양품으로 판정된 제품만을 출하하고, 불량으로 판정된 모듈 IC는 수정 또는 전량 폐기 처분한다.Due to the high price of module ICs assembled and manufactured through the manufacturing process, the reliability of the product is also very important. Only the products which are judged to be good products through strict quality inspection are shipped, and the module ICs determined to be defective are discarded or modified.
종래에는 생산 완료된 모듈 IC를 테스트 소켓내에 자동으로 로딩하여 테스트를 실시한 다음 테스트 결과에 따라 자동으로 분류하여 고객 트레이(custom tray)(도시는 생략함)내에 언로딩하는 장비가 개발된 바 없었다.Conventionally, no equipment has been developed for automatically loading a completed module IC into a test socket, performing a test, and then automatically classifying the module according to the test result and unloading it into a custom tray (not shown).
따라서 생산 완료된 모듈 IC를 테스트하기 위해서는 작업자가 트레이로부터 모듈 IC를 수작업으로 1개씩 꺼내 테스트 소켓내에 로딩한 다음 설정된 시간동안 테스트를 실시한 후, 테스트 결과에 따라 모듈 IC를 고객 트레이내에 분류하여 넣어야 되었으므로 모듈 IC의 테스트에 따른 작업능률이 저하되었다.Therefore, in order to test the completed module IC, the operator had to manually take out one module IC from the tray, load it into the test socket, test it for a set time, and classify the module IC into the customer tray according to the test result. Work efficiency was reduced by testing IC.
또한, 단순노동에 따른 지루함으로 인해 생산성의 저하를 초래하게 되었다.In addition, boredom caused by simple labor caused a decrease in productivity.
상기한 문제점을 개선하기 위해 모듈 IC를 자동으로 테스트하는 핸들러가 출원인에 의해 개발되어 특허 및 실용신안으로 다수 출원(자사 모델명 ; MR 7100, MR 7200)된 바 있다.In order to improve the above problems, a handler for automatically testing a module IC has been developed by the applicant and has been applied for a number of patents and utility models (own model name; MR 7100, MR 7200).
그러나 이러한 모듈 아이씨 핸들러는 테스트 완료된 모듈 IC의 언로딩작업시 양품 또는 불량품으로 판정하기 곤란한 모듈 IC를 별도의 버퍼(buffer)내에 담아 보관였다가 로딩측 엘리베이터내의 모듈 IC를 전부 테스트하고 나면 작업자가 버퍼내의 모듈 IC를 수작업으로 로딩측 엘리베이터에 얹혀지는 테스트 트레이내에 다시 넣어 주어야 되었으므로 작업의 연속성이 결여되었고, 이에 따라 고가 장비의 가동률이 저하되었다.However, these module IC handlers store the module ICs, which are difficult to be judged as good or defective, in the unloading operation of the tested module ICs in a separate buffer. The internal module IC had to be manually reinserted into a test tray placed on the loading side elevator, which resulted in a lack of continuity of operation, thereby reducing the operation rate of expensive equipment.
본 발명은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 언로딩측 엘리베이터에 위치된 모듈 IC의 테스트가 완료되면 모듈 IC의 리테스트작업이 자동으로 이루어질 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem in the related art, and has an object to automatically perform a retest operation of a module IC when a test of a module IC located in an unloading side elevator is completed.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 형태에 따르면, 로딩 포지션과 언로딩 포지션의 직하방에 위치된 설치판상의 풀리에 감겨져 모터의 구동에 따라 일정궤도를 이송하는 벨트와, 상기 벨트사이에 위치되어 리테스트 포지션의 직하방으로 승강운동하면서 리테스트용 트레이를 벨트의 상면에 얹어 놓거나, 벨트에 얹혀진 리테스트용 트레이를 리테스트 포지션으로 노출시키는 엘리베이터판과, 상기 엘리베이터판의 양측에 위치되게 설치판에 설치되어 벨트에 얹혀진 리테스트용 트레이의 이송을 제어하는 제 1, 2 스토퍼와, 상기 제 1, 2 스토퍼를 개별 구동하는 실린더와, 상기 벨트의 양 끝단이 위치되는 설치판에 고정되어 벨트에 얹혀진 트레이가 추락하는 것을 방지하는 제 3, 4 스토퍼로 구성된 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 핸들러의 리테스트용 트레이의 공급장치가 제공된다.According to an aspect of the present invention for achieving the above object, the belt is wound between a pulley on an installation plate located directly below the loading position and the unloading position, and is positioned between the belt and the belt to convey a constant trajectory according to the driving of the motor. An elevator plate for placing the retest tray on the upper surface of the belt while lifting and lowering the retest position, or exposing the retest tray placed on the belt to the retest position, and mounting plates positioned on both sides of the elevator plate. The first and second stoppers for controlling the transfer of the retest tray mounted on the belt, the cylinders for individually driving the first and second stoppers, and the mounting plates on which both ends of the belt are positioned and fixed to the belt. Retest of module IC handler, consisting of third and fourth stoppers to prevent the tray from falling The supply of the tray is provided.
도 1은 본 발명이 적용된 모듈 아이씨 핸들러의 사시도1 is a perspective view of a modular IC handler to which the present invention is applied
도 2는 도 1의 배면 사시도2 is a rear perspective view of FIG.
도 3은 본 발명의 요부를 나타낸 사시도Figure 3 is a perspective view showing the main part of the present invention
도 4a 내지 도 4은 벨트에 얹혀진 트레이를 리테스트 포지션으로 이송시키는 과정을 설명하기 위한 개략도로서,4A to 4 are schematic views for explaining a process of transferring the tray mounted on the belt to the retest position;
도 4a는 벨트에 얹혀진 빈 트레이를 동시에 제 1 스토퍼측으로 이송시킨 다음 최선단의 빈 트레이를 리테스트 포지션으로 이송시킨 상태도4A is a state in which the empty tray placed on the belt is transferred to the first stopper side at the same time, and then the empty tray of the highest stage is transferred to the retest position;
도 4b는 2번째, 3번째 위치된 빈 트레이를 우측으로 이송시킨 다음 제 2 스토퍼를 상승시켜 좌측으로의 이송을 제어시킨 상태도4B is a state diagram in which the second and third empty trays are transferred to the right and then the second stopper is raised to control the transfer to the left;
도 4c는 리테스트 포지션에 위치되어 있던 트레이에 모듈 IC가 담겨져 하강 완료된 상태도Figure 4c is a state in which the module IC is contained in the tray that is located in the retest position is completed dropping
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings
16 : 리테스트 포지션 17 : 리테스트용 트레이16: retest position 17: retest tray
20 : 설치판 23 : 벨트20: mounting plate 23: belt
24 : 엘리베이터판 25 : 제 1 스토퍼24: elevator plate 25: first stopper
26 : 제 2 스토퍼 27, 28 : 실린더26: second stopper 27, 28: cylinder
29 : 제 3 스토퍼 30 : 제 4 스토퍼29: third stopper 30: fourth stopper
이하, 본 발명을 일 실시예로 도시한 도 1 내지 도 4를 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to Figures 1 to 4 showing an embodiment of the present invention in more detail as follows.
도 1은 본 발명이 적용된 모듈 아이씨 핸들러의 사시도이고 도 2는 도 1의 배면 사시도로서, 모듈 아이씨 핸들러의 구성을 간략하게 설명하면 한다.1 is a perspective view of a module IC handler to which the present invention is applied, and FIG. 2 is a rear perspective view of FIG. 1 to briefly describe a configuration of a module IC handler.
테스트 트레이(1)에 담겨진 모듈 IC(2)를 캐리어(3)내에 로딩함에 따라 상기 트레이가 얹혀진 적재판을 순차적으로 1스탭씩 상승시키거나, 테스트 완료된 모듈 IC가 고객 트레이(4)내에 분류되어 언로딩됨에 따라 적재판을 1스탭씩 하강시키는엘리베이터부(5)와, 상기 트레이내의 모듈 IC(2)를 순차적으로 홀딩하여 로딩 포지션(6)에 위치된 캐리어(3)에 모듈 IC를 로딩하는 로딩측 픽업수단(7)과, 테스트할 모듈 IC가 캐리어(3)에 로딩 완료되면 이를 로딩측 로테이터(8)측으로 이송시키는 제 1 이송수단(9)과, 상기 제 1 이송수단에 의해 캐리어가 이송됨에 따라 캐리어를 90°회동시키는 로딩측 로테이터(8)와, 상기 로딩측 로테이터의 직하방에 위치되어 로딩측 로테이터에 의해 캐리어가 순차적으로 이송됨에 따라 모듈 IC를 테스트에 적합한 온도로 히팅하는 히팅챔버(10)와, 상기 히팅챔버내의 캐리어를 순차적으로 1스탭씩 이송시키는 이송수단(도시는 생략함)과, 상기 히팅챔버의 일측에 위치되어 테스트 조건에 알맞게 히팅된 모듈 IC가 이송되어 오면 이를 테스트 소켓측으로 밀어 설정된 시간동안 테스트를 실시하는 테스트 싸이트(11)와, 상기 테스트 싸이트의 일측에 설치되어 모듈 IC의 테스트가 완료된 상태에서 캐리어(3)가 이송됨에 따라 상기 캐리어가 수평상태를 유지하도록 90°회동시키는 언로딩측 로테이터(12)와, 상기 언로딩측 로테이터내의 캐리어를 언로딩 포지션(13)으로 수평 이송시키는 제 2 이송수단(14)과, 상기 제 2 이송수단에 의해 이송된 캐리어로부터 테스트 결과에 따라 모듈 IC를 홀딩하여 고객 트레이(4)내에 언로딩하는 언로딩측 픽업수단(15)과, 상기 언로딩 포지션에서 테스트 완료된 모듈 IC를 테스트 결과에 따라 언로딩작업시 리테스트를 위한 모듈 IC를 담는 리테스트용 트레이(17)가 위치된 리테스트 포지션(16)과, 상기 리테스트 포지션의 직하방에 위치되어 리테스트용 모듈 IC가 담겨진 리테스트용 트레이가 이송되어 대기하고, 리테스트시에는 리테스트용 트레이를 순차적으로 리테스트 포지션으로 공급하는 리테스트용 트레이 공급수단(18)과, 상기 캐리어내의 모듈 IC가 전부 언로딩되고 나면 빈 캐리어를 로딩 포지션(6)으로 수평 이송시키는 제 3 이송수단(19) 등으로 구성되어 있다.As the module IC 2 contained in the test tray 1 is loaded into the carrier 3, the tray on which the tray is loaded is sequentially raised by one step, or the tested module IC is sorted in the customer tray 4. The elevator unit 5 which lowers the loading plate by one step as it is unloaded, and the module IC 2 in the tray are sequentially held to load the module IC into the carrier 3 located at the loading position 6. The loading side pick-up means 7 and the first transfer means 9 for transferring the module IC to be tested to the loading side rotator 8 when loading of the module IC to be tested are completed. A loading side rotator 8 which rotates the carrier 90 ° as it is transported, and a heater located directly below the loading side rotator and heating the module IC to a temperature suitable for testing as the carrier is sequentially transferred by the loading side rotator. A burr 10, a conveying means (not shown) for sequentially transferring the carriers in the heating chamber by one step, and a module IC positioned at one side of the heating chamber and heated according to the test conditions is transferred. A test site 11 for performing a test for a predetermined time by pushing toward the test socket side, and installed on one side of the test site so that the carrier is kept horizontal as the carrier 3 is transported while the module IC has been tested. An unloading side rotator 12 which rotates by 90 degrees, a second conveying means 14 which horizontally conveys the carrier in the unloading side rotator to the unloading position 13, and a carrier conveyed by the second conveying means An unloading side pickup means 15 for holding and unloading the module IC according to the test result from the customer tray 4, and the module I tested in the unloading position. The retest position 16, in which the retest tray 17 containing the module IC for retesting, is located at the time of unloading C according to the test result, and is located directly below the retest position. The retest tray containing the IC is transported and waiting, and during the retest, all the retest tray supply means 18 for sequentially supplying the retest tray to the retest position and all the module ICs in the carrier are unloaded. And third conveying means 19 for horizontally conveying the empty carrier to the loading position 6.
상기한 바와 같이 구성된 모듈 IC 핸들러는 테스트 완료된 모듈 IC(2)의 언로딩작업시 리테스트가 필요한 모듈 IC를 리테스트용 트레이(17)에 담아 별도의 장소에 보관하였다가 로딩측 엘리베이터에 있던 모듈 IC의 테스트가 완료되고 나면 리테스트하기 위한 모듈 IC가 담겨진 리테스트용 트레이를 리테스트 포지션(16)으로 순차 공급하는 리테스트용 트레이 공급수단(18)을 구비하여야 된다.The module IC handler configured as described above contains a module IC that needs to be retested during the unloading operation of the tested module IC 2 in a retest tray 17 and stored in a separate place before being placed in the elevator on the loading side. After the test of the IC is completed, the retest tray supply means 18 for supplying the retest tray containing the module IC for retesting to the retest position 16 in sequence should be provided.
도 3은 본 발명의 요부를 나타낸 사시도이고 도 4a 내지 도 4c는 리테스트용 트레이를 순차적으로 공급하는 과정을 설명하기 위한 개략도로서, 로딩 포지션(6)과 언로딩 포지션(13)의 직하방에 위치된 설치판(20)상에 한쌍의 풀리(21a)(21b)가 모터(22)의 구동에 따라 회전하도록 되어 있고 상기 풀리에는 모터(22)의 구동에 따라 일정궤도를 이송하는 벨트(23)가 감겨져 있다.3 is a perspective view showing the main part of the present invention, and FIGS. 4A to 4C are schematic views for explaining a process of sequentially supplying a tray for retesting, and are located directly below the loading position 6 and the unloading position 13. A pair of pulleys 21a and 21b rotate on the mounting plate 20 positioned according to the driving of the motor 22, and the belt 23 carries a constant trajectory according to the driving of the motor 22. ) Is wound.
상기 벨트(23)는 비교적 좁은 폭으로 각각 분리되어 있어 리테스트용 트레이(17)의 가장자리가 벨트에 얹혀진 상태로 이송된다.The belts 23 are separated by relatively narrow widths so that the edges of the tray for retest 17 are placed on the belt.
그리고 상기 벨트(23)사이에 위치된 설치판(20)상에는 리테스트 포지션(16)의 직하방을 따라 승강운동하면서 리테스트용 트레이(17)를 벨트(23)의 상면에 얹어 놓거나, 벨트에 얹혀진 리테스트용 트레이(17)를 리테스트 포지션(16)으로 노출시키는 엘리베이터판(24)이 설치되어 있고 상기 엘리베이터판의 하사점 양측에는 벨트(23)에 얹혀진 리테스트용 트레이(17)의 이송을 제어하는 제 1, 2 스토퍼(25)(26)가 구동 실린더(27)(28)에 의해 개별적으로 구동하도록 설치되어 있으며 상기 벨트(23)의 양 끝단이 위치되는 설치판(20)에는 벨트(23)에 얹혀진 리테스트용 트레이(17)가 추락하는 것을 방지하는 제 3, 4 스토퍼(29)(30)가 고정되어 있다.Then, on the mounting plate 20 located between the belts 23, the retest tray 17 is placed on the upper surface of the belt 23 while lifting up and down along the retest position 16. An elevator plate 24 for exposing the loaded retest tray 17 to the retest position 16 is provided, and the transfer tray of the retest tray 17 mounted on the belt 23 is provided at both bottom dead centers of the elevator plate. The first and second stoppers (25) and (26) for controlling the belts are installed to be driven individually by the driving cylinders (27) and (28), and the mounting plate (20) at which both ends of the belt (23) are positioned is a belt. The 3rd and 4th stoppers 29 and 30 which prevent the fall of the retest tray 17 put on the 23 are fixed.
이와 같이 구성된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the present invention configured as described above is as follows.
먼저, 핸들러의 구동전에 리테스트용 모듈 IC가 담겨질 복수개의 빈 트레이(17)를 벨트(23)상에 차례로 얹어 놓는다.First, a plurality of empty trays 17 into which the retest module IC is to be loaded are sequentially placed on the belt 23 before the handler is driven.
이러한 상태에서 장비를 구동하면 실린더(27)의 구동으로 제 1 스토퍼(25)가 상승함과 동시에 모터(22)의 구동으로 풀리(21a)(21b)에 감겨진 벨트(23)가 이송되므로 상기 벨트에 얹혀진 복수개의 빈 트레이가 도면상 좌측으로 동시에 이동하게 되는데, 상기한 동작시 제 1 스토퍼(25)가 상승되어 있으므로 최선단의 빈 트레이(17)가 제 1 스토퍼(25)에 걸리는 시점에서 빈 트레이의 이송이 제어되어 엘리베이터판(24)에 얹혀지게 된다.When the equipment is driven in this state, the first stopper 25 is raised by the driving of the cylinder 27 and the belt 23 wound around the pulleys 21a and 21b is transferred by the driving of the motor 22. A plurality of empty trays mounted on the belt are simultaneously moved to the left side in the drawing. When the first stopper 25 is raised during the above operation, at the time when the uppermost empty tray 17 is caught by the first stopper 25 The conveyance of the empty tray is controlled to be placed on the elevator plate 24.
이와 같이 최선단에 위치된 빈 트레이(17)가 제 1 스토퍼(25)에 의해 이송이 제어되고 나면 모터(22)의 구동이 중단됨과 동시에 엘리베이터판(24)이 도 4a와 같이 상승하게 되므로 상기 엘리베이터판(24)에 얹혀진 빈 트레이(17)가 리테스트 포지션(16)으로 노출된다.After the transfer of the empty tray 17 located at the uppermost end is controlled by the first stopper 25, the driving of the motor 22 is stopped and the elevator plate 24 rises as shown in FIG. 4A. The empty tray 17 mounted on the elevator plate 24 is exposed to the retest position 16.
상기한 동작으로 빈 트레이(17)를 리테스트 포지션(16)으로 이송시키고 나면 모터(22)의 역구동으로 벨트(23)에 얹혀져 있던 나머지 빈 트레이(17)를 도면상 우측으로 약간 이동시킨 다음 모터(22)의 구동을 일시 중단시킨다.After the empty tray 17 is transferred to the retest position 16 in the above-described operation, the remaining empty tray 17 placed on the belt 23 is slightly moved to the right in the drawing by the reverse driving of the motor 22. The driving of the motor 22 is suspended temporarily.
그 후, 실린더(28)의 구동으로 제 2 스토퍼(26)를 상승시키고 모터(22)를 정구동하여 도면상 우측으로 약간 이동하였던 나머지 빈 트레이(17)를 다시 좌측으로 이송시킨다.Thereafter, the second stopper 26 is raised by the driving of the cylinder 28, and the motor 22 is driven forward to transfer the remaining empty tray 17, which has moved slightly to the right in the drawing, to the left again.
이에 따라, 빈 트레이(17)는 도 4b와 같이 제 2 스토퍼(26)에 의해 이송이 제어되는데, 상기한 바와 같은 동작시 제 1 스토퍼(25)는 하강하게 된다.Accordingly, the empty tray 17 is controlled to be transported by the second stopper 26 as shown in FIG. 4B, and the first stopper 25 is lowered in the above operation.
이러한 상태에서 모듈 IC(2)의 테스트 결과에 따라 언로딩 포지션(13)에서 테스트 결과에 따라 분류작업을 실시할 때, 리테스트를 필요로 하는 모듈 IC가 리테스트 포지션(16)에 위치된 리테스트용 트레이(17)내에 가득 채워지고 나면 리테스트 포지션에 위치되어 있던 트레이를 적재공간상에 위치된 벨트(23)의 상면에 얹어 놓고 빈 트레이(17)를 다시 리테스트 포지션(16)으로 노출시켜야 된다.In this state, when performing the sorting operation according to the test result at the unloading position 13 according to the test result of the module IC 2, the module IC requiring the retest is located at the retest position 16. Once the test tray 17 is full, the tray, which is in the retest position, is placed on the upper surface of the belt 23 located in the loading space, and the empty tray 17 is exposed again to the retest position 16. You have to.
이를 위해, 모듈 IC(2)가 담겨진 트레이(17)가 엘리베이터판(24)에 얹혀진 상태로 하강하여 도 4c와 같이 벨트(23)의 상면에 얹혀지고 나면 모터(22)가 정구동하여 모듈 IC(2)가 채워진 트레이(17)를 일점쇄선으로 나타낸 바와 같이 도면상 좌측으로 이송시키고 모터의 구동을 중단하게 된다.To this end, after the tray 17 containing the module IC 2 is lowered on the elevator plate 24 and mounted on the upper surface of the belt 23 as shown in FIG. 4C, the motor 22 is driven forward and the module IC ( The tray 17 filled with 2) is transferred to the left side in the drawing as indicated by the dashed line, and the driving of the motor is stopped.
상기한 바와 같은 동작시 도면상 우측에 위치된 나머지 빈 트레이(17)는 제 2 스토퍼(26)에 의해 이송이 제어되어 있어 위치가 가변되지 않으며, 도면상 좌측으로 이송되는 트레이(17)는 설치판(20)의 끝단에 설치된 제 3 스토퍼(29)에 걸려 추락하지 않게 된다.In the operation as described above, the remaining empty tray 17 located on the right side of the drawing is controlled by the second stopper 26 so that the position is not changed, and the tray 17 transferred to the left side of the drawing is installed. The third stopper 29 provided at the end of the plate 20 is not caught and falls.
상기 엘리베이터판(24)에 얹혀져 있던 트레이(17)를 도면상 좌측으로 이송시키고 나면 최선단에 위치된 빈 트레이(17)를 엘리베이터판(24)의 상면에 얹어 리테스트 포지션(16)으로 노출시켜야 된다.After the tray 17 placed on the elevator plate 24 is transferred to the left side in the drawing, the empty tray 17 located at the top thereof must be placed on the upper surface of the elevator plate 24 to be exposed to the retest position 16. do.
실린더(28)의 구동으로 상승되어 있던 제 2 스토퍼(26)를 하강시킴과 동시에 다른 일측에 위치된 제 1 스토퍼(25)를 상승시키고 모터(22)를 정구동하면 벨트(23)에 얹혀져 있던 빈 트레이(17)가 동시에 도면상 좌측으로 이송되어 2번째 위치되어 있던 빈 트레이(17)가 제 1 스토퍼(25)에 걸리게 되므로 2번째 위치되어 있던 빈 트레이가 엘리베이터판(24)에 얹혀지게 된다.While lowering the second stopper 26 that has been raised by the driving of the cylinder 28 and raising the first stopper 25 located on the other side and driving the motor 22 forward, the bin placed on the belt 23 is moved. Since the tray 17 is simultaneously moved to the left in the drawing, the second empty tray 17 is caught by the first stopper 25, so that the second empty tray is placed on the elevator plate 24.
이에 따라, 전술한 바와 같이 2번째 위치되어 있던 빈 트레이를 리테스트 포지션(16)으로 노출시킬 수 있게 되는데, 상기한 바와 같이 2번째 위치되어 있던 빈 트레이를 엘리베이터판(24)의 상면으로 이송시키기 위해 벨트(23)가 도면상 좌측으로 이송될 때 모듈 IC가 담겨진 상태로 제 3 스토퍼(29)에 걸려 있던 트레이(17)는 벨트의 상면과 슬립이 발생되므로 제자리에 위치하게 된다.Accordingly, as described above, the second empty tray can be exposed to the retest position 16. As described above, the second empty tray can be transferred to the upper surface of the elevator plate 24. When the belt 23 is conveyed to the left side in the drawing, the tray 17, which is caught on the third stopper 29 in the state where the module IC is contained, is placed in place because slippage occurs on the upper surface of the belt.
반복되는 동작으로 빈 트레이(17)내에 리테스트할 모듈 IC(2)가 전부 채워짐과 동시에 로딩측 엘리베이터에 위치되어 있던 모듈 IC의 테스트가 완료되고 나면 벨트(23)의 상면에 얹혀져 있던 트레이(17)를 리테스트 포지션(16)으로 노출시켜 언로딩 픽업수단(15)에 의해 트레이내에 담겨져 있던 리테스트 모듈 IC(2)를 언로딩 포지션(13)에 위치되어 있던 빈 캐리어(3)내에 차례로 로딩하여야 된다.After the module IC 2 to be retested is completely filled in the empty tray 17 and the test of the module IC located in the loading elevator is completed, the tray 17 placed on the upper surface of the belt 23 is repeated. ) Is exposed to the retest position 16 so that the retest module IC 2 contained in the tray by the unloading pickup means 15 is sequentially loaded into the empty carrier 3 located at the unloading position 13. You must
상기한 바와 같이 리테스트할 모듈 IC(2)가 담겨진 트레이(17)를 엘리베이터판(24)에 의해 리테스트 포지션(16)으로 이송시키는 과정은 제 1, 2 스토퍼(25)(26)를 하강시킨 다음 모터(22)를 역구동하여 도면상 좌측에 위치되어 있던 트레이(17)를 도면상 우측으로 이송시킨상태에서 전술한 바와 동일하게 이루어지므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.As described above, the process of transferring the tray 17 containing the module IC 2 to be retested to the retest position 16 by the elevator plate 24 lowers the first and second stoppers 25 and 26. After the motor 22 is reversely driven, the tray 17 located on the left side of the drawing is moved to the right side of the drawing, and thus the detailed description thereof will be omitted.
이상에서와 같이 본 발명은 모듈 IC의 언로딩작업시 리테스트를 위한 모듈 IC를 리테스트용 트레이에 담아 일정 장소에 보관하였다가 로딩측 엘리베이터에 있던 모듈 IC의 테스트를 완료하고 나면 보관되었던 리테스트용 트레이를 자동으로 리테스트 포지션으로 이송시켜 트레이내의 모듈 IC를 언로딩 포지션에 위치되어 있던 빈 캐리어에 담은 다음 테스트 작업시와 마찬가지로 로딩 포지션을 통해 테스트 싸이트측으로 이송하여 리테스트를 실시하게 되므로 모듈 IC의 연속 테스트가 가능해지게 되고, 이에 따라 고가 장비의 가동률을 극대화시키게 된다.As described above, the present invention stores the module IC for retesting at the unloading operation of the module IC in a tray for retesting, and stores the module IC in the retest tray after completion of the test of the module IC in the loading side elevator. Automatically transfers the tray to the retest position, puts the module IC in the tray into the empty carrier located at the unloading position, and transfers it to the test site through the loading position for retesting as in the case of the test operation. This enables continuous testing of maximizing the utilization of expensive equipment.
Claims (1)
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| KR1019980052268A KR100310049B1 (en) | 1998-12-01 | 1998-12-01 | device for feeding tray retest in module I.C handler |
Applications Claiming Priority (1)
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| KR1019980052268A KR100310049B1 (en) | 1998-12-01 | 1998-12-01 | device for feeding tray retest in module I.C handler |
Publications (2)
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1998
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| KR20000037636A (en) | 2000-07-05 |
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